JPH01290592A - ダイヤモンドの合成方法 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
[産業上の利用分野]
本発明はダイヤモンドの合成方法に関し、さらに詳しく
は、たとえば硬質保!I膜を必要とする切削1几製造分
野、半導体製造分野等に広く利用することができるダイ
ヤモンドの合成方法に関する。 [従来の技術およびその課題] 近年、ダイヤモンドの合成技術が著しい発展を遂げつつ
あり、これまでに、炭化水素をプラズマ分解して基板表
面に硬質炭素膜を得るプラズマCvD法、電子すイクロ
トロン共鳴プラズマ法(ECR法)、不均等化学反応を
利用して基板表面に硬質炭素膜を得る化学輸送法などの
CVD法、熱絵極PIGガン、冷陰極PIGガンあるい
はスパッターガンを用いたイオン化蒸着法等の種々の合
成技術が知られるに至っている。 ところで、従来、提案されてきた方法としては、原料と
してIR化水素または炭化水素と水素との混合ガスを用
いる方法(特Ill 1158−91100号公報、特
開昭58−110494号公報、特開昭58−1351
17号公報、特開昭59−83732号公報、特開昭E
iO−103099号公報等参照)、炭化水素と水素か
らなる混合ガスに一酸化炭素を含有させた原料ガスを用
いる方法(特開昭80−1910!17号公報参照)、
水素と一酸化炭素との混合ガスを用いる方法(特開昭8
2−265198号公報)等が開示されている。 しかしながら、従来の方法によると、ダイヤモンドの製
膜速度が著しく低いものであったり、またそれを、1す
るための原料ガスの多成分化が。 その調製を複雑にするとともに、その操作も著しく煩雑
であること等、多くの課題を残している。 また、従来は含炭素活性種(CH3、CHy等)を発生
せしめてダイヤモンドを合成する方法をとるために多量
の水素ガスと原料を励起するための多r、1のエネルギ
ーを必要としていた。 すなわち、含炭素活性種の発生は原料ガス励起エネルギ
ーの多大な消費を伴なうという不都合とともに、含炭素
活性種の発生に要する水素ガスが広い爆発限界を有する
ことを理由に、ダイヤモンド合成工程における安全性保
持という点等においても聞届があった。 また含炭素活性種の特性上、その生成および維持が難し
く、実質的にダイヤモンド膜成長の律速要因となってい
た。 この発明の目的は、前記要請に応え、直流プラズマCV
D法、高周波プラズマCVD法、マイクロ波プラズマC
VD法、熱フイラメントCVD法、化学輸送法、イオン
化蒸着法、イオンビームノヘ着法、電r゛サイクロトロ
ン共鳴プラズマ法(ECR法)等のいずれの方法による
場合であってもダイヤモンドの堆積速度が速く、しかも
原料ガス励起エネルギーを有効に利用でき、ダイヤモン
ドの合成工程における安全性も極めて高く、原料ガスの
調製に要する操作が筒中で生産効率に優れた、ダイヤモ
ンドの合成方法を提供することである。 [前記課題を解決するための手段] −前記[1的を達成するために、この発IJJPiが鋭
、・1検討を重ねた結果、炭化水素ガスと含酸素無機化
合物ガスとを含有する原料ガスを励起し、得られたその
ガスを基板に接触させることによって、驚くべきことに
、従来、必須の原料とされていた水素ガスを用いなくて
も基板上にダイヤモンドを製造することができ、しかも
速い堆積速度で効率よ〈ダイヤモンドを合成することが
できることを見い出し、また、炭化水素ガスと含酸素無
機化合物ガスと水とを含有するha料ガスを励起して得
られるガスを基板に接触させると、さらに速い堆積速度
で効率よくダイヤモンドを合成することができることを
見い出してこの発明に到達した。 すなわち、前記課題を解決するための請求項lに記載の
発明の構成は、炭化水素ガスと含酸素無機化合物ガスと
を励起して得られるガスを、基板に接触させることを特
徴とするダイヤモンドの合成方法である。 また請求項2に記載の発IJ+の構成は、炭化水素ガス
と含1v素無機化合物ガスと水とを励起してス!Iられ
るガスを、基板に接触させることを特徴とするダイヤモ
ンドの合成方法である。 以下、本発明につき詳細に説明する。 まず請求項1の構成について説明する。 前記原料ガスは炭化水素ガスと含酸素無機化合物ガスと
からなり、前記炭化水よガスとしては、後記の炭化水素
等をガス化したものを用いる。前記炭化水ぶとして、た
とえばメタン、エタン、プロパン、ブタン等のパラフィ
ン系炭化本末:エチレン、プロピレン、ブチレン等のオ
レフィン系j欠化水素;アセチレン、アリレン等のアセ
チレン系炭化水素;ブタジェン等のジオレフィン系炭化
水素;シクロプロパン、シクロブタン、シクロペンクン
、シクロヘキサン等の脂環式炭化水、に;シクロブタジ
