JPH01294335A - イオンビーム加工装置 - Google Patents
イオンビーム加工装置Info
- Publication number
- JPH01294335A JPH01294335A JP63123993A JP12399388A JPH01294335A JP H01294335 A JPH01294335 A JP H01294335A JP 63123993 A JP63123993 A JP 63123993A JP 12399388 A JP12399388 A JP 12399388A JP H01294335 A JPH01294335 A JP H01294335A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filament
- acceleration
- ion
- current
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はイオンビーム加工装置に係り、特にイオン源の
フィラメント保護に関する。
フィラメント保護に関する。
[従来の技術]
イオンビームを利用した従来の微細加工装置はガス圧制
御によって加工M度を維持しているが。
御によって加工M度を維持しているが。
真空容器内の圧力はスパッタされてできた薄膜のポンプ
作用や反応性ガスの化学反応等で変動しやすく、高精密
加工精度を得ることは困難である。
作用や反応性ガスの化学反応等で変動しやすく、高精密
加工精度を得ることは困難である。
このため、特開昭62−108440号公報に記載され
た発明は、一定の加速電圧が与えられたイオン加速電極
に流れる電流が一定値になるように、イオン源のフィラ
メント出力をM御する制御法を提案している。すなわち
このイオンビーム加工装置は、第4図に示すように、真
空容器1に設けられたフィラメント2をフィラメント電
源3から給電して加熱し、該フィラメント2と真空容器
1の間にアーク電源4により電圧を印加して放電させる
ことによってプラズマを発生し、加速電源5から一定の
加速電圧が与えられたイオン加速な極6によってイオン
を引出して加速することによってイオンビーム7を発生
し、該イオンビーム7を被加工物8に照射して該被加工
物8を加工するように構成され、更に、イオン加速電極
6に流れるイオン加速電流を電流検出器9で検出し、イ
オン加速電流検出信号I□を設定値工、と比較器10で
比較して得た制御信号で前記イオン加速電流が所定値と
なるようにフィラメント電源3の出力を制御するように
制御系が構成されている。なお。
た発明は、一定の加速電圧が与えられたイオン加速電極
に流れる電流が一定値になるように、イオン源のフィラ
メント出力をM御する制御法を提案している。すなわち
このイオンビーム加工装置は、第4図に示すように、真
空容器1に設けられたフィラメント2をフィラメント電
源3から給電して加熱し、該フィラメント2と真空容器
1の間にアーク電源4により電圧を印加して放電させる
ことによってプラズマを発生し、加速電源5から一定の
加速電圧が与えられたイオン加速な極6によってイオン
を引出して加速することによってイオンビーム7を発生
し、該イオンビーム7を被加工物8に照射して該被加工
物8を加工するように構成され、更に、イオン加速電極
6に流れるイオン加速電流を電流検出器9で検出し、イ
オン加速電流検出信号I□を設定値工、と比較器10で
比較して得た制御信号で前記イオン加速電流が所定値と
なるようにフィラメント電源3の出力を制御するように
制御系が構成されている。なお。
電子抑制電極11は電子抑制電源12に接続されてイオ
ンビーム7に逆流する電子を抑制する。
ンビーム7に逆流する電子を抑制する。
ところでこのイオンビーム加工装置の加速電源5は、イ
オン加速電流検出信号1bdを監視しイオン加速電極6
に異常放電が発生した場合には加速電源5からイオン加
速電極6に供給する加速電圧を遮断して該加速電源5を
過負荷から保護するように構成されるが、加速電圧を遮
断するとイオン加速電流が零になるためにフィラメント
電源3は最大出力状態に制御されてフィラメント2の寿
命が短くなる問題がある。
オン加速電流検出信号1bdを監視しイオン加速電極6
に異常放電が発生した場合には加速電源5からイオン加
速電極6に供給する加速電圧を遮断して該加速電源5を
過負荷から保護するように構成されるが、加速電圧を遮
断するとイオン加速電流が零になるためにフィラメント
電源3は最大出力状態に制御されてフィラメント2の寿
命が短くなる問題がある。
[発明が解決しようとする課題]
以上のように従来の改良されたイオンビーム加工装置は
、イオン加速電極に異常放電が発生したときに加速電圧
