JPH01280822A - キーボードの寿命試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 各種情報の入力装置として用いられるキーボードの製造
設備に関し、 使用時に近い状態でキーボードを構成する押釦スイッチ
の特性を試験し、しかもキートップが押下される都度対
応する押釦スイッチの、接触状態を検出し記録できるキ
ーボードの寿命試験装置を構成することを目的とし、 往復動する少なくとも１個の打鍵ロッドを有する打鍵機
構で、キーボードに装着されたキートップを順次押下し
、その都度該キートップに対応する押釦スイッチの識別
コード、累積動作回数、および接触状態を記憶装置に記
憶させると同時に、打鍵ロッドの先端が当接するキート
ップ上の位置、またはキートップと打鍵ロッドとの移動
方向がなす角度を任意に変えられるよう構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は各種情報の入力装置として用いられるキーボー
ドの製造設備に係り、特にキーボードを構成する押釦ス
イッチの接触状態を試験する寿命試験装置に関する。

押釦スイッチは一般にキートップを移動させる押下刃が
、キートップの移動方向（以下垂直方向と称する）に向
かって、キートップの中心に加えられるものとして設計
されている。しかるにキーボードを操作するオペレータ
がキートップを押下する場合は、キートップの中心に垂
直方向から押下刃が加えられることは極く稀で、多くの
場合垂直方向以外の方向からキートップの隅に押下刃が
加えられる。

押釦スイッチにかかる押下刃が加わると可動部の摩耗が
著しく促進され、可動部の摩耗によって押下の途中でキ
ートップが重くなる感触不良が発生する。また開放型接
点を具えた押釦スイ、、チでは削り滓による接触不良が
発生する。その結果、常に垂直方向の押下刃をキートッ
プの中心に加えたキーボードに比べ、オペレータが実際
に操作したキーボードは寿命が短くなる。

そこでキーボードを構成する押釦スイッチの特性を試験
する寿命試験は、垂直方向に対しである角度を有する方
向からキートップに押下刃を加えたり、或いはキートッ
プの隅に押下刃を加える等使用時に近い状態で行うこと
が望ましい。

（従来の技術〕 第５図は従来の寿命試験装置の概要を示す斜視図である
。

図において従来の寿命試験装置はキーボード１をＲ置す
るテーブル２と打鍵機構３からな゛す、キーボード１は
パネル１１に装着された多数個の押釦スイッチ１２と、
押釦スイ・ノチ１２のリード端子をはんだ付けする配線
パターンを有するプリント配線板１３と、押釦スイッチ
１２の可動部に嵌着されパネル１１の表面に露呈するキ
ートップ１４とを具えている。なおそれぞれの押釦スイ
ッチ１２の出力信号は図示省略されたコネクタを介して
出力される。

またテーブル２は予め設定されているプログラムに従っ
てＸ軸方向およびＹ軸方向に移動し、次に押下されるキ
ートップ１４を打鍵機構３の下に位置せしめるように構
成されている。打鍵機構３は２０〜３０個のソレノイド
３１で構成されており、ソレノイド３１に電気信号を入
力すると打鍵ロッド３２が往復動して、キーボード１の
２０〜３０個のキートップ１４が同時に押下される。キ
ートップ１４が押下されるとそれぞれの押釦スイッチ１
２はリード端子が導通状態になり、それをコード化する
エンコーダを搭載してなるキーボードでは、押釦スイッ
チ１２の識別コードがコネクタを介して出力される。

しかし２０〜３０個のキートップ１４が同時に連続して
押下される場合は、押下されたキートップ１４に対応す
る押釦スイッチ１２の接触状態を、キートップ１４が押
下される都度検出し記録することは不可能である。そこ
で途中で装置を停止させ対応する押釦スイッチ１２の接
触状態を検出し記録している。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし従来の試験装置では打鍵ロッドとキートップの移
動方向が一致しており、押下刃が垂直方向に向かってキ
ートップの中心に加えられる構成になっている。したが
って垂直方向以外の方向からキートップに押下刃を加え
ることができない。

また２０〜３０個のキートップが同時に押下されるため
パネルに大きい力が印加され、その曲げ応力によって甚
だしい時にはキーボードに反りが生じる。

しかも押釦スイッチの接触状態の検出が間欠的に行われ
るため、故障が発生するまでの経緯を把握することがで
きないという問題があった。

本発明の目的は使用時に近い状態でキーボードを構成す
る押釦スイッチの特性を試験し、しかもキートップが押
下される都度対応する押釦スイッチの、接触状態を検出
し記録できるキーボードの寿命試験装置を構成すること
にある。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明になる寿命試験装置の原理を示すブロッ
ク図である。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表
している。

