JPH01304345A - ガス検知装置 - Google Patents
ガス検知装置Info
- Publication number
- JPH01304345A JPH01304345A JP13447388A JP13447388A JPH01304345A JP H01304345 A JPH01304345 A JP H01304345A JP 13447388 A JP13447388 A JP 13447388A JP 13447388 A JP13447388 A JP 13447388A JP H01304345 A JPH01304345 A JP H01304345A
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- oscillator
- semiconductor laser
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はレーザ光を用いた差分吸収法によりガスを検
知するガス検知装置、特にガス検知精度の向上に関する
ものである。
知するガス検知装置、特にガス検知精度の向上に関する
ものである。
ガス分子の化学的、物理的性質である光吸収を利用して
ガスを検知する差分吸収法は、例えば文献「センサ技術
」 (技術調査会、昭和61年2月号)第29頁〜第3
1頁に開示されている。この文献に開示されたガス検知
システムは1ie−Neレーザの3.39μm帯のメタ
ンガスに強く吸収される波長のレーザ光と、このレーザ
光と波長が僅かに異なりメタンガスに吸収されない波長
のレーザ光をメカニカルチョッパで交互に切換えたり、
あるいは1個のレーザ発振器の発振善良を機械的に変化
させて2波長のレーザ光を得て、この2波長のレーザ光
を路面や壁などの被測定部に向けて照射し、そこからの
乱反射光強度の差から光路中のメタンを検出するように
している。この差分吸収法は2波長のレーザ光を使用す
ることにより検出すべきガス以外の要因によるレーザ光
の光量の減衰を補償しているため精度良くガスを検知す
ることができる。
ガスを検知する差分吸収法は、例えば文献「センサ技術
」 (技術調査会、昭和61年2月号)第29頁〜第3
1頁に開示されている。この文献に開示されたガス検知
システムは1ie−Neレーザの3.39μm帯のメタ
ンガスに強く吸収される波長のレーザ光と、このレーザ
光と波長が僅かに異なりメタンガスに吸収されない波長
のレーザ光をメカニカルチョッパで交互に切換えたり、
あるいは1個のレーザ発振器の発振善良を機械的に変化
させて2波長のレーザ光を得て、この2波長のレーザ光
を路面や壁などの被測定部に向けて照射し、そこからの
乱反射光強度の差から光路中のメタンを検出するように
している。この差分吸収法は2波長のレーザ光を使用す
ることにより検出すべきガス以外の要因によるレーザ光
の光量の減衰を補償しているため精度良くガスを検知す
ることができる。
従来の2波長のレーザ光を使用した差分吸収法は波長が
僅かに異なるレーザ光をメカニカルチョッパにより出射
させたり、あるいは発振善良を機械的に変化させて出射
させているため、2波長のレーザ光の波長安定と高速ス
イッチングに限界があった。このためガス検知センサを
空間的に高速で掃引することができないという問題点が
あった。
僅かに異なるレーザ光をメカニカルチョッパにより出射
させたり、あるいは発振善良を機械的に変化させて出射
させているため、2波長のレーザ光の波長安定と高速ス
イッチングに限界があった。このためガス検知センサを
空間的に高速で掃引することができないという問題点が
あった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
であり、空間的に高速で掃引することができるガス検知
装置を得ることを目的とするものであ、る。
であり、空間的に高速で掃引することができるガス検知
装置を得ることを目的とするものであ、る。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るガス検知装置は、測定ガスの吸収波長に
合った波長のレーザ光を出射する第1半導体レーザ装置
と、第1半導体レーザ装置と波長が僅かに異なり、測定
ガスに吸収されない波長のレーザ光を出射する第2半導
体レーザ装置とを有し、第1半導体レーザ装置から出射
するレーザ光の強度を、周波数f1(Hz)の信号を発
振する第1発振器の信号で変調し、第2半導体レーザ装
置から出射するレーザ光の強度は第1発振器の発振周波
数L(llz)とは異なる周波数f 2 (Hz)の信
号を発振する第2発振器の信号で変調する。そして、こ
の異なる周波数f1. f2(Hz)で強度が変調され
たレーザ光を同時に被測定部に向けて投光し、被測定部
