JPH0128401Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、多点ひずみ測定装置に関し、より詳
しくは、自動多点切換器とデイジタルひずみ測定
器からなる多点ひずみ測定装置の改良に関するも
のである。

ひずみゲージを使用した多点ひずみ測定におい
て、ひずみゲージが貼り付けられた供試体は、載
荷による変形のほか、周囲温度の変化によつて複
雑微妙に伸縮し、両者が相まつてひずみゲージに
抵抗変化を与えるので、何らかの方法で、載荷に
よる供試体の変形と、周囲温度変化に基づく供試
体の変形を分離して、真に前者に起因する変形の
みを測定する必要がある。

このため、従来より特定の線膨張係数をもつ供
試体にひずみゲージを貼り付けたときのみ、供試
体の線膨張係数、ひずみゲージを構成する抵抗線
の線膨張係数および抵抗温度係数の３者が周囲温
度変化に対して互いに補償し合つて、見かけ上、
温度変化に対する出力を生じない自己温度補償型
ひずみゲージが使用されている。

しかしながら、この種のひずみゲージは、適用
できる供試体の材質が数種類以下に限定され、あ
らゆる材質の供試体に適用することは不可能なた
め、第１図ａ、第２図ａに示すように、供試体に
貼り付けられ外力による変形と周囲温度変化によ
る変形を同時に検出するアクチーブゲージと、供
試体と同一材質、同一熱容量をもち、応力的には
解放状態にあるダミー片に貼り付けられ周囲温度
変化に基づく供試体の変形のみを等価的に検出す
るダミーゲージを用いた、いわゆるアクチーブダ
ミー法による温度補償法が用いられている。

第１図ａは、従来の共通ダミーゲージ式多点切
換器の回路例を示す図である。同図において、固
定抵抗R₁，R₂、供試体に貼り付けられた多数の
アクチーブゲージA₁〜A_oおよびこれら多数のア
クチーブゲージA₁〜A_oに共通に用いられる１枚
のダミーゲージD₁でホイートストンブリツジを
構成している。，，，…は、測定点番号
を示し、ある測定点が選択されると、対応する測
定点切換スイツチS₁，S₂，S₃，…S_oのいずれかが
ONとなつて、１つのホイートストンブリツジが
構成されるようになつている。このようなホイー
トストンブリツジの入力端には、ブリツジ電源
BVから所定のブリツジ電圧が印加されるように
なつている。

いま、多数のアクチーブゲージ、A₁，A₂，
A₃，A_oが順に切り換えられて、ホイートストン
ブリツジの一辺に回路挿入されて供試体のひずみ
測定が行われる場合を考えると、アクチーブゲー
ジA₁，A₂，A₃，A_oは、それぞれ選択、測定され
ている一瞬の間しかブリツジ電圧が印加されない
が、ホイートストンブリツジの一辺に固定的に設
けられた供通のダミーゲージD₁は、ひずみ測定
が開始されてから、全測定点のひずみ測定が終了
するまで、常時ブリツジ電圧が印加されているの
で、アクチーブゲージ、ダミーゲージ間に、ひず
みゲージ自体の自己加熱による抵抗変化に差を生
じ、その分だけ零点変動として出力にあらわれ
て、測定誤差の原因となる。この場合、当然のこ
ととしてダミーゲージをアクチーブゲージ同様に
D₁，D₂，D₃，…D_oのｎ個所に設け、アクチーブ
ゲージの切り換えと同期して切り換えるようにす
れば、ひずみゲージの自己加熱による零点変動は
確実に除去できるが、現実には供試体の各測定点
ごとにダミーゲージを設けることは、供試体の構
造上の制約、測定機材および労力面の制約、さら
には経済的、時間的な制約などで実施不可能なた
め、前述の欠点は承知のうえ、止むなく、共通ダ
ミーゲージ法を用いているのが実状である。

第１図ｂは、第１図ａに示すひずみゲージが多
点切換器のひずみゲージ接続用端子板に接続され
た状況を略図化したもので、ひずみゲージ接続用
端子板Ｔには、アクチーブゲージ接続端子T_Aと
ダミーゲージ接続端子T_Dが配設されている。各
測定点〜に貼着されたアクチーブゲージA₁
〜A_oは、それぞれ対応するアクチーブゲージ接
続端子T_Aに接続され、一方、共通ダミーゲージ
D₁は、測定点〜に共通リード線L₁，L₂によ
り接続されている。

