JPS6237725A - 座標検出装置 - Google Patents
座標検出装置Info
- Publication number
- JPS6237725A JPS6237725A JP60176455A JP17645585A JPS6237725A JP S6237725 A JPS6237725 A JP S6237725A JP 60176455 A JP60176455 A JP 60176455A JP 17645585 A JP17645585 A JP 17645585A JP S6237725 A JPS6237725 A JP S6237725A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oscillator
- coordinates
- oscillation frequency
- noise
- impedance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ノンパッド形タッチパネルの容量検出用発振器の発振周
波数を設定する方法で、表示装置のノイズ（ディスプレ
イ・ノイズ）のない周波数領域を選定する方法、および
可変領域を規定する方法を明らかにし、ノイズ特性のよ
い座標検出装置を提供する。
波数を設定する方法で、表示装置のノイズ（ディスプレ
イ・ノイズ）のない周波数領域を選定する方法、および
可変領域を規定する方法を明らかにし、ノイズ特性のよ
い座標検出装置を提供する。
本発明は静電容量式座標検出装置に関するもので、さら
に詳しく言えば、容量測定条件を適正比することによっ
て座標検出精度を向上させた座標検出装置に関するもの
である。
に詳しく言えば、容量測定条件を適正比することによっ
て座標検出精度を向上させた座標検出装置に関するもの
である。
容量測定方式は電流電圧測定系を用いたオーツドックス
なものからＣＲ時定数を計測するもの、またはＣＲ弛張
発振周期を測るものまである。ディジタルシステムとの
組合せを考えた場合、高価なＡＤ変換器を要する電圧／
電流法よりも時間に変換できる後者の方が構成が簡単で
あり安価である。
なものからＣＲ時定数を計測するもの、またはＣＲ弛張
発振周期を測るものまである。ディジタルシステムとの
組合せを考えた場合、高価なＡＤ変換器を要する電圧／
電流法よりも時間に変換できる後者の方が構成が簡単で
あり安価である。
他方、容量がノイズを含む場合（例えば人体容量、ハム
ノイズなど）、弛張発振方式は容量の電圧と別の参照電
位とを比較して充電放電の切替えを行っているため、ノ
イズによる発振周期の変動が大きく、精度が上げられな
いという問題がある。
ノイズなど）、弛張発振方式は容量の電圧と別の参照電
位とを比較して充電放電の切替えを行っているため、ノ
イズによる発振周期の変動が大きく、精度が上げられな
いという問題がある。
ノイズを除去するにはフィルタを使う方法が考えられる
が、弛張発振器の場合は既に基本周期が失われているた
め困難である。
が、弛張発振器の場合は既に基本周期が失われているた
め困難である。
第３図は弛張発振器の問題を説明するための図で、実線
ａで示す発振周期は左から見て充電して参照電位ｖｒＨ
ｔに達すると放電して参照電位ＶｙηＬまで下がり、次
いで充電放電を繰り返すのであるが、ここで線すで示す
ノイズが入ると発振周期ａは実線で示す動作を繰り返し
、ノイズがない場合の点線Ｃで示す発振周期からずれる
問題がある。
ａで示す発振周期は左から見て充電して参照電位ｖｒＨ
ｔに達すると放電して参照電位ＶｙηＬまで下がり、次
いで充電放電を繰り返すのであるが、ここで線すで示す
ノイズが入ると発振周期ａは実線で示す動作を繰り返し
、ノイズがない場合の点線Ｃで示す発振周期からずれる
問題がある。
前記した方式では、容量測定法としてＣＲ弛張発振器を
用いてその発振周期から容量を求める方法が用いられて
いる。しかしこの方法は、ディスプレイからの誘導ノイ
ズの影響を受けて発振周期の変化が起り、精度が低下し
易いという問題があった。
用いてその発振周期から容量を求める方法が用いられて
いる。しかしこの方法は、ディスプレイからの誘導ノイ
ズの影響を受けて発振周期の変化が起り、精度が低下し
