JPH01295158A - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
- Publication number
- JPH01295158A JPH01295158A JP63124878A JP12487888A JPH01295158A JP H01295158 A JPH01295158 A JP H01295158A JP 63124878 A JP63124878 A JP 63124878A JP 12487888 A JP12487888 A JP 12487888A JP H01295158 A JPH01295158 A JP H01295158A
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- JP
- Japan
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- liquid
- solution
- sample
- calibration
- electrolyte
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、血清等のサンプル液及び校正液と交互に接す
るイオン選択性電極及び比較電極から成る電解質測定ユ
ニットを備えた自動化学分析装置に関する。
るイオン選択性電極及び比較電極から成る電解質測定ユ
ニットを備えた自動化学分析装置に関する。
（従来の技術）
例えば人体から採取された血清、尿等の電解質液をサン
プル（試料）として用い、この電解質液のイオン濃度（
イオン活量）を電解質測定ユニットを用いて測定するよ
うにした自動化学分析装置が知られている。第４図はこ
のような分析装置の従来の構成を示す側面図で、イオン
濃度を測定すべきサンプル液１はサンプル容器２に収納
された状態でベルトコンベア等によって駆動される搬送
板３によって一定のサイクルで所望方向に間欠移動され
るように配置されている。またサンプル容器２に隣接し
て校正液容器４が配置され、これには後述のような電解
質測定ユニットのイオン選択性電極の特性を校正するた
めの校正液５が収納された状態でサンプル容器２と同様
に一定のサイクルで間欠移動されるように構成されてい
る。希釈液貯蔵庫６はサンプル液を所望の倍率に希釈す
るための希釈液を保持しており、必要に応じてポンプ駆
動により流路８を介して前記ザンプル容器２に供給可能
に構成されている。また校正液貯蔵庫９は校正液を保持
しており、希釈液同様に必要に応じて流路１１を介して
前記校正液容器４に供給可能に構成されている。搬送経
路の途中位置の搬送板３の上方には電解質測定ユニット
１２が設けられ、所定のタイミングで容器２，４内に交
互に下降してサンプル液又は校正液のイオン濃度が測定
可能に構成されている。
プル（試料）として用い、この電解質液のイオン濃度（
イオン活量）を電解質測定ユニットを用いて測定するよ
うにした自動化学分析装置が知られている。第４図はこ
のような分析装置の従来の構成を示す側面図で、イオン
濃度を測定すべきサンプル液１はサンプル容器２に収納
された状態でベルトコンベア等によって駆動される搬送
板３によって一定のサイクルで所望方向に間欠移動され
るように配置されている。またサンプル容器２に隣接し
て校正液容器４が配置され、これには後述のような電解
質測定ユニットのイオン選択性電極の特性を校正するた
めの校正液５が収納された状態でサンプル容器２と同様
に一定のサイクルで間欠移動されるように構成されてい
る。希釈液貯蔵庫６はサンプル液を所望の倍率に希釈す
るための希釈液を保持しており、必要に応じてポンプ駆
動により流路８を介して前記ザンプル容器２に供給可能
に構成されている。また校正液貯蔵庫９は校正液を保持
しており、希釈液同様に必要に応じて流路１１を介して
前記校正液容器４に供給可能に構成されている。搬送経
路の途中位置の搬送板３の上方には電解質測定ユニット
１２が設けられ、所定のタイミングで容器２，４内に交
互に下降してサンプル液又は校正液のイオン濃度が測定
可能に構成されている。
第５図は電解質測定ユニット１２の構成を示す断面図で
、サンプル液及び校正液等の電解質液の供給路１３を設
けた絶縁基体１４の周囲部には所望のイオン選択性電極
１５及び比較電極１６が配置されている。イオン選択性
電極１５の電解質液との接触面には所望イオンに感応す
