JPH0433386B2 - - Google Patents
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- JPH0433386B2 JPH0433386B2 JP60035911A JP3591185A JPH0433386B2 JP H0433386 B2 JPH0433386 B2 JP H0433386B2 JP 60035911 A JP60035911 A JP 60035911A JP 3591185 A JP3591185 A JP 3591185A JP H0433386 B2 JPH0433386 B2 JP H0433386B2
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
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- G—PHYSICS
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
- G01N35/1002—Reagent dispensers
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は自動化学分析装置に係り、特に反応セ
ルの光路長補正を行うものに関する。
ルの光路長補正を行うものに関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
直接測光方式の自動化学分析装置は、間欠移動
するところの複数の反応セル内に試料（血清ある
いは尿）を定量分注し、特定の化学成分に対して
反応する試薬を注入して反応させ、反応中あるい
は反応後の試料が入つた反応セルに光を透射し、
透過光を回折格子により分光し、特定波長の光の
減衰量あるいは吸光度から目的とする化学成分量
を算出するものである。
するところの複数の反応セル内に試料（血清ある
いは尿）を定量分注し、特定の化学成分に対して
反応する試薬を注入して反応させ、反応中あるい
は反応後の試料が入つた反応セルに光を透射し、
透過光を回折格子により分光し、特定波長の光の
減衰量あるいは吸光度から目的とする化学成分量
を算出するものである。
ところで、前記反応セルは、同一の光路長（反
応セル内の試料に対して測定光の横切る長さ）を
有するものを複数製造することが極めて困難であ
るため、正の光路長に対して±0.17〜0.33％の誤
差を許容して製造されているのが実情である。
応セル内の試料に対して測定光の横切る長さ）を
有するものを複数製造することが極めて困難であ
るため、正の光路長に対して±0.17〜0.33％の誤
差を許容して製造されているのが実情である。
しかしながら、光路長誤差はランベルト・ベー
アの法則より明らかなように自動化学分析装置の
分析測定制度に直接影響するものであるから、反
応セルの光路長誤差±0.17〜0.33％は無視できる
ものではなく、分析測定精度の向上が強く望まれ
ている。
アの法則より明らかなように自動化学分析装置の
分析測定制度に直接影響するものであるから、反
応セルの光路長誤差±0.17〜0.33％は無視できる
ものではなく、分析測定精度の向上が強く望まれ
ている。
［発明の目的］
本発明は上記事情に鑑みて成されたものであ
り、その目的とするところは、反応セルの光路長
誤差に影響されず、高精度の分析測定結果を得る
ことのできる自動化学分析装置を提供することに
ある。
り、その目的とするところは、反応セルの光路長
誤差に影響されず、高精度の分析測定結果を得る
ことのできる自動化学分析装置を提供することに
ある。
［発明の概要］
上記目的を達成するための本発明の概要は、複
数の反応セル内に分注された試料の吸光度を基に
試料の化学分析を行う自動化学分析装置におい
て、各反応セル内に分注された既知吸光度試料に
ついての吸光度測定結果と該既知吸光度試料本来
の吸光度との関係より該反応セルの個々の光路長
補正係数を算出する補正係数算出手段と、この補
正係数算出手段の算出結果を基に、該反応セル内
に分注された未知試料の各吸光度測定結果につい
ての光路長補正を行う光路長補正手段とを具備す
ることを特徴とするものである。
数の反応セル内に分注された試料の吸光度を基に
試料の化学分析を行う自動化学分析装置におい
