JPH01292012A - スチレン系重合体を成分とするレジスト - Google Patents
スチレン系重合体を成分とするレジストInfo
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- JPH01292012A JPH01292012A JP12199188A JP12199188A JPH01292012A JP H01292012 A JPH01292012 A JP H01292012A JP 12199188 A JP12199188 A JP 12199188A JP 12199188 A JP12199188 A JP 12199188A JP H01292012 A JPH01292012 A JP H01292012A
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- JP
- Japan
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- polymer
- reaction
- compound
- methylstyrene
- silicon compound
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ケイ素原子を有するスチレン系重合体を成分
とするレジストに関する。
とするレジストに関する。
従来の技術
従来、ネガ型のフォトレジストとしてハ、環化ゴムにビ
スアジドを配合したものが用いられている。しかし、こ
のものは現像時に膨潤したり、解像度が充分でなく、又
耐ドライエツチング注を欠けるという問題がめる。
スアジドを配合したものが用いられている。しかし、こ
のものは現像時に膨潤したり、解像度が充分でなく、又
耐ドライエツチング注を欠けるという問題がめる。
ケイ素原子を宮むレジストは、二層レジストの上層とし
て用いられ、これ迄も特開昭59−15419号や同6
0−205609号公報に記載されているように種々の
試みがな嘔れているが、性能的には充分とは言えない。
て用いられ、これ迄も特開昭59−15419号や同6
0−205609号公報に記載されているように種々の
試みがな嘔れているが、性能的には充分とは言えない。
レジスト材等の感光性尚分子においては、ケイ素含有簸
が多い程、耐酸素プラズマ性に優れることが知られてい
る。
が多い程、耐酸素プラズマ性に優れることが知られてい
る。
ケイ°素含有歓を尚めた感元注スチレン糸重合体として
は、例えば、α−メチルスチレンにジシリル基を導入し
たモノマーを合成し、次いでこの七ツマ−を重合し九ス
チレン系重合体が知られている(高分子学会予稿集、5
5号、 NO,8゜2566頁)が、この重合体を製造
する方法においては、該七ツマ−を合成する方法が複雑
である。
は、例えば、α−メチルスチレンにジシリル基を導入し
たモノマーを合成し、次いでこの七ツマ−を重合し九ス
チレン系重合体が知られている(高分子学会予稿集、5
5号、 NO,8゜2566頁)が、この重合体を製造
する方法においては、該七ツマ−を合成する方法が複雑
である。
発明が解決しようとする課題
本発明は、 j9[度及び耐rR素リアクティブイオン
エツチング性に優れたレジストを提供することを目的と
する。
エツチング性に優れたレジストを提供することを目的と
する。
課題を解決するための手段
本発明者らは鋭意研究を行った結果、ポリ(バラメチル
スチレン)t−リチオ化し、次いでジシリル基及びアル
ケニルシリル基を導入して得た重合体が、本発明の目的
を達成し得ることを見出して、本発明を完成した。
スチレン)t−リチオ化し、次いでジシリル基及びアル
ケニルシリル基を導入して得た重合体が、本発明の目的
を達成し得ることを見出して、本発明を完成した。
発明の要旨
すなわち、本発明は。
下le囚%(ロ)及び(C)の繰シ返し単位の結合から
なるスチレン系重合体を成分とするレジスト−四
(B) (CJ〔但し R
1へRhは同一か異なる炭素数1〜6個のアルキル基、
R・ R7及びR1は同じか異なる炭素数1〜6個のア
ルキル基又は炭素a2〜6個のアルケニル基で6り4R
’#R’及びR−の少なくとも一個がアルケニル基であ
り、A/B/C(モル%)=1〜70/1〜60/1〜
40でおる。〕を敦旨とする@ 本発明に係るスチレン系重合体は%@記の(6)。
なるスチレン系重合体を成分とするレジスト−四
(B) (CJ〔但し R
1へRhは同一か異なる炭素数1〜6個のアルキル基、
R・ R7及びR1は同じか異なる炭素数1〜6個のア
ルキル基又は炭素a2〜6個のアルケニル基で6り4R
