JPH01288762A - ハロゲン検出装置 - Google Patents
ハロゲン検出装置Info
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- JPH01288762A JPH01288762A JP63316544A JP31654488A JPH01288762A JP H01288762 A JPH01288762 A JP H01288762A JP 63316544 A JP63316544 A JP 63316544A JP 31654488 A JP31654488 A JP 31654488A JP H01288762 A JPH01288762 A JP H01288762A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/68—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using electric discharge to ionise a gas
- G01N27/70—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using electric discharge to ionise a gas and measuring current or voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はハロゲンガスの検出に関し、特には−定の期間
の間高い信頼性をもってハロゲンガスの漏洩の存在を決
定するため検出器の出力信号を処理するための、ハロゲ
ンガス検出器を含む装置に関するものである。
の間高い信頼性をもってハロゲンガスの漏洩の存在を決
定するため検出器の出力信号を処理するための、ハロゲ
ンガス検出器を含む装置に関するものである。
ライス(Rice)の米国特許第2.550.498号
に記載されているような検出器は、検出されるべき物質
のある濃度を含んでいると推定される気体の試料を受は
入れかつイオンを発生させ又集収するためのカソードと
アノード要素を含んでいる電気的放電手段の形をとるも
のである。
に記載されているような検出器は、検出されるべき物質
のある濃度を含んでいると推定される気体の試料を受は
入れかつイオンを発生させ又集収するためのカソードと
アノード要素を含んでいる電気的放電手段の形をとるも
のである。
集められたイオンはそれ等の電極から検出されるべき物
質についての濃度に関して変化する電流を発生する。
質についての濃度に関して変化する電流を発生する。
このような電気的放電装置における1つの一般的な使用
方法はハロゲン及びそれを含む混合ガスの漏洩を検出す
るためのハロゲン漏洩検出器での検出センサーとしてで
ある。
方法はハロゲン及びそれを含む混合ガスの漏洩を検出す
るためのハロゲン漏洩検出器での検出センサーとしてで
ある。
かかる物質の濃度について変化するレベルを幅広く検出
するために、公知のハロゲン漏洩検出器は有効範囲を拡
張するためにセンサーの感度を調整するための設備を含
んでいた。
するために、公知のハロゲン漏洩検出器は有効範囲を拡
張するためにセンサーの感度を調整するための設備を含
んでいた。
かかる検出器は漏洩速度(leak rates)に関
するある限定された領域(span)内において漏洩速
度を検出するため使用に限定する感度の範囲を持ってい
る。
するある限定された領域(span)内において漏洩速
度を検出するため使用に限定する感度の範囲を持ってい
る。
このように、10−cc/secのオーダーのハロゲン
混合体の相対的に大きな漏洩速度をある特定の領域で測
定するために適合された感度をもつノーロゲン漏洩検出
器は単に、10”−’ce/secのノーロゲン混合体
の漏洩速度を正確に、同一の領域で検出しろるように、
その感度を増加させることの困難さのみを使って変更さ
れえた。
混合体の相対的に大きな漏洩速度をある特定の領域で測
定するために適合された感度をもつノーロゲン漏洩検出
器は単に、10”−’ce/secのノーロゲン混合体
の漏洩速度を正確に、同一の領域で検出しろるように、
その感度を増加させることの困難さのみを使って変更さ
れえた。
一般的には、ハロゲン漏洩検出器はそれがその感度の上
限に近い処で作動させる時にはその出力値における変動
により明らかにされているように限界的安定性を有する
ものである。
限に近い処で作動させる時にはその出力値における変動
により明らかにされているように限界的安定性を有する
ものである。
多くの公知のハロゲン漏洩検出器は携帯性があり、そし
てハロゲン濃度の相対的に高いレベルの漏洩が存在して
いると推定される特定の場所に携行される。
てハロゲン濃度の相対的に高いレベルの漏洩が存在して
いると推定される特定の場所に携行される。
然しながら、相対的に大きな容器の中に低い比率でのハ
ロゲンの漏洩を検出することが要求されている冷凍産業
のような処への適用が生じて来ている。−船釣に云うな
らば、そのように相対的に大きな容器(enclosu
re)の中におけるハロゲン濃度のレベルは非常に小さ
く従って極めて高感度で安定な漏洩検出器が要求されて
いる。
ロゲンの漏洩を検出することが要求されている冷凍産業
のような処への適用が生じて来ている。−船釣に云うな
らば、そのように相対的に大きな容器(enclosu
re)の中におけるハロゲン濃度のレベルは非常に小さ
く従って極めて高感度で安定な漏洩検出器が要求されて
いる。
ロバートの米国特許第3.144.600はセンサーと
しての電気的放電装置を含み、センサーからの出力電流
を増幅するため可変利得(variabe gain)
を採用しているハロゲン漏洩検出器が示されている。
しての電気的放電装置を含み、センサーからの出力電流
を増幅するため可変利得(variabe gain)
を採用しているハロゲン漏洩検出器が示されている。
特に増幅器の利得はセンサーをハロゲン濃度のレベルに
関する対応したマルチレンジ(multipleran
ge)を検出するために適合させるマルチレンジ制御ス
イッチによりセットされている。
関する対応したマルチレンジ(multipleran
ge)を検出するために適合させるマルチレンジ制御ス
イッチによりセットされている。
更に、清浄な空気の存在時にセンサーにより発生せしめ
られ、集められた電流はセンサーの出力電流とは反対の
極性をもつ調整可能なゼロ化電圧(zeroing v
oltage)を印加することにより補償される。より
詳しくは、ゼロ化電圧の大きさは、それが最も高い感度
のレンジにおいて作動している時つまり多段階制御スイ
ッチ(multirange controlswit
、ch)が相対的に小さなハロゲン混合物を検出しうる
ように最も小さな減衰を与えるように調整される時であ
っても、センサー出力を無視するに十分なレンジに関し
て調整される。
られ、集められた電流はセンサーの出力電流とは反対の
極性をもつ調整可能なゼロ化電圧(zeroing v
oltage)を印加することにより補償される。より
詳しくは、ゼロ化電圧の大きさは、それが最も高い感度
のレンジにおいて作動している時つまり多段階制御スイ
ッチ(multirange controlswit
、ch)が相対的に小さなハロゲン混合物を検出しうる
ように最も小さな減衰を与えるように調整される時であ
っても、センサー出力を無視するに十分なレンジに関し
て調整される。
ロバーツの米国特許第2996661号は可変オリフィ
スを使用することによって検出器に対する気体の流れを
制御することにより濃度のレベルを変化させるための漏
れ検出器の調整が開示している。
スを使用することによって検出器に対する気体の流れを
制御することにより濃度のレベルを変化させるための漏
れ検出器の調整が開示している。
又ロバーツの米国特許第3875499号は、センサー
出力増幅器の利得に影響を与えるものと考えられ又セン
サーに対する対応した流れを許容するために選択された
オリフィスを可変的セットするものと考えられるような
連結された多段階スイッチと組合せて使用される可変オ
リフィスが示されている。
出力増幅器の利得に影響を与えるものと考えられ又セン
サーに対する対応した流れを許容するために選択された
オリフィスを可変的セットするものと考えられるような
連結された多段階スイッチと組合せて使用される可変オ
リフィスが示されている。
ロバーツの米国特許第3065411号は更にハロゲン
混合物の検出された濃度における電流のレベルと変化の
相対的大きさの双方を表示することが可能なハロゲン漏
洩検出器を開示している。
混合物の検出された濃度における電流のレベルと変化の
相対的大きさの双方を表示することが可能なハロゲン漏
洩検出器を開示している。
第1の回路は、集められた電流(corrected
cur−rent)の変化により減衰振動にセットされ
る該電流に応答するものである。減衰振動は次にしきい
値レベルを持った制御回路に印加される。該しきい値レ
ベルより高い振動は制御回路を導通状態(conduc
ting condition)にする。
cur−rent)の変化により減衰振動にセットされ
る該電流に応答するものである。減衰振動は次にしきい
値レベルを持った制御回路に印加される。該しきい値レ
ベルより高い振動は制御回路を導通状態(conduc
ting condition)にする。
更に、第1の回路は濃度が変化するハロゲン混合体の検
出に適合するように振動の幅を変化させるための手段を
含んでし)る。
出に適合するように振動の幅を変化させるための手段を
含んでし)る。
ロバーツの米国特許第3076139号は、ハロゲン混
合体の濃度の変化を検出すると同時にハロゲン濃度のレ
ベルにお(する突然の変化のみに応答するために特に適
したハロゲン漏洩検出器に関するものである。漏洩表示
手段を駆動するRC結合回路が上記センサーと増幅器と
の間に接続されている。
合体の濃度の変化を検出すると同時にハロゲン濃度のレ
ベルにお(する突然の変化のみに応答するために特に適
したハロゲン漏洩検出器に関するものである。漏洩表示
手段を駆動するRC結合回路が上記センサーと増幅器と
の間に接続されている。
該RC結合回路は、入力信号を繰り返し放電し、その効
果としてセンサーをゼロ化しそしてハロゲン混合体の新
たな検出を許容するものである。
果としてセンサーをゼロ化しそしてハロゲン混合体の新
たな検出を許容するものである。
多段位置スイッチが検出されるべきハロゲン濃度に関す
る複数のレンジのそれぞれと対応するRC結合回路を形
成するため、複数の利用可能なキャパシターから選択さ
れたキャパシターと接続するために設けられている。
る複数のレンジのそれぞれと対応するRC結合回路を形
成するため、複数の利用可能なキャパシターから選択さ
れたキャパシターと接続するために設けられている。
ロバーツの米国特許第3363451号は可変バイアス
回路と検出器のセンサーから発生する電流により検出さ
れたハロゲン濃度の水準にまで充電されるキャパシター
をもつハロゲン漏洩検出器を開示している。
回路と検出器のセンサーから発生する電流により検出さ
れたハロゲン濃度の水準にまで充電されるキャパシター
をもつハロゲン漏洩検出器を開示している。
該キャパシターは次でしきい値レベルを有する制御回路
に接続される。該しきい値は漏洩表示手段を励起するた
めに充電されたキャパシターの出力により越えられるも
のであってもよい。
に接続される。該しきい値は漏洩表示手段を励起するた
めに充電されたキャパシターの出力により越えられるも
のであってもよい。
可変バイアス回路は検出されるべきハロゲン濃度の望ま
しいレンジに従って調整される電位計を含んでいる。
しいレンジに従って調整される電位計を含んでいる。
別の感度スイッチが、高いレベルの電流従って高レベル
のハロゲン濃度に適合するように電位計のバランス制御
のレンジを拡張するためバッテリーを結合するために設
けられている。
のハロゲン濃度に適合するように電位計のバランス制御
のレンジを拡張するためバッテリーを結合するために設
けられている。
従来技術についての上記説明から明らかなように、かか
るハロゲン漏洩検出器は主に携帯用装置であり、相対的
に低いレベルのハロゲン濃度を検出するために特別に要
望された単一の環境に対する拡張された検出の応用のた
めに特に適合せしめられてはいなかった。
るハロゲン漏洩検出器は主に携帯用装置であり、相対的
に低いレベルのハロゲン濃度を検出するために特別に要
望された単一の環境に対する拡張された検出の応用のた
めに特に適合せしめられてはいなかった。
このような携帯用検出器は多段切替スイッチを操作する
ことによって、検出されるべきハロゲン濃度についての
好ましいレンジをセットするためにオペレーターが常時
立合うことにより、又一方でメーターのような好ましい
漏洩検出手段を監視することで使用されるものとして考
えられていた。
ことによって、検出されるべきハロゲン濃度についての
好ましいレンジをセットするためにオペレーターが常時
立合うことにより、又一方でメーターのような好ましい
漏洩検出手段を監視することで使用されるものとして考
えられていた。
メーター上で好ましい中間レンジの表示が設定された場
合、オペレーターは正しいスイッチの設定が行われたこ
とを知り得た。
合、オペレーターは正しいスイッチの設定が行われたこ
とを知り得た。
このような携帯用ハロゲン漏洩検出器はジェネラルエレ
クトリック社から発行されている“ザフェレット(Th
e Perret■)漏洩検出器(タイプH25)”と
表示されたサービスマニュアルに記載されている。この
H25型漏洩検出器はセンサーからのバックグランドの
定常状態信号を絶えず除去するための積分器(inte
grator)を使用している。
クトリック社から発行されている“ザフェレット(Th
e Perret■)漏洩検出器(タイプH25)”と
表示されたサービスマニュアルに記載されている。この
H25型漏洩検出器はセンサーからのバックグランドの
定常状態信号を絶えず除去するための積分器(inte
grator)を使用している。
本発明において考慮されているようなハロゲン漏洩検出
器の別の使用に対する適用において、かかる積分器の形
の回路群は特定の容器内におけるいかなる小さな漏洩の
増加は連続的にゼロ化され又このような小さな漏洩によ
る堆積を検出することも不可能と思われる。
器の別の使用に対する適用において、かかる積分器の形
の回路群は特定の容器内におけるいかなる小さな漏洩の
増加は連続的にゼロ化され又このような小さな漏洩によ
る堆積を検出することも不可能と思われる。
電気的放電装置の形式をもつハロゲンセンサーは相対的
に高価である。又かかるセンサーの寿命も比較的短く限
定されているので頻繁な交換が要求されている。
に高価である。又かかるセンサーの寿命も比較的短く限
定されているので頻繁な交換が要求されている。
横河電機■により製造されたモデルNo 6614に1
i61のハロゲンセンサーを用いた経験によれば、この
センサーは約1500〜1800時間の寿命を持ってい
る。
i61のハロゲンセンサーを用いた経験によれば、この
センサーは約1500〜1800時間の寿命を持ってい
る。
かかる電気放電装置のコレクター/カソード要素は希土
類金属でコーティングされ、又ハロゲンガスの存在下に
おいて発生するようなイオン流(ion stream
)の連続した集収の間に急速に悪化する傾向がある。
類金属でコーティングされ、又ハロゲンガスの存在下に
おいて発生するようなイオン流(ion stream
)の連続した集収の間に急速に悪化する傾向がある。
相対的に長期間に亘って与えられた容器内におけるハロ
ゲンの漏洩を監視するためにかかるハロゲンセンサーと
その漏洩検出器が使用されるような適応分野において、
ハロゲンの漏洩は発生し従ってオペレーターがそれに干
渉してハロゲンセンサーをリセット化、リゼロ(re−
zero)化或はその他の好ましい手段をとるまで比較
的に長期の間ハロゲンセンサーにより検出される。かか
る相対的に長期間の間、センサーのコレクター/カソー
ド要素は連続的にハロゲンの存在によるイオンのレベル
増加によって衡激を受ける(bOmbared)。
ゲンの漏洩を監視するためにかかるハロゲンセンサーと
その漏洩検出器が使用されるような適応分野において、
ハロゲンの漏洩は発生し従ってオペレーターがそれに干
渉してハロゲンセンサーをリセット化、リゼロ(re−
zero)化或はその他の好ましい手段をとるまで比較
的に長期の間ハロゲンセンサーにより検出される。かか
る相対的に長期間の間、センサーのコレクター/カソー
ド要素は連続的にハロゲンの存在によるイオンのレベル
増加によって衡激を受ける(bOmbared)。
かかる拡大された使用はコレクター/カソード要素の劣
化を早めそれ故かかるハロゲンセンサーの寿命を早秒る
ものである。
化を早めそれ故かかるハロゲンセンサーの寿命を早秒る
ものである。
従って本発明の目的はオペレーターの干渉なしに自動的
操作を可能とする新規で改良されたハロゲンモニター装
置を提供するものであり、それによってこの装置が長期
間に亘つ特定の容器におけるハロゲンの漏洩をオペレー
ターの存在なしにモニターするのに使用されることが可
能となる。
操作を可能とする新規で改良されたハロゲンモニター装
置を提供するものであり、それによってこの装置が長期
間に亘つ特定の容器におけるハロゲンの漏洩をオペレー
ターの存在なしにモニターするのに使用されることが可
能となる。
本発明の他の目的はハロゲンセンサーの寿命が著しく延
長されるハロゲンの漏洩を検出するための新規でかつ改
良されたハロゲンモニター装置を提供するものである。
長されるハロゲンの漏洩を検出するための新規でかつ改
良されたハロゲンモニター装置を提供するものである。
本発明の他の目的は特定の容器におけるハロゲンの残留
レベルを補正することが可能なハロゲンセンサーのため
の新規で改良された制御回路を提供するものである。
レベルを補正することが可能なハロゲンセンサーのため
の新規で改良された制御回路を提供するものである。
更に本発明の別の目的は特定の容器内におけるハロゲン
の残留レベル或は初期レベルを初期に読み取り、そして
後のハロゲン測定からそのレベルを補正するか或は減算
することを可能とする新規で改良されたハロゲンモニタ
ー装置を提供するものである。
の残留レベル或は初期レベルを初期に読み取り、そして
後のハロゲン測定からそのレベルを補正するか或は減算
することを可能とする新規で改良されたハロゲンモニタ
ー装置を提供するものである。
又本発明の更に他の目的は、センサーの感度レベルを複
数のレンジから選択されたレンジに自動的にセットする
ことが可能な新規で改良されたノ\ロゲンモニター装置
を提供するものである。
数のレンジから選択されたレンジに自動的にセットする
ことが可能な新規で改良されたノ\ロゲンモニター装置
を提供するものである。
本発明の他の目的はハロゲン濃度のレベルにおける選択
された増加を表示する漏洩表示を設けることを可能とす
る新規で改良されたハロゲンモニター装置を提供するも
のである。
された増加を表示する漏洩表示を設けることを可能とす
る新規で改良されたハロゲンモニター装置を提供するも
のである。
本発明における上記した目的及び他の目的によれば、モ
ニターされるべきがス化された気体がその間を流れるよ
うに間隔を形成するように配置されている第1と第2の
電極をもつ上述したタイプのハロゲンセンサーと、第1
と第2の電極に亘って電圧を印加するために結合された
電圧源を含みそれによって該電極間にイオン電流が流れ
るように構成されたハロゲンモニター装置が提供される
。
ニターされるべきがス化された気体がその間を流れるよ
うに間隔を形成するように配置されている第1と第2の
電極をもつ上述したタイプのハロゲンセンサーと、第1
と第2の電極に亘って電圧を印加するために結合された
電圧源を含みそれによって該電極間にイオン電流が流れ
るように構成されたハロゲンモニター装置が提供される
。
センサーの寿命は、イオン化電流における増加を検出す
るためのプログラム化されたマイクロコン)ローラーを
例示的に含んでいる制御回路によっ延長せしめられる。
るためのプログラム化されたマイクロコン)ローラーを
例示的に含んでいる制御回路によっ延長せしめられる。
そしてもしイオン化電流が選定されたレベルより高い時
にはイオン化電流を停止するためにその間における電圧
を除去するか減少せしめるように電圧源を作動させ、か
ようにしてハロゲンセンサーの寿命が延長される。
にはイオン化電流を停止するためにその間における電圧
を除去するか減少せしめるように電圧源を作動させ、か
ようにしてハロゲンセンサーの寿命が延長される。
本発明の他の態様においては、ハロゲンモニター装置は
、容器内における検出されるべきハロゲンガスのバック
グランドレベル或は定常状態のレベルを示しているセン
サー信号についての第1の読出しを初期に行うため又、
モニターされる容器内におけるハロゲンの濃度について
のレベルの増加を表示する補正された値を提供するため
に後に読みとられるセンサー信号から減算されるための
補正信号として使用されるためそのバックグランドレベ
ルの信号をメモリー内に格納するためめにプログラムさ
れたマイクロコントローラの形を例示的にとるメモリー
と制御機構を含んでいる。
、容器内における検出されるべきハロゲンガスのバック
グランドレベル或は定常状態のレベルを示しているセン
サー信号についての第1の読出しを初期に行うため又、
モニターされる容器内におけるハロゲンの濃度について
のレベルの増加を表示する補正された値を提供するため
に後に読みとられるセンサー信号から減算されるための
補正信号として使用されるためそのバックグランドレベ
ルの信号をメモリー内に格納するためめにプログラムさ
れたマイクロコントローラの形を例示的にとるメモリー
と制御機構を含んでいる。
更に本発明における他の態様においては、センサー信号
の振幅は相対的に小さく又、可変利得センサー増幅器に
より増幅される。
の振幅は相対的に小さく又、可変利得センサー増幅器に
より増幅される。
センサー増幅器(sensor amplifier)
の利得は初期においては利得を相対的に低い値にセット
することにより設定されその後そのセット値を増幅器の
出力が予め決めたレベルに到達するまで増加させその後
増幅器の利得を減少させる。
の利得は初期においては利得を相対的に低い値にセット
することにより設定されその後そのセット値を増幅器の
出力が予め決めたレベルに到達するまで増加させその後
増幅器の利得を減少させる。
ハロゲンモニター装置の制御がプログラム化されたマイ
クロコントローラによって実行されるような本発明の例
示的具体例において、該装置はセンサー増幅器の出力を
受は入れるために結合されたアナログ−デジタル変換器
(A/D)を含んでいる。
クロコントローラによって実行されるような本発明の例
示的具体例において、該装置はセンサー増幅器の出力を
受は入れるために結合されたアナログ−デジタル変換器
(A/D)を含んでいる。
A/D変換器がオーバーフローする時、センサー増幅器
の利得は微少な1(discreet amount)
減少せしめられるか或は次の低いセットに変更されそれ
によってA/D変換器の出力は中間レベル出力にセット
される。
の利得は微少な1(discreet amount)
減少せしめられるか或は次の低いセットに変更されそれ
によってA/D変換器の出力は中間レベル出力にセット
される。
本発明の他の態様において、ハロゲンモニター装置はハ
ロゲン濃度のレベルにおける増加を決定することによっ
てハロゲンの漏洩の表示を提供する 特に、センサー増幅器の利得の増加に加えてセンサー信
号における増加が決定されそしてもしそれが予め決めら
れた差又は増加よりも大きい場合には漏洩の表示が行わ
れる。
ロゲン濃度のレベルにおける増加を決定することによっ
てハロゲンの漏洩の表示を提供する 特に、センサー増幅器の利得の増加に加えてセンサー信
号における増加が決定されそしてもしそれが予め決めら
れた差又は増加よりも大きい場合には漏洩の表示が行わ
れる。
モニター装置はハロゲンの増加或は差のレンジに関して
選択された1つを測定するためセットされてもよくそれ
によってモニター装置の感度は対応してセットされる。
選択された1つを測定するためセットされてもよくそれ
によってモニター装置の感度は対応してセットされる。
本発明の他の目的と利点は以下の説明と図面からより明
白となろう。
白となろう。
特に第1図を参照すれば、本発明の技術思想に係るハロ
ゲンの漏洩の発生を検出するため、容器内における気体
をモニターするために特別に適合せしめられたハロゲン
モニター装置10が示されている。
ゲンの漏洩の発生を検出するため、容器内における気体
をモニターするために特別に適合せしめられたハロゲン
モニター装置10が示されている。
該モニター装置10は、典型的には漏洩が推定される特
定の場所に運ばれるような携帯用の装置である公知技術
のものとは異っている。
定の場所に運ばれるような携帯用の装置である公知技術
のものとは異っている。
本発明における例示的な使用において、ハロゲンモニタ
ー装置10は大型の商業用冷蔵庫に使用される型式の多
数のコンプレッサーが置かれている容器、換言すれば隔
室内に配置される。
ー装置10は大型の商業用冷蔵庫に使用される型式の多
数のコンプレッサーが置かれている容器、換言すれば隔
室内に配置される。
かかるコンプレッサーはハロゲン或はその混合体を含む
冷媒を低い比率で漏出させている。もし漏洩が長期間に
亘し続く場合には相当量の冷媒が失われる。
冷媒を低い比率で漏出させている。もし漏洩が長期間に
亘し続く場合には相当量の冷媒が失われる。
冷媒は高価であり又例えば食品というような冷凍品の損
傷を来す。