第２図ａおよびｂは、第１図ａおよびｂに示す
アクチーブダミー法の欠点をカバーして、周囲温
度変化の影響を除去して正確なひずみ測定を行う
ため、本出願人が非公然的に実施を試みた電算機
のソフトウエアによる温度補償方式の参考例を示
すものであり、第２図ａは、多点のひずみ測定を
行うためのホイートストンブリツジ回路を示し、
第１図ａに対応する部分は同一符号で示してあ
る。本参考例においては、第１図ａに示す共通ダ
ミーゲージD₁が固定抵抗R₃で置き換えられてい
るほか、周囲温度変化に対して同一挙動を示す測
定点〜をまとめてグループとし、このグル
ープの測定点には、ｎ−１個のアクチーブゲー
ジA₁〜A_oと、これらに共通に用いられる温度補
償用ダミーゲージD₁（測定点に接続されてい
る）が含まれている。

またグループとして示した測定点ｎ＋１以降
のアクチーブゲージA_o+1，A_o+2，A_o+3，…と、
ダミーゲージD₂もグループと同様な考えに基
づいてグループ化されたものであり、以下、この
ようなグループがいくつも存在するものとする。

第２図ｂは、参考例に係るひずみ測定システム
全体のブロツク図で、左方のグループ、グルー
プ、…で示すひずみゲージと、自動多点切換器
２０の部分が、第２図ａに相当する。デイジタル
ひずみ測定器２１は、たとえば増幅器、Ａ／Ｄ変
換器、初期値記憶装置、演算回路、プリンタ等よ
り構成され、通常多点のひずみ測定に用いられて
いる初期値記憶演算方式のひずみ測定器であつ
て、その出力は、供試体（従つてひずみゲージ）
が載荷されたときの測定値から、供試体（従つ
て、ひずみゲージ）が無負荷状態のときの測定値
（すなわち初期値）を差引いて、載荷によつて生
じた供試体のひずみをあらわしているが、同時に
測定中の周囲温度変化による見かけひずみの成分
も含まれている。

この出力は、インターフエース２２を介してオ
ンラインで、あるいは紙テープさん孔器２３、紙
テープ２４等を媒体としてオンラインで電算機２
５に入力されるようになつている。電算機２５に
は、紙テープ読取装置２６、タイプライタ２７、
磁気デイスク２８、Ｘ−Ｙプロツタ２９等の周辺
機器が付加されていて、全体としてひずみ測定シ
ステムを構成している。

このようなシステムでは、ひずみ測定に先立つ
て同一温度条件のひずみゲージのグループ分け
と、各グループ内に存在する共通ダミーゲージの
接続されている測定点番号とを制御情報として、
あらかじめタイプライタ２７または紙テープ読取
装置２６から入力して、プログラムによる温度補
償を誤りなく行うようにする必要がある。

電算機２５は入力されたデータのグループ分
け、アクチーブゲージとダミーゲージの判別を行
つた後、各グループごとに多数のアクチーブゲー
ジそれぞれの測定値から、そのグループ内に含ま
れるダミーゲージの測定値を差引くことによつ
て、温度補償された正しい測定値（ひずみ量）を
得るようにしている。

従つて、この場合は、アクチーブゲージもダミ
ーゲージも、全く同一動作パターンで走査される
ので、第１図の共通ダミーゲージ式とは異なり、
ひずみゲージの自己加熱による測定誤差は生じな
いが、次の(1)，(2)に述べるような欠点がある。

(1) オンライン方式の欠点 ａ 砂塵のまい上る屋外の測定現場では、タイプ
ライタ２７、磁気デイスク２８、Ｘ−Ｙプロツ
タ２９等は使うことができないので、このよう
なシステムでは測定不可能である。

ｂ 建築物、橋梁、道路、ダム等の工事現場のよ
うな足場の悪い所では、システムが大きすぎて
搬入設置が不可能である。

ｃ 振動のある場所、移動体上での測定ができな
い。

ｄ 電算機２５の周辺装置によつて使用温度範囲
が＋５〜＋35℃、湿度が80％以下に制限され、
ひずみ測定ではごく普通の使用範囲である−10
〜＋40℃（時として＋40℃以上）、湿度85％付
近における測定が不可能になる。