ェン、ベンゼン、トルエン、キシレン、ナフタレン等の
芳香族炭化水素:アセトン、ジエチルケトン、ベンゾフ
ェノン等のケトン類;メタノール、エタノール等のアル
コール類ニトリメチルアミン、トリエチルアミン等のア
ミン類;さらに、単体ではないが、ガソリン等の消防法
第4類危険物の第1石油類、ケロシン、テレピン油、し
ょう脳油、松根油副の第2石油類、重油等の第3石油類
、ギヤー油、シリンダー油等の第4石油類などを有効に
使用することができる。また前記各種の炭素化合物を混
合して使用することもできる。 これらの中でも、好ましいのはメタン、エタン、プロパ
ン等のパラフィン系炭化水素等の炭化水素、アセトン、
ベンゾフェノン等のケトン類およびメタノール、エタノ
ール等のアルコール5A”9の含酸素有Ja、iK素化
合物、トリメチルアミン、トリエチルアミン等のアミン
類等の含窒素有機炭素化合物である。 前記含酸素fi機機会合物ガスしては、たとえば−酸化
)に素、二酸化炭麦等が挙げられる。 前記炭化水素ガスと前記含酸素無機化合物ガスとの相対
濃度は1通常、前記炭化水素ガスと前記含酸素%機会合
物ガスとの合計に対する含酸;に無機化合物ガスの含有
!、1として、20〜80モル%である。 含酸素無機化合物ガスの含有、IJが20モル%未満の
ときは黒鉛状炭素が多く析出することがあり、80モル
%を超えるときは、ダイヤモンドが析出しなくなること
がある。 この発明の方法においては、所9!により前記原料ガス
のキャリヤーガスとして、不活性ガスを用いることもで
きる。 不活性ガスの具体例としては、アルゴンガス、ネオンガ
ス、ヘリウムガス、キセノンガス、窒素ガスなどが挙げ
られる。 これらは、1種単独で用いてもよいし、2種以上を組合
わせて用いてもよい。 キャリヤーガスの混合比は、適宜、選択することできる
。 キャリヤーガスと 前記原料ガスの反応室内への供給流
賃は、通常、0.15can以上である。 前記供給流!4が0.1 secm未満のときはダイヤ
モンドの析出が遅くなることがある。 前記原料ガスを励起して励起状態の炭素を含有する前記
原料ガスを得る手段としては、たとえば熱電子放射材(
熱フィラメント)を用いる方法。 直流によるプラズマ放電法、高周波によるプラズマ放電
法、マイクロ波によるプラズマ放電法、電子サイクロト
ロン共鳴プラズマ法(ECR法)kgによる公知の方法
を採用することができる。 前記基板としては、特に制限がなく、たとえばシリコン
、アルミニウム、チタン、タングステン、モリブデン、
コバルトおよびクロムなどの金属、これらの酸化物、窒
化物および炭化物、これらの合金、Al701−Fe系
、Tie−Xi系、〒1c−(:o系およびB4C−F
e系等のサーメットならびに各種セラミックスからなる
もののいずれをも使用することができる。 反応に適当な前記基板の表面の温度は通常。 400〜1,200℃である。この温度が400℃より
低い場合には、ダイヤモンドの堆積速度が遅くなったり
、励起状態の)RJが生成しないことがある。 −一方、1.200℃を超える場合には、ノ^板上に堆
積したダイヤモンドがエツチングにより削られてしまい
、堆積速度の向上が見られないことがある。 反応圧力は1通常、 10−6〜101 torrt’
ある0反応圧力が1O−6torrよりも低い場合には
、ダイヤモンドの堆積速度が遅くなったり、ダイヤモン
ドが析出しなくなったりする場合がある。一方、10’
torrより「Ωiくしてもそれに相当する効果はス1
)られない。 次に、請求項2の構成について説明する。 原料ガス成分としての炭化木>kガスの種類および、含
酸素無機化合物ガスの種類、原料ガスの励起手段、基板
の材質ならびに所望によるキャリヤーガスの種類は、請
求項1におけるものと同様である。 原料ガス成分としての前記木は、本発明の目的に支障が
ない限りにおいて、その水源を特に制限するものではな
いが、通常は純水を水蒸気化したものを用いる。 原料ガス中の前記炭化水素ガスと前記含酸素無機化合物
ガスの相対温度は通常、前記炭化水素ガスと前記含酸素
無機化合物ガスとの合計に対する含酸素無機化合物ガス
の含有量として1〜99モル%である。 含酸素無機化合物ガスの含有量が1モル%未満のときは
、黒鉛状炭素が多く析出することがあり、89モル%を
超えるときは、それに相応する効果が得られないことが
ある。 原料ガス中の前記木藩気の濃度は、前記炭化水素ガスと
前記含酸素無機化合物ガスとの合計に対する木ノ本気の
含右礒として0.01〜lOモル%である。 前記水蒸気の濃度が0.01モル5未満であったり、1
0モル%を超えると、七れに相応する効果が得られない
ことがある。 前記原料ガスの反応室内への供給流量は通常。 0、ISccm以上である。 前記供給流量が0.1scc+w未満のときは、ダイヤ