を遮断すると、フィラメント電流が大きくなってフィラ
メントの寿命が短くなる問題があり、従って本発明の目
的は、このようなフィラメントの寿命低下を防止するこ
とにある。
、イオン加速電極に異常放電が発生したときに加速電圧
を遮断すると、フィラメント電流が大きくなってフィラ
メントの寿命が短くなる問題があり、従って本発明の目
的は、このようなフィラメントの寿命低下を防止するこ
とにある。
[課題を解決するための手段]
本発明は、フィラメントを備えたイオン源と、前記フィ
ラメントに電力を供給するフィラメント電源と、前記イ
オン源で発生したイオンを加速して被加工物に照射する
加速電極と、該加速電極に一定の加速電圧を供給する加
速電源と、加速電極に流れるイオン加速電流を検出する
手段と、イオン加速電流検出信号に基づいてイオン加速
電流が所定の一定値となるように前記フィラメント出力
を制御する定加速電流制御系とを備えたイオンビーム加
工装置において、フィラメント出力を所定の一定値とす
るように該フィラメント出力を制御する定フィラメント
出力制御系と、加速電極異常時に前記フィラメント出力
制御系を前記定加速電流制御系から定フィラメント出力
制御系に切換える制御系切換手段を設けたことを特徴と
する。 ゛[作用] 通常時には定加速電流制御系によってイオン加速電流が
一定となるようにフィラメント出力が制御されるので従
来のイオンビーム加工装置と同様に高精度なイオンビー
ム加工が可能となり、加速電極異常時には定フィラメン
ト出力制御系によってフィラメント出力が所定の一定値
となるよ′うに制御されるので加速電圧が遮断されても
フィラメント電流が大きくなることがなく、フィラメン
トの寿命低下が防止される。
ラメントに電力を供給するフィラメント電源と、前記イ
オン源で発生したイオンを加速して被加工物に照射する
加速電極と、該加速電極に一定の加速電圧を供給する加
速電源と、加速電極に流れるイオン加速電流を検出する
手段と、イオン加速電流検出信号に基づいてイオン加速
電流が所定の一定値となるように前記フィラメント出力
を制御する定加速電流制御系とを備えたイオンビーム加
工装置において、フィラメント出力を所定の一定値とす
るように該フィラメント出力を制御する定フィラメント
出力制御系と、加速電極異常時に前記フィラメント出力
制御系を前記定加速電流制御系から定フィラメント出力
制御系に切換える制御系切換手段を設けたことを特徴と
する。 ゛[作用] 通常時には定加速電流制御系によってイオン加速電流が
一定となるようにフィラメント出力が制御されるので従
来のイオンビーム加工装置と同様に高精度なイオンビー
ム加工が可能となり、加速電極異常時には定フィラメン
ト出力制御系によってフィラメント出力が所定の一定値
となるよ′うに制御されるので加速電圧が遮断されても
フィラメント電流が大きくなることがなく、フィラメン
トの寿命低下が防止される。
[実施例]
以下本発明の一実施例を第1図〜第3図を参照して説明
する。なお、前述した従来のイオンビーム加工装置と等
価物には同一参照符号を付して詳細説明を省略する。
する。なお、前述した従来のイオンビーム加工装置と等
価物には同一参照符号を付して詳細説明を省略する。
比較器13は電流検出器14でフィラメント電流を検出
して得たフィラメント電流検出信号If4を設定値If
rと比較して前記フィラメント電流が一定値となるよう
に前記フィラメント電源3を制御する制御信号を出力す
る。前記第1の比較器10及び第2の比較器13とフィ
ラメント電源3の間には切換制御器15によって制御さ
れる切換リレー16が接続される。切換制御器15は前
記電流検出器9から出力されるイオン加速電流検出信号
Ibdに応じて切換リレー16のコイル16aの励磁電
流を制御し、イオン加速電流が零のときは可動接点16
bを固定接点16cに接続したオフ状態として第2の比
較器13から出力される制御信号をフィラメント電源3
に供給し、イオン加速電流が零以外のときは可動接点1
6bを固定接点16dに接続したオン状態として第1の
比較器lOから出力される制御信号をフィラメント電源
3に供給する。
して得たフィラメント電流検出信号If4を設定値If
rと比較して前記フィラメント電流が一定値となるよう
に前記フィラメント電源3を制御する制御信号を出力す
る。前記第1の比較器10及び第2の比較器13とフィ
ラメント電源3の間には切換制御器15によって制御さ
れる切換リレー16が接続される。切換制御器15は前
記電流検出器9から出力されるイオン加速電流検出信号
Ibdに応じて切換リレー16のコイル16aの励磁電
流を制御し、イオン加速電流が零のときは可動接点16
bを固定接点16cに接続したオフ状態として第2の比
