JPH0133773B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、潤滑剤で潤滑されながら相互に転動
または摺動する。少なくとも向かい合つた一対の
表面間の潤滑性を測定する装置に関し、特に、そ
れら一対の表面を、当該一対の表面と上記潤滑剤
の膜により構成されるキヤパシタの各電極とみな
し、このキヤパシタのキヤパシタンスに対応した
信号を測定することにより、潤滑膜厚や接触時間
率（後に定義）等、潤滑性に関与するパラメータ
を測定する装置に関する。

［従来の技術］ この種の技術に関する公知測定装置としては、
1965年３月30日発行の米国特許第3176286号公報
に開示のものがある。

この従来装置では、潤滑測定対象となる表面間
のキヤパシタンスは、発振器からのAC電圧信号
が印加された容量性ブリツジを介して取出され
る。換言すれば、この従来法は、キヤパシタンス
の検出方法として最も基本的な容量性ブリツジを
用いているのであつて、当該容量性ブリツジから
の電圧信号として、測定対象のキヤパシタンスが
測定されるようになつている。

［発明が解決しようとする課題］ 上記のように、単に容量性のブリツジを用いる
に過ぎない従来法では、実際上、満足な結果の得
られないことが多かつた。

その原因の一つは、単にキヤパシタンスをのみ
測定しているに過ぎず、例えば当該キヤパシタの
各電極とみなせる表面間相互が、互いに直接に接
触した場合、それがどの位の時間、接触し続けた
か等の測定をなしていなかつたことにある。

すなわち、測定対象となるキヤパシタを構成し
ている一対の表面には、それがどんなに良く研磨
されていても、実際には微少な凹凸（おうとつ）
があり、これを断面的に見ると、あたかもそれら
の表面に“しわ”が寄つているように見える。そ
して、微視的にはそのように凸凹（でこぼこ）し
ている表面の凸部の頂部から見た凹部の谷底まで
の深さ（これを本書では、簡単のため、以降、
“しわ”の“深さ”と呼ぶ）が、当該表面間に形
成されるべき潤滑膜の厚さよりも深いような場
合、当該一対の表面間がその一部において直接に
接触し合うことも良くある。

しかるに、このように、一対の表面間が直接に
接触すると、理論的に予測されるキヤパシタンス
より遥かに大きなキヤパシタンスが誤測定され、
これは結局、潤滑膜厚零ないしそれに近い値を示
す信号を生ずる。

この信号が誤信号であることは明らかである。
換言すれば、実際には油膜は平均的にみれば一対
の表面間において必ずある程度以上の膜厚を持つ
ているはずなのに、ごく一部においても直接にそ
れらの一対の表面間が接触する部分があると、膜
厚がそのときにはあたかも零であるかのような信
号が出力される。

したがつて、ある一定の測定時間というものを
考え、その一定測定時間内に得られた信号に基づ
き、例えば平均値を得る等、膜厚の解析をなす際
に、当該一定測定時間内に一対の表面が接触する
機会が多く、その全接触時間の総計が長くなる
と、確かに、一対の表面間が直接に接触する機会
が増えているのであるから、膜厚は確実に薄くな
つているとは言え、実際の薄さよりもさらにずつ
と薄い膜厚が誤測定されることがある。

にもかかわらず、そのような一部における直接
接触という現象が生ずることや、その時間長に鑑
みて何等の対策も施していない従来例では、こう
した一対の表面間の一部の直接接触に基づくキヤ
パシタンスひいては膜厚の誤測定を補償する手段
がそもそもなかつたのである。

［課題を解決するための手段］ 本発明においては、上記課題を解決するため、
潤滑剤により潤滑される一対の表面をキヤパシタ
の両電極として捕え、これら両電極間に形成され
る被測定キヤパシタに対し、直列にもう一つの既
知の値のコンデンサを接続し、これら直列回路
（容量分圧器）の一端を発振器出力に、他端を接
地した上で、当該発振器出力電圧と被測定キヤパ
シタの両端電圧を検出し、これらの検出値に基づ
き、当該被測定キヤパシタンスないしは潤滑膜厚
を測定するという手続きに加え、上記潤滑剤によ
り潤滑される一対の表面間が、特定の単位測定時
間中にどの位、直接に接触したかという比、すな
わち接触時間率をも求め、これにより、上記のよ
うにして測定されるキヤパシタンスないしは潤滑
膜厚を修正可能とする。