ｅ システム全体が極めて大型、かつ高価とな
る。

ｆ 測定の事前準備が大がかりになるほか、測定
員の記入ミス、伝達ミス、操作ミス等により電
算機２５に入力するひずみゲージのグループ分
け、ダミーゲージの位置等の制御情報を誤つて
入力するおそれが多分にあり、測定結果に混乱
をまねくことがある。

(2) オフライン方式の欠点 ａ 測定現場に搬入するのは、自動多点切換器２
０、デイジタルひずみ測定器２１、紙テープさ
ん孔装置２３のみでよいが、測定中、各測定点
の温度補償された測定値を知ることができな
い。

ｂ 出力した紙テープ２４を電算機２５に入力
し、結果が出るまでに時間がかかるので、ある
載荷状態における測定結果で、次の載荷条件を
決めるような測定には使用できない。

ｃ オンライン方式同様、制御情報を誤つて電算
機２５に入力し、測定結果に混乱をまねくこと
がある。

本考案は、上述のような従来例および参考例の
もつ欠点に鑑みてなされたもので、その目的は、
小型、安価で、高温下または低温下、振動のある
場所、砂塵の舞い上る場所等の悪環境下での使用
に耐え、測定の段取作業が容易で接続や設定ミス
をひき起こしにくく、ひずみゲージのブリツジ電
源による自己加熱の影響を完全に排除しつつ、か
つ周囲温度変化の影響を補償し、真のひずみを正
確に測定することのできる多点ひずみ測定装置を
提供することにある。

本考案は、上記の目的を達成させるため、自動
多点切換器とデイジタルひずみ測定器からなる多
点ひずみ測定装置において、供試体上の多数の測
定点ごとに設けられるアクチーブゲージのうち同
一の温度条件の測定点に設けられるものごとに１
グループをなす複数のアクチーブゲージと前記１
グループごとに１個設けられるダミーゲージの区
別を各測定点ごとに設定するゲージモード設定器
と、前記アクチーブゲージと前記ダミーゲージが
それぞれ入力端に接続され、制御回路から出力さ
れる制御信号によつて所定の順序に従い前記アク
チーブゲージまたは前記ダミーゲージを一つずつ
選択してホイートストンブリツジの一辺に接続
し、該ホイートストンブリツジの出力を出力端か
ら順次送出する自動多点切換器と、前記ホイート
ストンブリツジの入力端にブリツジ電圧を印加す
るブリツジ電源と、前記自動多点切換器によつて
選択されたゲージに対応するゲージモード設定器
が前記アクチーブゲージ、ダミーゲージのいずれ
のゲージ側に設定されているかを判定し、アクチ
ーブゲージ判定信号またはダミーゲージ判定信号
を前記制御回路に出力する判定回路と、前記供試
体に載荷する前の無負荷状態において前記判定回
路からのアクチーブゲージ判定信号およびダミー
ゲージ判定信号を前記制御回路が受けたときこの
制御回路によつて制御されるＡ／Ｄ変換器と第１
の切換スイツチを介して得られるアクチーブゲー
ジ側の初期データε_IAおよびダミーゲージ側の初
期データε_IDをそれぞれ一時的に記憶する初期記
憶装置と、前記供試体に載荷した状態において前
記制御回路によつて制御されるＡ／Ｄ変換器と前
記制御回路により前記初期値記憶装置側から切り
離された前記第１の切換スイツチと前記判定回路
からの前記ダミーゲージ判定信号を前記制御回路
が受けたときこの制御回路によつて制御される第
２の切換スイツチとをそれぞれ介して得られるダ
ミーゲージ側の載荷時測定データε_LDを一時的に
記憶するダミーゲージ用レジスタと、前記供試体
に載荷した状態において前記制御回路がアクチー
ブ判定信号を受けたとき前記制御回路によつて制
御される前記Ａ／Ｄ変換器と前記第１および第２
の切換スイツチをそれぞれ介して得られる前記の
如く１グループをなしている各アクチーブゲージ
側の載荷時測定データε_LAを受けると共に一時的
に記憶された前記初期データε_IAおよびε_IDを前記
初期値記憶装置から受け、さらに一時的に記憶さ
れた前記ダミーゲージ側の載荷時測定データε_LD
を前記ダミーゲージ用レジスタから受けて、 ε_T＝（ε_LA−ε_IA）−（ε_LD−ε_ID） なる演算式による演算を実行し温度補償された真
のひずみε_Tを得る演算回路と、この演算回路の演
算結果である真のひずみε_Tを表示する表示手段と
を具備し、アクチーブゲージとダミーゲージのブ
リツジ電源による自己加熱の影響を全く同一条件
にして該影響を排除しつつ、周囲温度変化による
供試体の伸縮を補正し、載荷によつて生じた供試
体の変形のみを正確に測定し得るように構成した
ことを特徴とするものである。

