JPH01282764A - 磁気光学ヘッド - Google Patents
磁気光学ヘッドInfo
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
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- G11B11/10532—Heads
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/123—Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate
-
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- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、データを記録しそして検索するシステムに使
用する磁気光学ヘッドに関する。
用する磁気光学ヘッドに関する。
（従来の技術）
熱磁気記録では消去と再書き込みを行なうことができる
。熱磁気記録の原理はある種の強磁性材料の特性に基づ
くものである。このような強磁性材料の温度をキューり
温度以上に上げると、その材料の磁化作用が小さい磁界
によって影響されるようになる。この原理を利用した熱
磁気光学データ記憶ではレーザビームの焦点を記録媒体
上に結ばせてその媒体の温度をキューり温度以上に上げ
る。この媒体の反対側に小さい電磁石を配置して媒体の
近くに磁界を形成し、媒体の磁化を変えるようにしてい
る。媒体から情報を検索する場合は再びレーザビームの
焦点を記録媒体上に結ばせるが、このときには出力が低
い。媒体の磁化の程度によって、媒体から反射したビー
ムの偏光は変らないま）か、又は約０．４度だけ回転す
るかのどちらかである。光検出器は、その前に挿入され
た分析器（偏光プリズム）により、戻ってきたビームの
偏光のこれらの２つの状態を感知する。記録情報を消去
する１つの方法は、電磁石の磁化の方向を先ず反転させ
、それから焦点を合わせたレーザビームを当てて、媒体
の温度をキューり温度以上に上げ、その媒体を一方向に
均一に磁化することである。
。熱磁気記録の原理はある種の強磁性材料の特性に基づ
くものである。このような強磁性材料の温度をキューり
温度以上に上げると、その材料の磁化作用が小さい磁界
によって影響されるようになる。この原理を利用した熱
磁気光学データ記憶ではレーザビームの焦点を記録媒体
上に結ばせてその媒体の温度をキューり温度以上に上げ
る。この媒体の反対側に小さい電磁石を配置して媒体の
近くに磁界を形成し、媒体の磁化を変えるようにしてい
る。媒体から情報を検索する場合は再びレーザビームの
焦点を記録媒体上に結ばせるが、このときには出力が低
い。媒体の磁化の程度によって、媒体から反射したビー
ムの偏光は変らないま）か、又は約０．４度だけ回転す
るかのどちらかである。光検出器は、その前に挿入され
た分析器（偏光プリズム）により、戻ってきたビームの
偏光のこれらの２つの状態を感知する。記録情報を消去
する１つの方法は、電磁石の磁化の方向を先ず反転させ
、それから焦点を合わせたレーザビームを当てて、媒体
の温度をキューり温度以上に上げ、その媒体を一方向に
均一に磁化することである。
光学的データ記憶装置で上記原理を利用するには、光学
ヘッドを使用して熱磁気媒体に焦点を合わせたレーザビ
ームを形成しなければならない。
ヘッドを使用して熱磁気媒体に焦点を合わせたレーザビ
ームを形成しなければならない。
更に、偏光プリズムを使用して媒体の記録情報を検出器
が読めるようにしなければならない。
が読めるようにしなければならない。
熱磁気光学ヘッドに必要とされる偏光プリズムは既に市
販されており、２つの形態がある。その１つは二色性の
シート状の偏光プリズムであり、二色性とは、その材料
を光が透過するとき一方の面の偏光をこれと直交する他
方の面の偏光よりも多く吸収するという特性である。シ
ート偏光プリズムは、プラスチックシートに有機材料を
埋め込んで形成する。シートを引き延ばし、それにより
分子を揃えそして分子が複屈折するようにして、染料で
着色する。染料分子はその揃っているポリマ分子に選択
的にくっつき、その結果、一方の面では吸収が非常に大
べべ、他方の面では比較的小さいようになる。透過光は
直線的に偏光される。
販されており、２つの形態がある。その１つは二色性の
シート状の偏光プリズムであり、二色性とは、その材料
を光が透過するとき一方の面の偏光をこれと直交する他
方の面の偏光よりも多く吸収するという特性である。シ
ート偏光プリズムは、プラスチックシートに有機材料を
埋め込んで形成する。シートを引き延ばし、それにより
分子を揃えそして分子が複屈折するようにして、染料で
着色する。染料分子はその揃っているポリマ分子に選択
的にくっつき、その結果、一方の面では吸収が非常に大
べべ、他方の面では比較的小さいようになる。透過光は
直線的に偏光される。
シート型偏光プリズムの光学的特性は比較的低い。
これらの偏光プリズムは大抵は低出力の視覚装置に使用
されている。
されている。
更に別の形式の偏光プリズムは２つの直交偏光を分離す
るのにワイヤ格子を使用している。光の波長程度もしく
はそれより小さい間隔の平行な反射ストライプのアレイ
に光があたると、そのアレイの方向に垂直な電気ベクト
ルを有する光が反射される。その結果、透過光ははゾ直
線的に偏光される。画形式の偏光プリズムの欠点は、光
効率が典型的に３０％以下であるということである。
るのにワイヤ格子を使用している。光の波長程度もしく
