JPH0556572B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0556572B2 JPH0556572B2 JP59122368A JP12236884A JPH0556572B2 JP H0556572 B2 JPH0556572 B2 JP H0556572B2 JP 59122368 A JP59122368 A JP 59122368A JP 12236884 A JP12236884 A JP 12236884A JP H0556572 B2 JPH0556572 B2 JP H0556572B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- recording surface
- amount
- optical disk
- runout
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B17/00—Guiding record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor
- G11B17/32—Maintaining desired spacing between record carrier and head, e.g. by fluid-dynamic spacing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B17/00—Guiding record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor
- G11B17/34—Guiding record carriers during transducing operation, e.g. for track following
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は情報記録媒体としての光デイスクの形
状を評価する装置に関するものである。
状を評価する装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
高密度大容量の情報記録として期待されている
光デイスクの生産工法確立及び管理、品質保障の
意味から、光デイスク記録面の面芯振れ量もしく
はフオーカス方向及びトラツキング方向の加速度
を測定する必要がある。光デイスク記録面の面振
れ量、芯振れ量及び加速度を測定する手段の従来
例を第１図に示す。
光デイスクの生産工法確立及び管理、品質保障の
意味から、光デイスク記録面の面芯振れ量もしく
はフオーカス方向及びトラツキング方向の加速度
を測定する必要がある。光デイスク記録面の面振
れ量、芯振れ量及び加速度を測定する手段の従来
例を第１図に示す。
第１図に示すように、半導体レーザー１から発
光されたレーザー光は集光レンズ２、凹及び凸シ
リンドリカルレンズ３ａ，３ｂを経て円形平行光
線に成形され、ビームスプリツタ４、λ／４板５
を経て絞りレンズ６によりデイスク７の記録面上
に絞り込まれる。その反射光は再び絞りレンズ６
λ／４板５を経てビームスプリツタ４を透過し、
光検出部に至る。絞りレンズ６はホルダー８によ
り保持されており、ホルダー８にはAl製のター
ゲツト９，１０が固設されており、うず電流変位
計のプロープ１１，１２の先端面をそれぞれター
ゲツト９，１０に対向させることにより、ピツク
アツプのトラツキング方向、フオーカス方向の変
位量をうず電流変位計ドライバーより検出する。
光されたレーザー光は集光レンズ２、凹及び凸シ
リンドリカルレンズ３ａ，３ｂを経て円形平行光
線に成形され、ビームスプリツタ４、λ／４板５
を経て絞りレンズ６によりデイスク７の記録面上
に絞り込まれる。その反射光は再び絞りレンズ６
λ／４板５を経てビームスプリツタ４を透過し、
光検出部に至る。絞りレンズ６はホルダー８によ
り保持されており、ホルダー８にはAl製のター
ゲツト９，１０が固設されており、うず電流変位
計のプロープ１１，１２の先端面をそれぞれター
ゲツト９，１０に対向させることにより、ピツク
アツプのトラツキング方向、フオーカス方向の変
位量をうず電流変位計ドライバーより検出する。
このうず電流変位計ドライバーの出力信号をス
ペクトルアナライザーによつて周波数分析するこ
とにより、信号成分とノイズ成分を識別しつつデ
イスク記録面の面芯振れ量及び加速度を測定する
ことが出来る。しかし、ピツクアツプ変位量の測
定能力には限界があり、（うず電流変位計ではコ
ンマ数μｍが測定分解能である。）たとえば500Hz
以上の高周波領域における0.01μｍオーダーの面
芯振れ量、もしくは0.01Gオーダーの加速度を測
定することは不可能である。ここに従来より、高
周波数領域においても光デイスク記録面の面芯振
れ量もしくは加速度を正確に測定する方法の確立
が要請されていた。