易いという問題があった。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、ノイ
ズの影響の少ない座標検出装置を提供することを目的と
する。
ズの影響の少ない座標検出装置を提供することを目的と
する。
［問題点を解決するための手段］
第１図は本発明実施例の構成図、第２図は本発明の原理
を示す図である。
を示す図である。
本発明によると、基板上に抵抗膜を配置した座標入カバ
ネル、該抵抗膜の両端を同電位に保つ高入力インピーダ
ンスかつ低出力インピーダンスのバッファ回路、前記バ
ッファ回路の入出力ｎ１と抵抗膜の両端を切替え接続す
る手段、前記バッファ回路の入力端へ接続されるインピ
ーダンス検出回路からなり、前記抵抗膜の一端から見た
インピーダンスを時分割で測定して、これらの相対比よ
り抵抗膜上のインピーダンス接続位置を知る座標検出装
置であって、特にインピーダンス測定法としてＣＲ弛張
発振器を用い、インピーダンスを発振周期に変換する座
標検出回路において、抵抗膜上べのインピーダンス接続
がない時の発振周波数を前記装置を装着する表示装置よ
り発する誘導ノイズの第ｎ高調波と第（ｎ＋１）高調波
の間に設定し、更に抵抗膜上へのインピーダンス接続に
より変化する検出回路発振周期が、第ｎおよび第（ｎ
＋ １ ）高調波の範囲におさまるよう、指示インピー
ダンスまたはＣＲ発振器定数を選定する。
ネル、該抵抗膜の両端を同電位に保つ高入力インピーダ
ンスかつ低出力インピーダンスのバッファ回路、前記バ
ッファ回路の入出力ｎ１と抵抗膜の両端を切替え接続す
る手段、前記バッファ回路の入力端へ接続されるインピ
ーダンス検出回路からなり、前記抵抗膜の一端から見た
インピーダンスを時分割で測定して、これらの相対比よ
り抵抗膜上のインピーダンス接続位置を知る座標検出装
置であって、特にインピーダンス測定法としてＣＲ弛張
発振器を用い、インピーダンスを発振周期に変換する座
標検出回路において、抵抗膜上べのインピーダンス接続
がない時の発振周波数を前記装置を装着する表示装置よ
り発する誘導ノイズの第ｎ高調波と第（ｎ＋１）高調波
の間に設定し、更に抵抗膜上へのインピーダンス接続に
より変化する検出回路発振周期が、第ｎおよび第（ｎ
＋ １ ）高調波の範囲におさまるよう、指示インピー
ダンスまたはＣＲ発振器定数を選定する。
本発明はノイズによる発１辰周波数の変動（誤差）が、
ノイズの基本周波数およびその高調渡分の周波数に近い
領域で大きく、これらから離れると小さくなることに注
目し、容量測定用ＣＲ発振器の発振周波数をこれらのノ
イズ周波数の間に設定し座標検出精度の向上を図るもの
である。
ノイズの基本周波数およびその高調渡分の周波数に近い
領域で大きく、これらから離れると小さくなることに注
目し、容量測定用ＣＲ発振器の発振周波数をこれらのノ
イズ周波数の間に設定し座標検出精度の向上を図るもの
である。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第１図は本発明実施例の構成図であり、同図において、
１１は本出願人の開発した座標検出装置で、それはＩＴ
Ｏの透明電極をもったタッチパネル１２、それぞれ１０
個と１４１固のアナログスイッチアレイからなるタッチ
パネル１２の図に見て左右および上下に配置されたアナ
ログスイッチ１３ａと１３ｂ、座標検出装置１１のため
のアナログスイッチ１３ｃを含み、座標検出装置１１は
バッファアンプを介して容量測定部１５に接続され、容
量測定部１５はＣＲ発振器１６、抵抗１７ （Ｒ） 、
６ＭＨｚのクロック信号を発生するクロック１８、アン
ドゲート１９、カウンタ２０を含み、カウンタ２０は演
算用のマイクロ・プロセッシング・ユニット （ＭＰｔ
ｌ ） ２１に接続され、ＭＰＵ ２１から出力２２が
出力される。２３は本発明にかかる例えば７３ｐＦの付
加容量である。
１１は本出願人の開発した座標検出装置で、それはＩＴ
Ｏの透明電極をもったタッチパネル１２、それぞれ１０
個と１４１固のアナログスイッチアレイからなるタッチ
パネル１２の図に見て左右および上下に配置されたアナ
ログスイッチ１３ａと１３ｂ、座標検出装置１１のため
のアナログスイッチ１３ｃを含み、座標検出装置１１は
バッファアンプを介して容量測定部１５に接続され、容
