JPH0128686Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0128686Y2 JPH0128686Y2 JP13917083U JP13917083U JPH0128686Y2 JP H0128686 Y2 JPH0128686 Y2 JP H0128686Y2 JP 13917083 U JP13917083 U JP 13917083U JP 13917083 U JP13917083 U JP 13917083U JP H0128686 Y2 JPH0128686 Y2 JP H0128686Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum
- attached
- sample
- bellows
- stage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Vibration Prevention Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の利用分野〕
本考案は真空排気装置内に設置される移動台に
関するものである。
関するものである。
近年薄膜・半導体プロセス等において真空中で
エツチング・薄膜形全・レジスト露光・イオン打
込みなどを行なう必要性が急速に高まつている。
エツチング・薄膜形全・レジスト露光・イオン打
込みなどを行なう必要性が急速に高まつている。
これにともない真空容器内で精度よく移動で
き、かつ振動のない試料移動台の必要性がますま
す高まつてきている。これらは移動自由度がX,
Y,Z方向、回転・傾斜などを必要とされるもの
が多く、機構的に複雑となるうえ、スペースも大
きく必要とされる。そのうえテーブルを真空中で
移動され、その移動機構の操作部は大気中で行な
うという困難さが加わつており精度がよく、また
振動の少ないことが要求されている。第1図に従
来の、真空中で操作される、試料移動台の例を示
す。真空チヤンバ1の内部にX,Y方向に移動可
能なテーブルを設置する場合、チヤンバの下部か
ら一箇所のみのとりつけによつて簡便にとりつ
け、とりはずしのできる試料台は以下のような構
造をとる。
き、かつ振動のない試料移動台の必要性がますま
す高まつてきている。これらは移動自由度がX,
Y,Z方向、回転・傾斜などを必要とされるもの
が多く、機構的に複雑となるうえ、スペースも大
きく必要とされる。そのうえテーブルを真空中で
移動され、その移動機構の操作部は大気中で行な
うという困難さが加わつており精度がよく、また
振動の少ないことが要求されている。第1図に従
来の、真空中で操作される、試料移動台の例を示
す。真空チヤンバ1の内部にX,Y方向に移動可
能なテーブルを設置する場合、チヤンバの下部か
ら一箇所のみのとりつけによつて簡便にとりつ
け、とりはずしのできる試料台は以下のような構
造をとる。
真空チヤンバ1にフランジ51,52をとりつ
け支持部11,12を介して移動テーブル部7〜
10がとりつけられる。X方向の移動テーブル7
は、クロスローラ・ガイドなどの摺動案内機構を
介して支持部12に移動可能なようにとりつけら
れ、マイクロメータヘツド8により精度よく移動
される。またY方向のテーブル9は、同じく摺動
案内機構を介してX方向テーブル7にとりつけら
れ、マイクロメータヘツド10により精度よく移
動される。そしてこのY方向のテーブルより支持
棒3を介して試料台2がとりつけられることにな
る。さらに真空を保つため、溶接ベローズ6が、
フランジ52とY方向テーブル10の両者に真空
用の溶接をされる。
け支持部11,12を介して移動テーブル部7〜
10がとりつけられる。X方向の移動テーブル7
は、クロスローラ・ガイドなどの摺動案内機構を
介して支持部12に移動可能なようにとりつけら
れ、マイクロメータヘツド8により精度よく移動
される。またY方向のテーブル9は、同じく摺動
案内機構を介してX方向テーブル7にとりつけら
れ、マイクロメータヘツド10により精度よく移
動される。そしてこのY方向のテーブルより支持
棒3を介して試料台2がとりつけられることにな
る。さらに真空を保つため、溶接ベローズ6が、
フランジ52とY方向テーブル10の両者に真空
用の溶接をされる。
概略以上のような構造であるが、この場合にお
いて溶接ベローズの可動性には限度があり、たと
えばテーブルの移動量を10mmとするためには溶接