から受光したレーザ光の振幅を振幅測定器で測定してガ
スを検知することを特徴とする。
合った波長のレーザ光を出射する第1半導体レーザ装置
と、第1半導体レーザ装置と波長が僅かに異なり、測定
ガスに吸収されない波長のレーザ光を出射する第2半導
体レーザ装置とを有し、第1半導体レーザ装置から出射
するレーザ光の強度を、周波数f1(Hz)の信号を発
振する第1発振器の信号で変調し、第2半導体レーザ装
置から出射するレーザ光の強度は第1発振器の発振周波
数L(llz)とは異なる周波数f 2 (Hz)の信
号を発振する第2発振器の信号で変調する。そして、こ
の異なる周波数f1. f2(Hz)で強度が変調され
たレーザ光を同時に被測定部に向けて投光し、被測定部
から受光したレーザ光の振幅を振幅測定器で測定してガ
スを検知することを特徴とする。
この発明においては、第1半導体レーザ装置と第2半導
体レーザ装置に与える変調信号を異なった周波数の変調
信号とすることにより、2波長のレーザ光の強度を変化
させて、2波長のレーザ光を電気的に切換えるようにし
たものである。
体レーザ装置に与える変調信号を異なった周波数の変調
信号とすることにより、2波長のレーザ光の強度を変化
させて、2波長のレーザ光を電気的に切換えるようにし
たものである。
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図であり、
図において1は測定ガスの吸収波長に合った波長のレー
ザ光を出射する第1の半導体レーザ発振器(以下、レー
ザ発振器という)、2はレーザ発振器1を駆動し、かつ
その出力を制御する駆動装置、3はレーザ発振器1から
出射するレーザ光の波長と僅かに異なり、測定ガスに吸
収されない波長のレーザ光を出射する第2の半導体レー
ザ発振器、4はレーザ発振器3の駆動装置である。
図において1は測定ガスの吸収波長に合った波長のレー
ザ光を出射する第1の半導体レーザ発振器(以下、レー
ザ発振器という)、2はレーザ発振器1を駆動し、かつ
その出力を制御する駆動装置、3はレーザ発振器1から
出射するレーザ光の波長と僅かに異なり、測定ガスに吸
収されない波長のレーザ光を出射する第2の半導体レー
ザ発振器、4はレーザ発振器3の駆動装置である。
5は駆動装置2に接続された第1の発振器であり、発振
器5は周波数f + (Hz)の信号を発振する。
器5は周波数f + (Hz)の信号を発振する。
6は駆動袋N4に接続された第2の発振器であり、発振
器6は第1の発振器5の発振周波数f + (Hz)と
は異なる周波数f 2 ()12)の信号を発振する。
器6は第1の発振器5の発振周波数f + (Hz)と
は異なる周波数f 2 ()12)の信号を発振する。
7はレーザ発振器1から出射されるレーザ光とレーザ発
振器3から出射されるレーザ光とを1つの光路にする半
透鏡、8は反射鏡、9は集光レンズ、10は受光したレ
ーザ光を電気信号に変換する受光器であり、半透鏡7、
反射鏡8、集光レンズ9及び受光器10でレーザ光を投
受光する光学系を構成している。
振器3から出射されるレーザ光とを1つの光路にする半
透鏡、8は反射鏡、9は集光レンズ、10は受光したレ
ーザ光を電気信号に変換する受光器であり、半透鏡7、
反射鏡8、集光レンズ9及び受光器10でレーザ光を投
受光する光学系を構成している。
11は受光器10で受光した、強度が周波数f、で変調
されたレーザ光の電気信号から光路のノイズ等を除去す
るために設りられたバンドパスフィルタ、12は強度が
周波数f2で変調されたレーザ光の電気信号からノイズ
等を除去するために設けられたバンドパスフィルタ、1
3はバンドパスフィルタ11゜12から送られる電気信
号を合成し、合成信号の振幅を測定する振幅測定器、1
4は壁等被測定部の散乱部である。
されたレーザ光の電気信号から光路のノイズ等を除去す
るために設りられたバンドパスフィルタ、12は強度が
周波数f2で変調されたレーザ光の電気信号からノイズ
等を除去するために設けられたバンドパスフィルタ、1
3はバンドパスフィルタ11゜12から送られる電気信
号を合成し、合成信号の振幅を測定する振幅測定器、1
4は壁等被測定部の散乱部である。
上記のように構成されたガス検知装置によりガスを検知
するときは、まず駆動装置2と駆動装置4を駆動して各
レーザ発振器1,3を安定状態とする。次に第1の発振
器5と第2の発振器6を発振させ、第1の発振器5から
駆動装置2に発振周波数f I(Hz)の信号を送り、
駆動装置2により例えば第2図のaに示すようにレーザ
発振器1で出射するレーザ光の強度に変調を与える。同
様に第2の発振器6から駆動装置4に発振周波数f z
(Hz)の信号を送り、駆動装置4により第2図のb
に示すようにレーザ発振器3で出射するレーザ光の強度
に変調を与える。
