JPH01282494A - 計測機器用ステージ装置 - Google Patents

計測機器用ステージ装置

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Publication number
JPH01282494A
JPH01282494A JP11217388A JP11217388A JPH01282494A JP H01282494 A JPH01282494 A JP H01282494A JP 11217388 A JP11217388 A JP 11217388A JP 11217388 A JP11217388 A JP 11217388A JP H01282494 A JPH01282494 A JP H01282494A
Authority
JP
Japan
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stage
movable stage
movable
members
fixed
Prior art date
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Pending
Application number
JP11217388A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshio Kano
快男 鹿野
Shinya Hasebe
長谷部 信也
Tatsu Ko
黄 辰
Yushun Yamada
山田 雄俊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KGS Corp
Original Assignee
KGS Corp
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Publication date
Application filed by KGS Corp filed Critical KGS Corp
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Publication of JPH01282494A publication Critical patent/JPH01282494A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は、計測機器用ステージ装置に係り、とくに可動
ステージが測定試料等を載置した状態で同一高さを維持
しつつ水平移動するように構成された計測機器用ステー
ジ装置に関する。
〔従来の技術] 従来より、計測機器用ステージ装置は、その多くが可動
ステージを精密仕上げされたガイド機構に摺接して、一
方の方向に往復移動するように構成されている。更に、
この一方の方向に直交する他方の方向にも往復移動させ
る手法としては、上述したガイド面を構成する部材全体
を他方の方向に往復移動させるように構成されたものが
多い。
〔発明が解決しようとする課題] しかしながら、かかる従来例にあっては、可動ステージ
が常にガイド機構に支持され且つ摺接移動することから
、摩擦によるガタの発生や高さ位置の変化若しくは室温
の変化に伴う高さ位置の微少変化が生じ、特にバイオテ
クノロジーの分野における長時間にわたる試料の観察若
しくは測定等に支障をきたすという不都合があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、かかる従来例の有する不都合を改善し
、とくに、常に同一高さを維持しつつ同一面内での移動
を自由に行ない得る耐久性ある計測機器用ステージ装置
を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
そこで、本発明では、固定ステージと、この固定ステー
ジの一方の面を含む平面に沿って移動する可動ステージ
と、この可動ステージを支持するとともにその移動を許
容するガイド手段とを備え、ガイド手段を、各ステージ
に共通に対向し且つ平行に配設された中継ステージと、
この中継ステージを介して固定ステージを複数箇所にて
可動ステージに一体的に連結する同一長さで同一強度の
偶数本から成る複数の線状ばね部材とにより構成してい
る。そして、これら複数の線状ばね部材を、固定ステー
ジと可動ステージの共通する中心軸線に対して線対称に
配設する、という構成を採っている。これによって前述
