JPH01302887A - 半導体レーザアレイ装置 - Google Patents

半導体レーザアレイ装置

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JPH01302887A
JPH01302887A JP63133331A JP13333188A JPH01302887A JP H01302887 A JPH01302887 A JP H01302887A JP 63133331 A JP63133331 A JP 63133331A JP 13333188 A JP13333188 A JP 13333188A JP H01302887 A JPH01302887 A JP H01302887A
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semiconductor laser
face
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JP63133331A
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Hiroki Naito
浩樹 内藤
Takeshi Hamada
健 浜田
Yuichi Shimizu
裕一 清水
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、固体レーザ励起用の高出力半導体レーザ装置
および半導体レーザアレイ装置に関するものである。
従来の技術 現在、Nd:YAG、Nd:glassなどの固体レー
ザの励起用の光源には、フラッシュランプなどが用いら
れているが、そのエネルギー変換効率は非常に悪く1チ
にも満たない。そこで、この光源に、半導体レーザを用
いて効率を高めようという試みが近年、なされている。
すなわち、固体し−ザの吸収スペクトルに合う波長で励
起することにより大幅に効率を高めようというものであ
る。
効率を高めることにより、余分な熱の発生も押えられ、
従来、必要であった冷却水が不要となり小型化にもつな
がる。
しかしながら、固体レーザを励起するほど大出力の半導
体レーザを得るのは容易ではなく、半導体レーザの高出
力化が要望されている。
発明が解決しようとする課題 固体レーザ励起用の光源を半導体レーザで得る場合、通
常、高出力の半導体レーザを数多く並べる、すなわちア
レイ化しようとする試みがなされる。この場合、個々の
半導体レーザの光出力が大きければ、アレイ化の個数も
少なく有利なことは言うまでもない。しかしながら、高
出力を得るのに最も有望な発光部面積の非常に大きいブ
ロードエリア構造の半導体レーザでも実用的には1個当
り1W程度が限界となっている。その限界を決めている
のは、一般に共振器端面における光吸収による局所的発
熱であり、温度上昇により、結晶は溶融、レーザ光は急
速に劣化する。
本発明は、上記欠点に鑑み、ブロードエリア構造におい
て端面部での光吸収を防ぐことにより、高出力を得る半
導体レーザ装置を得るものである。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するために、本発明の半導体レーザ装置
は、ブロードエリア構造において、活性層下に光ガイド
層を設け、活性層を端面に露出させずに、光ガイド層か
ら出力を端面に取り出し、加えて端面近傍に電流の非注
入領域を形成することにより、端面での光吸収を防ぎ、
高出力を得る構造となっている。
作用 上記構造において生じた光は、活性層の波長に対して透
明な光ガイド層を通って端面から出射する。このため端
面部において光吸収は生じない。
また、端面部は電流の非注入領域になっているため、電
流による発熱も存在しない。こうして、光学損傷の問題
を解決することができ、光出力は大幅に向上する。
実施例 第1図に、本発明の実施例における半導体レーザ装置の
構造図を示す。第1図aはストライプ方向に沿って分断
した図、第1図すは全体の構造図、第1図Cは内部をス
トライプ方向に垂直に分断した図である。ここで、Ti
/Mo/ムU電極1oの幅は60μmと広くブロードエ
リア構造となっている。
活性層6の直下に光ガイド層4を有するLO(j構造に
おいて、端面近傍で活性層が埋め込まれており、レーザ
光は端面で吸収を受けることなく光ガイド層4から出射
する。また、端面部を除いて形成されたストライプ状電
極の上からのプロトン注入により、電流は、ストライプ
電極下にのみ流れる構造となっているため、端面近傍で
の電流による発熱もない。よって、通常のブロードエリ
ア構造のレーザに比べ、大幅に光出力は向上する。
第2図に、本実施例の半導体レーザ装置の製造工程を示
す。n−GaAs基板1上に、MOC’VD法によりn
−GaASバフ77層2 、n−Gao、ムlQ、4ム
S層3、n−Gao、、五l O,8ムS 光ガイド層
4、G!L0.92AII o、o eムS活性層6・
p−G″0.5ム1O05ム8層6、p−Gao、8ム
−10,2ムS層7を成長する(第2図a)。ここで7
は、端面部を除く内部の領域で後の埋め込みを容易にす
るためにムIAs混晶比を下げた層である。次に、端面
部を光ガイド層4が露出するまでエツチングし、(第2
