JPH01291460A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
- Publication number
- JPH01291460A JPH01291460A JP63122376A JP12237688A JPH01291460A JP H01291460 A JPH01291460 A JP H01291460A JP 63122376 A JP63122376 A JP 63122376A JP 12237688 A JP12237688 A JP 12237688A JP H01291460 A JPH01291460 A JP H01291460A
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- JP
- Japan
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- film
- photoelectric conversion
- incident light
- conversion film
- transparent conductive
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- Pending
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- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、テレビカメラなどに適用される固体撮像装
置に関し、さらに詳しくは、光電変換部と信号転送部と
を重ねた積層型固体撮像装置の改良に係るものである。
置に関し、さらに詳しくは、光電変換部と信号転送部と
を重ねた積層型固体撮像装置の改良に係るものである。
(従来の技術)
従来例によるこの種の積層型固体撮像装置として、こ)
では、例えば、菊池誠監修、田中−宜編著「アモルファ
ス半導体の基礎」オーム社発行。
では、例えば、菊池誠監修、田中−宜編著「アモルファ
ス半導体の基礎」オーム社発行。
P、195に記載されている積層型固体撮像装置の概要
断面構成を第3図に示す。
断面構成を第3図に示す。
すなわち、この第3図従来例梼成において、符号Iは半
導体基板であり、また、2,3.および4はこの半導体
基板lの主面上に形成されて、後述する信号電荷を外部
に読み出すための素子構成、こ−では、いわゆるMOS
FETを構成するそれぞれにソース領域、ドレイン領域
、およびゲート電極であって、5はこれらの上に形成さ
れた絶縁膜、6は前記ソース領域2から取り出されたソ
ース電極配線、7.および7aは航記ドレイン領域3か
ら取り出されたドレイン電極配線、および金属配線層、
8はこれらの各電極配L16,7.および7a間を隔て
る層間絶縁膜を示し、さらに、9はこれらの上部を覆い
、かつ航記金属配線層7aに接して堆積形成され、外部
からの入射光l!を電気信号に変換する光電変換膜、I
Oはこの光電変換膜9上に形成された透明導電膜である
。
導体基板であり、また、2,3.および4はこの半導体
基板lの主面上に形成されて、後述する信号電荷を外部
に読み出すための素子構成、こ−では、いわゆるMOS
FETを構成するそれぞれにソース領域、ドレイン領域
、およびゲート電極であって、5はこれらの上に形成さ
れた絶縁膜、6は前記ソース領域2から取り出されたソ
ース電極配線、7.および7aは航記ドレイン領域3か
ら取り出されたドレイン電極配線、および金属配線層、
8はこれらの各電極配L16,7.および7a間を隔て
る層間絶縁膜を示し、さらに、9はこれらの上部を覆い
、かつ航記金属配線層7aに接して堆積形成され、外部
からの入射光l!を電気信号に変換する光電変換膜、I
Oはこの光電変換膜9上に形成された透明導電膜である
。
そして、この従来例装置の場合には、まず、半導体基板
lの主面−ヒにあって、ソース領域2.ドレイン領域3
.およびゲート電極4からなる信号電荷を読み出すため
のMOSFETを構成させ、また、絶縁II5!5を形
成した後、前記ソース領域2に接続されるソース電極配
線6を施し、かつこのソース電極配線6との間の層間絶
縁膜8を形成した後9次の上層での光電変換膜9に接す
る金属配線層7aを有して、前記ドレイン領域3に接続
されるドレイン電極配線8を施す。ついで、これらのF
部にあって、前記金属配線層7aに接してアモルファス
シリコンなどの光電変換膜9を堆積させ、さらにその上
に透明導電膜10を形成させて装置構成を完成する。
lの主面−ヒにあって、ソース領域2.ドレイン領域3
.およびゲート電極4からなる信号電荷を読み出すため
のMOSFETを構成させ、また、絶縁II5!5を形
成した後、前記ソース領域2に接続されるソース電極配
線6を施し、かつこのソース電極配線6との間の層間絶
縁膜8を形成した後9次の上層での光電変換膜9に接す
る金属配線層7aを有して、前記ドレイン領域3に接続
されるドレイン電極配線8を施す。ついで、これらのF
部にあって、前記金属配線層7aに接してアモルファス
シリコンなどの光電変換膜9を堆積させ、さらにその上
に透明導電膜10を形成させて装置構成を完成する。