傷を来す。
本発明のハロゲンモニター装置10は特にかかる環境を
モニターするために適合せしめられており又特にはハロ
ゲンガスの相対的に低い濃度或は漏れ速度(leak
rate)を検出するために適合せしめられている。
モニターするために適合せしめられており又特にはハロ
ゲンガスの相対的に低い濃度或は漏れ速度(leak
rate)を検出するために適合せしめられている。
もしコンプレッサーのようなハロゲンの漏洩源が漏洩し
たハロゲンを分散する傾向をもつことに相対的に効果を
存する空気流とともに容器内に配置されている時には該
ハロゲンモニター装置10は漏洩速度を効果的にモニタ
ーしうる。
たハロゲンを分散する傾向をもつことに相対的に効果を
存する空気流とともに容器内に配置されている時には該
ハロゲンモニター装置10は漏洩速度を効果的にモニタ
ーしうる。
一方、もし容器が密閉されている時、漏れたハロゲンは
集結(build up)することになりハロゲンモニ
ター装置10は該密閉容器の中に漏洩したハロゲンの積
算濃度を表示する傾向にある。以下に説明するように、
ハロゲンモニター装置10は相対的に長い期間に亘って
操作することが可能であり、もし操作が連続的でない時
にはそれによってハロゲンの漏洩が直ちに検出されそれ
によって適切な補修作業が漏洩しているコンプレッサー
を直ちに補修するために早急に取られてもよい。
集結(build up)することになりハロゲンモニ
ター装置10は該密閉容器の中に漏洩したハロゲンの積
算濃度を表示する傾向にある。以下に説明するように、
ハロゲンモニター装置10は相対的に長い期間に亘って
操作することが可能であり、もし操作が連続的でない時
にはそれによってハロゲンの漏洩が直ちに検出されそれ
によって適切な補修作業が漏洩しているコンプレッサー
を直ちに補修するために早急に取られてもよい。
第1図に示すように、ハロゲンモニター装置10は加熱
調整器40を含んでおり更に本発明に係るハロゲン漏洩
の検出のために適合されかつ操作されるハロゲンセンサ
ー12を含んでいる。
調整器40を含んでおり更に本発明に係るハロゲン漏洩
の検出のために適合されかつ操作されるハロゲンセンサ
ー12を含んでいる。
ハロゲンセンサー12は第2B図に詳細に示されており
、ヒーター/アノード要素13と該要素13と間隔を有
するコレクター/カソード要素14とを含みかつ電気的
遮蔽部材15により密閉されている。
、ヒーター/アノード要素13と該要素13と間隔を有
するコレクター/カソード要素14とを含みかつ電気的
遮蔽部材15により密閉されている。
本発明における例示的具体例において、ハロゲンセンサ
ー12は、横河電機■により製造された品番6614に
11Glによるセンサーの型式をとるものであっても良
い コレクター/カソード要素14は同心状のプラチナチュ
ーブに入れられているアルカリ金属粉よりなる芯体に支
持されたロッドの形態を取るものである。
ー12は、横河電機■により製造された品番6614に
11Glによるセンサーの型式をとるものであっても良
い コレクター/カソード要素14は同心状のプラチナチュ
ーブに入れられているアルカリ金属粉よりなる芯体に支
持されたロッドの形態を取るものである。
チューブと芯体は溶接されたプラチナ線によって接続さ
れかようにして両者は同一の電位に維持される。ヒータ
ー/アノード要素13は4つのセラミックポストに巻か
れたコイル状のワイヤーヒーターで上述のロッドとチュ
ーブの組合せ体の近辺に配置される型を例示的にとって
もよい。
れかようにして両者は同一の電位に維持される。ヒータ
ー/アノード要素13は4つのセラミックポストに巻か
れたコイル状のワイヤーヒーターで上述のロッドとチュ
ーブの組合せ体の近辺に配置される型を例示的にとって
もよい。
例示的には、ヒーター/アノード要素13とそのコレク
ター/カソード要素14との間に180Vのオーダーの
電圧が印加される。
ター/カソード要素14との間に180Vのオーダーの
電圧が印加される。
およそIOVがヒーター/アノード要素13に印加され
るとそれによって4アンペア(amps)のオーダーの
電流がそれを通して検出され、センサー12の温度は約
900℃にまで上昇し、それがコレクター/カソード要
素14のロッドに小さな電流を流すことになる この小電流は芯体材料のイオン化によるものであるが、
センサー12を通して流れるガス或はガス化された気体
におけるハロゲンのレベルに比例した有効限界まで直線
的に増加する。
るとそれによって4アンペア(amps)のオーダーの
電流がそれを通して検出され、センサー12の温度は約
900℃にまで上昇し、それがコレクター/カソード要
素14のロッドに小さな電流を流すことになる この小電流は芯体材料のイオン化によるものであるが、
センサー12を通して流れるガス或はガス化された気体
におけるハロゲンのレベルに比例した有効限界まで直線
的に増加する。
この限界を越えると、電流の増加は極端に非直線状とな
りそして循環している気体におけるハロゲンの極端な増
加は単にハロゲンセンサー12の寿命を短くするのに作
用するだけである。
りそして循環している気体におけるハロゲンの極端な増
加は単にハロゲンセンサー12の寿命を短くするのに作
用するだけである。
コレクター/カソード要素14に集められた電流及び検
出電流線68上のハロゲンセンサー12の出力信号とし
て表われる電流は1〜100μへのオーダーのようなむ
しろ小さな電流である。
出電流線68上のハロゲンセンサー12の出力信号とし
て表われる電流は1〜100μへのオーダーのようなむ
しろ小さな電流である。
第1図を参照すると、コレクター/カソード要素14(
第2B図参照)集められた電流はハロゲンセンサー12
の出力信号(及びヒーター調整器400)を提供し又検
出電流線68を経てセンサー信号を増幅しそれを出力線
58を介してサンプルホールド回路56に供給するセン
サー増幅器74に印加される。
第2B図参照)集められた電流はハロゲンセンサー12
の出力信号(及びヒーター調整器400)を提供し又検
出電流線68を経てセンサー信号を増幅しそれを出力線
58を介してサンプルホールド回路56に供給するセン
サー増幅器74に印加される。
続いてアナログ形式にあるセンサー信号はA/D変換器
54に供給され、そこで変換されたデジタルセンサー信
号はマイクロコントローラ62に供給される。
54に供給され、そこで変換されたデジタルセンサー信
号はマイクロコントローラ62に供給される。
センサー増幅器74の利得は自動利得設定回路70によ
って変化されてもよく、又特にセンサー12の感度の多
くのレンジに対応して複数の利得或はタップ設定(ta
p setting)のうちの選定された1つに設定さ
れても良い。第1図に示されるように回路70の利得の
設定はプログラム化されたマイクロコントローラ62に
より制御される。
って変化されてもよく、又特にセンサー12の感度の多
くのレンジに対応して複数の利得或はタップ設定(ta
p setting)のうちの選定された1つに設定さ
れても良い。第1図に示されるように回路70の利得の
設定はプログラム化されたマイクロコントローラ62に
より制御される。
第1図に示すように、電力は電力供給部20によりヒー
ター調整回路40とそのセンサー12とに供給される。
ター調整回路40とそのセンサー12とに供給される。
続いて、−船釣に利用出来る120V交流が後に電力供
給部20を励起するサージプロテクトとラインフィルタ
ー回路16に供給される。
給部20を励起するサージプロテクトとラインフィルタ
ー回路16に供給される。
ハロゲンモニター装置10に関する多くの操作と機能は
プログラム化されたマイクロコントローラ62により制
御される。そのプログラムは第3A図から第3F図に示
されている。
プログラム化されたマイクロコントローラ62により制
御される。そのプログラムは第3A図から第3F図に示
されている。
特にプログラム化されたマイクロコントローラ62はハ
ロゲンガスのあるレベルのものが存在することを示唆す
るセンサー12からの出力を検出する。
ロゲンガスのあるレベルのものが存在することを示唆す
るセンサー12からの出力を検出する。
ハロゲンの漏洩が検出されると、マイクロコントローラ
62は電力制御スイッチ24を閉じそれによって電力供
給部20により供給されている180Vの電圧を停止さ
せ(short out)又はコレクター/アノードの
供給電圧をセンサー12から除去する。後に詳しく説明
するように、センサー12からコレクター/アノード供
給電圧を除去することはハロゲンの存在下で発生するイ
オン衝激にもとづくコレクター/カソード要素14の急
速な悪化を防止しそれによってセンサー12の寿命が著
しく伸びる。その結果、ハロゲンモニター装置10は容
器内におけるハロゲン漏洩を連続的にモニターすること
が可能となる。
62は電力制御スイッチ24を閉じそれによって電力供
給部20により供給されている180Vの電圧を停止さ
せ(short out)又はコレクター/アノードの
供給電圧をセンサー12から除去する。後に詳しく説明
するように、センサー12からコレクター/アノード供
給電圧を除去することはハロゲンの存在下で発生するイ
オン衝激にもとづくコレクター/カソード要素14の急
速な悪化を防止しそれによってセンサー12の寿命が著
しく伸びる。その結果、ハロゲンモニター装置10は容
器内におけるハロゲン漏洩を連続的にモニターすること
が可能となる。
更ニ、センサー12のヒーター/アノード要素13を通
して流れる電流はアナログ信号として、このアナログ信
号をマイクロコントローラ62に供給されるべき対応す
るデジタル信号に変換するヒーター電流のA/D変換器
44に供給される。
して流れる電流はアナログ信号として、このアナログ信
号をマイクロコントローラ62に供給されるべき対応す
るデジタル信号に変換するヒーター電流のA/D変換器
44に供給される。
第1図に示されるような本発明の他の形態においては、
自動的なゼロ化回路(zeroing circuit
)78がモニターされるべき容器内のハロゲンについて
の定常状態或はバックグランドレベルを示すものとされ
るセンサー12の初期の読み出しを行うために設けられ
ている。
自動的なゼロ化回路(zeroing circuit
)78がモニターされるべき容器内のハロゲンについて
の定常状態或はバックグランドレベルを示すものとされ
るセンサー12の初期の読み出しを行うために設けられ
ている。
バックグランドセンサー信号は回路78内にある不揮発
性メモリーに格納されそして、後に説明されるように、
元のバックグランドレベルに対する現時点でのハロゲン
レベルの増加を示すものとして補正された信号を発生さ
せるため最新のセンサー信号から減算される。
性メモリーに格納されそして、後に説明されるように、
元のバックグランドレベルに対する現時点でのハロゲン
レベルの増加を示すものとして補正された信号を発生さ
せるため最新のセンサー信号から減算される。
更に、マイクロコントローラ62は受信器60に結合さ
れ、又主コントローラ(図示せず)に対し又そこからデ
ーターメツセージを、連続的な通信部(serial
communication port) 35を経由
して送信し或は受信するためのマイクロコントローラー
適合したものである。
れ、又主コントローラ(図示せず)に対し又そこからデ
ーターメツセージを、連続的な通信部(serial
communication port) 35を経由
して送信し或は受信するためのマイクロコントローラー
適合したものである。
かかる形式において複数のハロゲンモニター装置lOが
複数の互に離れて置かれている冷蔵庫において、それぞ
れのコンプレッサーからのハロゲンカスの漏洩を検知し
てメインコントローラニソの漏洩を通知するために採用
されても良い。
複数の互に離れて置かれている冷蔵庫において、それぞ
れのコンプレッサーからのハロゲンカスの漏洩を検知し
てメインコントローラニソの漏洩を通知するために採用
されても良い。
第2A図に示すように、例示の形式として励起した12
0Vの交流はサージプロテクション及びラインフィルタ
ー回路(surgeprotection’ and
linefiltering) l 5の端子TBII
とTB12に供給される。回路16の出力はトラン妥1
8を含む電源供給部20に供給される。特に回路16の
出力はトランス18の一次巻線18aに供給される。該
−次巻線は複数の二次巻線18b、 18c、 18d
及び18eと電磁的に結合している。二次巻線18bの
出力は全波整流され第2B図に示されるようにIOVの
直流をヒーター調整器40に対して供給するものであり
それによってヒーター/アノード要素13を通って流れ
る電流と従ってその温度は正確に制御されうる。(ロン
グネッカーの米国特許第3912967参照) 簡単に云えば、ヒーター/アノード要素13により設け
られている抵抗が検出され、該要素13の抵抗が所定の
値より小さい時にはトランジスタQ3を閉じ(clos
e)そして該抵抗がその値を越える時にはトランジスタ
Q3を開((open)ようにその抵抗をトランジスタ
Q3の選択的な開閉に使用されそれによってハロゲンセ
ンサー12の好ましい温度を設定する。
0Vの交流はサージプロテクション及びラインフィルタ
ー回路(surgeprotection’ and
linefiltering) l 5の端子TBII
とTB12に供給される。回路16の出力はトラン妥1
8を含む電源供給部20に供給される。特に回路16の
出力はトランス18の一次巻線18aに供給される。該
−次巻線は複数の二次巻線18b、 18c、 18d
及び18eと電磁的に結合している。二次巻線18bの
出力は全波整流され第2B図に示されるようにIOVの
直流をヒーター調整器40に対して供給するものであり
それによってヒーター/アノード要素13を通って流れ
る電流と従ってその温度は正確に制御されうる。(ロン
グネッカーの米国特許第3912967参照) 簡単に云えば、ヒーター/アノード要素13により設け
られている抵抗が検出され、該要素13の抵抗が所定の
値より小さい時にはトランジスタQ3を閉じ(clos
e)そして該抵抗がその値を越える時にはトランジスタ
Q3を開((open)ようにその抵抗をトランジスタ
Q3の選択的な開閉に使用されそれによってハロゲンセ
ンサー12の好ましい温度を設定する。
電源供給部20の二次巻線18Cの出力は半波整流され
電力制御スイッチ24に供給される。該スイッチ24は
相対的に高電圧例えば180Vをノ10ゲンセンサー1
2のヒーター/アノード要素13とコレクター/カソー
ド要素14との間に印加するのを制御しそして特にヒー
ター調整回路40の抵抗R21とR22との交叉点に供
給される電圧を制御する。以下に説明するように、制御
信号は第2D図に示されるようにマイクロコントローラ
62により発生されそして制御ライン25を介してセン
サーのコレクター/アノード過電流防止回路27に供給
され続いてその出力は電力供給スイッチ24に供給され
、又特に後述するようにハロゲンセンサー12の要素1
3と14の間に印加されるような高電圧(短絡)を除去
するトランジスタQ1に供給される。
電力制御スイッチ24に供給される。該スイッチ24は
相対的に高電圧例えば180Vをノ10ゲンセンサー1
2のヒーター/アノード要素13とコレクター/カソー
ド要素14との間に印加するのを制御しそして特にヒー
ター調整回路40の抵抗R21とR22との交叉点に供
給される電圧を制御する。以下に説明するように、制御
信号は第2D図に示されるようにマイクロコントローラ
62により発生されそして制御ライン25を介してセン
サーのコレクター/アノード過電流防止回路27に供給
され続いてその出力は電力供給スイッチ24に供給され
、又特に後述するようにハロゲンセンサー12の要素1
3と14の間に印加されるような高電圧(短絡)を除去
するトランジスタQ1に供給される。
簡単に云うと、第3A図から第3F図に示されるような
プログラムの制御下でマイクロコントローラ62は検出
電流ライン68上における出力に応答してトランジスタ
Q2を導通させそれによって高電圧が除去され又ハロゲ
ンセンサー12の寿命が延長される。電力供給部20の
二次巻線18dに現われる電圧は、電圧低下(brow
n−out )保護回路30に供給され、該回路はマイ
クロコントローラー62がもしサージプロテクションと
ラインフィルタリング回路16に印加されている120
Vの交流が電圧低下状態の下にある時に減少したとする
場合にそのプログラムの実行が開始することを妨げるも
のである。120vの交流がサージプロテクションとラ
インフィルタリング回路16に印加された後直ちに電圧
比較器28aは基準電圧回路22から減少された反転入
力ピン8における25Vに応答し、それによって電圧比
較器28aのオーブンコレクターは強制的に接地され、
それは続いてマイクロコントローラー62のリセットビ
ン4を抵抗R14とR15との間の交叉点に現われる電
圧が少くとも7.5Vに上昇するまでリセットの状態に
おく。この点において、電圧比較器28aの非反転入力
における電圧が該電圧比較器28aの反転入力端子にお
ける2、5Vの電圧を越えそしてオープンコレクター出
力が接地状態から抵抗R18を介して5Vまで引上げら
れるフローティング出力(floating outp
ut)に切り換わる。このようにしてマイクロコントロ
ーラ62のリセットビンはHレベル(thigh)にさ
れ、それによりマイクロコントローラ62をそのインス
トラクションを実行することを開始させる。
プログラムの制御下でマイクロコントローラ62は検出
電流ライン68上における出力に応答してトランジスタ
Q2を導通させそれによって高電圧が除去され又ハロゲ
ンセンサー12の寿命が延長される。電力供給部20の
二次巻線18dに現われる電圧は、電圧低下(brow
n−out )保護回路30に供給され、該回路はマイ
クロコントローラー62がもしサージプロテクションと
ラインフィルタリング回路16に印加されている120
Vの交流が電圧低下状態の下にある時に減少したとする
場合にそのプログラムの実行が開始することを妨げるも
のである。120vの交流がサージプロテクションとラ
インフィルタリング回路16に印加された後直ちに電圧
比較器28aは基準電圧回路22から減少された反転入
力ピン8における25Vに応答し、それによって電圧比
較器28aのオーブンコレクターは強制的に接地され、
それは続いてマイクロコントローラー62のリセットビ
ン4を抵抗R14とR15との間の交叉点に現われる電
圧が少くとも7.5Vに上昇するまでリセットの状態に
おく。この点において、電圧比較器28aの非反転入力
における電圧が該電圧比較器28aの反転入力端子にお
ける2、5Vの電圧を越えそしてオープンコレクター出
力が接地状態から抵抗R18を介して5Vまで引上げら
れるフローティング出力(floating outp
ut)に切り換わる。このようにしてマイクロコントロ
ーラ62のリセットビンはHレベル(thigh)にさ
れ、それによりマイクロコントローラ62をそのインス
トラクションを実行することを開始させる。
第2A図に示されるようにリセット回路32は電力が最
初に来た時にマイクロコントローラー62は最初にリセ
ットされる。後述するように監視回路(watch d
og circuit) 34が、リセット回路32を
マイクロコントローラー62が更にリセットされること
を妨げることからリセット回路32を妨げるために設け
られる。電圧比較器28cの形をとる該監視回路34は
マイクロコントローラー62によるプログラムの適正な
実行をモニタ−するためマイクロコントローラ62のピ
ン8に結合されている。プログラムが、マイクロコント
ローラ62により適正に実行されるのを継続している限
り、そのRDピン8は電圧比較器28Cの非反転入力に
対しストロークパルス信号を印加し、マイクロコントロ
ーラー62がリセットされることを防ぐ0出力パルスを
発生する。電圧比較器28cの出力は次でリセット回路
32に結合されそして特別にはタイミング回路36を形
成する抵抗32とキャパシターC14との交叉点と接続
している。タイミング回路36は47m5ecsの時定
数を有してふり、又キャパシターC14にかけられてい
る電圧は電圧比較器28bの反転入力に印加されている
。抵抗R29とR30とで構成されている電圧分圧器は
5V調整器Q5の1/2の出力をリセット回路32に対
する基準レベルとして電圧比較器28bの非反転入力に
印加する。サージプロテクションとラインフィルタリン
グ回路16に最初に電力が供給されてから約32マイク
ロセカンド(msecs)後、キャパシターC14は基
準電圧分圧器のレベルを越えるレベルに充電され、それ
によって、電圧比較器2111bの出力は強制的に接地
され、それ故マイクロコントローラ62のリセットが生
ずる。
初に来た時にマイクロコントローラー62は最初にリセ
ットされる。後述するように監視回路(watch d
og circuit) 34が、リセット回路32を
マイクロコントローラー62が更にリセットされること
を妨げることからリセット回路32を妨げるために設け
られる。電圧比較器28cの形をとる該監視回路34は
マイクロコントローラー62によるプログラムの適正な
実行をモニタ−するためマイクロコントローラ62のピ
ン8に結合されている。プログラムが、マイクロコント
ローラ62により適正に実行されるのを継続している限
り、そのRDピン8は電圧比較器28Cの非反転入力に
対しストロークパルス信号を印加し、マイクロコントロ
ーラー62がリセットされることを防ぐ0出力パルスを
発生する。電圧比較器28cの出力は次でリセット回路
32に結合されそして特別にはタイミング回路36を形
成する抵抗32とキャパシターC14との交叉点と接続
している。タイミング回路36は47m5ecsの時定
数を有してふり、又キャパシターC14にかけられてい
る電圧は電圧比較器28bの反転入力に印加されている
。抵抗R29とR30とで構成されている電圧分圧器は
5V調整器Q5の1/2の出力をリセット回路32に対
する基準レベルとして電圧比較器28bの非反転入力に
印加する。サージプロテクションとラインフィルタリン
グ回路16に最初に電力が供給されてから約32マイク
ロセカンド(msecs)後、キャパシターC14は基
準電圧分圧器のレベルを越えるレベルに充電され、それ
によって、電圧比較器2111bの出力は強制的に接地
され、それ故マイクロコントローラ62のリセットが生
ずる。
マイクロコントローラ62が初期にパワーアップ時にリ
セットされており、そしてプログラムの実行が開始され
た後、マイクロコントローラ62は、マイクロコントロ
ーラ62によりプログラムが適正に実行されていること
を表示するストローブパルスをRDピン8から出力する
。
セットされており、そしてプログラムの実行が開始され
た後、マイクロコントローラ62は、マイクロコントロ
ーラ62によりプログラムが適正に実行されていること
を表示するストローブパルスをRDピン8から出力する
。
特に、ストローブパルスは規則的に少くとも32マイク
ロセカンド(msecs)毎にキャパシターC14を放
電させ、それにより、リセット回路32が一方でプログ
ラムを適正に実行しておきながらマイクロコントローラ
62をリセットすることを防いでいる。上述したように
、ハロゲンセンサー12の出力はコレクター/カソード
要素により集められたイオンに応答するものであり、又
検出された電流線68を介して自動利得設定回路70と
センサー増幅器74から成る可変高利得増幅器に供給さ
れる。高利得増幅器は、ハロゲンセンサー12の出力電
流が1〜100 ミリアンペア−(mamps)のオー
ダーであるように相対的に小さいことか必要とされるの
である。
ロセカンド(msecs)毎にキャパシターC14を放
電させ、それにより、リセット回路32が一方でプログ
ラムを適正に実行しておきながらマイクロコントローラ
62をリセットすることを防いでいる。上述したように
、ハロゲンセンサー12の出力はコレクター/カソード
要素により集められたイオンに応答するものであり、又
検出された電流線68を介して自動利得設定回路70と
センサー増幅器74から成る可変高利得増幅器に供給さ
れる。高利得増幅器は、ハロゲンセンサー12の出力電
流が1〜100 ミリアンペア−(mamps)のオー
ダーであるように相対的に小さいことか必要とされるの
である。
特に、又第2C図を参照すると、センサーの出力はその
出力が続いて第2の演算増幅器76bに印加されている
演算増幅器76aに印加される。
出力が続いて第2の演算増幅器76bに印加されている
演算増幅器76aに印加される。
演算増幅器76aの利得を制御するフィードバック回路
は自動利得設定回路70により形成され、それは−船釣
な工業規格番号4051を用いたアナログマルチプレク
サ−72の形をとっている。
は自動利得設定回路70により形成され、それは−船釣
な工業規格番号4051を用いたアナログマルチプレク
サ−72の形をとっている。
後述するように、アナログマルチプレクサ−72はマイ
クロコントローラ62の制御の下で作動し、抵抗R43
からR50により構成された電圧分圧器の選定された部
分をショートアラ) (shortout) L、それ
によって演算増幅器76aの利得を設定する。
クロコントローラ62の制御の下で作動し、抵抗R43
からR50により構成された電圧分圧器の選定された部
分をショートアラ) (shortout) L、それ
によって演算増幅器76aの利得を設定する。
演算増幅器76aの利得を調整することによって、ハロ
ゲンセンサー12の電流レベルの多段ルンジとそれによ
るハロゲン濃度の多段のレンジが検出され正確に測定さ
れる。
ゲンセンサー12の電流レベルの多段ルンジとそれによ