ペクトルアナライザーによつて周波数分析するこ
とにより、信号成分とノイズ成分を識別しつつデ
イスク記録面の面芯振れ量及び加速度を測定する
ことが出来る。しかし、ピツクアツプ変位量の測
定能力には限界があり、（うず電流変位計ではコ
ンマ数μｍが測定分解能である。）たとえば500Hz
以上の高周波領域における0.01μｍオーダーの面
芯振れ量、もしくは0.01Gオーダーの加速度を測
定することは不可能である。ここに従来より、高
周波数領域においても光デイスク記録面の面芯振
れ量もしくは加速度を正確に測定する方法の確立
が要請されていた。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解説するもので、
低周波数から高周波数領域に至るまでの光デイス
ク記録面の面振れ量、芯振れ量もしくは加速度の
正確な測定を実現する光デイスク評価装置を提供
することを目的とする。
低周波数から高周波数領域に至るまでの光デイス
ク記録面の面振れ量、芯振れ量もしくは加速度の
正確な測定を実現する光デイスク評価装置を提供
することを目的とする。
発明の構成
本発明は光源から放射される光を光デイスク記
録面に絞り込む第１の光学系と、記録面から反射
される光を光検出器に導く第２の光学系と、記録
面に追従する光学ピツクアツプと、光学ピツクア
ツプの変位を検出する手段とをもち、記録面の面
芯振れ量もしくはフオーカス方向及びトラツキン
グ方向の加速度測定を行なう装置において、面芯
振れの低い周波数領域においては光学ピツクアツ
プ変位を検出する手段によつて測定を行ない、高
い周波数領域においては光検出器の差信号すなわ
ちフオーカスエラー信号とトラツキングエラー信
号によつて測定を行なうことを特徴とする光デイ
スク評価装置であり、光デイスク記録面の低周波
数から高周波数領域に至るまでの面芯振れ量もし
くは加速度の正確な測定を実現できるものであ
る。
録面に絞り込む第１の光学系と、記録面から反射
される光を光検出器に導く第２の光学系と、記録
面に追従する光学ピツクアツプと、光学ピツクア
ツプの変位を検出する手段とをもち、記録面の面
芯振れ量もしくはフオーカス方向及びトラツキン
グ方向の加速度測定を行なう装置において、面芯
振れの低い周波数領域においては光学ピツクアツ
プ変位を検出する手段によつて測定を行ない、高
い周波数領域においては光検出器の差信号すなわ
ちフオーカスエラー信号とトラツキングエラー信
号によつて測定を行なうことを特徴とする光デイ
スク評価装置であり、光デイスク記録面の低周波
数から高周波数領域に至るまでの面芯振れ量もし
くは加速度の正確な測定を実現できるものであ
る。
実施例の説明
以下の説明で、フオーカス方向もトラツキング
方向も原理的には全く同じであるのでフオーカス
方向のみを代表させて説明してゆく。本発明の実
施例の構成図は第１図と同じであり、本発明の実
施例におけるデイスク評価装置の回路説明図を第
２図に示す。第２図において、デイスク記憶面上
の面振れ量は加え合せ点ａを経て、光学系１３、
光検出器１４により信号検出され、その信号はプ
リアンプ１５により増幅された後、オペアンプ１
６により差分されフオーカスエラー信号となり、
このフオーカスエラー信号は増幅回路及びフイル
ター１７、駆動回路１８を経て、光学ピツクアツ
プコイ１９に流れ光学ピツクアツプを駆動し、ピ
ツクアツプの変位量は引出し点ｃより引出され加
え合せ点ａに代数差として入る。またピツクアツ
プの変位量はうず電流変位計２０により検出され
ドライバー２１により面振れ信号として出力さ
れ、スペクトラムアナライザー２２により周波数
分析される。一方、オペアンプ１６により差分さ
れたフオーカスエラー信号は引き出し点ｂより引
き出されるスペクトラムアナライザー２２により
周波数分析される。ここで光デイスク記録面の面
振れ量の低い周波数領域においては面振れ信号の
周波数分析データを用い、高い領域ではフオーカ
スエラー信号の周波数分析データを用いて、これ
らのデータを併用することで低周波数から高周波
数に至るまでの面振れ量もしくは加速度の測定を
行なう。第３図は第２図を簡単にしたブロツク線
図であり、伝達関数G1は光学系１３からオペア
ンプ１６に至るまでの結合伝達関数、伝達関数
G2は増幅回路及びフイルター１７から光学ピツ
クアツプコイル１９に至るまでの結合伝達関数で
ある。これよりデイスク記録面上の面振れ量をＲ
として、面振れ信号Ｃは Ｃ＝G1C2／１＋G1G2Ｒ フオーカスエラー信号Ｅは Ｅ＝G1／１＋G1G2Ｒ で表わされる。伝達関数G1は一般に０〜100KHz
までの領域では周波数によらずほぼ一定であるの
に対し、G2は第４図は示す如く、低周波数では
｜G2｜は大きく、高周波数で小さくなる。よつ
てたとえば500Hz以下の低周波数では ｜G1G2｜≫１でありＣ≒Ｒとなるのに対し、
たとえば2KHz以上の高周波数では｜G1G2｜≪１
でありＥ≒G1Rとなる｜G1｜、｜G2｜はデイスク
の反射率差等により若干ばらつくため、低周波数
