JPH01292205A - スペーシング測定装置 - Google Patents
スペーシング測定装置Info
- Publication number
- JPH01292205A JPH01292205A JP12068588A JP12068588A JPH01292205A JP H01292205 A JPH01292205 A JP H01292205A JP 12068588 A JP12068588 A JP 12068588A JP 12068588 A JP12068588 A JP 12068588A JP H01292205 A JPH01292205 A JP H01292205A
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- JP
- Japan
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- light
- spacing
- magnetic
- pad
- head
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、スペーシング測定装置に関し、特に磁気テー
プあるいは、磁気ディスクを介して情報の記録再生を行
う磁気記録再生系の磁気媒体と磁気ヘッドとの間のスペ
ーシングの測定を光学的手法を用いて行うスペーシング
測定装置に関するものである。
プあるいは、磁気ディスクを介して情報の記録再生を行
う磁気記録再生系の磁気媒体と磁気ヘッドとの間のスペ
ーシングの測定を光学的手法を用いて行うスペーシング
測定装置に関するものである。
[従来の技術]
従来、磁気テープあるいは磁気ディスクを記録媒体とし
た磁気記録再生系においては、原信号の忠実な記録再生
を実現するため数々の研究がなされている。
た磁気記録再生系においては、原信号の忠実な記録再生
を実現するため数々の研究がなされている。
現在の磁気記録再生では、記録再生系の前段または後段
の回路で変復調された周波数変調信号を用いているが、
そのときに問題となるのが、高周波になるにつれて増加
する磁気的損失である。この磁気的損失によって出力低
下が生じ、原信号の忠実な記録再生が行なえなくなる。
の回路で変復調された周波数変調信号を用いているが、
そのときに問題となるのが、高周波になるにつれて増加
する磁気的損失である。この磁気的損失によって出力低
下が生じ、原信号の忠実な記録再生が行なえなくなる。
その中でも大きな原因を占めるのが空隙損失、いわゆる
スペーシング損失である。
スペーシング損失である。
このスペーシング損失を小さくするためには、磁気媒体
と磁気ヘッドとを接触させてしまえばよいのだが、そう
すると接触による摩擦から耐久性に問題が生じる。結局
、スペーシング損失を小さく、かつ、安定な出力を得る
ためには、磁気媒体と磁気ヘッド間のスペーシング(す
き間)をできるだけ短くし、且つ、そのスペーシングの
間隔を常に安定に保たなくてはいけない。そのためには
、スペーシングそのものを定量的に解析測定することが
必要である。
と磁気ヘッドとを接触させてしまえばよいのだが、そう
すると接触による摩擦から耐久性に問題が生じる。結局
、スペーシング損失を小さく、かつ、安定な出力を得る
ためには、磁気媒体と磁気ヘッド間のスペーシング(す
き間)をできるだけ短くし、且つ、そのスペーシングの
間隔を常に安定に保たなくてはいけない。そのためには
、スペーシングそのものを定量的に解析測定することが
必要である。
そこで、上記スペーシングの絶対量を測定する方法とし
て、光学的手法を用いたスペーシング測定が従来から行
なわれてきている。これは、磁気ヘッドの先端での反射
光と、磁気媒体の表面での反射光を干渉させて干渉縞を
作り、この干渉縞により光の強度分布を求め、スペーシ
ングの絶対量を算出する方法である。この方法を磁気デ
ィスクによる磁気記録再生系、たとえばステイルビデオ
において用いれば、第3図のような測定系の構成となる
。
て、光学的手法を用いたスペーシング測定が従来から行
なわれてきている。これは、磁気ヘッドの先端での反射
光と、磁気媒体の表面での反射光を干渉させて干渉縞を
作り、この干渉縞により光の強度分布を求め、スペーシ