て、各反応セル内に分注された既知吸光度試料に
ついての吸光度測定結果と該既知吸光度試料本来
の吸光度との関係より該反応セルの個々の光路長
補正係数を算出する補正係数算出手段と、この補
正係数算出手段の算出結果を基に、該反応セル内
に分注された未知試料の各吸光度測定結果につい
ての光路長補正を行う光路長補正手段とを具備す
ることを特徴とするものである。
［発明の実施例］
ここで先ず、本発明の原理について説明する。
周知の如くランベルト・ベーアの法則は次式に
より表わされる。
より表わされる。
log（I0／Ｉ）＝ｋ・ｃ・ｌ ……(1)
log（I0／Ｉ）：吸光度
I0：純水の光の強さ
Ｉ：測定試料の光の強さ
ｋ：吸光度係数
ｃ：濃度
ｌ：光路長
今、予め吸光度の解つている試料本来の吸光度
をEs，標準とする光路長をls，吸光係数をks，濃
度をcsとすると前(1)式は次式のようになる。
をEs，標準とする光路長をls，吸光係数をks，濃
度をcsとすると前(1)式は次式のようになる。
Es＝ks・cs・ls ……(2)
また、既知吸光度試料を反応セル内に分注し、
実際に測定したときの吸光度をEs′，当該反応セ
ルの吸光度をls′とすると前(1)式は次のようにな
る。
実際に測定したときの吸光度をEs′，当該反応セ
ルの吸光度をls′とすると前(1)式は次のようにな
る。
Es′＝ks・cs・ls′ ……(3)
そして、前(2)式を(3)式で割ると、
Es／Es′＝ls／ls′ ……(4)
となる。(4)式におけるls／ls′を光路長補正係数ａ
とすると(4)式は、 ａ＝Es／Es′ ……(5) となる。この光路長補正係数ａを、未知試料を測
定したときの吸光度Ex′に乗算すれば、 Ex＝ａ・Ex′ ……(6) となり標準の光路長で測定したときの吸光度Ex
に補正することができ、補正後のデータは反応セ
ルの光路長誤差に影響されないことになる。
とすると(4)式は、 ａ＝Es／Es′ ……(5) となる。この光路長補正係数ａを、未知試料を測
定したときの吸光度Ex′に乗算すれば、 Ex＝ａ・Ex′ ……(6) となり標準の光路長で測定したときの吸光度Ex
に補正することができ、補正後のデータは反応セ
ルの光路長誤差に影響されないことになる。
次に、上記原理に則つた本発明を実施例により
具体的に説明する。
具体的に説明する。
第１図は本発明の一実施例たる自動化学分析装
置のブロツク図である。同図１はサンプルデイス
クであり、予め吸光度の解つている試料（以下、
「既知吸光度試料」という）及び光未知試料を収
納するサンプルデイスク、２はこのサンプルデイ
スク１より試料を吸引し、これを後述する反応セ
ル内に分注するための試料ノズル、３は複数の反
応セルRSを配置して成る反応デイスク、４は反
応セルRSを洗浄する洗浄部、５は試料の透過光
強度を測定する光度計、６は光源である。７は反
応セルRS内の試料と試料とを撹拌する撹拌手段、
８は反応セルRS内に純水を分注する純水ノズル、
９は反応セルRS内に試薬を分注する試薬ノズル
である。また、１０は前記試料ノズル２を介して
試料の吸引・吐出を行う試料ポンプ、１１は前記
洗浄部４を介して反応セルRS内の測光済試料な
どを吸引・排出するための洗浄用シリンジ、１２
は純水ボトル１４内の純水を吸引しこれを反応セ
ルRS内に吐出する純水供給ポンプ、１３は試薬
ボトル１５内の試薬を吸引しこれを反応セルRS
内に吐出する試薬ポンプである。さらに、１６は
前記光度計５よりの透過光強度（アナログ信号）
をデイジタル信号に変換するＡ／Ｄ（アナログ・
デイジタル）変換手段、１７は入力される種々の
テータを記憶するメモリ、１８はインタフエース
２１を介して入力される分析測定結果をプリント
アウトするプリンタ、１９は分析測定結果などを
表示するCRTデイスプレイ、２２は本実施例装
置全体の動作制御を司ると共に測定された吸光度
より試料の化学分析を行う演算制御部、２７は本
実施例装置に対し各種データ及び分析測定の条件
などを入力するための操作パネルである。
置のブロツク図である。同図１はサンプルデイス
クであり、予め吸光度の解つている試料（以下、
「既知吸光度試料」という）及び光未知試料を収
納するサンプルデイスク、２はこのサンプルデイ
スク１より試料を吸引し、これを後述する反応セ
ル内に分注するための試料ノズル、３は複数の反
応セルRSを配置して成る反応デイスク、４は反
