JPH01287466A - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
- Publication number
- JPH01287466A JPH01287466A JP11843788A JP11843788A JPH01287466A JP H01287466 A JPH01287466 A JP H01287466A JP 11843788 A JP11843788 A JP 11843788A JP 11843788 A JP11843788 A JP 11843788A JP H01287466 A JPH01287466 A JP H01287466A
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- JP
- Japan
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- sample
- measurement
- vessel
- reaction
- line section
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- Pending
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、サンプルに試薬を反応させこの反応液内の特
定成分の濃度を測定する自動化学分析装置に関する。
定成分の濃度を測定する自動化学分析装置に関する。
（従来の技術）
例えば人体から採取した血清をサンプル（試料）として
用いこれに所望の試薬を反応させ、この反応液内の特定
成分の濃度を例えば比色法により測定して所望項目の化
学分析を行うようにした自動化学分析装置が知られてい
る。第５図はこのような分析装置の構成を示す概略図で
、分析装置は大別して分析すべきサンプルを保持し所定
のタイミングでそれをサンプル分注アーム４によって外
部にサンプリングするサンプラ部１と、サンプラ部１か
らサンプリングされたサンプルを測定項目に応じて所望
の倍率に希釈する希釈ライン部２と、所定のタイミング
で希釈ライン部２からサンプルを分注アーム５によって
分注してこれに所望の試薬を反応させ、この反応液内の
特定成分の濃度を例えば比色法によって測定することに
より所望項目の分析を行う反応ライン部３とから構成さ
れている。ここで反応ライン部３の数は必要に応じて複
数配置することが可能であり、これによって分析装置の
処理能力の向上を図ることができる。
用いこれに所望の試薬を反応させ、この反応液内の特定
成分の濃度を例えば比色法により測定して所望項目の化
学分析を行うようにした自動化学分析装置が知られてい
る。第５図はこのような分析装置の構成を示す概略図で
、分析装置は大別して分析すべきサンプルを保持し所定
のタイミングでそれをサンプル分注アーム４によって外
部にサンプリングするサンプラ部１と、サンプラ部１か
らサンプリングされたサンプルを測定項目に応じて所望
の倍率に希釈する希釈ライン部２と、所定のタイミング
で希釈ライン部２からサンプルを分注アーム５によって
分注してこれに所望の試薬を反応させ、この反応液内の
特定成分の濃度を例えば比色法によって測定することに
より所望項目の分析を行う反応ライン部３とから構成さ
れている。ここで反応ライン部３の数は必要に応じて複
数配置することが可能であり、これによって分析装置の
処理能力の向上を図ることができる。
ここで分析すべきサンプルとして用いられる血清には測
定値に影響を与える乳び、溶血、黄癲等が含まれること
が避けられず、各々第６図に示したような吸光度特性を
有している。
定値に影響を与える乳び、溶血、黄癲等が含まれること
が避けられず、各々第６図に示したような吸光度特性を
有している。
（発明が解決しようとする課題）
ところで従来の分析装置では、測定値に影響を与えるそ
のような不純物質の含まれる程度が多くなると、反応ラ
イン部で得られる測定データの誤差が大きくなるという
問題がある。すなわち血清の正確な測定データを得るた
めには血清内に含まれる乳び等の不純物質の量は少ない
ことが望ましいが、この量が成る程度多くなるとこれら
不純物質の影響を受けて血清の正確な測定データが得ら
れないことになる。またこのような測定データが得られ
る可能性がある場合には、測定効率を向上するためにこ
れを未然に予測できることが望ましい。
のような不純物質の含まれる程度が多くなると、反応ラ
イン部で得られる測定データの誤差が大きくなるという
問題がある。すなわち血清の正確な測定データを得るた
めには血清内に含まれる乳び等の不純物質の量は少ない
ことが望ましいが、この量が成る程度多くなるとこれら
不純物質の影響を受けて血清の正確な測定データが得ら
れないことになる。またこのような測定データが得られ
る可能性がある場合には、測定効率を向上するためにこ
れを未然に予測できることが望ましい。
本発明は以上のような事情に対処して成されたもので、
予めサンプル情報を得て測定効率を向上するようにした
自動化学分析装置を提供することを目的とするものであ
る。
予めサンプル情報を得て測定効率を向上するようにした
自動化学分析装置を提供することを目的とするものであ
る。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明は、希釈ライン部に各
サンプルの吸光度に関するサンプル情報を得るための測
定手段を備えるようにしたものである。
サンプルの吸光度に関するサンプル情報を得るための測
定手段を備えるようにしたものである。
（作 用）
希釈ライン部に設けた測定手段により、予め乳び、溶血
、黄痘等のサンプル情報を得ることができるので、この
測定結果に基づき反応ライン部における測定実施の要否
