JPH01290188A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH01290188A
JPH01290188A JP63120844A JP12084488A JPH01290188A JP H01290188 A JPH01290188 A JP H01290188A JP 63120844 A JP63120844 A JP 63120844A JP 12084488 A JP12084488 A JP 12084488A JP H01290188 A JPH01290188 A JP H01290188A
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JP
Japan
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bit line
bit
emitter
constant current
trd
Prior art date
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Pending
Application number
JP63120844A
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English (en)
Inventor
Tomoharu Awaya
友晴 粟屋
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 エミッタカップルドロジック構成のランダムアクセスメ
モリの半導体記憶装置に関し、回路の安定性が向上し、
消費電力を低減することを目的とし、 ランダムアクセスメモリの複数のビット線夫々の端部に
設けられたエミッタカップルドロジック構成の複数のビ
ット線トランジスタ夫々を、アドレスに応じた選択制御
信号が供給されるエミツタカップルドロジック及びトラ
ンジスタ出力回路よりなる複数のビットドライバーゲー
ト夫々の出力信号により導通又は遮断し、該アドレスに
応じたビット線を選択するビット線選択回路を有する半
導体記憶装置において、該複数のビットドライバーゲー
ト夫々のトランジスタ出力回路夫々に設けられ、各トラ
ンジスタ出力回路を共通の定電流源に接続する複数の終
端抵抗と、該複数のビット線トランジスタ夫々の共通接
続されたエミッタと電源との間に設けられたコンデンサ
とを有し構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体記憶装置に関し、特にエミッタカップル
ドロジック(ECL)!成のランダムアクセスメモリ(
RAM)の半導体記憶装置に関する。
従来から高速メモリとして、バイポーラトランジスタを
ECL構成で用いたRAMがある。このようなECL−
RAMでは消費電力の低減が要望されており、RAMの
複数のビット線の中からアドレスに応じたビット線を選
択するビット線選択回路についても低消費電力化が要望
されている。
〔従来の技術〕
第3図は従来の半導体記憶装置のビット線選択回路の一
例の回路図を示す。
同図中、端子101〜10Tl夫々にはXアドレスをデ
コードした選択制御信号が入来してビットドライバーゲ
ート111〜111夫々に供給され、ここで反転されて
n対のビット線121〜12T+夫々にコレクタを接続
されたビット線トランジスタTrla、 T rlb 
〜T rna、 Trnb夫々のベースに供給される。
ビットドライバーゲート111はECLのインバータを
構成するトランジスタTra、Trb及び定電流源13
と、電流増幅を行なうエミッタフォロア構成の2段のト
ランジスタTrc 、Trd及び定電流源14.15と
よりなり、他のビットドライバーゲートと同一構成であ
る。
ビット線121〜121夫々の一方のトランジスタTr
1a−Trna夫々のエミッタは共通に定電流源16に
接続され、他方のトランジスタTr1b〜7rnb夫々
のエミッタは共通に定電流源17に接続されたECL構
成である。上記の定電流源16.17夫々は読出し時に
選択されたセルの読出し用の電流を流すために設けられ
ている。
ビットドライバーゲート111〜111夫々は選択する
ビットに応じたものだけがHレベル出力で、他の全ては
Lレベル出力となる。
(発明が解決しようとする課題〕 ここでビット線12+の選択からビット線122の選択
に切換わる時、トランジスタT r 1a。
TrlbのベースであるA1点の電位は第4図の実線■
aに示す如く立下がり、トランジスタTr2a。
Tr2bのベースであるA2点の電位は実線■aの如く
立上がる。A1点がA2点より高い期間T1ではトラン