るハロゲン濃度の多段のレンジが検出され正確に測定さ
れる。
演算増幅器76aの選択的に増幅された出力は更に演算
増幅器76bに印加され、人力ライン58のセンサー増
幅器74の出力を供給する。増幅回路74からの出力は
ハロゲン漏洩に対するレンジである、I Xl0−’、
I Xl0−5. I X10−’、及びlX1
0−’cc/secのそれぞれに対応しておりそれは又
それぞれマイクロコントローラ62の下で選択された時
のアナログマルチプレクサ−72におけるタップ設定7
、と6,5と4.3、と2及び1と0に対応している。
増幅器76bに印加され、人力ライン58のセンサー増
幅器74の出力を供給する。増幅回路74からの出力は
ハロゲン漏洩に対するレンジである、I Xl0−’、
I Xl0−5. I X10−’、及びlX1
0−’cc/secのそれぞれに対応しておりそれは又
それぞれマイクロコントローラ62の下で選択された時
のアナログマルチプレクサ−72におけるタップ設定7
、と6,5と4.3、と2及び1と0に対応している。
この具体例において、各レンジは2つのタップ設定に対
応している。
応している。
ハロゲンモニター装置10は従来技術とは明らかに異っ
ており、オペレーターによる検出すべきハロゲン漏洩の
レンジサイズを、センサー増幅回路についての多段利得
の1つを選択するために機械的なロータリースイッチを
作動させることにより選択することはもはや必要がなく
なり、本発明の装置10においてはマイクロコントロー
ラー62の制御の下に自動的な利得設定回路70が採用
されているのである。
ており、オペレーターによる検出すべきハロゲン漏洩の
レンジサイズを、センサー増幅回路についての多段利得
の1つを選択するために機械的なロータリースイッチを
作動させることにより選択することはもはや必要がなく
なり、本発明の装置10においてはマイクロコントロー
ラー62の制御の下に自動的な利得設定回路70が採用
されているのである。
自動ゼロ化回路78はハロゲンモニター装置10に組込
まれており、センサー12それ自身の作動の基づくもの
であるか、或はモニターされる容器内におけるハロゲン
混合体の残留量或はバックグランド量にもとづくもので
あると思われるハロゲンセンサー12から定常状態の信
号を除去する。
まれており、センサー12それ自身の作動の基づくもの
であるか、或はモニターされる容器内におけるハロゲン
混合体の残留量或はバックグランド量にもとづくもので
あると思われるハロゲンセンサー12から定常状態の信
号を除去する。
相対的に長期間容器内のハロゲンの漏洩を連続的にモニ
ターするために使用されると思われるハロゲンモニター
装置10の他の応用において、自動的ゼロ化回路78は
、マイクロコントローラ62の下でハロゲンセンサー1
2から発生してくるバックグランド定常状態信号のレベ
ルを測定し、そしてそれを格納し、かつそのレベルを検
出電流線68に供給されたハロゲンセンサー出力信号か
ら連続的に減算するように作動する。
ターするために使用されると思われるハロゲンモニター
装置10の他の応用において、自動的ゼロ化回路78は
、マイクロコントローラ62の下でハロゲンセンサー1
2から発生してくるバックグランド定常状態信号のレベ
ルを測定し、そしてそれを格納し、かつそのレベルを検
出電流線68に供給されたハロゲンセンサー出力信号か
ら連続的に減算するように作動する。
特に、自動ゼロ化回路78は電気的に消去可能なデジタ
ル制御電圧計(EEPOT) 80例えばXIC0RI
ncにより製造されているモデルNo X9103Pを
含んでいる。
ル制御電圧計(EEPOT) 80例えばXIC0RI
ncにより製造されているモデルNo X9103Pを
含んでいる。
該EEPOT80は、例えば100年というメモリー寿
命を有するもので、ハロゲンセンサー12の最初に測定
された定常状態信号に対応するものとしてのワイパーア
ームの位置を表示する信号を格納するための不揮発生メ
モリーを含んでいる。
命を有するもので、ハロゲンセンサー12の最初に測定
された定常状態信号に対応するものとしてのワイパーア
ームの位置を表示する信号を格納するための不揮発生メ
モリーを含んでいる。
かかるゼロ化出力はハロゲンセンサー出力と直列に印加
されるべき演算増幅器82を介して演算増幅器76aの
非反転入力に印加される。第2D図を参照すると、デイ
ツプスイッチ64がマイクロコントローラ620人力D
BOからDB7に接続されており、そしてオペレーター
にそれへの入力を提供する。
されるべき演算増幅器82を介して演算増幅器76aの
非反転入力に印加される。第2D図を参照すると、デイ
ツプスイッチ64がマイクロコントローラ620人力D
BOからDB7に接続されており、そしてオペレーター
にそれへの入力を提供する。
特に、デイツプスイッチ64のラン/テストスイッチ6
はマイクロコントローラ62がテスト或はランモードの
1つを選択することを許容する。
はマイクロコントローラ62がテスト或はランモードの
1つを選択することを許容する。
初期には、オペレーターが装置10をテストモードで操
作するようにスイッチ6をセットし、そのモードでは、
ハロゲンモニター装置10はハロゲンセンサー 12に
より出力されたバックグランドレベル信号を測定する。
作するようにスイッチ6をセットし、そのモードでは、
ハロゲンモニター装置10はハロゲンセンサー 12に
より出力されたバックグランドレベル信号を測定する。
そしてもしバックグランドハロゲンレベルが合理的に低
い(つまり漏洩がない)場合には、オペレーターはデイ
ツプスイッチ64のスイッチの位置を変更し、それによ
ってマイクロコントローラ62は装置10をノーマル又
はランモードで操作させる。
い(つまり漏洩がない)場合には、オペレーターはデイ
ツプスイッチ64のスイッチの位置を変更し、それによ
ってマイクロコントローラ62は装置10をノーマル又
はランモードで操作させる。
ランモードにおいては、バックグランド信号は前記した
BBPOT80に格納され、そしてハロゲンセンサー1
2の最新の出力からその分が減算される。
BBPOT80に格納され、そしてハロゲンセンサー1
2の最新の出力からその分が減算される。
このように、マイクロコントローラ62はそのランモー
ドにおいて、連続的に、Ell:POT80に格納され
たバックグランド定常状態信号を用いて、新しい容器内
に装置10やそのハロゲンセンサー12を取りつける際
或はハロゲンセンサー12を取り替える際に生ずるよう
な再較正が必要となるまでハロゲンセンサー12からの
最新の信号をゼロアウト(zero out)するであ
ろう。
ドにおいて、連続的に、Ell:POT80に格納され
たバックグランド定常状態信号を用いて、新しい容器内
に装置10やそのハロゲンセンサー12を取りつける際
或はハロゲンセンサー12を取り替える際に生ずるよう
な再較正が必要となるまでハロゲンセンサー12からの
最新の信号をゼロアウト(zero out)するであ
ろう。
センサー増幅器74のアナログ出力は入力ライン58を
介してサンプルホールド回路56の人力ピンIN3に印
加される。
介してサンプルホールド回路56の人力ピンIN3に印
加される。
続いて、出力ピンOUT 5からのアナログ出力はA/
D変換器540入カピンAOに印加これ可変的に増幅さ
れたハロゲンセンサー出力を表示するものとしての入力
アナログ信号をそれに対応したディジタル信号に変換し
そして出力ピンSO5から出力されるそのディジタル信
号をマイクロコントローラ62のT1ピン39に印加す
る。
D変換器540入カピンAOに印加これ可変的に増幅さ
れたハロゲンセンサー出力を表示するものとしての入力
アナログ信号をそれに対応したディジタル信号に変換し
そして出力ピンSO5から出力されるそのディジタル信
号をマイクロコントローラ62のT1ピン39に印加す
る。
A/D変換器54は4チャネル人力装置であり、又電力
供給部20から出力される180V、 5V、及び+
12V又は−15Vのいづれかの供給電力レベルをモニ
ターする作用をしている。
供給部20から出力される180V、 5V、及び+
12V又は−15Vのいづれかの供給電力レベルをモニ
ターする作用をしている。
認識されている形式において、マイクロコントローラ6
2はA/D変換器ので5ビン6に対しチャネル選択信号
を印加し、それによってAOからA3ピンに印加されて
いる4つの入力信号のうちの選択された1つがそのデジ
タル信号に変換されマイクロコントローラ62に人力さ
れるハロゲンセンサー12の通常の操作において、ヒー
ター/アノード要素13を通して流れる電流は1〜4ア
ンペア(amps)のオーダーであり又端子T B33
から出力(picked off)されヒーター電流A
/D変換器44に印加され、又特に第2B図に示すよう
にタイマー46に印加される。タイマー46はヒーター
/アノード要素13から出力される電流に比例する周波
数をもつ信号を出力するためのカウンターとして作用す
る。
2はA/D変換器ので5ビン6に対しチャネル選択信号
を印加し、それによってAOからA3ピンに印加されて
いる4つの入力信号のうちの選択された1つがそのデジ
タル信号に変換されマイクロコントローラ62に人力さ
れるハロゲンセンサー12の通常の操作において、ヒー
ター/アノード要素13を通して流れる電流は1〜4ア
ンペア(amps)のオーダーであり又端子T B33
から出力(picked off)されヒーター電流A
/D変換器44に印加され、又特に第2B図に示すよう
にタイマー46に印加される。タイマー46はヒーター
/アノード要素13から出力される電流に比例する周波
数をもつ信号を出力するためのカウンターとして作用す
る。
タイマー46の出力はヒーター調整器回路40における
相対的に大きな信号の存在からマイクロコントローラ6
2を保護するために作動するオプトアイソレーター48
に印加され。又該アイソレーターの出力は出力ライン5
0とトランジスタQ11(第2D図参照)を介してマイ
クロコントローラ62のPLOピン27に印加されそれ
により、ヒーター電流及びそれによるハロゲンセンサー
12の操作がモニターされるであろう。
相対的に大きな信号の存在からマイクロコントローラ6
2を保護するために作動するオプトアイソレーター48
に印加され。又該アイソレーターの出力は出力ライン5
0とトランジスタQ11(第2D図参照)を介してマイ
クロコントローラ62のPLOピン27に印加されそれ
により、ヒーター電流及びそれによるハロゲンセンサー
12の操作がモニターされるであろう。
複数のハロゲンモニター装置10とそのハロゲンセンサ
ー12がそこにおけるハロゲン漏洩をモニターするため
の複数の遠隔ステーションのような形で設けられてもよ
いことは考慮しうるちのである。
ー12がそこにおけるハロゲン漏洩をモニターするため
の複数の遠隔ステーションのような形で設けられてもよ
いことは考慮しうるちのである。
各々のハロゲンモニター装置10は、IBNl−PC/
XT@の形式で表わされるか又はこれと代替しうるマイ
クロコントローラーにおける中央に配置された主制御器
と過言可能となっている。
XT@の形式で表わされるか又はこれと代替しうるマイ
クロコントローラーにおける中央に配置された主制御器
と過言可能となっている。
主制御器は遠隔地におかれたハロゲンモニター装置10
の各々と周期的に通信し或はポーリング(pollin
g)することが出来る。第2D図に示されるように、マ
イクロコントローラ62のピンP14からPI3とTO
はボート86を介してメツセージを主制御器に送信した
りそこから受信したりするため受信器60と結合されて
いる。
の各々と周期的に通信し或はポーリング(pollin
g)することが出来る。第2D図に示されるように、マ
イクロコントローラ62のピンP14からPI3とTO
はボート86を介してメツセージを主制御器に送信した
りそこから受信したりするため受信器60と結合されて
いる。
受信器60は例えばテキサスインストルーメント社によ
り製造された番号75176によるチップの形式をとる
ものであってもよく、或はフェアチャイルドセミコンダ
クター社により製造されているこれと等価のチップを用
いるものであっても良い。
り製造された番号75176によるチップの形式をとる
ものであってもよく、或はフェアチャイルドセミコンダ
クター社により製造されているこれと等価のチップを用
いるものであっても良い。
そして該受信器は“’BISYNC″″■のプロトコル
のフォーマットを使用して1200ビット/秒のボーレ
ート(baud rate)でデジタル信号を送信する
ことが可能なものであっても良い。
のフォーマットを使用して1200ビット/秒のボーレ
ート(baud rate)でデジタル信号を送信する
ことが可能なものであっても良い。
以下に詳しく説明するように、ハロゲンの漏洩が検知さ
れた後、マイクロコントローラー62内の状況記憶器(
status register)が、検出された漏洩
を反映して変化せしめられる。
れた後、マイクロコントローラー62内の状況記憶器(
status register)が、検出された漏洩
を反映して変化せしめられる。
この主制御器によりポーリングされると、マイクロコン
トローラ62は漏洩が検出されたかされなかったかどう
かと同時にハロゲンモニター装置10の操作を表示する
多くのデーターを含む“ステータスバイト”を送信する
ことによって応答する。
トローラ62は漏洩が検出されたかされなかったかどう
かと同時にハロゲンモニター装置10の操作を表示する
多くのデーターを含む“ステータスバイト”を送信する
ことによって応答する。
各々のハロゲンモニター装置10は単一の5ビツトアド
レスを用いて特定のハロゲンモニター装置10をアドレ
スすることによりハロゲンモニター装置10の各々をポ
ーリングする主制御器と一つの通信ラインで並列に結合
されており、それにより対応するマイクロコントローラ
62はそのメモリーに質問を出し帰って来たメツセージ
を様式化して該受信器60を介して主制御器に送信する
ことが可能である。
レスを用いて特定のハロゲンモニター装置10をアドレ
スすることによりハロゲンモニター装置10の各々をポ
ーリングする主制御器と一つの通信ラインで並列に結合
されており、それにより対応するマイクロコントローラ
62はそのメモリーに質問を出し帰って来たメツセージ
を様式化して該受信器60を介して主制御器に送信する
ことが可能である。
デイツプスイッチ64はスイッチ1〜5の形式において
マイクロコントローラ62に入るための手段即ち単一ア
ドレスを提供するものであり、それによって主制御器は
その特定の装置10と通信することが出来る。
マイクロコントローラ62に入るための手段即ち単一ア
ドレスを提供するものであり、それによって主制御器は
その特定の装置10と通信することが出来る。
マイクロコントローラ62が、以下に述べるようにある
ハロゲンセンサー12が漏洩を検知したことを検出した
場合、マイクロコントローラ62はそのP13ビン10
に、周期がIHzで発光する光表示器88を作動させる
信号を出力する。
ハロゲンセンサー12が漏洩を検知したことを検出した
場合、マイクロコントローラ62はそのP13ビン10
に、周期がIHzで発光する光表示器88を作動させる
信号を出力する。
上述したように、ハロゲンセンサー12はハロゲンの漏
洩を検出した後はマイクロコントローラーによって作動
不能の状態になる。
洩を検出した後はマイクロコントローラーによって作動
不能の状態になる。
フラッシュライト表示器88はこの特定のハロゲン%−
J−1置10 トそのハロゲンセンサー12が作動停止
状態にあり作業員が漏洩を見付けて修理し、主制御器を
リセットし続いて対対するマイクロコントローラ62を
リセットするため待機していることを表示している。
J−1置10 トそのハロゲンセンサー12が作動停止
状態にあり作業員が漏洩を見付けて修理し、主制御器を
リセットし続いて対対するマイクロコントローラ62を
リセットするため待機していることを表示している。
更に、マイクロコントローラ620P23ピン24は漏
洩が検出された時にONとなるFETQ]、2の形にお
ける出力スイッチ84に接続されている。
洩が検出された時にONとなるFETQ]、2の形にお
ける出力スイッチ84に接続されている。
第2D図に示されているように、FBTQ12は端子T
B21と22を共に接続しており、それは別の警告表示
を実行するために採用されたものである。
B21と22を共に接続しており、それは別の警告表示
を実行するために採用されたものである。
ハロゲンモニター装置10からの帰還メツセージの受信
により、主制御器は、検出されたハロゲン漏洩に関する
警告表示を行うためビーμ(beeper)を作動させ
てもよい。
により、主制御器は、検出されたハロゲン漏洩に関する
警告表示を行うためビーμ(beeper)を作動させ
てもよい。
これに加えて、主制御器は検出されたハロゲン漏洩を示
す全ての状況信号(status signal)或は
フラッグをフロッピーディスク、バブルメモリー或はE
APOM等の適当なメモリーに保存する。
す全ての状況信号(status signal)或は
フラッグをフロッピーディスク、バブルメモリー或はE
APOM等の適当なメモリーに保存する。
次で主制御器は、通常の電話線との適切な接続を介して
、適当な管理者及び修理者に対し漏洩が検知されたこと
を知らせるための呼び出しをかける。
、適当な管理者及び修理者に対し漏洩が検知されたこと
を知らせるための呼び出しをかける。
13Afflはマイクロコントローラ62によってハロ
ゲンモニター装置10の多くの機能と処理の制御が実行
される場合のフローダイアダラムを示すものであり、一
方性の図即ち第3B図から第3F図は主制御プログラム
100から選択的に呼び出される多くのサブルーチン2
00.120.198.116及び104を示している
。
ゲンモニター装置10の多くの機能と処理の制御が実行
される場合のフローダイアダラムを示すものであり、一
方性の図即ち第3B図から第3F図は主制御プログラム
100から選択的に呼び出される多くのサブルーチン2
00.120.198.116及び104を示している
。
ここで第3A図を参照すると、マイクロコントローラ6
2は、第1の命令(instruction) 102
を実行するため入力端子がサージプロテクション及びラ
インフィルタリング回路16に印加されたことを表示す
るものとしてのH信号(a high si、gnal
)そのリセットピン4 (第2D図参照)に印加された
後主制御プログラム100に入り、それによってハロゲ
ンセンサー12はマイクロコントローラ62のセットビ
ン29によりONとされそして制御ライン25を論理値
Oとなす。これは続いてトランジスタQ2 (第2A図
参照)をOFFとしそれによって電力供給スイッチ24
のトランジスタQ1をOFFとする このようにして、電力供給部20から発生された180
Vはヒーター/アノード要素13とカソード/コレクタ
ー要素14との間に印加されハロゲンセンサー12を励
起させる。
2は、第1の命令(instruction) 102
を実行するため入力端子がサージプロテクション及びラ
インフィルタリング回路16に印加されたことを表示す
るものとしてのH信号(a high si、gnal
)そのリセットピン4 (第2D図参照)に印加された
後主制御プログラム100に入り、それによってハロゲ
ンセンサー12はマイクロコントローラ62のセットビ
ン29によりONとされそして制御ライン25を論理値
Oとなす。これは続いてトランジスタQ2 (第2A図
参照)をOFFとしそれによって電力供給スイッチ24
のトランジスタQ1をOFFとする このようにして、電力供給部20から発生された180
Vはヒーター/アノード要素13とカソード/コレクタ
ー要素14との間に印加されハロゲンセンサー12を励
起させる。
ステップ102において、光表示器88はステップ10
4がハロゲンセンサー12が検出電流線68に印加され
るような出力電流を安定化させることを許容する3分間
のウオームアツプループを実行する以前には同様にOF
Fとされている。かかる3分間ループにおいて、第3F
図により詳細に示されている検知(watch dog
)サブルーチン104が該検知回路34に周期的にスト
ローブパルスを供給し、それによってタイミング回路3
6が上記したように無効(ctefeated)にされ
それによりマイクロコントローラ62のリセットが防止
される。ステップ106に示されるように、決められた
3分間のワームアップが完了した後、ステップ108で
マイクロコントローラ620ランダムアクセスメモリー
(RAM)がアクセスされ主制御プログラム100の処
理において使用される多数のフラッグを初期化する 特にステップ108 は、プログラム100 における
他のステップの準備のために1つのフラッグ、即ちゼロ
(FO)フラッグを1にセットし、又アナログマルチプ
レクサ−72のタップ或は利得設定器を最少の利得設定
値即ち7にセットする。
4がハロゲンセンサー12が検出電流線68に印加され
るような出力電流を安定化させることを許容する3分間
のウオームアツプループを実行する以前には同様にOF
Fとされている。かかる3分間ループにおいて、第3F
図により詳細に示されている検知(watch dog
)サブルーチン104が該検知回路34に周期的にスト
ローブパルスを供給し、それによってタイミング回路3
6が上記したように無効(ctefeated)にされ
それによりマイクロコントローラ62のリセットが防止
される。ステップ106に示されるように、決められた
3分間のワームアップが完了した後、ステップ108で
マイクロコントローラ620ランダムアクセスメモリー
(RAM)がアクセスされ主制御プログラム100の処
理において使用される多数のフラッグを初期化する 特にステップ108 は、プログラム100 における
他のステップの準備のために1つのフラッグ、即ちゼロ
(FO)フラッグを1にセットし、又アナログマルチプ
レクサ−72のタップ或は利得設定器を最少の利得設定
値即ち7にセットする。
ハロゲンモニター1ftjloとそのマイクロコントロ
ーラ62がパワーアップさnるそれぞれの時開に、割引
はステップ102において主制御プログラム100 に
入るであろうそしてプログラム100 はステップ10
8において再初期化されるであろう。
ーラ62がパワーアップさnるそれぞれの時開に、割引
はステップ102において主制御プログラム100 に
入るであろうそしてプログラム100 はステップ10
8において再初期化されるであろう。
このように、プログラムがパワーアップされる毎にアナ
ログマルチプレクサ−72はその最小利得に設定される
であろう。それによって、後述するように、アナログマ
ルチプレクサ−72のタップセツティングは予め決定さ
れた出力がセ・ンサー増幅器74から得られるまで歩進
される(increment−ed)。
ログマルチプレクサ−72はその最小利得に設定される
であろう。それによって、後述するように、アナログマ
ルチプレクサ−72のタップセツティングは予め決定さ
れた出力がセ・ンサー増幅器74から得られるまで歩進
される(increment−ed)。
次にステップ110 はデイツプスイッチ64から、ス
イッチ81〜S5によりセットされている単一アドレス
をマイクロコントローラ62の内で読み出しハロゲンモ
ニター装置10がスイッチS6によってランモード或は
テストモードにセットされているか否かを決定し、そし
てスイッチS7と88により設定されるハロゲンセンサ
ー12の感度を決定するため、その入力にアクセスする
。
イッチ81〜S5によりセットされている単一アドレス
をマイクロコントローラ62の内で読み出しハロゲンモ
ニター装置10がスイッチS6によってランモード或は
テストモードにセットされているか否かを決定し、そし
てスイッチS7と88により設定されるハロゲンセンサ
ー12の感度を決定するため、その入力にアクセスする
。
以下に説明するようにハロゲンモニター装置10はハロ
ゲン漏洩の有効な表示としてハロゲンセンサー12から
の電流レベルの増加におけるある大きさの変化のみを検
出するためにその感度が調整されるようになっている。
ゲン漏洩の有効な表示としてハロゲンセンサー12から
の電流レベルの増加におけるある大きさの変化のみを検
出するためにその感度が調整されるようになっている。
2つのスイッチS7と88を使用することによりハロゲ
ンセンサー出力の変化の大きさ或は感度についての4つ
の異なるレベルをセットすることが出来る。もしステッ
プ112が、ハロゲンモニター装置10が通常装置10
を取り付けた時或はハロゲンセンサー12の再較正の時
に発生するであろうテストモードにあることを決定する
と、プログラム100 はステップ162から174の
シーフェンスに移動し、デルタフラッグを1に設定する
。デルタフラッグは以下に詳細に説明するが、ゼロ化回
路(zeroing circuit)サブルーチン1
98の呼出しを可能とするためセットされ、それによっ
て自動ゼロ化回路78と特にそのEEPOT80が初期
化される。即ちハロゲンセンサー12により検知された
残留の或は定常状態のハロゲンのバックグランドレベル
が格納される。
ンセンサー出力の変化の大きさ或は感度についての4つ
の異なるレベルをセットすることが出来る。もしステッ
プ112が、ハロゲンモニター装置10が通常装置10
を取り付けた時或はハロゲンセンサー12の再較正の時
に発生するであろうテストモードにあることを決定する
と、プログラム100 はステップ162から174の
シーフェンスに移動し、デルタフラッグを1に設定する
。デルタフラッグは以下に詳細に説明するが、ゼロ化回
路(zeroing circuit)サブルーチン1
