JPH01282434A - フーリエ分光器 - Google Patents
フーリエ分光器Info
- Publication number
- JPH01282434A JPH01282434A JP11076288A JP11076288A JPH01282434A JP H01282434 A JPH01282434 A JP H01282434A JP 11076288 A JP11076288 A JP 11076288A JP 11076288 A JP11076288 A JP 11076288A JP H01282434 A JPH01282434 A JP H01282434A
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- Japan
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- interferogram
- sigma1
- data
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は赤外または可視域のフーリエ分光器に係り、特
に、広波数域にわたるスペクトルのうちある限定された
範囲のスペクトルデータを高速かつ精度よく抽出するフ
ーリエ分光器に関する。
に、広波数域にわたるスペクトルのうちある限定された
範囲のスペクトルデータを高速かつ精度よく抽出するフ
ーリエ分光器に関する。
し従来の技術1
フーリエ分光法では、インターフェログラムデータにF
FT (高速フーリエ変換)を施して、もとのスペクト
ルデータを復元する。ここで、N点のインターフェログ
ラムデータは、N点のスペクトルデータに変換される。
FT (高速フーリエ変換)を施して、もとのスペクト
ルデータを復元する。ここで、N点のインターフェログ
ラムデータは、N点のスペクトルデータに変換される。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、波数分解能を向上させようとすると、あるいは
観測波数範囲を広げようとすると、Nの値が大きくなる
。特に可視域では、データ点数が非常に大きくなってし
まう。
観測波数範囲を広げようとすると、Nの値が大きくなる
。特に可視域では、データ点数が非常に大きくなってし
まう。
このデータ点数の増大により2つの問題点が生ずる。1
つはデータ点数の増大によるPFTの計算時間の増加で
あり、もう1つはインターフェログラムデータを取得す
る際のA/D変換器のダイナミックレンジの増大である
。
つはデータ点数の増大によるPFTの計算時間の増加で
あり、もう1つはインターフェログラムデータを取得す
る際のA/D変換器のダイナミックレンジの増大である
。
連続スペクトルの場合には、インターフェログラムは大
きなセンターバーストを生じ、復元されたスペクトルの
測定精度を向上させるためには該精度に応じてA/D変
換器のビット数を増加させなければならない。ひいては
、A/D変換器の価格、変換速度、データ1点当たりの
ワード長が大きくなり、全体的なデータ処理速度にも影
響を及ぼす。
きなセンターバーストを生じ、復元されたスペクトルの
測定精度を向上させるためには該精度に応じてA/D変
換器のビット数を増加させなければならない。ひいては
、A/D変換器の価格、変換速度、データ1点当たりの
ワード長が大きくなり、全体的なデータ処理速度にも影
響を及ぼす。
フーリエ干渉計の使用法の形態として、復元したスペク
トル波形全体を利用して定性分析を行うことも確かに多
いが、広範囲のスペクトルデータのうちの特定領域のみ
の情報で足りる場合も多い。
トル波形全体を利用して定性分析を行うことも確かに多
いが、広範囲のスペクトルデータのうちの特定領域のみ
の情報で足りる場合も多い。
特に半導体中の不純物分析などに代表される定量分析で
はそうである。またFTラマンなどの測定の場合もこれ
に当てはまる。このような場合でも従来は全データ点数
のFFTを行ってスペクトルの復元を行わなければなら
ず、既述のFFTの計算時間の増大及びA/D変換器の
ダイナミックレンジの増大の問題点が生じていた。
はそうである。またFTラマンなどの測定の場合もこれ
に当てはまる。このような場合でも従来は全データ点数
のFFTを行ってスペクトルの復元を行わなければなら
ず、既述のFFTの計算時間の増大及びA/D変換器の
ダイナミックレンジの増大の問題点が生じていた。
データ点数低減手法としてはブレ・フィルタリング法が
ある。
ある。
ブレ・フィルタリング法では、全波数域0〜σNの試料
光のうち帯域σN〜σNのみのスペクトルを得たいとす
ると、I/(2σN)以下の間隔でインターフェログラ
ムデータをサンプリングし、帯域σ1〜σNのフィルタ
に対応したインターフェログラム面上の5ine関数と
のコンポリューンヨン演算を行った後、さらに、この演
算結果のデータをサンプリングする(間引く)必要があ
る。したがって、計算時間をあまり短縮化することがで
きない。
