JPH0128677Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0128677Y2 JPH0128677Y2 JP1986116299U JP11629986U JPH0128677Y2 JP H0128677 Y2 JPH0128677 Y2 JP H0128677Y2 JP 1986116299 U JP1986116299 U JP 1986116299U JP 11629986 U JP11629986 U JP 11629986U JP H0128677 Y2 JPH0128677 Y2 JP H0128677Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- container
- liquid
- chemical solution
- tank
- wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Weting (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は半導体製造装置に関し、詳しくは半導
体装置製造に使用され、半導体ウエーハを薬液処
理する装置に関するものである。
体装置製造に使用され、半導体ウエーハを薬液処
理する装置に関するものである。
従来の技術
半導体装置の製造工程において、半導体ウエー
ハ表面に形成された酸化膜や金属膜等をパターン
化するに際しては、上記半導体ウエーハを化学的
に薬液処理するエツチング工程で行うのが一般的
である。またこのエツチング工程後には、エツチ
ング済みの半導体ウエーハ表面を純水等で洗浄す
る洗浄工程があり、これら半導体ウエーハのエツ
チング及び洗浄処理は、複数の半導体ウエーハ
を、キヤリアと称される治具に整列保持した状態
で上記治具を処理液槽内の薬液中に浸漬すること
により行われる。
ハ表面に形成された酸化膜や金属膜等をパターン
化するに際しては、上記半導体ウエーハを化学的
に薬液処理するエツチング工程で行うのが一般的
である。またこのエツチング工程後には、エツチ
ング済みの半導体ウエーハ表面を純水等で洗浄す
る洗浄工程があり、これら半導体ウエーハのエツ
チング及び洗浄処理は、複数の半導体ウエーハ
を、キヤリアと称される治具に整列保持した状態
で上記治具を処理液槽内の薬液中に浸漬すること
により行われる。
以下、上記ウエーハエツチング処理に使用され
る半導体製造装置の従来例を第4図乃至第6図を
参照しながら説明する。第4図において、1は半
導体ウエーハ(以下単にウエーハと称す)、2は
複数のウエーハ1,1…を縦方向に定ピツチで整
列保持する、例えばテフロン(登録商標)製のキ
ヤリアで、半導体装置製造における各工程でのウ
エーハ処理に使用される。このキヤリア2は、第
5図及び第6図に示すように平行に対向する一対
の側板3,3と、両側板3,3の両端を連結する
一対の端板4,4とからなり、両側板3,3の内
面に縦方向に定ピツチで複数のウエーハ収納溝
5,5…が形成され、各ウエーハ収納溝5,5…
にウエーハ1,1…が1枚ずつ収納保持される。
6は上記ウエーハ1の表面に形成された酸化膜や
金属膜等をエツチングする薬液7が収容された処
理液槽で、この処理液槽6の底部に設けられた給
液口8から槽内に薬液7を供給してオーバーフロ
ーさせ、そのオーバーフローした薬液7を、処理
液槽6の外周に設けられた回収槽9で回収して排
液口10から排出する。11は上記処理液槽6の
給液口8と回収槽9の排液口10とを連結する循
環流路、12は排出された薬液7を冷却する冷熱
器、13はポンプ、14は排出された薬液7を濾
過して処理液槽6に再度供給するフイルタであ
る。
る半導体製造装置の従来例を第4図乃至第6図を
参照しながら説明する。第4図において、1は半
導体ウエーハ(以下単にウエーハと称す)、2は
複数のウエーハ1,1…を縦方向に定ピツチで整
列保持する、例えばテフロン(登録商標)製のキ
ヤリアで、半導体装置製造における各工程でのウ
エーハ処理に使用される。このキヤリア2は、第
5図及び第6図に示すように平行に対向する一対
の側板3,3と、両側板3,3の両端を連結する
一対の端板4,4とからなり、両側板3,3の内
面に縦方向に定ピツチで複数のウエーハ収納溝
5,5…が形成され、各ウエーハ収納溝5,5…
にウエーハ1,1…が1枚ずつ収納保持される。
6は上記ウエーハ1の表面に形成された酸化膜や
金属膜等をエツチングする薬液7が収容された処
理液槽で、この処理液槽6の底部に設けられた給
液口8から槽内に薬液7を供給してオーバーフロ
