JPH01314976A - 計測シシテムにおける測定信号処理回路 - Google Patents
計測シシテムにおける測定信号処理回路Info
- Publication number
- JPH01314976A JPH01314976A JP63149194A JP14919488A JPH01314976A JP H01314976 A JPH01314976 A JP H01314976A JP 63149194 A JP63149194 A JP 63149194A JP 14919488 A JP14919488 A JP 14919488A JP H01314976 A JPH01314976 A JP H01314976A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- potential
- variation
- circuit
- measuring
- divided
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- Granted
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、センサを設けた測定回路の一端をアースする
とともに、そのセンサの電位変化を測定してアナログ/
ディジタル変換し、中央処理装置により演算処理して表
示、警告等を行う計測システムにおける測定信号処理回
路に関する。
とともに、そのセンサの電位変化を測定してアナログ/
ディジタル変換し、中央処理装置により演算処理して表
示、警告等を行う計測システムにおける測定信号処理回
路に関する。
「従来の技術」
センサを設iた測定回路の一端をアースするとともに、
そのセンサの電位変化を測定してアナログ/ディジタル
変換し、中央処理装置により演算処理して表示、警告等
を行う計測システムとしては、第3図に示す車両用水温
計システムが挙げられる。このシステムは、温度センサ
Sを設けた測定回路aの一端をアースし、他端をフィル
タbに結線し、測定信号を順次フィルタb、アナログ/
ディジタル変換(以下A/D変換という)器C1中央処
理装置(以下CPUという)dで処理して、表示ドライ
バeを介して蛍光表示管fにより温度表示を行うもので
あって、前記測定回路aには、内部電源から電圧V D
oが内部プルアップ抵抗R0を介して印加される。測定
回路のアース線gには、水温計のみならずヘッドライト
、オルタネータ等の他の負荷のアース線が共通して第4
図に示すように結線される。
そのセンサの電位変化を測定してアナログ/ディジタル
変換し、中央処理装置により演算処理して表示、警告等
を行う計測システムとしては、第3図に示す車両用水温
計システムが挙げられる。このシステムは、温度センサ
Sを設けた測定回路aの一端をアースし、他端をフィル
タbに結線し、測定信号を順次フィルタb、アナログ/
ディジタル変換(以下A/D変換という)器C1中央処
理装置(以下CPUという)dで処理して、表示ドライ
バeを介して蛍光表示管fにより温度表示を行うもので
あって、前記測定回路aには、内部電源から電圧V D
oが内部プルアップ抵抗R0を介して印加される。測定
回路のアース線gには、水温計のみならずヘッドライト
、オルタネータ等の他の負荷のアース線が共通して第4
図に示すように結線される。
このため、ヘッドライト等の他負荷の作動に伴い水温計
のアース電位VBBに対し、温度センサのアース電位v
0wIllは変動する。従って、アース電位V CIl
+1を考慮した測定信号の入力電位V l nは、前記
V、l1=0(V)を基準にし、内部プルアップR0,
温度センサSの抵抗r、内部電源から印加される電圧を
V。+1とすると、 V tn= (Van −Vcxo) r / (r
+ R6>+ VQWD・・・(i> となり、またアース浮きのない場合の測定信号の入力電
位V 、n 1,、とすると、アース電位の変動に伴う
入力電位V Inの受ける影響Δ■tIlは、ΔV w
*= V In V ln+o+ = V c++o
Ro/ (r + Ro>・・・(ii) と算出される。
のアース電位VBBに対し、温度センサのアース電位v
0wIllは変動する。従って、アース電位V CIl
+1を考慮した測定信号の入力電位V l nは、前記
V、l1=0(V)を基準にし、内部プルアップR0,
温度センサSの抵抗r、内部電源から印加される電圧を
V。+1とすると、 V tn= (Van −Vcxo) r / (r
+ R6>+ VQWD・・・(i> となり、またアース浮きのない場合の測定信号の入力電
位V 、n 1,、とすると、アース電位の変動に伴う
入力電位V Inの受ける影響Δ■tIlは、ΔV w
*= V In V ln+o+ = V c++o
Ro/ (r + Ro>・・・(ii) と算出される。