るイオン感応層１５Ａが設けられ、このイオン感応層１
５Ａに接するように内部液１５Ｂが満たされると共に内
部液１５Ｂに接するように内部電極１５Ｇが設けられて
いる。一方、比較電極１６の電解質液との接触面には液
絡部材１６Ａが設けられ、この液絡部材１６Ａに接する
ように内部液１６Ｂか満たされると共に内部液１６Ｂに
接するように内部電極１６Ｃが設けられている。内部液
１５Ｂ、１６Ｂは測定する電解質液の電位を安定に保つ
ために用いられている。
、サンプル液及び校正液等の電解質液の供給路１３を設
けた絶縁基体１４の周囲部には所望のイオン選択性電極
１５及び比較電極１６が配置されている。イオン選択性
電極１５の電解質液との接触面には所望イオンに感応す
るイオン感応層１５Ａが設けられ、このイオン感応層１
５Ａに接するように内部液１５Ｂが満たされると共に内
部液１５Ｂに接するように内部電極１５Ｇが設けられて
いる。一方、比較電極１６の電解質液との接触面には液
絡部材１６Ａが設けられ、この液絡部材１６Ａに接する
ように内部液１６Ｂか満たされると共に内部液１６Ｂに
接するように内部電極１６Ｃが設けられている。内部液
１５Ｂ、１６Ｂは測定する電解質液の電位を安定に保つ
ために用いられている。
このような電解質測定ユニットを用いて、先ず例えば希
釈液によって１０倍に希釈されたサンプル液１を吸引し
てその供給路１３に供給すると、イオン選択性電極１５
のイオン感応層１５Ａがサンプル液１内の特定のイオン
例えばナトリウムイオン（Ｎａ十）、カリウムイオン（
Ｋ十）、塩素イオン（鱈「）等のいずれかに感応するの
で、電極１５．１６間に所望のイオンに応じた独自の起
電力が生ずるようになり、この応答起電力を検出するこ
とにより所望のイオン濃度を測定することができる。１
つのサンプル液の測定が終了すると、続いてサンプル液
と同様に１０倍に希釈された測定イオンに対して既知濃
度の校正液が供給され、イオン選択性電極１５の電位の
校正が行われる。このようにサンプル液とほぼ同濃度の
校正液を用いてサンプル液の測定ごとに電極１５の校正
を行うことにより、連続してサンプル液の測定を行う場
合の測定誤差を防止することができる。
釈液によって１０倍に希釈されたサンプル液１を吸引し
てその供給路１３に供給すると、イオン選択性電極１５
のイオン感応層１５Ａがサンプル液１内の特定のイオン
例えばナトリウムイオン（Ｎａ十）、カリウムイオン（
Ｋ十）、塩素イオン（鱈「）等のいずれかに感応するの
で、電極１５．１６間に所望のイオンに応じた独自の起
電力が生ずるようになり、この応答起電力を検出するこ
とにより所望のイオン濃度を測定することができる。１
つのサンプル液の測定が終了すると、続いてサンプル液
と同様に１０倍に希釈された測定イオンに対して既知濃
度の校正液が供給され、イオン選択性電極１５の電位の
校正が行われる。このようにサンプル液とほぼ同濃度の
校正液を用いてサンプル液の測定ごとに電極１５の校正
を行うことにより、連続してサンプル液の測定を行う場
合の測定誤差を防止することができる。
このようにして測定されるサンプル液及び校正液が満た
されている各容器２，４は合液が一定温度に保たれて安
定な測定が行われるように、恒温槽１７内の恒温水１８
に浸漬された状態で搬送されるように構成されている。
されている各容器２，４は合液が一定温度に保たれて安
定な測定が行われるように、恒温槽１７内の恒温水１８
に浸漬された状態で搬送されるように構成されている。
この恒温水１８は図示しないポンプによって循環される
ことにより常に一定温度に恒温されるように図られてい
る。
ことにより常に一定温度に恒温されるように図られてい
る。
（発明が解決しようとする課題）
ところで従来の分析装置では、測定すべき電解質液を一
定温度に保つための恒温槽を用意しなければならず恒温
槽を設置するスペースが必要になると共にコストアップ
が避けられないという問題がある。
定温度に保つための恒温槽を用意しなければならず恒温
槽を設置するスペースが必要になると共にコストアップ
が避けられないという問題がある。
本発明は以上のような問題に対処してなされたもので、
恒温槽を不要となして安定な電解質液の測定を可能とし
た自動化学分析装置を提供することを目的とするもので
ある。
恒温槽を不要となして安定な電解質液の測定を可能とし
た自動化学分析装置を提供することを目的とするもので