応セルRSを洗浄する洗浄部、５は試料の透過光
強度を測定する光度計、６は光源である。７は反
応セルRS内の試料と試料とを撹拌する撹拌手段、
８は反応セルRS内に純水を分注する純水ノズル、
９は反応セルRS内に試薬を分注する試薬ノズル
である。また、１０は前記試料ノズル２を介して
試料の吸引・吐出を行う試料ポンプ、１１は前記
洗浄部４を介して反応セルRS内の測光済試料な
どを吸引・排出するための洗浄用シリンジ、１２
は純水ボトル１４内の純水を吸引しこれを反応セ
ルRS内に吐出する純水供給ポンプ、１３は試薬
ボトル１５内の試薬を吸引しこれを反応セルRS
内に吐出する試薬ポンプである。さらに、１６は
前記光度計５よりの透過光強度（アナログ信号）
をデイジタル信号に変換するＡ／Ｄ（アナログ・
デイジタル）変換手段、１７は入力される種々の
テータを記憶するメモリ、１８はインタフエース
２１を介して入力される分析測定結果をプリント
アウトするプリンタ、１９は分析測定結果などを
表示するCRTデイスプレイ、２２は本実施例装
置全体の動作制御を司ると共に測定された吸光度
より試料の化学分析を行う演算制御部、２７は本
実施例装置に対し各種データ及び分析測定の条件
などを入力するための操作パネルである。
例えば前記演算制御部２２はCPU（中央処理装
置）を中心に構成されるものであり、機能的に、
本実施例装置における各ポンプ及びデイスクなど
の動作制御を行う制御手段２３と、反応セルRS
内に分注された既知吸光度試料についての吸光度
測定結果（実測結果）と該既知吸光度試料本来の
吸光度との関係より該反応セルRSの光路長補正
係数ａを算出する補正係数手段２４と、前記光度
計５よりの透過光強度を基に、試薬に反応した試
料などの吸光度を計算すると共に、該試料の化学
分析を行うデータ分析手段２５と、前記補正係数
算出手段２４の演算結果を基に、反応セルRS内
に分注された未知試料の吸光度測定結果について
の光路長補正を行う光路長補正手段２６とを有し
て成るものである。
置）を中心に構成されるものであり、機能的に、
本実施例装置における各ポンプ及びデイスクなど
の動作制御を行う制御手段２３と、反応セルRS
内に分注された既知吸光度試料についての吸光度
測定結果（実測結果）と該既知吸光度試料本来の
吸光度との関係より該反応セルRSの光路長補正
係数ａを算出する補正係数手段２４と、前記光度
計５よりの透過光強度を基に、試薬に反応した試
料などの吸光度を計算すると共に、該試料の化学
分析を行うデータ分析手段２５と、前記補正係数
算出手段２４の演算結果を基に、反応セルRS内
に分注された未知試料の吸光度測定結果について
の光路長補正を行う光路長補正手段２６とを有し
て成るものである。
ここに、前記補正係数算出手段２４は前(5)式に
示す演算の実行により光路長補正係数ａを算出す
るものである。
示す演算の実行により光路長補正係数ａを算出す
るものである。
また、前記光路長補正手段２６は前(6)式に示す
演算の実行により吸光度Ex′を補正し、標準の光
路長で未知試料を測定したと等価な吸光度Exを
得るものである。
演算の実行により吸光度Ex′を補正し、標準の光
路長で未知試料を測定したと等価な吸光度Exを
得るものである。
尚、既知吸光度試料本来の吸光度Esは操作パ
ネル２７を介してオペレータによつて予め入力さ
れるものである。
ネル２７を介してオペレータによつて予め入力さ
れるものである。
次に、前記反応デイスク３における反応セル
RSの位置関係について第２図を基に説明する。
RSの位置関係について第２図を基に説明する。
第２図は反応セルRSの位置関係を示す説明図
である。
である。
例えば反応セルRSは有底円筒状のガラス管よ
り成るものであり、同図１ａ乃至４８ａで示すよ
うに48本配列されている。反応デイスク３の回動
に応じて各反応セル１ａ乃至４８ａは矢印Ｙ方向
に間欠移動し、試薬分注位置Ｐ−１、試料分注位
置Ｐ−２、洗浄位置Ｐ−３、測光位置Ｐ−４、撹
拌位置Ｐ−５、純水分注位置Ｐ−６に到達した反
応セルに対してそれぞれ試薬分注等が行われるこ
とになる。このような意味で前記Ｐ−１乃至Ｐ−
６の各位置をポジシヨン番号と総称する。各反応
セル１ａ乃至４８ａの間欠移動は前記演算制御部
２２における制御手段２３によつて制御されるも
のであるから、いずれの反応セルがどのポジシヨ