以下、添付図面により本発明の実施例を詳細に
説明する。

第３図ａおよびｂは、ともに本考案に係るもの
で、同図ａは、自動多点切換器およびゲージモー
ド設定器をひずみゲージとの関係で示す回路図、
同図ｂは、多点ひずみ測定装置全体の一実施例の
構成を示すブロツク図である。

第３図ａにおいては、多点のひずみ測定を行う
ためのホイートストンブリツジが、固定抵抗R₁，
R₂，R₃および第２図ａ同様、グループ化された
アクチーブゲージA₁〜A_o，A_o+1，A_o+2，A_o+3，
…と、各グループに１個含まれるダミーゲージ
D₁，D₂，…とでもつて構成されるようになつて
いる。，，，…， ｎ＋１ ， ｎ＋２ ，
ｎ＋３ ，…は、測定点番号を示し、自動多点切
換器には、これらの各測定点ごとに、各１個宛の
測定点切換スイツチS₁〜S_o，S_o+1，S_o+2，S_o+3，
…が設けられており、後述する制御回路から測定
点を選択する選択指令信号が入力されると、対応
する測定点切換スイツチS₁〜S_o，S_o+1，S_o+2，…
のいずれか１つが一定時間オンとなつて一つのホ
イートストンブリツジ回路が構成されるようにな
つている。一方、本実施例においては、各測定点
，，，…， ｎ＋１ ， ｎ＋２ ， ｎ＋
３ ，…ごとに各１個宛のゲージモード設定器と
してのゲージモードの設定スイツチK₁，K₂，
K₃，…K_o，K_o+1，K_o+2，K_o+3，…が設けられて
いる。このゲージモードの設定スイツチは、ある
測定点に接続されたひずみゲージをアクチーブゲ
ージとして使用するか、あるいはダミーゲージと
して使用するかを設定するスイツチで、当該測定
点に貼り付けられたひずみゲージが、たとえばダ
ミーゲージD₁であるとした場合、図において測
定点における設定スイツチK₁を矢印で示すよ
うに「Ｄ」側に倒す（または押す）ことによつ
て、ダミー側に設定し、反対に当該測定点に貼り
付けられたひずみゲージがたとえばアクチーブゲ
ージA₁であるとした場合には、図において矢印
で示すように設定スイツチK₂をＡ側に倒す（ま
たは押す）ことによつてアクチーブ側に設定し得
るようになつている。

尚、本実施例は、多数の測定点ごとに設けられ
るアクチーブゲージを同一の温度条件の測定点に
設けられるものに組み分けしてグループを編成し
た点は、第２図ａに示した参考例と同様である
が、ダミーゲージD₁，D₂の位置が異なつており、
本実施例においてはダミーゲージD₁，D₂は、各
グループの先頭測定点に接続されている。

第３図ｂにおいて、多数の測定点に貼り付けら
れたひずみゲージは、それぞれグループ、グル
ープ…等に適宜グループ分けされたうえ、自動
多点切換器２０に接続される。この場合、いずれ
のグループにおいても常に共通ダミーゲージD₁，
D₂，…が先頭の測定点にくるように接続され、
それに伴つてゲージモード設定スイツチK₁，K₂，
K₃，K₄，…を第３図ａに示すように設定する。