’#R’及びR−の少なくとも一個がアルケニル基であ
り、A/B/C(モル%)=1〜70/1〜60/1〜
40でおる。〕を敦旨とする@ 本発明に係るスチレン系重合体は%@記の(6)。
(ロ)及び(C)の繰り返し単位がランダムに結合した
ものでめシ、その割合は前ルビの通りでおるが、特に囚
1〜30モル慢、(ロ)30〜60モルチ、(C)10
〜40モル%のものが望ましい。
ものでめシ、その割合は前ルビの通りでおるが、特に囚
1〜30モル慢、(ロ)30〜60モルチ、(C)10
〜40モル%のものが望ましい。
このスチレン系重合体は、数千〜数百万0重量平均分子
量を持ち、かつ重量平均分子量(h)/数平均分子量(
in)=2.0以下の分子量分布を持つが、特にlaw
= 1万〜50万、My/Mn諺tO〜1.5のもの
が望ましい。
量を持ち、かつ重量平均分子量(h)/数平均分子量(
in)=2.0以下の分子量分布を持つが、特にlaw
= 1万〜50万、My/Mn諺tO〜1.5のもの
が望ましい。
スチレン系重合体の製造法
スチレン系重合体は、バラメチルスチレン(以下、PM
8という。)重合体(ポリPM8)を、有機リテクム化
合物と反応せしめ、ポリ2閂s中のパラメチル基を部分
的にリチオ化し、次いで式RIR”R”81R4R’8
1X (但し、R1〜R易は同一か異なる炭素a1〜6
個のアルキル基であり。
8という。)重合体(ポリPM8)を、有機リテクム化
合物と反応せしめ、ポリ2閂s中のパラメチル基を部分
的にリチオ化し、次いで式RIR”R”81R4R’8
1X (但し、R1〜R易は同一か異なる炭素a1〜6
個のアルキル基であり。
Xはハロゲン原子を示す。〕のケイ素化合物lと反応さ
せ、更に有機リチウム化合物と反応させた後、弐R@R
7シ81x〔但し、R・〜R1は同じか異なる炭素数1
〜6個のアルキル基又は炭素数2〜6個のアルケニル基
であり、R・〜R8の少なくとも一個がアルケニル基で
ろる。又、又はハロゲン原子である。〕のケイ素化合物
■と反応させることによって製造することができるが、
ポリPMSを有機リチウム化合物と反応させたt&、ケ
イ素化合物lとケイ素化合物…を同時に反応させてJ1
1!遺してもよい。又、この有機リチウム化合物→ケイ
素化合物I→有機すテクム化合物→ケイ素化合物田、又
は有機リテクム化合物→ケイ素化合物1/ケイ素化合物
Uの反応サイクルを、更に一同以上行うこともできる。
せ、更に有機リチウム化合物と反応させた後、弐R@R
7シ81x〔但し、R・〜R1は同じか異なる炭素数1
〜6個のアルキル基又は炭素数2〜6個のアルケニル基
であり、R・〜R8の少なくとも一個がアルケニル基で
ろる。又、又はハロゲン原子である。〕のケイ素化合物
■と反応させることによって製造することができるが、
ポリPMSを有機リチウム化合物と反応させたt&、ケ
イ素化合物lとケイ素化合物…を同時に反応させてJ1
1!遺してもよい。又、この有機リチウム化合物→ケイ
素化合物I→有機すテクム化合物→ケイ素化合物田、又
は有機リテクム化合物→ケイ素化合物1/ケイ素化合物
Uの反応サイクルを、更に一同以上行うこともできる。
場合によっては、ケイ素化合物1とケイ素化合物思の反
応順序を逆にしてもよい。
応順序を逆にしてもよい。
スチレン系重合体を製造する際に用いられる各化合物に
ついて説明する。
ついて説明する。
■ ポリPM8
ボ!JPMSは、PM8を、通常のラジカル重合或いは
リビング1合することにより製造することができるが、
特にリビング重合にょ9得られたポリPM8が、狭い分
子量分布を持つので望ましい。
リビング1合することにより製造することができるが、
特にリビング重合にょ9得られたポリPM8が、狭い分
子量分布を持つので望ましい。
リビング重合は、ステリルアニオンを形成させる開始剤
4flIえはn−ブチルリチウム、濠−ブチルリチウム
等のN機すチウム化合物の存在下で行なわれる。又、リ
ビング重合は、溶媒の存在下で行うことができる溶媒と
しては、該開始剤や発生するアニオンに不活性なヘキサ
ン。
4flIえはn−ブチルリチウム、濠−ブチルリチウム
等のN機すチウム化合物の存在下で行なわれる。又、リ
ビング重合は、溶媒の存在下で行うことができる溶媒と
しては、該開始剤や発生するアニオンに不活性なヘキサ
ン。
ヘプタ/、オクタン、シクロヘキサン、ベンゼン、トル
エン、キシレン等の炭化水素類、ジエチルエーテル、ジ
プチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン等の
エーテル類が挙げられる。
エン、キシレン等の炭化水素類、ジエチルエーテル、ジ
プチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン等の
エーテル類が挙げられる。
リビング重合は、PM8を一80℃〜+50℃の温度で
(L5〜50時間反応させることによって行なわれる。
(L5〜50時間反応させることによって行なわれる。
かくすることにより、数千〜数百万、望ましくは1万〜
50万0重量平均分子重、MW / Mnが2.0未満
、望ましくはtO〜t5のポリPM8が得られる。
50万0重量平均分子重、MW / Mnが2.0未満
、望ましくはtO〜t5のポリPM8が得られる。
■ 有機リチウム化合物
有機リチウム化合物は、一般式RLi で表わ畑れる
0具体的には4Rが炭素数1〜12個のアルキル基の化
合物が挙げられ、代表的な化合物としては、メチルリチ
ウム、エチルリチウム。
0具体的には4Rが炭素数1〜12個のアルキル基の化
合物が挙げられ、代表的な化合物としては、メチルリチ
ウム、エチルリチウム。
n−ブチルリチウム%気−プチルリテクムへtert−
ブチルリチウム、n−ペンチルリチウム、 tert
−ペンチルリチウム、ヘキシリリテウム、オクチルリチ
ウム、トデシルリテ9ム等であるが、特にブチルリチウ
ムが望ましい。
ブチルリチウム、n−ペンチルリチウム、 tert
−ペンチルリチウム、ヘキシリリテウム、オクチルリチ
ウム、トデシルリテ9ム等であるが、特にブチルリチウ
ムが望ましい。
■ ケイ素化合物l
ケイ素化合vJ1は、前記の式で表わされるが、R1,
、= piは望ましくはメチル、エチル、n−プロピル
%n−ブチル基であシ、特にR1〜Hmの総てがメチル
基が望ましい。Xは塩素原子が望ましい。
、= piは望ましくはメチル、エチル、n−プロピル
%n−ブチル基であシ、特にR1〜Hmの総てがメチル
基が望ましい。Xは塩素原子が望ましい。
■ ケイ素化合物韮
ケイ素化合物nは、前記の式で表わされるが、式におい
てH%、 RT、 R1がアルキル基の場合、望ましく
はメチル、エチル、n−プロピル、n−ブチル基でめり
、待にメチル、エチル基が望ましい0又 p、@、
H?、 R1がアルケニル基の場合、望ましくは、ビ
ニル、アリル、プロペニル、インプロペニル、ブテニル
基でろυ、特にビニル、アリル基が望ましい。Xは塩素
原子が望ましい。
てH%、 RT、 R1がアルキル基の場合、望ましく
はメチル、エチル、n−プロピル、n−ブチル基でめり
、待にメチル、エチル基が望ましい0又 p、@、
H?、 R1がアルケニル基の場合、望ましくは、ビ
ニル、アリル、プロペニル、インプロペニル、ブテニル
基でろυ、特にビニル、アリル基が望ましい。Xは塩素
原子が望ましい。
ボlJPM8と有機リチウム化合物との反応ポリFMS
と有機リチウム化合物との反応は、有機リチウム化合物
に対して不活性な溶媒中で行うことができる。用い得る
溶媒としては、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、シクロ
ヘキサン、ベンゼン、トルエン、キシレン等の炭化水素
類、ジエチルエーテル、ジブチルエーテル、テトラヒド
ロフラン、ジオキサン等のエーテル類が挙げられる。反
応は、これらの溶媒にポリPMBを溶解若しくは溶媒で
膨潤させ、有機リチウム化合物を作用させる。この際、
有機リチウム化合物の反応性を高めるような成分1例え
ばアミン類を用いることができる。用い得るアミンとし
ては%N、 N、 N: N’−テトラメチルエチレン
ジアミンが望ましい。
と有機リチウム化合物との反応は、有機リチウム化合物
に対して不活性な溶媒中で行うことができる。用い得る
溶媒としては、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、シクロ
ヘキサン、ベンゼン、トルエン、キシレン等の炭化水素
類、ジエチルエーテル、ジブチルエーテル、テトラヒド
ロフラン、ジオキサン等のエーテル類が挙げられる。反
応は、これらの溶媒にポリPMBを溶解若しくは溶媒で
膨潤させ、有機リチウム化合物を作用させる。この際、
有機リチウム化合物の反応性を高めるような成分1例え
ばアミン類を用いることができる。用い得るアミンとし
ては%N、 N、 N: N’−テトラメチルエチレン
ジアミンが望ましい。
反応温度は、−70℃から各溶媒の沸点温度迄自由に設
定することができるが、高いリチオ化率を効率よく達成
するためには、室温以上の@度が望ましい0又、有機リ
チウム化合物の使用量は、任意に設定することかで@、
リチオ化率は50ユニットモルチ以下の範囲で任意に調
節できる。アミン類は有機リチウム化合物と当1に出い
ればよいが、過剰量陶いてもよい。反応時間は、反応@