ーさせ、そのオーバーフローした薬液7を、処理
液槽6の外周に設けられた回収槽9で回収して排
液口10から排出する。11は上記処理液槽6の
給液口8と回収槽9の排液口10とを連結する循
環流路、12は排出された薬液7を冷却する冷熱
器、13はポンプ、14は排出された薬液7を濾
過して処理液槽6に再度供給するフイルタであ
る。
半導体装置製造のエツチング工程において、所
定のポジシヨンに配置されたキヤリア2を、ウエ
ーハ搬送機構(図示せず)により移送して処理液
槽6内の薬液7中に浸漬する。この状態でポンプ
13の駆動力により処理液槽6の給液口8から流
入する薬液7をオーバーフローさせて回収槽9の
排液口10から流出させ、冷熱器12で冷却する
と共にフイルタ14で濾過した上で上記処理液槽
6の給液口8に供給する。上述のようにして循環
する薬液7により該薬液7中に浸漬されたキヤリ
ア2内のウエーハ1,1…をエツチングする。
定のポジシヨンに配置されたキヤリア2を、ウエ
ーハ搬送機構(図示せず)により移送して処理液
槽6内の薬液7中に浸漬する。この状態でポンプ
13の駆動力により処理液槽6の給液口8から流
入する薬液7をオーバーフローさせて回収槽9の
排液口10から流出させ、冷熱器12で冷却する
と共にフイルタ14で濾過した上で上記処理液槽
6の給液口8に供給する。上述のようにして循環
する薬液7により該薬液7中に浸漬されたキヤリ
ア2内のウエーハ1,1…をエツチングする。
このウエーハエツチングが完了すると、処理液
槽6内のキヤリア2をウエーハ搬送機構(図示せ
ず)で取出し、上記処理液槽6と同一構造を有す
るウエーハ洗浄用の処理液槽に移送する。このウ
エーハ洗浄工程では、循環する薬液により該薬液
中に浸漬されたキヤリア2内のウエーハ1,1…
を洗浄する。
槽6内のキヤリア2をウエーハ搬送機構(図示せ
ず)で取出し、上記処理液槽6と同一構造を有す
るウエーハ洗浄用の処理液槽に移送する。このウ
エーハ洗浄工程では、循環する薬液により該薬液
中に浸漬されたキヤリア2内のウエーハ1,1…
を洗浄する。
考案が解決しようとする問題点
ところで、従来の半導体製造装置では、上述し
たように処理液槽6内の薬液7中にキヤリア2を
浸漬し、この状態で上記薬液7を処理液槽6から
オーバーフローさせながら循環させて上記キヤリ
ア2内のウエーハ1,1…を薬液処理している。
この場合、上記処理液槽6内の薬液量が多く、し
かも薬液7のほとんどはキヤリア2の外部を通
り、キヤリア2内のウエーハ1,1…を効率よく
薬液処理できないのみならず、処理槽6内の隅部
の薬液7は置換され難いので、処理液槽6内の薬
液7を効率よく循環フイルタリングするのが困難
で、上記処理液槽6内で汚れが残存してキヤリア
2内のウエーハ1,1…が汚染される虞があつ
た。また上記循環フイルタリングに時間を要して
作業効率も大幅に低下するという問題があつた。
たように処理液槽6内の薬液7中にキヤリア2を
浸漬し、この状態で上記薬液7を処理液槽6から
オーバーフローさせながら循環させて上記キヤリ
ア2内のウエーハ1,1…を薬液処理している。
この場合、上記処理液槽6内の薬液量が多く、し
かも薬液7のほとんどはキヤリア2の外部を通
り、キヤリア2内のウエーハ1,1…を効率よく
薬液処理できないのみならず、処理槽6内の隅部
の薬液7は置換され難いので、処理液槽6内の薬
液7を効率よく循環フイルタリングするのが困難
で、上記処理液槽6内で汚れが残存してキヤリア
2内のウエーハ1,1…が汚染される虞があつ
た。また上記循環フイルタリングに時間を要して
作業効率も大幅に低下するという問題があつた。
問題点を解決するための手段
本考案は前記問題点に鑑みて提案されたもの
で、この問題点を解決するための技術的手段は、
上下端部が開口した漏斗形状を有し、且つ、内部
に複数の半導体ウエーハを定ピッチで整列保持し
た保水性の容器と、上記容器の下端開口部が給液
口に連結され、且つ、該給液口から容器の下端開
口部を介して容器内に供給されて半導体ウエーハ
を液処理する薬液を、容器の上端開口部からオー
バーフローさせて回収する液回収槽とを含むもの
である。
で、この問題点を解決するための技術的手段は、
上下端部が開口した漏斗形状を有し、且つ、内部
に複数の半導体ウエーハを定ピッチで整列保持し
た保水性の容器と、上記容器の下端開口部が給液
口に連結され、且つ、該給液口から容器の下端開
口部を介して容器内に供給されて半導体ウエーハ
を液処理する薬液を、容器の上端開口部からオー
バーフローさせて回収する液回収槽とを含むもの
である。
作 用
本考案に係る半導体製造装置によれば、ウエー
