JPH0136143Y2 - - Google Patents
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- JPH0136143Y2 JPH0136143Y2 JP7453583U JP7453583U JPH0136143Y2 JP H0136143 Y2 JPH0136143 Y2 JP H0136143Y2 JP 7453583 U JP7453583 U JP 7453583U JP 7453583 U JP7453583 U JP 7453583U JP H0136143 Y2 JPH0136143 Y2 JP H0136143Y2
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- Japan
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- output
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- pulse
- circuit
- signal
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 5
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 8
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は映像信号記録再生装置の調整等に使用
できる周波数測定装置に関し、さらに詳言すれば
時間軸上の所定範囲における周波数を測定する周
波数測定装置に関する。
できる周波数測定装置に関し、さらに詳言すれば
時間軸上の所定範囲における周波数を測定する周
波数測定装置に関する。
(従来技術)
映像信号記録再生装置においては、合成カラー
テレビジヨン信号から分離した輝度信号は低搬送
波FM信号に変換されて磁気テープに記録され
る。しかるに映像信号記録再生装置において、輝
度信号中の白信号とシンクチツプとに対応する周
波数の差、すなわち周波数偏移が画質に大きな影
響を与えるため、映像信号記録再生装置の調整時
に白レベル信号とシンクチツプとに対応する周波
数被変調信号の周波数測定が行なわれる。
テレビジヨン信号から分離した輝度信号は低搬送
波FM信号に変換されて磁気テープに記録され
る。しかるに映像信号記録再生装置において、輝
度信号中の白信号とシンクチツプとに対応する周
波数の差、すなわち周波数偏移が画質に大きな影
響を与えるため、映像信号記録再生装置の調整時
に白レベル信号とシンクチツプとに対応する周波
数被変調信号の周波数測定が行なわれる。
従来、こ周波数測定は輝度信号で周波数変調さ
れた周波数被変調信号をスペクトラムアナライザ
に供給して、そのスペクトラム群を観測しつつシ
ンクチツプ、または白レベル信号に相当する位置
を、スペクトラムアナライザの確度をあげて行く
ことによつて判知し、その周波数を画面上から読
み取つていた。
れた周波数被変調信号をスペクトラムアナライザ
に供給して、そのスペクトラム群を観測しつつシ
ンクチツプ、または白レベル信号に相当する位置
を、スペクトラムアナライザの確度をあげて行く
ことによつて判知し、その周波数を画面上から読
み取つていた。
しかし上記した測定方法は極めて不正確な測定
方法であつて、測定に個人差が多いほか、正確な
測定値を得るために測定に長時間を必要とする欠
点があつた。
方法であつて、測定に個人差が多いほか、正確な
測定値を得るために測定に長時間を必要とする欠
点があつた。
また、高周波信号発生器の出力信号をスペクト
ラムアナライザに供給し、スペクトラムアナライ
ザ画面上で周波数変調されたスペクトラム群に重
畳し、シンクチツプ、または白レベル信号の位置
におき、そのときの高周波信号発生器の出力信号
周波数を読み取ることにより測定することも行な
われている。
ラムアナライザに供給し、スペクトラムアナライ
ザ画面上で周波数変調されたスペクトラム群に重
畳し、シンクチツプ、または白レベル信号の位置
におき、そのときの高周波信号発生器の出力信号
周波数を読み取ることにより測定することも行な
われている。
しかし、この方法によるときも、スペクトラム
アナライザの測定確度をあげ、かつ重畳させた高
周波信号スペクトラムを可能な限り針状にする必
要があり、またスポツト信号として重畳させる場
合においても、スポツト信号を可能な限り収束さ
せて点状にする必要があつて、測定に長時間を要
し、かつ必ずしも正確な測定結果を得ることがで
きない欠点があつた。
アナライザの測定確度をあげ、かつ重畳させた高
周波信号スペクトラムを可能な限り針状にする必
要があり、またスポツト信号として重畳させる場
合においても、スポツト信号を可能な限り収束さ
せて点状にする必要があつて、測定に長時間を要
し、かつ必ずしも正確な測定結果を得ることがで
