JPH0129559Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (1) 考案の技術分野 本考案は、例えば磁気デイスク装置のように微
少な塵埃の発生が装置の機能に悪影響を及ぼすも
のにおいて個々の部品ごとに塵埃発生の有無を検
出する塵埃発生試験機に関する。

(2) 従来技術と問題点 磁気デイスク装置のように微少な塵埃の発生が
装置の機能に悪影響を及ぼすものにおいては、装
置内に発生する塵埃の程度を試験する必要があ
る。そこで従来は、第１図に示すように、各種の
構成部品１，１……が実装された装置２の筐体の
適宜箇所に吸引ダクト３を連結し、この吸引ダク
ト３に塵埃計４を結合し、上記装置２内の空気を
稼動状態で吸引して塵埃計４で上記装置２内の塵
埃粒子の数と大きさとを検出していた。ここで、
部品１を形成する部材が鋳物や焼結品等の成型品
であるときは、部材に巣が生じていることがあ
り、このような場合振動や空気の吹き付け等によ
り上記巣の部分等から塵埃が発生することがあつ
た。

しかし上記の場合は、個々の部品１，１……が
実装された状態の装置２全体としての試験であ
り、どの部品１から塵埃が発生しているかは検出
できなかつた。したがつて、塵埃の発生源たる部
品１を適宜推測して無塵対策を施していたが、こ
れでは個々の部品１についての信頼度も不明であ
り結局装置２全体としての信頼性を向上すること
はできなかつた。又はすべての部品１についてで
きるだけ塵埃の発生しない材料とするか、或いは
ニツケルメツキ等の保護対策を施して塵埃の発生
を防止していたが、このような過剰な無塵対策を
施すことは製造コストが高くなるものであつた。

(3) 考案の目的 本考案は上記問題点を解消するためになされた
もので、個々の部品ごとに塵埃発生の有無を検出
することができる部品の塵埃発生試験機を提供す
ることを目的とする。

(4) 考案の構成 そして上記の目的は本考案によれば、被試験物
たる部品又は試験片を内部に収容して密閉可能と
された検査ボツクスと、この検査ボツクスの内部
の被試験物に振動を加える振動体と、上記検査ボ
ツクス内の被試験物に無塵性ガスを吹き付けるガ
ス供給部と、この検査ボツクスの空気を吸引して
上記被試験物から発生した塵埃を検出する塵埃計
とを有してなることを特徴とする部品の塵埃発生
試験機を提供することによつて達成される。

(5) 考案の実施例 以下、本考案の実施例を添付図面に基いて詳細
に説明する。

第２図は本考案による部品の塵埃発生試験機を
示す斜視説明図である。バイブレータ５は、この
試験機の基台となると共に後述の被試験物９に振
動を加えるもので、その上面には振動体６が設け
られている。このバイブレータ５には制御部７が
接続されており、この制御部７を操作することに
より上記振動体６の振動数及びその振動による重
力加速度の大きさを調整する。

上記バイブレータ５の上面には、該部位に設け
られた振動体６を上方から覆うようにして検査ボ
ツクス８が設けられている。この、検査ボツクス
８は、上記振動体６の上面に載置固定された被試
験物９たる部品を内部に収容して密閉状態とする
もので、適宜の大きさの容器状に形成され上記バ
イブレータ５の上面との接合部にはパツキン１０
が介在され、かつ適宜箇所には上記被試験物９を
出し入れする扉が設けられている。

上記検査ボツクス８には、連結ホース１１を介
してガス供給部１２が接続されている。このガス
供給部１２は、上記検査ボツクス８内の被試験物
９に無塵性ガスを吹き付けるもので、例えば無塵
性窒素ガス等を高圧ボンベより圧送し検査ボツク
ス８内に突出したノズル１３から吹き出すもので
ある。なお、第２図中、符号１４は上記無塵性ガ
スを給送、遮断すると共に所定の圧力に調節する
バルブであり、符号１５は圧力計である。

上記検査ボツクス８には、吸込ホース１６を介
して塵埃計１７が接続されている。この塵埃計１
７は、上記振動体６による振動およびガス供給部
１２によるガスの吹き付け等によつて被試験物９
から発生した塵埃を吸引して塵埃粒子の数と大き
さとを検出するものである。上記塵埃計１７に吸
引されたガスの一部は、矢印Ａのように外部へ排
出されるが、他の部分は送込ホース１８を介して
上記検査ボツクス８内へ送り込まれる。このと
き、その接続部に介在されたフイルタ１９により
塵埃がろ過されて無塵ガスとなり、再び検査ボツ
クス８内へ送り込まれる。

次に、このように構成された部品の塵埃発生試
験機の使用について説明する。まず、検査ボツク
ス８の扉を開いて、磁気デイスク装置等の単体部
品を被試験物９としてバイブレータ５の振動体６
の上面に載置してネジ止め等により固定し、上記
扉を閉じて密閉する。次に、バルブ１４を開いて
所定の圧力に調節し、ガス供給部１２から無塵性
ガスを検査ボツクス８内の被試験物９に吹き付け
る。次に、上記バイブレータ５の制御部７を操作
して振動体６の振動数及びその振動による重力加
速度の大きさをセツトし、該振動体６を振動させ
る。この状態で塵埃計１７を起動すると、吸込ホ
ース１６で矢印Ｂのように検査ボツクス８内の空
気を吸引すると共に、送込ホース１８で矢印Ｃの
ように再び上記検査ボツクス８内へ送り込む。な
お、このとき塵埃計１７による空気の吸引は、上
記検査ボツクス８内が少し負圧となる程度に吸引
することが望ましい。そして、上記被試験物９か
ら塵埃が発生すると、その塵埃粒子の数と大きさ
とが上記塵埃計１７により検出される。このよう
にして、個々の部品ごとに検査ボツクス８内に収
容して試験することにより、装置を構成する部品
のうちどの部品から塵埃が発生するかを知ること
ができる。

なお、上記被試験物９は、装置の構成部品が大
きいものであるときは該部品の部材を部分的に切
り取つた試験片であつてもよい。

(6) 考案の効果 本考案は以上のように構成されたので、装置の
個々の部品ごとに塵埃発生の有無を検出すること
ができる。したがつて、塵埃の発生源たる部品を
正しく把握してこれに対して無塵対策を施すこと
ができ、個々の部品についての信頼度を向上して
装置全体としての信頼性を向上することができ
る。また、上記個々の部品についての塵埃発生の
有無を正しく把握することにより、各部品ごとに
適当な材料又は加工法を決めることができ、すべ
ての部品について過剰な無塵対策を施すことを要
さず製造コストを低廉化することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の塵埃発生試験の状態を示す概略
説明図、第２図は本考案による部品の塵埃発生試
験機を示す斜視説明図である。 ５……バイブレータ、６……振動体、７……制
御部、８……検査ボツクス、９……被試験物、１
１……連結ホース、１２……ガス供給部、１３…
…ノズル、１６……吸込ホース、１７……塵埃
計、１８……送込ホース、１９……フイルタ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 被試験物たる部品又は試験片を内部に収容して
   密閉可能とされた検査ボツクスと、この検査ボツ
   クスの内部の被試験物に振動を加える振動体と、
   上記検査ボツクス内の被試験物に無塵性ガスを吹
   き付けるガス供給部と、この検査ボツクスの空気
   を吸引して上記被試験物から発生した塵埃を検出
   する塵埃計とを有してなることを特徴とする部品
   の塵埃発生試験機。