JPH01305340A - 表裏判別方法および装置 - Google Patents
表裏判別方法および装置Info
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- JPH01305340A JPH01305340A JP63136891A JP13689188A JPH01305340A JP H01305340 A JPH01305340 A JP H01305340A JP 63136891 A JP63136891 A JP 63136891A JP 13689188 A JP13689188 A JP 13689188A JP H01305340 A JPH01305340 A JP H01305340A
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- G11B23/00—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
- G11B23/02—Containers; Storing means both adapted to cooperate with the recording or reproducing means
- G11B23/113—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of magazines or cassettes, e.g. initial loading into container
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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-
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- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
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- G11B5/78—Tape carriers
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、バックコート型の長尺の磁気記録媒体をハブ
等に巻き取る際に、磁気記録媒体が裏返しになることな
く、正しくハブ等に巻回されているか否かを検査するた
めの表裏判別方法および装置に関するものである。
等に巻き取る際に、磁気記録媒体が裏返しになることな
く、正しくハブ等に巻回されているか否かを検査するた
めの表裏判別方法および装置に関するものである。
(従来の技術)
近年、磁気テープの磁性層形成面とは反対の面にカーボ
ン層等のバックコート層を塗布してなる高密度記録の磁
気テープが知られている。
ン層等のバックコート層を塗布してなる高密度記録の磁
気テープが知られている。
このような磁気テープは通常の磁気テープと同様、製造
工程において、商品として販売される磁気テープの2〜
50倍程度の長さのテープが巻回されている長尺ハブか
ら、使用目的に応じて所定長のテープを製品ハブに巻回
し直すようにしている。
工程において、商品として販売される磁気テープの2〜
50倍程度の長さのテープが巻回されている長尺ハブか
ら、使用目的に応じて所定長のテープを製品ハブに巻回
し直すようにしている。
しかし、このようなテープは厚みが3〜50μm程度と
極めて薄くてたわみ易く、またテープの巾が3〜51f
M1程度と小さいため、テープが走行中に張力変動ある
いは蛇行運動をおこすとテープの表裏が容易に反転して
途中から表裏が逆になって巻き取られるおそれがある。
極めて薄くてたわみ易く、またテープの巾が3〜51f
M1程度と小さいため、テープが走行中に張力変動ある
いは蛇行運動をおこすとテープの表裏が容易に反転して
途中から表裏が逆になって巻き取られるおそれがある。
また、テープの表裏が途中で反転するというような状況
が発生しなくても、もともとテープが長尺ハブに裏巻き
されているような場合には、製品ハブにも裏巻き状にテ
ープが巻回されてしまう。
が発生しなくても、もともとテープが長尺ハブに裏巻き
されているような場合には、製品ハブにも裏巻き状にテ
ープが巻回されてしまう。
そこで、このようにテープの一部もしくは全部について
表裏が逆に巻回された不良テープが商品として出荷され
るのを防止するため、このテープ巻回工程において、テ
ープが裏返しになることなく正しく製品ハブに巻回され
るか否かを検査する必要がある。
表裏が逆に巻回された不良テープが商品として出荷され
るのを防止するため、このテープ巻回工程において、テ
