JPH01307726A - ビームスプリッタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は光学部品の構成、殊に光ディスクの情報の記録
、読堰シ装置に用いられる偏光素子の構成に関する。

（従来技術） 近年、情報の高度化及び大量化に伴ない各種データの保
管は磁気媒体による７０ッピーディスク、磁気テープ及
び光学系記録媒体である光ディスク等によシ行なわれ、
これらのうち光ディスクは記憶容量が他の記憶媒体の容
量に比べ極めて大きい為コンパクトディスクをはじめと
する各種記憶媒体として普及している。

第５図（ａｔは従来用いられている光デイスク記録装置
の光学部品の構成を示すブロック図である。

同図に於いて１はレーザー光源であって、該レーザー光
源よシ出射した断面が楕円形の光束はビーム整形プリズ
ム２を透過することＫよ多断面が円形の光束となシ次段
の偏光ビームスプリッタ３に入射し、該入射光の一部は
前記偏光ビームスプリッタ３の接合面で反射することに
よシモニター用受光器４に入射する。

−万、前記偏光ビームスプリッタ３を透過した大部分の
Ｐ偏光は次段の１７４波長板５を透過することによシ円
偏光となり光ディスク６に照射する。

更に前記元ディスクに記憶されている情報に基づき反射
し、該反射した円偏光は再び１／４波長板５を迅過しＳ
偏光となる。

従って次段の偏光ビームスプリッタ３の接合面にて反射
し、読取り若しくはサーボ用受光器７に入射し、前記デ
ィスクの情報を読取るものである。

このように構成した光学系に於いて前述したモニター用
受光器は半導体レーザーの出力制御に用いるものであり
、該レーザーの出力轢装置とのできないものとなってい
る。

しかしながら、偏光ビームスプリッタの分光特性は第５
図（ｂｌに示す如きものが一般的であシ。

上述したモニター出力を得る為にはＰ偏光の透過率が１
００％となる波長な用いることができず。

例えば前記透過率が９５％程度となる波長λ、を用い、
偏光ビームスプリッタに於ける反射光を得るものである
。

従って１分光特性上波長に対する透過率の変動が極めて
太きいところを使用するため、温度変化及び製造のバラ
ツキ等により光源の波長が必ずしも一定とならない場合
にＶｉ％ニター出カに変動を生じ、適宜モニター出力制
御回路を調整する必要があった。

更に、前記偏光ビームスプリッタの分光特性は製造工程
２例えは接＠ｉ力の蒸着状態等により変動する為、波長
が一定の場合に於いてもモニター出力に変動を生じてし
まう間か点があった。

また上記問題点を回避するために半導体レーザーの光出
射側端面と相対する非出射側端面から僅かに出力されろ
光を測定し、出力制御等のモニタ信号として用いろ方法
もあるが、該方法に於いても九ディスク等からの反射光
が前記半導体レーザーの非出射側端面からの光を測定す
るセンサに入射し、正しい測定ができない欠点がおった
。

（発明の目的） 本発明は上述した問題点に鑑みなされたものでおって、
安価な光学部品を加えることのみＫより偏光ビームスプ
リッタの分光特性上安定した部分を用いてモニタ出力等
に用いる反射な得ることかできる偏光ビームスプリッタ
を提供することを目的とする。

（発明の概ｇり 本発明は上述した目的を達成する為に、光ディスク読み
取υ等に用いられるビームスプリッタであって、Ｐ偏光
を透過し、Ｓ偏光を反射する偏光素子を有し、該偏光素
子に於ける反射によりＰ偏光の分岐出力を得るタイプの
偏光装置に於いて、前記偏光素子の入射光軸上且つ入射
側に偏光面を回転させる為の旋光子若しくは波長板を具
えるよう構成する。

（実施例） 以下９本発明を図面に示した実施例に基づいて詳細に説
明する。

第１図（ａ）は本発明の構成を示す図である。。

同図に於いて１０Ｆｉレーザー光源、１１はビーム整形
プリズムであって、該ビーム整形プリズム１１の出射の
光軸上に旋光子に、偏光ビームスプリッタ１３及び１／
４波長板１４ｖｋ：具え。

前記偏光ビームスプリッタ１３の凡そ垂直方向にはモニ
タ用受光器１５及び情報読取り用受光器１６を設ける。

このように構成した光学系に於いて光源１よ多断面が楕
円形なるＰ偏光が出射すると該Ｐ偏光はビーム整形プリ
ズム１１を透過することによ多断面が円形となシ次段の
旋光子１２に入射し該旋光子１２出力は第１図（ｂ）　
Ｋ示す如くσだけ回転した直線偏光となる。（ここでσ
は旋光子の旋光能ρ及び旋光子の光軸方向の厚みｔとす
るとθ＝ρ・ｔで表される。） 従って１次段の偏光ビームスプリッタに前記０だけ回転
した１０なろ光量を有する直線偏光が入射するとＩｏ３
ｉ６”ｔの光量が反射し受光器１５に入射する。