モンドの析出が遅くなることがある。 反応に適当な前記基板の表面の温度は通常。 400℃〜1,200℃である。この温度が400℃よ
り低い場合には、ダイヤモンドの堆積速度が遅くなった
り、励起状mの炭素が生成しないことがある。一方、
1,200℃を超える場合には、基板上に堆積したダイ
ヤモンドがエツチングにより削られてしまい、堆積速度
の向上が見られないことがある。 反応圧力は通常、10−’〜103torrである0反
応圧力が1O−6torrよりも低い場合には、ダイヤ
モンドの堆積速度が遅くなったり、ダイヤモンドが析出
しなくなったりする場合がある。一方、103torr
より高くしてもそれに相当する効果は得られない。 このようにして得られたダイヤモンド膜は、半導体等の
電子素子材料等や、切削工具の硬質保護膜として好適に
利用することができる。 [実施例] 次いで、この発明の実施例を示す。 (実施例1) 周波数2.45GHzのマイクロ波電源を使用し、ノS
板温度り00℃、圧力4(ltorrの条件下に出力を
400Wに設定した。 反応室内に、メタン流量を55ccc−酸化炭ふ流量を
5 scc層の;1合で導入して、マイクロ波プラズマ
CVD法によりダイヤモンドの合成を1時間行って、前
記温度に制御した基板上に堆積物を得た。なお、基板に
はシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子m微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察し
たところ、ダイヤモンドであることを確認した。 なお、ダイヤモンドの製膜速度は1.Bm/hrであっ
た。 (実施例2) 実施例1と回じ〈周波数2.45GHzのマイクロ波電
源を使用し、ス(板温度900℃、圧力35torrの
条件下に出力を450Wに設定した。 反応室内に、メタン流ilS、を5 secm、二酸化
)5素流:1ニーを9 scc腸の;13合で導入して
、マイクロ波プラズマCVD法によりダイヤモンドの合
成を時間行って、前記温度に制御したノ^板上に堆積物
を得た。なお、基板にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察し
たところ、ダイヤモンドであることを確認した。 なおダイヤモンドの製膜速度は0.8 gm/ h r
であった。 (実施例3) ECR法で、基板温度700℃、圧力10− ’ to
rrノ条件に設定した。 反応室内に、メタン流量を10scc層、−酸化炭素l
i、;1::をlosccmの割合で導入して、ダイヤ
モンドの合成を3時間行って、前記温度に制御した基板
上に堆積物を得た。なお、基板にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微ta(SEM)により重犯堆積物の表面を観察
したところ、不純物のないダイヤモンドであることを確
認した。 なおダイヤモンドのtA膜速度は0.3 pm/ h
rであった。 (実施例4) 実施例1と同じ周波数2.45GHzのマイクロ波゛市
源を使用し、基板温度900℃、圧力50torrの条
件下に出力を350Wに設定した。 反応室内に、メタン流;!kを55ccs、−酸化炭素
流量−を55cc(水蒸気を0.5SCCsの割合で導
入して、マイクロ波プラズマCVD法によりダイヤモン
ドの合成を1時間行って、前記温度に制御した基板上に
堆積物を得た。なお、基板にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
′電子顕微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察
したところ、ダイヤモンドであることを確認した。 なおダイヤモンドの製膜速度はIJLm/hrであった
。 (実施例5) ECR法で、基板温度750℃、圧力10−’torr
の条件に設定した。 反応室内に、メタン流−1−を15sccm、−酸化炭
素流星を5sccm 、水蒸気を0.4 Scc膳の割
合で導入して、ダイヤモンドの合成を1時間行って、前
記温度に制御した基板上に堆積物を得た。なお、基板に
はシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顧e1m(SEM)により前記堆積物の表面を観察
したところ、不純物のないダイヤモンドであることを確
認した。 なおダイヤモンドの製膜速度は0.5μm/hrであっ
た。 (実施例6) 熱フイラメント法で、 Ta、フィラメントを使用し、
基板温度800℃、圧力40torrの条件に設定した
。 反応室内に、メタン流量を40scc鳳、−酸化炭;に