従って、この従来例装置の構成では、透明導電膜lO側
から入射される信号入射光11により、光電変換膜9内
で信号電荷が発生され、この発生された信号電荷は、透
明導電膜lOと金属配線層73間の電界により、ドレイ
ン電極配線8を通してドレイン領域3に一旦、蓄積され
ると共に、このドレイン領域3に一定時間だけ蓄積され
た(3号電荷は、読み出しのための素子であるMOSF
ETを通して外部に読み出されるのである。
から入射される信号入射光11により、光電変換膜9内
で信号電荷が発生され、この発生された信号電荷は、透
明導電膜lOと金属配線層73間の電界により、ドレイ
ン電極配線8を通してドレイン領域3に一旦、蓄積され
ると共に、このドレイン領域3に一定時間だけ蓄積され
た(3号電荷は、読み出しのための素子であるMOSF
ETを通して外部に読み出されるのである。
しかしながら、以上のように構成される従来例での積層
型固体撮像装置においては、ゲート電極4、ソース電極
配線6.ドレイン電極配線7とその金属配線層7a、お
よび層間絶縁膜8などの形成による複雑な微細加工が施
されることで、多数の凹凸部分のある半導体基板l上に
あって、信号入射光11を電気信号に変換させる光電変
換膜9を堆積形成させているために、この光電変換膜9
をして、比較的薄目に形成することが極めて困難であり
、かつまた、その凹凸形状に伴なう段差の部分にあって
、同光電変換膜9の光電変換特性が劣化し、リーク電流
が増加するなどの実用上、好ましくない問題点を有する
ものであった。
型固体撮像装置においては、ゲート電極4、ソース電極
配線6.ドレイン電極配線7とその金属配線層7a、お
よび層間絶縁膜8などの形成による複雑な微細加工が施
されることで、多数の凹凸部分のある半導体基板l上に
あって、信号入射光11を電気信号に変換させる光電変
換膜9を堆積形成させているために、この光電変換膜9
をして、比較的薄目に形成することが極めて困難であり
、かつまた、その凹凸形状に伴なう段差の部分にあって
、同光電変換膜9の光電変換特性が劣化し、リーク電流
が増加するなどの実用上、好ましくない問題点を有する
ものであった。
この発明は、従来のこのような問題点を解消するために
なされたもので、その目的とするところは、完全に平坦
化された基板面上にあって、所期の光電変換膜を堆積形
成し得るようにした。この種の固体撮像装置、こSでは
、積層型固体撮像装置を提供することである。
なされたもので、その目的とするところは、完全に平坦
化された基板面上にあって、所期の光電変換膜を堆積形
成し得るようにした。この種の固体撮像装置、こSでは
、積層型固体撮像装置を提供することである。
前記目的を達成するために、この発明に係る固体撮像装
置は、少なくとも外部からの入射光を受光する画素対応
部分が平坦化された透明基板上にあって、光電変換膜を
堆積形成させるようにすると共に、この光電変換膜の上
部に形成させる半導体層に対し、入射信号電荷の読み出
しのための素子を構成させるようにしたものである。
置は、少なくとも外部からの入射光を受光する画素対応
部分が平坦化された透明基板上にあって、光電変換膜を
堆積形成させるようにすると共に、この光電変換膜の上
部に形成させる半導体層に対し、入射信号電荷の読み出
しのための素子を構成させるようにしたものである。
すなわち、この発明は、少なくとも外部からの入射光を
受光する画素対応部分が平坦化された透明基板と、この
透明基板上に形成される透明導電膜と、この透明導電股
上に堆積形成されて、入射光を電気信号に変換する光電
変換膜と、光電変換された信号電荷を外部に読み出すた
めの素子を設けて、前記光電変換膜上に形成される半導
体層とによって構成したことを特徴とする固体撮像装置
である。
受光する画素対応部分が平坦化された透明基板と、この
透明基板上に形成される透明導電膜と、この透明導電股
上に堆積形成されて、入射光を電気信号に変換する光電
変換膜と、光電変換された信号電荷を外部に読み出すた
めの素子を設けて、前記光電変換膜上に形成される半導
体層とによって構成したことを特徴とする固体撮像装置
である。
従って、この発明においては、少なくとも外部からの入
射光を受光する画素対応部分が平坦化された透明基板上
にあって、光電変換膜を堆積形成させるようにしている
ので、この光電変換膜の薄膜化が極めて容易になり、か
つこれに加えて、従来例でのような段差部分における光
電変換膜の特性劣化などを生ずる惧れがない。
射光を受光する画素対応部分が平坦化された透明基板上
にあって、光電変換膜を堆積形成させるようにしている
ので、この光電変換膜の薄膜化が極めて容易になり、か
つこれに加えて、従来例でのような段差部分における光
電変換膜の特性劣化などを生ずる惧れがない。
以下、この発明に係る固体撮像装置の実施例につき、第
1図および第2図を参照して詳細に説明する。
1図および第2図を参照して詳細に説明する。
第1図はこの発明の一実施例を適用した積層型固体撮像
装置の概要構成を示す断面図であり、この第1図実施例
構成において、前記した第3図従来例構成と同一符号は
同一または相当部分を示している。
装置の概要構成を示す断面図であり、この第1図実施例
構成において、前記した第3図従来例構成と同一符号は