一点鎖線で囲んだ部分は、本考案の要部である
デイジタルひずみ測定器３０を示し、初期値記憶
演算方式のデイジタルひずみ測定器に、上記自動
多点切換器２０によつて選択されたゲージに対応
するゲージモード設定器がアクチーブゲージ、ダ
ミーゲージのいずれのゲージ側に設定されている
かを判定し、アクチーブゲージ判定信号またはダ
ミーゲージ判定信号を後述する制御回路３２に出
力する判定回路３１、共通ダミーゲージD₁，D₂，
…の測定値を一時的に蓄えるダミーゲージ用レジ
スタ３６およびこのダミーゲージ用レジスタ３６
の入力切換スイツチSW₂を付加したものとなつて
いる。上述した初期値記憶方式のデイジタルひず
み測定器３０は、具体的には、自動多点切換点２
０から順次出力されるダミーゲージ、アクチーブ
ゲーブからの微小なデータ出力を適宜のレベルま
で増幅する増幅器３３、この増幅器３３から出力
されるアナログ信号を制御回路３２から出力され
る変換指令信号を受けたときデイジタル信号に変
換するＡ／Ｄ変換器３４、測定に先立つ無負荷状
態における初期値（または初期データ）をスイツ
チSW₁を介して受けて記憶しておく初期値記憶装
置３５、制御回路３２がアクチーブゲージ判定信
号を受けたときその制御回路３２によつて制御さ
れるＡ／Ｄ変換器３４および入力切換スイツチ
SW₂を介して各アクチーブ側のデータを受けると
共にダミーゲージ用レジスタ３６からの出力を受
け、所定の温度補償演算を行う演算回路３７、こ
の演算回路３７の演算結果を表示する表示手段と
してのプリンタ３８、ホイートストンブリツジに
ブリツジ電圧を印加するブリツジ電源３９、上記
自動多点切換器２０、Ａ／Ｄ変換器３４、ダミー
ゲージ用レジスタ３６や演算回路３７等へ制御信
号を与えて制御する制御回路３２から構成されて
いる。

次に、第３図ｂに示す実施例の動作につき説明
する。

本考案の多点ひずみ測定装置を用いたひずみ測
定においては、まず従来の初期値記憶演算方式の
ひずみ測定装置と同様、供試体が無負荷状態のと
き、スイツチSW₁を側にして、グループから
始まつて全測定点のひずみゲージが無負荷状態の
ときの測定値、すなわち初期値を初期値記憶装置
３５に記憶したのち、スイツチSW₁を制御回路３
２によつて（Ｍ）側に切り換えて供試体に載荷
し、再びグループから始まる全点の測定を実行
するが、このときゲージモード設定スイツチK₁，
K₂，…の設定状態を判定回路３１で判断し、こ
の判定回路３１からの出力がダミーゲージ判定信
号であればこの制御回路３２によつてスイツチ
SW₂をＤ側にしてダミーゲージ用レジスタ３６に
その測定値（載荷時測定データ）を一時的に蓄え
る一方、アクチーブゲージ判定信号であれば、入
力切換スイツチSW₂をＡに切り換えたのち、演算
回路３７により次のような演算を行なつて、温度
補償された真のひずみε_Tを求め、プリンタ３８で
印字記憶する。

ε_T＝（ε_LA−ε_IA）−（ε_LD−ε_ID） …(1) ここに、 ε_T：温度補償された真のひずみ ε_LA：供試体に載荷した時のアクチーブゲージ
の測定値 ε_IA：供試体に載荷する前のアクチーブゲージ
の測定値、すなわちアクチーブゲージ初
期値 ε_LD：供試体に載荷した時のダミーゲージの測
定値 ε_ID：供試体に載荷する前のダミーゲージの測
定値、すなわちダミーゲージの初期値 上記(1)式による温度補償された真のひずみε_Tの
計算は、各ひずみゲージグループの先頭に位置す
るダミーゲージD₁，D₂，…でそれぞれ各グルー
プのアクチーブゲージ測定値が個々に補正される
ので、ダミーゲージのみが不必要に自己加熱を生
じることなく、また電算機を用いることもなく、
簡単、確実に理想的な温度補償が可能となる。

以上説明したように、本考案による多点ひずみ
測定装置は、従来装置と異なり、共通ダミーゲー
ジの自己加熱による補償誤差を排除するととも
に、前記参考例として示した電算機のソフトウエ
アによる温度補償方式のような大がかりな電算機
を用いずに極めて単純、安価な構成としたので、
次のような利点がある。

共通ダミーゲージも自己加熱についてはアク
チーブゲージと同一の条件で測定されるので、
第１図ａに示した従来装置と異なり、ダミーゲ
ージの自己加熱による補償誤差を排除し、周囲
温度変化による供試体の伸縮を補正し、載荷に
よつて生じた供試体の変形のみ、すなわち真の
ひずみのみを正確に測定することができる。