ハを薬液処理するに際しては、処理液槽の給液口
から供給された薬液を、上記給液口に連結された
容器内に流入させ、該容器からオーバーフローさ
せながら循環フイルタリングする。上記容器内の
ウエーハを液処理する薬液量を少なくすることが
実現容易となつて効率の良い薬液の循環フイルタ
リングが図れる。
ハを薬液処理するに際しては、処理液槽の給液口
から供給された薬液を、上記給液口に連結された
容器内に流入させ、該容器からオーバーフローさ
せながら循環フイルタリングする。上記容器内の
ウエーハを液処理する薬液量を少なくすることが
実現容易となつて効率の良い薬液の循環フイルタ
リングが図れる。
実施例
本考案に係る半導体製造装置の一実施例を第1
図乃至第3図を参照しながら説明する。尚、第4
図乃至第6図と同一部分、又は相当部分には同一
参照符号を付してその説明は省略する。第1図に
示す半導体製造装置15において、16は複数の
ウエーハ1,1…を整列保持した保水製の容器で
ある。この容器16は、第2図及び第3図に示す
ように上下端部16a,16bが開口した漏斗形
状を有し、その側壁部17,17の内面に、前記
キヤリア2のウエーハ収納溝5,5…と同一ピツ
チで縦方向に複数のウエーハ保持溝18,18…
が形成されて各ウエーハ保持溝18,18…にウ
エーハ1,1…が1枚ずつ収納保持される。19
は後述するように上記容器16からオーバーフロ
ーする薬液を回収する液回収槽で、この液回収槽
19の底部には給液口20及び排液口21が設け
られる。ウエーハ液処理時、ウエーハ1,1…を
整列保持した容器16の下端開口部16bが液回
収槽19の上記給液口20に嵌挿された状態で連
結される。22は液回収槽19の給液口20と排
液口21とを連結する循環流路で、この循環流路
22の一部には、ウエーハ洗浄用の純水を容器1
6内に供給する給水路23及び容器16からオー
バーフローした純水を排出する排水路24が連結
される。25は液回収槽19から排出された薬液
7、例えばエツチング液を一旦貯溜する貯液タン
ク、26は該貯液タンク25内の薬液7を冷却す
る冷熱器、27は上記循環流路22内で薬液7を
循環させるための駆動源であるポンプ、28は液
回収槽19から排出された薬液7を濾過して容器
16内に再度供給するフイルタである。29a〜
29dは循環流路22、給水路23及び排水路2
4の所定の箇所に配設され、各流路の開閉を切換
える電磁弁である。
図乃至第3図を参照しながら説明する。尚、第4
図乃至第6図と同一部分、又は相当部分には同一
参照符号を付してその説明は省略する。第1図に
示す半導体製造装置15において、16は複数の
ウエーハ1,1…を整列保持した保水製の容器で
ある。この容器16は、第2図及び第3図に示す
ように上下端部16a,16bが開口した漏斗形
状を有し、その側壁部17,17の内面に、前記
キヤリア2のウエーハ収納溝5,5…と同一ピツ
チで縦方向に複数のウエーハ保持溝18,18…
が形成されて各ウエーハ保持溝18,18…にウ
エーハ1,1…が1枚ずつ収納保持される。19
は後述するように上記容器16からオーバーフロ
ーする薬液を回収する液回収槽で、この液回収槽
19の底部には給液口20及び排液口21が設け
られる。ウエーハ液処理時、ウエーハ1,1…を
整列保持した容器16の下端開口部16bが液回
収槽19の上記給液口20に嵌挿された状態で連
結される。22は液回収槽19の給液口20と排
液口21とを連結する循環流路で、この循環流路
22の一部には、ウエーハ洗浄用の純水を容器1
6内に供給する給水路23及び容器16からオー
バーフローした純水を排出する排水路24が連結
される。25は液回収槽19から排出された薬液
7、例えばエツチング液を一旦貯溜する貯液タン
ク、26は該貯液タンク25内の薬液7を冷却す
る冷熱器、27は上記循環流路22内で薬液7を
循環させるための駆動源であるポンプ、28は液
回収槽19から排出された薬液7を濾過して容器
16内に再度供給するフイルタである。29a〜
29dは循環流路22、給水路23及び排水路2
4の所定の箇所に配設され、各流路の開閉を切換
える電磁弁である。
半導体装置製造のエツチング工程において、前
工程から搬送されてきたキヤリア2を所定のポジ
シヨンに配置し、上記キヤリア2内のウエーハ
1,1…を、予め定ポジシヨンに配置された容器
16内に適宜の手段で移し替えて整列収納する。
この容器16をウエーハ搬送機構(図示せず)に
より移送し、液回収槽19の給液口20に容器1
6の下端開口部16bを嵌挿させることにより上
記容器16を液回収槽19に連結する。そして電
磁弁29a,29bを閉状態、電磁弁29c,2