光のうち帯域σN〜σNのみのスペクトルを得たいとす
ると、I/(2σN)以下の間隔でインターフェログラ
ムデータをサンプリングし、帯域σ1〜σNのフィルタ
に対応したインターフェログラム面上の5ine関数と
のコンポリューンヨン演算を行った後、さらに、この演
算結果のデータをサンプリングする(間引く)必要があ
る。したがって、計算時間をあまり短縮化することがで
きない。
本発明は、上記問題点に鑑み、波数分解能を低下させる
ことなく計算時間を短縮できかつA/D変換器の必要と
するダイナミックレンジを狭くすることができるフーリ
エ分光器を堤供することにある。
ことなく計算時間を短縮できかつA/D変換器の必要と
するダイナミックレンジを狭くすることができるフーリ
エ分光器を堤供することにある。
〔課題を解決するための手段]
この目的を達成するために、本発明に係るフーリエ分光
器では、試料光のインターフェログラムを取得する干渉
計と、該干渉計の光路に配置され、最大波数σNの試料
光のうちσ*−(1+ I /m )σ。
器では、試料光のインターフェログラムを取得する干渉
計と、該干渉計の光路に配置され、最大波数σNの試料
光のうちσ*−(1+ I /m )σ。
(mは正の整数)なる目的とする波数域(σ1〜σN)
の光を透過させる光学的バンドパスフィルタと、該干渉
計により得られたインターフェログラムデータを、h°
≦1 /[2(σN−σN))なる間隔h゛でサンプリ
ングするサンプリング手段と、サンプリングされた該イ
ンターフェログラムデータについてフーリエ変換を行う
ことによりスペクトルデータを得るフーリエ変換手段と
、を備えている。
の光を透過させる光学的バンドパスフィルタと、該干渉
計により得られたインターフェログラムデータを、h°
≦1 /[2(σN−σN))なる間隔h゛でサンプリ
ングするサンプリング手段と、サンプリングされた該イ
ンターフェログラムデータについてフーリエ変換を行う
ことによりスペクトルデータを得るフーリエ変換手段と
、を備えている。
[実施例コ
(1)一実施例
図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。
第1図は本発明の一実施例に係るフーリエ分光器の要部
構成を示す。
構成を示す。
本実施例では簡単化のために、試料光のスペクトルS(
σ)は第2図(a)に示す如く、直線状ベースラインに
2本の輝線があるとする。また、この2本の輝線のみに
興味があり、全波数域O〜σにのうちこの2本の輝線を
含む波数域σ1〜σNのスペクトルのみを得たいとする
。
σ)は第2図(a)に示す如く、直線状ベースラインに
2本の輝線があるとする。また、この2本の輝線のみに
興味があり、全波数域O〜σにのうちこの2本の輝線を
含む波数域σ1〜σNのスペクトルのみを得たいとする
。
第1図に示す如く、本実施例では通常のマイケルソン干
渉計10に連続波長可変干渉フィルタ12を設置した場
合を示す。
渉計10に連続波長可変干渉フィルタ12を設置した場
合を示す。
マイケルソン干渉計10は移動鏡を走査することにより
試料光のインターフェログラムを時間的に取得するため
のものであって、アパーチャ14と、アパーチャ14か
らの試料光を平行化するコリメートレンズ16と、コリ
メートレンズ16からの光束を2分割するビームスプリ
ッタ18と、分割された光束の一方を反射して逆進させ
る固定鏡20と、分割された光束の他方を反射して逆進
させる移動1m!22と、ビームスプリブタ18で合波
された干渉光を結像させる結像レンズ24と、その結像
位置に配置され光強度を検出する光検出器26とからな
る。
試料光のインターフェログラムを時間的に取得するため
のものであって、アパーチャ14と、アパーチャ14か
らの試料光を平行化するコリメートレンズ16と、コリ
メートレンズ16からの光束を2分割するビームスプリ
ッタ18と、分割された光束の一方を反射して逆進させ
る固定鏡20と、分割された光束の他方を反射して逆進
させる移動1m!22と、ビームスプリブタ18で合波
された干渉光を結像させる結像レンズ24と、その結像
位置に配置され光強度を検出する光検出器26とからな
る。
連続波長可変干渉フィルタ12は、結像レンズ24と光
検出器26との間の光路に配置されている。連続波長可
変干渉フィルタ12は円板状であり、周方向に沿って透
過波長が連続的または段階的に変化するようになってい
る。この連続波長可変干渉フィルタ12の光路上部分の
透過帯域は、コントロールユニット28からの駆動ノ(
ルスにより該円板が回転されて連続的に変化する。
検出器26との間の光路に配置されている。連続波長可
変干渉フィルタ12は円板状であり、周方向に沿って透
過波長が連続的または段階的に変化するようになってい
る。この連続波長可変干渉フィルタ12の光路上部分の
透過帯域は、コントロールユニット28からの駆動ノ(
ルスにより該円板が回転されて連続的に変化する。
光検出器26の出力信号はアンプ30により増幅され、
A/D変換器32によりデジタル変換される。
A/D変換器32によりデジタル変換される。