度によっても異なるが、通常α1〜100時間でるり、
反応時間を長くすることによって、リチオ化率を高める
ことができる。
定することができるが、高いリチオ化率を効率よく達成
するためには、室温以上の@度が望ましい0又、有機リ
チウム化合物の使用量は、任意に設定することかで@、
リチオ化率は50ユニットモルチ以下の範囲で任意に調
節できる。アミン類は有機リチウム化合物と当1に出い
ればよいが、過剰量陶いてもよい。反応時間は、反応@
度によっても異なるが、通常α1〜100時間でるり、
反応時間を長くすることによって、リチオ化率を高める
ことができる。
このようにして調製されたりチオ化ポリPM8は1反応
性が高く、全気中との水分とも反応してしまう九め、分
離せずに、後続の反応に用いるのが望ましい。
性が高く、全気中との水分とも反応してしまう九め、分
離せずに、後続の反応に用いるのが望ましい。
リチオ化ボ!JPMSとケイ素化合物lとの反応は、リ
チオ化ボIJ PM8の存在する前段の反応系に、直接
ケイ素化合物lを添加して接触きせることによって達成
される。ケイ素化合物lは、前段で用いた有機リチウム
化合物に対して通常1〜100Wrモル、好筐しくは1
〜10倍モル用いられる。反応は一50℃〜+150℃
、好ましくは0〜50℃で(11〜100時間、好まし
くは[L5−20時間行なわれる。
チオ化ボIJ PM8の存在する前段の反応系に、直接
ケイ素化合物lを添加して接触きせることによって達成
される。ケイ素化合物lは、前段で用いた有機リチウム
化合物に対して通常1〜100Wrモル、好筐しくは1
〜10倍モル用いられる。反応は一50℃〜+150℃
、好ましくは0〜50℃で(11〜100時間、好まし
くは[L5−20時間行なわれる。
かくすることにより、ジシリル化ポリPM8は得られる
が、次の反応に供される前に、反応系から分離してもよ
い。
が、次の反応に供される前に、反応系から分離してもよ
い。
ジシリル化ポリPM8と有機リブラム化合物及びそれに
続くケイ素化合物…との反応は、前記のポリPM8と有
機リチウム化合物、及びそれに続くケイ素化合物lとの
反応の場合と同様にして行えばよい。
続くケイ素化合物…との反応は、前記のポリPM8と有
機リチウム化合物、及びそれに続くケイ素化合物lとの
反応の場合と同様にして行えばよい。
又、ボIJPM8と有機リチウム化合物を反応し次後、
ケイ素化合物lとケイ素化合物…を同時に反応場せる場
合も、前記の方法に準じて行えばよい。
ケイ素化合物lとケイ素化合物…を同時に反応場せる場
合も、前記の方法に準じて行えばよい。
上記のようにして生成したポリマーは、水、希塩識等で
洗浄するのが望ましく、又再沈澱等によp精裏するのが
望ましい。
洗浄するのが望ましく、又再沈澱等によp精裏するのが
望ましい。
上記のようにして得られたスチレン系重合体の繰フ返し
単位(J3)のR”%R’は、ケイ素化合物1の場合と
同一でおる。すなわち Hl 、 R1はC1〜C4の
アルキル基が望−!L<%%にメチル、エチル基が望ま
しい。
単位(J3)のR”%R’は、ケイ素化合物1の場合と
同一でおる。すなわち Hl 、 R1はC1〜C4の
アルキル基が望−!L<%%にメチル、エチル基が望ま
しい。
又、繰り返し単位(C)のR’、 R’、 R”はケイ
素化合物…の場合と同一である。すなわち%R6〜R1
1の少なくとも一イ固はアルケニル基である。R・。
素化合物…の場合と同一である。すなわち%R6〜R1
1の少なくとも一イ固はアルケニル基である。R・。
R7又はR1がアルキル基の場合%01% C,のアル
キル基が望ましく、特にメチル、エチル基か望ましい。
キル基が望ましく、特にメチル、エチル基か望ましい。
又、アルケニル基の場合、C!〜C4のアルケニル基が
望ましく、特にビニル、アリル基が望ましい〇 本発明に係るスチレン系重合体において練り返し単位四
s (’)% (c)の組成は前記割合の範囲で、用い
る有機リチウム化合物の重や反応条件により任意に設定
できるが、原料ポリマーに対し。
望ましく、特にビニル、アリル基が望ましい〇 本発明に係るスチレン系重合体において練り返し単位四
s (’)% (c)の組成は前記割合の範囲で、用い
る有機リチウム化合物の重や反応条件により任意に設定
できるが、原料ポリマーに対し。
過4A量の有機リブラム化合物を用いても、−回のリチ
ウム化反応ではりチオ化率は原料ポリマーの50ユニツ
トそルチを越えることはない〇リチオ化ポリPMBとケ
イ素化合物との反応においては、前段のリチオ化反応の
際に用いた有機リチウム化合物に対して当蓋以上のケイ
素化合物を反応させればよい。したがって−撞類のケイ
素化合物を反応させる場合には尋人されるシリル基は前
