JPH0137000B2 - - Google Patents
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- JPH0137000B2 JPH0137000B2 JP58053508A JP5350883A JPH0137000B2 JP H0137000 B2 JPH0137000 B2 JP H0137000B2 JP 58053508 A JP58053508 A JP 58053508A JP 5350883 A JP5350883 A JP 5350883A JP H0137000 B2 JPH0137000 B2 JP H0137000B2
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- substrate
- wiring
- light receiving
- receiving circuit
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- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/50—Encapsulations or containers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4201—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
- G02B6/4274—Electrical aspects
- G02B6/4277—Protection against electromagnetic interference [EMI], e.g. shielding means
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4201—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
- G02B6/4251—Sealed packages
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
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- G02B6/4256—Details of housings
- G02B6/4262—Details of housings characterised by the shape of the housing
- G02B6/4265—Details of housings characterised by the shape of the housing of the Butterfly or dual inline package [DIP] type
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/62—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their interconnections
- H10W70/63—Vias, e.g. via plugs
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/734—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
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- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は光フアイバを介して電気―光―電気の
光伝送を行なう時に使用する光―電気の信号変換
をする光受信モジユールに関する。
光伝送を行なう時に使用する光―電気の信号変換
をする光受信モジユールに関する。
第1図を参照して従来の光受信モジユールを説
明する。第1図において、出力端子例えば外部リ
ード端子11が植設された金属外囲器12に所定
の配線がされた配線基板13が固定されている。
この配線基板13上には集積回路14、抵抗1
5、コンデンサ16等の回路素子からなる光受信
回路及び、光コネクタ(図示せず)に結合可能な
リセプタクル17に実装した受光素子18とを
各々半田付けされている。さらに外部電磁界から
のシールドのためにアース電位にした金属ケース
19が金属外囲器12を覆つている。この時、リ
セプタクル17は金属外囲器12にねじで止めて
固定されている。
明する。第1図において、出力端子例えば外部リ
ード端子11が植設された金属外囲器12に所定
の配線がされた配線基板13が固定されている。
この配線基板13上には集積回路14、抵抗1
5、コンデンサ16等の回路素子からなる光受信
回路及び、光コネクタ(図示せず)に結合可能な
リセプタクル17に実装した受光素子18とを
各々半田付けされている。さらに外部電磁界から