コントロールユニット28は、駆動パルスを連続波長可
変干渉フィルタ12に供給して干渉光の透過域を設定器
37により設定された波数透過域σ1〜σNにし、また
、駆動パルスを移動鏡駆動装置33へ供給して移動鏡2
2を1ステツプづつ直線移動させる。ここでσ1、σN
は σN= (t + l /m)σ1(mは正の整数)を
満たすように設定される。
変干渉フィルタ12に供給して干渉光の透過域を設定器
37により設定された波数透過域σ1〜σNにし、また
、駆動パルスを移動鏡駆動装置33へ供給して移動鏡2
2を1ステツプづつ直線移動させる。ここでσ1、σN
は σN= (t + l /m)σ1(mは正の整数)を
満たすように設定される。
さらに、コントロールユニット28は、A/D変換器3
2に対し次の条件を満たす間隔(干渉計10での2光束
の光路差の変化分)h゛で変換信号を供給してインター
フェログラムデータのサンプリング及びデジタル変換を
行わせる。
2に対し次の条件を満たす間隔(干渉計10での2光束
の光路差の変化分)h゛で変換信号を供給してインター
フェログラムデータのサンプリング及びデジタル変換を
行わせる。
h≦!/(σN+σN)
h’=1/(2(σN−σ+))= h nnは正の整
数 A/D変換器32から順次得られたデータはインターフ
ェログラムメモリ34に書き込まれ、インターフェログ
ラムメモリ34内には離散化した両側インターフェログ
ラムが作成される。
数 A/D変換器32から順次得られたデータはインターフ
ェログラムメモリ34に書き込まれ、インターフェログ
ラムメモリ34内には離散化した両側インターフェログ
ラムが作成される。
第2図(b)は連続波長可変干渉フィルタ!2のモデル
化された透過特性F(σ)を示し、(c)はS(σ)と
櫛関数(shah関数)utwh(σ)とのコンボリュ
ーションS(σ)OLLII7h(σ)を示し、(d)
はフィルタ関数F(σ)と櫛関数出1.h(σ)とのコ
ンボリューションF (σ)eta +zh((F )
を示し、(e)は(c)と(d)の積 (S (7F )@1LLIBh(ff ))(F (
cr )Oul+zh(σ))ヲ示t。
化された透過特性F(σ)を示し、(c)はS(σ)と
櫛関数(shah関数)utwh(σ)とのコンボリュ
ーションS(σ)OLLII7h(σ)を示し、(d)
はフィルタ関数F(σ)と櫛関数出1.h(σ)とのコ
ンボリューションF (σ)eta +zh((F )
を示し、(e)は(c)と(d)の積 (S (7F )@1LLIBh(ff ))(F (
cr )Oul+zh(σ))ヲ示t。
ここに、1.hは周期を示す。一般にスペクトル面上の
積、コンボリューションはそれぞれインターフェログラ
ム面上のコンボリューション、積に対応する。
積、コンボリューションはそれぞれインターフェログラ
ム面上のコンボリューション、積に対応する。
上記間隔h(但し、等号が成立する場合)でサンプリン
グすれば、インターフェログラムメモリ34内には、(
a)をフーリエ変換した離散化インターフェログラムが
書き込まれるが、上記り。
グすれば、インターフェログラムメモリ34内には、(
a)をフーリエ変換した離散化インターフェログラムが
書き込まれるが、上記り。
でサンプリングすれば、インターフェログラムメモリ3
4内には、(f)をフーリエ変換した離散化インターフ
ェログラムが書き込まれる。
4内には、(f)をフーリエ変換した離散化インターフ
ェログラムが書き込まれる。
次に、インターフェログラムメモリ34内のデータに対
し、高速フーリエ変換器40はフーリエ変換を施して(
f)に示す波数域θ〜(σN−σl)のスペクトルを得
、これをスペクトル出力装置42へ供給する。スペクト
ル出力装置42からはこのスペクトルデータが視覚化さ
れて取り出される。
し、高速フーリエ変換器40はフーリエ変換を施して(
f)に示す波数域θ〜(σN−σl)のスペクトルを得
、これをスペクトル出力装置42へ供給する。スペクト
ル出力装置42からはこのスペクトルデータが視覚化さ
れて取り出される。
このようにして、従来、通常の測定では!/(2σN)
以下の間隔でサンプリングしなければならなかったイン
ターフェログラムデータを、1/(2(σN−σI))
以下の間隔でサンプリングすればよく、サンプリング間
隔を従来よりもσIl/(2(σN−σN))倍広くす
ることができ、したがって、演算時間の長い高速フーリ
エ変換器40へ供給すべきインターフェログラムデータ
の点数Nを、N(σN−σN)/σにに減少することが
でき、PFT演算時間を大幅に短縮化することができる
。
以下の間隔でサンプリングしなければならなかったイン
ターフェログラムデータを、1/(2(σN−σI))
以下の間隔でサンプリングすればよく、サンプリング間
隔を従来よりもσIl/(2(σN−σN))倍広くす
ることができ、したがって、演算時間の長い高速フーリ
エ変換器40へ供給すべきインターフェログラムデータ
の点数Nを、N(σN−σN)/σにに減少することが