ベローズの長さを50mm以上とる必要がある。この
ためテーブル10と試料台2の距離が非常に長く
なり、振動に弱い構造となる。すなわち、ベロー
ズ3の長さを十分に長くとるために支持部11の
長さを大きくとる必要がある。このため重いテー
ブル部分7,8,9,10,12がチヤンバから
下に垂れ下つた構造となり、まずこのテーブル部
がチヤンバ1に対して相対的に振動しやすい。そ
のうえ、このテーブル部に対して試料台2をとり
つけて支持する支持棒3も非常に長いものとな
る。したがつて試料台はテーブル部に対して振動
しやすい。以上より従来の真空容器に一方向から
とりつける構造の試料テーブルは2重の振動しや
すい構造を有しており、テーブルの移動量を確保
するためにベローズを長くするにつれ、きわめて
振動を起しやすいことがわかる。前に述べた半導
体プロセス等のビーム応用技術においてはサブミ
クロンの精度を必要とするものが多く、テーブル
が容器に対してサブμ〜1μの幅においても振動
した場合に問題となることは明らかである。
いて溶接ベローズの可動性には限度があり、たと
えばテーブルの移動量を10mmとするためには溶接
ベローズの長さを50mm以上とる必要がある。この
ためテーブル10と試料台2の距離が非常に長く
なり、振動に弱い構造となる。すなわち、ベロー
ズ3の長さを十分に長くとるために支持部11の
長さを大きくとる必要がある。このため重いテー
ブル部分7,8,9,10,12がチヤンバから
下に垂れ下つた構造となり、まずこのテーブル部
がチヤンバ1に対して相対的に振動しやすい。そ
のうえ、このテーブル部に対して試料台2をとり
つけて支持する支持棒3も非常に長いものとな
る。したがつて試料台はテーブル部に対して振動
しやすい。以上より従来の真空容器に一方向から
とりつける構造の試料テーブルは2重の振動しや
すい構造を有しており、テーブルの移動量を確保
するためにベローズを長くするにつれ、きわめて
振動を起しやすいことがわかる。前に述べた半導
体プロセス等のビーム応用技術においてはサブミ
クロンの精度を必要とするものが多く、テーブル
が容器に対してサブμ〜1μの幅においても振動
した場合に問題となることは明らかである。
以上のべてきたように従来真空チヤンバに対し
て一方向からとりつける構造の試料テーブルは十
分な移動量をもたせる値とすると振動をおこしや
すいという実用上致命的な欠陥があつた。
て一方向からとりつける構造の試料テーブルは十
分な移動量をもたせる値とすると振動をおこしや
すいという実用上致命的な欠陥があつた。
本考案の目的は上記した問題点を解決し、真空
容器に一方向からとりつける構造の試料移動台
で、大きい移動量を確保する場合においても振動
がおきにくいような構造のものを提供することに
ある。
容器に一方向からとりつける構造の試料移動台
で、大きい移動量を確保する場合においても振動
がおきにくいような構造のものを提供することに
ある。
真空チヤンバに対してフランジを介してテーブ
ル部を直下につける。これより試料台を上方に支
持棒を介して、とりつける。そしてテーブル部と
試料台とをベローズでつなぐ。これによりシヤフ
トの長さは短かく、かつ、ベローズを振動のダン
パーとして用いることのできる機構が提供され
る。
ル部を直下につける。これより試料台を上方に支
持棒を介して、とりつける。そしてテーブル部と
試料台とをベローズでつなぐ。これによりシヤフ
トの長さは短かく、かつ、ベローズを振動のダン
パーとして用いることのできる機構が提供され
る。
また同様に、真空チヤンバに対してフランジを
介してテーブル部を直下につけた後、これに対し
下方に支持部を介して軽い支持板をとりつけこれ
より試料台を支持棒を介して上方へとりつける。
そして試料台と支持板とをベローズでつなぐ。こ
れにより、支持棒の長さが短かく、かつ重いテー
ブル部が垂れ下がつた構造をなくしたため振動の
小さいテーブルが実現できる。
介してテーブル部を直下につけた後、これに対し
下方に支持部を介して軽い支持板をとりつけこれ
より試料台を支持棒を介して上方へとりつける。
そして試料台と支持板とをベローズでつなぐ。こ
れにより、支持棒の長さが短かく、かつ重いテー
ブル部が垂れ下がつた構造をなくしたため振動の
小さいテーブルが実現できる。
第2図に本考案にかかる真空用の試料テーブル
の構成の一例を示す。真空チヤンバにとりつけら
れたフランジ51に対してOリング又はガスケー