ングの絶対量を算出する方法である。この方法を磁気デ
ィスクによる磁気記録再生系、たとえばステイルビデオ
において用いれば、第3図のような測定系の構成となる
。
第3回において、光源1から出射した光束はハーフミラ
−7によって本図に示すような左方向に進み、ヘッド媒
体の直下でプリズムlOによりヘッド媒体に対して垂直
に入射する。その入射光のうち、1つの光路として、擬
似ヘッド5′を通り、磁気媒体である磁気ディスク3の
表面で反射する光と、もう1つの光路として、擬似ヘッ
ド5′の表面で反射する光とが、擬似ヘッド5′の表面
で干渉をおこし、入射光路を逆方向に進む。
−7によって本図に示すような左方向に進み、ヘッド媒
体の直下でプリズムlOによりヘッド媒体に対して垂直
に入射する。その入射光のうち、1つの光路として、擬
似ヘッド5′を通り、磁気媒体である磁気ディスク3の
表面で反射する光と、もう1つの光路として、擬似ヘッ
ド5′の表面で反射する光とが、擬似ヘッド5′の表面
で干渉をおこし、入射光路を逆方向に進む。
そして、再びハーフミラ−7を通過し、偏光ミラー8に
よって波長分解され、一対の高感度カメラ4により、干
渉縞をモニタ11で観察することができる。また、この
干渉縞により、高感度カメラ4で受光された光の強度分
布を画像メモリ12上にデータとしてとり込み、そのデ
ータからコンピュータ13により、スペーシング分布を
求める。このようにして、スペーシングの絶対量を測定
することができる。
よって波長分解され、一対の高感度カメラ4により、干
渉縞をモニタ11で観察することができる。また、この
干渉縞により、高感度カメラ4で受光された光の強度分
布を画像メモリ12上にデータとしてとり込み、そのデ
ータからコンピュータ13により、スペーシング分布を
求める。このようにして、スペーシングの絶対量を測定
することができる。
[発明が解決しようとする課題J
しかしながら、上述した従来の測定系では、ヘッドの真
下から光を入射して、ヘッドの中を通過させなければな
らないので、ヘッドをガラスなどの透光性の材料を用い
た擬似ヘッド5′にしなければならない。そのため、ス
ペーシング分布は測定できるが、電磁変換特性は測定で
きず、スペーシング分布と、電磁変換特性との対応がと
れない。
下から光を入射して、ヘッドの中を通過させなければな
らないので、ヘッドをガラスなどの透光性の材料を用い
た擬似ヘッド5′にしなければならない。そのため、ス
ペーシング分布は測定できるが、電磁変換特性は測定で
きず、スペーシング分布と、電磁変換特性との対応がと
れない。
このスペーシング分布と電磁変換特性の対応をとるため
、ヘッド部を磁気ヘッドと擬似ヘッドとを、同じ状態で
交換し、それぞれスペーシング分布と電磁変換特定を測
定すればよいが、ヘッド部の交換は容易にはできす、そ
の都度の調整に多大な時間を要する。
、ヘッド部を磁気ヘッドと擬似ヘッドとを、同じ状態で
交換し、それぞれスペーシング分布と電磁変換特定を測
定すればよいが、ヘッド部の交換は容易にはできす、そ
の都度の調整に多大な時間を要する。
また、その調整の時間を無視したとしても、同じ状態で
ヘッドを交換できるかどうか、すなわち、位置再現性は
有るかどうかというと、ある程度の再現性は保障される
が、完全な対応をとることは不可能であるという問題が
あった。
ヘッドを交換できるかどうか、すなわち、位置再現性は
有るかどうかというと、ある程度の再現性は保障される
が、完全な対応をとることは不可能であるという問題が
あった。
本発明の目的は、上記欠点を除去し、スペーシング分布
と電磁変換特性とが同時に同じ状態で測定可能となり、
また、光軸の調整が容易となるスペーシング測定装置を
提供することにある。
と電磁変換特性とが同時に同じ状態で測定可能となり、
また、光軸の調整が容易となるスペーシング測定装置を
提供することにある。
[課題を解決するための手段]
かかる目的を達成するため、本発明は、磁気記録媒体を
用いた磁気記録再生系の磁気記録媒体と磁気ヘッド間の
スペーシングを光学的手法を用いて測定する装置であっ
て、透光性材料を用いたパッドを具備し、そのパッドの
上方から光を入射して、光の干渉によって、スペーシン
グの測定が可能であることを特徴とする。
用いた磁気記録再生系の磁気記録媒体と磁気ヘッド間の