はそれより小さい間隔の平行な反射ストライプのアレイ
に光があたると、そのアレイの方向に垂直な電気ベクト
ルを有する光が反射される。その結果、透過光ははゾ直
線的に偏光される。画形式の偏光プリズムの欠点は、光
効率が典型的に３０％以下であるということである。
第１Ａ図に磁気光学検出の典型的な光学ヘッドを示す。
レーザは指向性が良いという点で普通の光とは異なる。
Ｐ偏光とは、その向きが第１Ａ図で紙面に平行であるこ
とを意味し、Ｓ偏光とはその向きが第１Ａ図で紙面に垂
直であることを意味する。従って、Ｐ偏光成分とＳ偏光
成分とは直交関係にある。第１Ａ図では、レーザペン１
０は平行ビームをビームスプリッタ１２を通して対物レ
ンズ１４に投射し、この対物レンズはビームを磁気光学
媒体１６に焦点を結ばせる。ビームスプリッタ１２の特
性は、それがＰ偏光の８０％を透過し、Ｓ偏光の１００
％を反射するものである。
とを意味し、Ｓ偏光とはその向きが第１Ａ図で紙面に垂
直であることを意味する。従って、Ｐ偏光成分とＳ偏光
成分とは直交関係にある。第１Ａ図では、レーザペン１
０は平行ビームをビームスプリッタ１２を通して対物レ
ンズ１４に投射し、この対物レンズはビームを磁気光学
媒体１６に焦点を結ばせる。ビームスプリッタ１２の特
性は、それがＰ偏光の８０％を透過し、Ｓ偏光の１００
％を反射するものである。
ビームスプリッタに対しＰ偏光したレーザダイオードで
は光の８０％が対物レンズを通して媒体へ透過される。
は光の８０％が対物レンズを通して媒体へ透過される。
残りの２０％はビームスプリッタにより反射され、そし
て失われる。
て失われる。
媒体の表面にレーザビームが焦点を結ぶとき、発生した
熱は媒体の温度を高め、その温度で記録媒体の磁気区域
の向きは小さい外部磁界により反転するようになる。従
って、データシーケンスに基づいてレーザダイオードを
パルス付勢することにより情報を記録できる。
熱は媒体の温度を高め、その温度で記録媒体の磁気区域
の向きは小さい外部磁界により反転するようになる。従
って、データシーケンスに基づいてレーザダイオードを
パルス付勢することにより情報を記録できる。
その媒体に低出力のレーザビームの焦点を再び結ばせる
ことにより記録情報を検索できる。局部磁区の向きと光
ビームとの相互作用により反射ビームの偏光は小さい角
度だけ回転させられる。
ことにより記録情報を検索できる。局部磁区の向きと光
ビームとの相互作用により反射ビームの偏光は小さい角
度だけ回転させられる。
即ち、媒体と相互作用した後に、Ｐ偏光ビームは僅かに
Ｓ偏光成分を含むようになる。回転の光ベクトルの方向
は媒体上の磁区の向きに依存する。
Ｓ偏光成分を含むようになる。回転の光ベクトルの方向
は媒体上の磁区の向きに依存する。
こうして、＋１もしくは−１に対応して、Ｓ偏光成分の
値は正もしくは負の何れかである。デジタル数に対して
は−１がデジタルＯに対応する。
値は正もしくは負の何れかである。デジタル数に対して
は−１がデジタルＯに対応する。
反射ビームがビームスプリッタ１２に再び入ると、Ｓ偏
光成分の１００％が反射され、そしてＰ偏光成分の僅か
に２０％が反射される。反射ビームのＰ偏光成分の８０
％はビームスプリッタ１２を通ってレーザダイオードに
向かいそしてこれが利用されることはない。検出器はＳ
偏光成分とＰ偏光成分の両方を必要とするので、Ｓ偏光
成分もしくはＰ偏光成分のどちらかが一部は失われるに
違いない。ビームスプリッタは両方をスプリットできな
いからである。Ｐ偏光成分を選択してこれを減らし、Ｐ
偏光成分に対して小さいＳ偏光成分の値を増やす。ビー
ムスプリッタ１２が反射したビームの偏光の向きはビー
ムスプリッタ２０を通る前に波プレート１８により４５
″更に回転されてＰ偏光成分に対してＳ偏光成分の値を
増やす。
光成分の１００％が反射され、そしてＰ偏光成分の僅か
に２０％が反射される。反射ビームのＰ偏光成分の８０
％はビームスプリッタ１２を通ってレーザダイオードに
向かいそしてこれが利用されることはない。検出器はＳ
偏光成分とＰ偏光成分の両方を必要とするので、Ｓ偏光
成分もしくはＰ偏光成分のどちらかが一部は失われるに
違いない。ビームスプリッタは両方をスプリットできな
いからである。Ｐ偏光成分を選択してこれを減らし、Ｐ
偏光成分に対して小さいＳ偏光成分の値を増やす。ビー
ムスプリッタ１２が反射したビームの偏光の向きはビー
ムスプリッタ２０を通る前に波プレート１８により４５
″更に回転されてＰ偏光成分に対してＳ偏光成分の値を
増やす。
ビームスプリッタ２０の特性は、Ｓ偏光成分の１００％
を反射し、モしてＰ偏光成分の１００％を透過するとい
うものである。戻ってきたビームの回転方向は、検出器
２２及び検出器２６が検出した光の差を求めることによ
り検出される。勿論、検出器２６は４個の検出部を有し
ており、光学ヘッドのため普通の仕方でトラッキングエ
ラーと焦点エラーとを検出する。
を反射し、モしてＰ偏光成分の１００％を透過するとい
うものである。戻ってきたビームの回転方向は、検出器
２２及び検出器２６が検出した光の差を求めることによ
り検出される。勿論、検出器２６は４個の検出部を有し
ており、光学ヘッドのため普通の仕方でトラッキングエ
ラーと焦点エラーとを検出する。
第２Ａ図に、第２の実施例を示す。レーザペン１０、対
物レンズ１４及び磁気光学媒体１６が第１Ａ図の場合と
同様に設けられている。ビームスプリッタ２８は第１Ａ
図のビームスプリッタ１２と同じ特性を有している。ビ
ームスプリッタ２８が戻ってきた光を反射するとき、レ
ンズ３０は格子３２を介して検出器３４．３６．３８に
光の焦点を結ばせる。ホログラフィック法により製作す
るのが好ましい回折格子３２をビームスプリッタの代わ