較器13から出力される制御信号をフィラメント電源3
に供給し、イオン加速電流が零以外のときは可動接点1
6bを固定接点16dに接続したオン状態として第1の
比較器lOから出力される制御信号をフィラメント電源
3に供給する。
以上の構成において、第2図に示すように、タイミング
T工において該イオンビーム加工装置を始動するために
フィラメント電源3がオンされるとフィラメント電流が
立上がる。このときアーク電源4、加速電源5及び電子
抑制電源12はオフしておりイオン加速電流が零である
ので切換制御器15は切換リレー16をオフして可動接
点16bを固定接点16cに接続している。従って、フ
ィラメント電源3はフィラメント電流検出信号Ifdが
設定値工2..と等しくなるように定フィラメント電流
制御される。その後T2において加速電源5と電子抑制
電源12がオンされ、更にT3においてアーク電源4が
オンされるとイオンが加速されてイオンビーム7が発生
する。これによりイオン加速電極6にイオン加速電流が
流れるので、電流検出器9からイオン加速電流検出信号
Ibaが発生する。切換制御器15は制御移行遅れ時間
T。後のT4において切換リレー16をオンにして可動
接点16bを固定接点16dに接続し第1の比較器10
から出力される制御信号をフィラメントな源3に供給す
る。従って、フィラメント電源3はイオン加速電流検出
信号■、が設定値Ibrと等しくなるように定加速電流
制御される。
T工において該イオンビーム加工装置を始動するために
フィラメント電源3がオンされるとフィラメント電流が
立上がる。このときアーク電源4、加速電源5及び電子
抑制電源12はオフしておりイオン加速電流が零である
ので切換制御器15は切換リレー16をオフして可動接
点16bを固定接点16cに接続している。従って、フ
ィラメント電源3はフィラメント電流検出信号Ifdが
設定値工2..と等しくなるように定フィラメント電流
制御される。その後T2において加速電源5と電子抑制
電源12がオンされ、更にT3においてアーク電源4が
オンされるとイオンが加速されてイオンビーム7が発生
する。これによりイオン加速電極6にイオン加速電流が
流れるので、電流検出器9からイオン加速電流検出信号
Ibaが発生する。切換制御器15は制御移行遅れ時間
T。後のT4において切換リレー16をオンにして可動
接点16bを固定接点16dに接続し第1の比較器10
から出力される制御信号をフィラメントな源3に供給す
る。従って、フィラメント電源3はイオン加速電流検出
信号■、が設定値Ibrと等しくなるように定加速電流
制御される。
イオン加速電流はイオンビーム7の量に比例するので、
この定加速電流制御状態では真空容器1内の圧力が変動
してもイオンビーム7の量は変動せず、従って、被加工
物8を高精度に加工することができる。
この定加速電流制御状態では真空容器1内の圧力が変動
してもイオンビーム7の量は変動せず、従って、被加工
物8を高精度に加工することができる。
ところでT、において、何らかの原因でイオン加速電極
6に異常放電が発生すると、加速電源5は該イオン加速
電極6への加速電圧の供給を遮断する。このとき、同時
に、アーク電源4と電子抑制層rA12も電圧供給を遮
断する。これによりイオン加速電流がなくなって電流検
出器9から出力されるイオン加速電流検出信号1haが
零になるが、切換制御器15はイオン加速電流検出信号
Ibdが零になると切換リレー16をオフにして可動接
点16bを固定接点16’cに接続して定フイラメンi
電流制御に移るので、フィラメントfiHI’X3から
フィラメント2に大きな電流が供給されることがない。
6に異常放電が発生すると、加速電源5は該イオン加速
電極6への加速電圧の供給を遮断する。このとき、同時
に、アーク電源4と電子抑制層rA12も電圧供給を遮
断する。これによりイオン加速電流がなくなって電流検
出器9から出力されるイオン加速電流検出信号1haが
零になるが、切換制御器15はイオン加速電流検出信号
Ibdが零になると切換リレー16をオフにして可動接
点16bを固定接点16’cに接続して定フイラメンi
電流制御に移るので、フィラメントfiHI’X3から
フィラメント2に大きな電流が供給されることがない。
T6において異常放電保護動作が終了すれば、再び、加
速電源5と電子抑制電源12がオンされ、更にT7にお
いてアーク電源4がオンされ、更に制御移行遅れ時間T
。後のTIlにおいて切換リレー16が切換えられて定
加速電流制御に移る。
速電源5と電子抑制電源12がオンされ、更にT7にお
いてアーク電源4がオンされ、更に制御移行遅れ時間T
。後のTIlにおいて切換リレー16が切換えられて定
加速電流制御に移る。