同一または相当部分を示している。
すなわち、この第1図実施例構成において、符号12は
少なくとも外部からの入射光を受光する画素対応部分が
平坦化されたガラスなどによる透明基板、lOはこの透
明基板12上に形成された透明導電膜、9はこの透明導
電膜lO上に堆積形成され、外部からの入射光11を電
気信号に変換する光電変換膜、13はこの光電変換膜9
上に金属配線層7aを配し、かつ層間絶縁膜8を介して
堆積形成されるアモルファス、多結晶、あるいは再結晶
化した単結晶の半導体層であり、また、2,3.および
4は前記半導体層13に形成されて、前記と同様に信号
電荷を外部に読み出すための素子構成、こ1でも、いわ
ゆるMOSFETを構成するそれぞれにソース領域、ド
レイン領域、およびゲート電極を示し、さらに、5はそ
の絶縁膜、6は前記ソース領域2から取り出されるソー
ス電極配線、7は前記金属配線層7aとドレイン領域3
とを接続するドレイン電極配線である。
少なくとも外部からの入射光を受光する画素対応部分が
平坦化されたガラスなどによる透明基板、lOはこの透
明基板12上に形成された透明導電膜、9はこの透明導
電膜lO上に堆積形成され、外部からの入射光11を電
気信号に変換する光電変換膜、13はこの光電変換膜9
上に金属配線層7aを配し、かつ層間絶縁膜8を介して
堆積形成されるアモルファス、多結晶、あるいは再結晶
化した単結晶の半導体層であり、また、2,3.および
4は前記半導体層13に形成されて、前記と同様に信号
電荷を外部に読み出すための素子構成、こ1でも、いわ
ゆるMOSFETを構成するそれぞれにソース領域、ド
レイン領域、およびゲート電極を示し、さらに、5はそ
の絶縁膜、6は前記ソース領域2から取り出されるソー
ス電極配線、7は前記金属配線層7aとドレイン領域3
とを接続するドレイン電極配線である。
そして、この実施例装置の場合には、まず、少なくとも
外部からの入射光を受光する画素対応部分が平坦化され
た透明基板12上にあって、透明導電膜IOを形成させ
ると共に、この透明導電膜10上に外部からの入射光1
1を電気信号に変換する光電変換膜9を平担な状態で堆
積形成させ、ついで、この光電変換膜9上での所要部分
に金属配線層7aを施し、かつ層間絶縁膜8を形成した
上で、この層間絶縁膜8を通してドレイン電極配線7を
結成させ、さらに、その後、半導体層13を堆積形成さ
せる。
外部からの入射光を受光する画素対応部分が平坦化され
た透明基板12上にあって、透明導電膜IOを形成させ
ると共に、この透明導電膜10上に外部からの入射光1
1を電気信号に変換する光電変換膜9を平担な状態で堆
積形成させ、ついで、この光電変換膜9上での所要部分
に金属配線層7aを施し、かつ層間絶縁膜8を形成した
上で、この層間絶縁膜8を通してドレイン電極配線7を
結成させ、さらに、その後、半導体層13を堆積形成さ
せる。
こSで、この半導体層13としては、例えば、いわゆる
、SOI技術によって形成される単結晶半導体、あるい
は、アモルファス、もしくは、多結晶半導体であってよ
い。
、SOI技術によって形成される単結晶半導体、あるい
は、アモルファス、もしくは、多結晶半導体であってよ
い。
続いて、前記半導体層13に対して、ソース領域2、ド
レイン領域3.およびゲート電極4からなる信号電荷を
外部に読み出すための素子構成、こ1でも、いわゆるM
OSFETを構成するが、このとき、前記ドレイン領域
3については、前記ドレイン電極配線7.ひいては、金
属配線層7aに良好に接続されるように十分に深く形成
させるようにし、その後、絶縁膜5を形成した上で、こ
の絶縁膜5を通してソース電極配線6を形成させて装置
構成を完成する。
レイン領域3.およびゲート電極4からなる信号電荷を
外部に読み出すための素子構成、こ1でも、いわゆるM
OSFETを構成するが、このとき、前記ドレイン領域
3については、前記ドレイン電極配線7.ひいては、金
属配線層7aに良好に接続されるように十分に深く形成
させるようにし、その後、絶縁膜5を形成した上で、こ
の絶縁膜5を通してソース電極配線6を形成させて装置
構成を完成する。
従って、この実施例装置の構成においても、透明基板1
2側から透明導電膜10を経て入射される信号入射光i
tにより、前記従来例装置の場合と全く同様に、光電変
換膜9内で信号電荷が発生され、この発生された信号電
荷は、透明導電膜lOと金属配線層7a間の電界により
、ドレイン電極配線7を通してドレイン領域3に一旦、
蓄積され、かつこ゛のドレイン領域3に一定時間蓄積さ
れた信号電荷を、読み出しのための素子であるMOSF
ETを通して外部に読み出すことができるのである。
2側から透明導電膜10を経て入射される信号入射光i
tにより、前記従来例装置の場合と全く同様に、光電変
換膜9内で信号電荷が発生され、この発生された信号電
荷は、透明導電膜lOと金属配線層7a間の電界により
、ドレイン電極配線7を通してドレイン領域3に一旦、
蓄積され、かつこ゛のドレイン領域3に一定時間蓄積さ
れた信号電荷を、読み出しのための素子であるMOSF
ETを通して外部に読み出すことができるのである。
そして、この実施例装置では、前記した如く、平坦化さ
れた透明基板12上に、透明導電膜10を形成させ、か