でき、PFT演算時間を大幅に短縮化することができる
。
また、連続波長可変干渉フィルタ12を通すことにより
、インターフェログラムのピークが両側へ分散するので
、A/D変換器32の必要なダイナミックレンジを、K
(σN−σN)/σ工倍に縮小することができる。ここ
にKはに≧1であり、試料光スペクトルが完全な白色光
の場合にはに=1である。
、インターフェログラムのピークが両側へ分散するので
、A/D変換器32の必要なダイナミックレンジを、K
(σN−σN)/σ工倍に縮小することができる。ここ
にKはに≧1であり、試料光スペクトルが完全な白色光
の場合にはに=1である。
さらに、該フィルタ12を通すことにより、第2図(a
)と(b)の積に対応したコンボリューション演算を行
う必要がなく、全計算時間を一層短縮することができる
。
)と(b)の積に対応したコンボリューション演算を行
う必要がなく、全計算時間を一層短縮することができる
。
(2)拡張
なお、本発明には外にも種々の変形例が含まれる。
例えば、上記実施例では、光学的バンドパスフィルタと
して連続波長可変干渉フィルタ12を揚げたが、例えば
複数個の異なる透過波数域を有する干渉フィルタを用意
しておき、それらを目的波数域に応じて切り換えるよう
な構成にしてもよい。
して連続波長可変干渉フィルタ12を揚げたが、例えば
複数個の異なる透過波数域を有する干渉フィルタを用意
しておき、それらを目的波数域に応じて切り換えるよう
な構成にしてもよい。
また、インターフェログラム作成用干渉計は各種タイプ
のもの、例えば空間的にインターフェログラムを形成し
てこれを取得するものを用いることができることは言う
までもない。
のもの、例えば空間的にインターフェログラムを形成し
てこれを取得するものを用いることができることは言う
までもない。
[発明の効果]
以上説明した如く、本発明に係るフーリエ分光器によれ
ば、インターフェログラム取得用干渉計の光路に光学的
バンドパスフィルタを配置して、最大波数σNの試料光
のうちσ*= (1+ 1 /m )σ1(mは正の整
数)なる目的とする波数域(σN〜σN)の光を透過さ
せ、該干渉計により得られたインターフェログラムデー
タを、 h°≦1 /(2(σN−σN))なる間隔h°でサン
プリングし、サンプリングされた該インターフェログラ
ムデータについてフーリエ変換を行うので、インターフ
ェログラムデータのサンプリング点数を低減でき、しか
も上述の複雑なコンポリューシラン演算を行う必要がな
いので、計算時間を短縮できかつA/D変換器のダイナ
ミックレンジを縮小することができ、しかも波数分解能
を低下させることがないという優れた効果がある。
ば、インターフェログラム取得用干渉計の光路に光学的
バンドパスフィルタを配置して、最大波数σNの試料光
のうちσ*= (1+ 1 /m )σ1(mは正の整
数)なる目的とする波数域(σN〜σN)の光を透過さ
せ、該干渉計により得られたインターフェログラムデー
タを、 h°≦1 /(2(σN−σN))なる間隔h°でサン
プリングし、サンプリングされた該インターフェログラ
ムデータについてフーリエ変換を行うので、インターフ
ェログラムデータのサンプリング点数を低減でき、しか
も上述の複雑なコンポリューシラン演算を行う必要がな
いので、計算時間を短縮できかつA/D変換器のダイナ
ミックレンジを縮小することができ、しかも波数分解能
を低下させることがないという優れた効果がある。
第1図及び第2図は本発明の一実施例に係り、第1図は
フーリエ分光器の要部ブロック図、第2図は作用説明に
供するスペクトル面上の波形図である。 図中、 10:マイケルソン干渉計 !2:連続波長可変干渉フィルタ 16:コリメートレンズ 18:ビームスプリッタ 20:固定鏡 22:移動鏡 24:結像レンズ 26:光検出器 34:インターフエログラムメモリ 40:高速フーリエ変換器 42ニスベクトル出力装置
フーリエ分光器の要部ブロック図、第2図は作用説明に
供するスペクトル面上の波形図である。 図中、 10:マイケルソン干渉計 !2:連続波長可変干渉フィルタ 16:コリメートレンズ 18:ビームスプリッタ 20:固定鏡 22:移動鏡 24:結像レンズ 26:光検出器 34:インターフエログラムメモリ 40:高速フーリエ変換器 42ニスベクトル出力装置
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 試料光のインターフェログラムを取得する干渉計(10
)と、 該干渉計の光路に配置され、最大波数σ_Nの試料光の
うちσ_2=(1+1/m)σ_1(mは正の整数)な
る目的とする波数域(σ_1〜σ_2)の光を透過させ
る光学的バンドパスフィルタ(12)と、該干渉計によ
り得られたインターフェログラムデータを、h’≦1/
{2(σ_2−σ_1)}なる間隔hでサンプリングす
るサンプリング手段(28)と、サンプリングされた該
インターフェログラムデータについてフーリエ変換を行
うことによりスペクトルデータを得るフーリエ変換手段
(40)と、を有することを特徴とするフーリエ分光器