なお、制御移行遅れ時間T0はアーク電源4をオンした
直後のプラズマ発生の不安定時間内における制御の安定
性を確保する時間である。
直後のプラズマ発生の不安定時間内における制御の安定
性を確保する時間である。
定フィラメント電流制御系の設定値Ifrは、フィラメ
ント保護のためには、アーク電源4、加速電源5及び電
子抑制電源12をオンしたときに発生するイオンビーム
7によりイオン加速電極6に流れるイオン加速電流に応
じたイオン加速電藻検出信号Toaを切換制御器15が
感知できる最小値とするのがよいが、定フィラメント電
流制御から定加速電流制御へ移行するときの安定性のた
めには通常の定加速電流制御時のフィラメント電流に近
い値になるようにするのがよい。
ント保護のためには、アーク電源4、加速電源5及び電
子抑制電源12をオンしたときに発生するイオンビーム
7によりイオン加速電極6に流れるイオン加速電流に応
じたイオン加速電藻検出信号Toaを切換制御器15が
感知できる最小値とするのがよいが、定フィラメント電
流制御から定加速電流制御へ移行するときの安定性のた
めには通常の定加速電流制御時のフィラメント電流に近
い値になるようにするのがよい。
以上に述べた実施例は、フィラメント電源3、加速電源
5と電子抑制電源12、アーク電源4の順に電源をオン
するものであるが、フィラメント電源3とアーク電源4
を同時にオンする方法等のように電源オン順序を変えて
もよく、異常放電保護時の電源オフに関しても変形する
ことができる。
5と電子抑制電源12、アーク電源4の順に電源をオン
するものであるが、フィラメント電源3とアーク電源4
を同時にオンする方法等のように電源オン順序を変えて
もよく、異常放電保護時の電源オフに関しても変形する
ことができる。
また、フィラメント2は抵抗体でありフィラメント電流
はフィラメント2の端子電圧に比例するので、フィラメ
ント出力制御は、電圧検出による定フィラメント電圧制
御系とすることもできる。
はフィラメント2の端子電圧に比例するので、フィラメ
ント出力制御は、電圧検出による定フィラメント電圧制
御系とすることもできる。
また、イオン加速電極6の異常放電は加速電Et5の出
力電圧を監視することによっても検出できるので、切換
制御器15は加速電源5の出力電圧に応動するように変
形することもできる。この場合には、定フィラメント電
流制御系の設定値Lrを零にすることもできる。
力電圧を監視することによっても検出できるので、切換
制御器15は加速電源5の出力電圧に応動するように変
形することもできる。この場合には、定フィラメント電
流制御系の設定値Lrを零にすることもできる。
更にまた、フィラメント電源として第3図に示すような
定電流電源18を用いる場合には比較器18aと電流検
出器18bが内蔵されているので、これを前述した第2
の比較器13と電流検出器14として利用することがで
き、これに第1の比較器10、切換制御器15及び切換
リレー16を追加すれば2つの制御系を構成できる。
定電流電源18を用いる場合には比較器18aと電流検
出器18bが内蔵されているので、これを前述した第2
の比較器13と電流検出器14として利用することがで
き、これに第1の比較器10、切換制御器15及び切換
リレー16を追加すれば2つの制御系を構成できる。
〔発明の効果コ
以上のように本発明は、イオンを加速する加速電極に異
常が発生して加速電圧を遮断するときにはイオン源のフ
ィラメントを定フィラメント出力制御するようにしたの
で、フィラメント電流を抑制してフィラメントの寿命の
低下を防止することができる。
常が発生して加速電圧を遮断するときにはイオン源のフ
ィラメントを定フィラメント出力制御するようにしたの
で、フィラメント電流を抑制してフィラメントの寿命の
低下を防止することができる。
第1図は本発明になるイオンビーム加工装置のブロック
図、第2図は動作タイミングチャート。 第3図は定電流電源のブロック図、第4図は従来のイオ
ンビーム加工装置のブロック図である・1・・・・・・
真空容器、2・・・・・・フィラメント、3・・・・・
・フィラメント電源、5・・・・・・加速電源、6・・
・・・・イオン加速電極、7・・・・・・イオンビーム
、8・・・・・・被加工物、9,14・・・・・・電流
検出器、10,13・・・・・・比較器、15・・・・
・・切換制御器、16・・・・・・切換リレー。 第1図 td 第2図 第3図 第 4図
図、第2図は動作タイミングチャート。 第3図は定電流電源のブロック図、第4図は従来のイオ
ンビーム加工装置のブロック図である・1・・・・・・
真空容器、2・・・・・・フィラメント、3・・・・・
・フィラメント電源、5・・・・・・加速電源、6・・