流にを80+ce麿、水蒸気を5 scc朧の一11
合で導入して、ダイヤモンドの合成を1時間行って、前
記温度に制御した基板」二に堆積物を得た。なお、基板
にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微&2(SEM)により前記堆積物の表面を1i
Sl察したところ、ダイヤモンドであることを確認した
。 なおダイヤモンドの製膜速度は3ルm/hrであった。 (実施例7) 実施例1と同じ周波数2.45GHzのマイクロ波電源
を使用し、2!板温度900℃、圧力40torrの条
件下に出力を400Wに設定した。 反応室内に、メタン流量を5 scc鱈、−酸化炭素流
横を55Ccs、水蒸気を0.85Ccsの割合で導入
して、マイクロ波プラズマCVD法によりダイヤモンド
の合成を1時間行って、前記温度に制御した基板−Lに
堆積物をず!Iた。なお、基板にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察し
たところ、ダイヤモンドであることを確認した。 なおダイヤモンドの製膜速度は2.0終m / h r
であった。 (実施例8) 実施例1と同じ周波fi2.45GHzのマイクロ波′
准原を使用し、基板温度900℃、圧力35torrの
条件下に出力を450 wに設定した。 反応室内に、メタン流量を5 scc鳳、二酸化炭素流
量を9 see層、水蒸気を0.8 scc厘の11合
で導入して、マイクロ波プラズマCVD法によりダイヤ
モンドの合成を1時間行って、前記温度に制御した基板
上に堆積物を得た。なお、基板にはシリコンを用いた。 f’)られた堆積物について、ラマン分光分析および走
査型電子WJWk鏡(SEM)により前記堆積物の表面
を181したところ、ダイヤモンドであることを確認し
た。 なおダイヤモンドの製膜速度は1.24 m/ h r
であった・ (実施例9) ECR法で、基板温度700℃、圧力10− l to
rrノ条件に設定した。 反応室内に、メタン流量を10sec鵬、−酸化炭素流
!迂をl0scc履、水蒋気を0.4 sec腸の;1
合で導入して、ダイヤモンドの合成を1時間行って、前
記温度に制御した基板−Lに堆積物を得た。なお、基板
にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察し
たところ、f鈍物のないダイヤモンドであることを確認
した。 なおダイヤモンドの製膜速度は0.8 Bm/ h r
であった。
は、たとえば硬質保!I膜を必要とする切削1几製造分
野、半導体製造分野等に広く利用することができるダイ
ヤモンドの合成方法に関する。 [従来の技術およびその課題] 近年、ダイヤモンドの合成技術が著しい発展を遂げつつ
あり、これまでに、炭化水素をプラズマ分解して基板表
面に硬質炭素膜を得るプラズマCvD法、電子すイクロ
トロン共鳴プラズマ法(ECR法)、不均等化学反応を
利用して基板表面に硬質炭素膜を得る化学輸送法などの
CVD法、熱絵極PIGガン、冷陰極PIGガンあるい
はスパッターガンを用いたイオン化蒸着法等の種々の合
成技術が知られるに至っている。 ところで、従来、提案されてきた方法としては、原料と
してIR化水素または炭化水素と水素との混合ガスを用
いる方法(特Ill 1158−91100号公報、特
開昭58−110494号公報、特開昭58−1351
17号公報、特開昭59−83732号公報、特開昭E
iO−103099号公報等参照)、炭化水素と水素か
らなる混合ガスに一酸化炭素を含有させた原料ガスを用
いる方法(特開昭80−1910!17号公報参照)、
水素と一酸化炭素との混合ガスを用いる方法(特開昭8
2−265198号公報)等が開示されている。 しかしながら、従来の方法によると、ダイヤモンドの製
膜速度が著しく低いものであったり、またそれを、1す
るための原料ガスの多成分化が。 その調製を複雑にするとともに、その操作も著しく煩雑
であること等、多くの課題を残している。 また、従来は含炭素活性種(CH3、CHy等)を発生
せしめてダイヤモンドを合成する方法をとるために多量
の水素ガスと原料を励起するための多r、1のエネルギ
ーを必要としていた。 すなわち、含炭素活性種の発生は原料ガス励起エネルギ
ーの多大な消費を伴なうという不都合とともに、含炭素
活性種の発生に要する水素ガスが広い爆発限界を有する
ことを理由に、ダイヤモンド合成工程における安全性保
持という点等においても聞届があった。 また含炭素活性種の特性上、その生成および維持が難し
く、実質的にダイヤモンド膜成長の律速要因となってい
た。 この発明の目的は、前記要請に応え、直流プラズマCV