ープが裏返しになることなく正しく製品ハブに巻回され
るか否かを検査する必要がある。
このような検査を行なう際、高速走行しているテープに
対し、例えばテープの片面側からテープ表面に光を照射
し、この照射された光の反射光の光量差によってテープ
表裏を判別するように装置があれば、高速かつ簡単にテ
ープの全面検査を行なうことができるので便利であるが
、テープの表面と裏面との反射光の光量比は1.5倍程
度と小さく、特にテープを走行させた場合はテープが上
下に振動することから、安定した検査を行なうことは困
難とされていた。
対し、例えばテープの片面側からテープ表面に光を照射
し、この照射された光の反射光の光量差によってテープ
表裏を判別するように装置があれば、高速かつ簡単にテ
ープの全面検査を行なうことができるので便利であるが
、テープの表面と裏面との反射光の光量比は1.5倍程
度と小さく、特にテープを走行させた場合はテープが上
下に振動することから、安定した検査を行なうことは困
難とされていた。
このため、従来の磁気テープ表裏判別装置は、例えばテ
ープ静止状態でテープの始端および終端について一方の
面(例えば外側の面)が表裏いずれであるかを判別する
第1の検出手段と、テープ走行中に、テープの婦長を継
続的に測定してテープが反転したか否かをJi定する第
2の検出手段とを備えるようにし、雨検出手段からの検
査結果のうちいずれかが不良であれば不良品として処理
するようにしていた(実開昭57−138048号公報
)。
ープ静止状態でテープの始端および終端について一方の
面(例えば外側の面)が表裏いずれであるかを判別する
第1の検出手段と、テープ走行中に、テープの婦長を継
続的に測定してテープが反転したか否かをJi定する第
2の検出手段とを備えるようにし、雨検出手段からの検
査結果のうちいずれかが不良であれば不良品として処理
するようにしていた(実開昭57−138048号公報
)。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上述したような従来の技術は2種以上の
検出手段が8撃となるため装置が大型化し、製造コスト
が高くなり、さらにメンテナンスも面倒であった。
検出手段が8撃となるため装置が大型化し、製造コスト
が高くなり、さらにメンテナンスも面倒であった。
また、上記第2の検出手段によっては検出部分以外でテ
ープが反転した場合に、その反転を検出することができ
なかった。
ープが反転した場合に、その反転を検出することができ
なかった。
さらに、バックコート型磁気テープは磁性体塗布面とバ
ックコート層塗布面の反射光の光量比が余り大きくなら
ないので、静止状態においても反射光検出による精度の
よい表裏判別が困難であり、上記第1の検出手段として
反射光量検出器を用いた場合には誤判定を生じることが
あった。
ックコート層塗布面の反射光の光量比が余り大きくなら
ないので、静止状態においても反射光検出による精度の
よい表裏判別が困難であり、上記第1の検出手段として
反射光量検出器を用いた場合には誤判定を生じることが
あった。
本発明は上記事情に鑑みなされたものであり、磁気テー
プの表裏を精度よく判別して、テープの裏返り、裏巻き
等を検査するとともに、装置の小型化、製造コストの低
廉化およびメンテナンスの省力化を達成し得る表裏判別
方法および装置を提供することを目的とするものである
。
プの表裏を精度よく判別して、テープの裏返り、裏巻き
等を検査するとともに、装置の小型化、製造コストの低
廉化およびメンテナンスの省力化を達成し得る表裏判別
方法および装置を提供することを目的とするものである
。
(課題を解決するための手段)
本発明の表裏判別方法は、長尺の基体の一方の面に磁性
体を、他方の面にこの磁性体とは光異方性の異なる物質
を塗布されてなる磁気記録媒体の表面に光ビームを照射
し、この照射された光ビームの、記録媒体からの反射光
を偏光器に入射させて所定方向に振動する直線偏光のみ
透過させ、この透過した直線偏光の光量のレベルに基づ
いて記録媒体の表裏の判定をして記録媒体の裏返りや裏
巻き等を検査することを特徴とするものである。
体を、他方の面にこの磁性体とは光異方性の異なる物質
を塗布されてなる磁気記録媒体の表面に光ビームを照射
し、この照射された光ビームの、記録媒体からの反射光
を偏光器に入射させて所定方向に振動する直線偏光のみ
透過させ、この透過した直線偏光の光量のレベルに基づ
いて記録媒体の表裏の判定をして記録媒体の裏返りや裏
巻き等を検査することを特徴とするものである。
また、本発明の表裏判別装置は、長尺の基体の一方の面
に磁性体を、他方の面にこの磁性体とは光異方性の異な
る物質を塗布されてなる磁気記録媒体に光照射手段によ
り光ビームを照射して、この光ビームの記録媒体からの
反射光を偏光手段に入射させ、この偏光手段を透過した