9dを開状態に設定し、この状態でポンプ27の
駆動力により貯液タンク25内の薬液7を、フイ
ルタ28で濾過しながら液回収槽19の給液口2
0から容器16の下端開口部16bを介して該容
器16内に供給する。この容器16内に流入した
薬液7は、容器16の上端開口部16aからオー
バーフローし、このオーバーフローした薬液7は
液回収槽19の排液口21から貯液タンク25に
回収される。このように循環する薬液7により容
器16内の各ウエーハ1,1…をエツチングす
る。
工程から搬送されてきたキヤリア2を所定のポジ
シヨンに配置し、上記キヤリア2内のウエーハ
1,1…を、予め定ポジシヨンに配置された容器
16内に適宜の手段で移し替えて整列収納する。
この容器16をウエーハ搬送機構(図示せず)に
より移送し、液回収槽19の給液口20に容器1
6の下端開口部16bを嵌挿させることにより上
記容器16を液回収槽19に連結する。そして電
磁弁29a,29bを閉状態、電磁弁29c,2
9dを開状態に設定し、この状態でポンプ27の
駆動力により貯液タンク25内の薬液7を、フイ
ルタ28で濾過しながら液回収槽19の給液口2
0から容器16の下端開口部16bを介して該容
器16内に供給する。この容器16内に流入した
薬液7は、容器16の上端開口部16aからオー
バーフローし、このオーバーフローした薬液7は
液回収槽19の排液口21から貯液タンク25に
回収される。このように循環する薬液7により容
器16内の各ウエーハ1,1…をエツチングす
る。
次に、上記エツチング処理が完了すると、エツ
チング済みのウエーハ1,1…を純水等で洗浄処
理する。このウエーハ洗浄処理は、前記液回収槽
19から容器16を取出し、洗浄用の液回収槽に
移送して行う手段もあるが、この場合上記容器1
6内のウエーハ1,1…の処理面にゴミ等の異物
が付着して汚染される虞があつて上述した手段は
好適ではない。
チング済みのウエーハ1,1…を純水等で洗浄処
理する。このウエーハ洗浄処理は、前記液回収槽
19から容器16を取出し、洗浄用の液回収槽に
移送して行う手段もあるが、この場合上記容器1
6内のウエーハ1,1…の処理面にゴミ等の異物
が付着して汚染される虞があつて上述した手段は
好適ではない。
そこで、前記容器16を液回収槽19に連結し
た状態で、容器16内の薬液7を純水で徐々に希
釈しながら最終的に上記容器16内を純水に置換
することによりエツチング済みのウエーハ1,1
…を外部雰囲気に晒すことなく洗浄処理へ移行さ
せる。即ち、第1図に示すように電磁弁29a,
29bを開状態、電磁弁29c,29dを閉状態
に設定し、この状態で給水路23から液回収槽1
9の給液口20及び容器16の下端開口部16b
を介して純水を容器16内に供給する。これによ
り容器16内の薬液7が徐々に希釈されながら純
水と共に容器16の上端開口部16aからオーバ
ーフローし、液回収槽19の排液口21から排水
路24へ排出される。その後上記容器16内の薬
液7は最終的に純水と置換され、この純水で容器
16内のウエーハ1,1…が洗浄される。このよ
うに薬液を徐々に希釈しながら純水と置換してウ
エーハ洗浄処理へ移行する手段は、従来装置で
は、第4図に示すように処理液槽6内の薬液量が
多いため、多量の純水と置換しなければならず、
またその置換作業に長時間を要するために好まし
い手段ではなかつた。ところが、本考案装置で
は、容器16内の薬液量が比較的少ないため上記
手段は好適である。
た状態で、容器16内の薬液7を純水で徐々に希
釈しながら最終的に上記容器16内を純水に置換
することによりエツチング済みのウエーハ1,1
…を外部雰囲気に晒すことなく洗浄処理へ移行さ
せる。即ち、第1図に示すように電磁弁29a,
29bを開状態、電磁弁29c,29dを閉状態
に設定し、この状態で給水路23から液回収槽1
9の給液口20及び容器16の下端開口部16b
を介して純水を容器16内に供給する。これによ
り容器16内の薬液7が徐々に希釈されながら純
水と共に容器16の上端開口部16aからオーバ
ーフローし、液回収槽19の排液口21から排水
路24へ排出される。その後上記容器16内の薬
液7は最終的に純水と置換され、この純水で容器
16内のウエーハ1,1…が洗浄される。このよ
うに薬液を徐々に希釈しながら純水と置換してウ
エーハ洗浄処理へ移行する手段は、従来装置で
は、第4図に示すように処理液槽6内の薬液量が
多いため、多量の純水と置換しなければならず、
またその置換作業に長時間を要するために好まし
い手段ではなかつた。ところが、本考案装置で
は、容器16内の薬液量が比較的少ないため上記