量測定部１５はＣＲ発振器１６、抵抗１７ （Ｒ） 、
６ＭＨｚのクロック信号を発生するクロック１８、アン
ドゲート１９、カウンタ２０を含み、カウンタ２０は演
算用のマイクロ・プロセッシング・ユニット （ＭＰｔ
ｌ ） ２１に接続され、ＭＰＵ ２１から出力２２が
出力される。２３は本発明にかかる例えば７３ｐＦの付
加容量である。
本発明の特徴はＣＲ発振周波数の選定にある。ＣＲ発振
周波数Ｃ，Ｒおよびレベル比較電圧のいずれかを変える
ことで容易に設定できる。本実施例で用いているＣＲ発
振器１６はミグネティックス社製ＮＥ−５５５でその発
振周期はＴ＝ １．４ ＲＣである。Ｃはパネル容量（
主にアナログスイッチの入出力容量）で約４００ｐＦで
あるから、容量の変化量は人体容量の上附を１５０ｐＦ
とすれば、４００ ｐＦ （非タッチ時）〜５５０ ｐ
Ｐ （タッチ時）となる。ノイズの基本周波数は第２図
に示される如く、ＣＲＴの水平同期信号１５．７５ Ｋ
Ｈｚであり、ノイズウィンドウ（ノイズの少ない領域）
として６３ ＫＨｚ 〜７８．７５ ＫＨｚを選定した
。なお第２図において、横軸は発振周期をにＨｚで、ま
た縦軸は容量測定誤差を％で示す。
周波数Ｃ，Ｒおよびレベル比較電圧のいずれかを変える
ことで容易に設定できる。本実施例で用いているＣＲ発
振器１６はミグネティックス社製ＮＥ−５５５でその発
振周期はＴ＝ １．４ ＲＣである。Ｃはパネル容量（
主にアナログスイッチの入出力容量）で約４００ｐＦで
あるから、容量の変化量は人体容量の上附を１５０ｐＦ
とすれば、４００ ｐＦ （非タッチ時）〜５５０ ｐ
Ｐ （タッチ時）となる。ノイズの基本周波数は第２図
に示される如く、ＣＲＴの水平同期信号１５．７５ Ｋ
Ｈｚであり、ノイズウィンドウ（ノイズの少ない領域）
として６３ ＫＨｚ 〜７８．７５ ＫＨｚを選定した
。なお第２図において、横軸は発振周期をにＨｚで、ま
た縦軸は容量測定誤差を％で示す。
指タッチ時の容量変化による発振周波数の変化をこの範
囲におさめるため、 ｆ ｍａｘ ＝ ７７ ＫＨｚ （Ｔｍｉｎ ＝
１５．５１１ｓ ）ｆ ｍｉｎ ＝ ６５ ＫＨｚ
（Ｔｍｉｎ ＝ １３ ／−Ｉｓ ）を周波数設定範囲
として選定する。周波数変化をこの範囲におさめるため
に １５．５／ １３＝ （５５０ｐＦ＋ΔＧ ＞ ／ （
４００ｐＦ＋ΔＣ）より理論的には付加容量ΔＣ＝７３
ｐＦを付加し、またこの時の抵抗１７の値ＲはＲ＝２０
にΩに設定した。
囲におさめるため、 ｆ ｍａｘ ＝ ７７ ＫＨｚ （Ｔｍｉｎ ＝
１５．５１１ｓ ）ｆ ｍｉｎ ＝ ６５ ＫＨｚ
（Ｔｍｉｎ ＝ １３ ／−Ｉｓ ）を周波数設定範囲
として選定する。周波数変化をこの範囲におさめるため
に １５．５／ １３＝ （５５０ｐＦ＋ΔＧ ＞ ／ （
４００ｐＦ＋ΔＣ）より理論的には付加容量ΔＣ＝７３
ｐＦを付加し、またこの時の抵抗１７の値ＲはＲ＝２０
にΩに設定した。
この結果、発振周波数はノイズウィンドウの範囲の変化
におさまり、ノイズの影響を最小限に抑えることができ
た。実際には、前記の理論値を基準に各座標検出装置ご
とに付加容量２３と抵抗１７の値をそれぞれ例えば前記
の値７３ｐＦ、２０ ＫΩに設定し、ノイズのｉｔが最
も少ない製品として市場に出すものである。
におさまり、ノイズの影響を最小限に抑えることができ
た。実際には、前記の理論値を基準に各座標検出装置ご
とに付加容量２３と抵抗１７の値をそれぞれ例えば前記
の値７３ｐＦ、２０ ＫΩに設定し、ノイズのｉｔが最
も少ない製品として市場に出すものである。
以上性べてきたように、本発明によれば、座標検出装置
において、ノイズの影響を最小に抑えることが可能とな
り、座標検出装置の高精度化が実現される。
において、ノイズの影響を最小に抑えることが可能とな
り、座標検出装置の高精度化が実現される。
第１図は本発明実施例の構成図、
第２図は本発明の原理を示す図、
第３図は弛張発振器の問題を示す図である。
第１図において、
１１は座標検出装置、
１２はタッチパネル、
１３ａ、 １３ｂ、 １３ｃはアナログスイッチ、１４
はバッファアンプ、 １５は容量測定部、 １６はＣＲ発撮器、 １７は抵抗（Ｒ）、 １８はクロック、 １９はアンドゲート、 ２０はカウンタ、 ２１はＭＰＵ 。 ２２は出力、 ２３は付加容量である。 本牟日月欠虐ヒ例オ１メ（ｆｆｉ 第１図