直線偏光を光検出手段により受光してこの受光量に応じ
た電気信号を出力し、この電気信号のレベルと基亭値を
比較手段により比較してその比較結果を判定信号として
出力するようにしたことを特徴とするものである。
に磁性体を、他方の面にこの磁性体とは光異方性の異な
る物質を塗布されてなる磁気記録媒体に光照射手段によ
り光ビームを照射して、この光ビームの記録媒体からの
反射光を偏光手段に入射させ、この偏光手段を透過した
直線偏光を光検出手段により受光してこの受光量に応じ
た電気信号を出力し、この電気信号のレベルと基亭値を
比較手段により比較してその比較結果を判定信号として
出力するようにしたことを特徴とするものである。
本発明に係る方法および装置は、光ビームを磁気テープ
等の表面に照射した場合、この表面から反射される光は
偏光となり、しかも偏光面の回転角は磁性層側表面から
の反射光とバックコート層側表面からの反射光により異
なるという事実に4目してなされたものである。
等の表面に照射した場合、この表面から反射される光は
偏光となり、しかも偏光面の回転角は磁性層側表面から
の反射光とバックコート層側表面からの反射光により異
なるという事実に4目してなされたものである。
なお、上記「塗布」にはいわゆる塗布の他蒸む、スパッ
タ等の層形成行為を含む。
タ等の層形成行為を含む。
(作 用)
上記構成によれば、長尺磁気記録媒体の磁性層側表面と
バックコート層側表面から反射された光ビームは各々偏
光となり、しかも両表面から反射された光ビームの偏光
面の回転角の大きさが異なることを利用し、これらの磁
気記録媒体表面からの反射ビームを偏光器に入射せしめ
、所定方向に振動する直線偏光のみを透過せしめて透過
した直線偏光の光量のレベルを検出し得るようにしてい
るので、そのレベルの大きさから上記反射された光ビー
ムが磁性層表面に照射さnたちのか、バックコート層表
面に照射されたものかを判別することが可能となる。
バックコート層側表面から反射された光ビームは各々偏
光となり、しかも両表面から反射された光ビームの偏光
面の回転角の大きさが異なることを利用し、これらの磁
気記録媒体表面からの反射ビームを偏光器に入射せしめ
、所定方向に振動する直線偏光のみを透過せしめて透過
した直線偏光の光量のレベルを検出し得るようにしてい
るので、そのレベルの大きさから上記反射された光ビー
ムが磁性層表面に照射さnたちのか、バックコート層表
面に照射されたものかを判別することが可能となる。
なお、磁気記録媒体表面に照射する光ビームを偏光とす
れば、検光子の回転角度を、1節することにより上記両
層からの反射ビームの直線偏光の光量比を大きくするこ
とができるので好ましい。
れば、検光子の回転角度を、1節することにより上記両
層からの反射ビームの直線偏光の光量比を大きくするこ
とができるので好ましい。
(実 施 例)
以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
第1図はワインダニ程において使用される、本発明の一
実施例の表裏判別装置を示すものであり、長尺ハブ1を
矢印A方向に、製品ハブ2を矢印B方向にそれぞれ回転
せしめてビデオ用のバックコート型磁気テープ3を長尺
ハブ1から製品ハブ2へ高速走行せしめる磁気テープ走
行手段(図示せず)と、走行する磁気テープ3の表面に
向けて先ビーム4を照射する光ビーム照射手段5と、こ
の先ビーム照射手段らと磁気テープ3表面の間に配され
、光ビーム4のうち振動面が入射面と一致するP偏光4
aのみを通過せしめる偏光板6と、磁気テープ3の表面
から反射された光のうちP偏光を遮光するように偏光板
6と互いに主面(入射光線と結晶先軸を含む面)を直角
に配された偏光板7と、偏光板7を透過した光を受光し
、その受光量に応じた電気信号を出力する光検出手段8
と、この光検出手段8からの電気信号のレベルを基準値
と比較し、その比較結果を判定信号として出力する判定
手段9とからなるものである。また磁気テープ3の走行
方向を変える位置において各々ガイドローラlOが配設
されている。
実施例の表裏判別装置を示すものであり、長尺ハブ1を
矢印A方向に、製品ハブ2を矢印B方向にそれぞれ回転
せしめてビデオ用のバックコート型磁気テープ3を長尺
ハブ1から製品ハブ2へ高速走行せしめる磁気テープ走
行手段(図示せず)と、走行する磁気テープ3の表面に
向けて先ビーム4を照射する光ビーム照射手段5と、こ
の先ビーム照射手段らと磁気テープ3表面の間に配され
、光ビーム4のうち振動面が入射面と一致するP偏光4
aのみを通過せしめる偏光板6と、磁気テープ3の表面
から反射された光のうちP偏光を遮光するように偏光板
6と互いに主面(入射光線と結晶先軸を含む面)を直角
に配された偏光板7と、偏光板7を透過した光を受光し
、その受光量に応じた電気信号を出力する光検出手段8