ン番号にあるかは前記制御部２２において常に把
握されている。
り成るものであり、同図１ａ乃至４８ａで示すよ
うに48本配列されている。反応デイスク３の回動
に応じて各反応セル１ａ乃至４８ａは矢印Ｙ方向
に間欠移動し、試薬分注位置Ｐ−１、試料分注位
置Ｐ−２、洗浄位置Ｐ−３、測光位置Ｐ−４、撹
拌位置Ｐ−５、純水分注位置Ｐ−６に到達した反
応セルに対してそれぞれ試薬分注等が行われるこ
とになる。このような意味で前記Ｐ−１乃至Ｐ−
６の各位置をポジシヨン番号と総称する。各反応
セル１ａ乃至４８ａの間欠移動は前記演算制御部
２２における制御手段２３によつて制御されるも
のであるから、いずれの反応セルがどのポジシヨ
ン番号にあるかは前記制御部２２において常に把
握されている。
また、前記光度計５は第３図に示すように、反
応セルRSを透過した分光する回折格子２９と、
この回折格子２９によつて分光された単色光を通
過させるスリツト３０と、このスリツト３０を介
して入射する単色光を電気信号に変換する検出手
段例えばフオトトランジスタ３１とを有して構成
されるものであり、このフオトトランジスタ３１
の出力がＡ／Ｄ変換手段１６及びインタフエース
２１を介して演算制御部２２に入力されるように
成つている。
応セルRSを透過した分光する回折格子２９と、
この回折格子２９によつて分光された単色光を通
過させるスリツト３０と、このスリツト３０を介
して入射する単色光を電気信号に変換する検出手
段例えばフオトトランジスタ３１とを有して構成
されるものであり、このフオトトランジスタ３１
の出力がＡ／Ｄ変換手段１６及びインタフエース
２１を介して演算制御部２２に入力されるように
成つている。
次に、以上構成による実施例装置の作用につい
て第４図をも参照しながら説明する。
て第４図をも参照しながら説明する。
第４図は本実施例装置の作用を説明するための
フローチヤートある。
フローチヤートある。
本実施例装置の電源を投入し（ステツプS1）、
操作パネル２７を介して分析条件等を入力するこ
とにより本実施例装置の初期設定を行う（ステツ
プS2）。既知試料本来の吸光度Esも本ステツプに
おいて入力され、インターフエース２２を介して
メモリ１７の所定エリアに記憶される。
操作パネル２７を介して分析条件等を入力するこ
とにより本実施例装置の初期設定を行う（ステツ
プS2）。既知試料本来の吸光度Esも本ステツプに
おいて入力され、インターフエース２２を介して
メモリ１７の所定エリアに記憶される。
先ず純水（I0）を測光する（ステツプS3）。す
なわち、制御手段２３の制御により純水供給ポン
プ１２が動作し、純水ボトル１４内の純水が純水
ノズル８を介して反応セルRS内に分注され、こ
の純水の分注された反応セルRS毎の透過光強度
I0が光度計５により測定される。測定結果はＡ／
Ｄ変換手段１６及びインターフエース２２を介し
てメモリ１７内の所定エリアに一旦記憶される。
なわち、制御手段２３の制御により純水供給ポン
プ１２が動作し、純水ボトル１４内の純水が純水
ノズル８を介して反応セルRS内に分注され、こ
の純水の分注された反応セルRS毎の透過光強度
I0が光度計５により測定される。測定結果はＡ／
Ｄ変換手段１６及びインターフエース２２を介し
てメモリ１７内の所定エリアに一旦記憶される。
次に、既知吸光度試料を測定する（ステツプ
S4）。既知吸光度試料は例えばサンプルデイスク
１における所定のサンプル容器内に収納されてい
るものであり、試料ポンプ１０及び試料ノズル２
の作用によつて反応セルRS内に分注される。既
知吸光度試料の分注された反応セルRS毎の透過
光強度Ｉが上記同様、光度計５により測定され、
その結果はＡ／Ｄ変換手段１６及びインターフエ
ース２１を介して演算制御部２２内のデータ分析
手段２５に入力される。そして、前記I0との関係
（log（I0／Ｉ）より既知吸光度試料の吸光度Es′が
計算され、その計算結果が補正係数算出手段２４
に入力される。補正係数算出手段２４は入力され
た既知吸光度試料の吸光度Es′と、前記操作パネ
ル２７を介して先に入力された該既知吸光度試料
本来の吸光度Es′とから、前(5)式に示す演算の実
行により光路長補正係数ａを算出する。この算出
結果ａは反応セル番号（１ａ乃至４８ａ）に対応
づけてメモリ１７内の所定エリアに記憶される
（ステツプS5）。
S4）。既知吸光度試料は例えばサンプルデイスク