のシールドのためにアース電位にした金属ケース
19が金属外囲器12を覆つている。この時、リ
セプタクル17は金属外囲器12にねじで止めて
固定されている。
第1図に示した光受信モジユールは、光コネク
タ(図示せず)を介し受光素子18に略10-7乃至
略10-6Wの光信号が入射されると、この光信号は
略10-7乃至略10-6Aの電流信号に変換される。こ
の電流信号は集積回路14に入力されて、増幅及
び波形整形された後、数Vの電圧信号として外部
リード端子11に出力される。この際、受光素子
18のリード線20と光受信回路と外部リード端
子11とは電気的に接続しているのは言うまでも
ない。
タ(図示せず)を介し受光素子18に略10-7乃至
略10-6Wの光信号が入射されると、この光信号は
略10-7乃至略10-6Aの電流信号に変換される。こ
の電流信号は集積回路14に入力されて、増幅及
び波形整形された後、数Vの電圧信号として外部
リード端子11に出力される。この際、受光素子
18のリード線20と光受信回路と外部リード端
子11とは電気的に接続しているのは言うまでも
ない。
しかしながら、第1図に示した光受信モジユー
ルを使用すると、受光素子18のリード線20お
よび配線基板13上に形成された受光素子から集
積回路14への入力配線(図示せず)と、配線基
板13上に形成された集積回路14の出力配線
(図示せず)および外部リード端子11との間の
静電容量Cにより光受信モジユールは誤動作や発
振を生ずることがある。
ルを使用すると、受光素子18のリード線20お
よび配線基板13上に形成された受光素子から集
積回路14への入力配線(図示せず)と、配線基
板13上に形成された集積回路14の出力配線
(図示せず)および外部リード端子11との間の
静電容量Cにより光受信モジユールは誤動作や発
振を生ずることがある。
即ち、第1図に示した光受信モジユールにおい
て、外部リード端子11に出力される信号が△t
時間の間に△vの電圧変化する場合、リード線2
0および配線基板13上の受光素子18から集積
回路14への入力配線には電流i=C×△v/△tの 電流が誘導される。通常静電容量Cは略0.01PF
以下である。そこで△v=3V、△t=30nsの場
合、電流i=10-6Aとなる。したがつて、電流i
は受光素子18から出力される信号電流略10-7乃
至略10-6Aと同程度となり、光受信モジユールが
誤動作、発振したりする危険が生じる。さらに、
電流iが増加する傾向は△tが小さくなる時即ち
高速に至るほど顕著となる。よつて第1図に示し
た光受信モジユールは、高速の光受信モジユール
には不適当である。その上、第1図に示した光受
信モジユール自体は気密化されていないので、抵
抗15、コンデンサ16等の耐湿性が不完全とな
る。例えば、第1図に示した光受信モジユールに
121℃で2気圧のプレツシヤー・クツカーテスト
等の耐湿試験を実施した場合、光受信モジユール
の性能が大幅に劣化することが確認される。
て、外部リード端子11に出力される信号が△t
時間の間に△vの電圧変化する場合、リード線2
0および配線基板13上の受光素子18から集積
回路14への入力配線には電流i=C×△v/△tの 電流が誘導される。通常静電容量Cは略0.01PF
以下である。そこで△v=3V、△t=30nsの場
合、電流i=10-6Aとなる。したがつて、電流i
は受光素子18から出力される信号電流略10-7乃
至略10-6Aと同程度となり、光受信モジユールが
誤動作、発振したりする危険が生じる。さらに、
電流iが増加する傾向は△tが小さくなる時即ち
高速に至るほど顕著となる。よつて第1図に示し
た光受信モジユールは、高速の光受信モジユール
には不適当である。その上、第1図に示した光受
信モジユール自体は気密化されていないので、抵
抗15、コンデンサ16等の耐湿性が不完全とな
る。例えば、第1図に示した光受信モジユールに
121℃で2気圧のプレツシヤー・クツカーテスト
等の耐湿試験を実施した場合、光受信モジユール
の性能が大幅に劣化することが確認される。
本発明は上述の点に鑑みてなされたものであ
り、受光素子から光受信回路間の接続部と、光受
信回路から出力端子間との静電容量を減少した高
速、高信頼性の光受信モジユールを提供すること
を目的としている。
り、受光素子から光受信回路間の接続部と、光受
信回路から出力端子間との静電容量を減少した高
速、高信頼性の光受信モジユールを提供すること
を目的としている。
本発明は上述の目的を達成するために、複数層
の配線基板に第1の配線及び第2の配線とに電気
的に分離しアース電位となる導電体が形成され、
且つ第1の導電性部材は導電体に電気的に接続
し、導電体および第1の導電性部材により第1の
配線および受光素子が第2の配線からシールドさ
れ、さらにアース電位とした第2の導電部材によ
り第1の配線および受光素子が出力端子からシー
ルドされている光受信モジユールにより、受光素
子から光受信回路間の入力ラインと、光受信回路
から出力端子間の出力ラインの間に発生する静電
容量を極めて少なくすることが可能である。