ダミーゲージは、同一温度条件の測定点に設
けられる複数のアクチーブゲージをグループ分
けし、その１グループにつき１個だけ設け、当
該グループに共通に使用するので、アクチーブ
ゲージと同一個数のダミーゲージを設けアクチ
ーブゲーブの切り換えと同期して切り換えるよ
うに構成する場合に比べ、ダミーゲージの個数
の削減、人件費の節減、準備時間の短縮化を図
り得るのみならず、多点切換器の構成もその分
簡略化されかつ測定時間の短縮化を図ることが
できる。

ダミーゲージによる温度補償を大がかりな電
算機を用いることなく、10進数桁の整数演算の
みで行うことができるので、回路構成が簡単、
確実で極めて安価にできる。

参考例として示したような周辺装置をもつた
電算機と異なり、環境条件が過酷な場所、たと
えば、周辺温度−10〜＋50℃、相対湿度85％あ
るいはそれ以上の場所、屋外で砂塵のあるよう
な場所、足場の悪い工事現場、移動体上での測
定等が可能である。そして、電算機を用いた方
式と異なり、特に熟練したオペレータを必要と
しない。

ひずみゲージを自動多点切換装置に接続した
とき、この接続操作と相前後としてアクチーブ
ゲージ、ダミーゲージの区別をゲージモード設
定器に設定するだけの簡単な操作で、ゲージモ
ードを設定できるので、上記電算機を用いた場
合のように、測定員の記入ミス、伝達ミス、電
算機のオペレータの操作ミス等でアクチーブゲ
ージ、ダミーゲージの組み合わせに混乱が生じ
て温度補償結果に狂いを生じる、といつたおそ
れは極めて少なく、信頼性の高い温度補償、ひ
いてはひずみ測定を行うことができる。

尚、本考案は、上述しかつ図面に示された実施
例に何ら限定されるものではなく、その要旨の範
囲内で変更を加えることが可能であり、たとえば
ゲージモード設定器は第４図に示すように、単に
アクチーブゲージ、ダミーゲージの設定のみに使
用することなく、ホイートストンブリツジ内に含
まれるひずみゲージの枚数を１枚、２枚、４枚等
に指定する機能をあわせて同一スイツチで設定で
きるようにする等も可能である。

また、前記の説明では、ダミーゲージの位置
を、各ひずみゲージグループの先頭測定点とした
が、供試体に載荷値の測定値を一時的に蓄えるア
クチーブゲージ用レジスタを付加すれば、ひずみ
ゲージグループ内のどの測定点にダミーゲージが
存在しても、前記と同様に正しく温度補償するこ
とが可能である。この場合、自動多点切換器２０
がアクチーブゲージの出力を選択したとき、そし
て、同時に自動多点切換器２０によつて選択され
たゲージに対応するゲージモード設定器からアク
チーブゲージ判定信号を制御回路３２が受けたと
き、この制御回路３２によつて制御される入力切
換スイツチSW₂を、上記アクチーブゲージ用レジ
スタ側に接続し、Ａ／Ｄ変換器３４の出力を、こ
のアクチーブゲージ用レジスタに供給するように
構成すればよい。そして、演算回路３７による演
算動作は、各ひずみゲージグループの測定動作が
終了した都度行つてもよいし、全グループの測定
動作が終了した後、一括して行うようにしてもよ
い。