・・・・イオン加速電極、7・・・・・・イオンビーム
、8・・・・・・被加工物、9,14・・・・・・電流
検出器、10,13・・・・・・比較器、15・・・・
・・切換制御器、16・・・・・・切換リレー。 第1図 td 第2図 第3図 第 4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、フィラメントを備えたイオン源と、前記フィラメン
トに電力を供給するフィラメント電源と、前記イオン源
で発生したイオンを加速して被加工物に照射する加速電
極と、該加速電極に一定の加速電圧を供給する加速電源
と、加速電極に流れるイオン加速電流を検出する手段と
、イオン加速電流検出信号に基づいてイオン加速電流が
所定の一定値となるように前記フィラメント出力を制御
する定加速電流制御系とを備えたイオンビーム加工装置
において、フィラメント出力を所定の一定値とするよう
に該フィラメント出力を制御する定フィラメント出力制
御系と、加速電極異常時に前記定フィラメント出力制御
系を前記定加速電流制御系から定フィラメント出力制御
系に切換える制御系切換手段を設けたことを特徴とする
イオンビーム加工装置。 2、特許請求の範囲第1項において、前記加速電源は前
記加速電極異常時に該加速電極に供給する加速電圧を遮
断することを特徴とするイオンビーム加工装置。 3、特許請求の範囲第1項において、前記定フィラメン
ト出力制御系はフィラメントに供給する電力を該フィラ
メントの加熱状態維持に必要な値に制御することを特徴
とするイオンビーム加工装置。 4、フィラメントを備えたイオン源と、前記フィラメン
トに電力を供給するフィラメント電源と、前記イオン源
で発生したイオンを加速して被加工物に照射する加速電
極と、該加速電極に一定の加速電圧を供給すると共に加
速電極異常時には該加速電圧の供給を停止する加速電源
と、前記加速電極に流れるイオン加速電流を検出する手
段と、イオン加速電流検出信号を第1の設定値と比較し
、イオン加速電流が所定値となるように前記フィラメン
ト電源の出力を制御する制御信号を出力する第1の比較
器とを備えたイオンビーム加工装置において、前記フィ
ラメントに供給する電力を所定の値に固定するように前
記フィラメント電源に制御信号を与えるフイラメント出
力固定制御手段と、加速電極異常時には前記フィラメン
ト電源に入力する制御信号を前記第1の比較器の出力か
らフィラメント出力固定制御手段の出力に切換える切換
手段とを設けたことを特徴とするイオンビーム加工装置
。 5、特許請求の範囲第4項において、前記フイラメント
出力固定制御手段は、前記フィラメントに供給されるフ
ィラメント電流を検出する手段と、フィラメント電流検
出信号を第2の設定値と比較し、フィラメント電流が所
定値となるように前記フィラメント電源の出力を制御す
る制御信号を出力する第2の比較器を有することを特徴
とするイオンビーム加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63123993A JP2656542B2 (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | イオンビーム加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63123993A JP2656542B2 (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | イオンビーム加工装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01294335A true JPH01294335A (ja) | 1989-11-28 |
| JP2656542B2 JP2656542B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=14874385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63123993A Expired - Fee Related JP2656542B2 (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | イオンビーム加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2656542B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05325866A (ja) * | 1992-05-27 | 1993-12-10 | Nissin High Voltage Co Ltd | 電子線照射装置用制御方式 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56116000A (en) * | 1980-02-16 | 1981-09-11 | Osaka Transformer Co Ltd | Charged particle beam machining equipmint |