を決定することができる。
、黄痘等のサンプル情報を得ることができるので、この
測定結果に基づき反応ライン部における測定実施の要否
を決定することができる。
これによって反応ライン部における測定効率を向上する
ことができる。また測定結果が予め設定されたしきい値
以上の場合でも、測定を実施するようにすることができ
る。
ことができる。また測定結果が予め設定されたしきい値
以上の場合でも、測定を実施するようにすることができ
る。
（実施例）
以下図面を参照して本発明実施例を説明する。
第１図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図で、サンプラ部１は一定サイクルで間欠移動を行う例
えば円形の回転テーブル６を有し、この回転テーブル６
には分析すべきサンプルが収納されたサンプル容器７を
所定数例えば５個支持した状態のサンプルラック８がセ
ットされる。回転テーブル６上のサンプルラック８から
は所定のタイミングでサンプル分注アーム４によって所
望のサンプルがサンプリングされて、希釈ライン部２の
希釈容器９に分注される。
図で、サンプラ部１は一定サイクルで間欠移動を行う例
えば円形の回転テーブル６を有し、この回転テーブル６
には分析すべきサンプルが収納されたサンプル容器７を
所定数例えば５個支持した状態のサンプルラック８がセ
ットされる。回転テーブル６上のサンプルラック８から
は所定のタイミングでサンプル分注アーム４によって所
望のサンプルがサンプリングされて、希釈ライン部２の
希釈容器９に分注される。
希釈ライン部２はベルトコンベア１０を有し希釈機構１
１によって希釈容器９内のサンプルを所望倍率に希釈し
て一定のサイクルで矢印方向に搬送する。この希釈ライ
ン部２の途中位置には希釈容器９内のサンプルから吸光
度に関するサンプル情報を測定するための測定系１２が
設けられている。この測定系１２は第２図に示すように
希釈容器９の両側に配置された光源ランプ１３及び光検
出器１４を含んでおり、希釈容器９に対する光源ランプ
１３からの入射光及び透過光を基に吸光度を測定するこ
とによりサンプル情報が測定される。
１によって希釈容器９内のサンプルを所望倍率に希釈し
て一定のサイクルで矢印方向に搬送する。この希釈ライ
ン部２の途中位置には希釈容器９内のサンプルから吸光
度に関するサンプル情報を測定するための測定系１２が
設けられている。この測定系１２は第２図に示すように
希釈容器９の両側に配置された光源ランプ１３及び光検
出器１４を含んでおり、希釈容器９に対する光源ランプ
１３からの入射光及び透過光を基に吸光度を測定するこ
とによりサンプル情報が測定される。
サンプル情報は第６図に示されたように乳び、溶血、黄
痕の各不純物質の吸光度が測定される。このような各サ
ンプル情報は制御部１５の制御の基に各測定項目毎に測
定演算が行われることによって得られ、この測定結果は
制御部１５によって各測定項目毎に予め設定されたしき
い値と比較される。制御部１５は専用のマイクロプロセ
ッサから構成され装置全体の制御動作を司どっている。
痕の各不純物質の吸光度が測定される。このような各サ
ンプル情報は制御部１５の制御の基に各測定項目毎に測
定演算が行われることによって得られ、この測定結果は
制御部１５によって各測定項目毎に予め設定されたしき
い値と比較される。制御部１５は専用のマイクロプロセ
ッサから構成され装置全体の制御動作を司どっている。
制御部１５は各測定値のしきい値との比較結果がしきい
値を越えているときは、このサンプルの該当した項目の
測定を行わないような制御動作を反応ライン部３に対し
て行う。但しこのような場合でも測定実施が可能なよう
に構成され、レート法の場合測定結果にエラーコードが
付されるような処理が施される。又はエンドポイント法
の場合は血清色調により生じた吸光度の誤差が補正され
るような処理が施される。
値を越えているときは、このサンプルの該当した項目の
測定を行わないような制御動作を反応ライン部３に対し
て行う。但しこのような場合でも測定実施が可能なよう
に構成され、レート法の場合測定結果にエラーコードが
付されるような処理が施される。又はエンドポイント法
の場合は血清色調により生じた吸光度の誤差が補正され
るような処理が施される。
反応ライン部３は反応容器１６が一定のサイクルで間欠
移動するように構成され、これら反応容器１６に対して
は希釈ライン部２の希釈容器９からサンプル分注アーム
５によって所望のサンプルが分注可能に構成されている
。反応容器１６のサンプルに対しては所望の試薬が反応
され、この反応液内の特定成分の濃度が測定系によって
測定されることにより所望項目の化学分析が行われるよ
うに構成されている。
移動するように構成され、これら反応容器１６に対して
は希釈ライン部２の希釈容器９からサンプル分注アーム
５によって所望のサンプルが分注可能に構成されている
。反応容器１６のサンプルに対しては所望の試薬が反応
され、この反応液内の特定成分の濃度が測定系によって
測定されることにより所望項目の化学分析が行われるよ
うに構成されている。
次に本実施例の作用をフローチャートを参照して説明す
る。
る。
第４図のフローチャートにおいて、先ずステップＡにお
いてサンプラ部１に対して分析すべきサンプルのセット
が行われた後、ステップＢのようにこのサンプルのサン
プリングが行われて希釈ライン部２に分注される。次に
ステップＣのように希釈ライン部２における測定系１２
によってそのサンプルのサンプル情報の測定演算が行わ
れる。
いてサンプラ部１に対して分析すべきサンプルのセット
が行われた後、ステップＢのようにこのサンプルのサン
プリングが行われて希釈ライン部２に分注される。次に
ステップＣのように希釈ライン部２における測定系１２
によってそのサンプルのサンプル情報の測定演算が行わ
れる。