従って、第3図に示すような構成からなる計測システム
においては、各回路、センサ等の誤差以外に前記アース
変動による影響Δv、、lを常時受けることとなり、真
の測定値が表示されない。
においては、各回路、センサ等の誤差以外に前記アース
変動による影響Δv、、lを常時受けることとなり、真
の測定値が表示されない。
このため、計測システムにおける表示精度を向上させる
ためには、回路、センサ等の精度をあげるとともに、ア
ース電位の変動の影響を除去した測定信号を得る必要が
ある。
ためには、回路、センサ等の精度をあげるとともに、ア
ース電位の変動の影響を除去した測定信号を得る必要が
ある。
「発明が解決しようとする課題」
本発明は、前記した点に着目してなされたもので、少な
くとも測定信号の入力電位に対するアース電位の変動影
響を、除去することができる計測システムにおける測定
信号処理回路を、提供することを解決すべき課題とする
ものである。
くとも測定信号の入力電位に対するアース電位の変動影
響を、除去することができる計測システムにおける測定
信号処理回路を、提供することを解決すべき課題とする
ものである。
「課題を解決するための手段」
前記課題を解決するための具体的手段は、センサを設け
た測定回路の一端をアースするとともに、そのセンサの
電位変化を測定してアナログ/ディジタル変換し、中央
処理装置により演算処理して表示、警告等を行う計測シ
ステムにおける測定信号処理回路において、抵抗R1,
R2を直列に介挿し、その一端を前記測定回路のアース
に結線するとともに、抵抗R,,R2の分割電位を検出
する分割電位検出回路を設け、該回路から前記中央処理
装置に入力される分割電位をアナログ/ディジタル変換
して、その分割電位の変動分からアース電位を演算し、
これをもとにアナログ/ディジタル変換された測定信号
からアース電位の変動影響を演算除去することを特徴と
するものである。
た測定回路の一端をアースするとともに、そのセンサの
電位変化を測定してアナログ/ディジタル変換し、中央
処理装置により演算処理して表示、警告等を行う計測シ
ステムにおける測定信号処理回路において、抵抗R1,
R2を直列に介挿し、その一端を前記測定回路のアース
に結線するとともに、抵抗R,,R2の分割電位を検出
する分割電位検出回路を設け、該回路から前記中央処理
装置に入力される分割電位をアナログ/ディジタル変換
して、その分割電位の変動分からアース電位を演算し、
これをもとにアナログ/ディジタル変換された測定信号
からアース電位の変動影響を演算除去することを特徴と
するものである。
「作用」
本発明は、前記具体的手段の説明で明らかにしたように
、分割電位検出回路により検出された分割電位の変動分
をA/D変換して、CPUでアース電位を演算算出し、
これに基づいて測定回路から入力されA/D変換された
測定信号からアース電位の変動影響骨を前記CPUによ
り演算除去して誤差のより少ない測定信号を得ることが
できる。
、分割電位検出回路により検出された分割電位の変動分
をA/D変換して、CPUでアース電位を演算算出し、
これに基づいて測定回路から入力されA/D変換された
測定信号からアース電位の変動影響骨を前記CPUによ
り演算除去して誤差のより少ない測定信号を得ることが
できる。
「実施例」
本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する。
第1図は、本発明を適用した水温計1の概要ブロック図
である。
である。
2は測定回路であって、温度変化により抵抗値を可変す
る温度センサ3を介挿し、一端をアースし他端を水温計
1のターミナルTaを介してフィルタ4aに結線する。
る温度センサ3を介挿し、一端をアースし他端を水温計
1のターミナルTaを介してフィルタ4aに結線する。
該測定回路2には、内部電源により電圧■。。が内部プ
ルアップ抵抗R0を介して印加される。
ルアップ抵抗R0を介して印加される。
5は、抵抗R+ 、 Rzを直列に介挿し水温計1のタ
ーミナルTbを介して、前記測定回路2のアース線に一
端を結線するとともに、前記抵抗R1R2間から分岐し
てフィルタ4bに結線した抵抗R,,R2の分割電位検
出回路である。該検出回路5の他端は、前記内部電源に
結線され、電圧V DOが印加される。フィルタ4a、
4bは、それぞれA/D変換器6a、6bに接続し、測
定信号及びR,、R2の分割電位がA/D変換されてC
PU7に入力される。
ーミナルTbを介して、前記測定回路2のアース線に一
端を結線するとともに、前記抵抗R1R2間から分岐し
てフィルタ4bに結線した抵抗R,,R2の分割電位検
出回路である。該検出回路5の他端は、前記内部電源に
結線され、電圧V DOが印加される。フィルタ4a、
4bは、それぞれA/D変換器6a、6bに接続し、測
定信号及びR,、R2の分割電位がA/D変換されてC
PU7に入力される。