１における所定のサンプル容器内に収納されてい
るものであり、試料ポンプ１０及び試料ノズル２
の作用によつて反応セルRS内に分注される。既
知吸光度試料の分注された反応セルRS毎の透過
光強度Ｉが上記同様、光度計５により測定され、
その結果はＡ／Ｄ変換手段１６及びインターフエ
ース２１を介して演算制御部２２内のデータ分析
手段２５に入力される。そして、前記I0との関係
（log（I0／Ｉ）より既知吸光度試料の吸光度Es′が
計算され、その計算結果が補正係数算出手段２４
に入力される。補正係数算出手段２４は入力され
た既知吸光度試料の吸光度Es′と、前記操作パネ
ル２７を介して先に入力された該既知吸光度試料
本来の吸光度Es′とから、前(5)式に示す演算の実
行により光路長補正係数ａを算出する。この算出
結果ａは反応セル番号（１ａ乃至４８ａ）に対応
づけてメモリ１７内の所定エリアに記憶される
（ステツプS5）。
全ての反応セルRSに関する光路長補正係数ａ
が算出されメモリ１７内に記憶された後、今度は
未知試料の測定を行う（ステツプS6）。本ステツ
プにおける未知試料の測定は従来装置と同様であ
る。すなわち、測定用シリンジ１１の動作により
反応セルRS内が純水などにより洗浄された後、
試料ポンプ１０及び試料ノズル２の作用により、
サンプルテーブル１における所定の試料容器内の
未知試料が吸引され、反応セルRS内に分注され
る。そして、未知試料が分注された反応セルRS
内に試料ポンプ１３及び試薬ノズル９の作用によ
り、試薬ボトル１５内の所定の試薬が分注され、
撹拌手段７により適宜撹拌された後、光度計５に
よる透過光強度の測定に供される。測定された透
過光強度は上記同様、Ａ／Ｄ変換手段１６及びイ
ンターフエース２１を介して演算制御部２２内の
データ分析手段２５に入力され、前記I0との関係
より吸光度Ex′の算出に供される。算出された
Ex′はメモリ１７内の所定エリアに一旦記憶され
る。
が算出されメモリ１７内に記憶された後、今度は
未知試料の測定を行う（ステツプS6）。本ステツ
プにおける未知試料の測定は従来装置と同様であ
る。すなわち、測定用シリンジ１１の動作により
反応セルRS内が純水などにより洗浄された後、
試料ポンプ１０及び試料ノズル２の作用により、
サンプルテーブル１における所定の試料容器内の
未知試料が吸引され、反応セルRS内に分注され
る。そして、未知試料が分注された反応セルRS
内に試料ポンプ１３及び試薬ノズル９の作用によ
り、試薬ボトル１５内の所定の試薬が分注され、
撹拌手段７により適宜撹拌された後、光度計５に
よる透過光強度の測定に供される。測定された透
過光強度は上記同様、Ａ／Ｄ変換手段１６及びイ
ンターフエース２１を介して演算制御部２２内の
データ分析手段２５に入力され、前記I0との関係
より吸光度Ex′の算出に供される。算出された
Ex′はメモリ１７内の所定エリアに一旦記憶され
る。
次に前記メモリ１７内のEx′及び当該Ex′の測
定に使用された反応セルRSに対応する光路長補
正係数ａ（前記ステツプS5で算出したもの）が前
記メモリ１７内より一組のデータとして順次読み
出され、演算制御部２２における光路長補正手段
２６に入力され、前(6)式の演算実行による光路長
補正に供される（ステツプS7）。この補正によ
り、標準の光路長で未知試料を測定したのと等価
な吸光度Exが得られ、得られたExは再び演算制
御部２２内におけるデータ分析手段２５に入力さ
れ、従来装置と同様にデータの分析例えば濃度算
出に供される（ステツプS8）。分析結果はインタ
ーフエース２２を介してプリンタ１８、CRTデ
イスプレイ１９に入力され、必要に応じて分析結
果のプリントアウト及び表示に供される（ステツ
プS9）。
定に使用された反応セルRSに対応する光路長補
正係数ａ（前記ステツプS5で算出したもの）が前
記メモリ１７内より一組のデータとして順次読み
出され、演算制御部２２における光路長補正手段
２６に入力され、前(6)式の演算実行による光路長
補正に供される（ステツプS7）。この補正によ
り、標準の光路長で未知試料を測定したのと等価
な吸光度Exが得られ、得られたExは再び演算制
御部２２内におけるデータ分析手段２５に入力さ
れ、従来装置と同様にデータの分析例えば濃度算
出に供される（ステツプS8）。分析結果はインタ
ーフエース２２を介してプリンタ１８、CRTデ