スペーシングを光学的手法を用いて測定する装置であっ
て、透光性材料を用いたパッドを具備し、そのパッドの
上方から光を入射して、光の干渉によって、スペーシン
グの測定が可能であることを特徴とする。
[作用]
本発明では、上記構成により光路をヘッド部にとらず、
磁気ディスクを押えるパッド部にとることにより、ヘッ
ド部は磁気ヘッドを用いて、電磁変換特性を測定可能に
し、また上記パッド部は、透光性材料を用いて、そのパ
ッドの上方から光を入射し、光の干渉によって光学的手
法によりスペーシング分布を測定することを可能とした
ものである。そのため、本発明によれば、スペーシング
分布と電磁変換特性とが同時に同じ状態で測定可能とな
り、また光軸の調整が容易となる。
磁気ディスクを押えるパッド部にとることにより、ヘッ
ド部は磁気ヘッドを用いて、電磁変換特性を測定可能に
し、また上記パッド部は、透光性材料を用いて、そのパ
ッドの上方から光を入射し、光の干渉によって光学的手
法によりスペーシング分布を測定することを可能とした
ものである。そのため、本発明によれば、スペーシング
分布と電磁変換特性とが同時に同じ状態で測定可能とな
り、また光軸の調整が容易となる。
[実施例]
以下に図面を参照して、本発明実施例を詳細に説明する
。
。
第1図に本発明の一実施例の具体的配置構成を示す、本
図において、高感度カメラ4から右側のデータ処理系は
、従来例である第3図と同じ様な構成をとるので省略し
た。
図において、高感度カメラ4から右側のデータ処理系は
、従来例である第3図と同じ様な構成をとるので省略し
た。
第1図に示すように、磁気ディスク3の上方に設けた光
源(例えば、ストロボ)1から出た光は磁気ディスク3
の上部を押えているパッド部2に垂直に入射する。この
パッド部2は、第2図に示すように、磁気ヘッド5と対
になって上下から磁気ディスクをはさむような構成をと
り、これによって、磁気ディスク3と磁気ヘッド5の間
、磁気ディスク3とバット部2の間に、それぞれに本図
に示すように極めて薄い空気層(エアーフィルム)を形
成し、磁気ディスク3を安定に回転させるものである。
源(例えば、ストロボ)1から出た光は磁気ディスク3
の上部を押えているパッド部2に垂直に入射する。この
パッド部2は、第2図に示すように、磁気ヘッド5と対
になって上下から磁気ディスクをはさむような構成をと
り、これによって、磁気ディスク3と磁気ヘッド5の間
、磁気ディスク3とバット部2の間に、それぞれに本図
に示すように極めて薄い空気層(エアーフィルム)を形
成し、磁気ディスク3を安定に回転させるものである。
このパッド部2をガラス等の透光性材料を用いて作り、
光源1からの光を通過させる。パッド部2を通過した光
は、パッド部下面2aと磁気ディスク3の上面3aのそ
れぞれで反射する。そして、その2つの反射光が干渉し
、入射経路を逆方向に進む。そのあとは、第3図の従来
例と同様にその干渉光の強度分布を高感度カメラ4でと
らえ、コンピュータによりスペーシング分布を求める。
光源1からの光を通過させる。パッド部2を通過した光
は、パッド部下面2aと磁気ディスク3の上面3aのそ
れぞれで反射する。そして、その2つの反射光が干渉し
、入射経路を逆方向に進む。そのあとは、第3図の従来
例と同様にその干渉光の強度分布を高感度カメラ4でと
らえ、コンピュータによりスペーシング分布を求める。
本実施例で求められるスペーシングは、パッド2と磁気
ディスク3間である。必要なスペーシング分布は、磁気
ヘッド5と磁気ディスク3間であるので、コンピュータ
によるデータ処理の際に、磁気ヘッド5とパッド2の距
M(変動しない)と磁気ディスク3の厚さをデータとし
て入力してやり、演算によりスペーシング分布を求める
。
ディスク3間である。必要なスペーシング分布は、磁気
ヘッド5と磁気ディスク3間であるので、コンピュータ
によるデータ処理の際に、磁気ヘッド5とパッド2の距
M(変動しない)と磁気ディスク3の厚さをデータとし
て入力してやり、演算によりスペーシング分布を求める
。
このような構成をとると、磁気ヘッド5に接続する電磁
変換特性測定系6で電磁変換特性を測定するのと同時に
、同じ状態でスペーシング分布を測定することができ、
2つの特性の対応を把握することが可能となる。また従