そして、実際上、こうしたキヤパシタンスない
し潤滑膜厚と接触時間率の測定は、本願特許請求
の範囲に記載された各要素の組合せ構成をして満
足することができ、ここで改めて、最も基本的な
本発明の態様を記せば次のようになる。

『相互に転動または摺動し、潤滑剤で潤滑される
少なくとも一対の表面間の潤滑性を測定するた
め、間に上記潤滑剤を挟んだ該一対の表面の各々
をキヤパシタの各電極として、該キヤパシタに直
列に既知の値C_vのコンデンサを接続して容量分
圧器７を構成し、該容量分圧器７の両端に発振器
６からの所定周波数のAC電圧V_pscを印加するこ
とにより、上記キヤパシタの両端電圧V_bと上記
発振器出力電圧V_pscとから、そのときどきの上記
キヤパシタのキヤパシタンスC_bを測定する装置
であつて； 一方の入力には上記発振器６の出力電圧V_pscを
受け、他方の入力には上記測定対象キヤパシタ
C_bの両端電圧V_bを受けると共に、出力はロ−・
パス・フイルタ１０に接続したマルチ・ブライヤ
９と； 上記ロ−・パス・フイルタ１０の出力を受け、
この出力電圧V_LPの逆数V_pを形成する逆数回路１
２と； 該逆数回路１２の出力電圧V_pから、第一の所
定の電圧値V１を減算する減算回路１３と； 該減算回路１３の出力電圧に基づき、既知の式
から上記潤滑剤膜厚ｈに対応する電圧信号V_hを
生成する演算回路１５，１６と； 上記ロ−・パス・フイルタ１０の出力電圧V_LP
を第二の所定電圧値V_refと比較するコンパレータ
１７と； 一入力には該コンパレータ１７の出力を受け、
他入力にはパルス発振器１９からのクロツク・パ
ルスを受けるアンド・ゲート１８と； 該アンド・ゲート１８の出力に接続したカウン
タ２１と； 該カウンタ２１に接続したデジタル表示器２２
と； 所定の単位測定時間Ｔを経過するごとに上記カ
ウンタ２１をリセツトするタイミング回路２３
と； を有し、上記第二の所定電圧値V_ref、上記単位
測定時間Ｔ、及び上記クロツク・パルスの周波数
は、該単位測定時間Ｔ内にあつて上記少なくとも
一対の表面間が直接に接触していた時間の割り合
いに比例した数のパルスが上記カウンタ２１内に
て計数されるように設定されていること； を特徴とする、相互に転動または摺動し潤滑剤
で潤滑される表面間の潤滑性測定装置。』 ただし、上記において用いた符号は、第１〜３
図に即して後に述べる実施例に関し、各構要素に
付した符号に相当する。

［作用］ 本発明によると、潤滑剤により潤滑され、相互
に転動または摺動する少なくとも一対の表面間の
キヤパシタンスを測定する装置において、上記要
旨構成に従つて構成されたマルチ・プライヤ９、
逆数回路１２、減算回路１３を経た後、演算回路
１５，１６の出力に得られる信号は、潤滑性に関
与する基本的なパラメータの一つとして、一応、
潤滑剤の膜厚ｈの情報を有している。その理由
は、数字的な関係〜式により、後述の実施例
中にも詳記されている通りである。

しかし、この潤滑剤の膜厚ｈの情報だけでは、
例えば、計測対象の一対の表面間に静的な状態で
存在する平均的な膜厚を測定することは必ずしも
できない。

つまり、計測すべき一対の表面に凹凸があつ
て、その結果、既述したように、一対の表面間に
直接に接触する部分があると、実際には平均的に
必ずある厚さ以上の膜厚の潤滑油が存在するはず
なのに、一部における表面間の接触のため、膜厚
ｈがその部分の存在のため、全体として零ないし
これに近い値として検出されることがある。これ
は明らかに誤りである。