した目的を達成しようとするものである。
[発明の実施例] 以下、本発明の一実施例を第1図ないし第13図に基づ
いて説明する。
第1図ないし第13図の実施例は、固定ステージ1と、
この固定ステージ1の一方の面を含む平面に沿って移動
する可動ステージ3と、この可動ステージ3を支持する
とともにその移動を許容するガイド手段4とを備えてい
る。
固定ステージ1には前述した可動ステージ3に対応して
、中心軸線を共通にするとともに相互に90°ずらされ
且つ矩形状で偏平に巻回された中空の駆動励磁コイル5
,6が固着装備されている。
この二つの駆動励磁コイル5,6の各長辺コイル5A、
5B、6A、6B上にそれぞれ位置検出コイル7.8,
9.10を配設するとともに、−方の長辺コイル部5A
、6A上にはN極を、他方の長辺コイル部5B、6B上
にはS極を、それぞれ近接させて所定の磁石11.12
,13.14が各々配設されている。
この各磁石11〜14及び位置検出コイル7〜10は、
可動ステージ3に固着されている。位置検出コイル7〜
10は、対応する駆動励磁コイル5.6を一次コイルと
する二次側差動コイルとしての機能を備えた構成となっ
ている。
これをさらに詳述すると、固定ステージ1は、中央部に
四角形状の貫孔IAを有するとともに、この貫孔IAの
内壁部分には、第1図ないし第2図及び第4図に示す如
く、前述した駆動励磁コイル用の係着部IB、IB、・
・・が設けられている。
この固定ステージ1の係着部IB、IB、・・・は、前
述した偏平で矩形状の駆動励磁コイル5,6の短辺部5
a、5b、6a、6b部分を固着し支持する構成となっ
ている。このため、駆動励磁コイル5,6は、固定ステ
ージ1の貫孔IAの中心線を共通の中心線としてそれぞ
れの長辺コイル部5A、5B、6A、6Bを当該貫孔I
A内に配設した状態に設定されている。
可動ステージ3は、前述した駆動励磁コイル5゜6の全
体を挟むようにして配設された二枚の可動係着板3A、
3Bにより構成されている。この二枚の可動係着板3A
、3Bは、スペーサ3C13D、3E、3Fを介して一
体化された状態となっている。この可動係着板3A、3
Bは、それぞれ中央部に測定用の照射光を通過させるた
めの貫孔3a、3bを有している。尚、この貫孔3a、
3bは顕微鏡以外の機器への使用にあっては特に設けな
くてもよい。
磁石11〜14は、一方の組の磁石11.12と他方の
組の磁石13.14に分かれて装備されている。これら
の磁石11〜14は、本実施例では永久磁石が使用され
ているが、電磁石を使用してもよい。
一方の組を構成する二個の磁石11.12は、一方の駆
動励(nコイル5の長辺コイル部5A、5B上に前述し
た如く配設されている。この場合、一方の組を成す磁石
11.12は一方の可動係着板3A(第1図の上方側)
に固着されている。また、他方の組を構成する二個の磁
石13.14は、前述した如く他方の励磁コイル6の長
辺コイル部6A、6B上に配設されている。この場合、
他方の組を成す二個の磁石13.14は、他方の可動係
着板3B(第1図の下方側)に固着されている。
このため、一方の駆動励磁コイル5からの電磁力を受け
て、この一方の駆動励磁コイル5の短辺コイル部5a、
5bに平行に、前述した一方の一組の磁石11.12と
ともに可動ステージ3が矢印χ方向に往復移動すること
ができるようになっている。同様に、他方の駆動励磁コ
イル6からの電磁力を受けて、この他方の駆動励磁コイ
ル6の短辺コイル部6a、6bに平行に、前述した他方
の組の磁石13.14とともに可動ステージ3が矢印Y
方向に往復移動することができるようになっている。
位置検出コイル7〜10の内、一方の組を成す位置検出
コイル7.8は、前述した一方のも6石11.12に各
別に巻回装備されている。また他方の組を成す位置検出
コイル9.10は、前述した他方の磁石13.14に各
別に巻回装備されている(第2図ないし第3図参照)。
この場合、一方の組を成す位置検出コイル7゜8は、相
互に第4図の如く接続され、同じく他方の組を成す位置
検出コイル9,10は、相互に第5図に示す如く接続さ
れている。
可動ステージ3を支持するとともにその移動を許容する
ガイド手段4は、第6図ないし第7図に示すように、固
定ステージ1及び可動ステージ3に対向して配設された
中継ステージ20と、この中継ステージ20と前述した
固定ステージ1及び可動ステージ3とをそれぞれ4カ所
にて連結する同一長さで同一のばね強度から成る複数(