するときは、まず駆動装置2と駆動装置4を駆動して各
レーザ発振器1,3を安定状態とする。次に第1の発振
器5と第2の発振器6を発振させ、第1の発振器5から
駆動装置2に発振周波数f I(Hz)の信号を送り、
駆動装置2により例えば第2図のaに示すようにレーザ
発振器1で出射するレーザ光の強度に変調を与える。同
様に第2の発振器6から駆動装置4に発振周波数f z
(Hz)の信号を送り、駆動装置4により第2図のb
に示すようにレーザ発振器3で出射するレーザ光の強度
に変調を与える。
二のように波長が僅かに異なり、レーザ光の強度分布の
周波数が異なる2波長のレーザ光をレーザ発振器1,3
から同時に出射して、半透鏡7、反射鏡8を介して散乱
部14に投光する。散乱部1イに投光されたレーザ光は
、散乱部14で散乱2反射され、集光を介して受光器1
0に入1.1する。入射したレーザ光は受光器10で電
気信号に変換され、バンドパスフィルタIL 12を介
して振幅測定器13に送られ、振幅測定器13で合成
jfQ幅されてその強度分布すなわち振幅が測定される
。
周波数が異なる2波長のレーザ光をレーザ発振器1,3
から同時に出射して、半透鏡7、反射鏡8を介して散乱
部14に投光する。散乱部1イに投光されたレーザ光は
、散乱部14で散乱2反射され、集光を介して受光器1
0に入1.1する。入射したレーザ光は受光器10で電
気信号に変換され、バンドパスフィルタIL 12を介
して振幅測定器13に送られ、振幅測定器13で合成
jfQ幅されてその強度分布すなわち振幅が測定される
。
このレーザ発振器1.3から散乱部14にレーザ光を投
光したときに、レーザ光の光路中にガスが存在しないと
、レーザ発振器1から投光したレーザ光もレーザ発振器
3から投光したレーザ光と同様に吸収されず、同じ散乱
強度で受光器10に入射する。したがって振幅測定器1
3には第2回のalbて示した強度分布波形と同し周波
数の電気信号が送られる。この2つの周波数が相違し、
振幅が同一な電気信号を合成すると第2図のCに示すよ
うに大きな振幅となる。
光したときに、レーザ光の光路中にガスが存在しないと
、レーザ発振器1から投光したレーザ光もレーザ発振器
3から投光したレーザ光と同様に吸収されず、同じ散乱
強度で受光器10に入射する。したがって振幅測定器1
3には第2回のalbて示した強度分布波形と同し周波
数の電気信号が送られる。この2つの周波数が相違し、
振幅が同一な電気信号を合成すると第2図のCに示すよ
うに大きな振幅となる。
一方、レーザ光の光路中にガスが存在すると、レーザ発
振器1から投光したガスの吸収波長と同じ波長を有する
レーザ光は、そのガスの濃度、ガスの存在する距離に応
してガスに吸収され、受光器】0に入射したときGこば
、第3図dに示すように強度分布が小さいレーザ光とな
っている。したがって、この強度分布が小さいレーザ光
と第3図のbに示ずレーザ発振器3で出射したレーザ光
による電気信号を振Ifllf測定器13で合成すると
、この合成信号は第3図のeに示すようにガスにより吸
収されたレーザ光の強度分だけ小さな振幅となる。
振器1から投光したガスの吸収波長と同じ波長を有する
レーザ光は、そのガスの濃度、ガスの存在する距離に応
してガスに吸収され、受光器】0に入射したときGこば
、第3図dに示すように強度分布が小さいレーザ光とな
っている。したがって、この強度分布が小さいレーザ光
と第3図のbに示ずレーザ発振器3で出射したレーザ光
による電気信号を振Ifllf測定器13で合成すると
、この合成信号は第3図のeに示すようにガスにより吸
収されたレーザ光の強度分だけ小さな振幅となる。
この振幅の減少を測定することにより、レーザ光の光路
中のガスの存在及びその濃度を測定することができる。
中のガスの存在及びその濃度を測定することができる。
この発明は以上説明したように、波長の僅かに異なるレ
ーザ光を出射する第1半導体レーザ装置と第2半導体レ
ーザ装置に与える変調信号を異なった周波数とすること
により、2波長のレーザ光の強度を変化させて、2波長
のレーザ光を切換えるようにしたので高速スイッチング
を行なうことができる。
ーザ光を出射する第1半導体レーザ装置と第2半導体レ
ーザ装置に与える変調信号を異なった周波数とすること
により、2波長のレーザ光の強度を変化させて、2波長
のレーザ光を切換えるようにしたので高速スイッチング
を行なうことができる。
また、この高速スイッチングにより、空間を高速に掃引
することができ、ガス検知速度を大幅に向上させること
ができる。
することができ、ガス検知速度を大幅に向上させること
ができる。
さらに、2波長のレーザ光の強度を切換えるときに、レ
ーザ光の波長の変動がないため、安定した波長でガスを
検知することができ、ガス検知精度を高めることができ