ト4により真空を保ちつつフランジ52がとりつ
けられる。そしてこれに対しクロスローラガイド
などの摺動案内機構を介してX方向テーブルがと
りつけられ、マイクロメータヘツド8により移動
可能である。またこのX方向テーブルに対して同
様の摺動案内機構を介してY方向テーブル9がと
りつけられマイクロメータヘツド10により移動
が可能である。ここで、Y方向テーブル9に対し
て試料台2を支持する支持棒3により立ち上げて
試料台を真空チヤンバ1の内部に支持する。真空
を保つためには、溶接ベローズ2をX方向のテー
ブル52の突出部53と試料台の間に設置し、
各々へ真空用の溶接により接合する。このような
構造であるから真空ベローズの内側が大気側、外
側が真空側となり第1図の場合と逆となつてい
る。
の構成の一例を示す。真空チヤンバにとりつけら
れたフランジ51に対してOリング又はガスケー
ト4により真空を保ちつつフランジ52がとりつ
けられる。そしてこれに対しクロスローラガイド
などの摺動案内機構を介してX方向テーブルがと
りつけられ、マイクロメータヘツド8により移動
可能である。またこのX方向テーブルに対して同
様の摺動案内機構を介してY方向テーブル9がと
りつけられマイクロメータヘツド10により移動
が可能である。ここで、Y方向テーブル9に対し
て試料台2を支持する支持棒3により立ち上げて
試料台を真空チヤンバ1の内部に支持する。真空
を保つためには、溶接ベローズ2をX方向のテー
ブル52の突出部53と試料台の間に設置し、
各々へ真空用の溶接により接合する。このような
構造であるから真空ベローズの内側が大気側、外
側が真空側となり第1図の場合と逆となつてい
る。
そして、可動範囲を保つためベローズの長さは
第1図と同じ長さにしても、支持棒3の長さは短
かくできる。これにより支持棒部の剛性は大とな
り振動の問題を小さくできる。また、この構造で
は、第1図の場合のように重いテーブル部を真空
チヤンバより下方に垂れ下げる必要がなく、直接
に真空チヤンバへとりつけているため、この部分
で振動が発生する恐れは小さい。さらにこの構造
においては、テーブル2が振動する際、ベローズ
3は、これを減衰させるダンパーとしての働きを
有する。したがつて振動は第1図のようにテーブ
ル2が支持棒の自由端になつている場合に比べて
はるかに小さくできる。
第1図と同じ長さにしても、支持棒3の長さは短
かくできる。これにより支持棒部の剛性は大とな
り振動の問題を小さくできる。また、この構造で
は、第1図の場合のように重いテーブル部を真空
チヤンバより下方に垂れ下げる必要がなく、直接
に真空チヤンバへとりつけているため、この部分
で振動が発生する恐れは小さい。さらにこの構造
においては、テーブル2が振動する際、ベローズ
3は、これを減衰させるダンパーとしての働きを
有する。したがつて振動は第1図のようにテーブ
ル2が支持棒の自由端になつている場合に比べて
はるかに小さくできる。
第3図には他の実施例を示した。この場合には
真空容器にフランジを介して直接テーブル部をと
りつける点では第2図の例と同じであるがこれよ
り下方に支持棒14により支持された支持板13
を設けこれより支持棒3により立上げて試料台を
とりつけている。そして真空を保つためのベロー
ズはフランジ52と支持台13の間に設置され、
この各々に真空用の溶接でとりつけられている。
この場合は従来の第1図のように重いテーブル部
分を垂れ下げるのでなく軽い支持板13を設けた
ことにより第1図の場合より振動が小さく減衰し
やすい構造となつている。また支持板13にベロ
ーズ6をとりつけることにより、同じベローズの
長さであつても支持棒の長さを短かくでき支持板
に対する試料台の振動を小さくできる。
真空容器にフランジを介して直接テーブル部をと
りつける点では第2図の例と同じであるがこれよ
り下方に支持棒14により支持された支持板13
を設けこれより支持棒3により立上げて試料台を
とりつけている。そして真空を保つためのベロー
ズはフランジ52と支持台13の間に設置され、
この各々に真空用の溶接でとりつけられている。
この場合は従来の第1図のように重いテーブル部
分を垂れ下げるのでなく軽い支持板13を設けた
ことにより第1図の場合より振動が小さく減衰し
やすい構造となつている。また支持板13にベロ
ーズ6をとりつけることにより、同じベローズの
長さであつても支持棒の長さを短かくでき支持板
に対する試料台の振動を小さくできる。
