JPH01298636A - 質量分析装置における試料導入プローブ - Google Patents
質量分析装置における試料導入プローブInfo
- Publication number
- JPH01298636A JPH01298636A JP63129679A JP12967988A JPH01298636A JP H01298636 A JPH01298636 A JP H01298636A JP 63129679 A JP63129679 A JP 63129679A JP 12967988 A JP12967988 A JP 12967988A JP H01298636 A JPH01298636 A JP H01298636A
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- Japan
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- probe
- sample
- porous member
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、液体試料を直接イオン源内に導入し、化学イ
オン化あるいは電子衝撃若しくは一次ビーム衝撃により
イオン化することに適した試料導入プローブに関するも
のである。
オン化あるいは電子衝撃若しくは一次ビーム衝撃により
イオン化することに適した試料導入プローブに関するも
のである。
[従来の技術]
近時、液体クロマトグラフで展開された試料液を質量分
析装置のイオン源内に直接導入してイオン化する試料導
入プローブとして、第3図に示すような構造のものが提
案されている。
析装置のイオン源内に直接導入してイオン化する試料導
入プローブとして、第3図に示すような構造のものが提
案されている。
同図において、1は内部が高真空に保たれたイオン源筐
体、2はその蓋体、3はElイオン化箱で、このイオン
化箱外周には電子入射口4と電子出射口5とが対向する
よ・うに形成しである。6は電子線を発生するためのフ
ィラメント、7は前記Elイオン化箱で生成されたイオ
ンIを外部に取り出し、加速及び集束するための電極群
で、この電極群のうちElイオン化箱3に接近した電極
7aはこのEIイオン化箱の端部に固定され、蓋体の役
目を果たしており、また、この電極の中央部にはイオン
通過用の穴8が設けである。さらに、これら電極群やE
Iイオン化鞘箱3イオン源筐体1に固定されている。
体、2はその蓋体、3はElイオン化箱で、このイオン
化箱外周には電子入射口4と電子出射口5とが対向する
よ・うに形成しである。6は電子線を発生するためのフ
ィラメント、7は前記Elイオン化箱で生成されたイオ
ンIを外部に取り出し、加速及び集束するための電極群
で、この電極群のうちElイオン化箱3に接近した電極
7aはこのEIイオン化箱の端部に固定され、蓋体の役
目を果たしており、また、この電極の中央部にはイオン
通過用の穴8が設けである。さらに、これら電極群やE
Iイオン化鞘箱3イオン源筐体1に固定されている。
9は前記蓋体2に設けられた筒状のガイド体10を通し
てイオン源筐体1内に導入された筒状の試料導入プロー
ブで、このプローブの一端(イオン源筺体1側)には電
気絶縁物質製カラー11を介在して雄ネジ体12が固定
され、また、他端にはつまみ13が設けである。前記雄
ネジ体12には多孔性部材14を保持した保持体15が
螺着されている。この保持体15には多孔性部材を収納
するように有底筒状のCLイオ°ン化鞘箱16螺管され
ており、この保持体及びCIイオン化箱が前記EIイオ
ン化鞘箱3内移動可能に挿入される。
てイオン源筐体1内に導入された筒状の試料導入プロー
ブで、このプローブの一端(イオン源筺体1側)には電
気絶縁物質製カラー11を介在して雄ネジ体12が固定
され、また、他端にはつまみ13が設けである。前記雄
ネジ体12には多孔性部材14を保持した保持体15が
螺着されている。この保持体15には多孔性部材を収納
するように有底筒状のCLイオ°ン化鞘箱16螺管され
ており、この保持体及びCIイオン化箱が前記EIイオ
ン化鞘箱3内移動可能に挿入される。
前記CIイオン化箱16の外周には電子導入用の開口1
7が、また、底部にはイオン出射口18が夫々形成され
ている。この開口17及びイオン出射口18の大きさは
CIイオン化鞘箱16CIに適した比較的高い圧力に保
つために小さく形成されている。
7が、また、底部にはイオン出射口18が夫々形成され
ている。この開口17及びイオン出射口18の大きさは
CIイオン化鞘箱16CIに適した比較的高い圧力に保
つために小さく形成されている。