しかし、本発明によると、上記要旨構成におけ
るようにその各々の構成が特定されるコンパレー
タ１７、アンド・ゲート１８、カウンタ２１、タ
イミング回路２３があり、これによつてカウンタ
２１の出力には、単位測定時間Ｔ中において一対
の表面間が直接に接触していた時間、ないし当該
接触時間の単位測定時間Ｔに対する割り合いであ
る接触時間率を得ることができるので、例え上記
の演算回路１６の出力に単位測定時間中、過渡的
には膜厚零の信号が得られたにしても、その頻度
ないし全接触時間または接触時間率から、これに
基づいて適当な補償をなすことができ、たつた一
部分の直接接触のために全膜厚を零と検出するこ
ともなく、できるだけ正確に、実際に存在し得る
潤滑油の膜厚を求めることができる。

［実施例］ 本発明の実施例として、限定的ではないが、油
で潤滑される玉軸受の潤滑状態の測定例を挙げ、
説明する。

潤滑される玉軸受の油膜の厚さは、種々の要
素、特に回転速度と荷重に依存することは公知で
ある。そしてまた、この油膜の厚さｈは、玉軸受
のキヤパシタンスC_bを測定することで知ること
ができる。それは、当該C_bが次式で与えられる
からである。

C_b＝ε_p・ε_r・Ａ／ｈ ……… ここで、ε_pは真空の誘電率、ε_rは使用される油
の相対誘電率であつて、Ａはその下に油が存在す
ると認められる面積である。したがつてまた、こ
の面積Ａは、“接触面積”と呼ぶことができる。

第１図は玉軸受を示し、玉２と内輪３、外輪４
の間に生ずるキヤパシタC_i，C_pも示している。な
お、これらの符号“C_i，C_pは、対応する物として
のキヤパシタを指すこともあり、当該各キヤパシ
タの容量値、すなわちキヤパシタンスを指すこと
もある。

第１図中のキヤパシタンスC_i，C_pは、あいまつ
て軸受全体としてのキヤパシタンスC_bを形成す
るが、図示の場合は八ヶ所にこれらキヤパシタン
スC_i，C_pが示されているので、軸受としてのキヤ
パシタンスC_bは次式となる。

C_b＝ 〓^n-8 C_io・C_po／C_io＋C_po ……… 第２図は、本発明に従つて構成され、こうした
キヤパシタンスC_bを測定可能な装置５の比較的
前段の部分を示している。

本装置５は、例えば0.9MH_Zの正弦波AC電圧
を測定対象のキヤパシタC_bと意図的にこれに直
列に接続されたコンデンサC_vとから成る容量分
圧器７に送る発振器６を備えている。

ここで約束事として、測定対象に関するC_bは
上記のようにキヤパシタと呼び、この測定のため
に本実施例で意図的に付加されている容量C_vと
か、測定対象のキヤパシタC_bに並列に入ると予
想される寄生容量ないし浮遊容量C_p等は、あえ
てこれらをコンデンサと呼んで区別する。

しかるに、測定対象のキヤパシタC_bの両端電
圧V_bは、当該キヤパシタC_bの値の変動により変
調される。この変調信号は、二入力マルチ・プラ
イヤ９とロ−・パス・フイルタ１０を有する復調
器８に与えられており、特に、二入力マルチ・プ
ライヤの一入力には発振器６の出力電圧が、他入
力にはキヤパシタC_bの両端電圧が与えられてい
る。

この復調器８ないしその中のロ−・パス・フイ
ルタ１０の出力電圧V_LPは、測定時間ｔと油膜の
厚さｈの関数、 V_LP＝ｆ（ｔ，ｈ） ……… となる。そして、測定中、潤滑される表面間が直
接に接触するときがあると（つまり油膜厚ｈ＝０
となると）、その接触している時間の間、電圧信
号V_LPはほぼ零になる。本発明装置によれば、以
下述べるように、これに鑑み、定められた測定時
間中、どの位、表面間が直接に接触していた時間
があつたかも知ることができるが、こうした比は
“接触時間率”と呼ぶことができる。

一方ではもちろん、上記の電圧信号V_LPを後述
のようにさらに好適に処理することにより、油膜
の厚さｈないしキヤパシタンスC_bの値に線形に
依存する信号を得ることもできる。

第３図は測定装置５を本発明に即してより具体
的に展開した実施例として、上記のように油膜厚
ｈとキヤパシタンスC_bに線形に対応する信号V_h，
V_cbを出力する装置の一例を示している。

発振器６が出力電圧V_psc・sinωtを発すると、
キヤパシタンスC_bの両端電圧V_bは、 V_b＝V_psc・C_V／C_V＋C_p＋C_b ……… となり、したがつてマルチ・プライヤ９にて演算
され、ロ−・パス・フイルタ１０を介した後の出
力電圧V_LPは、 V_LP＝（V_psc）²／２・C_V／C_V＋C_p＋C_b……… となる。

データ処理回路１１は、こうした電圧信号V_LP
から、上記のような所望する電圧信号V_h，V_cbを
得るために用いられる。

まず、この回路１１は逆数回路１２を有し、当
該逆数回路１２の出力にはロ−・パス・フイルタ
１０の出力電圧V_LPの逆数V_pが得られる。したが
つてこの電圧信号V_pは次式で表し得る。

V_p＝K1＋K2・C_b ……… ただし、K1，K2はそれぞれ、 K1＝２／（V_psc）²（１＋C_p／C_V）； K2＝２／（V_psc）²（１／C_V）……… である。

発振器６の出力電圧V_pscと、既知のコンデンサ
値C_V、浮遊容量C_pは一定とみなせるので、上記
の係数K1，K2の値は、それぞれ、ある一定の電
圧値V1，V2に置き換えることができる。

そこで、逆数回路１２の出力する電圧信号V_p
は、そこから一定電圧V1を減ずる減算回路１３
に与えられ、この減算回路１３の出力はさらに、
除数V2が与えられている割算回路ないしデバイ
ダ１４に与えられる。

こうしたことからまず、被測定対象キヤパシタ
ンスC_bに直接に対応する所望の電圧V_cbが当接デ
バイダ１４の出力に得られる。

一方では、減算回路１３の出力はさらにその逆
数を出力する逆数回路１５に与えられ、この逆数
はマルチ・ブライヤ１６の一入力に与えられる。

当該マルチ・ブライヤ１６の他入力には、 V3＝ε_p・ε_r・Ａ・K2 ……… なる電圧値V3が与えられており、したがつてこ
のマルチ・ブライヤ１６の出力には、油膜の厚さ
ｈに対応するもう一つの望ましい電圧信号V_hが
得られる。

このようにして得られた電圧信号V_h，V_cbは、
例えばオシロ・スコープ上に観察しても良く、そ
うした場合、結局は油膜の厚さｈとキヤパシタン
スC_bの挙動を時間の関数として観察することが
できる。

また、これらの信号V_h，V_cbの変動に関する低
周波成分のみを観察することも可能であり、これ
は周知のように、ロ−・パス・フイルタを通した
波形等で見ることができるが、そのようにする
と、測定結果としては見易い形にすることができ
る。すなわち、高調波成分である細かな変動分が
除かれ、油膜の厚さｈとキヤパシタンスC_bの変
動に関し、ゆつくりした変動分のみを観察するこ
とができる。

同様に、ある単位の測定時間中にあつて、一対
の表面間が直接に接触した時間に対応する接触時
間率は、ロ−・パス・フイルタ１０の出力に基づ
き、下記の手続きで得ることができる。

まず、ロ−・パス・フイルタ１０の出力V_LPは
コンパレータ１７の一入力に与えられ、他入力に
は調整可能な基準電圧V_refが与えられている。

第４図ａは、ロ−・パス・フイルタ１０からの
出力電圧信号V_LPの時間的な変動の一例と共に、
基準電圧V_refも示しているが、本図に模式的に示
されているように、当該基準電圧V_refは比較的、
小さな値に設定される。

コンパレータ１７の出力電圧V_cは、電圧信号
V_LPが基準電圧V_ref以下に低下すると、低レベル
から高レベルに反転する。したがつて、第４図ａ
の場合におけるコンパレータ１７の出力信号V_c
は、単位の測定時間Ｔ中にあつて第４図ｂに示さ
れるようになる。

こうしたことから理解されるように、この信号
V_cが高レベルになつている時間の総和を演算し、
単位の測定時間Ｔとの比を求めれば、接触時間率
を得ることができる。第３図はそのための回路例
も示している。