りに使用し、検出器３４．３６．３８へ３つの回折ビー
ムを作る。検出器３４．３８の前の偏光プリズム４０．
４２は、戻ってきたビームの偏光の回転方向を検出でき
るようになっている。
物レンズ１４及び磁気光学媒体１６が第１Ａ図の場合と
同様に設けられている。ビームスプリッタ２８は第１Ａ
図のビームスプリッタ１２と同じ特性を有している。ビ
ームスプリッタ２８が戻ってきた光を反射するとき、レ
ンズ３０は格子３２を介して検出器３４．３６．３８に
光の焦点を結ばせる。ホログラフィック法により製作す
るのが好ましい回折格子３２をビームスプリッタの代わ
りに使用し、検出器３４．３６．３８へ３つの回折ビー
ムを作る。検出器３４．３８の前の偏光プリズム４０．
４２は、戻ってきたビームの偏光の回転方向を検出でき
るようになっている。
第２Ｂ図から判るように、検出器３４．３８は、単一の
検出器であり、検出器３６は焦点及びトラッキングのエ
ラー検出のための４象限検出器である。
検出器であり、検出器３６は焦点及びトラッキングのエ
ラー検出のための４象限検出器である。
（発明の構成）
本発明は、元のレーザビームと実質的に同じ光学路に焦
点エラー検出器とトラッキングエラー検出器とが配置さ
れて、レーザペンを使用した改良型の磁気光学ヘッドに
関する。本発明では記憶された情報はビームスプリッタ
が反射したビームから検索され、透過した光を利用して
焦点エラー信号とトラッキングエラー信号とを発生する
。
点エラー検出器とトラッキングエラー検出器とが配置さ
れて、レーザペンを使用した改良型の磁気光学ヘッドに
関する。本発明では記憶された情報はビームスプリッタ
が反射したビームから検索され、透過した光を利用して
焦点エラー信号とトラッキングエラー信号とを発生する
。
先行技術の装置では、記憶された情報とサーボ電子信号
とが、第１Ａ図及び第２Ａ図に示すビ−ムスプリッタ１
２．２８から反射された少量の光ビームから取り出され
る。本発明の別の利点は、ビームスプリッタが先行技術
と同じ８０／２０タイプであってもよいし、Ｐ偏光成分
の全てを透過し、Ｓ偏光成分の全てを反射するビームス
プリッタであってもよいことである。後者はレーザダイ
オードから媒体への光スループットを改善する。
とが、第１Ａ図及び第２Ａ図に示すビ−ムスプリッタ１
２．２８から反射された少量の光ビームから取り出され
る。本発明の別の利点は、ビームスプリッタが先行技術
と同じ８０／２０タイプであってもよいし、Ｐ偏光成分
の全てを透過し、Ｓ偏光成分の全てを反射するビームス
プリッタであってもよいことである。後者はレーザダイ
オードから媒体への光スループットを改善する。
更に、Ｐ偏光成分の全てを透過し、Ｓ偏光成分の全てを
反射するビームスプリッタの方がずっと入手し易いし、
価格も安い。
反射するビームスプリッタの方がずっと入手し易いし、
価格も安い。
本発明の新規なレーザベンは、遥かに小さい光学的ヘッ
ドを少数の部品と一緒に使用できるようにしている。レ
ーザペンは対物レンズに当てるレーザビームを作るレー
ザダイオードを含んでいる。戻り路において、レーザビ
ームは、レーザと対物レンズとの間で、ホログラフィッ
クであってもよい回折格子に当たる。レーザから対物レ
ンズへの進路上の回折ビームは使用されないが、戻り路
上の一方の回折ビームは、レーザダイオードの直ぐ隣の
光検出器に焦点を結ぶ。
ドを少数の部品と一緒に使用できるようにしている。レ
ーザペンは対物レンズに当てるレーザビームを作るレー
ザダイオードを含んでいる。戻り路において、レーザビ
ームは、レーザと対物レンズとの間で、ホログラフィッ
クであってもよい回折格子に当たる。レーザから対物レ
ンズへの進路上の回折ビームは使用されないが、戻り路
上の一方の回折ビームは、レーザダイオードの直ぐ隣の
光検出器に焦点を結ぶ。
（実施例）
以下に添付図を参照して本発明の詳細な説明する。
第３図は本発明の磁気光学ヘッドのブロック図である。
レーザペン４４は、レーザダイオード４６と、隣接光検
出器４８と、コリメートレンズ５０と、ホログラフィッ
ク光学素子５２とを含む。
出器４８と、コリメートレンズ５０と、ホログラフィッ
ク光学素子５２とを含む。
レーザダイオードはビームスプリッタ５４の入射面に平
行な偏光を持つように配置される（即ち、レーザビーム
はビームスプリッタに対しＰ偏光している）。ビームス
プリッタ５４の特性は、Ｐ偏光成分の全てを透過し、Ｓ
偏光成分の全てを反射するというものである。それ故、
レーザダイオードからのコリメートされたＰ偏光は、全
て、ビームスプリッタ５４を透過して対物レンズ５６に
進み、磁気光学媒体５８に焦点を結び、媒体へ書き込み
、媒体から読み出しを行う。
行な偏光を持つように配置される（即ち、レーザビーム
はビームスプリッタに対しＰ偏光している）。ビームス
プリッタ５４の特性は、Ｐ偏光成分の全てを透過し、Ｓ
偏光成分の全てを反射するというものである。それ故、
レーザダイオードからのコリメートされたＰ偏光は、全
て、ビームスプリッタ５４を透過して対物レンズ５６に
進み、磁気光学媒体５８に焦点を結び、媒体へ書き込み
、媒体から読み出しを行う。
媒体から情報を検索するときは、局部の磁区の向きと光
ビームとの相互作用により反射ビームの偏光は小さい角
度だけ回転させられる。換言すれば、媒体と相互作用し
た後に、Ｐ偏光ビームは少量のＳ偏光成分を含む。回転
する光ベクトルの方向は媒体上の磁区の向きにより決ま
る。この反射ビームがビームスプリッタ５４に入ると、
僅かなＳ偏光成分の１００％が反射され、同じように僅
かなＰ偏光成分がビームスプリッタ５４の不完全のため
反射される。回転の方向は、分析器（偏光プリズム）６
