JPH0136082Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0136082Y2 JPH0136082Y2 JP6935482U JP6935482U JPH0136082Y2 JP H0136082 Y2 JPH0136082 Y2 JP H0136082Y2 JP 6935482 U JP6935482 U JP 6935482U JP 6935482 U JP6935482 U JP 6935482U JP H0136082 Y2 JPH0136082 Y2 JP H0136082Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- set value
- circle
- edge
- line
- side plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は触媒などの外観検査用測定具に関す
る。
る。
現在使用されている触媒は90φ，105.7φの２種
が多く使用されている。これらの触媒の外観検査
はノギスなどで一方向ずつ測定していたが、相当
の手間と時間を要する欠点があつた。
が多く使用されている。これらの触媒の外観検査
はノギスなどで一方向ずつ測定していたが、相当
の手間と時間を要する欠点があつた。
本考案の目的は、前記欠点を排除し、規格内で
あるかどうか簡単に判断できる円柱形物体のふち
欠け検査用測定具を提供するにある。
あるかどうか簡単に判断できる円柱形物体のふち
欠け検査用測定具を提供するにある。
以下本考案の一実施例を添付図面に基づいて説
明する。
明する。
ふち欠け触媒の一例を図示した第１図でｃはふ
ち欠け軸方向長さ設定値、ｄは端面部で外周より
の設定深さ、ａは端面における最大ふち欠け深さ
設定値、ｂは端面で前記設定深さｄにおけるふち
欠け円弧長さの設定値としたとき、次のようにし
て採用の可否を決定する。
ち欠け軸方向長さ設定値、ｄは端面部で外周より
の設定深さ、ａは端面における最大ふち欠け深さ
設定値、ｂは端面で前記設定深さｄにおけるふち
欠け円弧長さの設定値としたとき、次のようにし
て採用の可否を決定する。
(1) ふち欠け軸方向長さが設定値ｃより長いもの
は不合格とする。
は不合格とする。
(2) (1)項に合格し、しかもふち欠け深さが端面に
おける外周よりの設定深さｄより小さいものは
合格とする。
おける外周よりの設定深さｄより小さいものは
合格とする。
(3) (1)項に合格し、しかもふち欠け深さが前記設
定深さｄより大きい場合、端面におけるふち欠
け深さおよび前記円弧長さがそれぞれ設定値
ａ，ｂより小さいものは合格とする。
定深さｄより大きい場合、端面におけるふち欠
け深さおよび前記円弧長さがそれぞれ設定値
ａ，ｂより小さいものは合格とする。
本考案のふち欠け１の検査用測定具は上述の検
査を短時間に容易に実現できるようにしたもので
ある。その測定具は第２図のように透明な正方形
状の上面板２および短冊状側板３よりなり、上面
板２の一辺中央部で側板３の断面状にコの字形に
切欠き加工し、側板３を上面板２に挿入して直角
に固定し、第３図のように側板３には上面板２の
下面を基準として下方へ設定値ｃの位置に第１限
界線４とミリ目盛が刻まれている。又第４図で示
すように上面板２には側板３とＡ点で内接する円
形の触媒外周線５とその内方ｄの位置にあるD2
円６上に円弧が刻まれている。又前記Ａ点よりの
距離がふち欠け深さ規定値ａでＡ点をとおる半径
線７と直交する第２限界線８及びその半径線上の
ミリ目盛りとD2円６上でＡ点をとおる半径線７
の両側に振り分けて設けた全長が規定値ｂの円弧
の両端で該円弧と直交する第３、第４限界線９，
１０とこの円弧上にミリ目盛りが刻まれている。
査を短時間に容易に実現できるようにしたもので
ある。その測定具は第２図のように透明な正方形
状の上面板２および短冊状側板３よりなり、上面
板２の一辺中央部で側板３の断面状にコの字形に
切欠き加工し、側板３を上面板２に挿入して直角
に固定し、第３図のように側板３には上面板２の
下面を基準として下方へ設定値ｃの位置に第１限
界線４とミリ目盛が刻まれている。又第４図で示
すように上面板２には側板３とＡ点で内接する円
形の触媒外周線５とその内方ｄの位置にあるD2
円６上に円弧が刻まれている。又前記Ａ点よりの
距離がふち欠け深さ規定値ａでＡ点をとおる半径
線７と直交する第２限界線８及びその半径線上の
ミリ目盛りとD2円６上でＡ点をとおる半径線７
の両側に振り分けて設けた全長が規定値ｂの円弧
の両端で該円弧と直交する第３、第４限界線９，
１０とこの円弧上にミリ目盛りが刻まれている。
次に前記実施例の作用について説明する。
(1) 先づ第２図のように前記測定具の上面板２の
下面が触媒のふち欠け部１が存在する端面と接
し、上面板２上のD1円と触媒外周線とが重な
るように置き、さらに側板３がふち欠け部１の
部分で触媒と内接するように装着する。
下面が触媒のふち欠け部１が存在する端面と接
し、上面板２上のD1円と触媒外周線とが重な
るように置き、さらに側板３がふち欠け部１の
部分で触媒と内接するように装着する。
(2) 第３図で側板３の第１限界線４によりふち欠
け軸長が設定値ｃより長いものは不合格とす
る。
け軸長が設定値ｃより長いものは不合格とす
る。
(3) 第２項に合格し、しかも第４図でふち欠け深
さが端面での外周線５より内方への設定深さｄ