段のリチオ化効率に依存する。また二種類のケイ素化合
物を同時に反応させる場合には必要に応じて二種類のケ
イ素化合物の組成を変化させれば、Il!rIRのリチ
オ化効率の範囲内で生成ポリマーの組成を変化させるこ
とができる。
ウム化反応ではりチオ化率は原料ポリマーの50ユニツ
トそルチを越えることはない〇リチオ化ポリPMBとケ
イ素化合物との反応においては、前段のリチオ化反応の
際に用いた有機リチウム化合物に対して当蓋以上のケイ
素化合物を反応させればよい。したがって−撞類のケイ
素化合物を反応させる場合には尋人されるシリル基は前
段のリチオ化効率に依存する。また二種類のケイ素化合
物を同時に反応させる場合には必要に応じて二種類のケ
イ素化合物の組成を変化させれば、Il!rIRのリチ
オ化効率の範囲内で生成ポリマーの組成を変化させるこ
とができる。
本発明のレジストは、上MQのようにして得られた重合
体を成分とするが、該重合体に感光性架橋剤を組み合せ
て用いて組成物とすることも可能でめる。
体を成分とするが、該重合体に感光性架橋剤を組み合せ
て用いて組成物とすることも可能でめる。
用いられる感光性架橋剤としては、ビスアジド化合物が
挙げられる。例えば、4,4′−ジアジドカルコン、2
.6−ジー(4′−アジドベンザル)シクロヘキサノン
、2,6−ジー(4″−アジドベンザル)4−メチルシ
クロヘキサノン、2.6−ジー(4′−アジドシンナミ
リデン)4−ハイドロオキシシクロヘキサノン等が挙げ
られるが、これらのうちでは2.6−ジー(4゛−アジ
ドベンザル)4−メチルシクロヘキサノンが好ましい。
挙げられる。例えば、4,4′−ジアジドカルコン、2
.6−ジー(4′−アジドベンザル)シクロヘキサノン
、2,6−ジー(4″−アジドベンザル)4−メチルシ
クロヘキサノン、2.6−ジー(4′−アジドシンナミ
リデン)4−ハイドロオキシシクロヘキサノン等が挙げ
られるが、これらのうちでは2.6−ジー(4゛−アジ
ドベンザル)4−メチルシクロヘキサノンが好ましい。
該組成物中に占める感光性架橋剤の割合は、1〜10]
[1i%が好ましい。感光性架橋剤の含量が1重量−未
満では、倫かけ構造を形成し不溶化することが不十分と
なシ、一方1ON重−を越える多紘ではそれ以上の効果
がなく不経済でろ9、又露光前に架橋が発生する等好ま
しくない。
[1i%が好ましい。感光性架橋剤の含量が1重量−未
満では、倫かけ構造を形成し不溶化することが不十分と
なシ、一方1ON重−を越える多紘ではそれ以上の効果
がなく不経済でろ9、又露光前に架橋が発生する等好ま
しくない。
該組成物の調製は、スチレン系重合体及び感光性架橋剤
を溶媒中に浴解させた後に溶媒を除去するか%あるいは
浴1s溶液として直接に使用することもできる0両者を
浴解させる際に用いられるlv媒としては、符に制限さ
れないが、例えばベンゼン、トルエン、キシレン等の芳
香族炭化水素、モノクロルベンゼン、ジクロルベンゼン
、モノクロルトルエン等のハロゲン化芳香族炭化水素等
が使用できる。
を溶媒中に浴解させた後に溶媒を除去するか%あるいは
浴1s溶液として直接に使用することもできる0両者を
浴解させる際に用いられるlv媒としては、符に制限さ
れないが、例えばベンゼン、トルエン、キシレン等の芳
香族炭化水素、モノクロルベンゼン、ジクロルベンゼン
、モノクロルトルエン等のハロゲン化芳香族炭化水素等
が使用できる。
このようにして得られたスチレン系重合体及び該組成物
を半導体素子製造時のレジストとして使用する場合には
、一般に行なわれているスピンナーコーティング法を用
いることができる。
を半導体素子製造時のレジストとして使用する場合には
、一般に行なわれているスピンナーコーティング法を用
いることができる。
本発明に係る重合体及び該組成物を前記の浴媒に#解し
、所望の根度とした浴敵金用いて。
、所望の根度とした浴敵金用いて。
通常用いられる基板上に、スピンコードを行えば、基板
上に均一なレジスト層が形成場れる。
上に均一なレジスト層が形成場れる。
レジスト層fi、、通常α2〜toμmでめる。このレ
ジスト層は、通常プリベークされ、その条件は一般的に
90〜150℃で(L1〜1時間である。勿論減圧下で
よシ低はで行ってもよい。
ジスト層は、通常プリベークされ、その条件は一般的に
90〜150℃で(L1〜1時間である。勿論減圧下で
よシ低はで行ってもよい。
次いで、電子線−xis遠紫外線、紫外線等の照射によ
り、パターンを焼付は九後、通常用いられる現像液によ
り現像し、必要に応じて更にボストベークすれば、シャ
ープなネガ型パターンを得ること示できる。
り、パターンを焼付は九後、通常用いられる現像液によ