では反射率差によらず面振れ信号Ｃが安定し、高
周波数では反射率差程度の変動（数パーセント程
度）はあるがフオーカスエラー信号Ｅの方が安定
している。また、第５図は本発明の光デイスク評
価装置の光学ピツクアツプの閉ループ特性図であ
り、ωbは帯域幅である。一般にωbは１〜3KHzの
大きさであり、ωbを越える周波数では光デイス
ク記録面上に凹凸があつてもピツクアツプは追従
せず、記録面上の面振れ量は面振れ信号では検出
不能であるのに対し、フオーカスエラー信号では
信号として感度よく現われる。また、デイスク記
録面上の面振れ量がコンマ数μｍ以下の非常に小
さい量である時も、光学ピツクアツプは光デイス
ク記録面上の凹凸に追従せず、面振れ量はフオー
カスエラー信号にのみよく現われる。以上のよう
に、本実施例によれば記録面の面振れ量の低い周
波数領域では面振れ信号を用い、高い周波数領域
ではフオーカスエラー信号を用いこれらを併用す
ることで、低周波数から高周波数領域に至るまで
の、デイスク記録面の面振れ量もしくは加速度の
正確な測定を行なうことが出来る。なお以上の実
施例ではピツクアツプ変位量の検出としてうず電
流変位計を用いたが、他の検出方法を用いてもよ
い。さらに上記実施例ではフオーカス方向の面振
れ量もしくは加速度測定に限り説明したが、トラ
ツキング方向についても全く同様である。
方向も原理的には全く同じであるのでフオーカス
方向のみを代表させて説明してゆく。本発明の実
施例の構成図は第１図と同じであり、本発明の実
施例におけるデイスク評価装置の回路説明図を第
２図に示す。第２図において、デイスク記憶面上
の面振れ量は加え合せ点ａを経て、光学系１３、
光検出器１４により信号検出され、その信号はプ
リアンプ１５により増幅された後、オペアンプ１
６により差分されフオーカスエラー信号となり、
このフオーカスエラー信号は増幅回路及びフイル
ター１７、駆動回路１８を経て、光学ピツクアツ
プコイ１９に流れ光学ピツクアツプを駆動し、ピ
ツクアツプの変位量は引出し点ｃより引出され加
え合せ点ａに代数差として入る。またピツクアツ
プの変位量はうず電流変位計２０により検出され
ドライバー２１により面振れ信号として出力さ
れ、スペクトラムアナライザー２２により周波数
分析される。一方、オペアンプ１６により差分さ
れたフオーカスエラー信号は引き出し点ｂより引
き出されるスペクトラムアナライザー２２により
周波数分析される。ここで光デイスク記録面の面
振れ量の低い周波数領域においては面振れ信号の
周波数分析データを用い、高い領域ではフオーカ
スエラー信号の周波数分析データを用いて、これ
らのデータを併用することで低周波数から高周波
数に至るまでの面振れ量もしくは加速度の測定を
行なう。第３図は第２図を簡単にしたブロツク線
図であり、伝達関数G1は光学系１３からオペア
ンプ１６に至るまでの結合伝達関数、伝達関数
G2は増幅回路及びフイルター１７から光学ピツ
クアツプコイル１９に至るまでの結合伝達関数で
ある。これよりデイスク記録面上の面振れ量をＲ
として、面振れ信号Ｃは Ｃ＝G1C2／１＋G1G2Ｒ フオーカスエラー信号Ｅは Ｅ＝G1／１＋G1G2Ｒ で表わされる。伝達関数G1は一般に０〜100KHz
までの領域では周波数によらずほぼ一定であるの
に対し、G2は第４図は示す如く、低周波数では
｜G2｜は大きく、高周波数で小さくなる。よつ
てたとえば500Hz以下の低周波数では ｜G1G2｜≫１でありＣ≒Ｒとなるのに対し、
たとえば2KHz以上の高周波数では｜G1G2｜≪１
でありＥ≒G1Rとなる｜G1｜、｜G2｜はデイスク
の反射率差等により若干ばらつくため、低周波数
では反射率差によらず面振れ信号Ｃが安定し、高
周波数では反射率差程度の変動（数パーセント程
度）はあるがフオーカスエラー信号Ｅの方が安定
している。また、第５図は本発明の光デイスク評
価装置の光学ピツクアツプの閉ループ特性図であ
り、ωbは帯域幅である。一般にωbは１〜3KHzの
大きさであり、ωbを越える周波数では光デイス
ク記録面上に凹凸があつてもピツクアツプは追従
せず、記録面上の面振れ量は面振れ信号では検出
不能であるのに対し、フオーカスエラー信号では
信号として感度よく現われる。また、デイスク記
録面上の面振れ量がコンマ数μｍ以下の非常に小
さい量である時も、光学ピツクアツプは光デイス
ク記録面上の凹凸に追従せず、面振れ量はフオー
カスエラー信号にのみよく現われる。以上のよう
に、本実施例によれば記録面の面振れ量の低い周
波数領域では面振れ信号を用い、高い周波数領域
ではフオーカスエラー信号を用いこれらを併用す
ることで、低周波数から高周波数領域に至るまで
の、デイスク記録面の面振れ量もしくは加速度の
正確な測定を行なうことが出来る。なお以上の実
施例ではピツクアツプ変位量の検出としてうず電
流変位計を用いたが、他の検出方法を用いてもよ
い。さらに上記実施例ではフオーカス方向の面振
れ量もしくは加速度測定に限り説明したが、トラ
ツキング方向についても全く同様である。