98の呼出しを可能とするためセットされ、それによっ
て自動ゼロ化回路78と特にそのEEPOT80が初期
化される。即ちハロゲンセンサー12により検知された
残留の或は定常状態のハロゲンのバックグランドレベル
が格納される。
デルタテストフラッグは主制御プログラムによってデイ
ツプスイッチ64のラン/テストスイッチ6がテスト位
置からランの位置に変化されそしてプログラム100が
その中で作動している時にゼロ化回路サブルーチン19
8がεEPOT80を初期化するため単一の時間(a
single time)だけ呼び出される(call
ed)ことを保証するために使用される。
ツプスイッチ64のラン/テストスイッチ6がテスト位
置からランの位置に変化されそしてプログラム100が
その中で作動している時にゼロ化回路サブルーチン19
8がεEPOT80を初期化するため単一の時間(a
single time)だけ呼び出される(call
ed)ことを保証するために使用される。
ステップ162において、デルタテストフラッグは以前
のステップ166における実行により発生したように予
めセットされているか否か表示するためにテストされる
。
のステップ166における実行により発生したように予
めセットされているか否か表示するためにテストされる
。
もしデルタテストフラッグが1にセットされていた場合
には、プログラム100はステップ114に戻る。もし
装置10がテストモードにある時でそれが発生するよう
にセットされておらず又それが主制御プログラム100
の最初の実行である場合、ステップ166 はデルタフ
ラッグを1にセットし、又ステップ168は0の状態信
号をEEPOT80のピン1及び2印加する。次にステ
ップ170はEEPOTG80の出力ワイパーアームV
Wビン5をゼロ化回路サブルーチン198の準備のため
に最小位置VLに移動させる。
には、プログラム100はステップ114に戻る。もし
装置10がテストモードにある時でそれが発生するよう
にセットされておらず又それが主制御プログラム100
の最初の実行である場合、ステップ166 はデルタフ
ラッグを1にセットし、又ステップ168は0の状態信
号をEEPOT80のピン1及び2印加する。次にステ
ップ170はEEPOTG80の出力ワイパーアームV
Wビン5をゼロ化回路サブルーチン198の準備のため
に最小位置VLに移動させる。
その後、主制御プログラム100はステップ114に戻
りそしてステップ162から174が再実行されること
なくその場合にはデルタフラッグは1にセットされる。
りそしてステップ162から174が再実行されること
なくその場合にはデルタフラッグは1にセットされる。
次にステップ114は、チャネル選択レジスターD1と
D2をA/D変換器内で全ての4個の人力チャネルを変
換するためにセットし、モしてA/Dサブルーチン11
6が次のアナログ人力信号を対応するデジタル信号に変
換するため呼び出される(called)即ち、1)A
Oビン10に入力される増幅センサー信号2)抵抗R5
とR34との交叉点からAtピン11に入力される18
0Vの電力供給信号の比例部分(a 5caled p
ortion)。
D2をA/D変換器内で全ての4個の人力チャネルを変
換するためにセットし、モしてA/Dサブルーチン11
6が次のアナログ人力信号を対応するデジタル信号に変
換するため呼び出される(called)即ち、1)A
Oビン10に入力される増幅センサー信号2)抵抗R5
とR34との交叉点からAtピン11に入力される18
0Vの電力供給信号の比例部分(a 5caled p
ortion)。
3)電力供給部20の抵抗R16とR17との交叉点か
らA2ピン12に印加される5V電電力骨の比例部分。
らA2ピン12に印加される5V電電力骨の比例部分。
及び
4)要素CRIOとVR3の交叉点からA3ピン13に
印加される整流された+12V或は−15V信号。
印加される整流された+12V或は−15V信号。
次でステップ118において、ヒーター電流A/D変換
器により出力されたパルスはカウントされるためにマイ
クロコントローラ62のPLOピン27に印加される。
器により出力されたパルスはカウントされるためにマイ
クロコントローラ62のPLOピン27に印加される。
これ等のパルスの周波数はヒーター/アノード要素13
を通して流れる電流の大きさに比例している。
を通して流れる電流の大きさに比例している。
次に、連続する人力/出力(Ilo)サブルーチン12
0は、第3C図においてより詳しく説明されるが、もし
主コントローラがマイクロコントローラ62のRAMに
おいて格納されている状況記録(status reg
ister)を受は入れるか或は修正するかを要求して
いる時に呼び出される。
0は、第3C図においてより詳しく説明されるが、もし
主コントローラがマイクロコントローラ62のRAMに
おいて格納されている状況記録(status reg
ister)を受は入れるか或は修正するかを要求して
いる時に呼び出される。
次にステップ122において、フラッグがゼロ(FO)
のフラッグがセンサー増幅器74を自動利得膜回路70
が初期化されているかどうかをみるためテストされる。
のフラッグがセンサー増幅器74を自動利得膜回路70
が初期化されているかどうかをみるためテストされる。
もしFOフラッグが依然としてセラ)(FOフラッグ=
1)され、電力供給部20′の最も新しい励起後も初期
化されていないことを表示しているならば、主制御プロ
グラム100はステップ124へ移動する。
1)され、電力供給部20′の最も新しい励起後も初期
化されていないことを表示しているならば、主制御プロ
グラム100はステップ124へ移動する。
前に実行されたステップ108において、アナログマル
チプレクサ−72のタップ7が初期化され即ちセットさ
れ、それ故演算増幅器76aの利得が最初に最小値にセ
ットされる。ここでステップ124はA/D変換器54
の出力を検査しオーバーフローしているかどうか即ち最
大入力レベルである2、5Vより大であるかどうかを判
断する。テストされるべき容器が実質的にハロゲンガス
が存在しないという多くの場合には、主制御プログラム
100は、その最小のタップ7から最大の利得を示す0
タツプがセットされるまでステップ126が実行される
毎にアナログマルチプレクサ−72の利得をセットする
ために1タツプづつ増加するよう処理するであろう。
チプレクサ−72のタップ7が初期化され即ちセットさ
れ、それ故演算増幅器76aの利得が最初に最小値にセ
ットされる。ここでステップ124はA/D変換器54
の出力を検査しオーバーフローしているかどうか即ち最
大入力レベルである2、5Vより大であるかどうかを判
断する。テストされるべき容器が実質的にハロゲンガス
が存在しないという多くの場合には、主制御プログラム
100は、その最小のタップ7から最大の利得を示す0
タツプがセットされるまでステップ126が実行される
毎にアナログマルチプレクサ−72の利得をセットする
ために1タツプづつ増加するよう処理するであろう。
ステップ124はA/D変換器54がオーバーフローさ
れているかどうかのテストを継続しもしそうでなければ
、ステップ126が電圧比較器76aの利得をタップセ
ットを、例えばアナログマルチプレクサ−72を次の低
いタップ数に移動させることによって、減少させること
により歩進させる。
れているかどうかのテストを継続しもしそうでなければ
、ステップ126が電圧比較器76aの利得をタップセ
ットを、例えばアナログマルチプレクサ−72を次の低
いタップ数に移動させることによって、減少させること
により歩進させる。
その後、ステップ128はアナログマルチプレクサ−7
2が最大利得即ち0タツプにセットされているか否かを
決定し、もしそうでなければ、ステップ138はマイク
ロコントローラ62のRAMの内の指定された場所に新
しいタップ値の表示例えばタップ6を格納する。
2が最大利得即ち0タツプにセットされているか否かを
決定し、もしそうでなければ、ステップ138はマイク
ロコントローラ62のRAMの内の指定された場所に新
しいタップ値の表示例えばタップ6を格納する。
次にステップ140 はアナログマルチフレフサ−72
のセツティングをスイッチして新しいより高いタイプセ
ツティングにする。ステップ142はステップ144が
ハロゲンセンサー12の出力の“現在”値をとり上げそ
してそれをステップ110にプログラムが戻る前に“古
い値”として知られているマイクロコントローラのRA
Mに格納位置に格納する前に新しいタイプ出力が設定さ
れるまで11マイクロセコンド(msec)の待ち時間
(waitper iod )を開始させる。
のセツティングをスイッチして新しいより高いタイプセ
ツティングにする。ステップ142はステップ144が
ハロゲンセンサー12の出力の“現在”値をとり上げそ
してそれをステップ110にプログラムが戻る前に“古
い値”として知られているマイクロコントローラのRA
Mに格納位置に格納する前に新しいタイプ出力が設定さ
れるまで11マイクロセコンド(msec)の待ち時間
(waitper iod )を開始させる。
この形において制御プログラム100はステップ126
を介してステップ124においてテストされるA/D変
換器54がオーバーフローするか或はアナログマルチプ
レクサ−72がステップ128で決定される最大の利得
に対応した最小タップ0にセットされるかのいづれかま
でそのループをくり返す。
を介してステップ124においてテストされるA/D変
換器54がオーバーフローするか或はアナログマルチプ
レクサ−72がステップ128で決定される最大の利得
に対応した最小タップ0にセットされるかのいづれかま
でそのループをくり返す。
この場合、ステップ130は最大利得に対する或はハロ
ゲンモニター装置10の最大感度に対する0タツプをセ
ットするためアナログマルチプレクサ−72を励起する
。次に、ステップ132は、アナログマルチプレクサ−
72がその0タツプにあることを示す情報をマイクロコ
ントローラーノRAMの“元のタップ” (origi
nal tap)位置に格納する。次で以前にステップ
116において、A/D変換器54に読み込まれたハロ
ゲンセンサー12の出力或は“現在”の値は、ステップ
136がFOフラッグを0にリセットし、アナログマル
チプレクサ−72が初期化されたことを表示する以前に
マイクロコントローラーのRAMの“元の値″のレジス
ターに記録される。
ゲンモニター装置10の最大感度に対する0タツプをセ
ットするためアナログマルチプレクサ−72を励起する
。次に、ステップ132は、アナログマルチプレクサ−
72がその0タツプにあることを示す情報をマイクロコ
ントローラーノRAMの“元のタップ” (origi
nal tap)位置に格納する。次で以前にステップ
116において、A/D変換器54に読み込まれたハロ
ゲンセンサー12の出力或は“現在”の値は、ステップ
136がFOフラッグを0にリセットし、アナログマル
チプレクサ−72が初期化されたことを表示する以前に
マイクロコントローラーのRAMの“元の値″のレジス
ターに記録される。
このようにして、主制御プログラム100がパワーアッ
プされ、又ステップ108がフラッグを初期化される毎
に、特にはFOフラッグを1にセットし、そしてアナロ
グマルチプレクサ−72のタップ利得を最小利得値或は
タップ値7におく毎に、そのプログラム100はステッ
プ126を介して通常ループし、それによってアナログ
マルチプレクサ−72のタップはセンサー増幅器74の
最大利得に対する最小位置0になるよう歩進的にセット
されるであろう。
プされ、又ステップ108がフラッグを初期化される毎
に、特にはFOフラッグを1にセットし、そしてアナロ
グマルチプレクサ−72のタップ利得を最小利得値或は
タップ値7におく毎に、そのプログラム100はステッ
プ126を介して通常ループし、それによってアナログ
マルチプレクサ−72のタップはセンサー増幅器74の
最大利得に対する最小位置0になるよう歩進的にセット
されるであろう。
タップのセツティングがこのように初期化された後に、
ステップ136はFOフラッグを0にリセットする。
ステップ136はFOフラッグを0にリセットする。
アナログマルチプレクサ−72がそのように初期化され
、そしてFDフラッグが0にリセットされた後に、主制
御プログラム100は再びステップ124には入らず後
述するようにむしろステップ176に向けられるであろ
う。
、そしてFDフラッグが0にリセットされた後に、主制
御プログラム100は再びステップ124には入らず後
述するようにむしろステップ176に向けられるであろ
う。
もしFOフラッグがリセットされておらず、又初期的に
容器の内に幾らかのハロゲン濃度のレベルが存在してい
るならば、アナログマルチプレクサ−72のタップは0
にはリセットされることはないであろう。しかしステッ
プ124において検出されるようなオーバーフローをA
/D変換器54に生じさせるような1から7の特定のタ
ップセツティングにセットされるであろう。
容器の内に幾らかのハロゲン濃度のレベルが存在してい
るならば、アナログマルチプレクサ−72のタップは0
にはリセットされることはないであろう。しかしステッ
プ124において検出されるようなオーバーフローをA
/D変換器54に生じさせるような1から7の特定のタ
ップセツティングにセットされるであろう。
もしA/D変換器がオーバーフローしたら、主制御プロ
グラム100はステップ146に移り、そこではA/D
変換器54をオーバーフローさせた利得セツティングか
ら利得を減少させるためタップセツティングを1つづつ
歩進させる。
グラム100はステップ146に移り、そこではA/D
変換器54をオーバーフローさせた利得セツティングか
ら利得を減少させるためタップセツティングを1つづつ
歩進させる。
もしアナログマルチプレクサ−72のタップセツティン
グがその最少セツティングの7であり、又A/D変換器
54はステップ148において決定されるようにオーバ
ーフローされている場合、これは漏洩の表示であり、ハ
ロゲンの濃度が装置10の最小感度を越えているもので
あり、そして主制御フログラム100は第3B図につい
て説明するようにプログラムの漏洩制御部200に移る
。
グがその最少セツティングの7であり、又A/D変換器
54はステップ148において決定されるようにオーバ
ーフローされている場合、これは漏洩の表示であり、ハ
ロゲンの濃度が装置10の最小感度を越えているもので
あり、そして主制御フログラム100は第3B図につい
て説明するようにプログラムの漏洩制御部200に移る
。
然しなから、もしタップセツティングが7以下であれば
、ステップ150はこのタップセツティングをマイクロ
コントローラのRAMの“現在”値の位置にセットし又
タップセツティングの“元”の値を0にセットするであ
ろう。
、ステップ150はこのタップセツティングをマイクロ
コントローラのRAMの“現在”値の位置にセットし又
タップセツティングの“元”の値を0にセットするであ
ろう。
主制御プログラム100についての別の説明から明らか
なように、アナログマルチプレクサ−72のタップセツ
ティングの各々における“現在”と“元”の値のみなら
ずハロゲンセンサー出力における“現在”と“元”の値
はマイクロコントローラーのRAM内における対応する
位置に格納され、ハロゲン漏洩の表示となるであろうハ
ロゲン混合物の濃度の増加の判断を可能とする。
なように、アナログマルチプレクサ−72のタップセツ
ティングの各々における“現在”と“元”の値のみなら
ずハロゲンセンサー出力における“現在”と“元”の値
はマイクロコントローラーのRAM内における対応する
位置に格納され、ハロゲン漏洩の表示となるであろうハ
ロゲン混合物の濃度の増加の判断を可能とする。
次に、ステップ152 は、ステップ154がセツティ
ング変更が完成されるまで遅延或は待機期間を発生する
以前に、アナログマルチプレクサ−72のタップセツテ
ィングの次のより低い利得セツティングにかえることを
実行する。次でステップ156は、ステップ158が装
置10がテストモード或はランモードで作動しているか
どうかを判断する前に、センサー出力の“古の値”をマ
イクロコンローラRAMの“元の値”の位置にロード(
load)する。
ング変更が完成されるまで遅延或は待機期間を発生する
以前に、アナログマルチプレクサ−72のタップセツテ
ィングの次のより低い利得セツティングにかえることを
実行する。次でステップ156は、ステップ158が装
置10がテストモード或はランモードで作動しているか
どうかを判断する前に、センサー出力の“古の値”をマ
イクロコンローラRAMの“元の値”の位置にロード(
load)する。
もしテストモードである場合には、ステップ160にお
けるタップの“現在”値が“元の値”に移行される。
けるタップの“現在”値が“元の値”に移行される。
このように、もし装置10がテストモードで作動してい
るならば、ステップ150において得られるタップセツ
ティングは、ハロゲンガスの量的なレベル、或ハ非セロ
化バックグランドレベル(non−zeroed ba
ckground 1evel)を表示するものである
が、マイクロコントローラーのRAMの“元の値”の位
置に保存されそれによって後述するようにゼロ化回路サ
ブルーチン198において取られ、BIEPOT80に
格納されているタップセツティングの“元の値”は現在
のハロゲンのレベルに関する相対的漏洩検出を得るため
には無視されるであろう。
るならば、ステップ150において得られるタップセツ
ティングは、ハロゲンガスの量的なレベル、或ハ非セロ
化バックグランドレベル(non−zeroed ba
ckground 1evel)を表示するものである
が、マイクロコントローラーのRAMの“元の値”の位
置に保存されそれによって後述するようにゼロ化回路サ
ブルーチン198において取られ、BIEPOT80に
格納されているタップセツティングの“元の値”は現在
のハロゲンのレベルに関する相対的漏洩検出を得るため
には無視されるであろう。
もし、ランモードであれば、主制御プログラム100は
、アナログマルチプレクサ−72が初期化されたことを
表示するFOフラッグをリセットするステップ146に
直接移行する。
、アナログマルチプレクサ−72が初期化されたことを
表示するFOフラッグをリセットするステップ146に
直接移行する。
このように、もしプログラムが通常生ずるであろうラン
モードにあるならば通常は0となっているタップセツテ
ィングの“元の値”、即ちセンサー増幅器74の最大利
得に対応するが、はマイクロコントローラのRAMの“
元の値”にセットされそれによって主制御プログラム1
00の他の実行において、センサー出力の現在値の読み
取りはセンサー出力についての当初に取ったバックグラ
ンドレベルに関して補正される。
モードにあるならば通常は0となっているタップセツテ
ィングの“元の値”、即ちセンサー増幅器74の最大利
得に対応するが、はマイクロコントローラのRAMの“
元の値”にセットされそれによって主制御プログラム1
00の他の実行において、センサー出力の現在値の読み
取りはセンサー出力についての当初に取ったバックグラ
ンドレベルに関して補正される。
ステップ136或は146のいづれかにおいてFOフラ
ッグが0にリセットされた後の主制御プログラム100
の次のループにおいてステップ122はプログラム10
0をA/D変換器54の出力がオーバーフローしたかど
うかを決定するステップ176に向わせる。
ッグが0にリセットされた後の主制御プログラム100
の次のループにおいてステップ122はプログラム10
0をA/D変換器54の出力がオーバーフローしたかど
うかを決定するステップ176に向わせる。
もしオーバーフローの状態でステップ189がアナログ
マルチプレクサ−72のタップセッティングがその最大
セツティングの7であるかどうかを判断し、そしてもし
そうであれば主制御プログラム100は漏洩の表示を出
し、又プログラム100は後述するように漏洩制御20
0に移行する。もしタップセツティングが7でなければ
、ステップ190はタップを1位置分だけ増加させ又、
従ってセンサー増幅器74の利得を減少させる。ステッ
プ191はタップを次の高い方のセツティングへ変える
ことを実行し又ステップ192 はプログラム100が
ステップ110 に戻る前にセツティングが完成される
のを許容する遅延を実行する。一方、もしA/D変換器
54がFOフラッグがリセットされた後にオーバーフロ
ーしない場合、主制御プログラム100はそこで、アナ
ログマルチプレクサ−72のタップセツティングに関す
る現在の値と元の値との変化とハロゲンセンサー12の
出力信号とを多数比較することによってハロゲン漏洩が
あったかどうかを決定する。
マルチプレクサ−72のタップセッティングがその最大
セツティングの7であるかどうかを判断し、そしてもし
そうであれば主制御プログラム100は漏洩の表示を出
し、又プログラム100は後述するように漏洩制御20
0に移行する。もしタップセツティングが7でなければ
、ステップ190はタップを1位置分だけ増加させ又、
従ってセンサー増幅器74の利得を減少させる。ステッ
プ191はタップを次の高い方のセツティングへ変える
ことを実行し又ステップ192 はプログラム100が
ステップ110 に戻る前にセツティングが完成される
のを許容する遅延を実行する。一方、もしA/D変換器
54がFOフラッグがリセットされた後にオーバーフロ
ーしない場合、主制御プログラム100はそこで、アナ
ログマルチプレクサ−72のタップセツティングに関す
る現在の値と元の値との変化とハロゲンセンサー12の
出力信号とを多数比較することによってハロゲン漏洩が
あったかどうかを決定する。
本発明における重要な態様においては、ハロゲンモニタ
ー装置10は容器内におけるハロゲン混合物に対する選
択的に異る感度が可能であるということであり、換言す
れば、特定の容器におけるハロゲン混合体の濃度のより
小さな、或はより大きな変化はハロゲン漏洩を表示する
装置10のために選択的にセットされることが出来る。
ー装置10は容器内におけるハロゲン混合物に対する選
択的に異る感度が可能であるということであり、換言す
れば、特定の容器におけるハロゲン混合体の濃度のより
小さな、或はより大きな変化はハロゲン漏洩を表示する
装置10のために選択的にセットされることが出来る。
この目的のために、デイツプスイッチ64の感度スイッ
チ7と8がタップ位置1.3.5又は7による元のアナ
ログマルチプレクサ−72のタップ位置からの変化或は
“加算”(adder)に対応する全ての4個の異なる
組合せに多岐的(variously)にセットされて
もよい。
チ7と8がタップ位置1.3.5又は7による元のアナ
ログマルチプレクサ−72のタップ位置からの変化或は
“加算”(adder)に対応する全ての4個の異なる
組合せに多岐的(variously)にセットされて
もよい。
ステップ178において、第1には、“現在”(cur
rent)タップ位置がその元の値とデイツプスイッチ
64によりエンターされた上述の感度“加算”(add
er)とを加えたものとを比較しそしてもしそれが元の
タップ位置と感度“加算”を加えたものより大きいか等
しい時には、ステップ180はタップセツティングの“
現在”値が大きいことを表示するように現在値がタップ
セツティングの元の値と感度加算を加えたものと等しく
ないかどうかを判断する。
rent)タップ位置がその元の値とデイツプスイッチ
64によりエンターされた上述の感度“加算”(add
er)とを加えたものとを比較しそしてもしそれが元の
タップ位置と感度“加算”を加えたものより大きいか等
しい時には、ステップ180はタップセツティングの“
現在”値が大きいことを表示するように現在値がタップ
セツティングの元の値と感度加算を加えたものと等しく
ないかどうかを判断する。
もし大きければ主制御プログラム100は漏洩の表示を
行いそして位置200における漏洩制御に移行する。こ
れと反対にもしタップセツティングの現在の値がタップ
セツティングの元の値に感度加算を加えたものと等しい
時には、ステップ182はハロゲンセンサー出力の現在
値がハロゲンセンサー出力の元の値よりも大きいかどう
かの別のテストを実行し、もしそうであれば主制御プロ
グラム100は漏洩の表示を出しそして又、漏洩制御位
置200へ移行する。
行いそして位置200における漏洩制御に移行する。こ
れと反対にもしタップセツティングの現在の値がタップ
セツティングの元の値に感度加算を加えたものと等しい
時には、ステップ182はハロゲンセンサー出力の現在
値がハロゲンセンサー出力の元の値よりも大きいかどう
かの別のテストを実行し、もしそうであれば主制御プロ
グラム100は漏洩の表示を出しそして又、漏洩制御位
置200へ移行する。
再びステップ178に戻って、もし現在値がタップセツ
ティングの元の値に感度加算を加えたものより大きくな
い時には、主制御プログラム100はA/D変換器54
の出力がその全スケールの4分の1以下であるかどうか
を決定するためにステップ194に移行しそしてもしそ
うでないか或は大きい場合には“待機レジスター”(w
ait register)WO及びWl内の現在値が
ステップ184において1だけ減少され最小の0まで行
く。
ティングの元の値に感度加算を加えたものより大きくな
い時には、主制御プログラム100はA/D変換器54
の出力がその全スケールの4分の1以下であるかどうか
を決定するためにステップ194に移行しそしてもしそ
うでないか或は大きい場合には“待機レジスター”(w
ait register)WO及びWl内の現在値が
ステップ184において1だけ減少され最小の0まで行
く。
“待機レジスター”は漏洩表示が出たこと及び待機期間