上記課題は往復動する少なくとも１個の打鍵ロッド４２
を有する打鍵機構４で、キーボード１に装着されたキー
トップ１４を順次押下し、その都度押下されたキートッ
プ１４に対応する押釦スイッチの識別コード、累積動作
回数、および接触状態を記憶装置７に記憶させると同時
に、打鍵ロッド４２の先端が当接するキード・ノブ１４
上の位置、またはキートップ１４の移動方向Ｓと打鍵ロ
ッド４２の移動方向Ｐとがなす角度を、任意に変えられ
るように構成してなる本発明のキーボードの寿命試験装
置により達成される。

〔作用〕

第１図において往復動する少なくとも１個の打鍵ロッド
でキートップを順次押下し、その都度該キートップに対
応する押釦スイッチの識別コードや、累積動作回数、接
触状態を記憶装置に記憶させると同時に、キートップの
移動方向と打鍵ロッドの移動方向とがなす角度や、打鍵
ロッドの先端が当接するキートップ上の位置を可変にす
にことによって、使用時に近い状態でキーボードを構成
する押釦スイッチの特性を試験し、しかもキートップが
押下される都度対応する押釦スイッチの、接触状態を検
出し記録できるキーボードの寿命試験装置を構成するこ
とができる。

〔実施例〕

以下添付図により本発明の実施例について説明する。第
２図は本発明になる装置による試験方法を示すフローチ
ャート、第３図は本発明の一実施例を示す斜視図、第４
図は本発明の他の実施例を示す斜視図である。

第１図において本発明になる試験装置は打鍵機構４とテ
ーブル５を具えており、キーボード１はコネクタ１５を
介して制御装置６に接続されていて、キートップ１４が
押下される都度それに対応する押釦スイッチの、識別コ
ード、累積動作回数、および接触状態が記憶装置７に記
憶される。

打鍵機構４は電気信号により作動する例えばソレノイド
４１と、ソレノイド４１が作動するとキートップ１４を
押下する打鍵ロッド４２を具えており、ソレノイド４１
を作動させる電気信号は制御装置６から出力される。一
方モータ５１．５２を有しキーボード１をＸ軸方向およ
びＹ軸方向に移動させるテーブル５は、制御装置６から
出力される制御信号でモータ５１．５２が回動し、次に
押下されるキートップ１４を前記打鍵ロッド４２の下に
移動せしめる。

打鍵ロッドの先端が当接するキートップ上の位置を変え
る機構はテーブル５が具えており、キーボード１を移動
させる信号を若干変更することで容易に実現させること
ができる。またキートップ１４の移動方向Ｓと打鍵ロッ
ド４２の移動方向Ｐとがなす角度を、任意に変える機構
は打鍵機構４若しくはテーブル５が具えている。

第２図において全ての押釦スイッチの識別コードと押下
順序を記憶させ、押釦スイッチの動作回数を設定して装
置をスタートさせると、テーブルは最初に押下されるキ
ートップを打鍵ロッドの下に移動せしめ、打鍵機構が作
動して打鍵ロッドが打鍵ロッドがキートップを押下する
。キートップが押下されると押釦スイッチの識別コード
が制御装置に取り込まれ、同時に接触抵抗値が検出され
て接触状態に異常があった場合は、識別コード、累積動
作回数、および接触状態が記憶装置に記憶される。また
異常が無かった場合は次のキートップを押下すべくスタ
ート後の状態に戻る。

押下順序に従って全キートップが一回ずつ押下されると
、最初に押下されるキートップに戻って二回目の移動と
押下が開始され、これを繰り返して全キートップの押下
回数が規定回数に達すると装置は停止し、それまで記憶
されていた識別コード、累積動作回数、および接触状態
が印刷される。

本発明の一実施例は第３図（ａ）に示す如く打鍵機構４
がプランジャ４１と打鍵ロッド４２で形成され、キート
ップ１４の移動方向と打鍵ロッド４２の移動方向がなす
角度を変える機構は、ソレノイド４１を装置の枠体８に
装着するアーム４３が具えている。即ち枠体８は固定ね
じ８１の嵌入孔の廻りに角度目盛８２を有し、アーム４
３の５　’ｌ　’ｈ’Ａ　４４をこれに合わせて固定ね
じ８１が螺着することで、打鍵ロッド４２の移動方向を
任意に変えることができる。