きない欠点があつた。
(考案の目的)
本考案は上記にかんがみなされたもので、上記
の欠点を解消し、時間軸上の所定範囲における周
波数を簡単な構成で、正確かつ短時間に測定でき
る周波数測定装置を提供することを目的とする。
の欠点を解消し、時間軸上の所定範囲における周
波数を簡単な構成で、正確かつ短時間に測定でき
る周波数測定装置を提供することを目的とする。
以下、本考案を実施例により説明する。
(考案の構成)
第1図は本考案の一実施例の構成を示すブロツ
ク図である。
ク図である。
なお、以下の説明において合成カラーテレビジ
ヨン信号中から分離した輝度信号で周波数変調さ
れた信号を、被測定信号として説明する。
ヨン信号中から分離した輝度信号で周波数変調さ
れた信号を、被測定信号として説明する。
IN1は合成カラーテレビジヨン信号が供給され
る入力端子であり、IN2は入力端子IN1に供給さ
れた合成カラーテレビジヨン信号中から分離した
輝度信号が周波数変調器1を介して供給さらる入
力端子であり、入力端子IN2には輝度信号で周波
数変調された周波数被変調信号が供給される。
る入力端子であり、IN2は入力端子IN1に供給さ
れた合成カラーテレビジヨン信号中から分離した
輝度信号が周波数変調器1を介して供給さらる入
力端子であり、入力端子IN2には輝度信号で周波
数変調された周波数被変調信号が供給される。
2はパルス発生器であつて、周波数被変調信号
の周波数を測定したい部分範囲位置の出力パルス
A、出力パルスAを反転した出力パルスB、出力
パルスAのパルス幅内に位置しかつ出力パルスA
のパルス幅より短い幅の出力パルスCおよび出力
パルスBのパルス幅内に位置する出力パルスDを
それぞれ出力する。いま仮に輝度信号中のシンク
チツプに対応する周波数被変調信号の周波数を測
定する場合についていえば出力パルスAは輝度信
号中のシンクチツプを分離し再生した出力パルス
であつて、そのパルス幅はシンクチツプのパルス
幅に等しいか、または狭くかつ時間軸上の位置も
シンクチツプの時間軸上の位置に等しいパルスで
ある。
の周波数を測定したい部分範囲位置の出力パルス
A、出力パルスAを反転した出力パルスB、出力
パルスAのパルス幅内に位置しかつ出力パルスA
のパルス幅より短い幅の出力パルスCおよび出力
パルスBのパルス幅内に位置する出力パルスDを
それぞれ出力する。いま仮に輝度信号中のシンク
チツプに対応する周波数被変調信号の周波数を測
定する場合についていえば出力パルスAは輝度信
号中のシンクチツプを分離し再生した出力パルス
であつて、そのパルス幅はシンクチツプのパルス
幅に等しいか、または狭くかつ時間軸上の位置も
シンクチツプの時間軸上の位置に等しいパルスで
ある。
一方、入力端子IN2に供給された周波数被変調
波はリミツタ3に供給して振幅制限のうえミキサ
4に供給し、発振器5の発振出力と混合のうえ高
域周波数に変換して同調増幅器6に供給する。同
調増幅器6において増幅されたミキサ4あらの出
力信号はサンプリング回路7に供給し、パルス発
生器2から出力された出力パルスAでサンプリン
グする。一方8は参照周波数発振器(以下、
REF OSCと記す)であり、REF OSC8の発振
出力はサンプリング回路9に供給し、パルス発生
器2から出力された出力パルスBでサンプリング
する。
波はリミツタ3に供給して振幅制限のうえミキサ
4に供給し、発振器5の発振出力と混合のうえ高
域周波数に変換して同調増幅器6に供給する。同
調増幅器6において増幅されたミキサ4あらの出
力信号はサンプリング回路7に供給し、パルス発
生器2から出力された出力パルスAでサンプリン
グする。一方8は参照周波数発振器(以下、
REF OSCと記す)であり、REF OSC8の発振
出力はサンプリング回路9に供給し、パルス発生
器2から出力された出力パルスBでサンプリング
する。
サンプリング回路7および9の出力は合成回路
10に供給して合成する。合成回路10の出力信
号は周波数−電圧変換器(以下、F−V変換器と
記す)11に供給して周波数−電圧変換する。
10に供給して合成する。合成回路10の出力信
号は周波数−電圧変換器(以下、F−V変換器と
記す)11に供給して周波数−電圧変換する。
F−V変換器11の出力はサンプルホールド回
路12および13に供給し、パルス発生器2から
出力された出力パルスCおよびDによつてそれぞ
れサンプリングしてホールドする。サンプルホー
ルド回路12および13の出力信号は電圧比較回
路14に供給して、そのレベルを比較する。電圧
比較回路14の出力は指示回路15に供給し、指
示される。
路12および13に供給し、パルス発生器2から
出力された出力パルスCおよびDによつてそれぞ
れサンプリングしてホールドする。サンプルホー
ルド回路12および13の出力信号は電圧比較回
路14に供給して、そのレベルを比較する。電圧
比較回路14の出力は指示回路15に供給し、指
示される。
(考案の作用)