が消滅したことを示すために使用される。
が消滅したことを示すために使用される。
又ハロゲンセンサー装置10は3つの連続するハロゲン
漏洩表示と待機期間が有効なハロゲン漏洩とその警告信
号が提供される以前に生することを要求している点に言
及でおく。
漏洩表示と待機期間が有効なハロゲン漏洩とその警告信
号が提供される以前に生することを要求している点に言
及でおく。
一方もしA/D変換器54の出力がフルスケールの4分
の1より少い時には、ステップ196はステップ184
にもどる前にセンサー増幅器74に最大の感度を与える
ためその利得を1タツプだけ減少させる。次にステップ
186は主制御プログラム100がランモードにおいて
作動しているか否かを判断するためにデイツプスイッチ
64をテストしそしてもしまだテストモードにある場合
には、主制御プログラム100をステップ110に戻す
。一方、もしランモードにあれば、ステップ188はデ
ルタテストフラッグがオペレーターが丁度デイツプスイ
ッチ64のラン/テストスイッチ6をテストモードから
ランモードヘセットしたことを表示する、1にセットさ
れたかどうかをテストし、もしセットされていれば第3
D図に関して別に説明するようにゼロ化回路サブルーチ
ン198が呼び出される。
の1より少い時には、ステップ196はステップ184
にもどる前にセンサー増幅器74に最大の感度を与える
ためその利得を1タツプだけ減少させる。次にステップ
186は主制御プログラム100がランモードにおいて
作動しているか否かを判断するためにデイツプスイッチ
64をテストしそしてもしまだテストモードにある場合
には、主制御プログラム100をステップ110に戻す
。一方、もしランモードにあれば、ステップ188はデ
ルタテストフラッグがオペレーターが丁度デイツプスイ
ッチ64のラン/テストスイッチ6をテストモードから
ランモードヘセットしたことを表示する、1にセットさ
れたかどうかをテストし、もしセットされていれば第3
D図に関して別に説明するようにゼロ化回路サブルーチ
ン198が呼び出される。
後に説明するように、ゼロ化回路サブルーチン198は
EBPOT80をして容器内のハロゲンのバックグラン
ドレベルをキャンセルアウト(cancel out)
する初期の定常状態信号を出力せしめ又不揮発性メモリ
ーにおけるワイパーアームの位置を示す信号を格納する
。ワイパーアーム(wiper arm)の格納された
値は演算増幅器82の反転入力に印加され、その演算増
幅器はBE!POT80かその電圧を反転させ又2倍し
、そしてその信号を電圧比較器76aの反転入力に印加
する。後に説明するように、ゼロ化サブルーチン198
はデルタテストフラッグを0にリセットし、それによっ
てハロゲンセンサー12のバックグランドレベルは単に
装置の取りつけ時(at 1nstallation
time)にのみ計算され、初期にEBPOT80の不
揮発性メモリーにストアーされそしてハロゲンセンサー
12が置換えられるか及び/又はハロゲンモニター装置
10が再びオペレーターによって再較正されるまでリセ
ットされることはない。
EBPOT80をして容器内のハロゲンのバックグラン
ドレベルをキャンセルアウト(cancel out)
する初期の定常状態信号を出力せしめ又不揮発性メモリ
ーにおけるワイパーアームの位置を示す信号を格納する
。ワイパーアーム(wiper arm)の格納された
値は演算増幅器82の反転入力に印加され、その演算増
幅器はBE!POT80かその電圧を反転させ又2倍し
、そしてその信号を電圧比較器76aの反転入力に印加
する。後に説明するように、ゼロ化サブルーチン198
はデルタテストフラッグを0にリセットし、それによっ
てハロゲンセンサー12のバックグランドレベルは単に
装置の取りつけ時(at 1nstallation
time)にのみ計算され、初期にEBPOT80の不
揮発性メモリーにストアーされそしてハロゲンセンサー
12が置換えられるか及び/又はハロゲンモニター装置
10が再びオペレーターによって再較正されるまでリセ
ットされることはない。
このように、主制御プログラム100 と特にそのステ
ップ176から196は以下の条件の下でハロゲンの漏
洩の表示を行うために作用する。
ップ176から196は以下の条件の下でハロゲンの漏
洩の表示を行うために作用する。
1)アナログマルチプレクサ−72のタップ位置の現在
値がタップ位置の元の値に、デイツプスイッチ64のス
イッチ7と8に入った(er+tered)時の感度加
算(sensitivity adder)を加えたも
のより大きい時、 2)タップ位置の現在値がタップ位置の元の値に感度加
算を加えたものと等しく又ハロゲンセンサーの出力の現
在値が元の値を越える時、(3)A/D変換器54の出
力がオーバーフローしそしてアナログマルチプレクサ−
72の利得タップが最小利得位置7にセットされている
時、ここで第3B図を参照すると、漏れ制御の配置(ロ
ケーション)200が詳しく示されている。ロケーショ
ン200はハロゲンセンサー12の出力における予め定
められた変化が上記に説明された基準に従って検出され
た時に入る。
値がタップ位置の元の値に、デイツプスイッチ64のス
イッチ7と8に入った(er+tered)時の感度加
算(sensitivity adder)を加えたも
のより大きい時、 2)タップ位置の現在値がタップ位置の元の値に感度加
算を加えたものと等しく又ハロゲンセンサーの出力の現
在値が元の値を越える時、(3)A/D変換器54の出
力がオーバーフローしそしてアナログマルチプレクサ−
72の利得タップが最小利得位置7にセットされている
時、ここで第3B図を参照すると、漏れ制御の配置(ロ
ケーション)200が詳しく示されている。ロケーショ
ン200はハロゲンセンサー12の出力における予め定
められた変化が上記に説明された基準に従って検出され
た時に入る。
漏れ制御ロケーション(location) 200は
、そのような漏洩の表示(又は漏洩のない表示)である
変化が有効なものか擬似のもの(spurious)で
あるかを照合する。
、そのような漏洩の表示(又は漏洩のない表示)である
変化が有効なものか擬似のもの(spurious)で
あるかを照合する。
本発明の重要な態様においては、漏洩の変化がそれほど
出て来た場合にはステップ202は、ハロゲンセンサー
12のコレクター/カソード要素14とヒーター/アノ
ード要素13との間に印加された180vの電圧を、マ
イクロコントローラ62のP12ビン29を制御ライン
25によってトランジスタQ2、アイソレーター26及
び従ってトランジスタQ1をONとするために印加され
る論理H(logic high)にセットすることに
よって除去し、それによって、2次コイル18Cの出力
に亘って印加された180Vの電圧はショートアウト(
shorted out)され又ハロゲンセンサー12
は実質的に非励起の状態となる。その結果として、コレ
クター/カソード要素14はもはやもしそうでなければ
ハロゲンセンサー12の寿命を著しく短(するであろう
電流を集めることはない。
出て来た場合にはステップ202は、ハロゲンセンサー
12のコレクター/カソード要素14とヒーター/アノ
ード要素13との間に印加された180vの電圧を、マ
イクロコントローラ62のP12ビン29を制御ライン
25によってトランジスタQ2、アイソレーター26及
び従ってトランジスタQ1をONとするために印加され
る論理H(logic high)にセットすることに
よって除去し、それによって、2次コイル18Cの出力
に亘って印加された180Vの電圧はショートアウト(
shorted out)され又ハロゲンセンサー12
は実質的に非励起の状態となる。その結果として、コレ
クター/カソード要素14はもはやもしそうでなければ
ハロゲンセンサー12の寿命を著しく短(するであろう
電流を集めることはない。
次にステップ204は、デイツプスイッチ64のスイッ
チ6はどこの位置にあるかそしてかようにしてハロゲン
モニター装置10はテストモード或はランモードにある
か否かを決定するためにデイツプスイッチ64を読み出
す。もしランモードであれば、プログラムはステップ2
06に移行しそこではマイクロコントローラRAM内に
おける待機レジスターWQとWlにより形成されている
カウンターを1だけ歩進させる。
チ6はどこの位置にあるかそしてかようにしてハロゲン
モニター装置10はテストモード或はランモードにある
か否かを決定するためにデイツプスイッチ64を読み出
す。もしランモードであれば、プログラムはステップ2
06に移行しそこではマイクロコントローラRAM内に
おける待機レジスターWQとWlにより形成されている
カウンターを1だけ歩進させる。
ランモードにある時にロケーション200において漏洩
が確認される毎にこの待機カウンターは1づつ歩進され
る。次に、ステップ208は待機カウンターが、擬似的
或は不確実な表示に対抗するものとして照合された漏洩
として評価するものとして、3回歩進させられたかどう
かをテストする。
が確認される毎にこの待機カウンターは1づつ歩進され
る。次に、ステップ208は待機カウンターが、擬似的
或は不確実な表示に対抗するものとして照合された漏洩
として評価するものとして、3回歩進させられたかどう
かをテストする。
もし、待機カウンターが3回歩進されていない時にはプ
ログラムはステップ210に移行し、ハロゲンモニター
装置10が有効なハロゲン漏洩が発生したかどうかをテ
ストする工程にあることを通知する主制御に移行せしめ
られることが利用となるであろう漏洩待機モードフラッ
グ(leak waitmode flag)をセット
する この点において結局5分のタイミング期間が発生する。
ログラムはステップ210に移行し、ハロゲンモニター
装置10が有効なハロゲン漏洩が発生したかどうかをテ
ストする工程にあることを通知する主制御に移行せしめ
られることが利用となるであろう漏洩待機モードフラッ
グ(leak waitmode flag)をセット
する この点において結局5分のタイミング期間が発生する。
最初はステップ212において、3分間の待機期間が開
始されその間は連続したI10サブルーチン120が、
このハロゲンモニター装置10と中央に配置された主制
御器との間の通信を可能とするために呼び出されそして
第3F図に示される監視(watch dog)サブル
ーチン104が該監視回路34を連続的にリセット或は
リフレッシュするために呼び出されそれによってマイク
ロコントローラ62はリセットされることはない。
始されその間は連続したI10サブルーチン120が、
このハロゲンモニター装置10と中央に配置された主制
御器との間の通信を可能とするために呼び出されそして
第3F図に示される監視(watch dog)サブル
ーチン104が該監視回路34を連続的にリセット或は
リフレッシュするために呼び出されそれによってマイク
ロコントローラ62はリセットされることはない。
この3分間の期間の終りにおいて、ステップ214はマ
イクロコントローラ62のP12ビン29をH(go
high)とすることを可能とすることによってトラン
ジスターQ1をOFFとしそれによって、ハロゲンセン
サー12は、ハロゲンセンサー120次のA/Dサンプ
ルをとる前にその操作安定させる(settle)こと
を可能とする2分間のウオームアツプ期間に戻すことに
なる。
イクロコントローラ62のP12ビン29をH(go
high)とすることを可能とすることによってトラン
ジスターQ1をOFFとしそれによって、ハロゲンセン
サー12は、ハロゲンセンサー120次のA/Dサンプ
ルをとる前にその操作安定させる(settle)こと
を可能とする2分間のウオームアツプ期間に戻すことに
なる。
更にステップ216は連続するI10サブルーチン12
0と監視サブルーチン104を呼び出す。
0と監視サブルーチン104を呼び出す。
2分間のウオームアツプ期間がすぎると、ステップ21
8待機期間が過ぎたことを示す漏れ待機モードフラッグ
をリセットし、プログラムは主制御プログラム100の
ステップ110 に戻る。
8待機期間が過ぎたことを示す漏れ待機モードフラッグ
をリセットし、プログラムは主制御プログラム100の
ステップ110 に戻る。
もしステップ208が待機カウンターWOとWlをテス
トして3個の漏洩検出と対応する待機時間が発生したと
決定するならば、容器内のハロゲン漏洩についての有効
な指示が存在し、そしてプログラムはステップ220に
移行する。そこでは待機カウンターレジスターWOとW
lをゼロにクリヤーする。
トして3個の漏洩検出と対応する待機時間が発生したと
決定するならば、容器内のハロゲン漏洩についての有効
な指示が存在し、そしてプログラムはステップ220に
移行する。そこでは待機カウンターレジスターWOとW
lをゼロにクリヤーする。
ステップ220の後で或はもしステップ204がハロゲ
ンモニタ装置10がテストモードにおいて作動可能であ
ると決定するならばプログラムはステップ222 に移
行し、そこでステップ224がタップセツティングを7
にセットする以前にアナログマルチプレクサ−72のタ
ップを最小利得セツティングの7にセットする。
ンモニタ装置10がテストモードにおいて作動可能であ
ると決定するならばプログラムはステップ222 に移
行し、そこでステップ224がタップセツティングを7
にセットする以前にアナログマルチプレクサ−72のタ
ップを最小利得セツティングの7にセットする。
次にステップ226はハロゲンモニター装置10がハロ
ゲンの漏洩を検出せず3つの待機期間を処理しているこ
とを示す漏洩待機モードフラッグをリセットする。
ゲンの漏洩を検出せず3つの待機期間を処理しているこ
とを示す漏洩待機モードフラッグをリセットする。
次にステップ228は漏洩が検出され、ステップ208
において決定されたように効果のあるものとされたこと
を示す漏洩検知フラッグをセットし又更にマイクロコン
トローラ62のP23ピン24上に、有効な漏洩の検出
についての外部警告を可能とするために、1つの論理を
置くことによってFBT012を励起させる。
において決定されたように効果のあるものとされたこと
を示す漏洩検知フラッグをセットし又更にマイクロコン
トローラ62のP23ピン24上に、有効な漏洩の検出
についての外部警告を可能とするために、1つの論理を
置くことによってFBT012を励起させる。
漏洩制御サブルーチン200は今やステップ230から
236を通してのループに入っている。
236を通してのループに入っている。
ステップ230は連続するI10サブルーチン120が
遠隔地のハロゲンモニター装置10と中央に配備された
主制御器との間の通信を可能とするため呼び出される以
前に有効なハロゲン漏洩が決定されたということを視覚
的に表示を行うためにライト指示器88を点滅させるた
めに励起する。
遠隔地のハロゲンモニター装置10と中央に配備された
主制御器との間の通信を可能とするため呼び出される以
前に有効なハロゲン漏洩が決定されたということを視覚
的に表示を行うためにライト指示器88を点滅させるた
めに励起する。
監視サブルーチン104は監視回路34を周期的にスト
ローブ(strobe)するため呼び出されそれによっ
てマイクロコントローラ62のリセットが防止される。
ローブ(strobe)するため呼び出されそれによっ
てマイクロコントローラ62のリセットが防止される。
次にステップ236は漏洩検出フラッグがセットされた
かりセットされたかを判断する。もしセットされていれ
ばプログラムはステップ230から230から236の
ループを容器内のハロゲン漏洩がモニターされクリーン
アップされ、そして主制御は命令をこの装置10に移送
しその漏洩検知フラッグをリセットするまで継続する。
かりセットされたかを判断する。もしセットされていれ
ばプログラムはステップ230から230から236の
ループを容器内のハロゲン漏洩がモニターされクリーン
アップされ、そして主制御は命令をこの装置10に移送
しその漏洩検知フラッグをリセットするまで継続する。
リセットの後はステップ236はそのプログラムはステ
ップ102 に戻る。
ップ102 に戻る。
第3C図を参照すると、連続I10サブルーチン120
が説明されている。マイクロコントローラ62は連続I
10サブルーチン120を実行させその送受信器60を
該連続した通信、ボート8Gを介して中央に配置された
主制御器にメツセージを送信するか或はそれからメツセ
ージを受信するかを個々に行うための送信モード或は受
信モードのいづれかで作動させる。
が説明されている。マイクロコントローラ62は連続I
10サブルーチン120を実行させその送受信器60を
該連続した通信、ボート8Gを介して中央に配置された
主制御器にメツセージを送信するか或はそれからメツセ
ージを受信するかを個々に行うための送信モード或は受
信モードのいづれかで作動させる。
第2D図を参照すると、マイクロコントローラ62はそ
のイネーブルラインビン32を論理1(one)に励起
させメツセージをその送信器31を介して送信させ、そ
して反対にそのイネーブルラインビン33を論理Q (
zero)となし受信器ラインビン1を介して送受信器
60からメツセージを受信する。
のイネーブルラインビン32を論理1(one)に励起
させメツセージをその送信器31を介して送信させ、そ
して反対にそのイネーブルラインビン33を論理Q (
zero)となし受信器ラインビン1を介して送受信器
60からメツセージを受信する。
この形式において複数例えば32のハロゲンモニター装
置の各々は中央に配置された主制御器と、各々の装置1
0がそのデイツプスイッチ64のスイッチ1から5によ
ってセットされるその唯一のアドレス(unique
adress)を持つことを要求するポーリング機構(
polling scheme)における共通の通信ラ
インに関して通信することが可能である。
置の各々は中央に配置された主制御器と、各々の装置1
0がそのデイツプスイッチ64のスイッチ1から5によ
ってセットされるその唯一のアドレス(unique
adress)を持つことを要求するポーリング機構(
polling scheme)における共通の通信ラ
インに関して通信することが可能である。
このように、もし主制御器がメツセージを特定の装置1
0から受信するかそこへ送信したい場合には主制御器は
例えば“B[5YNC”■という予め決められたプロト
コルを使用しなければならないし又そのメツセージの中
にボールしようとする特定の装置10のアドレスを含ま
なければならない。
0から受信するかそこへ送信したい場合には主制御器は
例えば“B[5YNC”■という予め決められたプロト
コルを使用しなければならないし又そのメツセージの中
にボールしようとする特定の装置10のアドレスを含ま
なければならない。
第3C図を参照すると、連続したI10サブルーチン1
20が呼び出された時ステップ302は、マイクロコン
トローラ62のビン32を論理が低い状態にセットする
ことにより送受信器60の送信器を不能の状態とし、そ
して又そのビン33を論理が低い(logic low
)状態にセットすることにより送受信器60の受信器を
励起させる。
20が呼び出された時ステップ302は、マイクロコン
トローラ62のビン32を論理が低い状態にセットする
ことにより送受信器60の送信器を不能の状態とし、そ
して又そのビン33を論理が低い(logic low
)状態にセットすることにより送受信器60の受信器を
励起させる。
次にステップ304はマイクロコントローラー62のビ
ン1を連続した通信ポー) 86 (serialco
mmunica、tion port)及び送受信器6
0を介して100m5ecの周期で主制御器からそのビ
ンに印加ぎれるあらゆる変化についてテストを行い、そ
してもしこの受信ラインに何の作動(activity
)も生じない時には連続I10サブルーチン120はス
テップ322が主制御器が予めこのハロゲンモニター装
置10にディスエーブル命令、即ちディスエーブルフラ
ッグがセットされたということを送った後にエグジット
(exited)される。
ン1を連続した通信ポー) 86 (serialco
mmunica、tion port)及び送受信器6
0を介して100m5ecの周期で主制御器からそのビ
ンに印加ぎれるあらゆる変化についてテストを行い、そ
してもしこの受信ラインに何の作動(activity
)も生じない時には連続I10サブルーチン120はス
テップ322が主制御器が予めこのハロゲンモニター装
置10にディスエーブル命令、即ちディスエーブルフラ
ッグがセットされたということを送った後にエグジット
(exited)される。
このようなディスエーブル命令は主制御器が望ましい装
置10を選択することを可能にする。
置10を選択することを可能にする。
もしこの装置10が不能(disable)とされると
連続I10サブルーチン120はステップ302に戻り
そして主制御器がこのディスエーブルフラッグをリセッ
トするため装置10にメツセージを送信するまでこのル
ープを継続する。
連続I10サブルーチン120はステップ302に戻り
そして主制御器がこのディスエーブルフラッグをリセッ
トするため装置10にメツセージを送信するまでこのル
ープを継続する。
一方、もしステップ304により決定されたようにマイ
クロコントローラ62の連続入力ビン(seriali
nput pin) 1に信号が印加されると、サブル
ーチン120はマイクロコントローラ62を主制御器に
よって移送される1200のボードデーターメツセージ
(1200baud tata message)と同
調させるステップ306 に移行する。
クロコントローラ62の連続入力ビン(seriali
nput pin) 1に信号が印加されると、サブル
ーチン120はマイクロコントローラ62を主制御器に
よって移送される1200のボードデーターメツセージ
(1200baud tata message)と同
調させるステップ306 に移行する。
次に、ステップ308は主制御器から送信されて来たメ
ツセージをマイクロコントローラ62に入力する; 送信されたメツセージは読み(read)又は書き(w
rite)命令にポールされる装置10のアドレスを含
む0P−ADDRバイト及びアドレスされているハロゲ
ンモニター装置10をリセット或はディスエーブルされ
る命令とを含んでいる。
ツセージをマイクロコントローラ62に入力する; 送信されたメツセージは読み(read)又は書き(w
rite)命令にポールされる装置10のアドレスを含
む0P−ADDRバイト及びアドレスされているハロゲ
ンモニター装置10をリセット或はディスエーブルされ
る命令とを含んでいる。
ステップ309において、ACに/NAKフラッグがテ
ストされ、そのフラッグは装置10が主制御器に送信す
るのを完了した後でステップ318以下においてのみセ
ットされるものである。もしACK/NAにフラッグが
セットされると、次でステップ311でフラッグはリセ
ットされ、サブルーチンはステップ313でエグジット
され又連続I10サブルーチン120が呼ばれた後で次
の命令を開始する。もしACに/NAKフラッグがセッ
トされていないときはステップ310は主制御器により
送られて来たアドレスがデイツプスイッチ64によりセ
ットされた装置10のアドレスと一致するかどうかを決
定する。
ストされ、そのフラッグは装置10が主制御器に送信す
るのを完了した後でステップ318以下においてのみセ
ットされるものである。もしACK/NAにフラッグが
セットされると、次でステップ311でフラッグはリセ
ットされ、サブルーチンはステップ313でエグジット
され又連続I10サブルーチン120が呼ばれた後で次
の命令を開始する。もしACに/NAKフラッグがセッ
トされていないときはステップ310は主制御器により
送られて来たアドレスがデイツプスイッチ64によりセ
ットされた装置10のアドレスと一致するかどうかを決
定する。
もし送信され、保持されているアドレスが異るか或はも
し主制御器から受信したメツセージに誤りがある場合に
はサブルーチン120がステップ322に戻る。
し主制御器から受信したメツセージに誤りがある場合に
はサブルーチン120がステップ322に戻る。
もしアドレスが一致すれば即ち主制御器はその装置10
に対してメツセージを送信している場合にはステップ3
10は送受信器60の受信器を、送受信器60の1ピン
2に論理1の出力を印加することによりディスエーブル
としそして送受信器の送信器を送受信器60のDEピン
32に論理1の出力を印加することによってイネーブル
させる。
に対してメツセージを送信している場合にはステップ3
10は送受信器60の受信器を、送受信器60の1ピン
2に論理1の出力を印加することによりディスエーブル
としそして送受信器の送信器を送受信器60のDEピン
32に論理1の出力を印加することによってイネーブル
させる。
次にステップ314は主制御器から現在送信されてきて
いるステータスバイト(status byte)を読
み取る。もし主制御器がこの装置10にリード状態(R
EAD 5tate)で作動することを命令した場合、
マイクロコントローラ62のRAMに形成されたこの状
態レジスターはアクセスされ、そしてメツセージはステ
ップ316においてそのピン31を介して正しいBIS
YNC■形式において主制御器に送信される。
いるステータスバイト(status byte)を読
み取る。もし主制御器がこの装置10にリード状態(R
EAD 5tate)で作動することを命令した場合、
マイクロコントローラ62のRAMに形成されたこの状
態レジスターはアクセスされ、そしてメツセージはステ
ップ316においてそのピン31を介して正しいBIS
YNC■形式において主制御器に送信される。
このメツセージは次のデーターを含んでいる。