D法、高周波プラズマCVD法、マイクロ波プラズマC
VD法、熱フイラメントCVD法、化学輸送法、イオン
化蒸着法、イオンビームノヘ着法、電r゛サイクロトロ
ン共鳴プラズマ法(ECR法)等のいずれの方法による
場合であってもダイヤモンドの堆積速度が速く、しかも
原料ガス励起エネルギーを有効に利用でき、ダイヤモン
ドの合成工程における安全性も極めて高く、原料ガスの
調製に要する操作が筒中で生産効率に優れた、ダイヤモ
ンドの合成方法を提供することである。 [前記課題を解決するための手段] −前記[1的を達成するために、この発IJJPiが鋭
、・1検討を重ねた結果、炭化水素ガスと含酸素無機化
合物ガスとを含有する原料ガスを励起し、得られたその
ガスを基板に接触させることによって、驚くべきことに
、従来、必須の原料とされていた水素ガスを用いなくて
も基板上にダイヤモンドを製造することができ、しかも
速い堆積速度で効率よ〈ダイヤモンドを合成することが
できることを見い出し、また、炭化水素ガスと含酸素無
機化合物ガスと水とを含有するha料ガスを励起して得
られるガスを基板に接触させると、さらに速い堆積速度
で効率よくダイヤモンドを合成することができることを
見い出してこの発明に到達した。 すなわち、前記課題を解決するための請求項lに記載の
発明の構成は、炭化水素ガスと含酸素無機化合物ガスと
を励起して得られるガスを、基板に接触させることを特
徴とするダイヤモンドの合成方法である。 また請求項2に記載の発IJ+の構成は、炭化水素ガス
と含1v素無機化合物ガスと水とを励起してス!Iられ
るガスを、基板に接触させることを特徴とするダイヤモ
ンドの合成方法である。 以下、本発明につき詳細に説明する。 まず請求項1の構成について説明する。 前記原料ガスは炭化水素ガスと含酸素無機化合物ガスと
からなり、前記炭化水よガスとしては、後記の炭化水素
等をガス化したものを用いる。前記炭化水ぶとして、た
とえばメタン、エタン、プロパン、ブタン等のパラフィ
ン系炭化本末:エチレン、プロピレン、ブチレン等のオ
レフィン系j欠化水素;アセチレン、アリレン等のアセ
チレン系炭化水素;ブタジェン等のジオレフィン系炭化
水素;シクロプロパン、シクロブタン、シクロペンクン
、シクロヘキサン等の脂環式炭化水、に;シクロブタジ
ェン、ベンゼン、トルエン、キシレン、ナフタレン等の
芳香族炭化水素:アセトン、ジエチルケトン、ベンゾフ
ェノン等のケトン類;メタノール、エタノール等のアル
コール類ニトリメチルアミン、トリエチルアミン等のア
ミン類;さらに、単体ではないが、ガソリン等の消防法
第4類危険物の第1石油類、ケロシン、テレピン油、し
ょう脳油、松根油副の第2石油類、重油等の第3石油類
、ギヤー油、シリンダー油等の第4石油類などを有効に
使用することができる。また前記各種の炭素化合物を混
合して使用することもできる。 これらの中でも、好ましいのはメタン、エタン、プロパ
ン等のパラフィン系炭化水素等の炭化水素、アセトン、
ベンゾフェノン等のケトン類およびメタノール、エタノ
ール等のアルコール5A”9の含酸素有Ja、iK素化
合物、トリメチルアミン、トリエチルアミン等のアミン
類等の含窒素有機炭素化合物である。 前記含酸素fi機機会合物ガスしては、たとえば−酸化
)に素、二酸化炭麦等が挙げられる。 前記炭化水素ガスと前記含酸素無機化合物ガスとの相対
濃度は1通常、前記炭化水素ガスと前記含酸素%機会合
物ガスとの合計に対する含酸;に無機化合物ガスの含有
!、1として、20〜80モル%である。 含酸素無機化合物ガスの含有、IJが20モル%未満の
ときは黒鉛状炭素が多く析出することがあり、80モル
%を超えるときは、ダイヤモンドが析出しなくなること
がある。 この発明の方法においては、所9!により前記原料ガス
のキャリヤーガスとして、不活性ガスを用いることもで
きる。 不活性ガスの具体例としては、アルゴンガス、ネオンガ
ス、ヘリウムガス、キセノンガス、窒素ガスなどが挙げ
られる。 これらは、1種単独で用いてもよいし、2種以上を組合
わせて用いてもよい。 キャリヤーガスの混合比は、適宜、選択することできる
。 キャリヤーガスと 前記原料ガスの反応室内への供給流
賃は、通常、0.15can以上である。 前記供給流!4が0.1 secm未満のときはダイヤ
モンドの析出が遅くなることがある。 前記原料ガスを励起して励起状態の炭素を含有する前記
原料ガスを得る手段としては、たとえば熱電子放射材(
熱フィラメント)を用いる方法。 直流によるプラズマ放電法、高周波によるプラズマ放電
法、マイクロ波によるプラズマ放電法、電子サイクロト
ロン共鳴プラズマ法(ECR法)kgによる公知の方法
を採用することができる。 前記基板としては、特に制限がなく、たとえばシリコン