の配線基板に第1の配線及び第2の配線とに電気
的に分離しアース電位となる導電体が形成され、
且つ第1の導電性部材は導電体に電気的に接続
し、導電体および第1の導電性部材により第1の
配線および受光素子が第2の配線からシールドさ
れ、さらにアース電位とした第2の導電部材によ
り第1の配線および受光素子が出力端子からシー
ルドされている光受信モジユールにより、受光素
子から光受信回路間の入力ラインと、光受信回路
から出力端子間の出力ラインの間に発生する静電
容量を極めて少なくすることが可能である。
以下本発明の実施例を図面に従つて説明する。
第2図に本発明の一実施例を示す。例えば所定の
配線を備えた3層の配線基板例えばセラミツク基
板21上には銀ろう付で電位をアースにとつたコ
バール(鉄―ニツケル―コバルト合金)のシール
リング22を設けられその内部に、受信集積回路
(以下受信ICと称す)23、チツプ抵抗24、チ
ツプコンデンサ25とからなる回路素子が銀ペー
ストでマウントされ、受信IC23がワイヤーボ
ンデイングされた後、コバールからなる第1の導
電性部材即ちシエル26はシールリング22にの
せられシーム溶接される。一方受光素子27は
TO―5等の気密パツケージにマウントされ、光
コネクタが結合できるリセプタクル28に実装
後、このリセプタクル28はセラミツク基板21
の下に銀ろう付で取付けられた電位をアースにと
つた放熱用の金属板29に取付穴30を介してね
じ止めされている。さらにこの受光素子27のリ
ード線31は半田付パツド32に半田付けされて
外部電磁界からのシールドし且つ、受信IC23
の出力端子となる外部リード端子33からリード
線31をシールドするためアース電位にした第2
の導電性部材即ち金属カバー34をかぶせた構成
である。本構成の光受信モジユールは光コネクタ
を介し、受光素子27に約10-7乃至約10-6Wの光
信号が入射されると、光信号が約10-7乃至約
10-8Aの電流信号に変換される。
第2図に本発明の一実施例を示す。例えば所定の
配線を備えた3層の配線基板例えばセラミツク基
板21上には銀ろう付で電位をアースにとつたコ
バール(鉄―ニツケル―コバルト合金)のシール
リング22を設けられその内部に、受信集積回路
(以下受信ICと称す)23、チツプ抵抗24、チ
ツプコンデンサ25とからなる回路素子が銀ペー
ストでマウントされ、受信IC23がワイヤーボ
ンデイングされた後、コバールからなる第1の導
電性部材即ちシエル26はシールリング22にの
せられシーム溶接される。一方受光素子27は
TO―5等の気密パツケージにマウントされ、光
コネクタが結合できるリセプタクル28に実装
後、このリセプタクル28はセラミツク基板21
の下に銀ろう付で取付けられた電位をアースにと
つた放熱用の金属板29に取付穴30を介してね
じ止めされている。さらにこの受光素子27のリ
ード線31は半田付パツド32に半田付けされて
外部電磁界からのシールドし且つ、受信IC23
の出力端子となる外部リード端子33からリード
線31をシールドするためアース電位にした第2
の導電性部材即ち金属カバー34をかぶせた構成
である。本構成の光受信モジユールは光コネクタ
を介し、受光素子27に約10-7乃至約10-6Wの光
信号が入射されると、光信号が約10-7乃至約
10-8Aの電流信号に変換される。
第2図に示した光受信モジユールを第3図を参
照して説明する。約10-7乃至約10-8Aの電流信号
は、リード線31、半田付パツド32、第1の配
線即ちセラミツク基板21中のスルーホール35
とセラミツク基板21の第3層上の配線36及び
スルーホール37、ボンデイングパツド38、ボ
ンデイングワイヤー39を介して、受信IC23
に入力される。受信された信号は受信IC23で
増幅及び波形整形されて略3V以下の電圧信号と
なり、受信IC23よりボンデイングワイヤー4
0、ボンデイングパツド41、第2の配線即ちス
ルーホール42及び第2層上の配線43を通じ
て、セラミツク基板21の側面に取り付けられた
出力端子即ち外部リード端子33に出力される。
尚、44はスルーホールとセラミツク基板21の
各層の配線で構成された導電体からなるアースで
ある。この導電体はアースするものであればどの
ようなものでも良いのは言うまでもない。
照して説明する。約10-7乃至約10-8Aの電流信号
は、リード線31、半田付パツド32、第1の配
線即ちセラミツク基板21中のスルーホール35
とセラミツク基板21の第3層上の配線36及び
スルーホール37、ボンデイングパツド38、ボ
ンデイングワイヤー39を介して、受信IC23
に入力される。受信された信号は受信IC23で
増幅及び波形整形されて略3V以下の電圧信号と
なり、受信IC23よりボンデイングワイヤー4
0、ボンデイングパツド41、第2の配線即ちス
ルーホール42及び第2層上の配線43を通じ
て、セラミツク基板21の側面に取り付けられた
出力端子即ち外部リード端子33に出力される。
尚、44はスルーホールとセラミツク基板21の
各層の配線で構成された導電体からなるアースで