ある。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明は、サンプルを希釈す
るための希釈液及び校正液を同一温度条件の下に支持す
る手段と、測定すべき希釈されたサンプル液及び校正液
を同一温度条件の下に保持した状態で搬送する手段と、
イオン選択性電極及び比較電極の内部液が校正液と同一
組成からなる電解質測定ユニットとを備えるようにした
ものである。
るための希釈液及び校正液を同一温度条件の下に支持す
る手段と、測定すべき希釈されたサンプル液及び校正液
を同一温度条件の下に保持した状態で搬送する手段と、
イオン選択性電極及び比較電極の内部液が校正液と同一
組成からなる電解質測定ユニットとを備えるようにした
ものである。
（作 用）
希釈液及び校正液を同一温度条件の下に保持し、この希
釈液で希釈されたサンプル液及び校正液を同一温度条件
の下に保持した状態で一定のサイクルで搬送しながら、
電解質測定ユニットを用いて測定を行う。この場合電解
質測定ユニットのイオン選択性電極及び比較電極の内部
液は校正液とほぼ同一組成から成るものが用いられる。
釈液で希釈されたサンプル液及び校正液を同一温度条件
の下に保持した状態で一定のサイクルで搬送しながら、
電解質測定ユニットを用いて測定を行う。この場合電解
質測定ユニットのイオン選択性電極及び比較電極の内部
液は校正液とほぼ同一組成から成るものが用いられる。
このような構成によれば、希釈されたサンプル液及び校
正液は常に同一温度条件下で測定が行われ、また温度の
影響を受けにくい構成の電解質測定ユニットによって測
定が行われるので、恒温槽を用いることなく安定な測定
を行うことができる。
正液は常に同一温度条件下で測定が行われ、また温度の
影響を受けにくい構成の電解質測定ユニットによって測
定が行われるので、恒温槽を用いることなく安定な測定
を行うことができる。
（実施例）
以下図面を参照して本発明実施例を説明する。
第１図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図で、サンプラ部１９は例えば円形の回転テーブル２０
から成り、所望のサンプルが収納されたサンプル容器２
１が複数個同心円状に配列されている。この回転テーブ
ル２０は一定のサイクルで図示しない駆動源によって間
欠移動される。
図で、サンプラ部１９は例えば円形の回転テーブル２０
から成り、所望のサンプルが収納されたサンプル容器２
１が複数個同心円状に配列されている。この回転テーブ
ル２０は一定のサイクルで図示しない駆動源によって間
欠移動される。
回転テーブル２０の周囲にはザンプル分注アーム２２が
設けられ、このアーム２２によってサンプル容器２１の
サンプルが吸引されて搬送系２３のサンプル容器２に分
注される。
設けられ、このアーム２２によってサンプル容器２１の
サンプルが吸引されて搬送系２３のサンプル容器２に分
注される。
搬送系２３はベルトコンベア等によって駆動される複数
の搬送板３を有しており、これら搬送板３は各々サンプ
ル容器２及び校正液容器４が取付けられた隣接した２枚
がペアとなって一定のサイクルで間欠移動されるように
構成されている。共通の貯蔵庫２４には希釈液貯蔵庫６
及び校正液貯蔵庫９が収納されて、同一温度条件に保た
れるように構成されている。希釈液貯蔵庫６からは流路
８を介してサンプル容器２に希釈液がノズル２５によっ
て供給可能に構成されると共に、校正液貯蔵庫９からは
流路１１を介して校正液容器４に校正液がノズル２６に
よって供給可能に構成されている。通常サンプル液は１
０倍程度に希釈されるように希釈液がサンプル容器２に
供給される。
の搬送板３を有しており、これら搬送板３は各々サンプ
ル容器２及び校正液容器４が取付けられた隣接した２枚
がペアとなって一定のサイクルで間欠移動されるように
構成されている。共通の貯蔵庫２４には希釈液貯蔵庫６
及び校正液貯蔵庫９が収納されて、同一温度条件に保た
れるように構成されている。希釈液貯蔵庫６からは流路
８を介してサンプル容器２に希釈液がノズル２５によっ
て供給可能に構成されると共に、校正液貯蔵庫９からは
流路１１を介して校正液容器４に校正液がノズル２６に
よって供給可能に構成されている。通常サンプル液は１
０倍程度に希釈されるように希釈液がサンプル容器２に
供給される。
搬送経路の途中位置の搬送板３の上方には電解質測定ユ
ニット１２が設けられ、このユニット１２は所定のタイ