【図面の簡単な説明】

第１図ａ，ｂは、それぞれ従来の共通ダミーゲ
ージ式多点切換器の回路例および多点切換器への
ひずみゲージの接続状況を示す図、第２図ａ，ｂ
は、本出願人が非公然に実施を試みた電算機のソ
フトウエアによる温度補償方式の参考例をを示す
説明図で、同部ａは自動多点切換器の回路例を示
す図、同図ｂは測定システム全体のブロツク図、
第３図ａ，ｂは、本考案に係る多点ひずみ測定装
置の一実施例の構成を示すもので、同部ａは、自
動多点切換器とゲージモード設定器のひずみゲー
ジに対する関係を示す回路図、同図ｂはひずみ測
定装置全体のブロツク図、第４図は、本考案装置
に使用するゲージモード設定器としての設定スイ
ツチの一例を示す略図である。 ，，…， ｎ＋１ ， ｎ＋２ ， ｎ＋３
， ｎ＋４ ……測定点番号、K₁，K₂，…K_o，
K_o+1，K_o+2，K_o+3，K_o+4……ゲージモードの設
定スイツチ、T_A……アクチーブゲージ接続端子、
T_D……ダミーゲージ接続端子、A₁，A₂，…，
A_o，A_o+1，A_o+2，A_o+3……アクチーブゲージ、
D₁，D₂，…，D_o……ダミーゲージ、S₁，S₂，…，
S_o……測定点切換スイツチ、R₁，R₂，R₃……固
定抵抗、BV……ブリツジ電源、３０……デイジ
タルひずみ測定器、３１……判定回路、３２……
制御回路、３３……増幅器、３４……Ａ／Ｄ変換
器、３５……初期値記憶装置、３６……ダミーゲ
ージ用レジスタ、３７……演算回路、３８……プ
リンタ、３９……ブリツジ電源。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 自動多点切換器とデイジタルひずみ測定器から
   なる多点ひずみ測定装置において、供試体上の多
   数の測定点ごとに設けられるアクチーブゲージの
   うち同一の温度条件の測定点に設けられるものご
   とに１グループをなす複数のアクチーブゲージと
   前記１グループごとに１個設けられるダミーゲー
   ジの区別を各測定点ごとに設定するゲージモード
   設定器と、前記アクチーブゲージと前記ダミーゲ
   ージがそれぞれ入力端に接続され、制御回路から
   出力される制御信号によつて所定の順序に従い前
   記アクチーブゲージまたは前記ダミーゲージを一
   つずつ選択してホイートストンブリツジの一辺に
   接続し、該ホイートストンブリツジの出力を出力
   端から順次送出する自動多点切換器と、前記ホイ
   ートストンブリツジの入力端にブリツジ電圧を印
   加するブリツジ電源と、前記自動多点切換器によ
   つて選択されたゲージに対応するゲージモード設
   定器が前記アクチーブゲージ、ダミーゲージのい
   ずれのゲージ側に設定されているかを判定し、ア
   クチーブゲージ判定信号またはダミーゲージ判定
   信号を前記制御回路に出力する判定回路と、前記
   供試体に載荷する前の無負荷状態において前記判
   定回路からのアクチーブゲージ判定信号およびダ
   ミーゲージ判定信号を前記制御回路が受けたとき
   この制御回路によつて制御されるＡ／Ｄ変換器と
   第１の切換スイツチを介して得られるアクチーブ
   ゲージ側の初期データε_IAおよびダミーゲージ側
   の初期データε_IDをそれぞれ一時的に記憶する初
   期値記憶装置と、前記供試体に載荷した状態にお
   いて前記制御回路によつて制御されるＡ／Ｄ変換
   器と前記制御回路により前記初期値記憶装置側か
   ら切り離された前記第１の切換スイツチと前記判
   定回路からの前記ダミーゲージ判定信号を前記制
   御回路が受けたときこの制御回路によつて制御さ
   れる第２の切換スイツチとをそれぞれ介して得ら
   れるダミーゲージ側の載荷時測定データε_LDを一
   時的に記憶するダミーゲージ用レジスタと、前記
   供試体に載荷した状態において前記制御回路がア
   クチーブ判定信号を受けたとき前記制御回路によ
   つて制御される前記Ａ／Ｄ変換器と前記第１およ
   び第２の切換スイツチをそれぞれ介して得られる
   前記の如く１グループをなしている各アクチーブ
   ゲージ側の載荷時測定データε_LAを受けると共に
   一時的に記憶された前記初期データε_IAおよびε_ID
   を前記初期値記憶装置から受け、さらに一時的に
   記憶された前記ダミーゲージ側の載荷時測定デー
   タε_LDを前記ダミーゲージ用レジスタから受けて、 ε_T＝（ε_LA−ε_IA）−（ε_LD−ε_ID） なる演算式による演算を実行し温度補償された真
   のひずみε_Tを得る演算回路と、この演算回路の演
   算結果である真のひずみε_Tを表示する表示手段と
   を具備し、アクチーブゲージとダミーゲージのブ
   リツジ電源による自己加熱の影響を全く同一条件
   にして該影響を排除しつつ、周囲温度変化による
   供試体の伸縮を補正し、載荷によつて生じた供試
   体の変形のみを正確に測定し得るように構成した
   ことを特徴とする多点ひずみ測定装置。