と、この光検出手段8からの電気信号のレベルを基準値
と比較し、その比較結果を判定信号として出力する判定
手段9とからなるものである。また磁気テープ3の走行
方向を変える位置において各々ガイドローラlOが配設
されている。
上記バックコート型磁気テープは長尺の透明プラスチッ
クベースの一方の面に磁性層を、他方の面にバックコー
ト層を形成したもので、磁性層は例えばFeおよび塩化
ビニルを主成分とした層であり、バックコート層は例え
ばカーボンやニトロセルロースを主成分とした層である
。この磁性層とバックコート層は光ビームを反射する際
に、両者ともその光ビームを偏光とするという光異方性
を有するが、その光異方性の大きさが異なり、各面から
反射された偏光の偏光面の回転角の大きさが異なる。こ
のような光異方性の大きさの違いは主に両層の屈折率n
と光吸収係数kが異なることによると考えられる。例え
ば磁性層の屈折率nが1.88、光吸収係数kが0.8
1で大きい値を示すのに対し、例えばバックコート層の
屈折率nは1.29、光吸収係数には0.45と小さい
値を示す。なお、本実施例装置においては両層の屈折率
nの差が0.2以上であれば両層の判別が可能である。
クベースの一方の面に磁性層を、他方の面にバックコー
ト層を形成したもので、磁性層は例えばFeおよび塩化
ビニルを主成分とした層であり、バックコート層は例え
ばカーボンやニトロセルロースを主成分とした層である
。この磁性層とバックコート層は光ビームを反射する際
に、両者ともその光ビームを偏光とするという光異方性
を有するが、その光異方性の大きさが異なり、各面から
反射された偏光の偏光面の回転角の大きさが異なる。こ
のような光異方性の大きさの違いは主に両層の屈折率n
と光吸収係数kが異なることによると考えられる。例え
ば磁性層の屈折率nが1.88、光吸収係数kが0.8
1で大きい値を示すのに対し、例えばバックコート層の
屈折率nは1.29、光吸収係数には0.45と小さい
値を示す。なお、本実施例装置においては両層の屈折率
nの差が0.2以上であれば両層の判別が可能である。
また、上記磁気テープ走行手段としては、一定の張力で
磁気テープ3を走行させ得るものであればよい。また、
光ビーム照射手段5としては、例えば白色ランプ、ハロ
ゲンランプあるいは赤色LED等を使用する。また、偏
光板6.7としては、例えばシート状ダイクロイック偏
光板を使用する。
磁気テープ3を走行させ得るものであればよい。また、
光ビーム照射手段5としては、例えば白色ランプ、ハロ
ゲンランプあるいは赤色LED等を使用する。また、偏
光板6.7としては、例えばシート状ダイクロイック偏
光板を使用する。
さらに、光検出手段8としては、例えはガリウムヒ素フ
ォトダイオードを使用する。
ォトダイオードを使用する。
ところで、P偏光4aの磁気テープ3への入射角θ1お
よび反射角θ2は、光検出手段8が正反射光を受光し得
るよう同一角度とし、好ましくは、P偏光がベース露出
面の表面で最も反射されにくいブルースタ角θBの付近
に設定する。空気の屈折率を1.0、ベースの屈折率を
1.5とすれば、ブルースタ角θBは第2図に示すよう
に56″程度となる。 なお、P偏光4の照射位置とし
て、ガイドローラ10に近い位置に設定すれば、テープ
のばたつきやテープ面の変形、カール等を小さくするこ
とができるので好ましい。また、判定手段としてはコン
パレータを使用すればよく、光検出手段8からの受光量
に応じたレベルの電圧信号を、予め設定しておいた基L
$雷電圧値と比較し、例えば入力端子信号のレベルの方
が大きければHレベル信号を、逆に小さければLレベル
信号を判定信号として出力し得るものであればよい。な
お、光検出手段8からの出力信号、および上記判定信号
の形態とj−ではアナログ信号、デジタル信号のいずれ
であってもよく、その信号形態に応じて判定手段9の入
出力部の構成を変更すればよい。なお、判定信号はLE
D等の表示手段に入力せしめてオペレータが一目でその
結果を確認し得るようにしてもよいし、例えば判定信号
に基づいて磁気テープ3を良品と不良品のいずれかに選
別する自動選別手段の制御回路に入力せしめてもよい。
よび反射角θ2は、光検出手段8が正反射光を受光し得
るよう同一角度とし、好ましくは、P偏光がベース露出
面の表面で最も反射されにくいブルースタ角θBの付近
に設定する。空気の屈折率を1.0、ベースの屈折率を
1.5とすれば、ブルースタ角θBは第2図に示すよう
に56″程度となる。 なお、P偏光4の照射位置とし
て、ガイドローラ10に近い位置に設定すれば、テープ
のばたつきやテープ面の変形、カール等を小さくするこ
とができるので好ましい。また、判定手段としてはコン
パレータを使用すればよく、光検出手段8からの受光量
に応じたレベルの電圧信号を、予め設定しておいた基L
$雷電圧値と比較し、例えば入力端子信号のレベルの方
が大きければHレベル信号を、逆に小さければLレベル
信号を判定信号として出力し得るものであればよい。な
お、光検出手段8からの出力信号、および上記判定信号
の形態とj−ではアナログ信号、デジタル信号のいずれ
であってもよく、その信号形態に応じて判定手段9の入
出力部の構成を変更すればよい。なお、判定信号はLE
D等の表示手段に入力せしめてオペレータが一目でその
結果を確認し得るようにしてもよいし、例えば判定信号
に基づいて磁気テープ3を良品と不良品のいずれかに選
別する自動選別手段の制御回路に入力せしめてもよい。
次に上記装置において、磁気テープ3上に照射されたP
偏光の反射する様子を第2図を用いて説明する。
偏光の反射する様子を第2図を用いて説明する。
第2図に示すように、P偏光4aが磁性層11側に照射
されたとき、P(I2光4aはこの磁性層11の表面に
より反射される。この磁性層11から反射された偏光は
偏光面が大さ(回転し、P偏光成分とS偏光成分を有す
る楕円偏光となる。一方、磁気テープ3が裏返しとなっ
ていて上記P偏光4aがカーボン層(バックコート層)
12に照射されたとき、このカーボン層12から反射
された偏光は偏光面がほとんど回転せず、P偏光に近い
楕円偏光となる。
されたとき、P(I2光4aはこの磁性層11の表面に
より反射される。この磁性層11から反射された偏光は
偏光面が大さ(回転し、P偏光成分とS偏光成分を有す
る楕円偏光となる。一方、磁気テープ3が裏返しとなっ
ていて上記P偏光4aがカーボン層(バックコート層)
12に照射されたとき、このカーボン層12から反射
された偏光は偏光面がほとんど回転せず、P偏光に近い
楕円偏光となる。
また、この検光子7がその主面が偏光子6の主面と直角
となるように、すなわち、P偏光がそのまま透過し得な
いように配されているので、カーボン層12からの反射
光はほとんどこの検光子7を通過できないが、磁性層1
1からの反射光は、そのS偏光成分がある程度大きいた
めこの検光子7を通過する光ビーム光量はある程度の大
きさを有する。
となるように、すなわち、P偏光がそのまま透過し得な
いように配されているので、カーボン層12からの反射
光はほとんどこの検光子7を通過できないが、磁性層1
1からの反射光は、そのS偏光成分がある程度大きいた
めこの検光子7を通過する光ビーム光量はある程度の大
きさを有する。
このため、P偏光4aが磁性層ll側に照射された場合
と、カーボン層12側に照射された場合では光検出手段
8により検出される光量レベルが大きく異なる。このカ
ーボン層12側に照射された場合の該検出光量に対する
磁性層11側に照射された場合の該検出光量の比Aは、
先ビームを軸として検光子7を回転させると、その回転
に伴ない変化する。
と、カーボン層12側に照射された場合では光検出手段
8により検出される光量レベルが大きく異なる。このカ
ーボン層12側に照射された場合の該検出光量に対する
磁性層11側に照射された場合の該検出光量の比Aは、
先ビームを軸として検光子7を回転させると、その回転
に伴ない変化する。
第3図はこの回転角に対する比Aの値を示すものである
。なお、比Aが最小となる角度を180 ’とし、偏光
子6の角度は比Aが最大となるように検出毎に微調整し
た。なお、入射角θ1はブルースタ角に略近い55″に
設定した。この第3図に示すように、本実施例において
は検光子回転角を調整することにより比Aを大きくする
ことができ、確実に表裏判別し得る限界出力比3以上の
出力比を得ることができる。
。なお、比Aが最小となる角度を180 ’とし、偏光
子6の角度は比Aが最大となるように検出毎に微調整し
た。なお、入射角θ1はブルースタ角に略近い55″に
設定した。この第3図に示すように、本実施例において
は検光子回転角を調整することにより比Aを大きくする
ことができ、確実に表裏判別し得る限界出力比3以上の
出力比を得ることができる。
さらに、上述した実施例では偏光子6を設けているが、
これを取りはずしても磁性層11およびカーボン層12
が偏光子の役目をするので上述したような判別を行なう
ことは可能である。なお、前述した第3図に示すような
実験を偏光子6を取りはずした場合についても行なうと
第4図に示すような結果が得られた。すなわち、この場
合には最適出力比が得られる角度の範囲が前述1.た偏
光子6を配設した場合に比べて狭くなっている。なお、
この第4図において比Aが最大となる角度を1800と
した。
これを取りはずしても磁性層11およびカーボン層12
が偏光子の役目をするので上述したような判別を行なう
ことは可能である。なお、前述した第3図に示すような
実験を偏光子6を取りはずした場合についても行なうと
第4図に示すような結果が得られた。すなわち、この場