ある。この導電体はアースするものであればどの
ようなものでも良いのは言うまでもない。
本発明の実施例が上記構成をとることにより
種々の効果を有する。第1に受光素子27のリー
ド線31から受信IC23への入力ラインと、受
信IC23から外部リード端子33への出力ライ
ンがアース電位の第1のシエル26とシールリン
グ22と、セラミツク基板21のアース44と、
アース電位の金属カバー34でシールドされてい
るため、両者の静電容量が著しく小さくでき、発
振や誤動作のない高速で安定な動作が可能となる
効果を有する。さらに、受信IC23からのボン
デイングワイヤー39,40とボンデイングパツ
ド38,41のみがシールド状態が薄いがボンデ
イングワイヤー39,40はφ25μmの金ワイヤ
ーを使用しボンデイングパツド38,41は略
200μm角の大きさのものを使用したため、ほとん
ど静電容量が無視できる。これに加えて、最も静
電容量に支配的な太いリード線31が外部リード
端子33から金属カバー34によりほぼ完全に近
い形でシールドされているのでより完全に静電容
量の発生を防止できる。実際に製作したもので
は、受光素子から光受信回路間の入力ラインと、
光受信回路から出力端子間の出力ラインの間に発
生する静電容量が10-15F以下のものが得られてお
り、非常に効果が高いことは実証済みである。
種々の効果を有する。第1に受光素子27のリー
ド線31から受信IC23への入力ラインと、受
信IC23から外部リード端子33への出力ライ
ンがアース電位の第1のシエル26とシールリン
グ22と、セラミツク基板21のアース44と、
アース電位の金属カバー34でシールドされてい
るため、両者の静電容量が著しく小さくでき、発
振や誤動作のない高速で安定な動作が可能となる
効果を有する。さらに、受信IC23からのボン
デイングワイヤー39,40とボンデイングパツ
ド38,41のみがシールド状態が薄いがボンデ
イングワイヤー39,40はφ25μmの金ワイヤ
ーを使用しボンデイングパツド38,41は略
200μm角の大きさのものを使用したため、ほとん
ど静電容量が無視できる。これに加えて、最も静
電容量に支配的な太いリード線31が外部リード
端子33から金属カバー34によりほぼ完全に近
い形でシールドされているのでより完全に静電容
量の発生を防止できる。実際に製作したもので
は、受光素子から光受信回路間の入力ラインと、
光受信回路から出力端子間の出力ラインの間に発
生する静電容量が10-15F以下のものが得られてお
り、非常に効果が高いことは実証済みである。
第2に、個別に気密封止された受光素子27に
加えて、回路素子からなる光受信回路がシーム溶
接等により気密封止されているので従来のものに
比べてより高信頼性のものが得られる。
加えて、回路素子からなる光受信回路がシーム溶
接等により気密封止されているので従来のものに
比べてより高信頼性のものが得られる。
次に第4図及び第5図を参照して本発明の他の
実施例を説明する。尚、第2図及び第3図のもの
と同所同一部材には同一記号を付している。
実施例を説明する。尚、第2図及び第3図のもの
と同所同一部材には同一記号を付している。
この実施例では、シエル26の溶接をシーム溶
接ではなく金―錫合金等の半田45によるシール
としている点が特徴である。この実施例では第4
図に示した光受信モールドのコバールからなるシ
ールリング22に相当する受信IC23への入力
ラインの出力ラインからのシールドのためのアー
スの役割を第1層46のセラミツク基板の側面4
7を導電性物質例えば金メツキし、アース電位に
することにより構成している。
接ではなく金―錫合金等の半田45によるシール
としている点が特徴である。この実施例では第4
図に示した光受信モールドのコバールからなるシ
ールリング22に相当する受信IC23への入力
ラインの出力ラインからのシールドのためのアー
スの役割を第1層46のセラミツク基板の側面4
7を導電性物質例えば金メツキし、アース電位に
することにより構成している。
さらに第4図及び第5図に示す光受信モジユー
ルにおいては、通常の受光IC23等の厚みと第
2の導電性シエルの高さを考慮し、第1層46を
設けたが、受光IC23等が薄いかまたは導電性
シエルを高く設定できる場合には第1層46は不
要となり、側面47の金メツキも不要となること
は言うまでもない。
ルにおいては、通常の受光IC23等の厚みと第
2の導電性シエルの高さを考慮し、第1層46を
設けたが、受光IC23等が薄いかまたは導電性
シエルを高く設定できる場合には第1層46は不
要となり、側面47の金メツキも不要となること
は言うまでもない。
(発明の効果〕
上述したように本発明によれば、受光素子から
光受信回路間の入力ラインと、光受信回路から出
力端子間の出力ラインの間に発生する静電容量が
極めて少なく、且つ安全気密構造であるため、高
速、高信頼性の光受信モジユールを得ることが可
能である。従つて、本発明の工業的価値は極めて
大である。
光受信回路間の入力ラインと、光受信回路から出
力端子間の出力ラインの間に発生する静電容量が