| JPS62108440A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Hitachi Ltd | 微細加工装置 |
-
1988
- 1988-05-23 JP JP63123993A patent/JP2656542B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56116000A (en) * | 1980-02-16 | 1981-09-11 | Osaka Transformer Co Ltd | Charged particle beam machining equipmint |
| JPS62108440A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Hitachi Ltd | 微細加工装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05325866A (ja) * | 1992-05-27 | 1993-12-10 | Nissin High Voltage Co Ltd | 電子線照射装置用制御方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2656542B2 (ja) | 1997-09-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9170295B2 (en) | Method and apparatus for detecting arc in plasma chamber | |
| EP0102693B1 (en) | Wire-cut electric discharge machine | |
| JP2656542B2 (ja) | イオンビーム加工装置 | |
| JPS6211968B2 (ja) | ||
| EP0667203A1 (en) | System for controlling tension of wire | |
| JPH0982266A (ja) | イオン注入制御装置 | |
| JP2506766Y2 (ja) | イオン源の制御装置 | |
| JPH0635365Y2 (ja) | 電子線照射装置 | |
| US7125730B2 (en) | Power supply, a semiconductor making apparatus and a semiconductor wafer fabricating method using the same | |
| JPS61231172A (ja) | スパツタ方法及び装置 | |
| JPS6110960B2 (ja) | ||
| JPH09271945A (ja) | 消耗電極アーク溶接のアーク長復帰制御方法及び溶接装置 | |
| KR890005194B1 (ko) | 하전비임장치의 제어방식 | |
| JPH0156869B2 (ja) | ||
| JPH09134698A (ja) | イオンビーム加工装置 | |
| JP2932123B2 (ja) | アーク溶接用制御装置 | |
| JPH01255132A (ja) | マイクロ波プラズマ源 | |
| JPS6112990B2 (ja) | ||
| JPS58185768A (ja) | 蒸発速度制御装置 | |
| JPH0941165A (ja) | イオンビームミリング装置 | |
| JP2022025842A (ja) | 開回路電圧検出装置、バッテリシステム、及び開回路電圧検出方法 | |
| JPH09231930A (ja) | 電子銃におけるフィラメントの動作温度決定方法及び電子線装置 | |
| JPS6314863A (ja) | 真空装置 | |
| JPH0379222A (ja) | 放電加工電源 | |
| JP2000036629A (ja) | レーザー発振器における異常放電検出方法及びレーザー発振器並びにレーザー発振器における異常放電検出手段故障判別方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |