JPH01304701A - 電子部品 - Google Patents

電子部品

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JPH01304701A
JPH01304701A JP63136333A JP13633388A JPH01304701A JP H01304701 A JPH01304701 A JP H01304701A JP 63136333 A JP63136333 A JP 63136333A JP 13633388 A JP13633388 A JP 13633388A JP H01304701 A JPH01304701 A JP H01304701A
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phenol resin
resin layer
resistance
silica
heat cycle
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Kiyoshi Matsuda
清 松田
Takeshi Suzuki
武志 鈴木
Takamichi Momoki
桃木 孝道
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Marcon Electronics Co Ltd
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Marcon Electronics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、外装構造を改良した電子部品に関する。
(従来の技術) 電子部品の外装材としては、量産性9作柔性。
コスト的な面からエポキシ樹脂、フェノール樹脂が一般
的に使用されている。
しかし、焼結されたセラミック素子からなる電子部品の
外装材として使用される場合、エポキシ樹脂はセラミッ
ク素子に比較し、線膨張係数が約2桁大きいため、熱l
j撃により外装材にクラックが発生する。このため自動
車用の電子部品に要求される一50℃〜+150℃の冷
熱ザイクル特性を満足することは困難である。これに対
してフェノール樹脂はセラミックの線熱膨張係数に近づ
けるためS i 02 、CaCO3などの無機フィラ
ーを多聞に含有している。このため耐ヒートサイクル性
には非常に優れるが、構造が本質的に多孔質であるため
、水分やガスの侵入により使用中にセラミック素子が劣
化し故障に至る問題があった。
この欠点をなくすために、従来より溶融ワックス、液状
エポキシ樹脂、液状シリコン樹脂の含浸が行われていた
しかしながら、車載用電子部品としては、非常にきびし
い耐y:J境性が要求される傾向にあり、耐ヒートサイ
クル性だけでなく、優れた耐湿特性が要求されている。
例えば、121℃、2気圧、湿度95%RH下でのブレ
ツシ1rクツカ−試験における電気、構造及び外観特性
の保障が必要である。
このような高い耐ヒートサイクル性と、高い耐湿特性を
兼ね備えた外装材料に対する要求に対して、エポキシ樹
脂では高ヒートサイクル性を保障することが困難であり
、フェノール樹脂では高温高湿下に83 Gノる耐湿性
を保V5することが困難である。
なぜならば、ワックス、シリコンは高温になると軟化、
溶融するため完全な含浸材料の充填構造を保持できなく
なる。また、液状エポキシを含浸する場合、含浸を完全
に行うとエポキシ樹脂とフェノール樹脂との膨張係数の
差によりヒートサイクルでマイクロクランクが発生する
危険性があり、耐湿性がかえって保障できなくなるなど
の問題をかかえていた。
(発明が解決しようとする課題) 以上のように、従来−膜化している外装構造を有づる電
子部品は、耐ヒートサイクル性及び耐湿性の両特性を同
時に満足するものとはならず、有効な対策が望ま1れて
いた。
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、耐ヒート
サイクル性及び耐湿性に優れ、使用中の特性劣化要因を
解消できる外装構造を有する電子部品を提供することを
目的とするものである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明による電子部品は、基本外装構造がフェノール樹
脂層からなり、このフェノール樹脂層中に存在する連続
した気孔内をシリカ又はシリカを主成分とする金属アル
コキシドより生成されたガラスで閉塞したことを特徴と
するものである。
(作 用) 以上の構成によれば、金属アルコキシドより生成された
ガラス質によってフェノール樹脂層中に存在する気孔内
がふさがれるため、部品素体と外気とは完全に遮断され
、内部への水分やガスの侵入が皆無となり、また、基本
外装がフェノール樹脂であるため、フェノール樹脂のも
つ耐ヒートサイクル性がそのまま維持でき、さらに、ガ
ラス質がシリカを主成分としたものであるため、耐薬品
性に優れたものとなる。
(実施例) 以下本発明の一実施例につき、バリスタを例示して説明
する。すなわち、第1図に示すように例えば酸化亜鉛を
主成分とし、他に数種類の金属酸化物を添加混合してな
るセラミック粉末を直径20am、厚さ1.0履に成形
焼結した円板状のバリスタ素体1の人害両面に外周辺を
残して直径18#の電極2を形成し、この電極2にリー
ド線3を取着した後、S!02を主成分とする無機フィ
ラーを60〜70wt%、樹脂分を5〜10wt%、溶
剤を20〜30wt%。
顔料その他を10〜20wt%を含み、粘度を10〜1
5ボイズに調整したフェノール樹脂液に前記バリスタ素
体1をデツプし外装としてのフェノール樹脂層4を形成
する。
なお、フェノール樹脂層4形成過程のコーテング条件は
、1回目のデツプ引き上げ後、2分間室温乾燥を行い、
溶剤成分を乾燥させた後、2回目のデツプを行い所定の
厚さにコーテングする。その後16時間の室温放置乾燥
を行い、最後に150℃30分で加熱硬化を行い、フェ
ノール樹脂F?14が完成される。
次に、粘度70センチボイスに調整したシリカ又はシリ
カを主成分としてアルミ、鉄、シリコンなどを添加した
金属アルコキシドガラス溶液中に5分間前記フェノール
樹脂層4をデツプした後、引き上げ、室温中で30分間
乾燥を行った後、150℃30分の加熱を行い、前記フ
ェノール樹脂層4上にガラス膜5を形成させてなるもの
である。
以上の構成になる外装構造を備えたバリスタによれば、
第2図に示すようにフェノール樹脂層4に存在する連続
した気孔6内にガラス膜5が形成され、このガラス膜5
によって気孔6がふさがれ、バリスタ素体1が外気と完
全に遮断され、バリスタ素体1への水分やガスの侵入が
皆無となり優れた耐湿特性を得ることができる。
また上記バリスタは、基本外装構造がフェノール樹脂層
4であり、フェノール樹脂のもつ耐ヒートサイクル性に
優れた内容と相まって、車載用など非常にきびしい耐環
境性が要求される条件下の使用においても開時性劣化の
ない利点を有する。
次に、本発明の具体的な効果について実験結果に基づき
説明する。
すなわち、前述の実施例にて述べた本発明(A)、粉末
エポキシ樹脂外装を施した従来例(B)、エポキシ樹脂
含浸フェノール樹脂外装を施した従来例(C)、ワック
ス含浸フェノール樹脂外装を施した従来例(D)それぞ
れのバリスタについて耐ヒートサイクル試験(ヒートサ
イクル回数に対する外装剥離不良)及びプレッシャクツ
カー試験(時間に対する電圧変化率)を行った結果、第
4図及び第5図に示すとJ3りであった。
なお、ヒートサイクル試験は、−50℃。
+150℃各50分を1サイクルとして行い、プレッシ
ャクツカー試験は、123℃、2気圧。
95%RHの条件下で行った。
第4図及び第5図から明らかなように、従来例(B)は
、優れた耐湿特性を有するものの、耐ヒートサイクル性
がI4i端に悪い。従来例(C)はヒートサイクル回数
200回を越えた時点からクラック発生が多くなり、か
つ時間の経過とともに電圧変化率が大きくなる。
また、従来例(D)は優れた耐ヒートサイクル性を有す
るものの耐湿特性が悪い。
これに対して本発明(A)は、優れた耐ヒートサイクル
性と耐湿特性を1にね備えた効果が得られることがわか
る。
なお、上記実施例では、フェノール樹脂層4に存在する
連続した気孔6内にガラス膜5を形成したものを例示し
て説明したが、前述した金属アルコキシドガラス溶液へ
の含浸−乾燥の操作を数回繰返し、第3図に示すように
フェノール樹脂層4に存在する気孔6内にガラス7を完
全に充填した構造としてもよい。
また、上記実施例では、バリスタを例示して説明したが
、他の電子部品、例えばセラミックコンデンサ、焼結素
体格成となる固体電解コンデンナ及びアルミナ基板など
に適用できることは言うまでもない。
[発明の効果1 本発明によれば、耐ヒートサイクル性及び耐湿特性にゆ
れ、非常にきびしい耐環境性が要求される条件下の使用
においても、開時性劣化のない実用的価値の高い電子部
品を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の一実施例に係り、第1図は
バリスタを示す一部切欠断面正面図、第2図は第1図イ
部拡大図、第3図は第1図イ部に該当する他の実施例に
係る拡大図、第4図はヒートサイクル回数−累積不良率
曲線図、第5図は時間−電圧変化率特性曲線図である。 1・・・・・・バリスタ索体 2・・・・・・電極 3・・・・・・リード線 4・・・・・・フェノール樹脂層 5・・・・・・ガラス膜 6・・・・・・気孔 7・・・・・・ガラス 特  許  出  願  人 マル]ン電子株式会社 バリスタの一部切欠断面正面図 他の実施例のイ部拡大図 第3図 ヒートサイクル回数 (回) 第  4  図 R間(il) 第  5  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基本外装構造がフェノール樹脂層からなり、このフェノ
    ール樹脂層中に存在する連続した気孔内をシリカ又はシ
    リカを主成分とする金属アルコキシドより生成されたガ
    ラスで閉塞したことを特徴とする電子部品。
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