一方テーブル５は第３図ｆｂｌに示す如く制御信号によ
ってモータ５１．５２が回動し、次に押下されるキート
ップ１４を打鍵ロッド４２の下に移動させたときの、打
鍵ロッド４２の先端からキートップＩ４までの距離を一
定にすべく、上下の面が平行な支持台５３によってキー
ボード１を保持している。

また本発明の他の実施例は第４図（ａ）に示す如く打鍵
機構４が、図示省略されたモータで駆動され回転するカ
ム機構４５と、常に垂直方向に往復動する打鍵ロッド４
２で形成されている。カム機構４５と打鍵ロッド４２は
装置の枠体に固定されたアーム４６によって保持され、
打鍵ロッド４２は例えばコイルばね４７でキートップを
押す方に付勢されている。

一方テーブル５は第４図（ｂｌに示す如くスタンド５４
で支えられた支持台５５を有し、両端のスタッド５４の
ねじ込み長さを変えることによって、その上に！！置さ
れたキーボード１の傾斜方向と角度、即ち打鍵ロッド４
２の移動方向とキートップ１４の移動方向とがなす角度
を任意に変えることができる。

なお第３図および第４図に示す打鍵機構は従来の寿命試
験装置に適用可能で、これを適用することによって従来
の寿命試験装置には無かった、数々の優れた効果が得ら
れることはいうまでも無い。

このように往復動する少なくとも１個の打鍵ロッドでキ
ートップを順次押下し、その都度該キートップに対応す
る押Ｓｎスイッチの識別コードや、累積動作回数、接触
状態を記憶装置に記憶させると同時に、キートップの移
動方向と打鍵ロッドの移動方向とがなす角度や、打鍵ロ
ッドの先端が当接するキートップ上の位置を可変にすに
ことによって、使用時に近い状態で押釦スイッチの特性
を試験することが可能になる。

即ちパネルに加わる力が軽減されてキーボードの反りが
無（なると共に、使用時に近い状態でキーボードを構成
する押釦スイッチの特性を試験し、しかもキートップが
押下される都度対応する押釦スイッチの、接触状態を検
出し記録できるキーボードの寿命試験装置を構成するこ
とができる。

〔発明の効果〕

上述の如く本発明によればキートップの隅に押下刃を加
えたり、垂直方向に対しである角度を有する方向からキ
ートップに押下刃を加える等、使用時に近い状態で特性
を試験するキーボードの寿命試験装置を提供することが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明になる寿命試験装置の原理を示すブロッ
ク図、 第２図は本発明になる装置による試験方法を示すフロー
チャート、 第３図は本発明の一実施例を示す斜視図、第４図は本発
明の他の実施例を示す斜視図、第５図は従来の寿命試験
装置の概要を示す斜視図、 である。図において Ｉはキーボード、　　　４は打鍵機構、５はテーブル、
　　　　６は制御装置、７は記ｊＩ装置、　　　　８は
装置の枠体、１２は押釦スイッチ、１４はキード・ツブ
、１５はコネクタ、　　　４１はソレノイド、４２は打
鍵ロッド、　　４３．４６はアーム、４４は基準線、　
　　　　４５はカム機構、４７はコイルばね、　　５１
．５２はモータ、５３．５５は支持台、　　５４はスタ
ッド、８１は固定ねじ、　　　　８２は角度目盛、をそ
れぞれ表す。 第　２　（２） （ｂ） 箒　３　口 （ご７．ン （ｂ） 岸４１日月９イ已の２％（ｐ月日ヤすｆ＋小丸の茅　花
　ｎ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 往復動する少なくとも１個の打鍵ロッド（４２）を有す
   る打鍵機構（４）で、キーボード（１）に装着されたキ
   ートップ（１４）を順次押下し、その都度押下された該
   キートップ（１４）に対応する押釦スイッチの識別コー
   ド、累積動作回数、および接触状態を記憶装置（７）に
   記憶させると同時に、 該打鍵ロッド（４２）の先端が当接する該キートップ（
   １４）上の位置、または該キートップ（１４）の移動方
   向Ｓと該打鍵ロッド（４２）の移動方向Ｐとがなす角度
   を、任意に変えられるように構成してなることを特徴と
   するキーボードの寿命試験装置。