り現像し、必要に応じて更にボストベークすれば、シャ
ープなネガ型パターンを得ること示できる。
発明の効果
本発明のレジストは、多くのケイ素原子を有し、光に対
して高感度であると共に、高解像度が得られる。
して高感度であると共に、高解像度が得られる。
実N劉
以下2本発明を実施例により詳細に説明する。
なお、重合体の同定は下記の機器にて行った。
IHNMR:試料をCDC2,−)20重t%溶aとし
。
。
Varian a’JI E M 560 A ’11
k (60MHss)で測定0測定条件;20℃ 実施例1 ポリPM8の合成 窒素置換したフラスコに、蒸貿したテトラヒドロフラン
1,00011tを入れ、ドライアイス−メタノール浴
で冷却した。このフラスコに、n−ブチルリチウム五1
ミリモル及びPM8100−を加え、攪拌により東金を
開始し友。−78℃で2時間重合を行った後、イングロ
バノール5−を加えて、蔦合を停止した。反応溶液をテ
トラヒドロフランにより2倍に希釈し、大雪のメタノー
ル中に注ぎ入れ、ポリP M 889.7 tを析出さ
せ友。GPC分析したところ、 nw=五45 x 1
0’、 Mw/ Mn= t 07でろった。
k (60MHss)で測定0測定条件;20℃ 実施例1 ポリPM8の合成 窒素置換したフラスコに、蒸貿したテトラヒドロフラン
1,00011tを入れ、ドライアイス−メタノール浴
で冷却した。このフラスコに、n−ブチルリチウム五1
ミリモル及びPM8100−を加え、攪拌により東金を
開始し友。−78℃で2時間重合を行った後、イングロ
バノール5−を加えて、蔦合を停止した。反応溶液をテ
トラヒドロフランにより2倍に希釈し、大雪のメタノー
ル中に注ぎ入れ、ポリP M 889.7 tを析出さ
せ友。GPC分析したところ、 nw=五45 x 1
0’、 Mw/ Mn= t 07でろった。
ペンタメチルジシリル基の尋人
輩索tIIt換したフラスコに、上記で得られたポリP
M81αOfとシクロヘキサン200m’i入れ、ボ!
JPM’8を俗解すると共に、オイルバスによフ50℃
にフロ熱した。n−ブチルリチウム60ミリモルとN、
N、N: N’−ナト2メチルエチレンジアミン(T
MEDA)60ミリモルをフロえ。
M81αOfとシクロヘキサン200m’i入れ、ボ!
JPM’8を俗解すると共に、オイルバスによフ50℃
にフロ熱した。n−ブチルリチウム60ミリモルとN、
N、N: N’−ナト2メチルエチレンジアミン(T
MEDA)60ミリモルをフロえ。
50℃で2時間反応させた後、水浴で冷却し。
ペンタメテルクロルジシ2ン124ミリそルを加え、室
龜で2時間反応させた。反応液を水洗した後、メタノー
ル中に注ぎ入れ′、白色のポリマー12.5Fを析出さ
せた。
龜で2時間反応させた。反応液を水洗した後、メタノー
ル中に注ぎ入れ′、白色のポリマー12.5Fを析出さ
せた。
’HNMR分析したところ一ペンタメ゛チル□ジシリル
基の存在が確認され、積分比からペンタメチルシシリル
基の導入率は、58ユニットモルチであった。ケミカル
シフト値は次の通シである0 δ(ppm) : 7.05〜6.15 (芳香環)、
2.25(べ巨Σcps ) 。
基の存在が確認され、積分比からペンタメチルシシリル
基の導入率は、58ユニットモルチであった。ケミカル
シフト値は次の通シである0 δ(ppm) : 7.05〜6.15 (芳香環)、
2.25(べ巨Σcps ) 。
窒素置換したフラスコに、上記で得られ次ペンタメテル
ジシリル基t−尋人したポリマー10vとシクロヘキサ
ン200mを入れ、該ポリマーを俗解すると共に50℃
に加熱した0この浴液に、n−ブチルリチウム60ミリ
モルとTMEDA60ミリモルを加え、50℃で2時間
反応させた。水浴で冷却し、アリルジメチルクロルシラ
ン120ミリモルを加え、室温で2時間反応させ友。反
応液を上記と同様にして処理して、白色のポリマー1五
〇fを得た。
ジシリル基t−尋人したポリマー10vとシクロヘキサ
ン200mを入れ、該ポリマーを俗解すると共に50℃
に加熱した0この浴液に、n−ブチルリチウム60ミリ
モルとTMEDA60ミリモルを加え、50℃で2時間
反応させた。水浴で冷却し、アリルジメチルクロルシラ
ン120ミリモルを加え、室温で2時間反応させ友。反
応液を上記と同様にして処理して、白色のポリマー1五
〇fを得た。
IHNMR分析したところ、アリルジメチルシリル基の
存在が確認され、積分比からアリルジメチルシリル基の
導入率は56ユニツ)%ルーであった。ケミカルシフト
値は次の通夛でめる。
存在が確認され、積分比からアリルジメチルシリル基の
導入率は56ユニツ)%ルーであった。ケミカルシフト