1)好ましい感度の及びこの調整回路10がランモード
にあるかテストモードにあるかどうかを表示するものと
してデイツプスイッチ64のスイッチ6から8の位置 2)ステータスフラッグ−漏洩待機モード、漏洩検知モ
ード、ディスエーブルモード、 3)アナログマルチプレクサ−72のタップ位置に関す
る“元の”及び“現在の”値 4)ハロゲンセンサー12の出力信号の現在値、5)ハ
ロゲンセンサー12の出力に関する元の値、6)180
Vの値 7)5Vの値 8)+12/−15Vの値及び 9)ヒーター電流の値 ここで認識すべき重要なことは、タップ位置とセンサー
の大きさに関する現在の値は主制御器に絶えず送信され
ることである。
にあるかテストモードにあるかどうかを表示するものと
してデイツプスイッチ64のスイッチ6から8の位置 2)ステータスフラッグ−漏洩待機モード、漏洩検知モ
ード、ディスエーブルモード、 3)アナログマルチプレクサ−72のタップ位置に関す
る“元の”及び“現在の”値 4)ハロゲンセンサー12の出力信号の現在値、5)ハ
ロゲンセンサー12の出力に関する元の値、6)180
Vの値 7)5Vの値 8)+12/−15Vの値及び 9)ヒーター電流の値 ここで認識すべき重要なことは、タップ位置とセンサー
の大きさに関する現在の値は主制御器に絶えず送信され
ることである。
予め決められたハロゲンガスのレベルが越すレると量的
な値が計算され主制御器によって表示されそれによって
緊急の漏洩検知フラッグ信号がサービスオペレーターに
よって確認されうる。
な値が計算され主制御器によって表示されそれによって
緊急の漏洩検知フラッグ信号がサービスオペレーターに
よって確認されうる。
次にステップ318はホストACK/NAKフラッグを
セットしハロゲンモニター装置10に対して、主制御器
から次に入ってくるメツセージは、主制御器がステップ
316において装置10から送信されたメツセージを受
けたことを表示する確認信号であるか或は受けていない
ことを表示する非確認信号であることを告げる。
セットしハロゲンモニター装置10に対して、主制御器
から次に入ってくるメツセージは、主制御器がステップ
316において装置10から送信されたメツセージを受
けたことを表示する確認信号であるか或は受けていない
ことを表示する非確認信号であることを告げる。
ステップ320は次でサブルーチン120が主制御器か
らのACK/NAKメツセージを待つためのステップ3
08に戻る前に送受信器60の送信器をディスエーブル
しそしてその受信器をイネーブルとする。
らのACK/NAKメツセージを待つためのステップ3
08に戻る前に送受信器60の送信器をディスエーブル
しそしてその受信器をイネーブルとする。
もしステップ314が主制御器からのステータスバイト
を検査して、それが装置10を書き込み(WRITB)
状態で作動させることを目的とするものであると判断し
たら、サブルーチン120はステップ322に移り確認
メツセージを主制御器が該装置10に送った同様のOF
/ADDRフィールドと共に主制御器に送り返されるよ
うにさせる。
を検査して、それが装置10を書き込み(WRITB)
状態で作動させることを目的とするものであると判断し
たら、サブルーチン120はステップ322に移り確認
メツセージを主制御器が該装置10に送った同様のOF
/ADDRフィールドと共に主制御器に送り返されるよ
うにさせる。
そのような送信の後で、ステップ324は次で送信器を
ディスエーブルとし又送受信器60の受信器をイネーブ
ルさせ主制御器についての次の送信を受けるようにする
。
ディスエーブルとし又送受信器60の受信器をイネーブ
ルさせ主制御器についての次の送信を受けるようにする
。
次でステップ326は主制御器がリセットモードフラッ
グをセットするためリセット命令を送ったかどうかを判
断するためステータスバイトを読み、もしリセットモー
ドフラッグがセットされていた時には、ステップ338
がこのサブルーチン120からエグジットする前に漏洩
待機モードと漏洩検知フラッグとをリセットしそして呼
び出しステップ(calling 5tep)に戻る。
グをセットするためリセット命令を送ったかどうかを判
断するためステータスバイトを読み、もしリセットモー
ドフラッグがセットされていた時には、ステップ338
がこのサブルーチン120からエグジットする前に漏洩
待機モードと漏洩検知フラッグとをリセットしそして呼
び出しステップ(calling 5tep)に戻る。
一方もしステップ326 により判断されるようなリセ
ット命令が存在しない時には、ステップ328はディス
エーブル命令が主制御器から送り出されたかどうかを判
断し、もし正しければステップ330はディスエーブル
フラッグをセットする。その後、ステップ336は呼び
出しステップへの帰環を実行する。
ット命令が存在しない時には、ステップ328はディス
エーブル命令が主制御器から送り出されたかどうかを判
断し、もし正しければステップ330はディスエーブル
フラッグをセットする。その後、ステップ336は呼び
出しステップへの帰環を実行する。
もしディスエーブルフラッグがセットされていない時に
は、ステップ334がディスエーブルフラッグをリセッ
トしそしてサブルーチン120はステップ336 にエ
グジットする。
は、ステップ334がディスエーブルフラッグをリセッ
トしそしてサブルーチン120はステップ336 にエ
グジットする。
第3D図を参照すると、詳細なゼロ化回路(zero−
ing circuit)サブルーチン198が示され
ている。
ing circuit)サブルーチン198が示され
ている。
主制御プログラム100に関して述べたように、ゼ口孔
回路サブルーチン198は、もし、ステップ186と1
88がオペレーターがデイツプスイッチ64のラン/テ
ストスイッチをテストモードからランモードに丁度変化
させたと判断した時に呼び出される。
回路サブルーチン198は、もし、ステップ186と1
88がオペレーターがデイツプスイッチ64のラン/テ
ストスイッチをテストモードからランモードに丁度変化
させたと判断した時に呼び出される。
このケースにおいて、ゼロ化回路サブルーチンはハロゲ
ンセンサー12により出力された定常状態のバックグラ
ンドレベル信号をキャンセルするために呼び出されそし
てハロゲンモニター装置10が新しい容器に再設置され
る時にハロゲンセンサー12が置き換られるか或はそう
でない場合には装置10が再較正されるということが再
プログラムされるまで、その回路はその信号レベルを永
久に記憶(格納)しておく。
ンセンサー12により出力された定常状態のバックグラ
ンドレベル信号をキャンセルするために呼び出されそし
てハロゲンモニター装置10が新しい容器に再設置され
る時にハロゲンセンサー12が置き換られるか或はそう
でない場合には装置10が再較正されるということが再
プログラムされるまで、その回路はその信号レベルを永
久に記憶(格納)しておく。
初期においてステップ400において、デルタフラッグ
はリセットされそれによりゼロ化回路サブルーチン19
8がハロゲンセンサー12の再較正の間、丁度1回呼び
出される。
はリセットされそれによりゼロ化回路サブルーチン19
8がハロゲンセンサー12の再較正の間、丁度1回呼び
出される。
次にステップ402はEEPOT80のカウンターを予
め決められたカウント例えは99にセットし、[EEP
OT80のVWビン5上に出力ワイパーアーム(wip
er ar+t+)の99位置のトラックを保持する。
め決められたカウント例えは99にセットし、[EEP
OT80のVWビン5上に出力ワイパーアーム(wip
er ar+t+)の99位置のトラックを保持する。
次にステップ404はこのワイパーアームが最大電圧位
置VHにないかどうかをテストし、もしなければステッ
プ406が、ステップ408が命令を出し、ステップ4
12が、演算増幅器820反転入力においてワイパーア
ームをその出力電圧が0.05 Vだけ上るように1ポ
ジシヨン(位置)移動し、該増幅器82がその増加分を
一2倍して−0,1Vの付加電圧を演算増幅器76aの
反転入力に印加する以前に138POT80の表示され
た入力を励起する。
置VHにないかどうかをテストし、もしなければステッ
プ406が、ステップ408が命令を出し、ステップ4
12が、演算増幅器820反転入力においてワイパーア
ームをその出力電圧が0.05 Vだけ上るように1ポ
ジシヨン(位置)移動し、該増幅器82がその増加分を
一2倍して−0,1Vの付加電圧を演算増幅器76aの
反転入力に印加する以前に138POT80の表示され
た入力を励起する。
ハロゲンセンサー12の出力はサブルーチン116にお
いてディジタル信号に変換され、それは又演算増幅器7
6aの入力に印加される。
いてディジタル信号に変換され、それは又演算増幅器7
6aの入力に印加される。
次にステップ424はA/D変換器54のピン10を検
査し、ハロゲンセンサー12の出力が未だそのフルスケ
ール値1/2に等しいかそれより大であるかを判断する
。
査し、ハロゲンセンサー12の出力が未だそのフルスケ
ール値1/2に等しいかそれより大であるかを判断する
。
もしそうであれば、ゼロ化サブルーチン198の制御は
ステップ404に戻り又ゼロ化回路サブルーチン198
はA/D変換器54の出力がフルスケールの1/2に低
下するまで、ステップ404から424までのループに
留まることになろう。
ステップ404に戻り又ゼロ化回路サブルーチン198
はA/D変換器54の出力がフルスケールの1/2に低
下するまで、ステップ404から424までのループに
留まることになろう。
その値がフルスケールの1/2以下である時、サブルー
チン198はステップ426に移りアナログマルチプラ
イヤ−72の利得タップをテストし、もし最大の利得タ
ップ即ちゼロタップにセットされていない時にははステ
ップ428 はタップ利得を減少させそしてステップ4
30は演算増幅器76aの利得を増加させるために次に
低いセツティングへタップを物理的に変化させる。
チン198はステップ426に移りアナログマルチプラ
イヤ−72の利得タップをテストし、もし最大の利得タ
ップ即ちゼロタップにセットされていない時にははステ
ップ428 はタップ利得を減少させそしてステップ4
30は演算増幅器76aの利得を増加させるために次に
低いセツティングへタップを物理的に変化させる。
サブルーチン198はA/D変換器54がハロゲンセン
サー12の出力に関連してオーバーフローするまでステ
ップ426からステップ438を通してルー・ブするで
あろう。
サー12の出力に関連してオーバーフローするまでステ
ップ426からステップ438を通してルー・ブするで
あろう。
オーバーフローがステップ438により検出されるよう
に発生した時、サブルーチン198の制御はステップ4
04に戻りそして88POT80のワイパーアームの位
置は再び、ハロゲンセンサー12のA/D変換器54か
らの出力がフルスケールの1/2以下に下るまでステッ
プ408において増加される。
に発生した時、サブルーチン198の制御はステップ4
04に戻りそして88POT80のワイパーアームの位
置は再び、ハロゲンセンサー12のA/D変換器54か
らの出力がフルスケールの1/2以下に下るまでステッ
プ408において増加される。
1EEPOT80のワイパーアームがステップ404に
より定められたような最大セツティング値VHに到達す
るか或はアナログマルチプレクサ−72の利得タップが
ステップ426により定められているように最大利得セ
ツティングであるゼロに到達した時のいづれかにおいて
、ゼロ化回路サブルーチン198 はステップ440に
移行する。
より定められたような最大セツティング値VHに到達す
るか或はアナログマルチプレクサ−72の利得タップが
ステップ426により定められているように最大利得セ
ツティングであるゼロに到達した時のいづれかにおいて
、ゼロ化回路サブルーチン198 はステップ440に
移行する。
ステップ440はオーバーフローに関するハロゲンセン
サー12の入力に関しA/D変換器54の入力ピン10
をテストする。もしオーバーフローが存在している場合
には、ステップ442はアナログマルチプレクサ−72
のタップを増加しそれによってセンサー増幅器74の利
得を増加させる。
サー12の入力に関しA/D変換器54の入力ピン10
をテストする。もしオーバーフローが存在している場合
には、ステップ442はアナログマルチプレクサ−72
のタップを増加しそれによってセンサー増幅器74の利
得を増加させる。
次にステップ444はアナログマルチプレクサ−72の
利得タップが最小利得位置7にあるか否かをテストする
。もしそれが最小利得位置にあればそしてステップ44
0 においてテストされるように、A/D変換器はオー
バーフローを出力し、漏洩の表示が出されそしてプログ
ラム制御は検出された漏洩を処理するためステップ20
0にジャンプする。
利得タップが最小利得位置7にあるか否かをテストする
。もしそれが最小利得位置にあればそしてステップ44
0 においてテストされるように、A/D変換器はオー
バーフローを出力し、漏洩の表示が出されそしてプログ
ラム制御は検出された漏洩を処理するためステップ20
0にジャンプする。
もしアナログマルチプレクサ−72の利得タップが最小
位置になければ、ステップ446は更にアナログマルチ
プレクサ−72のタップ位置を増加させセンサー増幅器
74の利得を減少させ又サブルーチン198はA/D変
換器の出力がステップ440により判断されたようにオ
ーバーフローしなくなるまでステップ440を通してル
ープを継続する。
位置になければ、ステップ446は更にアナログマルチ
プレクサ−72のタップ位置を増加させセンサー増幅器
74の利得を減少させ又サブルーチン198はA/D変
換器の出力がステップ440により判断されたようにオ
ーバーフローしなくなるまでステップ440を通してル
ープを継続する。
特にステップ446はタップを次の最も高いセツティン
グへ変換させることを実行させそれによりセンサー増幅
器74の利得を減少させる。
グへ変換させることを実行させそれによりセンサー増幅
器74の利得を減少させる。
このように、ゼロ化回路サブルーチン198はεEPO
T80の出力位置を、最小値VLから演算増幅器82に
よる出力としての補償電圧がハロゲンセンサー12から
減少されたバックグランド信号をキャンセルするか或は
実質的にキャンセルするであろう値に調整する。
T80の出力位置を、最小値VLから演算増幅器82に
よる出力としての補償電圧がハロゲンセンサー12から
減少されたバックグランド信号をキャンセルするか或は
実質的にキャンセルするであろう値に調整する。
演算増幅器82の補償出力は演算増幅器76aの反転入
力に印加され、それによりその出力は実質的にゼロとな
る。
力に印加され、それによりその出力は実質的にゼロとな
る。
この時点において、BIEPOT80のワイパーアーム
の位置は機械的感覚でセットされそしてその位置を表示
する信号はカウンターを形成する不揮発性メモリーに格
納される。
の位置は機械的感覚でセットされそしてその位置を表示
する信号はカウンターを形成する不揮発性メモリーに格
納される。
このように、ハロゲンモニター装置10は再較正され、
EBPOT80はゼロ化回路サブルーチン198が当初
ラン/テストスイッチ6がそのテスト位置からラン位置
に配置されたことに応答して実行された時にハロゲンセ
ンサー12により供給されたハロケンツバツクグランド
レベルと対応した信号を出力するであろう。
EBPOT80はゼロ化回路サブルーチン198が当初
ラン/テストスイッチ6がそのテスト位置からラン位置
に配置されたことに応答して実行された時にハロゲンセ
ンサー12により供給されたハロケンツバツクグランド
レベルと対応した信号を出力するであろう。
E[EPOT80のワイパーアームのセツティングはハ
ロゲンセンサー12が再較正されそしてラン/テストス
イッチ6が再びテスト位置からラン位置やリセットされ
るまで変化されない。
ロゲンセンサー12が再較正されそしてラン/テストス
イッチ6が再びテスト位置からラン位置やリセットされ
るまで変化されない。
オーバーフローがステップ440においてテストされた
時に生じなかった時は、サブルーチン198はステップ
454に移行しそこでアナログマルチプレクサ−72の
タップセツティングがマイクロコントローラのRAMに
格納されているような元の値にセットされそしてステッ
プ456がハロゲンセンサー12から発生したセンサー
増幅器74の出力をマイクロコントローラのRAMの“
元の値”の位置に保存する。
時に生じなかった時は、サブルーチン198はステップ
454に移行しそこでアナログマルチプレクサ−72の
タップセツティングがマイクロコントローラのRAMに
格納されているような元の値にセットされそしてステッ
プ456がハロゲンセンサー12から発生したセンサー
増幅器74の出力をマイクロコントローラのRAMの“
元の値”の位置に保存する。
その後サブルーチン198はエグジットしそして主制御
プログラム100のステップ110に戻る。
プログラム100のステップ110に戻る。
第3E図を参照すると、アナログからディジタル(A/
D)へのサブルーチン116の詳細なステップが説明さ
れている。
D)へのサブルーチン116の詳細なステップが説明さ
れている。
A/Dサブルーチン116は個別にA/D変換器54の
ピン10から13に印加されるようなハロゲンセンサー
12、スケールダウンシタ180V出力供給信号、スケ
ールダウンした5V電電力供給量及び整流された+12
V又は−15Vの電源電圧からの増幅センサー信号を含
むA/D変換器54に印加される全てのアナログ信号を
変換する。
ピン10から13に印加されるようなハロゲンセンサー
12、スケールダウンシタ180V出力供給信号、スケ
ールダウンした5V電電力供給量及び整流された+12
V又は−15Vの電源電圧からの増幅センサー信号を含
むA/D変換器54に印加される全てのアナログ信号を
変換する。
A/D変換サブルーチン116がプログラムにおけるい
かなる番号の位置から呼び出された時でも、制御はステ
ップ500にジャンプし、選択されたチャネルを表示す
るメツセージが連続的にマイクロコントローラ62のピ
ン37からA/D変換器54のピン3に送られるように
され、そこでそのメツセージは一対のレジスターDOと
Dlに格納される。もし変換されるべき選択された入力
信号がハロゲンセンサー12からのものであれば、そこ
でステップ506はセンサーの出力がキャパシター02
7上に格納されているサンプルホールド回路56を励起
し、そして更にサンプルホールド回路56は演算増幅器
76bから分離されそれによりA/D変換器54がステ
ップ510でA/D変換を実行している問いかなる変化
も生じない。
かなる番号の位置から呼び出された時でも、制御はステ
ップ500にジャンプし、選択されたチャネルを表示す
るメツセージが連続的にマイクロコントローラ62のピ
ン37からA/D変換器54のピン3に送られるように
され、そこでそのメツセージは一対のレジスターDOと
Dlに格納される。もし変換されるべき選択された入力
信号がハロゲンセンサー12からのものであれば、そこ
でステップ506はセンサーの出力がキャパシター02
7上に格納されているサンプルホールド回路56を励起
し、そして更にサンプルホールド回路56は演算増幅器
76bから分離されそれによりA/D変換器54がステ
ップ510でA/D変換を実行している問いかなる変化
も生じない。
ステップ514と516において、デジタル値はマイク
ロコントローラ62のピン39に連続的に送られる。そ
の後、ステップ520はDOとDlの一対のレジスター
をテストして変換されるべき他のアナログ信号が残って
いるかどうかを判断する。
ロコントローラ62のピン39に連続的に送られる。そ
の後、ステップ520はDOとDlの一対のレジスター
をテストして変換されるべき他のアナログ信号が残って
いるかどうかを判断する。
もし変換されるべき他の信号が存在していれば、サブル
ーチン116が再びステップ502から524を通して
ループする。もしそうでなければサブルーチン116は
ステップ522から出てA/Dサブルーチン116が呼
び出されたプログラムのその場所に戻る。
ーチン116が再びステップ502から524を通して
ループする。もしそうでなければサブルーチン116は
ステップ522から出てA/Dサブルーチン116が呼
び出されたプログラムのその場所に戻る。
第3F図を参照すると監視サブルーチンのステップ10
4が更に説明されている。
4が更に説明されている。
呼び出された時、監視サブルーチン104はステップ3
40に入り、ここでマイクロコントローラ62のRDピ
ン8上に監視回路34に対する演算増幅器28Cに対し
て低論理信号を出力し、それによ、リタイミング回路3
6のキャパシターC14に関してグランド回路軸rou
nd circuit)が形成される。その結果として
キャパシターC14はさもなければリセット回路32が
マイクロコントローラ62のリセットピン4にパルスを
与えそれ故それをリセットさせてしま・うことから防ぐ
ために少くとも32m5ec毎に放電される その後、ステップ342はこのサブルーチン104をエ
グジットして監視サブルーチン104が呼び出されたプ
ログラム100のその位置に戻る。
40に入り、ここでマイクロコントローラ62のRDピ
ン8上に監視回路34に対する演算増幅器28Cに対し
て低論理信号を出力し、それによ、リタイミング回路3
6のキャパシターC14に関してグランド回路軸rou
nd circuit)が形成される。その結果として
キャパシターC14はさもなければリセット回路32が
マイクロコントローラ62のリセットピン4にパルスを
与えそれ故それをリセットさせてしま・うことから防ぐ
ために少くとも32m5ec毎に放電される その後、ステップ342はこのサブルーチン104をエ
グジットして監視サブルーチン104が呼び出されたプ
ログラム100のその位置に戻る。
第4A図及び第4B図を参照すると、本発明におけるハ
ロゲンモニター装置に関する他の好ましい具体例が示さ
れており、そこにおいては同じ要素については対応する
番号が付されているが但し600台の番号となっている
。
ロゲンモニター装置に関する他の好ましい具体例が示さ
れており、そこにおいては同じ要素については対応する
番号が付されているが但し600台の番号となっている
。
第4A図に特に示されているセンサー614は第4B図
により完全に示されているようにハロゲンモニター回路
に組み込まれるため適合せしめられている。
により完全に示されているようにハロゲンモニター回路
に組み込まれるため適合せしめられている。
コレクター/カソード要素614を通して流れる電流は
センサー612を通して流れる空気サンプル(air
sample)におけるハロゲンの量と直接比例するも
のであり又ハロゲン濃度に比例する出力信号を提供する
。
センサー612を通して流れる空気サンプル(air
sample)におけるハロゲンの量と直接比例するも
のであり又ハロゲン濃度に比例する出力信号を提供する
。
電力供給部620はコレクタ/カソード要素614とヒ
ーター/アノード要素613 との間に調整された18
0Vを供給する。
ーター/アノード要素613 との間に調整された18
0Vを供給する。
電力制御スイッチ624はマイクロコントローラ662
により発生されたそして要素613 と614にかけら
れている180Vを除去するため制御ライン625を介
して電力制御スイッチに印加された信号により励起(a
ctuate)される。スイッチ624は直列或は並列
のいづれの形式もとりうる。スイッチ624を介して印
加されるイオン化された電圧はヒーター/アノード要素
613を通してコレクター/カソード要素614に流れ
そして第4B図に示すように直列に接続された抵抗63
1 と電位計(potent iometer)633
を通して電力供給620を接地させる。
により発生されたそして要素613 と614にかけら
れている180Vを除去するため制御ライン625を介
して電力制御スイッチに印加された信号により励起(a
ctuate)される。スイッチ624は直列或は並列
のいづれの形式もとりうる。スイッチ624を介して印
加されるイオン化された電圧はヒーター/アノード要素
613を通してコレクター/カソード要素614に流れ
そして第4B図に示すように直列に接続された抵抗63
1 と電位計(potent iometer)633
を通して電力供給620を接地させる。
第4A図に示すように、ヒーター/アノード要素613
を通して印加された電圧は電圧調整回路629を含むよ
うなヒーター調整回路640により供給され、それはヒ
ーター/アノード要素613の温度変化に応じて調整さ
れる実質的に固定された電圧を出力するもので、それに
よって要素613に印加される電圧と電流を実質的に9
00℃の一定の温度がセンサー612のヒーター/アノ
ード要素613で維持されるように制御する。
を通して印加された電圧は電圧調整回路629を含むよ
うなヒーター調整回路640により供給され、それはヒ
ーター/アノード要素613の温度変化に応じて調整さ
れる実質的に固定された電圧を出力するもので、それに
よって要素613に印加される電圧と電流を実質的に9
00℃の一定の温度がセンサー612のヒーター/アノ
ード要素613で維持されるように制御する。
ヒーター/アノード要素613 はダイオード603、
抵抗604と606及び電位計607で構成される抵抗
ブリッジの足と結合されている。もしヒーター/アノー
ド要素613の温度が変化するとエラー電流が発生しそ
してトランジスタ6080ベースに印加される。エラー
電流はトランジスタ608で増幅され、該トランジスタ