極めて少なく、且つ安全気密構造であるため、高
速、高信頼性の光受信モジユールを得ることが可
能である。従つて、本発明の工業的価値は極めて
大である。
第1図は従来の光受信モジユールを示す分解斜
視図、第2図は本発明の光受信モジユールの1実
施例を示す分解斜視図、第3図は第2図の要部拡
大断面図、第4図は本発明の光受信モジユールの
他の実施例の斜視図、第5図は第4図の要部拡大
断面図である。 11,33…外部リード端子、12…金属外囲
器、13…配線基板、14,23…受信IC、1
5,24…抵抗、16,25…コンデンサ、1
7,28…リセプタクル、18,27…受光素
子、19…金属ケース、20,31…リード線、
21…セラミツク基板、22…シールリング、2
6…シエル、29…金属板、30…取付穴、32
…半田付パツド、34…金属カバー、35,3
7,42…スルーホール、36,43…配線、3
8,41…ボンデイングパツド、39,40…ボ
ンデイングワイヤー、44…アース、45…半
田、46…第1層、47…側面。
視図、第2図は本発明の光受信モジユールの1実
施例を示す分解斜視図、第3図は第2図の要部拡
大断面図、第4図は本発明の光受信モジユールの
他の実施例の斜視図、第5図は第4図の要部拡大
断面図である。 11,33…外部リード端子、12…金属外囲
器、13…配線基板、14,23…受信IC、1
5,24…抵抗、16,25…コンデンサ、1
7,28…リセプタクル、18,27…受光素
子、19…金属ケース、20,31…リード線、
21…セラミツク基板、22…シールリング、2
6…シエル、29…金属板、30…取付穴、32
…半田付パツド、34…金属カバー、35,3
7,42…スルーホール、36,43…配線、3
8,41…ボンデイングパツド、39,40…ボ
ンデイングワイヤー、44…アース、45…半
田、46…第1層、47…側面。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板と、この基板に設けられた受信回路素子
と、前記基板に取付けられた出力端子と、受光素
子と、前記受光素子と前記受信回路素子とを接続
する前記基板に形成された第1の配線と、前記受
信回路素子と前記出力端子とを接続する前記基板
に形成された第2の配線と、前記第1の配線と前
記第2の配線とを分離する前記基板に形成された
アース電位となる導電体層と、前記受信回路素子
を収容して前記受信回路素子をシールドする前記
導電体層と接続された第1の導電性部材と、前記
受光素子を収容して前記受光素子をシールドする
前記導電体層と接続された第2の導電性部材とを
備えた光受信モジユール。 2 前記導電体層は、前記第1および第2の配線
を包囲するように形成されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の光受信モジユー
ル。 3 前記基板の上に導電性シールリングを備え、
前記第1の導電性部材は導電性シールリングに接
続されて前記受信回路素子を気密に封じているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光受
信モジユール。 4 前記基板は多層積層基板であることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の光受信モジユー
ル。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58053508A JPS59180514A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 光受信モジユ−ル |
| US06/594,018 US4647148A (en) | 1983-03-31 | 1984-03-27 | Fiber optic receiver module |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58053508A JPS59180514A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 光受信モジユ−ル |
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| JPS59180514A JPS59180514A (ja) | 1984-10-13 |
| JPH0137000B2 true JPH0137000B2 (ja) | 1989-08-03 |
Family
ID=12944757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58053508A Granted JPS59180514A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 光受信モジユ−ル |
Country Status (2)
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