以上の如く構成した本考案の一実施例におい
て、シンクチツプに対応する周波数被変調信号の
周波数を測定する場合を例に作用を説明する。
て、シンクチツプに対応する周波数被変調信号の
周波数を測定する場合を例に作用を説明する。
入力端子IN1に供給された合成カラーテレビジ
ヨン信号はパルス発生器2に供給されて、パルス
発生器2は第2図A〜Dに示した出力パルスA〜
Dを出力する。ここで第2図A0は合成カラーテ
レビジヨン信号から分離した輝度信号波形を示し
ている。出力パルスAは合成カラーテレビジヨン
信号中からシンクチツプを分離し再生したパルス
であつて、シンクチツプと時間軸上で同一位置に
発生させた同一パルス幅のパルスであり、第2図
Aに示してある。出力パルスBは第2図Aに示し
た出力パルスAを反転した出力パルスであり、第
2図Bに示す如くである。出力パルスCは第2図
Aに示した出力パルスAの出力パルス幅より狭い
パルス幅を有しかつ出力パルスAのパルス幅内に
位置しており、第2図Cに示す如くである。出力
パルスDは出力パルスB内の任意の位置で出力さ
れるパルスであり、第2図Dに示す如くである。
ここで出力パルスAのパルス幅は第2図Aに示し
た出力パルスのパルス幅より狭く設定してもよ
い。
ヨン信号はパルス発生器2に供給されて、パルス
発生器2は第2図A〜Dに示した出力パルスA〜
Dを出力する。ここで第2図A0は合成カラーテ
レビジヨン信号から分離した輝度信号波形を示し
ている。出力パルスAは合成カラーテレビジヨン
信号中からシンクチツプを分離し再生したパルス
であつて、シンクチツプと時間軸上で同一位置に
発生させた同一パルス幅のパルスであり、第2図
Aに示してある。出力パルスBは第2図Aに示し
た出力パルスAを反転した出力パルスであり、第
2図Bに示す如くである。出力パルスCは第2図
Aに示した出力パルスAの出力パルス幅より狭い
パルス幅を有しかつ出力パルスAのパルス幅内に
位置しており、第2図Cに示す如くである。出力
パルスDは出力パルスB内の任意の位置で出力さ
れるパルスであり、第2図Dに示す如くである。
ここで出力パルスAのパルス幅は第2図Aに示し
た出力パルスのパルス幅より狭く設定してもよ
い。
一方、第2図A0に示す波形の輝度信号で周波
数変調器1によつて周波数変調された周波数被変
調波は入力端子IN2を介してリミツタ3に供給さ
れ、振幅制限される。周波数被変調信号中におい
て、輝度信号中のシンクチツプに対応する周波数
をHとする。振幅制限された周波数被変調信号は
ミキサ4において発振器5の発振出力と混合され
る。いま発振器5の発振周波数をpとすれば、シ
ンクチツプに対応する周波数Hに注目すれば周波
数HはHD(=p+H)に変換される。ミキサ4の
混合出力は同調増幅器6において選択増幅され、
ミキサ4によつて発生したスプリアスは除去され
る。したがつて同調増幅器6に代つてバンドパス
フイルタを用いてもよい。
数変調器1によつて周波数変調された周波数被変
調波は入力端子IN2を介してリミツタ3に供給さ
れ、振幅制限される。周波数被変調信号中におい
て、輝度信号中のシンクチツプに対応する周波数
をHとする。振幅制限された周波数被変調信号は
ミキサ4において発振器5の発振出力と混合され
る。いま発振器5の発振周波数をpとすれば、シ
ンクチツプに対応する周波数Hに注目すれば周波
数HはHD(=p+H)に変換される。ミキサ4の
混合出力は同調増幅器6において選択増幅され、
ミキサ4によつて発生したスプリアスは除去され
る。したがつて同調増幅器6に代つてバンドパス
フイルタを用いてもよい。
同調増幅器6の出力信号はサンプリング回路7
に供給され、出力パルスAによつてサンプリング
される。したがつてサンプリング回路7の出力信
号の周波数はHDである。一方、REF OSC8の発
振出力はサンプリング回路9に供給され、出力パ
ルスBによつてサンプリングされる。したがつて
サンプリング回路9の出力信号の周波数はREF
OSC8の発振周波数REFである。
に供給され、出力パルスAによつてサンプリング
される。したがつてサンプリング回路7の出力信
号の周波数はHDである。一方、REF OSC8の発
振出力はサンプリング回路9に供給され、出力パ
ルスBによつてサンプリングされる。したがつて
サンプリング回路9の出力信号の周波数はREF
OSC8の発振周波数REFである。
サンプリング回路7および9の出力信号は合成
回路10において合成される。したがつて合成回
路10の出力は第2図Eに示す如く出力パルスA
の発生期間においては周波数HDの出力となり、
他の期間においてはREF OSC8の発振周波数
REFの出力となる。
回路10において合成される。したがつて合成回
路10の出力は第2図Eに示す如く出力パルスA
の発生期間においては周波数HDの出力となり、
他の期間においてはREF OSC8の発振周波数
REFの出力となる。
合成回路10の出力はF−V変換器11に供給