ジスタTr1b−Trnbのエミッタが共通接続された
B点の電位もA1点の電位低下と共に低下し、またA2
点がA1点より高くなる期間T2では点Bの電位はA2
点の電位上昇と共に上昇し実線maの如く変化する。こ
れはB点の電位がトランジスタTr1b〜Trnbのう
ち最高のベース電位からベース・エミッタ間電圧VBE
(一定値)だけ低い電位であるためであり、トランジス
タTrla−4rnaの共通接続されたエミッタについ
ても同様である。
期間T2でB点電位が上昇すると、これがトランジスタ
Tr1bのベース・エミッタ間容量を通ってA1点の電
位に形容し、A1点電位は期間T2でスムーズに低下し
ない。
期間下2でもA+点の電位をスムーズに低下させるには
定電流源15の電流駆動力を増加させれば良いのではあ
るが、そのためにはトンジスタTrdの電流駆動力も増
大させねばならない。換言すれば期間T2にトランジス
Trdの駆動によってB点の電位を上昇させる。その結
果トランジスタTrdの電流駆動力が過剰となり、実線
[aに示す点A2の波形に激しいオーバーシュート。
リンギングが発生し、回路の安定性が悪いという問題が
あった。
特に、1つのビットドライバーゲートで複数対のビット
線を選択して同時に複数ビットのアクセスを行なう構成
のRAMにおいてはトランジスタTrdの電流駆動力を
大幅に増大させねばならず、上記の問題がいちじるしい
また、定電流源14.15は主としてA1点をHレベル
からLレベルに立下げる時トランジスタTrla、Tr
lbのベースの蓄積電荷を放電するために必要となるも
ので、この定電流源14.15に常時電流を流し続ける
のは無駄が多く、消費電力が大きくなるという問題があ
った。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、回路の安定性
が向上し、消費電力を低減するビット選択回路を有する
半導体記憶装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体記憶装置は、ランダムアクセスメモリの
複数のビット線(121〜12η)夫々の端部に設けら
れたエミッタカップルドロジック構成の複数のビット線
トランジスタ(T r 1a。
丁r1b〜丁r na、 T r nb)夫々を、アド
レスに応じた選択制御信号が供給されるエミッタカップ
ルドロジック(Tra 、Trb 、13)及びトラン
ジスタ出力回路(丁rc、Trd)よりなる複数のビッ
トドライバーゲート(211〜21Tl)夫々の出力信
号により導通又は遮断し、アドレスに応じたビット線を
選択するビット線選択回路を有する半導体記憶装置にお
いて、 複数のビットドライバーゲート(211〜21Tl)夫
々のトランジスタ出力回路(7rc 、Trd )夫々
に設けられ、各トランジスタ出力回路を共通の定電流I
(22,23>に接続する複数の終端抵抗(Rc 、 
Rd )と、 複数のビット線トランジスタ(Trla、丁r1b〜T
rna、 T rnb)夫々の共通接続されたエミッタ
と電源(Vc c )との間に設けられたコンデンサ(
C+ 、C2)とを有する。
〔作用〕
本発明では、コンデンサ(C+ 、C2)を設けること
によりビット線トランジスタ(T r 1a。
Trlb−Trna、 Trnb)夫々の共通接続され
たエミッタの電位変動を抑制し、複数のビットドライバ
ーゲート(211〜21η)夫々のトランジスタ出力回
路(Trc、丁rd)の電流駆動力を無駄に増大させる
必要をなくし、かつ回路の安定性を向上させている。
また、複数のトランジスタ出力回路(Trc。
Trd>夫々に終端抵抗(Rc 、 Rd )を設けて
定電流源(22,23)を共通化し、複数のビットドラ
イバーゲート(211〜211)の消費電力を低減して
いる。
〔実施例〕
第1図は本発明装置のビット線選択回路の一実施例の回
路図を示す。同図中、第3図と同一部分には同一符号を
付し、その説明を省略する。
ビットドライバーゲート21電はECL構成のトランジ
スタTra、Trb及゛び定電流源13と、エミッタフ
ォロア構成の2段のトランジスタTrC,Trdとより
なり、上記のトランジスタTrc 、Trd夫々のエミ
ッタは終端抵抗Rc。
Rd夫々を介して定電流源22.23夫々に接続されて
いる。ビットドライバーゲート212〜21η夫々もビ
ットドライバーゲート211と同一構成であり、これら
のビットドライバーゲート212〜21η夫々のエミッ
タフォロア構成のトランジスタ”rrc、Trd夫々の
エミッタは全て終端抵抗RC、Rdを介して定電流源2
2.23夫々に共通に接続されている。上記のビットド
ライバーゲート211〜211夫々の出力はトランジス
タTrla、 Trlb 〜Trna、 Trnb夫々
のゲートに供給される。