コンパレータ１７の出力はV_cはアンド・ゲー
ト１８の一入力に与えられ、他入力にはパルス発
振器１９からの例えば1MH_Zの発振パルス列が与
えられる。

アンド・ゲート１８の出力は分周比調整可能な
分周器２０に印加され、その出力はさらに、デジ
タル表示器２２を制御するカウンタ２１に与えら
れる。したがつてこのカウンタ２１は、コンパレ
ータ１７の出力信号V_cが高レベルにあるときに
アンド・ゲート１８を通過するパルスの数を計数
する。

第３図示の回路は、全体として、単位の測定時
間Ｔを定めるタイミング回路２３で制御され、上
記のカウンタ２１はこのタイミング回路２３によ
り、当該単位の測定時間Ｔを経過するたびに零に
リセツトされる。したがつて明らかなように、デ
ジタル表示器２２には単位の測定時間Ｔ中の接触
時間の比、すなわち接触時間率を例えばパーセン
ト表示で得ることができる。もちろん、こうした
場合には、当該測定時間Ｔや発振器９の発振周波
数は、仮に当該測定時間Ｔの間ずつと、信号V_LP
が基準電圧V_ref以下であつた場合、当該デジタル
表示器の読みが最大読み、例えば99.999（％）に
到達するように設定する。 単位の測定時間Ｔは
分周器２０の分周比をスイツチS1の切換えによ
つて変更することで調整することもでき、各設定
した測定時間Ｔに関し、上記のように最大読みを
設定すべく、発振器１９の発振周波数を調整する
こともできる。分周比可変調整による場合、単位
測定時間Ｔを長目に設定するときは分周比も大き
くする。

また、先に述べたように、各単位の測定時間Ｔ
の経過後、カウンタないしタイマ２１はタイミン
グ回路２３により零に戻され、次の新たなる測定
時間Ｔにおける測定に備えられるが、表示器２２
はもちろん、その表示が連続的に維持されるよう
にするのが望ましい。なお、ここでの説明のよう
に、玉軸受の潤滑に関して測定をなす場合には、
上記単位の測定時間Ｔは、当該玉軸受の一回転に
要する時間に一致させるべく図るのが一般的であ
る。

しかるに、油膜厚ｈとキヤパシタンスC_bの電
極面を形成している表面の“しわ”の深さとの比
λが小さいとき、当該油膜の厚さｈを測定する
と、理論的に予想される値よりも著しく薄い厚さ
が記録され得ることは既述した。

従来の装置の場合、このような誤測定は修正の
術がないが、本発明においては、上記のように接
触時間率をも計測しているので、測定された油膜
厚ｈないしキヤパシタンスC_bの値は、同時に別
途に測定されたこの接触時間率に鑑み、修正する
ことができる。どの位の接触時間率ならどの位、
油膜厚ｈを割り増しすれば良いか等の対応関係を
採ることができるのである。

第３図にはこうした修正に関し、自動化を図る
ための補償回路例も併せて示されている。

カウンタ２１の出力に接触時間を得ることがで
きることは既述したが、この出力はさらに、補数
形成回路２４にも与えられており、またこの補数
形成回路２４の出力はデジタル−アナログ変換器
２５でアナログ電圧に変換されている。

そして、変換されたアナログ電圧信号は、適当
なる増幅器２６により係数Ａで増幅された後、当
該増幅器２６の出力として逆数回路１２を制御す
る。

先に述べたように、この逆数回路１２はロ−・
パス・フイルタ１０の出力電圧V_LPの逆数V_pを形
成するものであつたが、このようにすると当該逆
数V_p（＝１／V_LP）を修正し、したがつて出力信
号V_h，V_cbをも修正することができる。

すなわち、接触時間率が大きくなる程（カウン
タ２１の出力数値が大きくなる程）、逆数回路１
２の出力電圧V_pを、あらかじめ実験的に知つて
置いた所定量だけ低下させ、逆に接触時間率が短
くなる程、逆数回路１２の出力電圧V_pを補正量
を少なくする方向とする。