19は前記プローブ9の内部に気密を保って挿入された
移送管で、この移送管としては微小径のフユーズドシリ
カ管が用いられており、また、移送管の一端は前記多孔
性部材14がその開放端を塞ぐように取り付けられ、他
端は大気中に取り出されて図示外の液体クロマトグラフ
に接続されている。
移送管で、この移送管としては微小径のフユーズドシリ
カ管が用いられており、また、移送管の一端は前記多孔
性部材14がその開放端を塞ぐように取り付けられ、他
端は大気中に取り出されて図示外の液体クロマトグラフ
に接続されている。
20は前記Elイオン化箱3の外周部に巻回した加熱コ
イルであり、EIイオン化箱を介して多孔性部材14を
所望の温度に加熱するためのものである。尚、図示しな
いが蓋体2のプローブ9の挿入部分にはエアーロック弁
が設けてあり、イオン源筺体1内の真空を破ることなく
プローブの交換ができるようにしである。
イルであり、EIイオン化箱を介して多孔性部材14を
所望の温度に加熱するためのものである。尚、図示しな
いが蓋体2のプローブ9の挿入部分にはエアーロック弁
が設けてあり、イオン源筺体1内の真空を破ることなく
プローブの交換ができるようにしである。
かかる構成において、同図の状態は電子入射口4と開口
17とが一致し、フィラメント6からの電子線がCIイ
オン化鞘箱16内導入される。この状態において、移送
管19を介して液体クロマトグラフで展開された試料液
を多孔性部材14に導けば、試料液が多孔性部材を通し
てその表面に滲み出し、試料液中の溶媒を反応ガスとし
て化学イオン化が行われる。即ち多孔性部材14は加熱
コイル20により分析すべき試料液が気化する温度(数
百度程度)に保たれているため、先ず多孔性部材表面で
気化された溶媒(反応ガス)が電子入射口4及び開口1
7から入射した電子線によってイオン化され、次いで該
溶媒イオンとの化学反応によって試料成分がイオン化さ
れ、生成された試料イオンIがイオン出射口18及び穴
8を介して図示外の質量分析部へ送られるため、CIイ
オン化による質量分析を行うことができる。
17とが一致し、フィラメント6からの電子線がCIイ
オン化鞘箱16内導入される。この状態において、移送
管19を介して液体クロマトグラフで展開された試料液
を多孔性部材14に導けば、試料液が多孔性部材を通し
てその表面に滲み出し、試料液中の溶媒を反応ガスとし
て化学イオン化が行われる。即ち多孔性部材14は加熱
コイル20により分析すべき試料液が気化する温度(数
百度程度)に保たれているため、先ず多孔性部材表面で
気化された溶媒(反応ガス)が電子入射口4及び開口1
7から入射した電子線によってイオン化され、次いで該
溶媒イオンとの化学反応によって試料成分がイオン化さ
れ、生成された試料イオンIがイオン出射口18及び穴
8を介して図示外の質量分析部へ送られるため、CIイ
オン化による質量分析を行うことができる。
次に、プローブ9を左側に移動させてCIイオン化鞘箱
16Elイオン化箱3から引き出し、CIイオン化箱の
底部がElイオン化箱の入射口4を塞ぐ手前の位置で停
止させれば、CIイオン化箱のイオン出射口18より噴
出する気化試料液が電子入射口4から電子出射口5へ向
けてEIイオン化鞘箱3内通る電子線の衝撃を受けてイ
オン化される。生成されたイオンは穴8を通して質量分
析部に送られるため、電子衝撃イオン化による質量分析
を行うことができる。
16Elイオン化箱3から引き出し、CIイオン化箱の
底部がElイオン化箱の入射口4を塞ぐ手前の位置で停
止させれば、CIイオン化箱のイオン出射口18より噴
出する気化試料液が電子入射口4から電子出射口5へ向
けてEIイオン化鞘箱3内通る電子線の衝撃を受けてイ
オン化される。生成されたイオンは穴8を通して質量分
析部に送られるため、電子衝撃イオン化による質量分析
を行うことができる。
[発明が解決しようとする課題]
ところで、このような構成の試料導入プローブを長時間
使用すると、プローブ内の移送管19が詰まり、その都
度プローブを分解して移送管内を掃除あるいは新しい移
送管と交換しなければならなかったため、取扱が非常に
厄介であった。
使用すると、プローブ内の移送管19が詰まり、その都
度プローブを分解して移送管内を掃除あるいは新しい移
送管と交換しなければならなかったため、取扱が非常に
厄介であった。
そこで、本発明者がこの点について究明した結果、試料
液が多孔性部材14へ流入する前に高温になることに原
因があることが判明した。つまり、多孔性部材はその表
面に滲み出た試料成分を気化させるために、保持体15
を介して加熱コイルにより数百度程度まで加熱される。