、アルミニウム、チタン、タングステン、モリブデン、
コバルトおよびクロムなどの金属、これらの酸化物、窒
化物および炭化物、これらの合金、Al701−Fe系
、Tie−Xi系、〒1c−(:o系およびB4C−F
e系等のサーメットならびに各種セラミックスからなる
もののいずれをも使用することができる。 反応に適当な前記基板の表面の温度は通常。 400〜1,200℃である。この温度が400℃より
低い場合には、ダイヤモンドの堆積速度が遅くなったり
、励起状態の)RJが生成しないことがある。 −一方、1.200℃を超える場合には、ノ^板上に堆
積したダイヤモンドがエツチングにより削られてしまい
、堆積速度の向上が見られないことがある。 反応圧力は1通常、 10−6〜101 torrt’
ある0反応圧力が1O−6torrよりも低い場合には
、ダイヤモンドの堆積速度が遅くなったり、ダイヤモン
ドが析出しなくなったりする場合がある。一方、10’
torrより「Ωiくしてもそれに相当する効果はス1
)られない。 次に、請求項2の構成について説明する。 原料ガス成分としての炭化木>kガスの種類および、含
酸素無機化合物ガスの種類、原料ガスの励起手段、基板
の材質ならびに所望によるキャリヤーガスの種類は、請
求項1におけるものと同様である。 原料ガス成分としての前記木は、本発明の目的に支障が
ない限りにおいて、その水源を特に制限するものではな
いが、通常は純水を水蒸気化したものを用いる。 原料ガス中の前記炭化水素ガスと前記含酸素無機化合物
ガスの相対温度は通常、前記炭化水素ガスと前記含酸素
無機化合物ガスとの合計に対する含酸素無機化合物ガス
の含有量として1〜99モル%である。 含酸素無機化合物ガスの含有量が1モル%未満のときは
、黒鉛状炭素が多く析出することがあり、89モル%を
超えるときは、それに相応する効果が得られないことが
ある。 原料ガス中の前記木藩気の濃度は、前記炭化水素ガスと
前記含酸素無機化合物ガスとの合計に対する木ノ本気の
含右礒として0.01〜lOモル%である。 前記水蒸気の濃度が0.01モル5未満であったり、1
0モル%を超えると、七れに相応する効果が得られない
ことがある。 前記原料ガスの反応室内への供給流量は通常。 0、ISccm以上である。 前記供給流量が0.1scc+w未満のときは、ダイヤ
モンドの析出が遅くなることがある。 反応に適当な前記基板の表面の温度は通常。 400℃〜1,200℃である。この温度が400℃よ
り低い場合には、ダイヤモンドの堆積速度が遅くなった
り、励起状mの炭素が生成しないことがある。一方、
1,200℃を超える場合には、基板上に堆積したダイ
ヤモンドがエツチングにより削られてしまい、堆積速度
の向上が見られないことがある。 反応圧力は通常、10−’〜103torrである0反
応圧力が1O−6torrよりも低い場合には、ダイヤ
モンドの堆積速度が遅くなったり、ダイヤモンドが析出
しなくなったりする場合がある。一方、103torr
より高くしてもそれに相当する効果は得られない。 このようにして得られたダイヤモンド膜は、半導体等の
電子素子材料等や、切削工具の硬質保護膜として好適に
利用することができる。 [実施例] 次いで、この発明の実施例を示す。 (実施例1) 周波数2.45GHzのマイクロ波電源を使用し、ノS
板温度り00℃、圧力4(ltorrの条件下に出力を
400Wに設定した。 反応室内に、メタン流量を55ccc−酸化炭ふ流量を
5 scc層の;1合で導入して、マイクロ波プラズマ
CVD法によりダイヤモンドの合成を1時間行って、前
記温度に制御した基板上に堆積物を得た。なお、基板に
はシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子m微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察し
たところ、ダイヤモンドであることを確認した。 なお、ダイヤモンドの製膜速度は1.Bm/hrであっ
た。 (実施例2) 実施例1と回じ〈周波数2.45GHzのマイクロ波電
源を使用し、ス(板温度900℃、圧力35torrの
条件下に出力を450Wに設定した。 反応室内に、メタン流ilS、を5 secm、二酸化
)5素流:1ニーを9 scc腸の;13合で導入して
、マイクロ波プラズマCVD法によりダイヤモンドの合
成を時間行って、前記温度に制御したノ^板上に堆積物
を得た。なお、基板にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察し
たところ、ダイヤモンドであることを確認した。 なおダイヤモンドの製膜速度は0.8 gm/ h r