つまりこれは、逆数回路１２の出力電圧V_pの
方から見ればその逆数（１／V_p）にあたる第４
図ａ図示のロ−・パス・フイルタの出力電圧V_LP
で考えると、逆に接触時間率が大きくなる程、当
該アナログ電圧V_LPに適当量の補正電圧値を加え
て行くことに等価となる。接触時間率が長くなる
程、例えば第４図ａに示される電圧信号V_LPの単
位時間中の平均電圧は低まるので、当該接触によ
る低下分を、そうした接触がない場合の値に近く
なるよう、全体的に補つてやるのである。上記の
補数形成回路２４は、このように、逆数回路１２
の出力電圧V_pに対し、接触時間率の長さの変化
とは逆方向に補正値の大小を変更する働きをして
おり、その上で、一対の金属表面が互いに直接に
接触したとき（ないし基準電位V_refをロ−・パ
ス・フイルタの出力電圧V_LPが下回るとき）に相
当する最大キヤパシタンス値C_bの値等にも応じ、
増幅器２６に見込む増幅率Ａの値や、当該基準電
圧V_refの値はそれぞれ適当なるように設定され
る。

このような場合、逆数回路１２は、次のような
出力電圧V_pを出力する三入力Ｘ、Ｙ、Ｚ間の演
算回路に置き換えても良い。

V_p＝10Y／９（Ｚ／Ｙ）^m ……… ただし、この場合には増幅器２６の出力は上記
のＹ入力に、またロ−・パス・フイルタ１０の出
力は上記のＸ入力に接続し、Ｚ入力には適当な基
準電圧を与え、またｍも適当な値に設定する。

なお、キヤパシタンスC_bの両端電圧V_bには、
本装置の適正な作用を阻害する回路網周波数成分
が含まれることがある。これを除去するには、第
３図に示されているように、発振周波数に同調し
た帯域通過フイルタ２７を用い、これを介した
後、復調器８に電圧V_bを供給するべく図れば良
く、またこうした場合には、発振器６の出力信号
に関しても、復調器８の入力信号との間に正しい
位相開係を保つように、同様の帯域通過フイルタ
２８を設ければ良い。その他、本発明の要旨構成
に即する限り、種々の改変が可能である。