０と光検出器６２とを使用して簡単に分析できる。
ビームとの相互作用により反射ビームの偏光は小さい角
度だけ回転させられる。換言すれば、媒体と相互作用し
た後に、Ｐ偏光ビームは少量のＳ偏光成分を含む。回転
する光ベクトルの方向は媒体上の磁区の向きにより決ま
る。この反射ビームがビームスプリッタ５４に入ると、
僅かなＳ偏光成分の１００％が反射され、同じように僅
かなＰ偏光成分がビームスプリッタ５４の不完全のため
反射される。回転の方向は、分析器（偏光プリズム）６
０と光検出器６２とを使用して簡単に分析できる。
媒体から反射された光のＰ偏光成分の大部分は焦点エラ
ー信号とトラッキングエラー信号とを検出するためにレ
ーザベンユニットに戻される。
ー信号とトラッキングエラー信号とを検出するためにレ
ーザベンユニットに戻される。
本発明のこの実施例は、先行技術の８０／２０ビームス
プリツタよりも簡単なビームスプリッタを使えるように
している。第１Ａ図の実施例の特別な偏光ビームスプリ
ッタは排除されている。本発明では信号対雑音比は良く
なっている。ビームスプリッタ５４が反射する光は記憶
情報の検索だけに使われ、この光をサーボエラーを感知
するために分割するようなことはしないからである。
プリツタよりも簡単なビームスプリッタを使えるように
している。第１Ａ図の実施例の特別な偏光ビームスプリ
ッタは排除されている。本発明では信号対雑音比は良く
なっている。ビームスプリッタ５４が反射する光は記憶
情報の検索だけに使われ、この光をサーボエラーを感知
するために分割するようなことはしないからである。
第３図のレーザペンが第４図に示されている。
この光学的ヘッドの構成は、種々の記録媒体、例えば、
熱磁気媒体、又はランドとビットとを使用する媒体に使
用できる。半導体レーザ・検出器６８は、コリメートレ
ンズ７２ヘレーザビーム７゜を投射する。コリメートさ
れたビームはホログラムレンズ７４を通り、対物レンズ
７６に進む。ホログラムレンズ７４は、半導体レーザ・
検出器６８とコリメートレンズ７２との間に置かれても
よい。対物レンズ７６はビームの焦点を媒体７８上に結
ばせる。対物レンズ７６は、収束及びトラッキングアク
チュエータ８２内でコイル８０により動かされる。半導
体レーザ・検出器６８、コリメートレンズ７２、ホログ
ラムレンズ７４は、光学ベツドのレーザペン８４の部分
を形成している。
熱磁気媒体、又はランドとビットとを使用する媒体に使
用できる。半導体レーザ・検出器６８は、コリメートレ
ンズ７２ヘレーザビーム７゜を投射する。コリメートさ
れたビームはホログラムレンズ７４を通り、対物レンズ
７６に進む。ホログラムレンズ７４は、半導体レーザ・
検出器６８とコリメートレンズ７２との間に置かれても
よい。対物レンズ７６はビームの焦点を媒体７８上に結
ばせる。対物レンズ７６は、収束及びトラッキングアク
チュエータ８２内でコイル８０により動かされる。半導
体レーザ・検出器６８、コリメートレンズ７２、ホログ
ラムレンズ７４は、光学ベツドのレーザペン８４の部分
を形成している。
第５図は半導体レーザ・検出器６８の正面図である。半
導体レーザ８６はヒートシンク８８に取り付けられてい
る。４象限光検出器９０はヒートシンク８８の面に取り
付けられている。光検出器９２は、半導体レーザ８６の
後ろに配置されて半導体レーザから放出された光を測定
する。光検出器９２の角度は、それが半導体レーザ８６
に光を反射しないように決める。４象限検出器９０は半
導体レーザ８６から５ミリメータ内にあるのが好ましく
、そしてレーザ８６と同じ面で２ミリメータ内にあるの
が好ましい。典型的な製造プロセスで形成できるのは、
０．２５ないし０．５ミリメータ厚みの光検出器であり
、光検出器の面とレーザダイオードの面との間はこの程
度離すこととなる。この分離は、焦点エラーを発生する
非点収差の波頭と普通のレンズと同じ球面の波頭とを組
み合わせるホログラムレンズで補償できる。このことが
、光学ヘッドの焦点エラーレンジ内に検出器を置くよう
にさせている。半導体レーザ・光検出オ；６８の好まし
い実施例の詳細については１９８６年５月１日に出願し
た米国特許出願第８５８．４１１号を参照されたい。
導体レーザ８６はヒートシンク８８に取り付けられてい
る。４象限光検出器９０はヒートシンク８８の面に取り
付けられている。光検出器９２は、半導体レーザ８６の
後ろに配置されて半導体レーザから放出された光を測定
する。光検出器９２の角度は、それが半導体レーザ８６
に光を反射しないように決める。４象限検出器９０は半
導体レーザ８６から５ミリメータ内にあるのが好ましく
、そしてレーザ８６と同じ面で２ミリメータ内にあるの
が好ましい。典型的な製造プロセスで形成できるのは、
０．２５ないし０．５ミリメータ厚みの光検出器であり
、光検出器の面とレーザダイオードの面との間はこの程
度離すこととなる。この分離は、焦点エラーを発生する
非点収差の波頭と普通のレンズと同じ球面の波頭とを組
み合わせるホログラムレンズで補償できる。このことが
、光学ヘッドの焦点エラーレンジ内に検出器を置くよう
にさせている。半導体レーザ・光検出オ；６８の好まし
い実施例の詳細については１９８６年５月１日に出願し
た米国特許出願第８５８．４１１号を参照されたい。
動作においては、半導体レーザ８６からのレーザビーム
７０は、コリメートレンズ７２によりコリメートされ、
即ち平行光とされる。このコリメートされたビームはホ
ログラムレンズ７４を通り、零次回折ビームと幾つかの
高次回折ビームを作る。零次回折ビームとは、同じ路の
上で連続していて、角度を持たないものであり、そして
光学ヘッドの前進光路に使用される唯一のビームである