これは前記したように乳び、溶血、黄痘の各不純物質の
吸光度を測定することによって、各測定項目毎に行われ
る。
吸光度を測定することによって、各測定項目毎に行われ
る。
続いてこの測定結果はステップＤのように各測定項目毎
に設定されたしきい値と比較され、この比較結果に応じ
て流れはステップＥとステップＦ又はＧに２分される。
に設定されたしきい値と比較され、この比較結果に応じ
て流れはステップＥとステップＦ又はＧに２分される。
比較結果がしきい値の範囲に含まれる場合は、このサン
プルはステップＥのよ、うに後程反応ライン部３におい
て通常の測定が実施されるように制御される。一方比較
結果がしきい値の範囲から外れる場合は、このサンプル
はステップＧのように反応ライン部３において測定が実
施されないように制御され、又はステップＦのように測
定が実施されるように制御される。測定が実施されない
場合は反応ライン部３におけるサンプル分注及び試薬分
注は停止される。このような測定実施の要否の決定は、
予めオペレータにより選択情報を入力することによって
行われる。
プルはステップＥのよ、うに後程反応ライン部３におい
て通常の測定が実施されるように制御される。一方比較
結果がしきい値の範囲から外れる場合は、このサンプル
はステップＧのように反応ライン部３において測定が実
施されないように制御され、又はステップＦのように測
定が実施されるように制御される。測定が実施されない
場合は反応ライン部３におけるサンプル分注及び試薬分
注は停止される。このような測定実施の要否の決定は、
予めオペレータにより選択情報を入力することによって
行われる。
比較結果がしきい値以上で測定を行う場合、流れはステ
ップＨと■に２分される。例えばレート法のように吸光
度変化量を求めるような測定を実施する場合は、ステッ
プＨのようにエラーコードを付する用意をしてステップ
Ｊのように付けるか、ステップにのように付けないかの
選択を行う。−方例えばエンドポイント法のように血清
色調の測定を実施する場合にはステップ■のように色調
補正の用意をしてステップＬのように補正を行うか、ス
テップＭのように補正を行わないかの選択を行う。
ップＨと■に２分される。例えばレート法のように吸光
度変化量を求めるような測定を実施する場合は、ステッ
プＨのようにエラーコードを付する用意をしてステップ
Ｊのように付けるか、ステップにのように付けないかの
選択を行う。−方例えばエンドポイント法のように血清
色調の測定を実施する場合にはステップ■のように色調
補正の用意をしてステップＬのように補正を行うか、ス
テップＭのように補正を行わないかの選択を行う。
補正を行う場合は第３図に示すように予めしきい値Ｔを
設定し、血清色調の影響を受けて誤差を含んでいる吸光
度特性Ａをその影響を除いた吸光度特性Ｂにするような
補正が行われる。
設定し、血清色調の影響を受けて誤差を含んでいる吸光
度特性Ａをその影響を除いた吸光度特性Ｂにするような
補正が行われる。
このような本実施例によれば、反応ライン部でサンプル
の測定を行う前に予め希釈ライン部でサンプル情報の測
定を行い、この測定結果に応じて反応ライン部での測定
実施の要旨の選択を行うようにしたので、必ずしもすべ
てのサンプルについての測定は行われないので測定効率
を向上することができる。又、必要に応じて測定結果が
所定条件を満たしていない場合であっても、測定の実施
を選択できる余地を残すようにしたので測定の適用範囲
を拡大することができる。
の測定を行う前に予め希釈ライン部でサンプル情報の測
定を行い、この測定結果に応じて反応ライン部での測定
実施の要旨の選択を行うようにしたので、必ずしもすべ
てのサンプルについての測定は行われないので測定効率
を向上することができる。又、必要に応じて測定結果が
所定条件を満たしていない場合であっても、測定の実施
を選択できる余地を残すようにしたので測定の適用範囲
を拡大することができる。
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、希釈ライン部におい
て予めサンプル情報を得てこの測定結果に基づいて反応
ライン部での測定実施の要旨の選択を行うようにしたの
で、測定効率を向上することができる。
て予めサンプル情報を得てこの測定結果に基づいて反応
ライン部での測定実施の要旨の選択を行うようにしたの
で、測定効率を向上することができる。
第１図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図、第２図は本実施例装置の主要部を示す概略図、第３
図は本実施例の作用を説明する特性図、第４図は本実施
例の作用を説明するフローチャート、第５図は従来例を
示す概略図、第６図は本発明の詳細な説明するための特
性図である。 １・・・サンプラ部、 ２・・・希釈ライン部、３・
・・反応ライン部、 １２・・・希釈ライン部の測定系、 １３・・・光源ランプ、 １４・・・光検出器、１５・
・・制御部。 ２希尿ガライン邦 第 １ 図 第３図 第６図
図、第２図は本実施例装置の主要部を示す概略図、第３
図は本実施例の作用を説明する特性図、第４図は本実施
例の作用を説明するフローチャート、第５図は従来例を
示す概略図、第６図は本発明の詳細な説明するための特
性図である。 １・・・サンプラ部、 ２・・・希釈ライン部、３・
・・反応ライン部、 １２・・・希釈ライン部の測定系、 １３・・・光源ランプ、 １４・・・光検出器、１５・
・・制御部。 ２希尿ガライン邦 第 １ 図 第３図 第６図
Claims (2)
- （１）サンプラ部から所望のサンプルをサンプリングし
希釈ライン部を介して反応ライン部に搬送してこの反応
ライン部で所望項目の化学分析を行う自動化学分析装置
において、前記希釈ライン部に各サンプルの吸光度に関
するサンプル情報を得るための測定手段を備えたことを