る効果も有する。
ーザ光の波長の変動がないため、安定した波長でガスを
検知することができ、ガス検知精度を高めることができ
る効果も有する。
第1図はこの発明の実施例を示すブロック図、第2図、
第3図は各々レーザ光の強度分布を示す説明図である。 1.3・・・半導体レーザ発振器、2.4・・・駆動装
置、5.6・・・発振器、■・・・半透鏡、8・・・反
射鏡、9・・・集光レンズ、10・・・受光器、11.
12・・・バンドパスフィルタ、13・・振幅測定器。
第3図は各々レーザ光の強度分布を示す説明図である。 1.3・・・半導体レーザ発振器、2.4・・・駆動装
置、5.6・・・発振器、■・・・半透鏡、8・・・反
射鏡、9・・・集光レンズ、10・・・受光器、11.
12・・・バンドパスフィルタ、13・・振幅測定器。
Claims (1)
- 測定ガスの吸収波長に合った波長のレーザ光を出射する
第1半導体レーザ装置と、該第1半導体レーザ装置から
出射するレーザ光の波長と僅かに異なり測定ガスに吸収
されない波長のレーザ光を出射する第2半導体レーザ装
置と、周波数f_1(Hz)の信号を発振し第1半導体
レーザ装置に入力して、第1半導体レーザ装置から出射
するレーザ光の強度を変調する第1発振器と、該第1発
振器の発振周波数f_1(Hz)とは異なる周波数f_
2(Hz)の信号を発振し第2半導体レーザ装置に入力
して、第2半導体レーザ装置から出射するレーザ光の強
度を変調する第2発振器と、第1半導体レーザ装置と第
2半導体レーザ装置から出射するレーザ光を同時に投光
し、受光する光学系と、該光学系で受光したレーザ光の
振幅を測定する振幅測定器とを備えたことを特徴とする
ガス検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13447388A JPH01304345A (ja) | 1988-06-02 | 1988-06-02 | ガス検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13447388A JPH01304345A (ja) | 1988-06-02 | 1988-06-02 | ガス検知装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01304345A true JPH01304345A (ja) | 1989-12-07 |
Family
ID=15129143
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13447388A Pending JPH01304345A (ja) | 1988-06-02 | 1988-06-02 | ガス検知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01304345A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007248126A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | 差分吸収ライダ装置 |
| JP2007309800A (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Japan Science & Technology Agency | 複数ガス濃度同時測定装置 |
| JP5367196B1 (ja) * | 2012-09-10 | 2013-12-11 | 株式会社シンクロン | 測定装置及び成膜装置 |
-
1988
- 1988-06-02 JP JP13447388A patent/JPH01304345A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007248126A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | 差分吸収ライダ装置 |
| JP2007309800A (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Japan Science & Technology Agency | 複数ガス濃度同時測定装置 |
| JP5367196B1 (ja) * | 2012-09-10 | 2013-12-11 | 株式会社シンクロン | 測定装置及び成膜装置 |
| WO2014038090A1 (ja) * | 2012-09-10 | 2014-03-13 | 株式会社シンクロン | 測定装置及び成膜装置 |
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