ミングでサンプル容器２及び校正液容器４内に交互に下
降してサンプル液及び校正液を吸引し、これらのイオン
濃度を測定するように構成されている。電解質測定ユニ
ット１２で測定されたデータは演算処理部２７に出力さ
れここでデータの所望の演算処理が行われる。
ニット１２が設けられ、このユニット１２は所定のタイ
ミングでサンプル容器２及び校正液容器４内に交互に下
降してサンプル液及び校正液を吸引し、これらのイオン
濃度を測定するように構成されている。電解質測定ユニ
ット１２で測定されたデータは演算処理部２７に出力さ
れここでデータの所望の演算処理が行われる。
第２図は第１図の電解質測定ユニット１２の構成を示す
断面図で、サンプル液及び校正液等の電解質液の供給路
１３を設けた絶縁基体１４の周囲部には複数のイオン選
択性電極１５（１５１゜１５２．１５３＞及び比較電極
１６が配置されている。
断面図で、サンプル液及び校正液等の電解質液の供給路
１３を設けた絶縁基体１４の周囲部には複数のイオン選
択性電極１５（１５１゜１５２．１５３＞及び比較電極
１６が配置されている。
例えばイオン選択性電極１５１はナトリウムイオン（Ｎ
ａ＋）に感応する感応層１５１Ａを有し、イオン選択性
電極１５２はカリウムイオン（Ｋ＋）に感応する感応層
１５２Ａを有し、イオン選択性電極１５３は塩素イオン
（ＣＪ２−）に感応する感応層１５３Ａを有している。
ａ＋）に感応する感応層１５１Ａを有し、イオン選択性
電極１５２はカリウムイオン（Ｋ＋）に感応する感応層
１５２Ａを有し、イオン選択性電極１５３は塩素イオン
（ＣＪ２−）に感応する感応層１５３Ａを有している。
また各電極１５１，１５２゜１５３は各々内部液１５１
Ｂ、 １５２８．１５３Ｂを有すると共に各々内部電極
１５１Ｃ，１５２Ｃ，１５３Ｃを有している。一方、比
較電極１６は液絡部材１６Ａ、内部液１６Ｂ、内部電極
１６Ｇを有している。
Ｂ、 １５２８．１５３Ｂを有すると共に各々内部電極
１５１Ｃ，１５２Ｃ，１５３Ｃを有している。一方、比
較電極１６は液絡部材１６Ａ、内部液１６Ｂ、内部電極
１６Ｇを有している。
ここで各イオン選択性電極１５１，１５２゜１５３の内
部液１５１Ｂ、 ’１５２Ｂ、 １５３Ｂ及び比較電極
１６の内部液１６Ｂは、共に校正液とほぼ同一組成のも
のが用いられる。この校正液としては例えば次のような
各成分を含んだ組成のものが■ Ｎａ＋ １４ｍ
ｍｏｌ＃！ ■ Ｋ” ０．４ｍ ｍｏｌ＃！■ Ｃ，
ｅ−１０ｍ ｍｏｌ＃！ このように各内部液として校正液と同一組成のもを用い
ることにより、サンプル液及び校正液等の電解質液のイ
オン濃度を測定する場合温度の影響を受けにくい状態で
測定を行うことができる。
部液１５１Ｂ、 ’１５２Ｂ、 １５３Ｂ及び比較電極
１６の内部液１６Ｂは、共に校正液とほぼ同一組成のも
のが用いられる。この校正液としては例えば次のような
各成分を含んだ組成のものが■ Ｎａ＋ １４ｍ
ｍｏｌ＃！ ■ Ｋ” ０．４ｍ ｍｏｌ＃！■ Ｃ，
ｅ−１０ｍ ｍｏｌ＃！ このように各内部液として校正液と同一組成のもを用い
ることにより、サンプル液及び校正液等の電解質液のイ
オン濃度を測定する場合温度の影響を受けにくい状態で
測定を行うことができる。
第３図はこのような様子を説明する特性図で、縦軸は応
答起電力Ｖ、横軸は電解質液の濃度Ｃを対数で示してい
る。電解質濃度Ｃが増加した場合液温が異なる電解質液
ａ、ｂの起電力Ｖは徐々にずれてくるが、前記のような
条件に電解質測定ユニットを設定することにより電解質
液ａ、ｂ間の起電力ＶのずれをＯにいわゆる等温交点Ｐ
にもってくることができる。このことはこの等温交点Ｐ
を含むような範囲Ｗに各内部液の濃度を選ぶことにより
温度の影響を受けにくい状態で測定を行うことができる
ことを示している。測定範囲Ｗは予め実験によって有効
な範囲が決定される。
答起電力Ｖ、横軸は電解質液の濃度Ｃを対数で示してい
る。電解質濃度Ｃが増加した場合液温が異なる電解質液
ａ、ｂの起電力Ｖは徐々にずれてくるが、前記のような
条件に電解質測定ユニットを設定することにより電解質
液ａ、ｂ間の起電力ＶのずれをＯにいわゆる等温交点Ｐ
にもってくることができる。このことはこの等温交点Ｐ
を含むような範囲Ｗに各内部液の濃度を選ぶことにより
温度の影響を受けにくい状態で測定を行うことができる
ことを示している。測定範囲Ｗは予め実験によって有効
な範囲が決定される。
次に本実施例の作用を説明する。