イスプレイ１９に入力され、必要に応じて分析結
果のプリントアウト及び表示に供される（ステツ
プS9）。
このように本実施例装置にあつては、反応セル
内に分注された既知吸光度試料についての吸光度
Es′実測し、得られた吸光度Es′と当該既知吸光度
本来の吸光度Esとの関係より当該反応セルの光
路長補正係数ａを算出し、算出された光路長補正
係数ａを基に、以後当該反応セル内に分注された
未知試料の吸光度測定結果Es′について光路長補
正を行うことにより、標準の光路長で未知試料を
測定したのと等価な吸光度Exを得るものである
から、反応セルRSの光路長誤差に影響されるこ
となく、高精度の分析測定結果を得ることができ
る。また、反応セルの光路長誤差に影響されない
ことから、本実施例装置に使用できる反応セルの
歩留りは従来に比して著しく向上するものであ
る。
内に分注された既知吸光度試料についての吸光度
Es′実測し、得られた吸光度Es′と当該既知吸光度
本来の吸光度Esとの関係より当該反応セルの光
路長補正係数ａを算出し、算出された光路長補正
係数ａを基に、以後当該反応セル内に分注された
未知試料の吸光度測定結果Es′について光路長補
正を行うことにより、標準の光路長で未知試料を
測定したのと等価な吸光度Exを得るものである
から、反応セルRSの光路長誤差に影響されるこ
となく、高精度の分析測定結果を得ることができ
る。また、反応セルの光路長誤差に影響されない
ことから、本実施例装置に使用できる反応セルの
歩留りは従来に比して著しく向上するものであ
る。
以上、本発明の一実施例について説明したが、
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で適宜に変形実施が可能で
あるのはいうまでもない。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で適宜に変形実施が可能で
あるのはいうまでもない。
例えば上記実施例では、未知試料の測定に先立
つて既知吸光度試料を測定し、光路補正係数を算
出するものについて説明したが、光路長補正係数
はいつ算出しても良く、また、一度算出すればそ
の算出結果をメモリに記憶しておくことにより、
原則として反応セルを交換しない限り再び光路長
補正係数を算出する必要はない。尚、吸光度log
（I0／Ｉ）＝logIo−logIと表わせるので、Ａ／Ｄ変
換手段１６の前段にlogアンプを入れても良い。
logの変換処理をlogアンプで行うか、演算制御部
２で行うかの相違である。
つて既知吸光度試料を測定し、光路補正係数を算
出するものについて説明したが、光路長補正係数
はいつ算出しても良く、また、一度算出すればそ
の算出結果をメモリに記憶しておくことにより、
原則として反応セルを交換しない限り再び光路長
補正係数を算出する必要はない。尚、吸光度log
（I0／Ｉ）＝logIo−logIと表わせるので、Ａ／Ｄ変
換手段１６の前段にlogアンプを入れても良い。
logの変換処理をlogアンプで行うか、演算制御部
２で行うかの相違である。
［発明の効果］
以上詳述したように本発明によれば、反応セル
の光路長誤差に影響されず、高精度の分析測定結
果を得ることのできる自動化学分析装置を安価に
提供することができる。
の光路長誤差に影響されず、高精度の分析測定結
果を得ることのできる自動化学分析装置を安価に
提供することができる。
第１図は本発明の一実施例たる自動化学分析装
置のブロツク図、第２図は本実施例装置における
反応セルの位置関係を示す説明図、第３図は本実
施例装置における光度計の内部構成を示す説明
図、第４図は本実施例装置の作用を説明するため
のフローチヤートである。 ２４……補正係数算出手段、２６……光路長補
正手段、RS……反応セル。
置のブロツク図、第２図は本実施例装置における
反応セルの位置関係を示す説明図、第３図は本実
施例装置における光度計の内部構成を示す説明
図、第４図は本実施例装置の作用を説明するため
のフローチヤートである。 ２４……補正係数算出手段、２６……光路長補
正手段、RS……反応セル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の反応セル内に分注された試料の吸光度
を基に試料の化学分析を行う自動化学分析装置に
おいて、各反応セル内に分注された既知吸光度試