ビット線121〜121夫々の一方のトランジスタTr
1a〜Trna夫々のエミッタが共通接続された0点は
定電流源16に接続されると共に、波形整形用のコンデ
ンサc2の一端に接続され、コンデンサC2の他端には
IHIIIVccが印加されている。同様に他方のトラ
ンジスタTr1b−Trnb夫々のエミッタが共通接続
された8点は定電流源17に接続されると共に波形整形
用のコンデンサC1の一端に接続され、コンデンサC1
の細端には電源Vccが印加されている。
ここで、ビット線12+の選択からビット線122の選
択に切換ねるとき、A1点の電位は第2図の実線1bに
示す如く立下がり、A2点の電位は実線mbに示す如く
立上がる。このとき、コンデンサC1が8点の電位変動
を抑制するため、A1点がA2点より高い期間T3での
Ai点電位の低下及びA2点がA1点より高い期間T4
でのA2点電位の上昇にも拘らf8点電位は実線I[I
bに示す如く略一定に保持される。このため、期間T4
でA1点電位はスムーズに低下し、定電流源23及びト
ランジスタTrdの電流駆動力を必要以上に大きくする
必要がなく、結果として実線Ibに示す如く点A2の波
形にオーバーシュート。
リンギングが発生することを防止でき、回路の安定性が
向上する。
また、ビットドライバーゲート21t〜21T+は、選
択を行なう1つのビットドライバーゲートがHレベルの
出力で他の全てのビットドライバーゲートはLレベル出
力である。このため選択を行なうビットドライバーゲー
トのエミッタフォロアのトランシタTrc、Trdにの
み電流が流れ、他のビットドライバーゲートのトランジ
スタTrc 、Trdにはほとんど電流が流れない。従
って定電流源22.23夫々に流れる電流は従来回路の
定電流?!14.15夫々の2倍程度で済み、回路全体
でみると、定電流源23.24の消V!電力は従来の2
/n(但しnはビットドライバーゲートの数)に低減さ
れる。
なお、上記実施例ではビットドライバーゲート211〜
21T+夫々は2段のエミッタフォロア構成の出力回路
を用いているが、これは1段又は3段以上のエミッタフ
ォロア構成であっても良く、また、ダーリントン構成で
あっても良く、上記実施例に限定されない。
〔発明の効果〕
上述の如く、本発明の半導体記憶装置によれば、消費電
力が従来に比して大幅に低減され、かつ、回路の安定性
が向上し、実用上きわめて有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置のビットFi1選択回路の一実施例
の回路図、 第2図は第1図の回路各部の波形図、 第3図は従来回路の一例の回路図、 第4図は第3図の回路各部の波形図である。 図において、 121〜12ηはビット線、 16.17.22.23は定電流源、 211〜21Tlはビットドライバーゲート、Tra−
Trdはトランジスタ、 Tr1a、Tr1b〜Trna、Trnbはビット線ト
ランジスタ、 C+ 、Czはコンデンサ を示す。 代 理 人 弁理士 伊 東 忠 彦′□゛ ・・、−
シ。 第2図 [有]13図の怪お1名4νの−5杉図第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ランダムアクセスメモリの複数のビット線 (12_1〜12_n)夫々の端部に設けられたエミッ
    タカップルドロジック構成の複数のビット線トランジス
    タ(Tr1a、Tr1b〜Trna、Trnb)夫々を
    、アドレスに応じた選択制御信号が供給されるエミッタ
    カップルドロジック(Tra、Trb、13)及びトラ
    ンジスタ出力回路 (Trc、Trd)よりなる複数のビットドライバーゲ
    ート(21_1〜21_n)夫々の出力信号により導通
    又は遮断し、該アドレスに応じたビット線を選択するビ
    ット線選択回路を有する半導体記憶装置において、 該複数のビットドライバーゲート(21_1〜21_n
    )夫々のトランジスタ出力回路(Trc、Trd)夫々
    に設けられ、各トランジスタ出力回路を共通の定電流源
    (22、23)に接続する複数の終端抵抗(Rc、Rd
    )と、 該複数のビット線トランジスタ(Tr1a、Tr1b〜
    Trna、Trnb)夫々の共通接続されたエミッタと
    電源(Vcc)との間に設けられたコンデンサ(C_1
    、C_2)とを有することを特徴とするビット線選択回
    路を有する半導体記憶装置。
JP63120844A 1988-05-18 1988-05-18 半導体記憶装置 Pending JPH01290188A (ja)

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