一方、前記偏光ビームスプリッタ１３を透過し次Ｉｏ−
Ｉｏｓｉｎ”θなる光量を有すＰ（ｉｆは次段の１／４
波長板１４Ｙ透過し円偏光となシ党ディスク１７に照射
され、該光ディスク１７に記録された情報に基づき反射
し、再び１７４波長板１４を透過することによシＳ偏光
となシ偏光ビームスプリッタ１３の接合面で反射し受光
器１６に入射する。

前述した如く偏光ビームスプリッタ１３に入射するＰ偏
光なθだけ回転させることによシモ二タ出力としての反
射を得るので、従来用いられていた如く偏光ビームスプ
リッタの分光特性の不安定な所を用いる必要がなく第２
図にて実線で示したような安定した波長−透過率の特性
上で使用することができろ。

従って、光源の波長が温度変化等により数ｎｍ程度変動
してもモニタ出力となる反射光量及び偏光ビームスプリ
ッタを透過する光量は安定し、更に前記偏光ビームスプ
リッタの製造工程。

例えば接合面の蒸着状態若しくは接着状態等によシその
分光特性が第３図破線で示す如く波長に対し相対的に変
動しても使用波長を設定時に於いて波長に対する透過率
が安定した領域であるλ。に設定しておけば前述した偏
光ビームスプリッタの製造工程による分光特性のバラツ
キにも影響を受けることがない。

第４図（ａ）は本発明の他の実施例の構成を示す図であ
って、前述した実施例と異なる点は旋光子の替わりに１
７２波長板１８を設けた点である。該１／２波長板１８
は第４図（ｂｌに示す如く。

入射するＰ偏光の偏光軸に対し光学軸をαだけ回転させ
、該１７２波長板を出射する光の偏波面なａ（ここでθ
＝α）回転させるものでおる。

従りて１次段の偏光ビームスプリッタ１３に前記偏波面
がσ回転した光量Ｉ＜１なる光が入射するとｌ０ｓｕ”
σに相当する光量は接合面にて反射し、　Ｉｏ−Ｉ＠ｓ
ｉｎ”θに相当する光量は透過し。

以後前述した実施例と同様の動作を行なうので偏光ビー
ムスプリッタに於ける同射ｌ該スプリッタの分光特性上
不安定な領域を用いろことなく得ることができろ。

伺９本発明の詳細な説明には分光手段として偏光ビーム
スプリッタを用いて説明したがこれに限るものでなくプ
リズム等の分光手段を用いてもよく、ヌ２分光手段を用
いる個所は光ディスク等の読み取り部のみに限るもので
なくＰ偏光を透過し、Ｓ偏光を反射する特性を有する分
光手段１ｃＰ偏光を照射した際、モニタ出力等に用いる
Ｐ偏光反射出力を得る場合であればよいこと紘自明であ
る。

（発明の効果） 本発明は上述した如く構成し且つ機能するものであるか
ら安価は光学部品を加えろことＫよりビームスプリッタ
等の分光手段にＰ偏光を照射しても安定した反射出力を
得ることができ。

光学部品の点数が増加することを補って余シあろもので
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）は本発明の一実施例を示す図、第１＠（ｂ
）は旋光子に於ける光軸を表す図、第２図及び第３図は
偏光ビームスプリッタに於ける透過率−波長の関係を示
す図、第４図（ａ）は本発明の変形実施例を示す図、第
４図（ｂ）は１７２波長板に於ける人出射光軸及び光学
軸な示す図、第５図（ａ）は従来用いられていた装置の
構成を示す図。 第５図（ｂｌ　Ｈ従来用いられていた偏光ビームスプリ
ッタに於ける透過率−波長の関係を示す図である。 １．１０・・・・・・・・・光源、２．１１・・・・・
・・・・ビーム整形プリズム、　　　　３．１３・・・
・・・・・・偏光ビームスプリッタ、　　　　４，７，
１５．１６・・・・・・・・・受光器、　　　　５．１
４・・・・・−・・・１／４波長板。 ６．１７・・・・・・・・・光ディスク、　　　１２・
・・・・・・・・旋光子、　　　１８・・・・・・・・
・１／２波長板。 特許出願人　　東洋通信機株式会社 第２図 第３ｖＲ 結） 第り図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. Ｐ偏光を透過し、Ｓ偏光を反射する偏光素子を有し、該
   偏光素子に於ける反射によりＰ偏光分岐出力を得るタイ
   プの偏光装置に於いて、前記偏光素子の入射光軸上且つ
   入射側に偏光面を回転させる為の旋光子若しくは波長板
   を具えたことを特徴とするビームスプリッタ。