［効果］ 以上詳記のように、本発明によると、一対の表
面の各々に形成され得る凹凸（“しわ”）の深さに
対し、それらの間の潤滑剤の膜厚の比λが小さく
（換言すれば“しわ”の方が深目であつて）、それ
ら両表面間が直接に接触する機会が多いがため
に、それら一対の表面間の一部の接触により、全
体としての潤滑膜厚の持つキヤパシタンスが理論
的に予想される値よりも大きな値のキヤパシタン
スとして誤測定されるような状況下、つまりは実
際に存在する潤滑膜厚に関し理論的に予期される
より薄い値の潤滑膜厚が測定されてしまいがちな
状況下においても、当該接触時間率をも測定して
いるので、十分に合理的な修正が可能であり、よ
り現実に即した膜厚測定が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、玉軸受中に本発明によつて測定可能
となる測定対象のキヤパシタンスが存在すること
を示す説明図、第２図は本発明の一実施例の要部
概略構成図、第３図は同様に少し詳しく示した本
発明の実施例の概略構成図、第４図ａ，ｂは第３
図示装置中に接触時間に関して生じ得る信号波形
の説明図、である。 図中、１は玉軸受、２は玉、３は内輪、４は外
輪、５は全体としての本発明測定装置、８は潤滑
膜厚の変動によるキヤパシタンス変調成分を電圧
信号として表す復調器、９，１６はマルチ・プラ
イヤ、１０はロ−・パス・フイルタ、１１は処理
回路、１２，１５は逆数回路、１３は減算回路、
１４は割算回路ないしデバイダ、１７はコンパレ
ータ、１８はアンド・ゲート、２０は分周器、２
１はカウンタ、２２は表示器、２３はタイミング
回路、２４は補数形成回路、２５はデジタル−ア
ナログ変換器、２６は増幅器、C_bは測定対象の
キヤパシタ、C_Vは当該キヤパシタC_bに直列なコ
ンデンサ、C_pは浮遊容量、である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 相互に転動または摺動し、潤滑剤で潤滑され
   る少なくとも一対の表面間の潤滑性を測定するた
   め、間に上記潤滑剤を挟んだ該一対の表面の各々
   をキヤパシタの各電極として、該キヤパシタに直
   列に既知の値C_vのコンデンサを接続して容量分
   圧器７を構成し、該容量分圧器７の両端に発振器
   ６からの所定周波数のAC電圧V_pscを印加するこ
   とにより、上記キヤパシタの両端電圧V_bと上記
   発振器出力電圧V_pscとから、そのときどきの上記
   キヤパシタのキヤパシタンスC_bを測定する装置
   であつて； 一方の入力には上記発振器６の出力電圧V_pscを
   受け、他方の入力には上記測定対象キヤパシタ
   C_bの両端電圧V_bを受けると共に、出力はロ−・
   パス・フイルタ１０に接続したマルチ・プライヤ
   ９と； 上記ロ−・パス・フイルタ１０の圧力を受け、
   この出力電圧V_LPの逆数V_pを形成する逆数回路１
   ２と； 該逆数回路１２の出力電圧V_pから、第一の所
   定の電圧値Ｖ１を減算する減算回路１３と； 該減算回路１３の出力電圧に基づき、既知の式
   から上記潤滑剤膜厚ｈに対応する電圧信号V_hを
   生成する演算回路１５，１６と； 上記ロ−・パス・フイルタ１０の出力電圧V_LP
   を第二の所定電圧値V_refと比較するコンパレータ
   １７と； 一入力には該コンパレータ１７の出力を受け、
   他入力にはパルス発振器１９からのクロツク・パ
   ルスを受けるアンド・ゲート１８と； 該アンド・ゲート１８の出力に接続したカウン
   タ２１と； 該カウンタ２１に接続したデジタル表示器２２
   と； 所定の単位測定時間Ｔを経過するごとに上記カ
   ウンタ２１をリセツトするタイミング回路２３
   と； を有し、上記第二の所定電圧値V_ref、上記単位
   測定時間Ｔ、及び上記クロツク・パルスの周波数
   は、該単位測定時間Ｔ内にあつて上記少なくとも
   一対の表面間が直接に接触していた時間の割り合
   いに比例した数のパルスが上記カウンタ２１内に
   て計数されるように設定されていること； を特徴とする、相互に転動または摺動し潤滑剤
   で潤滑される表面間の潤滑性測定装置。 ２ 特許請求の範囲１に記載の装置であつて； カウンタ２１の出力は補償回路２４，２５，２
   ６に接続され、該補償回路２４，２５，２６は、
   該カウンタ２１の出力に数値として得られ、上記
   少なくとも一対の表面間が上記単位測定時間Ｔ内
   において上記直接に接触していた時間が長くなる
   程、逆数回路１２の出力を減少させることを特徴
   とする装置。 ３ 特許請求の範囲２に記載の装置であつて； 減算回路１３の出力を一入力に受け、他入力に
   は第三のDC所定電圧値Ｖ２を受けて、該第三の
   所定電圧値Ｖ２で該減算回路１３の出力電圧を除
   することにより、出力に上記少なくとも一対の表
   面間に得られるキヤパシタンスC_bに対応した電
   圧値V_cbを得るデバイダ１４をさらに有すること
   を特徴とする装置。。 ４ 特許請求の範囲１から３までのいずれか一つ
   に記載の装置であつて； アンド・ゲート１８の出力は分周器２０を介し
   てカウンタ２１に与えられ、上記単位測定時間Ｔ
   を長く調整した場合には該分周器２０の分周比を
   大きくすることを特徴とする装置。 ５ 特許請求の範囲１から４までのいずれか一つ
   に記載の装置であつて； 上記少なくとも一対の表面を各電極として構成
   されるキヤパシタの両端電圧V_bは、発振器６の
   発振周波数に同調した帯域通過フイルタ２７を介
   してマルチ・プライヤ９に与えられることを特徴
   とする装置。 ６ 特許請求の範囲５に記載の装置であつて； 発振器６の出力も、該発振器６の発振周波数に
   同調した第二の帯域通過フイルタ２８を介してマ
   ルチ・プライヤ９に与えられることを特徴とする
   装置。 ７ 特許請求の範囲２に記載の装置であつて； 補償回路２４，２５，２６は、 上記少なくとも一対の表面間が上記単位測定時
   間Ｔ内において上記直接に接触していた時間を表
   すカウンタ２１の出力数値に対し、その補数を出
   力する補数形成回路２４と、 該補数をデジタル−アナログ変換する変換器２
   ５と、 該変換アナログ電圧を増幅して上記逆数回路１
   ２への補償信号とする増幅器２６と、から成つて
   いることを特徴とする装置。