。このビームは、コ°イル８０で動かせる対物レンズ７
６により媒体７８上に焦点を結ぶ。戻り路で、ビームは
再びホログラムレンズ７４に入り、零と高次の回折ビー
ムを作る。零次ビームはレーザに戻され、そしてそのビ
ームは検出には使われない。（ある先行技術では反射ビ
ームによるレーザの出力の変化を利用して反射ビームの
強度を測定する。しかし、これらシステムでは、このよ
うにして収束及びトラッキングをすることはできなレマ
。）戻り路上の反射ビームはホログラフィックペン７４
から高次回折ビームもつくる。これらの高次回折ビーム
の１つが光検出器９０に像を形成する。これは、約１０
度だけ回折した一次回折ビームであるのが好ましい。こ
の構造の利点は、同じ機械的構造体の上に半導体レーザ
と光検出器を取り付けられることである。かくして、こ
の機械的ユニットの動きは、光学ヘッドが受ける信号に
殆ど影響を与えることはない。半導体レーザが動くので
ビームが動くのと同じ大きさと方向とに検出器が動くか
らである。
７０は、コリメートレンズ７２によりコリメートされ、
即ち平行光とされる。このコリメートされたビームはホ
ログラムレンズ７４を通り、零次回折ビームと幾つかの
高次回折ビームを作る。零次回折ビームとは、同じ路の
上で連続していて、角度を持たないものであり、そして
光学ヘッドの前進光路に使用される唯一のビームである
。このビームは、コ°イル８０で動かせる対物レンズ７
６により媒体７８上に焦点を結ぶ。戻り路で、ビームは
再びホログラムレンズ７４に入り、零と高次の回折ビー
ムを作る。零次ビームはレーザに戻され、そしてそのビ
ームは検出には使われない。（ある先行技術では反射ビ
ームによるレーザの出力の変化を利用して反射ビームの
強度を測定する。しかし、これらシステムでは、このよ
うにして収束及びトラッキングをすることはできなレマ
。）戻り路上の反射ビームはホログラフィックペン７４
から高次回折ビームもつくる。これらの高次回折ビーム
の１つが光検出器９０に像を形成する。これは、約１０
度だけ回折した一次回折ビームであるのが好ましい。こ
の構造の利点は、同じ機械的構造体の上に半導体レーザ
と光検出器を取り付けられることである。かくして、こ
の機械的ユニットの動きは、光学ヘッドが受ける信号に
殆ど影響を与えることはない。半導体レーザが動くので
ビームが動くのと同じ大きさと方向とに検出器が動くか
らである。
第４図の実施例は、レーザペン８４が収束・トラッキン
グアクチュエータ８２から別にされているモジュールで
ある。事実、第４図の収束・トラッキングアクチュエー
タ８２は先行技術の収束・トラッキングアクチュエータ
と同じである。
グアクチュエータ８２から別にされているモジュールで
ある。事実、第４図の収束・トラッキングアクチュエー
タ８２は先行技術の収束・トラッキングアクチュエータ
と同じである。
光のビームを回折してそれを少し動かして光検出器に当
てるようにすることに加えて、光検出器と一緒に収束及
びトラッキングとを行うようにホログラムレンズ７４を
構成することもできる。
てるようにすることに加えて、光検出器と一緒に収束及
びトラッキングとを行うようにホログラムレンズ７４を
構成することもできる。
そのようなシステムが米国特許出願第９３８，０８５号
に説明されている。
に説明されている。
第６図は本発明の別の実施例の上面図である。
先行技術とこの実施例との相違は、記憶情報とサーボエ
ラー信号とを別々に検出することである。
ラー信号とを別々に検出することである。
更に、この実施例では別のホログラフィックビームスプ
リッタを使用することによって差分検出法により戻りビ
ームの偏光回転を感知できるようにしている。第６図で
判るように、ビーム整形光学素子９６を介してレーザペ
ン９４はＰ偏光レーザビームを８０／２０偏光ビームス
プリツタ９８に向ける。そこから、ビームは回転ミラー
１００に向かい、この回転ミラーは磁気光学媒体に投射
するためビームを図示しないアクチュエータに向ける。
リッタを使用することによって差分検出法により戻りビ
ームの偏光回転を感知できるようにしている。第６図で
判るように、ビーム整形光学素子９６を介してレーザペ
ン９４はＰ偏光レーザビームを８０／２０偏光ビームス
プリツタ９８に向ける。そこから、ビームは回転ミラー
１００に向かい、この回転ミラーは磁気光学媒体に投射
するためビームを図示しないアクチュエータに向ける。
戻り路で、回転ミラーは光をビームスプリッタ９８に向
ける。Ｐ偏光成分の８０％がビームスプリッタ９８を通
り、そしてレーザペン９４に戻されてサーボエラー信号
を形成する。光磁気相互作用により発生されたＳ偏光成
分と２０％のＰ偏光成分とが磁気光学検出モジュール１
０２に向け６れる。
ける。Ｐ偏光成分の８０％がビームスプリッタ９８を通
り、そしてレーザペン９４に戻されてサーボエラー信号
を形成する。光磁気相互作用により発生されたＳ偏光成
分と２０％のＰ偏光成分とが磁気光学検出モジュール１
０２に向け６れる。
第７図は第６図の線７−７に沿う断面図であり、アクチ
ュエータ１０４からミラー１００．偏光ビームスプリッ
タ９８、光学素子９６を通ってレーザペン９４内の光検
出器に至るレーザビームのＰ偏光成分の路を示している
。第７図は対物しンズを含むアクチュエータ１０４と対
物レンズを動かす機構との接続を示している。
ュエータ１０４からミラー１００．偏光ビームスプリッ
タ９８、光学素子９６を通ってレーザペン９４内の光検
出器に至るレーザビームのＰ偏光成分の路を示している
。第７図は対物しンズを含むアクチュエータ１０４と対
物レンズを動かす機構との接続を示している。