料についての吸光度測定結果と該既知吸光度試料
本来の吸光度との関係より該反応セルの個々の光
路長補正係数を算出する補正係数算出手段と、こ
の補正係数算出手段の算出結果を基に、該反応セ
ル内に分注された未知試料の各吸光度測定結果に
ついての光路長補正を行う光路長補正手段とを具
備することを特徴とする自動化学分析装置。 ２ 前記補正係数算出手段は前記既知吸光度試料
についての吸光度測定結果と当該試料本来の吸光
度との比より光路長補正係数を算出するものであ
り、また、前記光路長補正手段は前記未知吸光度
試料の吸光度測定結果に前記光路長補正係数を乗
算することにより光路長補正を行うものである特
許請求の範囲第１項に記載の自動化学分析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60035911A JPS61194336A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 自動化学分析装置 |
| US07/370,079 US4939095A (en) | 1985-02-25 | 1989-06-22 | Automatic chemical analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60035911A JPS61194336A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 自動化学分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61194336A JPS61194336A (ja) | 1986-08-28 |
| JPH0433386B2 true JPH0433386B2 (ja) | 1992-06-02 |
Family
ID=12455210
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60035911A Granted JPS61194336A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 自動化学分析装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4939095A (ja) |
| JP (1) | JPS61194336A (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE387409T1 (de) * | 1989-03-15 | 1991-02-07 | Hewlett-Packard Co., Palo Alto, Calif. | Folgeregeln zum voreinspritzen von durch chromatographie zu analysierenden proben. |
| US5207987A (en) * | 1990-05-21 | 1993-05-04 | Pb Diagnostic Systems Inc. | Temperature controlled chamber for diagnostic analyzer |
| FR2679661B1 (fr) * | 1991-07-26 | 1994-10-14 | Sfri | Appareil d'analyse automatique d'echantillons. |
| JPH0572216A (ja) * | 1991-09-18 | 1993-03-23 | Hitachi Ltd | 臨床検査用の自動分析装置 |
| US5345395A (en) * | 1991-10-31 | 1994-09-06 | Baxter Diagnostics Inc. | Specimen processing and analyzing systems and methods using photometry |
| US5253774A (en) * | 1992-06-26 | 1993-10-19 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Reagent receptacle and support rack for automated clinical analyzers |