つこの透明導電膜lO上に光電変換膜9を堆積形成させ
るようにしているので、この光電変換[9自体をして、
少なくとも外部からの入射光を受光する画素対応部分を
可及的に平坦化させることができ、このために、同光電
変換膜9での膜厚の薄膜化が可能になり、その膜面に段
差などを生ずることがない。
れた透明基板12上に、透明導電膜10を形成させ、か
つこの透明導電膜lO上に光電変換膜9を堆積形成させ
るようにしているので、この光電変換[9自体をして、
少なくとも外部からの入射光を受光する画素対応部分を
可及的に平坦化させることができ、このために、同光電
変換膜9での膜厚の薄膜化が可能になり、その膜面に段
差などを生ずることがない。
また、前記第1図実施例構成の場合には、半導体層13
の堆積形成萌にドレイン電極配線7を形成させ、かつ半
導体層13にドレイン領域3を深く形成させて、これら
のドレイン領域3とドレイン電極配線7との良好な接続
を図っているが、第2図実施例構成に示されているよう
に、信号電荷を読み出すための素子(MOζFET)の
形成後に、このドレイン電極配線7を形成させてもよい
。
の堆積形成萌にドレイン電極配線7を形成させ、かつ半
導体層13にドレイン領域3を深く形成させて、これら
のドレイン領域3とドレイン電極配線7との良好な接続
を図っているが、第2図実施例構成に示されているよう
に、信号電荷を読み出すための素子(MOζFET)の
形成後に、このドレイン電極配線7を形成させてもよい
。
なお、これらの第1図、第2図実施例構成においては、
信号電荷を読み出すための素子として、MOSFETを
用いる場合について述べたが、いわゆる、CCOを用い
る積層型固体撮像装置であってもよく、同様な作用、効
果を奏し得る。
信号電荷を読み出すための素子として、MOSFETを
用いる場合について述べたが、いわゆる、CCOを用い
る積層型固体撮像装置であってもよく、同様な作用、効
果を奏し得る。
以上詳述したようにこの発明によれば、少なくとも外部
からの入射光を受光する画素対応部分が平坦化された透
明基板に対して、光電変換膜を堆積形成させるようにし
ているので、この光電変換膜自体の可及的な平坦化が可
能になり、この結果として、光電変換膜での膜厚の薄膜
化を極めて容易に図ることができ、かつこれに加えて、
従来例でのような段差部分における光電変換膜の特性劣
化などを全く生ずる惧れがなく、しかも、構造的にも比
較的簡東で容易に実施し得るなどの優れた特長を有する
ものである。
からの入射光を受光する画素対応部分が平坦化された透
明基板に対して、光電変換膜を堆積形成させるようにし
ているので、この光電変換膜自体の可及的な平坦化が可
能になり、この結果として、光電変換膜での膜厚の薄膜
化を極めて容易に図ることができ、かつこれに加えて、
従来例でのような段差部分における光電変換膜の特性劣
化などを全く生ずる惧れがなく、しかも、構造的にも比
較的簡東で容易に実施し得るなどの優れた特長を有する
ものである。
第1図、および第2図はこの発明に係る固体撮像装置の
各別の実施例による概要構成を示すそれぞれに断面図で
あり、また、第3図は従来例による同上固体撮像装置の
概要構成を示す断面図である。 12・・・・透明基板、13・・・・半導体層。 2・・・・ソース領域、3・・・・ドレイン領域、4・
・・・ゲート電極、5・・・・絶縁膜、6・・・・ソー
ス電極配線、7・・・・ドレイン電極配線、7a・・・
・配線金属層、8・・・・層間絶縁膜、9・・・・光電
変換膜、lO・・・・透明電極、11・・・・入射光。 代理人 大 岩 増 雄 第1図
各別の実施例による概要構成を示すそれぞれに断面図で
あり、また、第3図は従来例による同上固体撮像装置の
概要構成を示す断面図である。 12・・・・透明基板、13・・・・半導体層。 2・・・・ソース領域、3・・・・ドレイン領域、4・
・・・ゲート電極、5・・・・絶縁膜、6・・・・ソー
ス電極配線、7・・・・ドレイン電極配線、7a・・・
・配線金属層、8・・・・層間絶縁膜、9・・・・光電
変換膜、lO・・・・透明電極、11・・・・入射光。 代理人 大 岩 増 雄 第1図
Claims (1)
- 少なくとも外部からの入射光を受光する画素対応部分
が平坦化された透明基板と、この透明基板上に形成され
る透明導電膜と、この透明導電膜上に形成されて、入射
光を電気信号に変換する光電変換膜と、光電変換された
信号電荷を外部に読み出すための素子を設けて、前記光
電変換膜上に形成される半導体層とによつて構成したこ
とを特徴とする固体撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63122376A JPH01291460A (ja) | 1988-05-18 | 1988-05-18 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63122376A JPH01291460A (ja) | 1988-05-18 | 1988-05-18 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01291460A true JPH01291460A (ja) | 1989-11-24 |