本実施例では8本)の線状ばね部材21,21.・・・
とにより構成されている。
この場合、これら複数の線状ばね部材21は、断面が円
形のものが使用され、その下端部が可動ステージ3上の
角部とこれに近接した固定ステージ1側の上部とに固着
されて合計8本使用されている。この線状ばね部材21
は前述した固定ステージ1の貫孔IAの中心軸線に平行
に配設され、その上端部が前述した中継ステージ20に
一体的に固着されている。そして、これら8本の線状ば
ね部材21は、その全体を投影図でみた場合、前述した
固定ステージlの中心軸線に対して線対称に配設されて
いる。符号2OAは、中継ステージ20の中央部に形成
された貫孔を示す。
次に、上記実施例の動作に付いて説明する。
この第1実施例における動作は、可動ステージ3を支持
するとともにその往復移動を許容するガイド手段4の動
作と、駆動励磁コイル5又は6若しくは両方からの電磁
力を受けて作動する可動ステージの往復移動動作と、こ
の可動ステージ3の移動量を検出する位置検出コイル7
〜lOの動作の三つに分けられる。
互ヱ上王段少動作 第1図ないし第2図および第8図ないし第9図に基づい
てこれを説明する。
いま、一方の駆動励磁コイル5に所定の大きさの直流電
流を流すと、一方の磁石11.12との間に電磁力Fが
発生し第9図に示すように可動ステージを移送せしめる
この場合、各線状ばね部材21のたわみδは、次式とな
る。
δ−[(F’ )  1’(1−ν”)] /12E 
I但し、l:ばね部材の長さ。
I:断面二次モーメント シ:ポアソン比(鋼の場合、ν=0.3)E:材料の縦
弾性係数 この場合、8本の線状ばね部材21内には、全体で反力
(復帰力)F′が生じ、駆動力Fと釣り合って停止する
。また、中継ステージ20を介して線状ばね部材21は
、第1図ないし第2図に示すように対をなして装備され
ていることから、可動ステージ3の全体的移動変化量は
2δとなる。
そして、この第9図における垂直方向(上方向)の変化
は、線状ばね部材21の均一なたわみによって打ち消さ
れ、これによって上方向(垂直方向)の変化は全く生じ
ない。
即ち、このガイド手段4においては、以下に示す利点が
生じている。
■、可動ステージ3の高さを変化させずに可動ステージ
3を水平方向のいづれの方向へも移動させることができ
る。このため、顕微鏡の対物レンズに対する水平方向の
移動調整若しくは同一条件下における水平面内での多点
チエツクには好適なものとなっている。
■、可動ステージ3と固定ステージ1との間に摩擦接触
が全くないため耐久性が著しく増大され、また経時的な
誤差の発生も著しく少なくすることができる。
■、駆動力Fと復帰力F′の等しいところで釣り合うと
ともに停止することから、制御し易いという利点がある
口裔1スー−ジに・ る 手 第10図において、駆動励磁コイル5.6の内の一方の
駆動励磁コイル5に通電し、矢印の如く駆動電流1.(
直流)が流された場合を考える。
この場合、第10図に示すように、磁石11は駆動励磁
コイル5の長辺コイル部5Aに近接してN極が配置され
、また、磁石12は駆動励磁コイル5の長辺コイル部5
Bに近接してS極が配置されている。このため、駆動励
磁コイル5と磁石11.12との間には、それぞれ矢印
Cの方向の電磁力(この場合にはコイル側に生じる電磁
力の反力)が二ヵ所に同時に発生する。この矢印C方向
に対して逆の方向の電磁力を得るためには、電流Icの
向きを逆にすればよい。
一方、駆動励磁コイル6に第10図に示す方向に駆動電
流It  (直流)が通電された場合を考える。この場
合、同図の示すように駆動励磁コイル6と磁石13.1
4との間には、それぞれ矢印Eの方向の電磁力(この場
合も、コイル側に生じる電磁力の反力)が同時に二カ所
に発生する。この矢印E方向の電磁力と逆の方向の電磁
力を得るには、駆動電流Iえの向きを逆にすればよい。
このように、駆動電流IC,IEを各別に又は同時に通
電することにより、磁石7,8又は9゜10にそれぞれ
C又はEの方向、或いはその逆方向、更には合成方向に
電磁力が発生して可動ステージを移動せしめる。
第11図及び第12図に実験結果を示す。この実験では
、駆動励磁コイル5,6として、直径が0.3(mm)
の樹脂絶縁線170回巻きのコイルを使用した。また永
久磁石11〜14は、最大エネルギ積(B H)□x−
22の希土類永久磁石を採用した。この場合、駆動励磁
コイル5,6の電磁力を受ける辺のところでは、約0.
