JPH01297733A - 誤り検出回路の診断方式 - Google Patents

誤り検出回路の診断方式

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JPH01297733A
JPH01297733A JP63129011A JP12901188A JPH01297733A JP H01297733 A JPH01297733 A JP H01297733A JP 63129011 A JP63129011 A JP 63129011A JP 12901188 A JP12901188 A JP 12901188A JP H01297733 A JPH01297733 A JP H01297733A
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JP
Japan
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control information
error detection
detection circuit
error
information
Prior art date
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Pending
Application number
JP63129011A
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English (en)
Inventor
Isao Fujioka
藤岡 勲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は電子計算機の周辺装置に含まれるデータ制御
装置における制御情報の誤りを検出する誤り検出回路が
正常に動作したかどうかを診断する診断方式に関するも
のである。
〔従来の技術〕
第3図は従来の誤り検出回路の診断方式を採用したデー
タ制御装置の構成を示すブロック図である。図において
、■は制御プログラム等の制御情報を記憶する制御情報
記憶手段としての制御情報記憶回路、2は制御情報記憶
回路Iから読出された制御情報を一時的に保持する保持
手段としての制御情報レジスタ、3は制御情報レジスタ
2に保持された制御情報のパリティ検査を行うことによ
り制御情報の誤り検出を行う誤り検出回路、4は排他的
論理和回路(以下EX−ORと称す)、5は誤り検出回
路3が正常に動作したか否かを診断する診断手段として
の診断フリップフロップ、6は誤り検出回路3を診断す
るための診断モードに設定する診断モードフリップフロ
ップである。
次にこの従来の診断方式の動作を第4図のフロ−チャー
トを参照して説明する。制御情報記憶回路1から読出さ
れた制御情報は、制御情報レジスタ2に一時的に保持さ
れ、プログラム制御に使用されるとともに、誤り検出回
路3にも供給され、パリティ検査が実施される。制御情
報レジスタ2に保持された制御情報のうち、パリティビ
ットはEX−OR4を経由して誤り検出回路3へ供給さ
れているが、診断モードフリップフロップ6からの出力
信号は否有意であるため、結局EX−OR4の出力信号
は制御情報レジスタ2に保持された制御情報のパリティ
ビット信号と同じ論理値である。
ここで、誤り検出回路3の診断を開始するため(ステッ
プS1)、診断モードフリップフロップ6により診断モ
ードに設定すると(ステップS2)、EX−OR4から
の出力信号は制御情報レジスタ2からのパリティピッl
−信号とは逆極性になり、誤り検出回路3へ入力される
パリティ情報は不正となり、この結果、誤り検出回路3
は制御情報レジスタ2の制御情報に誤りが発生した時の
動作と同様な誤り検出動作を行う。この誤り検出回路3
が正常に誤り検出動作を行って制御情報エラーを検出し
た場合は、その制御情報エラーが診断フリッププロップ
5に設定される。したがって、制御情報エラーが診断フ
リップフロップ5に設定されたか否かを判断するごとに
よって、即ち、誤り検出回路3が制御情報エラーを発生
したか否かを判断することによって(ステップS3)、
誤り検出回路3が異常(ステップS4)であるか、正常
(ステップS5)であるかを判断する。即ち、制御情報
エラーが誤り検出回路3から発生ずると、誤り検出回路
3は正常に誤り検出動作か行われていることになる。制
御情報エラーが発生しなければ誤り検出回路3は誤り検
出動作を行わず異常であることになり、プログラム制御
方式による装置の正常動作は保証できなくなる。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の誤り検出回路の診断方式は」二連したように構成
されているので、通常の動作時では全く必要としない診
断専用回路であるEx−OR回路等を制御情報の一部が
常に通過する必要があり、このため誤り検出回路の動作
の遅延時間を増大させ、誤り検出動作の高速化を阻害す
る要因となる問題点があり、また、誤り訂正を目的とし
た複雑な検査訂正コードを採用した制御情報の誤り検出
を行う誤り検出回路を診断する場合、制御情報の一部冗
長ビソトのみの反転信号を用いるだけでは十分に誤り検
出回路の診断を行うことができないという問題点があっ
た。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
てもので、制御情報の誤りを高速で検出すると共に、誤
り検出回路の診断を精度良く行うことにより、信頼性の
高いデータ制御装置を実現できる誤り検出回路の診断方
式を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る診断方式は、保持手段(制御情報レジス
スタ2a)をシフトレジスタで構成し、この保持手段に
不正情報をシフト入力する不正情報入力手段(診断シフ
トレジスタ7)を設げ、上記保持手段に保持された制御
情報を上記不正情報入力手段からの不正情報により誤制
御情報とし、この誤制御情報を入力した誤り検出回路3
が正常に誤り検出動作を行ったか否かを診断手段(診断
フリップフロップ5)により診断することを特徴とする
ものである。
〔作用〕
不正情報入力手段(診断シフトレジスタ7)は保持手段
(制御情報レジスタ2a)に保持された制御情報をシフ
トして不正情報とする。誤り検出回路3はその不正情報
を入力して誤りを検出したならば診断手段(診断フリッ
プフロップ5)に誤り情報を設定する。また、誤り検出
回路3は不正情報を入力しても誤りを検出しないならば
診断手段には制御情報エラーを設定しない。したがって
、診断手段に制御情報エラーが設定されたとき、誤り検
出回路3は正常であると診断され、制御情報エラーが設
定されないとき、誤り検出回路3は異常であると診断さ
れる。
〔発明の実施例〕
6一 第1図はこの発明の一実施例に係る誤り検出回路の診断
方式を採用したデータ制御装置の構成を示すブロック図
である。第1図において、第3図に示す構成要素に対応
するものには同一の参照符を付し、その説明を省略する