液が多孔性部材14へ流入する前に高温になることに原
因があることが判明した。つまり、多孔性部材はその表
面に滲み出た試料成分を気化させるために、保持体15
を介して加熱コイルにより数百度程度まで加熱される。
このとき、理想的には多孔性部材のみを高温に保てば良
いわけであるが、実際には保持体の熱が雄ネジ12を介
してカラー11部分まで伝達される。さらに、このカラ
ーに伝達された熱は輻射熱によりその内部に置かれた移
送管19に伝わるため、この部分における移送管は試料
液中の溶媒成分が気化する温度、例えば50〜60℃程
度に上昇してしまう。この移送管の温度上昇により試料
液中の溶媒成分がカラー付近、つまり多孔性部材のかな
り手前で気化されてしまい、それによって試料成分が移
送管内壁に円心されるため、時間の経過に伴って移送管
が詰まるわけである。
いわけであるが、実際には保持体の熱が雄ネジ12を介
してカラー11部分まで伝達される。さらに、このカラ
ーに伝達された熱は輻射熱によりその内部に置かれた移
送管19に伝わるため、この部分における移送管は試料
液中の溶媒成分が気化する温度、例えば50〜60℃程
度に上昇してしまう。この移送管の温度上昇により試料
液中の溶媒成分がカラー付近、つまり多孔性部材のかな
り手前で気化されてしまい、それによって試料成分が移
送管内壁に円心されるため、時間の経過に伴って移送管
が詰まるわけである。
そこで、本発明はかかる不都合を解決することを目的と
するものである。
するものである。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するため、本発明のイオン源はイオン化
箱と、該イオン化箱内にその先端が外部から挿脱可能に
配置された試料導入プローブと、該プローブの前記イオ
ン化箱内へ挿入される部分に取り付けられた多孔性部材
と、前記プローブの内部を通して該多孔性部材に試料液
を移送するための移送管と、前記多孔性部材を加熱する
ための加熱手段とを備え、前記プローブに対して前記多
孔性部材を断熱的に取り付けたことを特徴とするもので
ある。
箱と、該イオン化箱内にその先端が外部から挿脱可能に
配置された試料導入プローブと、該プローブの前記イオ
ン化箱内へ挿入される部分に取り付けられた多孔性部材
と、前記プローブの内部を通して該多孔性部材に試料液
を移送するための移送管と、前記多孔性部材を加熱する
ための加熱手段とを備え、前記プローブに対して前記多
孔性部材を断熱的に取り付けたことを特徴とするもので
ある。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳説する。
[実施例]
第1図は本発明に使用される試料導入プローブの一例を
示す断面図、第2図は第1図のAA拡大断面図であり、
第3図と同一符号のものは同一構成要件を示す。
示す断面図、第2図は第1図のAA拡大断面図であり、
第3図と同一符号のものは同一構成要件を示す。
本実施において第3図の従来例と異なるのは、カラー1
1に直接雄ネジ体12を固定することなく、例えばステ
ンレスのような熱伝導性の低い材料で形成された径が0
.6mm程度の4本の支持棒21a、21b、21c、
21dで支持した点である。尚、雄ネジ12も同様にス
テンレスのような熱伝導率の悪い物質で形成され、また
、この雄ネジにおける移送管19の貫通部分には隙間を
形成し、雄ネジが直接移送管に接触しないようにしであ
る。
1に直接雄ネジ体12を固定することなく、例えばステ
ンレスのような熱伝導性の低い材料で形成された径が0
.6mm程度の4本の支持棒21a、21b、21c、
21dで支持した点である。尚、雄ネジ12も同様にス
テンレスのような熱伝導率の悪い物質で形成され、また
、この雄ネジにおける移送管19の貫通部分には隙間を
形成し、雄ネジが直接移送管に接触しないようにしであ
る。
このように高温に保たれる保持体15を非常に細い数本
の支持棒214乃至21dで支持しているため、保持体
15の熱がカラー11へ伝達されるのを抑えることがで
きる。従って、移送管19の昇温を防止できるため、溶
媒成分は従来のように途中で気化されることなく多孔性
部材の直前で気化される。その結果、試料成分は移送管
に固着されることなく多孔性部材まで到達し、この多孔
性部材を通して気化される。
の支持棒214乃至21dで支持しているため、保持体
15の熱がカラー11へ伝達されるのを抑えることがで
きる。従って、移送管19の昇温を防止できるため、溶
媒成分は従来のように途中で気化されることなく多孔性
部材の直前で気化される。その結果、試料成分は移送管
に固着されることなく多孔性部材まで到達し、この多孔
性部材を通して気化される。