値は次の通夛でめる。
δ(ppm)、ニア、05〜&15(芳香環)、a74
(−CH=CH,)。
(−CH=CH,)。
4.87p4.82 (−CH=Cシ)、 2.25(
((訓C且3)。
((訓C且3)。
以上の結果から、得られたポリマーは、次の囚、(ロ)
、 (C)の繰り返し単位がランダムに結合し7′c重
合体であることが判明した0 (AJ 伊)(C) CH,CH CH雪 (1) 上記で得られた重合体2tをキシレン18t
に#解し、シリコンウエノ・−上にスピンコードした(
膜厚α4μm ) Q ミカサ製マスクアライナ−MAIG(500W高圧水銀
灯使用)を用い、トラパンテストチャートをマスクとし
てg元し九ところ、20秒から残膜が始まり%露光時間
50秒、シクロヘキサノンとイングロバノールの混合浴
液で現像したところ、α9μm ライン&スペースを解
像していた。
、 (C)の繰り返し単位がランダムに結合し7′c重
合体であることが判明した0 (AJ 伊)(C) CH,CH CH雪 (1) 上記で得られた重合体2tをキシレン18t
に#解し、シリコンウエノ・−上にスピンコードした(
膜厚α4μm ) Q ミカサ製マスクアライナ−MAIG(500W高圧水銀
灯使用)を用い、トラパンテストチャートをマスクとし
てg元し九ところ、20秒から残膜が始まり%露光時間
50秒、シクロヘキサノンとイングロバノールの混合浴
液で現像したところ、α9μm ライン&スペースを解
像していた。
(2) 上記で・得られた重合体5f%2.6−ジ(
4′−アジドベンザル)−4−メチルシクロヘキサノン
α25tをキシレン452に8%した。
4′−アジドベンザル)−4−メチルシクロヘキサノン
α25tをキシレン452に8%した。
こosgt−シリコンウェハー上にスピンコードト(膜
厚α4μm)し、上記と同様にして露光、現像したとこ
、ろ、路光時間17秒で[L9μm ライン&スペース
を解像してい九〇 (3) 上記(2)の浴液を塗布したシリコンウェハ
ーを用い、光干渉フィルター(457,5nm 光のみ
を通す)をマスク上に置いて露光した。露光面での45
6 nmの強度は2.7mW/>”でめった@又%Il
1元時間8秒から残膜が始まり、露光時間15秒で(1
9μm′yイン&スペースを解像していた。
厚α4μm)し、上記と同様にして露光、現像したとこ
、ろ、路光時間17秒で[L9μm ライン&スペース
を解像してい九〇 (3) 上記(2)の浴液を塗布したシリコンウェハ
ーを用い、光干渉フィルター(457,5nm 光のみ
を通す)をマスク上に置いて露光した。露光面での45
6 nmの強度は2.7mW/>”でめった@又%Il
1元時間8秒から残膜が始まり、露光時間15秒で(1
9μm′yイン&スペースを解像していた。
実施例2
ベンタメテルジシリル基及びアリルジメチル窒素置換し
次フラスコに、実施f81で得られたポリPM810F
とシクロヘキサン20〇−を入れ、ボIJ P M S
を溶解すると共に、50℃に加熱した0この浴数に4n
−ブチルリチウム60ミリモルとTMRDA60ミリモ
ルを加え。
次フラスコに、実施f81で得られたポリPM810F
とシクロヘキサン20〇−を入れ、ボIJ P M S
を溶解すると共に、50℃に加熱した0この浴数に4n
−ブチルリチウム60ミリモルとTMRDA60ミリモ
ルを加え。
50℃で2時間反応させた。水浴で冷却し、ペンタメチ
ルクールジシラン62ミリモルとアリルジメチルクロル
シラン62ミリモルの混合物を加え、室温で2時間反応
させた0反応液を水洗後、メタノール中に注ぎ入れ、白
色のポリマー12−4fを析出させた。
ルクールジシラン62ミリモルとアリルジメチルクロル
シラン62ミリモルの混合物を加え、室温で2時間反応
させた0反応液を水洗後、メタノール中に注ぎ入れ、白
色のポリマー12−4fを析出させた。
”HNMR分析の結果、得られたポリマーは、実施例1
で得られ九ポリマーと同じ繰り返し単位(5)、(均及
び(C)の結合からなり、その割合は(A)謳5(B)
α1B(C)Ill?であることが判明した〇更に、上
記で得られたポリマー10fを再度シクロヘキサン20
0sdK、!牌し、50℃に加熱した。ここに、n−ブ
チルリチウム50ミリモルとTMgDA50ミリモルを
加え、50℃で2時間反応させた0水浴で冷却し、ペン
タメチルクロルジン2ン62ミリを加え、呈縣で2時間
反応させた0上aeと同様に処理して、白色のポリマー
145fを得た。
で得られ九ポリマーと同じ繰り返し単位(5)、(均及
び(C)の結合からなり、その割合は(A)謳5(B)
α1B(C)Ill?であることが判明した〇更に、上
記で得られたポリマー10fを再度シクロヘキサン20