より小さいもの即ちふち欠けが浅くD2円６の
外部（右側）のみに存在するのは合格とする。
さが端面での外周線５より内方への設定深さｄ
より小さいもの即ちふち欠けが浅くD2円６の
外部（右側）のみに存在するのは合格とする。
(4) 第２項に合格し、しかも第１図でふち欠けが
深く前記設定深さｄより大きい場合端面におけ
るふち欠け深さおよび前記設定円弧長さがそれ
ぞれ設定値ａ，ｂより小さいもの即ち第４図で
ふち欠けがD2円６の内部まで入り込んでいる
場合はふち欠け深さが第２限界線８の左側に出
ることなく又ふち欠けの円６上の円弧長さが第
３、第４限界線９，１０の内側におさまりはみ
出さないものは合格とする。
深く前記設定深さｄより大きい場合端面におけ
るふち欠け深さおよび前記設定円弧長さがそれ
ぞれ設定値ａ，ｂより小さいもの即ち第４図で
ふち欠けがD2円６の内部まで入り込んでいる
場合はふち欠け深さが第２限界線８の左側に出
ることなく又ふち欠けの円６上の円弧長さが第
３、第４限界線９，１０の内側におさまりはみ
出さないものは合格とする。
なお以上の実施例では触媒のふち欠けについて
説明したが、本測定具は使用が触媒に限定される
ことなく、他の円柱形物体のふち欠け検査用にも
適用できる。又上面板は正方形、側板は短冊形に
限定されることなく、他の形状の板でも実現可能
である。
説明したが、本測定具は使用が触媒に限定される
ことなく、他の円柱形物体のふち欠け検査用にも
適用できる。又上面板は正方形、側板は短冊形に
限定されることなく、他の形状の板でも実現可能
である。
前述のとおり、本考案の測定具は直角に固定さ
れた透明板よりなり触媒などの円柱形物体のふち
欠け軸方向長さ、端面部での外周よりの最大ふち
欠け深さ、端面での設定深さｄにおけるふち欠け
円弧長さなどの４本の限界線が描かれているの
で、前記ふち欠けが規格内であるかどうか簡単に
判断可能な円柱形物体のふち欠け検査用測定具が
提供できる。
れた透明板よりなり触媒などの円柱形物体のふち
欠け軸方向長さ、端面部での外周よりの最大ふち
欠け深さ、端面での設定深さｄにおけるふち欠け
円弧長さなどの４本の限界線が描かれているの
で、前記ふち欠けが規格内であるかどうか簡単に
判断可能な円柱形物体のふち欠け検査用測定具が
提供できる。
第１図はふち欠け触媒の斜視図、第２図は本考
案の測定具をふち欠け触媒に装着した場合の斜視
図、第３図は第２図のＸ矢視図、第４図は第２図
でＹ矢視図である。 ２……上面板、３……側板、４……第１限界
線、５……D1円、６……D2円、７……半径線、
８……第２限界線、９……第３限界線、１０……
第４限界線。
案の測定具をふち欠け触媒に装着した場合の斜視
図、第３図は第２図のＸ矢視図、第４図は第２図
でＹ矢視図である。 ２……上面板、３……側板、４……第１限界
線、５……D1円、６……D2円、７……半径線、
８……第２限界線、９……第３限界線、１０……
第４限界線。
Claims (1)
- 透明な上面板と側板を直角に固定し、該側板上
には上面板下面を基準として下方に設定値ｃの位
置に第１限界線を刻み又該上面板上には側板にＡ
点で内接する被検査円柱形物体と同径の円D1と、
この円D1と同心で直径が設定値２ｄだけ小さい
円D2と、該Ａ点より距離が設定値ａでＡ点をと
おる半径線と直交する第２限界線と、該半径線の
両側に振り分け円D2上に設けた全長が設定値ｂ
の円弧の両端で該円弧と直交する第３、第４限界
線を刻んだ円柱形物体のふち欠け検査用測定具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6935482U JPS58172803U (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | 円柱形物体のふち欠け検査用測定具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6935482U JPS58172803U (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | 円柱形物体のふち欠け検査用測定具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58172803U JPS58172803U (ja) | 1983-11-18 |
| JPH0136082Y2 true JPH0136082Y2 (ja) | 1989-11-02 |
Family
ID=30079083
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6935482U Granted JPS58172803U (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | 円柱形物体のふち欠け検査用測定具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58172803U (ja) |
-
1982
- 1982-05-14 JP JP6935482U patent/JPS58172803U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58172803U (ja) | 1983-11-18 |
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