来例のようにヘッド真下のプリズム10(第3図)が不
要となるので、光軸の調整が容易となる。
変換特性測定系6で電磁変換特性を測定するのと同時に
、同じ状態でスペーシング分布を測定することができ、
2つの特性の対応を把握することが可能となる。また従
来例のようにヘッド真下のプリズム10(第3図)が不
要となるので、光軸の調整が容易となる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、パッド部に透光
性材料を用いて、そのパッドの上方から測定光を入射す
るようにしたので、電磁変換特性とスペーシング分布と
が同時に同じ状態で測定可能となり、また、光軸の調整
が容易になるという効果が得られる。
性材料を用いて、そのパッドの上方から測定光を入射す
るようにしたので、電磁変換特性とスペーシング分布と
が同時に同じ状態で測定可能となり、また、光軸の調整
が容易になるという効果が得られる。
第1図は本発明の実施例の配置構成を示す模式第2図は
第1図の本発明実施例のパッド、磁気ディスク、 Ii
n気ヘッド部を示す詳細図、第3図は従来のステイルビ
デオにおけるスペーシング測定系の配置構成を示す模式
図である。 1・・・光源(ストロボ)、 2・・・パッド、 3・・・磁気ディスク、 4・・・高感度カメラ、 5・・・磁気ヘッド、 5′ ・・・擬似ヘッド、 6・・・電磁変換特性測定系、 7・・・ハーフミラ−1 8・・・偏光ミラー。 入射光 本発明TオセイfU /7 / ’l’・ン1−’、石
鍬気テンズ7.Z姓艷へ、、ド音旺示す言Y系ヨBつ第
2図 X芝来のヌ△°−シンフ′°須ツ、定Xべど置才再戒乏
示−う不」戊図第31
第1図の本発明実施例のパッド、磁気ディスク、 Ii
n気ヘッド部を示す詳細図、第3図は従来のステイルビ
デオにおけるスペーシング測定系の配置構成を示す模式
図である。 1・・・光源(ストロボ)、 2・・・パッド、 3・・・磁気ディスク、 4・・・高感度カメラ、 5・・・磁気ヘッド、 5′ ・・・擬似ヘッド、 6・・・電磁変換特性測定系、 7・・・ハーフミラ−1 8・・・偏光ミラー。 入射光 本発明TオセイfU /7 / ’l’・ン1−’、石
鍬気テンズ7.Z姓艷へ、、ド音旺示す言Y系ヨBつ第
2図 X芝来のヌ△°−シンフ′°須ツ、定Xべど置才再戒乏
示−う不」戊図第31
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)磁気記録媒体を用いた磁気記録再生系の磁気記録媒
体と磁気ヘッド間のスペーシングを光学的手法を用いて
測定する装置であって、 透光性材料を用いたパッドを具備し、そのパッドの上方
から光を入射して、光の干渉によって、スペーシングの
測定が可能であることを特徴とするスペーシング測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12068588A JPH01292205A (ja) | 1988-05-19 | 1988-05-19 | スペーシング測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12068588A JPH01292205A (ja) | 1988-05-19 | 1988-05-19 | スペーシング測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01292205A true JPH01292205A (ja) | 1989-11-24 |
Family
ID=14792417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12068588A Pending JPH01292205A (ja) | 1988-05-19 | 1988-05-19 | スペーシング測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01292205A (ja) |
-
1988
- 1988-05-19 JP JP12068588A patent/JPH01292205A/ja active Pending
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