搬送系２３の搬送板３によって間欠移動されるサンプル
容器２及び校正液容器４はノズル２５゜２６の直下に搬
送されてきた位置で、先ずサンプル容器２に対して希釈
液貯蔵庫６から希釈液が流路８．ノズル２５を介して供
給されることにより予め収納されていたサンプル液は例
えば１０倍程度に希釈される。次に校正液容器４に対し
て校正液貯蔵庫９から校正液が流路１１．ノズル２６を
介して供給される。このようして希釈されたサンプル容
器２及び校正液容器４はさらに先に間欠移動され、電解
質測定ユニット１２の直下に搬送されてきた位置で各サ
ンプル液及び校正液のイオン濃度の測定が行われる。
容器２及び校正液容器４はノズル２５゜２６の直下に搬
送されてきた位置で、先ずサンプル容器２に対して希釈
液貯蔵庫６から希釈液が流路８．ノズル２５を介して供
給されることにより予め収納されていたサンプル液は例
えば１０倍程度に希釈される。次に校正液容器４に対し
て校正液貯蔵庫９から校正液が流路１１．ノズル２６を
介して供給される。このようして希釈されたサンプル容
器２及び校正液容器４はさらに先に間欠移動され、電解
質測定ユニット１２の直下に搬送されてきた位置で各サ
ンプル液及び校正液のイオン濃度の測定が行われる。
例えばユニット１２がサンプル容器２に下降しサンプル
液を吸引した後上昇することによりサンプル液のイオン
濃度を測定する。続いてユニット１２が校正液容器４に
下降し校正液を吸引した後上昇することにより校正液の
イオン濃度を測定し、これによってイオン選択性電極の
校正が行われる。
液を吸引した後上昇することによりサンプル液のイオン
濃度を測定する。続いてユニット１２が校正液容器４に
下降し校正液を吸引した後上昇することにより校正液の
イオン濃度を測定し、これによってイオン選択性電極の
校正が行われる。
電解質測定ユニット１２による測定データは演算処理部
２７に出力されて所望の処理が行われる。
２７に出力されて所望の処理が行われる。
このような本実施例によれば、希釈液及び校正液は共通
の貯蔵庫２４に保持されるので常に同一温度条件下に保
たれており、このような希釈液で希釈されたサンプル液
及び校正液は同一温度条件下に保持されて搬送される。
の貯蔵庫２４に保持されるので常に同一温度条件下に保
たれており、このような希釈液で希釈されたサンプル液
及び校正液は同一温度条件下に保持されて搬送される。
ざらにこのようなサンプル液及び校正液は所定位置でイ
オン選択性電極１５及び比較電極１６の内部液が校正液
とほぼ同一組成から成る電解質測定ユニットによってイ
オン濃度が測定される。このような構成により、希釈さ
れたサンプル液及び校正液は常に同一温度条件下で測定
が行われ、また温度の影響を受けにくい電解質測定ユニ
ットによって測定が行われるので、恒温槽を用いること
になく安定な測定を行うことができる。従って恒温槽を
設置するスペースを節約することができるので装置の小
型化を図ることができ、またコストアップを避けること
ができる。
オン選択性電極１５及び比較電極１６の内部液が校正液
とほぼ同一組成から成る電解質測定ユニットによってイ
オン濃度が測定される。このような構成により、希釈さ
れたサンプル液及び校正液は常に同一温度条件下で測定
が行われ、また温度の影響を受けにくい電解質測定ユニ
ットによって測定が行われるので、恒温槽を用いること
になく安定な測定を行うことができる。従って恒温槽を
設置するスペースを節約することができるので装置の小
型化を図ることができ、またコストアップを避けること
ができる。
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、恒温槽を用いること
なく電解質液の測定を行うようにしたので、装置の小型
化及びコストダウンを図ることができる。
なく電解質液の測定を行うようにしたので、装置の小型
化及びコストダウンを図ることができる。
第１図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図、第２図は本実施例装置の主要部を示す断面図、第３
図は本発明実施例を説明するための特性図、第４図及び
第５図は従来例を示す側面図及び断面図でおる。 ２・・・サンプル液容器、４・・・希釈液容器、１２・
・・電解質測定ユニット、 １５ （１５１、’１５２．１５３ ＞・・・イオン選
択性電極、 １６・・・比較電極、２３・・・搬送系、２７・・・演