CPU7では、後記する測定信号処理ルーチンのフロー
チャートにより、測定信号及び分割電位が演算処理され
、表示データとして表示ドライバー8に送出され、蛍光
表示管9により測定水温が表示される。
チャートにより、測定信号及び分割電位が演算処理され
、表示データとして表示ドライバー8に送出され、蛍光
表示管9により測定水温が表示される。
測定回路2により測定入力される温度センサ3の両端の
電位■1゜は、内部プルアップ抵抗Ro 。
電位■1゜は、内部プルアップ抵抗Ro 。
温度センサの抵抗rとすると、前記従来例で説明したと
同様に、(i)式で表される。
同様に、(i)式で表される。
また、前記分割電位検出回路5の分割電位(以下V R
tFという)は、アース電位の変動分■。wOを考慮す
ると、 V*1p=(VDn Vc*1ll)R2/(R++
Rt)+Va*。
tFという)は、アース電位の変動分■。wOを考慮す
ると、 V*1p=(VDn Vc*1ll)R2/(R++
Rt)+Va*。
・・・(iii)
となり、(iii)式よりアース電位の変動V 011
Dのない■1ItW、。、に対する変動分ΔVllf
Fは、ΔV RE r = R+ / (Rl + R
2> v。い。
Dのない■1ItW、。、に対する変動分ΔVllf
Fは、ΔV RE r = R+ / (Rl + R
2> v。い。
−°−v−*o= (R+ + R2)/ RlΔVR
,、−−・(iv )となる。
,、−−・(iv )となる。
従って、ΔV□、を測定することにより、(iv)式か
らV ax。を算出することができる。
らV ax。を算出することができる。
また、前記(i)式の■。1=0のときの測定信号の電
位をV I 11 1,、とすると、V +h+or
= r / (r + Ra)V oD上式からrを求
め、さらに(i)式に代入して整理すると、 V 、nIo+= VI、−(V In V。。)/
(VIllIll−V。、)・・・(v) となり、■□、の変動とV l 11をA/D変換して
、CPU7により(iv)、(v)式に基づいて演算処
理すると、測定信号において■。オ。の変動影響を除去
することができる。
位をV I 11 1,、とすると、V +h+or
= r / (r + Ra)V oD上式からrを求
め、さらに(i)式に代入して整理すると、 V 、nIo+= VI、−(V In V。。)/
(VIllIll−V。、)・・・(v) となり、■□、の変動とV l 11をA/D変換して
、CPU7により(iv)、(v)式に基づいて演算処
理すると、測定信号において■。オ。の変動影響を除去
することができる。
本実施例の作動は、前記した構成及び計算式に基づくも
のであり、第2図の測定信号処理ルーチンのフローチャ
ートに従い説明する。
のであり、第2図の測定信号処理ルーチンのフローチャ
ートに従い説明する。
まず、ステップ3100(以下ステップを省略する)で
CPU7及びCPU7のRAM、ROMの初期化を行い
、続<5ilo、5120で、測定回路21分割電圧検
出回路5により、それぞれV tnとV PI t F
を入力してA/D変換する。8130では、A/D変換
された■□、の変動分ΔV RI Fを求めて前記(i
v)式よりV。。を算出し、S L 40に進んで■、
と■。■より(v)式からV I n I。、を算出す
る。続(S150で演算算出されたV、。to+に基づ
き表示データの演算処理を行い、該表示データを表示ド
ライバー8に送出して、蛍光表示管9に表示する(S1
60)。
CPU7及びCPU7のRAM、ROMの初期化を行い
、続<5ilo、5120で、測定回路21分割電圧検
出回路5により、それぞれV tnとV PI t F
を入力してA/D変換する。8130では、A/D変換
された■□、の変動分ΔV RI Fを求めて前記(i
v)式よりV。。を算出し、S L 40に進んで■、
と■。■より(v)式からV I n I。、を算出す
る。続(S150で演算算出されたV、。to+に基づ
き表示データの演算処理を行い、該表示データを表示ド
ライバー8に送出して、蛍光表示管9に表示する(S1
60)。
前記5120〜5140の各ステップが本発明の測定信
号処理回路の作動である。
号処理回路の作動である。
「他の実施例」
本発明は、前記実施例で説明した水温計のみならず、抵
抗変化を測定原理とするセンサを用いる計測器に適用す
ることができる。
抗変化を測定原理とするセンサを用いる計測器に適用す
ることができる。
また、A/D変換ボートを有するCPUを使用すること
により、A/D変換器を省略することも可能である。
により、A/D変換器を省略することも可能である。
「発明の効果」
本発明は、前記具体的手段及び作用の説明で明らかにし
たように、計測システムのセンサのアース線に他のシス
テムの負荷のアース線が共通結線され、他のシステムの