されて電圧信号に変換され、F−V変換器11か
らは第2図Fに示す如き出力が発生する。第2図
FにおいてVfHDはサンプリング回路7から出力さ
れた周波数HDの出力信号に対する出力電圧であ
り、VfREFはサンプリング回路9から出力された
周波数REFの出力信号に対する出力電圧である。
されて電圧信号に変換され、F−V変換器11か
らは第2図Fに示す如き出力が発生する。第2図
FにおいてVfHDはサンプリング回路7から出力さ
れた周波数HDの出力信号に対する出力電圧であ
り、VfREFはサンプリング回路9から出力された
周波数REFの出力信号に対する出力電圧である。
F−V変換器11からの第2図Fに示した出力
電圧はサンプルホールド回路12および13にそ
れぞれ供給されて、サンプルホールド回路112
において出力パルスCによりサンプリングホール
ドされ、サンプルホールド回路13において出力
パルスDによりサンプリングホールドされる。し
たがつてサンプルホールド回路12の出力信号は
直流電圧VfHDの信号であり、サンプルホールド回
路13の出力信号は直流電圧VfREFの信号である。
この両信号が電圧比較回路14に供給されて比較
される。したがつて電圧比較回路14の出力信号
電圧は(VfHD−VfREF)に対応しており、この出
力信号は指示回路15において指示される。
電圧はサンプルホールド回路12および13にそ
れぞれ供給されて、サンプルホールド回路112
において出力パルスCによりサンプリングホール
ドされ、サンプルホールド回路13において出力
パルスDによりサンプリングホールドされる。し
たがつてサンプルホールド回路12の出力信号は
直流電圧VfHDの信号であり、サンプルホールド回
路13の出力信号は直流電圧VfREFの信号である。
この両信号が電圧比較回路14に供給されて比較
される。したがつて電圧比較回路14の出力信号
電圧は(VfHD−VfREF)に対応しており、この出
力信号は指示回路15において指示される。
この結果、たとえば指示回路15をセンタ零の
指示計で構成した場合、被測定周波数をMとし
て、REF−M=Oに設定したときセンタ零の指示
計はセンタ零の指示を行なうことになり、センタ
零の指示計がセンタ零を指示するようにREFまた
Oを調整し、センタ零を指示したときの(REF−
O)により被測定周波数Mを測定することができ
る。
指示計で構成した場合、被測定周波数をMとし
て、REF−M=Oに設定したときセンタ零の指示
計はセンタ零の指示を行なうことになり、センタ
零の指示計がセンタ零を指示するようにREFまた
Oを調整し、センタ零を指示したときの(REF−
O)により被測定周波数Mを測定することができ
る。
また、ミキサ4および発振器5を省略しても差
支えなく、この場合は電圧比較器14の出力電圧
が零のときにおけるREF OSC8の発振周波数が
被測定周波数Mを示すことになる。
支えなく、この場合は電圧比較器14の出力電圧
が零のときにおけるREF OSC8の発振周波数が
被測定周波数Mを示すことになる。
以上の説明において、輝度信号で周波数変調さ
れた周波数被変調信号中のシンクチツプ位置に対
応する部分の周波数を測定する場合を例にその作
用を説明したが、シンクチツプに対応する部分に
代つて白信号に対応する部分の周波数も同様に測
定できる。白信号に対応する部分の周波数を測定
するときはパルス発生器2から白信号位置に対応
した出力パルスA(第2図Gに示す)を出力させ
ればよく、映像信号記録再生装置の検査等の場合
には白信号位置が特定された輝度信号が用いられ
るため、輝度信号中のシンクチツプの前縁を基準
に第2図Gに示した出力パルスAを作ることも容
易である。さらに第2図Gに示した出力パルスA
に対応して出力パルスB〜Dを作ることも容易で
あつて、上記シンクチツプの場合と同様に、白信
号に対応する周波数を測定することができ、この
測定周波数とシンクチツプに対応する周波数との
差を演算することにより周波数偏移を知ることも
できる。
れた周波数被変調信号中のシンクチツプ位置に対
応する部分の周波数を測定する場合を例にその作
用を説明したが、シンクチツプに対応する部分に
代つて白信号に対応する部分の周波数も同様に測
定できる。白信号に対応する部分の周波数を測定
するときはパルス発生器2から白信号位置に対応
した出力パルスA(第2図Gに示す)を出力させ
ればよく、映像信号記録再生装置の検査等の場合
には白信号位置が特定された輝度信号が用いられ
るため、輝度信号中のシンクチツプの前縁を基準
に第2図Gに示した出力パルスAを作ることも容
易である。さらに第2図Gに示した出力パルスA
に対応して出力パルスB〜Dを作ることも容易で
あつて、上記シンクチツプの場合と同様に、白信
号に対応する周波数を測定することができ、この
測定周波数とシンクチツプに対応する周波数との
差を演算することにより周波数偏移を知ることも
できる。
たとえば搬送周波数が3.5MHz程度でその周波