は増幅されたエラー電流を出力しそれを電圧調整回路6
29のフィードバック入力に印加する。電圧調整回路6
29はその十及び一端子に一組の抵抗609と610と
に亘って印加される調整電圧を出力し、それは初期のス
タートアップ電圧を制限するのに作用する。
抵抗604と606及び電位計607で構成される抵抗
ブリッジの足と結合されている。もしヒーター/アノー
ド要素613の温度が変化するとエラー電流が発生しそ
してトランジスタ6080ベースに印加される。エラー
電流はトランジスタ608で増幅され、該トランジスタ
は増幅されたエラー電流を出力しそれを電圧調整回路6
29のフィードバック入力に印加する。電圧調整回路6
29はその十及び一端子に一組の抵抗609と610と
に亘って印加される調整電圧を出力し、それは初期のス
タートアップ電圧を制限するのに作用する。
キャパシター605は抵抗610 と並列に接続され該
回路に対する高周波振動に関するあらゆる影響を減少さ
せる。
回路に対する高周波振動に関するあらゆる影響を減少さ
せる。
代表的にはヒーター/アノード要素613はプラチナワ
イヤーで構成されている。プラチナの温度対抵抗の関係
が一貫して直線性であるので、得られる温度制御はヒー
ター/アノード要素613とコレクター/カソード要素
614との間を流れる低レベルのイオン化電流に影響を
与えるようなスイッチング効果或は変動なしに実行され
る。更に、温度調整回路640は熱の形ではエネルギー
を浪費することはなくそれ数回路640における部品の
信頼性と有効寿命を拡大することが出来る。
イヤーで構成されている。プラチナの温度対抵抗の関係
が一貫して直線性であるので、得られる温度制御はヒー
ター/アノード要素613とコレクター/カソード要素
614との間を流れる低レベルのイオン化電流に影響を
与えるようなスイッチング効果或は変動なしに実行され
る。更に、温度調整回路640は熱の形ではエネルギー
を浪費することはなくそれ数回路640における部品の
信頼性と有効寿命を拡大することが出来る。
ここで第4B図を参照するとセンサー612の出力はコ
レクター/カソード要素614と直列接続された抵抗6
31と電位計633とを通して流れる電流により発生さ
れる。
レクター/カソード要素614と直列接続された抵抗6
31と電位計633とを通して流れる電流により発生さ
れる。
この電流と比例する電圧は電位計633のタップに発生
され、そしてアナログデジタル(A/D)変換器637
のVIN(+)入力に電圧フォロワーとして接続されて
いるバッファー増幅器635に印加される。
され、そしてアナログデジタル(A/D)変換器637
のVIN(+)入力に電圧フォロワーとして接続されて
いるバッファー増幅器635に印加される。
A/D変換器637はデーターバス647を介してデジ
タル出力をマイクロコントローラ662の人力/出力部
(port)に供給する。
タル出力をマイクロコントローラ662の人力/出力部
(port)に供給する。
マイクロコントローラ662はデジタル出力を人力/出
力部とデータ・バス649を介して多重チャネル(mu
lti channel)デジタルアナログ(D/A)
変換器639に印加する。
力部とデータ・バス649を介して多重チャネル(mu
lti channel)デジタルアナログ(D/A)
変換器639に印加する。
マイクロコントローラー662はストローブパルスをス
トローブライン653を介してD/A変換器639に印
加しそれはその第1の或はチャネルA出力を介して基準
電圧を印加する。
トローブライン653を介してD/A変換器639に印
加しそれはその第1の或はチャネルA出力を介して基準
電圧を印加する。
電圧フォロワー641 によるバッファー後、この基準
電圧はVREF人力においてA/D変換器637に印加
される。マイクロコントローラ662はストローブ信号
をストローブライン655を介してA/D変換器に印加
しそこではこれに応答してデーターバス647を介して
マイクロコントローラー662の入力/出力部に、VR
BF入力に印加された信号とVIN(+)入力に印加さ
れたセンサー612の出力との比に対応するデジタル信
号を印加する。
電圧はVREF人力においてA/D変換器637に印加
される。マイクロコントローラ662はストローブ信号
をストローブライン655を介してA/D変換器に印加
しそこではこれに応答してデーターバス647を介して
マイクロコントローラー662の入力/出力部に、VR
BF入力に印加された信号とVIN(+)入力に印加さ
れたセンサー612の出力との比に対応するデジタル信
号を印加する。
後に説明するように、マイクロコントローラ662はV
REF人力のレベルを調整するためにプログラムされて
おりそれによってセンサー612の出力を割り当ててい
る利得は自動的に電圧安定化の問題がない範囲で調整さ
れる。
REF人力のレベルを調整するためにプログラムされて
おりそれによってセンサー612の出力を割り当ててい
る利得は自動的に電圧安定化の問題がない範囲で調整さ
れる。
第4B図に更に示されているように、デイツプスイッチ
657はマイクロコントローラ662に接続されており
、それによって、オペレーターはD/A変換器639の
第2の出力或はチャネルB出力において発生されるオフ
セット電圧をA/D変換器637ノ差動入力(diff
erential 1nput) V I N (−)
人力に印加されるようになし、それによってゼロ出力が
データーバス647に印加される。後述するように、マ
イクロコントローラ662はデータバスを介してデジタ
ル値をD/A変換器639に印加し電圧フォロワー64
3によりバッファーされた後に好ましいオフセットを提
供する。その結果として、ハロゲンの不存在或はそれら
の残留レベルの存在において発生するようなセンサー6
12からの残留出力はオフセットされマイクロコントロ
ーラ662の入力/出力部にゼロ入力を供給する。
657はマイクロコントローラ662に接続されており
、それによって、オペレーターはD/A変換器639の
第2の出力或はチャネルB出力において発生されるオフ
セット電圧をA/D変換器637ノ差動入力(diff
erential 1nput) V I N (−)
人力に印加されるようになし、それによってゼロ出力が
データーバス647に印加される。後述するように、マ
イクロコントローラ662はデータバスを介してデジタ
ル値をD/A変換器639に印加し電圧フォロワー64
3によりバッファーされた後に好ましいオフセットを提
供する。その結果として、ハロゲンの不存在或はそれら
の残留レベルの存在において発生するようなセンサー6
12からの残留出力はオフセットされマイクロコントロ
ーラ662の入力/出力部にゼロ入力を供給する。
第4B図に示されているハロゲンモニター装置の多くの
パラメーターは不揮発性メモリー或はRAM651に格
納されている。
パラメーターは不揮発性メモリー或はRAM651に格
納されている。
更に、ハロゲンモニターシステムそして特にはそのマイ
クロコントローラ662は主コンピューターと通信出来
るようになっていて、それによって遠隔地に置かれたモ
ニターシステムにおいてモニターされたハロゲン濃度は
中央に配置されたマスターコンピューターと通信が行わ
れても良い。更にマスターコンビニ−ターは遠隔地にあ
るハロゲンモニター装置の実°行パラメーターを制御し
及び/又はリセットするためのメツセージを送ることが
出来る。
クロコントローラ662は主コンピューターと通信出来
るようになっていて、それによって遠隔地に置かれたモ
ニターシステムにおいてモニターされたハロゲン濃度は
中央に配置されたマスターコンピューターと通信が行わ
れても良い。更にマスターコンビニ−ターは遠隔地にあ
るハロゲンモニター装置の実°行パラメーターを制御し
及び/又はリセットするためのメツセージを送ることが
出来る。
本発明における例示的具体例において、送受信器660
は例示的に電子工業協会改訂基準(Electroni
cIndustries As5ociation R
evised 5tandard)4135を用いるこ
とによりマスターコンピューターとの2本のワイヤーに
よる直列インターフェース(tw。
は例示的に電子工業協会改訂基準(Electroni
cIndustries As5ociation R
evised 5tandard)4135を用いるこ
とによりマスターコンピューターとの2本のワイヤーに
よる直列インターフェース(tw。
wire 5erial 1nterface)とて機
能する。
能する。
本発明における他の例示的具体例においてはマイクロコ
ントローラ662はエレクトリックモニタリングアンド
コントローバスコーポレーション(Electroni
c Movitoring and Controls
Corp、)により製造された品番NC−10の制御
器により実行されてもよい。
ントローラ662はエレクトリックモニタリングアンド
コントローバスコーポレーション(Electroni
c Movitoring and Controls
Corp、)により製造された品番NC−10の制御
器により実行されてもよい。
このスイッチング電圧制御器11は例示的にマキシムコ
ーポレーション(Maxim Corp、 )で製造さ
れている品番鼎x638の調整器の形を取るものであっ
てもよい。例示的にはA/D変換器637は一般的指定
のADC801の下で製造された変換111の形をとっ
てもよく、D / A変換器639は一般的指定のAt
11741により製造された変換器の形をとるものであ
ってもよい。更に送受信機660は一般的な指定の75
176の下で製造された受信機の形をとるものであって
もよい。
ーポレーション(Maxim Corp、 )で製造さ
れている品番鼎x638の調整器の形を取るものであっ
てもよい。例示的にはA/D変換器637は一般的指定
のADC801の下で製造された変換111の形をとっ
てもよく、D / A変換器639は一般的指定のAt
11741により製造された変換器の形をとるものであ
ってもよい。更に送受信機660は一般的な指定の75
176の下で製造された受信機の形をとるものであって
もよい。
第5A図を参照すると、マイクロコントローラ662に
より実行されるものとしてのプログラム700の主ルー
プが示されている。
より実行されるものとしてのプログラム700の主ルー
プが示されている。
初期においてはステップ702において、110Vの交
流電圧が第4A図及び第4B図のハロゲンモニターシス
テムに印加される。次でステップ704において、少く
とも3つのタイミングパラメーターと2つの電圧しきい
値レベルがプログラム700における後の使用のため不
揮発性RAM651から読み出される。
流電圧が第4A図及び第4B図のハロゲンモニターシス
テムに印加される。次でステップ704において、少く
とも3つのタイミングパラメーターと2つの電圧しきい
値レベルがプログラム700における後の使用のため不
揮発性RAM651から読み出される。
例示的には3つのタイミングパラメーターはプログラム
可能な初期のワームアップ期間、カソード/アノード電
圧がターンオフの後再度センサー612に印加される以
前の待機期間及び第1の或は警告レベルのこえるハロゲ
ン濃度のレベルを検出したことにもとづいて開始される
警告期間を表示するカウントを含んでいる。
可能な初期のワームアップ期間、カソード/アノード電
圧がターンオフの後再度センサー612に印加される以
前の待機期間及び第1の或は警告レベルのこえるハロゲ
ン濃度のレベルを検出したことにもとづいて開始される
警告期間を表示するカウントを含んでいる。
電圧しきい値レベルは警告レベルを含んでおり、それは
もしそれがセンサー612によって測定されたハロゲン
濃度レベルにより越されたならばアラーム状態を発生す
るものであり又このレベルと対応するシャトダウンレベ
ル(shutdoIIln 1evel)はもしこれが
越されるとセンサー612がターンオフされるようにす
る。これ等5つのパラメーターはプログラム可能であり
又メツセージはマスターコンビコーターから観察された
ハロゲンのレベルに従属したこれらのパラメーターのい
づれか或は全て及びハロゲンモニター装置の特定なもの
への適用をリセットするために送り出される。
もしそれがセンサー612によって測定されたハロゲン
濃度レベルにより越されたならばアラーム状態を発生す
るものであり又このレベルと対応するシャトダウンレベ
ル(shutdoIIln 1evel)はもしこれが
越されるとセンサー612がターンオフされるようにす
る。これ等5つのパラメーターはプログラム可能であり
又メツセージはマスターコンビコーターから観察された
ハロゲンのレベルに従属したこれらのパラメーターのい
づれか或は全て及びハロゲンモニター装置の特定なもの
への適用をリセットするために送り出される。
次のステップ706はセンサー612が安定するのを許
容するために初期のセンサーウオームアツプ期間をタイ
ムアウトする。
容するために初期のセンサーウオームアツプ期間をタイ
ムアウトする。
ウオームアツプ期間中、ヒーター/アノード要素613
は900℃のオーダーにおける作動温度に加熱されそし
てセンサー612はシステムの操作が開始される前に特
にマイクロコントローラ612のリセット前に安定化さ
れる。
は900℃のオーダーにおける作動温度に加熱されそし
てセンサー612はシステムの操作が開始される前に特
にマイクロコントローラ612のリセット前に安定化さ
れる。
ステップ708 はデイツプスイッチ657をテストし
て専任のオペレーターによってオフセット電圧を調整す
るためにスイッチが動かされているか否を判断しそれに
よってセンサー612の出力のバックグランドレベルが
判断されそして、A/D変換器637の出力がその後マ
イクロコントローラ662にゼロ出力を供給するように
オフセットとして使用される。
て専任のオペレーターによってオフセット電圧を調整す
るためにスイッチが動かされているか否を判断しそれに
よってセンサー612の出力のバックグランドレベルが
判断されそして、A/D変換器637の出力がその後マ
イクロコントローラ662にゼロ出力を供給するように
オフセットとして使用される。
もしそうであれば、プログラムは第5C図により説明さ
れるようなサブルーチン722に移行する。
れるようなサブルーチン722に移行する。
もしそうでなければ、主ループは第5B図に関してより
詳しく説明されるセンサー612の出力信号により提供
されるハロゲンのレベルを測定しテストするステップ7
10に移行する。
詳しく説明されるセンサー612の出力信号により提供
されるハロゲンのレベルを測定しテストするステップ7
10に移行する。
−船釣にはサブルーチン710はA/D変換器637に
よってセンサー612の出力信号に挿入された利得を調
整しそれにより利得をA/D変換器637のレンジの範
囲内とする。
よってセンサー612の出力信号に挿入された利得を調
整しそれにより利得をA/D変換器637のレンジの範
囲内とする。
次に、ステップ712はセンサー612により検出され
たハロゲンレベルがアラームレベルより大キいかどうか
を判断する。この点に関しアラームレベルはシャットダ
ウンレベルと等しいか或はそれより小さくセットされて
もよい。明らかなように、もし測定されたハロゲンレベ
ルがシャットダウンレベルを越える時には、アノード/
カソード電圧は除去されそれによりセンサー612をタ
ーンオフスル。一方モジハロゲンレベルがアラームレベ
ルを越えるがシャットダウンレベルは越えない場合には
センサー612は少くともアラーム期間がタイムアツプ
し、そしてセンサー612がターンオフされるまでハロ
ゲンレベルを検出するのを継続することが可能とされる
。
たハロゲンレベルがアラームレベルより大キいかどうか
を判断する。この点に関しアラームレベルはシャットダ
ウンレベルと等しいか或はそれより小さくセットされて
もよい。明らかなように、もし測定されたハロゲンレベ
ルがシャットダウンレベルを越える時には、アノード/
カソード電圧は除去されそれによりセンサー612をタ
ーンオフスル。一方モジハロゲンレベルがアラームレベ
ルを越えるがシャットダウンレベルは越えない場合には
センサー612は少くともアラーム期間がタイムアツプ
し、そしてセンサー612がターンオフされるまでハロ
ゲンレベルを検出するのを継続することが可能とされる
。
モジハロゲンレベルがステップ712において決定され
たようにアラームレベルを越える時には、プリセットア
ラーム期間のタイミングが開始されそしてもしステップ
714において判断されたように越えた場合には、主ル
ープはステップ726に移行し送受信器660を介して
メツセージをマスターコンビコーターに送信する。
たようにアラームレベルを越える時には、プリセットア
ラーム期間のタイミングが開始されそしてもしステップ
714において判断されたように越えた場合には、主ル
ープはステップ726に移行し送受信器660を介して
メツセージをマスターコンビコーターに送信する。
その後、ステップ728は“再スタート”の命令がプロ
グラムがステップ706に戻った時にマスターコンビニ
−ターから受信されるまでセンサー612をターンオフ
する。
グラムがステップ706に戻った時にマスターコンビニ
−ターから受信されるまでセンサー612をターンオフ
する。
もしアラーム期間がステップ714において判断された
時にタイムアウトしていない場合、ステップ715はシ
ャトダウンレベルが越されていないかどうかを判断する
。もしそうでなければ、主ループはハロゲンレベルのモ
ニターを継続しそしてステップ710に戻る。もしシャ
ットダウンレベルが越されていると、カソード/アノー
ド電圧はステップ715においてセンサー612から除
去せしめられる。
時にタイムアウトしていない場合、ステップ715はシ
ャトダウンレベルが越されていないかどうかを判断する
。もしそうでなければ、主ループはハロゲンレベルのモ
ニターを継続しそしてステップ710に戻る。もしシャ
ットダウンレベルが越されていると、カソード/アノー
ド電圧はステップ715においてセンサー612から除
去せしめられる。
次にステップ716において、待機期間はタイムアウト
されるが一方センサー612はターンオフされる。その
後、ステップ720は、主ループがステップ710に戻
りハロゲンレベルを再びテストする前にセンサー612
が安定化することを可能とするための第2のウオームア
ツプ期間を計時する。このように、もしハロゲンレベル
がシャットダウンレベルを越えるとセンサー612は待
機期間の間ターンオフされセンサーが、シャットダウン
レベルが越されていることを示す通信をマスターコンピ
ューターに送る以前に、ハロゲンレベルを再チエツクす
ることを可能とするということが判明している。
されるが一方センサー612はターンオフされる。その
後、ステップ720は、主ループがステップ710に戻
りハロゲンレベルを再びテストする前にセンサー612
が安定化することを可能とするための第2のウオームア
ツプ期間を計時する。このように、もしハロゲンレベル
がシャットダウンレベルを越えるとセンサー612は待
機期間の間ターンオフされセンサーが、シャットダウン
レベルが越されていることを示す通信をマスターコンピ
ューターに送る以前に、ハロゲンレベルを再チエツクす
ることを可能とするということが判明している。
第5B図を22で参照すると、ハロゲンレベルテストサ
ブルーチン710がより完全に説明されている。アノー
ド/カソード電圧は当初ステップ740においでステッ
プ742がマイクロコントローラ662がストローブラ
イン653を介してストローブをVREFの対応するア
ナログ値が読み出されるようにするためチャネル人出力
に印加する以前に、マイクロコントローラ662がデー
ターバス649を介してD/A変換器639にVREF
を表示する8ビツトのデジタル値を印加する前に、セン
サー712に印加される。
ブルーチン710がより完全に説明されている。アノー
ド/カソード電圧は当初ステップ740においでステッ
プ742がマイクロコントローラ662がストローブラ
イン653を介してストローブをVREFの対応するア
ナログ値が読み出されるようにするためチャネル人出力
に印加する以前に、マイクロコントローラ662がデー
ターバス649を介してD/A変換器639にVREF
を表示する8ビツトのデジタル値を印加する前に、セン
サー712に印加される。
当初のデジタル入力の値は0IIIEXである。D/A
変換器639に対するデジタル人力は、それによって電
圧基準値645により電圧出力が分圧されるという要素
を判断しチャネル人出力にアナログ信号を供給する。
変換器639に対するデジタル人力は、それによって電
圧基準値645により電圧出力が分圧されるという要素
を判断しチャネル人出力にアナログ信号を供給する。
基準出力が2.5 Vである例示的具体例において、チ
ャネルAの出力の初期セット電圧は0IHEXのデジタ
ル入力に対し2.5 /255 Vに等しい。
ャネルAの出力の初期セット電圧は0IHEXのデジタ
ル入力に対し2.5 /255 Vに等しい。
次にステップ744はマイクロコントローラ662をし
てストローブ信号をそのストローブライン655を介し
てA/D変換器637を読み取るためにA/D変換器6
37に印加せしめるものである。このデジタル読み出し
はVIN/VREF倍の255に等しいということは理
解される。このように、もしVIN(+)人力に印加さ
れるセンサー612のアナログ出力がVREF以下であ
ればA/D変換器637の出力は、ステップ746にお
いて決定されるようにレンジ即ち255より小さなレン
ジである。特にステップ746はA/D変換器637の
デジタル出力はフルスケールをオーバーし即ち、255
と等しいかそれより大である。もしレンジを外れるか或
はフルスケールを越える時には、ステップ748は、サ
ブルーチン710がパスカウンター(a pass c
ounter)を歩進させた回数の数即ち該サブルーチ
ンがステップ744から752を介してループした数が
6を越したかどうかを判断する。
てストローブ信号をそのストローブライン655を介し
てA/D変換器637を読み取るためにA/D変換器6
37に印加せしめるものである。このデジタル読み出し
はVIN/VREF倍の255に等しいということは理
解される。このように、もしVIN(+)人力に印加さ
れるセンサー612のアナログ出力がVREF以下であ
ればA/D変換器637の出力は、ステップ746にお
いて決定されるようにレンジ即ち255より小さなレン
ジである。特にステップ746はA/D変換器637の
デジタル出力はフルスケールをオーバーし即ち、255
と等しいかそれより大である。もしレンジを外れるか或
はフルスケールを越える時には、ステップ748は、サ
ブルーチン710がパスカウンター(a pass c
ounter)を歩進させた回数の数即ち該サブルーチ
ンがステップ744から752を介してループした数が
6を越したかどうかを判断する。
もしパス回数が6以下である時はステップ750はパス
カウンターを、ステップ752がVREFO値を2だけ
乗算し、つまりマイクロコントローラ662のデジタル
出力が028EXにまで高められ、そしてA/D変換器
639のチャネル人出力に表われるVRBFのアナログ
値が2倍となる前に、増加させる。
カウンターを、ステップ752がVREFO値を2だけ
乗算し、つまりマイクロコントローラ662のデジタル
出力が028EXにまで高められ、そしてA/D変換器
639のチャネル人出力に表われるVRBFのアナログ
値が2倍となる前に、増加させる。
その結果として、A/D変換器637によりセンサー信
号に加えられた効果的なデジタル利得は2倍となる。サ
ブルーチン710は、パスカウンターが6をこえるか或
はA/D変換器637から得られたデジタル出力読み出
しくreading)がそのレンジにあるようになるま
でステップ744からステップ752を介してループす
るということが判る。もしレンジ内であればステップ7
54は指数関数としてハロゲンレベルを判断する。つま
りその関数の仮数はA/D変換器の出力値に相当し又そ
の関数の指数はハスカウンターを積算したカウントに相
当する。
号に加えられた効果的なデジタル利得は2倍となる。サ
ブルーチン710は、パスカウンターが6をこえるか或
はA/D変換器637から得られたデジタル出力読み出
しくreading)がそのレンジにあるようになるま
でステップ744からステップ752を介してループす
るということが判る。もしレンジ内であればステップ7
54は指数関数としてハロゲンレベルを判断する。つま
りその関数の仮数はA/D変換器の出力値に相当し又そ
の関数の指数はハスカウンターを積算したカウントに相
当する。
又バスカウンターの歩進されたカウントはA/D変換器
637により加えられた利得に対応している。ステップ
754の後で、プログラムは第5A図に示すように主ル
ープのステップ712に戻る。もしステップ748にお
いて判断される時にバスカウントが6を越えている時に
は、サブルーチン710はステップ754に移行し、大
きなハロゲンに関する読み取り値が生じたことをの表示
を提供する。
637により加えられた利得に対応している。ステップ
754の後で、プログラムは第5A図に示すように主ル
ープのステップ712に戻る。もしステップ748にお
いて判断される時にバスカウントが6を越えている時に
は、サブルーチン710はステップ754に移行し、大
きなハロゲンに関する読み取り値が生じたことをの表示
を提供する。
第5C図を参照すると、サブルーチン722が示されて
おり、該サブルーチンは、モニターされる容器における
ハロゲンのバックグランドレベルを有するか有していな
い残留センサー信号を表わすものとしてのセンサー出力