。第1図において、2aはシフトレジスタで構成され、
制御情報記憶回路1から読出された制御情報を一時的に
保持する保持手段としての制御情報レジスフである。ま
た、7は制御情報レジスタ2aに不正情報をシフト入力
する不正情報入力手段としての診断シフトレジスタであ
る。
次に、この実施例の動作を第2図に示すフローチャート
を参照して説明する。今、誤り検出回路3の診断を開始
する場合(ステップ511)、誤り検出回路3に不正情
報を供給する必要がある。
このため、制御情報レジスタ2aに制御情報の誤りを発
生させるためのく制御情報を誤り制御情報にするための
)診断パターン(不正情報)を診断シフトレジスタ7に
予め準備しておき、この診断パターンを診断シフトレジ
スタ7から制御情報レジスタ2aヘシフト入力する(ス
テップ512)。
誤り検出回路3は制御情報レジスタ2aヘシフト入力さ
れた診断パターンにより誤り検出動作を行う。即ち、誤
り検出回路3は、正常に誤り検出動作を行ったとき制御
情報エラーを発生し、一方、正常な誤り検出動作を行わ
なかったときは制御情報エラーを発生しない。したがっ
て、制御情報正常であるか異常であるかが判断される。
即ち、制御情報エラーが発生したと判断されると(ステ
ップ513)、誤り検出回路3は正常に動作しており(
ステップ5I5)、一方、制御情報エラーが報記憶回路
1からの制御情報により制御される装置の正常動作の保
証はできない。
上記実施例によれば、制御情報レジスタをシフトレジス
タで構成したので、通常動作時は余分な回路による動作
時間の遅延を発生させず、高速のプログラム方式データ
制御装置を備えた電子機器の製造を可能とし、また、任
意の診断パターンを供給可能となり、誤り検出回路の診
断を精度良く行うことができ、これにより信頼性の高い
データ制御装置を得ることができる。
なお、上記実施例では、誤り検出回路の構成を8ビツト
のデータに1ビツトのパリティビットを付加した制御情
報の誤り検出のためのパリティ検査方式としたが、制御
情報と検査用冗長ビット生成にハミングコード、又はフ
ァイア−コードなどの誤り検出訂正コードを用いる方式
であってもよく、診断シフトレジスタに準備した複数の
診断パターンを順次シフト入力して、誤り検出回路が検
査しうる組合わせについて診断を行ってもよい。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、制御情報を保持する保持
手段をシフトレジスタで構成し、この保持手段に不正情
報をシフト入力する不正情報入力手段を設け、保持手段
に保持された制御情報を不正情報入力手段からの不正情
報により誤り制御情報とし、この誤制御情報を入力した
誤り検出回路が正常に誤り検出動作を行ったか否かを診
断手段により診断するようにしたので、制御情報の誤り
が高速で検出することができ、また、誤り検出回路の診
断を精度良く行うことができ、したがって信頼性の高い
データ制御装置を実現できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係る誤り検出回路の診断
方式を採用したデータ制御装置の構成を示すブロック図
、第2図はこの実施例の動作を示すフローチャート、第
3図は従来の誤り検出回路の診断方式を採用したデー゛
夕制御装置の構成を示すブロック図、第4図はこの従来
例の動作を示すフローチャートである。 ■・・・制御情報記憶回路〈制御情報記憶手段)、2a
・・・制御情報レジスタ(保持手段)、3・・・誤り検
出回路、5・・・診断フリツプフロツプ(診断手段)、
7・・・診断シフトレジスタ(不正情報入力手段)。 代理人  大  岩  増  雄(ほか2名)=10−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 制御情報を記憶する制御情報記憶手段と、この制御情報
    記憶手段から読み出された制御情報を一時的に保持する
    保持手段と、この保持手段に保持された制御情報の誤り
    検出を行う誤り検出回路と、この誤り検出回路が正常に
    動作しているか否かを診断する診断手段とを備えたデー
    タ制御装置において、上記保持手段をシフトレジスタで
    構成し、この保持手段に不正情報をシフト入力する不正
    情報入力手段を設け、上記保持手段に保持された制御情
    報を上記不正情報入力手段からの不正情報により誤制御
    情報とし、この誤制御情報を入力した上記誤り検出回路
    が正常に誤り検出動作を行ったか否かを上記診断手段に
    より診断することを特徴とする誤り検出回路の診断方式
JP63129011A 1988-05-26 1988-05-26 誤り検出回路の診断方式 Pending JPH01297733A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63129011A JPH01297733A (ja) 1988-05-26 1988-05-26 誤り検出回路の診断方式

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63129011A JPH01297733A (ja) 1988-05-26 1988-05-26 誤り検出回路の診断方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01297733A true JPH01297733A (ja) 1989-11-30

Family

ID=14998958

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63129011A Pending JPH01297733A (ja) 1988-05-26 1988-05-26 誤り検出回路の診断方式

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JP (1) JPH01297733A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7478293B2 (en) * 2004-01-29 2009-01-13 Stmicroelectronics S.A. Method of securing the test mode of an integrated circuit via intrusion detection

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7478293B2 (en) * 2004-01-29 2009-01-13 Stmicroelectronics S.A. Method of securing the test mode of an integrated circuit via intrusion detection

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