はバッファアンプ、 １５は容量測定部、 １６はＣＲ発撮器、 １７は抵抗（Ｒ）、 １８はクロック、 １９はアンドゲート、 ２０はカウンタ、 ２１はＭＰＵ 。 ２２は出力、 ２３は付加容量である。 本牟日月欠虐ヒ例オ１メ（ｆｆｉ 第１図
Claims (2)
- （１）パネル上に抵抗膜を配置し、該抵抗膜の両端から
パネル上の指タッチ位置までの容量を測定し、これら容
量比から指タッチ位置の座標を検出するためのインピー
ダンス測定にＣＲ弛張発振器（１６）を用いる装置（１
１）において、 抵抗膜上へのインピーダンス接続がないときの発振周波
数を前記装置（１１）を装着する表示装置から発生され
る誘導ノイズの第ｎ高調波と第（ｎ＋１）高調波の間に
設定するための付加容量（２３）と抵抗（１７）を設け
たことを特徴とする座標検出装置。 - （２）抵抗膜上へのインピーダンス接続により変化する
検出回路発振周期が第ｎおよび第（ｎ＋１）高調波の範
囲に入るよう付加容量（２３）、抵抗（１７）およびＣ
Ｒ発振器（１６）を設けたことを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の座標検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60176455A JPS6237725A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 座標検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60176455A JPS6237725A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 座標検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6237725A true JPS6237725A (ja) | 1987-02-18 |
Family
ID=16013999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60176455A Pending JPS6237725A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 座標検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6237725A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0796485A4 (en) * | 1994-12-07 | 1998-09-16 | Cirque Corp | APPARATUS AND METHODS FOR PEST ELIMINATING PROXIMITY SENSORS |
| US8274481B2 (en) | 2004-10-22 | 2012-09-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device with touch sensor, and drive method for the device |
-
1985
- 1985-08-10 JP JP60176455A patent/JPS6237725A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0796485A4 (en) * | 1994-12-07 | 1998-09-16 | Cirque Corp | APPARATUS AND METHODS FOR PEST ELIMINATING PROXIMITY SENSORS |
| US8274481B2 (en) | 2004-10-22 | 2012-09-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device with touch sensor, and drive method for the device |
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