のバックグランドレベルをゼロアラ) (zero o
ut)するために呼び出される。
おり、該サブルーチンは、モニターされる容器における
ハロゲンのバックグランドレベルを有するか有していな
い残留センサー信号を表わすものとしてのセンサー出力
のバックグランドレベルをゼロアラ) (zero o
ut)するために呼び出される。
サブルーチン722はステップ708から、第4B図に
示すように、デツプスイッチ657が対応する位置に動
かされていることを示すような初期ステップ760 に
入る。
示すように、デツプスイッチ657が対応する位置に動
かされていることを示すような初期ステップ760 に
入る。
ステップ762において、マイクロコントローラ662
は0叶EXに対応するデジタル値をデーターバス649
上に出力し、そしてストローブライン653を介してス
トローブをD/A変換器639からゼロ基準信号を出力
するために適用し、それは、電圧フォロワー643によ
りバッファーされた後、そのVIN(−)端子において
A/D変換器637のためのオフセットとして作用する
。
は0叶EXに対応するデジタル値をデーターバス649
上に出力し、そしてストローブライン653を介してス
トローブをD/A変換器639からゼロ基準信号を出力
するために適用し、それは、電圧フォロワー643によ
りバッファーされた後、そのVIN(−)端子において
A/D変換器637のためのオフセットとして作用する
。
次にステップ764は、最大の信号即ち255を示すデ
ジタル出力を提供するため設計されている単位の或は最
大の利得にA/D変換器637をセットスル。マイクロ
コントローラ662はデータバス649を介してデジタ
ル値をD/A変換器639に印加しそしてライン653
を介してそれをストローブし、それによって出力はチャ
ネルAに供給される。
ジタル出力を提供するため設計されている単位の或は最
大の利得にA/D変換器637をセットスル。マイクロ
コントローラ662はデータバス649を介してデジタ
ル値をD/A変換器639に印加しそしてライン653
を介してそれをストローブし、それによって出力はチャ
ネルAに供給される。
電圧フォロワー641によりバッファーされた後、この
出力はVREF入力として作用しA/D変換器6370
単位利得(unity gain)を達成する。
出力はVREF入力として作用しA/D変換器6370
単位利得(unity gain)を達成する。
次にステップ766はA/D変換器637の出力を検査
しそしてもしゼロと等しければステップ722にその値
を、VIN(−)入力に印加された時に、格納し、それ
はセンサー612により検出されたハロゲンのバックグ
ランドレベルに対し好ましいオフセットを提供する。
しそしてもしゼロと等しければステップ722にその値
を、VIN(−)入力に印加された時に、格納し、それ
はセンサー612により検出されたハロゲンのバックグ
ランドレベルに対し好ましいオフセットを提供する。
このオフセット値は、ステップ776が第5A図に示す
ように主ループのステップ724に戻る前にステップ7
74において不揮発性RA?、(651に格納される。
ように主ループのステップ724に戻る前にステップ7
74において不揮発性RA?、(651に格納される。
ステップ742は再びデツプスイッチ657をテストし
それが開放された(released)かどうかを判断
する。もしそうでなければ、プログラムはプログラムが
ステップ710に戻る時であるデイツプスイッチ657
が開放されるまでステップ724を介してループを継続
する。
それが開放された(released)かどうかを判断
する。もしそうでなければ、プログラムはプログラムが
ステップ710に戻る時であるデイツプスイッチ657
が開放されるまでステップ724を介してループを継続
する。
もしステップ766により判断した時にA/D変換器6
37の出力が0でない場合にはステップ768はD/A
変換器639に印加されるデジタル値を1だけ歩進させ
る。その後、ステップ770は現在歩進されたVIN(
−)の値が255 と等しいかどうかを判断する。もし
VIN(−)値がゼロ読出し値なしに255に達してい
れば、マイクロコントローラ662は送受信器660を
励起させ極端に高いハロゲンのバックグランドレベルが
検知されたことを示すエネルギーメツセージをセンサー
12がターンオフされサービスの為にステップ780で
待機する以前に主コンピューターに送信する。サブルー
チン722は、VIN(−)入力に印加された差動人力
レベルがA/D変換器637からゼロの読み出し値を供
給するように、ステップ766においてゼロの読み出し
値が得られるまでマイクロコントローラー662によっ
てD/A変換器639に供給されたデジタル値を歩進さ
せながらステップ764から770を通してループを行
いそれによってセンサー612により与えられた一定の
バックグランドレベルはオフセットされるか除去される
。
37の出力が0でない場合にはステップ768はD/A
変換器639に印加されるデジタル値を1だけ歩進させ
る。その後、ステップ770は現在歩進されたVIN(
−)の値が255 と等しいかどうかを判断する。もし
VIN(−)値がゼロ読出し値なしに255に達してい
れば、マイクロコントローラ662は送受信器660を
励起させ極端に高いハロゲンのバックグランドレベルが
検知されたことを示すエネルギーメツセージをセンサー
12がターンオフされサービスの為にステップ780で
待機する以前に主コンピューターに送信する。サブルー
チン722は、VIN(−)入力に印加された差動人力
レベルがA/D変換器637からゼロの読み出し値を供
給するように、ステップ766においてゼロの読み出し
値が得られるまでマイクロコントローラー662によっ
てD/A変換器639に供給されたデジタル値を歩進さ
せながらステップ764から770を通してループを行
いそれによってセンサー612により与えられた一定の
バックグランドレベルはオフセットされるか除去される
。
このように、ハロゲン漏洩を検出するためのセンサーを
含む回路或は装置が開示されたのであり、それは容器中
におけるハロゲン漏洩をモニターするために数ケ月のオ
ーダー更には数年のオーダーにおける長期間に亘って使
用することが可能なものである。
含む回路或は装置が開示されたのであり、それは容器中
におけるハロゲン漏洩をモニターするために数ケ月のオ
ーダー更には数年のオーダーにおける長期間に亘って使
用することが可能なものである。
本発明の装置と方法は漏洩の検出にもとすいてこのセン
サーを非励起にすることによって長期間に亘りハロゲン
センサーの寿命を延長することが可能でありそれによっ
てセンサーのコレクター/カソードを通る連続したイオ
ン化電流の流れは停止されセンサーの寿命が延長される
。
サーを非励起にすることによって長期間に亘りハロゲン
センサーの寿命を延長することが可能でありそれによっ
てセンサーのコレクター/カソードを通る連続したイオ
ン化電流の流れは停止されセンサーの寿命が延長される
。
更に、本発明の装置と方法は、容器内において存在する
かも知れないいかなるハロゲンのバックグランドレベル
の測定を初期的に実施すること、そしてそれをハロゲン
センサーの現在出力から差引き容器内におけるハロゲン
混合体の濃度のレベルの増加そしてその漏洩を決定する
ことを可能としている。
かも知れないいかなるハロゲンのバックグランドレベル
の測定を初期的に実施すること、そしてそれをハロゲン
センサーの現在出力から差引き容器内におけるハロゲン
混合体の濃度のレベルの増加そしてその漏洩を決定する
ことを可能としている。
更に、本発明は容器内に存在しているかも知れないハロ
ゲン混合体の濃度のtノベルの広範囲なレンジを検出す
るために自動的にセンサー出力増幅器の利得を調整する
ことによって作動させ又調整された利得レベルと擬似的
な読み出し値に対抗するように有効な漏洩を判断するた
め該装置の感度に関する複数の程度の中から選択された
1つを記憶することを可能としている。
ゲン混合体の濃度のtノベルの広範囲なレンジを検出す
るために自動的にセンサー出力増幅器の利得を調整する
ことによって作動させ又調整された利得レベルと擬似的
な読み出し値に対抗するように有効な漏洩を判断するた
め該装置の感度に関する複数の程度の中から選択された
1つを記憶することを可能としている。
主制御器は本装置と通信していることから、漏洩の程度
、その発生位置、そのデーターと時間は以後の分析のた
めに主制御器のメモリー媒体に格納されることが出来る
。
、その発生位置、そのデーターと時間は以後の分析のた
めに主制御器のメモリー媒体に格納されることが出来る
。
本発明を考えるに当り、これ等上述したの開示は例示的
な物にすぎず又発明の範囲は添付の特許請求の範囲によ
り決定されるべきであることを認識すべきである。
な物にすぎず又発明の範囲は添付の特許請求の範囲によ
り決定されるべきであることを認識すべきである。
第1図は本発明に係るハロゲンモニター装置のダイアグ
ラムを示す図である。 第2A図から第2D図は第1図に示されるハロゲンモニ
ター装置の詳細を示す図である。 第3A図から第3F図は第2D図において示されるマイ
クロコントローラにより処理されるプログラムのフロー
チャートである。 第4A図から第4B図はハロゲンセンサーとそれに関連
する温度制御回路及びプログラム化されたマイクロコン
トーラと可変利得増幅器を含むようなハロゲンモニター
装置の好ましい他の具体例をそれぞれ示すダイアグラム
図である。 第5A図から第5C図は第4B図に示されているマイク
ロコントローラにより実行されるプログラムのフローダ
イアダラムである。 16・・・サージプロテクション、ラインフィルタリン
グ回路、 20・・・電源供給部、 24・・・電源スィッチ
、25・・・監視回路、 40・・・ヒーター調整及びセンサー、44、54・・
・A/D変換器、 56・・・サンプルホールド回路、 60・・・送受信器、 62・・・マイクロコントローラ、 70・・・可動利得設定回路、 74・・・センサー増幅器、 78・・・自動ゼロ化回路、 30・・・プロランアウト保護回路、 32・・・リセット回路。
ラムを示す図である。 第2A図から第2D図は第1図に示されるハロゲンモニ
ター装置の詳細を示す図である。 第3A図から第3F図は第2D図において示されるマイ
クロコントローラにより処理されるプログラムのフロー
チャートである。 第4A図から第4B図はハロゲンセンサーとそれに関連
する温度制御回路及びプログラム化されたマイクロコン
トーラと可変利得増幅器を含むようなハロゲンモニター
装置の好ましい他の具体例をそれぞれ示すダイアグラム
図である。 第5A図から第5C図は第4B図に示されているマイク
ロコントローラにより実行されるプログラムのフローダ
イアダラムである。 16・・・サージプロテクション、ラインフィルタリン
グ回路、 20・・・電源供給部、 24・・・電源スィッチ
、25・・・監視回路、 40・・・ヒーター調整及びセンサー、44、54・・
・A/D変換器、 56・・・サンプルホールド回路、 60・・・送受信器、 62・・・マイクロコントローラ、 70・・・可動利得設定回路、 74・・・センサー増幅器、 78・・・自動ゼロ化回路、 30・・・プロランアウト保護回路、 32・・・リセット回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、a)ガス状気体がその間を通って流れるような空間
を形成するために配置された第1と第2の電極を含むセ
ンサー、 b)該第1と第2の電極の間に電圧を印加し、それによ
ってその間にイオン化電流を流すため、該第1と第2の
電極を結合する手段、 c)ハロゲンの濃度レベルが選択されたレベルに増加し
たことを示すような該イオン化電流における増加を検出
しその増加を表わす表示を提供する該電極の1つと結合
された第1の制御手段 及び d)該第1と第2の電極の間の該電圧を減少させそれに
よって該イオン化電流を減少させて該センサーの寿命を
延長するため該増加した電流の表示に応答する第2の制
御手段 とを含むことを特徴とするガス状気体中におけるハロゲ
ンガスの選択されたレベルでの濃度を検出する装置。 2、該センサーを作動温度に加熱するに十分な電流を発
生させるために電圧を印加するため該第2の電極に接続
された手段を別に含んでいることを特徴とする請求項1
記載の検出装置 3、有効なハロゲン漏洩の指示についての表示を提供す
るための別の手段が含まれており、又励起手段が予め設
定された時間が経過した後に該第1と第2の電極の間の
電圧を増加させるため該電圧供給手段を励起し、それに
よって該検出手段は該選択されたレベルを超過するイオ
ン化電流におけるくり返しの増加を検出し該表示手段は
該警告表示を行うため上記複数の検出に応答するもので
あることを特徴とする請求項1記載の検出装置。 4、該励起手段は又該検出手段をディスエーブルするた
め増加した電流の表示に応答するものであることを特徴
とする請求項3記載の検出装置。 5、該励起手段は該電圧印加手段をして第1と第2の間
の電圧をウォームアップ期間の間増加せしめ、再イネー
ブル以前に該検知手段が該イオン化電流の検知のために
イネーブルされ更に、該センサーは、該検知手段が該イ
オン化電流のくり返しの増加を検出するため再イネーブ
ルされる以前に安定化されることを特徴とする請求項4
記載の検出装置。 6、該ハロゲン漏洩検知装置は更に記憶手段、及び該容
器内におけるハロゲンガスのバックグランドレベルを指
示する該イオン化電流の第1の読み出し値を得るための
手段、又該第1の読み出し値を該記憶手段に格納するた
めの手段、更には該イオン化電流の第2の読み出し値を
得るための手段と該記憶手段に非破壊的(nondes
tructively)にアクセスし、そして該バック
グランドレベルから上記ハロゲンガスの該レベルにおけ
るあらゆる増加を指示する補正された出力を提供するた
めに第2の読み出し値の各々から第1の読み出し値を減
算するための手段とを含んでいることを特徴とする容器
内に閉じこめられているガス状気体内のハロゲンガスの
漏洩を検出するために適合されている請求項1記載のハ
ロゲン検出装置。 7、該ガスモニター装置は a)該ガス状気体中のハロゲンガスの濃度レベルを指示
している信号を発生するため該ガス状気体に対し露出さ
れているセンサー、 b)記憶手段、 c)該容器内のハロゲンガスのバックグランドレベルを
指示する該センサー信号についての第1の読み出し値を
最初に得て、それを該記憶手段に格納するための第1の
制御手段、d)その後、センサー信号に関する第2の読
み出し値を得るため、そして該記憶手段に非破壊的にア
クセスし該バックグランドレベルからハロゲン濃度のレ
ベルのあらゆる増加を表示する補正値を得るため該第2
の読み出し値の各々から該第1の読み出し値を減算する
ための第2の制御手段とを含むことを特徴とする、該ガ
ス状気体中のハロゲンガスの濃度レベルにおける増加に
ついて、容器内のガス状気体を長期間に亘ってモニター
するための装置。 8、該記憶手段は不揮発性メモリーを含んでいることを
特徴とする請求項7記載のモニター装置。 9、該不揮発性メモリーは電気的に消去可能な電位計を
含んでいることを特徴とする請求項8記載のモニター装
置 10、容器内におけるハロゲンガスについての擬似的な
表示に対抗して有効な漏洩を表示しうる該ハロゲン濃度
のレベルにおける与えられた増加に関し該ガス状気体を
モニターするために適合されているものであって、更に
最初に第1の補正値を取りそして次に第2の補正値を取
るためのそして又該第1の補正値を該記憶手段に格納す
るための第3の制御手段、該ハロゲンガスの濃度レベル
の測定された増加についての表示を提供するために該格
納された第1の補正値と該第2の値の各々との間の差を
判断するために該記憶手段にアクセスするための第4の
制御手段及び該測定された増加の表示を該与えられた増
加とを比較し、もし大きい場合には、ハロゲンガスの有
効な漏洩を表示する警告指示を提供するための第5の制
御手段とを更に含んでいることを特徴とする請求項7記
載のハロゲンモニター装置。 11、該漏洩モニター装置は、 a)該ガス状気体中のハロゲンガスの濃度レベルを指示
している信号を発生するため該ガス状気体に対し露出さ
れているセンサー、 b)記憶手段、 c)該センサー信号の元の値を第1に取り、その後該セ
ンサー信号の現在値を取るための手段で又該記憶手段に
おいて該元の値を格納するための手段、 d)該ハロゲンガスの濃度レベルに関する測定された増
加の表示を提供するために格納された元の値と現在値の
各々との間の差を判断するため記憶装置にアクセスする
ための手段、 e)該増加を可能性ある増加のレンジから可変的に選択
するための手段、 f)該測定された増加を該選択された増加と比較し、も
し大きければ該ハロゲンガスの漏洩に関する表示を提供
するための手段、 を含むことを特徴とする、擬似的な表示に対してハロゲ
ンガスの有効な漏洩を表示するガス状気体中のハロゲン
ガスの濃度のレベルにおける選択された増加についてガ
ス状気体をモニターするための装置。 12、該ハロゲンガスの有効な漏洩を示す有効な警告表
示を行うため少くとも2個の該漏洩表示に応答する手段
を更に含んでいることを特徴とする請求項11記載の漏
洩モニター装置。 13、該モニター装置は、 a)該ガス状気体中のハロゲンガスの濃度レベルを指示
している信号を発生するため該ガス状気体に対し露出さ
れているセンサー、 b)該センサー信号を増幅するため該センサーと結合し
た手段で該増幅手段は可変利得を有しており、 c)該増幅手段の利得をセッティングするための手段及
び d)該センサー信号が予め決められたレベルより大きい
かどうかを判断し、もし大であれば該利得設定手段をし
て該増幅手段の利得を減少せしめるための手段 とを含むことを特徴とする容器内に閉じこめられたガス
状気体内のハロゲンガスについての濃度レベルの広い領
域を検出するためガス状気体をモニターする装置。 14、該判断手段が該センサー信号が予め定められたレ
ベルより大であることを判断するまでに該利得設定手段
をして該増幅手段の利得を増加させるための手段を更に
含んでいることを特徴とする請求項13記載のハロゲン
ガスモニター装置。 15、該設定手段は該増幅器の利得を複数の個別的利得
の中から選択された1つに可変的にセットするものであ
ることを特徴とするハロゲンガスモニター装置。 16、該設定手段が、該判断手段が該第2の信号が該予
め決定されたレベルより大であることを判断するまでに
該複数の利得のうちから次に大きな個別利得に該利得を
増加せしめそしてその後該利得設定手段をして該利得を
該複数の利得のうち次に最も低い個別の利得に設定せし
めるための手段を更に含んでいることを特徴とする請求
項15記載のハロゲンガスモニター装置 17、該センサーはその信号をアナログ形式で発生させ
るものであり、そして更に該アナログセンサー信号を対
応するデジタル信号に変換するために該信号を受信する
ため結合されたアナログ−デジタル変換器を含み該判断
手段は、該アナログデジタル変換器がオーバーフローし
ているかどうかを判断し、もしそうであれば該設定手段
をして該増幅手段の該利得を減少せしめるために該デジ
タル信号に応答するものであることを特徴とする請求項
13記載のハロゲンガスモニター装置。 18、擬似の表示に対抗して該ハロゲンガスの有効漏洩
を表示するハロゲンガスの濃度レベルにおける増加を検
出するために適合されたものであって、該利得設定手段
は、該利得を、該判断手段が該センサー信号が予め定め
られたレベルより高いことを判断するまで歩進的に増加
させ、又該利得設定手段をして決定されたより低い利得
にその利得を減少せしめる手段、記憶手段、該決定され
た利得の元の値を最初に取りその後該決定された利得に
関する最新の値を取りそして該決定された利得の元の値
を該記憶手段に格納する手段、該決定された利得に関す
る元の値と最新の値のそれぞれとの間の差を判断し、ハ
ロゲンガスの濃度レベルについての測定された増加の表
示を行うために該記憶手段にアクセスするための手段、
及び該決定された利得の差を予め定められた利得の差と
比較し、もし大であればハロゲンガスの有効な漏洩を示
す警告表示を発生させるための手段とを含むことを特徴
とする請求項13記載のハロゲンガスモニター装置。 19、該取り出し手段は最初にセンサー信号の元の値を
取り出し次で該センサー信号の現在の値を取り出し、そ
して該センサー信号の元の値を格納するためのものであ
り、 該比較手段は該決定された利得の差を該予め決定された
利得の増加と比較し、もし等しいか又は該センサー信号
の該現在値が該センサー信号の元の値より大である場合
に該ハロゲンガスの有効な漏洩に関する警告表示を提供
するためのものであることを特徴とする請求項18記載
のハロゲンガス漏洩モニター装置。 20、該漏洩モニター装置は、 a)該ガス状気体中のハロゲンガスの濃度レベルを指示
している信号を発生するため該ガス状気体に対し露出さ
れているセンサー、 b)記憶手段、 c)該センサー信号の元の値を取り出し次で該センサー
信号の現在の値を取り出しそして該元の値を該記憶手段
に格納するための手段 d)該格納された元の値と該現在値の各々との間の差を
判断し該ハロゲンガスの濃度レベルにおける測定された
増加の表示を行うために該記憶手段にアクセスするため
の手段、 e)該測定された増加を与えられた増加と比較し、もし
大であれば該ハロゲンガスの漏洩の表示を発生するため
の比較手段及び、 f)該漏洩表示に応答し該メッセージを制御器に送信す
るためイネーブルせしめられる手段とを含むことを特徴
とする、該ハロゲンガスの有効な漏洩を表示しうるよう
に該ガス状気体中のハロゲンガスの濃度レベルにおける
与えられた増加についてガス状気体をモニターし、そし
て該有効な漏洩を表示するメッセージを中央位置に置か
れた制御器に伝送するための遠隔地に置かれた装置。 21、該伝送手段は該メッセージとともに該対応する測
定された増加を制御器に伝送するため該漏洩表示に応答
するものであることを特徴とする請求項20記載の漏洩
モニター装置。 22、該センサーに結合された該センサー信号を増幅す
るための手段で、該増幅手段は可変利得を有している手
段、該増幅手段の利得を設定するための手段、第一に該
センサー信号の元の値に対応する設定された利得に関す
る第一の値を取り出しそしてその後に該センサー信号の
現在値の各々に対応して設定された利得に関する第2の
値を取り出しそして該第1と第2の利得値を該記憶手段
に格納するための手段、該記憶手段にアクセスし該設定
された利得に関する第1の値と第2の値の各々との間の
利得の差を判断し、該ハロゲンガスの濃度レベルの測定
された増加についての表示を行うための手段とを含み、
かつ該比較手段は、該決定された利得の差を予め決めら
れた利得の差と比較し、もし大きければ漏洩表示を行う
ためのものであり、又該伝送手段は該漏洩表示に応答し
て該メッセージとともに該決定された利得の差を制御器
に伝送するためイネーブルされるものであることを特徴
とする請求項20記載の漏洩モニター装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/134,293 US4910463A (en) | 1987-12-17 | 1987-12-17 | Halogen monitoring apparatus |
| US134293 | 1987-12-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01288762A true JPH01288762A (ja) | 1989-11-21 |
Family
ID=22462694
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (4)
| Country | Link |
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| US (1) | US4910463A (ja) |
| EP (1) | EP0320947A2 (ja) |
| JP (1) | JPH01288762A (ja) |
| CA (1) | CA1331792C (ja) |
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| GB2186695A (en) * | 1985-06-27 | 1987-08-19 | Uk G P I Nii Kommunaln | Halogen leak detector |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US8749245B2 (en) | 2008-02-15 | 2014-06-10 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Ion gauge, a monitoring system and a method for determining a total integrated concentration of substances having specific molecular weight in a gas sample |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA1331792C (en) | 1994-08-30 |
| EP0320947A2 (en) | 1989-06-21 |
| US4910463A (en) | 1990-03-20 |
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