合には最適出力比が得られる角度の範囲が前述1.た偏
光子6を配設した場合に比べて狭くなっている。なお、
この第4図において比Aが最大となる角度を1800と
した。
さらに、上記検査対象と1−では磁気テープのみならず
、例えば研磨テープ等にも応用することかり能である。
、例えば研磨テープ等にも応用することかり能である。
また、先ビーム照射手段および光検出f段としては必ず
しも上記実施例のものに限られるものではなく、その他
種々のタイプのものを使用することができる。
しも上記実施例のものに限られるものではなく、その他
種々のタイプのものを使用することができる。
また、光検出手段は検出器に限らず人間の目も含むもの
とする。
とする。
また、本発明は必ずしも長尺テープのみに検出対象が限
られるものではなく、本発明の原理は長尺テープの他、
例えば11ノ広シート等の表裏の検査にも適用できるも
のである。
られるものではなく、本発明の原理は長尺テープの他、
例えば11ノ広シート等の表裏の検査にも適用できるも
のである。
(発明の効果)
本発明の表裏判別方法および装置によれば、磁気記録媒
体の一方の面に形成された磁性層と他方の面に形成され
たバックコート層から反射される光ビームが偏光となり
その偏光面の回転角の大きさが異なることを利用し、磁
気記録媒体に照射した光ビームを偏光子に入射せしめそ
の偏光子を透過した直線偏光の光量レベルを検出してい
るので、そのレベルの大小により磁気記録媒体が正常に
走行しているが裏返って走行しているかの表裏判別を行
なうことが可能となる。しかも簡単な装置で上記判別が
可能であるから装置の小型化製造コストの低廉価、メン
テナンスの省力化を図ることができる。
体の一方の面に形成された磁性層と他方の面に形成され
たバックコート層から反射される光ビームが偏光となり
その偏光面の回転角の大きさが異なることを利用し、磁
気記録媒体に照射した光ビームを偏光子に入射せしめそ
の偏光子を透過した直線偏光の光量レベルを検出してい
るので、そのレベルの大小により磁気記録媒体が正常に
走行しているが裏返って走行しているかの表裏判別を行
なうことが可能となる。しかも簡単な装置で上記判別が
可能であるから装置の小型化製造コストの低廉価、メン
テナンスの省力化を図ることができる。
第1図は本発明に係る表裏判別装置の一実施例を示す概
略図、第2図は第1図の装置の一部を説明するための概
略図、第3図および第4図は、第1図に示す検光子の回
転に伴なう光ビーム検出手段からの出力の比の変化を示
すグラフである。 3・・・磁気テープ 4・・・光ビーム4a・・
・P 偏 光 5・・・光ビーム照射手段6・・
・偏光子(偏光器、偏光手段) 7・・・検光子 8・・・光検出手段 9・・・判定手段第1図 第2図 第3図 攻を謬め回転角(F’J
略図、第2図は第1図の装置の一部を説明するための概
略図、第3図および第4図は、第1図に示す検光子の回
転に伴なう光ビーム検出手段からの出力の比の変化を示
すグラフである。 3・・・磁気テープ 4・・・光ビーム4a・・
・P 偏 光 5・・・光ビーム照射手段6・・
・偏光子(偏光器、偏光手段) 7・・・検光子 8・・・光検出手段 9・・・判定手段第1図 第2図 第3図 攻を謬め回転角(F’J
Claims (2)
- (1)長尺の基体の一方の面に磁性体を、他方の面にこ
の磁性体とは光異方性の異なる物質を塗布されてなるバ
ックコート型磁気記録媒体の表面に光ビームを照射し、 この照射された光ビームの、前記記録媒体からの反射光
を偏光器に入射せしめて、所定方向に振動する直線偏光
のみ透過せしめ、 この透過した直線偏光の光量のレベルに基づいて前記磁
気記録媒体の表裏の判定を行なうことを特徴とする表裏
判別方法。 - (2)長尺の基体の一方の面に磁性体を、他方の面にこ
の磁性体とは光異方性の異なる物質を塗布されてなるバ
ックコート型磁気記録媒体に光ビームを照射する光照射
手段と、 前記照射された光ビームの、前記記録媒体からの反射光
が入射される位置に配され、該反射光のうち所定方向に
振動する直線偏光のみ透過せしめる偏光手段と、 該偏光手段により透過された直線偏光を受光して該直線
偏光の光量の大きさに応じた電気信号を出力する光検出
手段と、 該光検出手段に接続され、この光検出手段から出力され
た電気信号のレベルを基準値と比較して、その比較結果
を判定信号として出力する判定手段からなることを特徴
とする表裏判別装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63136891A JPH01305340A (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 表裏判別方法および装置 |