257Tの磁束密度を得た。第13図は、この時の各部
の寸法を示す。
この具体的な実験結果より、印加電流の大きさと可動ス
テージ3の移動(変位)量とは、はぼ比例することが明
らかとなった。また、X方向とY方向の合成方向につい
てもほぼ同様の結果を得ることができた。
拉11しL1歪並−Δ軌作 駆動励磁コイル5又は6には、実際には駆動電流1c又
はIEと位置検出用の所定周波数(例えば5 (KHz
 ) )の交流信号が通電される。位置検出コイル7〜
10は、第2図ないし第5図に示すように逆極性に接続
された2対のコイルであるから、これによって生じる可
動ステージ3のX方向、Y方向又はその合成方向への変
位量に比例してそれぞれ差動電圧が検出される。これを
同期整流することにより、従来の差動変圧器と全く同様
の変位検出電圧が得られる。
ここで、ガイド手段4の一部を成す線状ばね部材21,
21.・・・については、上記実施例では特に断面円形
のものを使用した場合を例示したが、断面四角形状であ
ってもよい。この場合の可動ステージは、X方向又はY
方向の移動のみが許容されている。
また、上記実施例におけるガイド手段4の線状ばね部材
21.2+、、・・・については、これを中継ステージ
20および可動ステージ3に対してねし止めによって固
定する所謂取換え可能な構造としてもよい。
第14図に、上記実施例の倒立顕微鏡への使用例を示す
。この第14図において、符号50は顕微鏡の対物レン
ズを示す。この対物レンズ50に対しては、中継ステー
ジ20の中央部の貫孔20Aにはオーバヘッドランプ5
1が配設されている。
可動ステージ3上には、ガラス板52が載置されるよう
になっている。測定用の試料等は、このガラス板52上
に、又は可動ステージ3上に載置され観察されるように
なっている。また、正立顕微鏡に使用する場合には、本
ステージ装置を上下反対に配置してもよい。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によると1、高さを変えることな
く水平方向の少なくともX方向及びY方向の二方向に可
動ステージを自在に移動させることができ、可動ステー
ジをガイド手段に吊持された形態としたことから、可動
ステージの移動に掛かる機械的なIg擦力が全くなくな
り、従って耐久性が著しく増大されており、上下方向の
変化については複数本の線状ばね部材の偶数本の組合せ
によって相殺されることとなり、これによって経時的に
も可動ステージの上下方向の位置ずれを全く生じさせる
ことのない従来にない優れた計測機器用ステージ装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す縦断面図、第2図は第
1図の■−■線に沿った断面図、第3図は第1図ないし
第2図における駆動励磁コイル部分を示す説明図、第4
図ないし第5図は各々位置検出コイル部を示す結線図、
第6図は第1図の平面図、第7図は第1図の可動ステー
ジ3部分をしめず説明図、第8図ないし第10図は第1
図中に開示された可動ステージ4の動作を示す説明図、
第11図ないし第12図は駆動ステージ4の動作を示す
特性曲線、第13図は第11図ないし第12図の実験に
使用した各部の寸法を示す説明図、第14図は本発明の
一使用例を示す説明図である。 1・・・固定ステージ、3・・・可動ステージ、3A。 3B・・・可動係着板、4・・・ガイド手段、20・・
・中継ステージ、21・・・線状ばね部材。 特許出願人  鹿  野  快  男 代理人 弁理士  高 橋  勇 第1図 3A、38−−− 可1シゴイノFミ層じE呂tぽ2:
;;ト罎1°9″8“ \ \ 工 (!12!+υ辺モaコイル) 第2図 7〜10゛(丁置硬tコイル !1〜I4 : fjk石 互 \                     f′− 第4図 第5図 第6図 2″X 3B      JA 第ε図 第10図 至 ニー 第11図 (Xh百M仰電流−緊イ目骨性) lHIfft5tZciA) 第12図 (γ方閤騙勧電魚−倉瓜特控) 龜ε暑tttlefi(Aン 第13図 第14図 土 \、 \

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、固定ステージと、この固定ステージの一方の面
    を含む平面に沿って移動する可動ステージと、この可動
    ステージを支持するとともにその移動を許容するガイド
    手段とを備え、 前記ガイド手段を、前記各ステージに共通に対向し且つ
    平行に配設された中継ステージと、この中継ステージを
    介して前記固定ステージを複数箇所にて前記可動ステー
    ジに一体的に連結する同一長さで同一強度の偶数本から
    成る複数の線状ばね部材とにより構成し、 これら複数の線状ばね部材を、前記固定ステージと可動
    ステージの共通する中心軸線に対して線対称に配設した
    ことを特徴とする計測機器用ステージ装置。
  2. (2)、前記線状ばね部材が、断面円形状であることを
    特徴とした請求項1記載の計測機器用ステージ装置。
  3. (3)、前記線状ばね部材が、断面四角形状であること
    を特徴とした請求項1記載の計測機器用ステージ装置。
  4. (4)、前記線状ばね部材が、前記中継ステージ、固定
    ステージ及び可動ステージに対して着脱自在の構造とな
    っていることを特徴とした請求項1記載の計測機器用ス
    テージ装置。
JP11217388A 1988-05-09 1988-05-09 計測機器用ステージ装置 Pending JPH01282494A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02190793A (ja) * 1989-01-19 1990-07-26 Olympus Optical Co Ltd 微動載物台
US6992407B2 (en) 2002-07-30 2006-01-31 Tamura Corporation Precision machining stage equipment

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JPH02190793A (ja) * 1989-01-19 1990-07-26 Olympus Optical Co Ltd 微動載物台
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