負荷の作動によりアース電位が変動する場合でも、その
変動分の影響をA/D変換された測定信号から演算除去
することができ、誤差の少ない測定信号を処理算出する
ことができる効果がある。
たように、計測システムのセンサのアース線に他のシス
テムの負荷のアース線が共通結線され、他のシステムの
負荷の作動によりアース電位が変動する場合でも、その
変動分の影響をA/D変換された測定信号から演算除去
することができ、誤差の少ない測定信号を処理算出する
ことができる効果がある。
添付図面は本発明の実施例を例示し、第1図は概要ブロ
ック図、第2図は測定信号処理ルーチンのフローチャー
ト、第3図は従来例を示す概要ブロック図、第4図は負
荷変動に伴うアース電位の変動を説明した説明図である
。 210.測定回路、 311.温度センサ、 59.。 分割電位検出回路、 6a、6b、、、A/D変換器、
7.、、CPU、 R,、R1,、、抵抗、 r6.
。 センサ抵抗。 第2図
ック図、第2図は測定信号処理ルーチンのフローチャー
ト、第3図は従来例を示す概要ブロック図、第4図は負
荷変動に伴うアース電位の変動を説明した説明図である
。 210.測定回路、 311.温度センサ、 59.。 分割電位検出回路、 6a、6b、、、A/D変換器、
7.、、CPU、 R,、R1,、、抵抗、 r6.
。 センサ抵抗。 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 センサを設けた測定回路の一端をアースするとともに
、そのセンサの電位変化を測定してアナログ/ディジタ
ル変換し、中央処理装置により演算処理して表示,警告
等を行う計測システムにおける測定信号処理回路におい
て、 抵抗R_1,R_2を直列に介挿し、その一端を前記測
定回路のアースに結線するとともに、抵抗R_1,R_
2の分割電位を検出する分割電位検出回路を設け、該回
路から前記中央処理装置に入力される分割電位をアナロ
グ/ディジタル変換して、その分割電位の変動分からア
ース電位を演算し、これをもとにアナログ/ディジタル
変換された測定信号からアース電位の変動影響を演算除
去することを特徴とする計測システムにおける測定信号
処理回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63149194A JP2586424B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | 計測シシテムにおける測定信号処理回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63149194A JP2586424B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | 計測シシテムにおける測定信号処理回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01314976A true JPH01314976A (ja) | 1989-12-20 |
| JP2586424B2 JP2586424B2 (ja) | 1997-02-26 |
Family
ID=15469871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63149194A Expired - Lifetime JP2586424B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | 計測シシテムにおける測定信号処理回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2586424B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH106273A (ja) * | 1996-06-20 | 1998-01-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 産業用ロボット |
-
1988
- 1988-06-16 JP JP63149194A patent/JP2586424B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH106273A (ja) * | 1996-06-20 | 1998-01-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 産業用ロボット |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2586424B2 (ja) | 1997-02-26 |
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