算処理部。 代理人 弁理士 三 澤 正 義冑神智−臂）
図、第２図は本実施例装置の主要部を示す断面図、第３
図は本発明実施例を説明するための特性図、第４図及び
第５図は従来例を示す側面図及び断面図でおる。 ２・・・サンプル液容器、４・・・希釈液容器、１２・
・・電解質測定ユニット、 １５ （１５１、’１５２．１５３ ＞・・・イオン選
択性電極、 １６・・・比較電極、２３・・・搬送系、２７・・・演
算処理部。 代理人 弁理士 三 澤 正 義冑神智−臂）
Claims (1)
- 各々内部液を有し希釈されたサンプル液及び校正液とに
接して各液のイオン濃度を測定するイオン選択性電極及
び比較電極から成る電解質測定ユニットを備えた自動化
学分析装置において、サンプルを希釈するための希釈液
及び校正液を同一温度条件の下に保持する手段と、測定
すべき前記希釈されたサンプル液及び校正液を同一温度
条件の下に保持した状態で搬送する手段と、前記各電極
の内部液が前記校正液と同一組成から成る電解質測定ユ
ニットとを備えたことを特徴とする自動化学分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63124878A JPH0664001B2 (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63124878A JPH0664001B2 (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 自動化学分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01295158A true JPH01295158A (ja) | 1989-11-28 |
| JPH0664001B2 JPH0664001B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=14896329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63124878A Expired - Lifetime JPH0664001B2 (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0664001B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7856898B2 (en) * | 2005-12-12 | 2010-12-28 | Morpho Detection, Inc. | Calibration and verification tool and method for calibrating a detection apparatus |
| JP5144829B1 (ja) * | 2012-07-23 | 2013-02-13 | 株式会社堀場製作所 | イオン電極 |
| FR3074911A1 (fr) * | 2017-12-11 | 2019-06-14 | Vitea Engineering S.R.L | Dispositif et procede d'analyse de compositions liquides, notamment d'echantillons de liquides d'origine biologique pour la determination notamment des electrolytes |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS62287147A (ja) * | 1986-06-05 | 1987-12-14 | Toshiba Corp | イオン濃度測定装置 |
| JPS6391550A (ja) * | 1986-10-06 | 1988-04-22 | Toshiba Corp | 電解質濃度測定システム |
-
1988
- 1988-05-24 JP JP63124878A patent/JPH0664001B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0664001B2 (ja) | 1994-08-22 |
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