発明の効果
本発明の光デイスク評価装置は、記録面の面振
れ量、芯振れ量の低い周波数領域では面振れ信号
および芯振れ信号を用い、高い周波数領域ではフ
オーカスエラー信号およびトラツキングエラー信
号を用いこれらを併用することで、低周波数から
高周波数に至るまでのデイスク記録面の面振れ
量、芯振れ量及びフオーカス方向及びトラツキン
グ方向の加速度の正確な測定を行なうことが出
来、その実用的効果は大きい。
れ量、芯振れ量の低い周波数領域では面振れ信号
および芯振れ信号を用い、高い周波数領域ではフ
オーカスエラー信号およびトラツキングエラー信
号を用いこれらを併用することで、低周波数から
高周波数に至るまでのデイスク記録面の面振れ
量、芯振れ量及びフオーカス方向及びトラツキン
グ方向の加速度の正確な測定を行なうことが出
来、その実用的効果は大きい。
第１図は従来の光デイスク評価装置の原理図、
第２図は本発明の実施例における光デイスク評価
装置のブロツク線図、第３図は同ブロツク線図、
第４図は同伝達関数G2の周波数特性を示す特性
図、第５図は同光学ピツクアツプの閉ループ特性
図である。 １３……光学系、１４……光検出器、１５……
プリアンプ、１６……オペアンプ、１７……増幅
回路及びフイルター、１８……駆動回路、１９…
…光学ピツクアツプコイル、２０……うず電流変
位計、２１……ドライバー、２２……スペクトラ
ムアナライザー。
第２図は本発明の実施例における光デイスク評価
装置のブロツク線図、第３図は同ブロツク線図、
第４図は同伝達関数G2の周波数特性を示す特性
図、第５図は同光学ピツクアツプの閉ループ特性
図である。 １３……光学系、１４……光検出器、１５……
プリアンプ、１６……オペアンプ、１７……増幅
回路及びフイルター、１８……駆動回路、１９…
…光学ピツクアツプコイル、２０……うず電流変
位計、２１……ドライバー、２２……スペクトラ
ムアナライザー。
Claims (1)
- １ 光源から放射される光を光デイスク記録面に
絞り込む第１の光学系と、前記光デイスク記録面
から反射される光を光検出器に導く第２の光学系
と、前記光デイスク記録面に追従する光学ピツク
アツプと、前記光学ピツクアツプの変位を検出す
る手段とをもち、前記光デイスク記録面の面振れ
量、芯振れ量及びフオーカス方向及びトラツキン
グ方向の加速度測定を行なう装置において、面芯
振れ量の低い周波数領域においては前記光学ピツ
クアツプの変位を検出する手段によつて測定を行
ない、高い周波数領域においては前記光検出器の
差信号、すなわちフオーカスエラー信号とトラツ
キングエラー信号とによつて測定を行なうことを
特徴とする光デイスク評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59122368A JPS61946A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 光デイスク評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59122368A JPS61946A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 光デイスク評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61946A JPS61946A (ja) | 1986-01-06 |
| JPH0556572B2 true JPH0556572B2 (ja) | 1993-08-19 |
Family
ID=14834130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59122368A Granted JPS61946A (ja) | 1984-06-14 | 1984-06-14 | 光デイスク評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61946A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0721508B2 (ja) * | 1987-04-06 | 1995-03-08 | 横河電機株式会社 | 光デイスク検査装置の加速度計算方法 |
| KR100813946B1 (ko) * | 2001-09-01 | 2008-03-14 | 삼성전자주식회사 | 광정보저장매체의 기록 및 재생장치, 편향크기 산출 방법, 재생 시스템, 기록 및 재생 시스템 |
-
1984
- 1984-06-14 JP JP59122368A patent/JPS61946A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61946A (ja) | 1986-01-06 |
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