であった。 (実施例3) ECR法で、基板温度700℃、圧力10− ’ to
rrノ条件に設定した。 反応室内に、メタン流量を10scc層、−酸化炭素l
i、;1::をlosccmの割合で導入して、ダイヤ
モンドの合成を3時間行って、前記温度に制御した基板
上に堆積物を得た。なお、基板にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微ta(SEM)により重犯堆積物の表面を観察
したところ、不純物のないダイヤモンドであることを確
認した。 なおダイヤモンドのtA膜速度は0.3 pm/ h
rであった。 (実施例4) 実施例1と同じ周波数2.45GHzのマイクロ波゛市
源を使用し、基板温度900℃、圧力50torrの条
件下に出力を350Wに設定した。 反応室内に、メタン流;!kを55ccs、−酸化炭素
流量−を55cc(水蒸気を0.5SCCsの割合で導
入して、マイクロ波プラズマCVD法によりダイヤモン
ドの合成を1時間行って、前記温度に制御した基板上に
堆積物を得た。なお、基板にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
′電子顕微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察
したところ、ダイヤモンドであることを確認した。 なおダイヤモンドの製膜速度はIJLm/hrであった
。 (実施例5) ECR法で、基板温度750℃、圧力10−’torr
の条件に設定した。 反応室内に、メタン流−1−を15sccm、−酸化炭
素流星を5sccm 、水蒸気を0.4 Scc膳の割
合で導入して、ダイヤモンドの合成を1時間行って、前
記温度に制御した基板上に堆積物を得た。なお、基板に
はシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顧e1m(SEM)により前記堆積物の表面を観察
したところ、不純物のないダイヤモンドであることを確
認した。 なおダイヤモンドの製膜速度は0.5μm/hrであっ
た。 (実施例6) 熱フイラメント法で、 Ta、フィラメントを使用し、
基板温度800℃、圧力40torrの条件に設定した
。 反応室内に、メタン流量を40scc鳳、−酸化炭;に
流にを80+ce麿、水蒸気を5 scc朧の一11
合で導入して、ダイヤモンドの合成を1時間行って、前
記温度に制御した基板」二に堆積物を得た。なお、基板
にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微&2(SEM)により前記堆積物の表面を1i
Sl察したところ、ダイヤモンドであることを確認した
。 なおダイヤモンドの製膜速度は3ルm/hrであった。 (実施例7) 実施例1と同じ周波数2.45GHzのマイクロ波電源
を使用し、2!板温度900℃、圧力40torrの条
件下に出力を400Wに設定した。 反応室内に、メタン流量を5 scc鱈、−酸化炭素流
横を55Ccs、水蒸気を0.85Ccsの割合で導入
して、マイクロ波プラズマCVD法によりダイヤモンド
の合成を1時間行って、前記温度に制御した基板−Lに
堆積物をず!Iた。なお、基板にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察し
たところ、ダイヤモンドであることを確認した。 なおダイヤモンドの製膜速度は2.0終m / h r
であった。 (実施例8) 実施例1と同じ周波fi2.45GHzのマイクロ波′
准原を使用し、基板温度900℃、圧力35torrの
条件下に出力を450 wに設定した。 反応室内に、メタン流量を5 scc鳳、二酸化炭素流
量を9 see層、水蒸気を0.8 scc厘の11合
で導入して、マイクロ波プラズマCVD法によりダイヤ
モンドの合成を1時間行って、前記温度に制御した基板
上に堆積物を得た。なお、基板にはシリコンを用いた。 f’)られた堆積物について、ラマン分光分析および走
査型電子WJWk鏡(SEM)により前記堆積物の表面
を181したところ、ダイヤモンドであることを確認し
た。 なおダイヤモンドの製膜速度は1.24 m/ h r
であった・ (実施例9) ECR法で、基板温度700℃、圧力10− l to
rrノ条件に設定した。 反応室内に、メタン流量を10sec鵬、−酸化炭素流
!迂をl0scc履、水蒋気を0.4 sec腸の;1
合で導入して、ダイヤモンドの合成を1時間行って、前
記温度に制御した基板−Lに堆積物を得た。なお、基板
にはシリコンを用いた。 得られた堆積物について、ラマン分光分析および走査型
電子顕微鏡(SEM)により前記堆積物の表面を観察し
たところ、f鈍物のないダイヤモンドであることを確認