本考案により真空容器に対し一方向から容易に
とりつけることができかつ、十分な移動量を確保
しつつ振動を生じにくい構造の真空用移動台が提
供された。これによりサブミクロンの精度を問題
とする真空中での各種プロセスに対して十分に実
用的な振動のない真空用テーブルが実現される。
とりつけることができかつ、十分な移動量を確保
しつつ振動を生じにくい構造の真空用移動台が提
供された。これによりサブミクロンの精度を問題
とする真空中での各種プロセスに対して十分に実
用的な振動のない真空用テーブルが実現される。
第1図は従来の構造の真空容器用のテーブルを
示す断面図、第2図は本考案の一実施例の真空容
器用テーブルを示す断面図、第3図は本考案の他
の実施例の真空容器用テーブルを示す断面図であ
る。 2……試料台、3……支持棒、8,10……マ
イクロメータヘツド、9……Y方向テーブル、5
2……X方向テーブル。
示す断面図、第2図は本考案の一実施例の真空容
器用テーブルを示す断面図、第3図は本考案の他
の実施例の真空容器用テーブルを示す断面図であ
る。 2……試料台、3……支持棒、8,10……マ
イクロメータヘツド、9……Y方向テーブル、5
2……X方向テーブル。
Claims (1)
- 真空容器の内部に設置する移動台において、テ
ーブル移動機構を真空容器にとりつけ、テーブル
より試料台を真空容器内に支持棒によりたち上
げ、かつ試料台とテーブルとをベローズで接続す
ることにより、試料台の十分な移動量を有しつつ
かつ試料台の真空容器に対する振動を小さくした
ことを特徴とする真空容器用移動台。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13917083U JPS6048233U (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 真空容器用移動台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13917083U JPS6048233U (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 真空容器用移動台 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6048233U JPS6048233U (ja) | 1985-04-04 |
| JPH0128686Y2 true JPH0128686Y2 (ja) | 1989-08-31 |
Family
ID=30312021
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13917083U Granted JPS6048233U (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 真空容器用移動台 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6048233U (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004160882A (ja) * | 2002-11-14 | 2004-06-10 | Takara Seisakusho:Kk | 樹脂封止装置 |
| JP4879833B2 (ja) * | 2007-07-30 | 2012-02-22 | 株式会社ダイヘン | 搬送装置 |
| JP5649211B2 (ja) * | 2010-10-19 | 2015-01-07 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 成膜装置 |
| JP7228612B2 (ja) * | 2020-03-27 | 2023-02-24 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理方法及びプログラム |
-
1983
- 1983-09-09 JP JP13917083U patent/JPS6048233U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6048233U (ja) | 1985-04-04 |
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