第８図は第６図の線８−８に沿う断面図であり、アクチ
ュエータ１０４からミラー１００ （図示せず）と偏光
ビームスプリッタ９８とを通って磁気光学検出器１０２
へ到るＳ成分の路を示している。
ュエータ１０４からミラー１００ （図示せず）と偏光
ビームスプリッタ９８とを通って磁気光学検出器１０２
へ到るＳ成分の路を示している。
第９図は第６図の磁気光学検出器１０２の一実施例を示
す。この第９図の構成は、所望ならば、８０／２０ビー
ムスプリツタの使用を許すものである。この実施例は、
第３図の実施例の場合の唯一の光検出器とは対照的に、
２個の光検出器ｌＯ６，１０８を使用しているが、これ
はＰとＳとの同成分が透過させられるからである。レー
ザビームが通るホログラムレンズ１１０は、コリメート
レンズ１１２を通った後二九検出器１０６と１０８に当
たる２つの回折ビームを作る。偏光プリズム１１４と１
１６は、各々光検出器＋０６と１０８との前に配置され
てされている。
す。この第９図の構成は、所望ならば、８０／２０ビー
ムスプリツタの使用を許すものである。この実施例は、
第３図の実施例の場合の唯一の光検出器とは対照的に、
２個の光検出器ｌＯ６，１０８を使用しているが、これ
はＰとＳとの同成分が透過させられるからである。レー
ザビームが通るホログラムレンズ１１０は、コリメート
レンズ１１２を通った後二九検出器１０６と１０８に当
たる２つの回折ビームを作る。偏光プリズム１１４と１
１６は、各々光検出器＋０６と１０８との前に配置され
てされている。
第１０図に示されるように、偏光プリズム１１４と１１
６とは直交成分を有するレーザビームの成分を通す。
６とは直交成分を有するレーザビームの成分を通す。
第１１図に示すように、信号ベクトル１１８はＰ磁区に
対し僅かに回転させられている。ベクトル１１８は成分
ＡとＢとを有している。もし分析器１１４と１１６と°
が成分ＡとＢの方向に成分を通すと、光検出器は異なる
振幅信号を検出する。
対し僅かに回転させられている。ベクトル１１８は成分
ＡとＢとを有している。もし分析器１１４と１１６と°
が成分ＡとＢの方向に成分を通すと、光検出器は異なる
振幅信号を検出する。
ＰもしくはＳ成分もしくは０．４度回転する筈の回転ベ
クトルに分析器を正確に揃えることはできない。しかし
ながら、そのような正確な整合は必要ではない。それゆ
え、光検出器の値の差が検出信号となり、この検出信号
は、もし成分Ａが成分Ｂより大きければｌであり、もし
成分Ａが成分Ｂより小さければ一■である。
クトルに分析器を正確に揃えることはできない。しかし
ながら、そのような正確な整合は必要ではない。それゆ
え、光検出器の値の差が検出信号となり、この検出信号
は、もし成分Ａが成分Ｂより大きければｌであり、もし
成分Ａが成分Ｂより小さければ一■である。
゛ 当業者であれば本発明の思想内で本発明を種々変更
実施できるであろう。例えば、第９図の偏光プリズムは
直交でなくても良い。更に、一方の光検出器をホログラ
ムレンズ１１０からの０次（軸上）の回折ビームを検出
するよう配置できる。
実施できるであろう。例えば、第９図の偏光プリズムは
直交でなくても良い。更に、一方の光検出器をホログラ
ムレンズ１１０からの０次（軸上）の回折ビームを検出
するよう配置できる。
従って、本発明の実施例は例示的なものであって、本発
明の技術的範囲を限定するものではない。
明の技術的範囲を限定するものではない。
なお、本発明の特徴は、特許請求の範囲に記載した特徴
に加えて、次の点にある。
に加えて、次の点にある。
（１）上記ビームスプリッタは、レーザビームと同じ偏
光を有する反射ビームの第２成分を実質的に全部回折格
子へ送る磁気光学ヘッド。
光を有する反射ビームの第２成分を実質的に全部回折格
子へ送る磁気光学ヘッド。
（２）上記第２偏光の光を送るために上記光検出器と偏
光ビームスプリッタとの間に取り付けられた分析器を更
に備えた磁気光学ヘッド。
光ビームスプリッタとの間に取り付けられた分析器を更
に備えた磁気光学ヘッド。
（３）上記ビームスプリッタは、レーザビームと同じ偏
光を有する反射ビームの第２成分を一部分だけ反射する
ものであり、そしてこの反射成分を受けて複数の回折ビ
ームを作る第２の回折格子と、回折ビームの１つを遮断
するよう取り付けられた第２の光検出器と、上記第１ｇ
３光と実質的に直交している偏光を有する反射成分を一
部分だけ送るため上記第２の回折格子と第２の光検出器
との間に取り付けられた第２の分析器とを更に０ｉｆｆ
えている磁気光学ヘッド。
光を有する反射ビームの第２成分を一部分だけ反射する
ものであり、そしてこの反射成分を受けて複数の回折ビ
ームを作る第２の回折格子と、回折ビームの１つを遮断
するよう取り付けられた第２の光検出器と、上記第１ｇ
３光と実質的に直交している偏光を有する反射成分を一
部分だけ送るため上記第２の回折格子と第２の光検出器
との間に取り付けられた第２の分析器とを更に０ｉｆｆ
えている磁気光学ヘッド。
第１Ａ図は、先行技術の磁気光学ヘッドのブロック図、
第１Ｂ図は、第１Ａ図の焦点及びトラッキングの検出器
を示す図、 第２Ａ図は、３ビ一ム回折格子を使用する第２の先行技
術の磁気光学ヘッドのブロック図、第２Ｂ図は、第２Ａ
図の光検出器を示す図、第３図は、本発明の磁気光学ヘ
ッドのブロック図、 第４図は、レーザダイオードと光検出器とがすぐ隣り合
っている本発明の光学ヘッドの好ましい実施例を示す図
、 第５図は、第４図の半導体レーザ・光検出器の正面図、 ″ 第６図は、本発明の磁気光学ヘッドの第２の実施例
を示す図、 第７図は、第６図の実施例の線７−７に沿う断面図、 第８図は、第６図の実施例の線８−８に沿う断面図、 第９図は、２個の検出器を使用する第６図の磁気光学検