図b)再びMOCVD  法により、p−Gao、5五
l G、5ムS層8、p−GaAs層9を成長する(第
2図G)。
エビ側には、Ti/MO/ムUを蒸着し、エツチングに
より第2図dに示すように端面部を除いてストライプを
形成する。裏面には、ムuGaNi電極を蒸着し、アロ
イ後、プロトンをエビ側から注入する。ここで、注入の
深さは、端面近傍において、光ガイド層4の上方までと
している。
なお、本実施例では、n−GaAs基板を用いたが、p
−GaAs基板を用いても構わない。その場合、各層の
導電型は記述とは反対になる。また、プロトンのかわり
に、ボロンを注入しても問題はない。
第3図に、本実施例の半導体レーザ装置の電流−光出力
特性を示す。最大光出力はCODではなく、ジュール熱
によってのみ決まる。
第4図に、本実施例の半導体レーザをアレイ化した図を
示す。光出力は、アレイ化の個数とともに増加し、6Q
個程度のアレイ化で、100W程度の光出力が容易に得
られる。
発明の効果 本発明により、固体レーザ励起用の光源を半導体レーザ
で、容易に得ることが可能となり、その効果は犬なるも
のがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体レーザ装置の構造図、第2図は
作製プロセスを示す図、第3図は電流−光出力特性を示
す図、第4図はアレイ化した図である。 1 ・・・−・・n−G 2L A S基板、2−−−
−−− n−G a A s層、3 ・−・・n−G 
2L o、6ムl O,4ムS層、4−−−−−− n
−Ga、、ム12 o、3ムS層、6・・・・・・G’
0.92ム41’ o、o aムS層、6゛°゛゛。 p−Ga、5ムl O,5ムS層、7−−−−−− p
 −Ga o、aムl O,2ムS層、8 ・・・・p
 −G & o、s A l 0.5人S層、9−−=
p−GaAs層、10・・・・−Ti/Mo/ムU電極
、11・・・・・・AuGeNi  電極1.12・・
・−・−proton  注入領域。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名−“
冒 !−−n−CraA3 sub クー n−GaAs buffer 5−へ’f”tvpBAs g ・−F−Gaa、yAI@HAs l2−−−プロ1シ詞し〜今1工濯く。 第3図 第4図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一導電型のGaAs基板上に、前記一導電型の層
    、GaAs層、Ga_1_−_aAl_aAs層、Ga
    _1_−_bAl_bAs層が順次あり、その上には、
    共振器端面近傍を除いて順次Ga_1_−_cAl_c
    As層、前記基板と反対の導電型の層、Ga_1_−_
    dAl_dAs層、Ga_1−_eAl_eAs層があ
    り、共振器端面近傍のGa_1_−_bAl_bAs層
    および前記Ga_1_−_eAl_eAs層上にはGa
    _1_−_fAl_fAs層があり、さらにその上に、
    GaAsコンタクト層があり、前記GaAsコンタクト
    層の上には共振器端面近傍を除いて共振器端面と垂直に
    ストライプ状の電極が形成されており、かつ、前記スト
    ライプ状電極の下で、前記 Ga_1_−_fAl_fAs層、前記GaAsコンタ
    クト層は前記反対導電型を有し、前記ストライプ状電極
    が上に存在しない部分で前記 Ga_1_−_fAl_fAs層の上部、および、前記
    GaAsコンタクト層は高抵抗を有し、かつ、混晶比が
    0≦c<b<a<1、0<e<b<d≦fの関係にある
    ことを特徴とする半導体レーザ装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項記載の半導体レーザ装置が
    同一基板上に複数個、並置されている半導体レーザアレ
    イ装置。
JP63133331A 1988-05-31 1988-05-31 半導体レーザアレイ装置 Expired - Lifetime JP2563482B2 (ja)

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JPH01302887A true JPH01302887A (ja) 1989-12-06
JP2563482B2 JP2563482B2 (ja) 1996-12-11

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0380589A (ja) * 1989-08-23 1991-04-05 Nec Corp 半導体レーザ素子の製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60102787A (ja) * 1983-11-09 1985-06-06 Hitachi Ltd 半導体レ−ザ装置
JPS62155582A (ja) * 1985-12-27 1987-07-10 Nec Corp 埋め込み型半導体レ−ザ

Patent Citations (2)

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