| US07/360,637 US5038030A (en) | 1988-06-03 | 1989-06-02 | Surface identification for back-coated magnetic recording medium |
| DE3918114A DE3918114A1 (de) | 1988-06-03 | 1989-06-02 | Verfahren und vorrichtung zur identifizierung einer oberflaeche eines auf der rueckseite beschichteten, magnetischen aufzeichnungsmediums |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63136891A JPH01305340A (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 表裏判別方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01305340A true JPH01305340A (ja) | 1989-12-08 |
Family
ID=15185971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63136891A Pending JPH01305340A (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 表裏判別方法および装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5038030A (ja) |
| JP (1) | JPH01305340A (ja) |
| DE (1) | DE3918114A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0452559A (ja) * | 1990-06-20 | 1992-02-20 | Omron Corp | 空間フィルタ式速度計測装置 |
| US20030054203A1 (en) * | 1997-10-22 | 2003-03-20 | Quantum Corporation, A California Corporation | Magnetic tape |
| US6084740A (en) * | 1997-12-01 | 2000-07-04 | Storage Technology Corporation | Optical servo system for a tape drive |
| US7029726B1 (en) | 1999-07-27 | 2006-04-18 | Quantum Corporation | Method for forming a servo pattern on a magnetic tape |
| US7153366B1 (en) | 1998-03-24 | 2006-12-26 | Quantum Corporation | Systems and method for forming a servo pattern on a magnetic tape |
| GB2335785B (en) | 1998-03-24 | 2002-09-18 | Quantum Corp | Multi-channel magnetic tape system having optical tracking servo |
| AU2441099A (en) | 1999-02-16 | 2000-09-04 | Quantum Corporation | Method of writing servo signal on magnetic tape |
| WO2000049605A1 (en) | 1999-02-17 | 2000-08-24 | Quantum Corporation | Method of writing servo signal on magnetic tape |
| US6961200B2 (en) * | 1999-07-27 | 2005-11-01 | Quantum Corporation | Optical servo track identification on tape storage media |
| US20030189782A1 (en) * | 2002-04-04 | 2003-10-09 | Storage Technology Corporation | Optical servo system for a tape drive |