特徴とする自動化学分析装置。 - （２）測定手段の測定結果に基き反応ライン部における
化学分析の実施の要否を決定する請求項１記載の自動化
学分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11843788A JPH01287466A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11843788A JPH01287466A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 自動化学分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01287466A true JPH01287466A (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=14736615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11843788A Pending JPH01287466A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01287466A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4999679B2 (ja) * | 2005-03-29 | 2012-08-15 | シスメックス株式会社 | 検体分析装置 |
| JP2015172488A (ja) * | 2014-03-11 | 2015-10-01 | 日本電子株式会社 | 自動分析装置及び異常検出方法 |
| EP1867978A4 (en) * | 2005-03-29 | 2018-04-25 | Sysmex Corporation | Method of analyte analysis and analyte analyzer |
| JP2022097607A (ja) * | 2016-10-28 | 2022-06-30 | ベックマン コールター， インコーポレイテッド | 物質調製評価システム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56147068A (en) * | 1980-04-16 | 1981-11-14 | Olympus Optical Co Ltd | Automatic analyzer |
| JPS6082865A (ja) * | 1983-10-12 | 1985-05-11 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
| JPS62121365A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-02 | Shimadzu Corp | 自動分析装置 |
-
1988
- 1988-05-16 JP JP11843788A patent/JPH01287466A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS62121365A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-02 | Shimadzu Corp | 自動分析装置 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US8545760B2 (en) | 2005-03-29 | 2013-10-01 | Sysmex Corporation | Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus |
| EP1867997A4 (en) * | 2005-03-29 | 2014-01-01 | Sysmex Corp | PREPARATION ANALYSIS PROCEDURE AND PREPARATION ANALYSIS DEVICE |
| US9028756B2 (en) | 2005-03-29 | 2015-05-12 | Sysmex Corporation | Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus |
| US9316583B2 (en) | 2005-03-29 | 2016-04-19 | Sysmex Corporation | Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus |
| EP1867978A4 (en) * | 2005-03-29 | 2018-04-25 | Sysmex Corporation | Method of analyte analysis and analyte analyzer |
| US10261016B2 (en) | 2005-03-29 | 2019-04-16 | Sysmex Corporation | Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus |
| JP2015172488A (ja) * | 2014-03-11 | 2015-10-01 | 日本電子株式会社 | 自動分析装置及び異常検出方法 |
| JP2022097607A (ja) * | 2016-10-28 | 2022-06-30 | ベックマン コールター， インコーポレイテッド | 物質調製評価システム |
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