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63110762A JP2784435B2 (ja) | 1988-05-07 | 1988-05-07 | フーリエ分光器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63110762A JP2784435B2 (ja) | 1988-05-07 | 1988-05-07 | フーリエ分光器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01282434A true JPH01282434A (ja) | 1989-11-14 |
| JP2784435B2 JP2784435B2 (ja) | 1998-08-06 |
Family
ID=14543926
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63110762A Expired - Fee Related JP2784435B2 (ja) | 1988-05-07 | 1988-05-07 | フーリエ分光器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2784435B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05164613A (ja) * | 1991-12-16 | 1993-06-29 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | フーリエ変換赤外分光測定方法 |
| US9261405B2 (en) | 2011-07-13 | 2016-02-16 | Konica Minolta, Inc. | Interferometer and spectrometer including same |
| WO2019167477A1 (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-06 | 国立大学法人電気通信大学 | 2次元分光法及び2次元分光装置 |
| CZ309439B6 (cs) * | 2009-04-30 | 2023-01-18 | Český metrologický institut | Fourierova spektroskopie s rozlišením zubů frekvenčního hřebene |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63308543A (ja) * | 1987-06-10 | 1988-12-15 | Fuji Electric Co Ltd | 散乱光測光装置 |
-
1988
- 1988-05-07 JP JP63110762A patent/JP2784435B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63308543A (ja) * | 1987-06-10 | 1988-12-15 | Fuji Electric Co Ltd | 散乱光測光装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05164613A (ja) * | 1991-12-16 | 1993-06-29 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | フーリエ変換赤外分光測定方法 |
| CZ309439B6 (cs) * | 2009-04-30 | 2023-01-18 | Český metrologický institut | Fourierova spektroskopie s rozlišením zubů frekvenčního hřebene |
| US9261405B2 (en) | 2011-07-13 | 2016-02-16 | Konica Minolta, Inc. | Interferometer and spectrometer including same |
| WO2019167477A1 (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-06 | 国立大学法人電気通信大学 | 2次元分光法及び2次元分光装置 |
| JPWO2019167477A1 (ja) * | 2018-03-02 | 2021-01-07 | 国立大学法人電気通信大学 | 2次元分光法及び2次元分光装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2784435B2 (ja) | 1998-08-06 |
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