| US6558774B1 (en) | 1999-08-17 | 2003-05-06 | Quantum Corporation | Multiple-layer backcoating for magnetic tape |
| DE19948752A1 (de) * | 1999-10-09 | 2001-05-10 | Herberts Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung von Überzugsschichten |
| US6940676B1 (en) | 2000-06-07 | 2005-09-06 | Quantum Corporation | Triple push-pull optical tracking system |
| US6940681B2 (en) | 2001-08-20 | 2005-09-06 | Quantum Corporation | Optical to magnetic alignment in magnetic tape system |
| US7023650B2 (en) | 2001-11-07 | 2006-04-04 | Quantum Corporation | Optical sensor to recording head alignment |
| US6980390B2 (en) | 2003-02-05 | 2005-12-27 | Quantum Corporation | Magnetic media with embedded optical servo tracks |
| US7187515B2 (en) | 2003-02-05 | 2007-03-06 | Quantum Corporation | Method and system for tracking magnetic media with embedded optical servo tracks |
| DE102007043408A1 (de) * | 2007-09-12 | 2009-03-19 | Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Detektion von Trägerfolienresten oder Trägerfehlstellen sowie Applikationsmaschine |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59147243A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-23 | Teruo Fujii | 複合材料の識別方法及び装置 |
| JPS60135843A (ja) * | 1983-12-26 | 1985-07-19 | Ryowa Denshi Kk | 表面識別方法および装置 |
| JPS6134442A (ja) * | 1984-05-24 | 1986-02-18 | サガクス・インストルメント・アクチエボラ−グ | 試料表面ないしは試料の表面膜層の物理的特性を検査するためのエリプソメトリ測定法とその装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2953304C2 (de) * | 1978-11-01 | 1985-08-08 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Vorrichtung zum Lesen von magnetisch gespeicherter Information |
-
1988
- 1988-06-03 JP JP63136891A patent/JPH01305340A/ja active Pending
-
1989
- 1989-06-02 DE DE3918114A patent/DE3918114A1/de not_active Withdrawn
- 1989-06-02 US US07/360,637 patent/US5038030A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59147243A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-23 | Teruo Fujii | 複合材料の識別方法及び装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3918114A1 (de) | 1989-12-14 |
| US5038030A (en) | 1991-08-06 |
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