した。 なおダイヤモンドの製膜速度は0.8 Bm/ h r
であった。
【9.明の効果】
請求q+ 1に記載のダイヤモンド合成方法は、(1)
高周波プラズマCVD法、マイクロ波プラズマCv
D法、熱フィラメン)CVD法、化学輸送法、イオン化
蒸着法、イオンビーム蒸71法電了−、サイクロトロン
共鳴プラズマ法(ECR法)等のいずれの方法による場
合であっても、−酸化炭素と水素との混合ガスを原料と
して、速い堆積速度でダイヤモンドを合成することがで
き、(2) しかも、より少ない原料ガス励起エネル
ギーでダイヤモンドを合成することができ、(3)原料
ガス成分として水素ガスを使用する必要がないので、ダ
イヤモンドの合成工程における安全性も極めて高く。 (4) 原料ガスの調製に要する操作を簡単にするこ
とができる。 また、請求項2に記載のダイヤモンド合成方法は、 (5) 前記請求項1に記載の発明の効果(1)〜(
4)に加えて、請求項1に記載の方法よりもさらに速い
堆積速度でダイヤモンドを合成することができる。 手続補正書 平成元年6月22日
高周波プラズマCVD法、マイクロ波プラズマCv
D法、熱フィラメン)CVD法、化学輸送法、イオン化
蒸着法、イオンビーム蒸71法電了−、サイクロトロン
共鳴プラズマ法(ECR法)等のいずれの方法による場
合であっても、−酸化炭素と水素との混合ガスを原料と
して、速い堆積速度でダイヤモンドを合成することがで
き、(2) しかも、より少ない原料ガス励起エネル
ギーでダイヤモンドを合成することができ、(3)原料
ガス成分として水素ガスを使用する必要がないので、ダ
イヤモンドの合成工程における安全性も極めて高く。 (4) 原料ガスの調製に要する操作を簡単にするこ
とができる。 また、請求項2に記載のダイヤモンド合成方法は、 (5) 前記請求項1に記載の発明の効果(1)〜(
4)に加えて、請求項1に記載の方法よりもさらに速い
堆積速度でダイヤモンドを合成することができる。 手続補正書 平成元年6月22日
Claims (2)
- (1)炭化水素ガスと含酸素無機化合物ガスとを励起し
て得られるガスを、基板に接触させることを特徴とする
ダイヤモンドの合成方法。 - (2)炭化水素ガスと含酸素無機化合物ガスと水とを励
起して得られるガスを、基板に接触させることを特徴と
するダイヤモンドの合成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11896188A JPH01290592A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | ダイヤモンドの合成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11896188A JPH01290592A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | ダイヤモンドの合成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01290592A true JPH01290592A (ja) | 1989-11-22 |
Family
ID=14749562
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11896188A Pending JPH01290592A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | ダイヤモンドの合成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01290592A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02233590A (ja) * | 1989-03-07 | 1990-09-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 単結晶ダイヤモンド層形成法 |
-
1988
- 1988-05-16 JP JP11896188A patent/JPH01290592A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02233590A (ja) * | 1989-03-07 | 1990-09-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 単結晶ダイヤモンド層形成法 |
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