出器の一実施例を示す図、 第１０図は、第９図の偏光プリズムの異なる偏光を示す
図、そして 第１１図は、第９図の検出器が検出した信号ベクトルを
示す図である。 図中： ４４・・・レーザペン ４６・・・レーザダイオード ４８・・・検出器 ５０・・・コリメートレンズ ５２・・・ホログラフィック光学素子 ５４・・・偏光ビームスプリッタ ５６・・・対物レンズ ５８・・・磁気光学媒体 ６０・・・分析器 ６２・・・光検出器 ９４・・・レーザペン ９６・・・ビーム整形光学素子 ９８・・・８０／２０偏光ビームスプリツタ１００・・
・回転ミラー １０２・・・磁気光学検出モジュール １０４・・・アクチュエータ １０６；１０８・・・検出器 １１０・・・ホログラムレンズ １１２・・・コリメートレンズ １１４；１１６・・・偏光プリズム 特許出願人 ペンコム インターナショナルコーポレ
イション
を示す図、 第２Ａ図は、３ビ一ム回折格子を使用する第２の先行技
術の磁気光学ヘッドのブロック図、第２Ｂ図は、第２Ａ
図の光検出器を示す図、第３図は、本発明の磁気光学ヘ
ッドのブロック図、 第４図は、レーザダイオードと光検出器とがすぐ隣り合
っている本発明の光学ヘッドの好ましい実施例を示す図
、 第５図は、第４図の半導体レーザ・光検出器の正面図、 ″ 第６図は、本発明の磁気光学ヘッドの第２の実施例
を示す図、 第７図は、第６図の実施例の線７−７に沿う断面図、 第８図は、第６図の実施例の線８−８に沿う断面図、 第９図は、２個の検出器を使用する第６図の磁気光学検
出器の一実施例を示す図、 第１０図は、第９図の偏光プリズムの異なる偏光を示す
図、そして 第１１図は、第９図の検出器が検出した信号ベクトルを
示す図である。 図中： ４４・・・レーザペン ４６・・・レーザダイオード ４８・・・検出器 ５０・・・コリメートレンズ ５２・・・ホログラフィック光学素子 ５４・・・偏光ビームスプリッタ ５６・・・対物レンズ ５８・・・磁気光学媒体 ６０・・・分析器 ６２・・・光検出器 ９４・・・レーザペン ９６・・・ビーム整形光学素子 ９８・・・８０／２０偏光ビームスプリツタ１００・・
・回転ミラー １０２・・・磁気光学検出モジュール １０４・・・アクチュエータ １０６；１０８・・・検出器 １１０・・・ホログラムレンズ １１２・・・コリメートレンズ １１４；１１６・・・偏光プリズム 特許出願人 ペンコム インターナショナルコーポレ
イション
Claims (3)
- （１）反射媒体上に記録された情報を読むための磁気光
学ヘッドにおいて、第１偏光を有するレーザビームを上
記媒体へ向けるレーザペンと、偏光ビームスプリッタと
、光検出器とを備え、上記レーザペンは、焦点エラーを
検出するために上記媒体から離れた上記レーザビーム中
の反射ビームから回折ビームを作る回折格子を含み、上
記偏光ビームスプリッタは、上記回折格子と上記媒体と
の間に取り付けられていて、上記レーザビームの上記第
１の偏光に直交する第２偏光を有する上記反射ビームの
第１成分を実質的に全部反射し、そして上記光検出器は
上記反射成分を検出することを特徴とする磁気光学ヘッ
ド。 - （２）反射媒体上に記録された情報を読むための磁気光
学ヘッドにおいて、上記媒体にレーザビームを向けるレ
ーザペンと、偏光ビームスプリッタと、第２の回折格子
と、第１及び第２の光検出器と、第１及び第２の偏光プ
リズムとを具備し、上記レーザペンは、焦点エラーを検
出するために上記媒体から離れた上記レーザビーム中の
反射ビームから回折ビームを作る回折格子を含み、上記
偏光ビームスプリッタは、上記回折格子と上記媒体との
間に取り付けられていて、上記レーザビームに直交する
偏光を有する上記反射ビームの成分の実質的な部分を反
射し、レーザビームと同じ偏光を有する反射ビームの成
分の一部分を上記回折格子へ送りそして上記第２成分の
一部分を反射し、更に、上記第２の回折格子は、上記反
射成分から複数の異なるビームを作り、上記第１及び第
２の光検出器は上記の第２の回折格子からのビームを検
出し、上記第１及び第２の偏光プリズムは上記第２の回
折格子と上記第１及び第２の光検出器との間に各々配置
され、上記第１の偏光プリズムは上記の第１の偏光に対
し約４５度に向けられた第２偏光の光を伝送し、上記第
２の偏光プリズムは上記第２の偏光に対し約９０度に向
けられた第３偏光の光を伝送することを特徴とする磁気
光学ヘッド。 - （３）反射媒体上に記録された情報を読むための磁気光
学ヘッドにおいて、レーザビームを放射する半導体レー
ザと、このレーザと上記媒体との間に配置され、媒体か
ら離れた上記レーザビーム中の反射ビームから回折ビー
ムを作る回折格子と、第１の光検出器と、偏光ビームス
プリッタと、第２の光検出器とを具備し、上記回折ビー
ムは上記反射ビームの光学軸に対して傾斜した光学軸を
有し、上記回折格子は上記媒体上のレーザビームの焦点
の変化に応答して上記回折ビームに特定の変化を作るよ
うなパターンとなっており、上記第１光検出器は上記回
折ビーム内の上記特定の変化を検出し、上記第１の光検
出器は上記回折ビームを遮断するように配置され、上記
偏光ビームスプリッタは、上記回折格子と上記媒体との
間に取り付けられていて、レーザビームに直交する偏光
を有する上記反射ビーム中の成分を実質的に全部反射し
、上記第２の光検出器は上記反射成分を検出することを
特徴とした磁気光学ヘッド。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/141,459 US4918675A (en) | 1986-12-04 | 1988-01-20 | Magneto-optical head with separate optical paths for error and data detection |