手段は好適である。
尚、本考案は、上述したエツチング処理以外の
薬液処理について適用可能であるのは勿論であ
る。
薬液処理について適用可能であるのは勿論であ
る。
考案の効果
本考案によれば、ウエーハが整列保持された容
器を液回収槽に連結し、薬液を容器からオーバー
フローさせながら循環させて容器内のウエーハを
液処理するようにしたから、供給された薬液はす
べて容器内を通りウエーハを効率良く薬液処理で
きるのみならず、液処理に必要な薬液量が少なく
て済むため、薬液を循環させる時間の短縮化が図
れ、且つ、薬液中に浮遊するゴミ等の異物を速や
かに除去することができる。その結果、効率の良
い循環フイルタリングが実現容易となつて作業効
率が大幅に向上すると共に、良品質のウエーハを
提供できる。
器を液回収槽に連結し、薬液を容器からオーバー
フローさせながら循環させて容器内のウエーハを
液処理するようにしたから、供給された薬液はす
べて容器内を通りウエーハを効率良く薬液処理で
きるのみならず、液処理に必要な薬液量が少なく
て済むため、薬液を循環させる時間の短縮化が図
れ、且つ、薬液中に浮遊するゴミ等の異物を速や
かに除去することができる。その結果、効率の良
い循環フイルタリングが実現容易となつて作業効
率が大幅に向上すると共に、良品質のウエーハを
提供できる。
第1図は本考案に係る半導体製造装置の一実施
例を示す概略構成断面図、第2図は第1図装置の
容器を示す正断面図、第3図は第2図の部分断面
を含む側面図である。第4図は半導体製造装置の
従来例を示す概略構成断面図、第5図は第4図装
置のキヤリアを示す正断面図、第6図は第5図の
部分断面を含む側面図である。 1……半導体ウエーハ(ウエーハ)、7……薬
液、15……半導体製造装置、16……容器、1
6a,16b……上下端部、19……液回収槽、
20……給液口。
例を示す概略構成断面図、第2図は第1図装置の
容器を示す正断面図、第3図は第2図の部分断面
を含む側面図である。第4図は半導体製造装置の
従来例を示す概略構成断面図、第5図は第4図装
置のキヤリアを示す正断面図、第6図は第5図の
部分断面を含む側面図である。 1……半導体ウエーハ(ウエーハ)、7……薬
液、15……半導体製造装置、16……容器、1
6a,16b……上下端部、19……液回収槽、
20……給液口。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 上下端部が開口した漏斗形状を有し、且つ、内
部に複数の半導体ウエーハを定ピツチで整列保持
した保水性の容器と、 上記容器の下端開口部が給液口に連結され、且
つ、該給液口から容器の下端開口部を介して容器
内に供給されて半導体ウエーハを液処理する薬液
を、容器の上端開口部からオーバーフローさせて
回収する液回収槽とを含むことを特徴とする半導
体製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986116299U JPH0128677Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986116299U JPH0128677Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6322732U JPS6322732U (ja) | 1988-02-15 |
| JPH0128677Y2 true JPH0128677Y2 (ja) | 1989-08-31 |
Family
ID=31000758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986116299U Expired JPH0128677Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0128677Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5911682B2 (ja) * | 2011-08-30 | 2016-04-27 | 株式会社Screenホールディングス | 槽キャリア及び基板処理装置 |
-
1986
- 1986-07-29 JP JP1986116299U patent/JPH0128677Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6322732U (ja) | 1988-02-15 |
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