Family
ID=14834305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63122376A Pending JPH01291460A (ja) | 1988-05-18 | 1988-05-18 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01291460A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001291854A (ja) * | 2000-04-07 | 2001-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 2次元x線センサおよびその製造方法 |
| US6821809B2 (en) * | 2002-03-19 | 2004-11-23 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| JP2011139069A (ja) * | 2009-12-30 | 2011-07-14 | Commissariat A L'energie Atomique & Aux Energies Alternatives | 集積ダイアモンド変換画素化撮像装置及びその製造方法 |
-
1988
- 1988-05-18 JP JP63122376A patent/JPH01291460A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001291854A (ja) * | 2000-04-07 | 2001-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 2次元x線センサおよびその製造方法 |
| US8035105B2 (en) | 2002-03-19 | 2011-10-11 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US7582503B2 (en) | 2002-03-19 | 2009-09-01 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US7638355B2 (en) | 2002-03-19 | 2009-12-29 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US7755090B2 (en) | 2002-03-19 | 2010-07-13 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US6821809B2 (en) * | 2002-03-19 | 2004-11-23 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US8362486B2 (en) | 2002-03-19 | 2013-01-29 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US8623691B2 (en) | 2002-03-19 | 2014-01-07 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US8969879B2 (en) | 2002-03-19 | 2015-03-03 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US9530816B2 (en) | 2002-03-19 | 2016-12-27 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US9859324B2 (en) | 2002-03-19 | 2018-01-02 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| US10263033B2 (en) | 2002-03-19 | 2019-04-16 | Sony Corporation | Solid state image pickup device and method of producing solid state image pickup device |
| JP2011139069A (ja) * | 2009-12-30 | 2011-07-14 | Commissariat A L'energie Atomique & Aux Energies Alternatives | 集積ダイアモンド変換画素化撮像装置及びその製造方法 |
| JP2017120266A (ja) * | 2009-12-30 | 2017-07-06 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | 集積ダイアモンド変換画素化撮像装置及びその製造方法 |
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