| US141459 | 1998-08-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01282764A true JPH01282764A (ja) | 1989-11-14 |
| JPH06101156B2 JPH06101156B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=22495791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1010118A Expired - Lifetime JPH06101156B2 (ja) | 1988-01-20 | 1989-01-20 | 磁気光学ヘッド |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4918675A (ja) |
| EP (1) | EP0325104A3 (ja) |
| JP (1) | JPH06101156B2 (ja) |
| KR (1) | KR910006661B1 (ja) |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5155718A (en) * | 1988-01-25 | 1992-10-13 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical record medium reading apparatus having a de-focussed light beam projected on an optical record medium |
| US5315574A (en) * | 1988-10-28 | 1994-05-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head with polarized beam hologram |
| US4984229A (en) * | 1988-11-18 | 1991-01-08 | Polaroid Corporation | Autofocus system |
| FR2646245B1 (fr) * | 1989-04-25 | 1991-06-14 | Thomson Csf | Dispositif de lecture optique pour support d'enregistrement optique |
| EP0405444B1 (en) * | 1989-06-26 | 1997-09-03 | Nec Corporation | Optical system |
| US5218582A (en) * | 1990-12-03 | 1993-06-08 | Eastman Kodak Company | Magneto-optic readout using a polarization-preserving optical guide |
| KR950013702B1 (ko) * | 1993-07-15 | 1995-11-13 | 엘지전자주식회사 | 광자기 디스크의 광픽업 장치 |
| JPH07114746A (ja) * | 1993-08-25 | 1995-05-02 | Sony Corp | 光学装置 |
| JP3541416B2 (ja) * | 1994-03-08 | 2004-07-14 | ソニー株式会社 | 光学装置 |
| WO1995029483A1 (en) * | 1994-04-23 | 1995-11-02 | Sony Corporation | Magnetooptic recording medium and magnetooptic recording head |
| JP3029541B2 (ja) * | 1994-12-19 | 2000-04-04 | シャープ株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| JPH08235663A (ja) * | 1995-02-24 | 1996-09-13 | Sony Corp | 光学素子 |
| EP0731456A2 (en) * | 1995-03-04 | 1996-09-11 | Sony Corporation | Optical pickup and optical recording medium reproducing apparatus |
| JP3544239B2 (ja) * | 1995-03-04 | 2004-07-21 | ソニー株式会社 | 光学ピツクアツプ及び光記録媒体再生装置 |
| US5790291A (en) * | 1995-12-07 | 1998-08-04 | Lucent Technologies Inc. | Beam steering and tracking of laser communication links by dual-quadrant tracker and photodiode assembly |
| JP3732268B2 (ja) * | 1996-02-28 | 2006-01-05 | 富士通株式会社 | 光ディスク装置用光学ヘッド |
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