尚、前述の説明は本発明の一例を示すもので、実施にあ
たっては幾多の変形が考えられる。例えば上記実施例で
は保持体の熱がカラ一部分に伝達されるのを防止するた
めに細い支持棒を用いたが、これに限定されることなく
、薄い板あるいは外周に多数の切欠部や穴を形成したス
テンレス製筒体を用いても良い。
たっては幾多の変形が考えられる。例えば上記実施例で
は保持体の熱がカラ一部分に伝達されるのを防止するた
めに細い支持棒を用いたが、これに限定されることなく
、薄い板あるいは外周に多数の切欠部や穴を形成したス
テンレス製筒体を用いても良い。
また、上記実施例ではElやCIにより試料液をイオン
化させたが、これに限定されることなく、先端に多孔性
部材を取り付けたプローブをイオン化箱内に挿入し、多
孔性部材表面に滲み出た試料液・を−次ビーム照射によ
りイオン化させても良い。
化させたが、これに限定されることなく、先端に多孔性
部材を取り付けたプローブをイオン化箱内に挿入し、多
孔性部材表面に滲み出た試料液・を−次ビーム照射によ
りイオン化させても良い。
[効果コ
以上詳述したように本発明によれば、プローブ内に置か
れた移送管がその途中で加熱されるのを防止することが
できるため、従来のように試料液中の溶媒成分が途中で
気化され、それにより試料成分が移送管に固着されて詰
まるのを防止できる。
れた移送管がその途中で加熱されるのを防止することが
できるため、従来のように試料液中の溶媒成分が途中で
気化され、それにより試料成分が移送管に固着されて詰
まるのを防止できる。
その結果、プローブを分解して掃除あるいは新しい移送
管と交換する必要がなくなり、取扱が非常に容易となる
。
管と交換する必要がなくなり、取扱が非常に容易となる
。
第1図は本発明に使用される試料導入プローブの一例を
示す断面図、第2図は第1図のAA拡大断面図、第3図
は従来例を説明するための図である。 1:イオン源筐体 3:E1イオン化箱4;電子入
射口 5:電子出射口6:フィラメント 9:試料導入プローブ 11:カラ−12=雄ネジ体 14:多孔性部材 15:保持体 16:CIイオン化箱
示す断面図、第2図は第1図のAA拡大断面図、第3図
は従来例を説明するための図である。 1:イオン源筐体 3:E1イオン化箱4;電子入
射口 5:電子出射口6:フィラメント 9:試料導入プローブ 11:カラ−12=雄ネジ体 14:多孔性部材 15:保持体 16:CIイオン化箱
Claims (1)
- イオン化箱と、該イオン化箱内にその先端が外部から挿
脱可能に配置された試料導入プローブと、該プローブの
前記イオン化箱内へ挿入される部分に取り付けられた多
孔性部材と、前記プローブの内部を通して該多孔性部材
に試料液を移送するための移送管と、前記多孔性部材を
加熱するための加熱手段とを備え、前記プローブに対し
て前記多孔性部材を断熱的に取り付けたことを特徴とす
る質量分析装置における試料導入プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63129679A JPH01298636A (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | 質量分析装置における試料導入プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63129679A JPH01298636A (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | 質量分析装置における試料導入プローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01298636A true JPH01298636A (ja) | 1989-12-01 |
Family
ID=15015494
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63129679A Pending JPH01298636A (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | 質量分析装置における試料導入プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01298636A (ja) |
-
1988
- 1988-05-27 JP JP63129679A patent/JPH01298636A/ja active Pending
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