| US5314825A (en) * | 1992-07-16 | 1994-05-24 | Schiapparelli Biosystems, Inc. | Chemical analyzer |
| JP3386505B2 (ja) * | 1993-03-02 | 2003-03-17 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
| JP3063564B2 (ja) * | 1995-03-17 | 2000-07-12 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
| EP1986013A3 (en) * | 2007-04-27 | 2013-04-03 | Sysmex Corporation | Sample analyzing apparatus |
| GB2494693B (en) | 2011-09-16 | 2018-01-17 | Starna Scient Limited | Method for determining the path length of a sample and validating the measurement obtained |
| JP2013186004A (ja) * | 2012-03-08 | 2013-09-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計および吸光光度測定法 |
| JP5952180B2 (ja) * | 2012-12-19 | 2016-07-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置、プログラムおよび記録媒体ならびに検体の自動分析方法 |
| CN115356276B (zh) * | 2022-07-26 | 2025-07-22 | 武汉新烽光电股份有限公司 | 含有固体残留物的检测试剂的吸光度值估计方法及系统 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5630650A (en) * | 1979-08-22 | 1981-03-27 | Hitachi Ltd | Automatic chemical analyzer |
| US4276051A (en) * | 1980-01-28 | 1981-06-30 | Coulter Electronics, Inc. | System and program for chemical reaction observation with a moving photometer |
| JPS56132548A (en) * | 1980-03-21 | 1981-10-16 | Olympus Optical Co Ltd | Automatic analyzer |
| JPS5772047A (en) * | 1980-10-24 | 1982-05-06 | Olympus Optical Co Ltd | Component analyzing method |
| US4629703A (en) * | 1981-08-27 | 1986-12-16 | Technicon Instruments Corporation | Automated analytical system |
| JPS58167942A (ja) * | 1982-03-29 | 1983-10-04 | Hitachi Ltd | キユベツト光路長のばらつき補正法 |
-
1985
- 1985-02-25 JP JP60035911A patent/JPS61194336A/ja active Granted
-
1989
- 1989-06-22 US US07/370,079 patent/US4939095A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4939095A (en) | 1990-07-03 |
| JPS61194336A (ja) | 1986-08-28 |
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