数偏移が±1MHz程度の周波数被変調波の周波数
を、±5kHz以内の誤差で測定することは容易にで
きる。
数偏移が±1MHz程度の周波数被変調波の周波数
を、±5kHz以内の誤差で測定することは容易にで
きる。
また、以上の説明において映像信号記録再生装
置における輝度信号で周波数変調された周波数被
変調信号の周波数を測定する場合を例示して説明
したが、これに限る必要はなく、被測定信号の時
間軸上の所定位置における周波数を測定できるこ
とは明らかである。
置における輝度信号で周波数変調された周波数被
変調信号の周波数を測定する場合を例示して説明
したが、これに限る必要はなく、被測定信号の時
間軸上の所定位置における周波数を測定できるこ
とは明らかである。
(考案の効果)
以上説明した如く本考案によれば、被測定信号
の時間軸上における所定範囲における周波数を簡
単な構成で、正確かつ短時間に測定することがで
きる。
の時間軸上における所定範囲における周波数を簡
単な構成で、正確かつ短時間に測定することがで
きる。
第1図は本考案の一実施例の構成を示すブロツ
ク図。第2図は本考案の一実施例の作用の説明に
供する波形図。 1…周波数変調器、2…パルス発生器、7およ
び9…サンプリング回路、8…REF OSC、10
…合成回路、11…F−V変換器、12および1
3…サンプルホールド回路、14…電圧比較器、
15…指示回路。
ク図。第2図は本考案の一実施例の作用の説明に
供する波形図。 1…周波数変調器、2…パルス発生器、7およ
び9…サンプリング回路、8…REF OSC、10
…合成回路、11…F−V変換器、12および1
3…サンプルホールド回路、14…電圧比較器、
15…指示回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 周波数被測定信号の時間軸上における所定範囲
幅の第1の出力パルス、該第1の出力パルスを反
転した第2の出力パルス、前記第1の出力パルス
幅内に位置しかつ前記第1の出力パルス幅より狭
いパルス幅の第3の出力パルスおよび前記第2の
出力パルス幅内に位置する第4のパルスを出力す
るパルス発生器と、 前記周波数被測定信号または前記周波数被測定
信号を周波数変換した信号を前記第1の出力パル
スでサンプリングする第1のサンプリング回路
と、 発振器と、 前記発振器の発振出力を前記第2の出力パルス
でサンプリングする第2のサンプリング回路と、 前記第1のサンプリング回路の出力と前記第2
のサンプリング回路の出力とを合成する合成回路
と、 前記合成回路の出力を周波数−電圧変換する周
波数−電圧変換器と、 前記周波数−電圧変換器の出力を前記第3の出
力パルスおよび前記第4の出力パルスでそれぞれ
各別にサンプルホールドする第1および第2のサ
ンプルホールド回路と、 前記第1のサンプルホールド回路の出力レベル
と前記第2のサンプルホールド回路の出力レベル
とを比較する電圧比較回路と、 前記電圧比較回路の出力を指示する指示手段
と、 を備えてなることを特徴とする周波数測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7453583U JPS59180681U (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 周波数測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7453583U JPS59180681U (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 周波数測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59180681U JPS59180681U (ja) | 1984-12-03 |
| JPH0136143Y2 true JPH0136143Y2 (ja) | 1989-11-02 |
Family
ID=30204624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7453583U Granted JPS59180681U (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 周波数測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59180681U (ja) |
-
1983
- 1983-05-20 JP JP7453583U patent/JPS59180681U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59180681U (ja) | 1984-12-03 |
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