0sdK、!牌し、50℃に加熱した。ここに、n−ブ
チルリチウム50ミリモルとTMgDA50ミリモルを
加え、50℃で2時間反応させた0水浴で冷却し、ペン
タメチルクロルジン2ン62ミリを加え、呈縣で2時間
反応させた0上aeと同様に処理して、白色のポリマー
145fを得た。
IHNMR分析の結果4得られたポリマーは、実施例1
で得られたポリマーと同じ繰シ返し単位(5)、(ロ)
及び(C)の結合からなり、その割合は(A)(L28
(B)α5B(C)cL19でろることが判明した。
で得られたポリマーと同じ繰シ返し単位(5)、(ロ)
及び(C)の結合からなり、その割合は(A)(L28
(B)α5B(C)cL19でろることが判明した。
感光性絆価
11+ 上記で得られたポリマー2ft−キシレン1
8?に溶解し、シリコンウェハー上にスピンコードした
◎ 実施ガ1の感ft、性評価(11と同様にして露光し九
ところ、露光時間45秒で19μmライン&スペースを
解像してい九〇 (2)上記で得られたポリマー59,2.6−ジ(4′
−7ジドベンザル)−4−メチルシクロへキサノンα2
5Fをキシレン45tに溶解した。
8?に溶解し、シリコンウェハー上にスピンコードした
◎ 実施ガ1の感ft、性評価(11と同様にして露光し九
ところ、露光時間45秒で19μmライン&スペースを
解像してい九〇 (2)上記で得られたポリマー59,2.6−ジ(4′
−7ジドベンザル)−4−メチルシクロへキサノンα2
5Fをキシレン45tに溶解した。
この浴atシリコンウェハー上にスピンコ−トシ、実施
例1の感光性評価(2)と同様にして露光したところ、
g光時間1秒で19μmライン&スペースを解像してい
た。
例1の感光性評価(2)と同様にして露光したところ、
g光時間1秒で19μmライン&スペースを解像してい
た。
(3) 上記(2)の浴液を塗布したシリコンウェハ
ー上に、実施例1の感光性評価(3)と同様にして露光
したところ、露光時間20秒で[L9μm ライン&ス
ペースを解像していた。
ー上に、実施例1の感光性評価(3)と同様にして露光
したところ、露光時間20秒で[L9μm ライン&ス
ペースを解像していた。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 下記(A)、(B)及び(C)の繰り返し単位の結合か
らなるスチレン系重合体を成分とするレジスト。 (A)▲数式、化学式、表等があります▼(B)▲数式
、化学式、表等があります▼(C)▲数式、化学式、表
等があります▼ 〔但し、R^1〜R^5は同一か異なる炭素数1〜6個
のアルキル基、R^6、R^7及びR^8は同じか異な
る炭素数1〜6個のアルキル基又は炭素数2〜6個のア
ルケニル基であり、R^6、R^7及びR^8の少なく
とも一個がアルケニル基であり、A/B/C(モル%)
=1〜70/1〜60/1〜40である。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12199188A JPH01292012A (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | スチレン系重合体を成分とするレジスト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12199188A JPH01292012A (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | スチレン系重合体を成分とするレジスト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01292012A true JPH01292012A (ja) | 1989-11-24 |
Family
ID=14824856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12199188A Pending JPH01292012A (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | スチレン系重合体を成分とするレジスト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01292012A (ja) |
-
1988
- 1988-05-20 JP JP12199188A patent/JPH01292012A/ja active Pending
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