JPH0138516Y2 - - Google Patents

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JPH0138516Y2
JPH0138516Y2 JP13245183U JP13245183U JPH0138516Y2 JP H0138516 Y2 JPH0138516 Y2 JP H0138516Y2 JP 13245183 U JP13245183 U JP 13245183U JP 13245183 U JP13245183 U JP 13245183U JP H0138516 Y2 JPH0138516 Y2 JP H0138516Y2
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test piece
test
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finger
specimen
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JP13245183U
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JPS6039954U (ja
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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、マニピユレータにより試験片供給台
上の試験片を材料試験装置に装着する試験片供給
装置に関する。
鋼板等の材料試験を行なう場合、所定の試験片
を作成し、その試験片を材料試験装置に装着して
材料試験をするのであるが、大量の試験片を処理
する場合には試験能率を上げるために、試験片供
給台に大量の試験片を置いておき、この試験片供
給台からロボツト等のマニピユレータのフインガ
ー部に試験片を把持させて一つづつ材料試験装置
に供給することが行なわれている。
従来の試験片供給装置では、第1図および第2
図に示すように、試験片Aの姿勢を調整する場合
に、試験片供給台でマニピユレータのフインガー
部1に試験片Aを把持するときには試験片Aの姿
勢調整を行なわず、例えば第1図に示すように試
験片Aが傾いているようなときは、材料試験装置
に試験片Aを装着するとき、第2図に示すように
フインガー部1を少し緩めてから、固定側チヤツ
ク21と可動側チヤツク22とに夫々設けた突当
部21aと突当部22aとに試験片Aの両端の把
持部A1,A1を突き当てて姿勢調整を行なつて
いた。
しかしながら、このような従来の試験片供給装
置では、精密機械である材料試験装置の一部であ
る固定側チヤツク21と可動側チヤツク22とに
試験片Aを突き当てるのでフインガー部Aを緩め
たとはいえ依然として把持しており、横方向から
力が加わつて材料試験装置に無理が生じるおそれ
があり、試験片Aが変形することもあつた。ま
た、フインガー部1に試験片Aが把持されたまま
横滑りするのでフインガー部1が摩耗して耐久性
に問題が生じるおそれがあり、フインガー部1の
緩め方が微妙で、緩め過ぎると把持ミスが生じる
おそれがあるという問題点があつた。
本考案は、このような従来の問題点に着目して
なされたもので、フインガー部が試験片を把持す
る前に試験片の姿勢調整をするようにして上記問
題点を解決した試験片供給装置を提供することを
目的としている。
かかる目的を達成するため、本考案において
は、マニピユレータのフインガー部に、試験片の
両端部を把持すべく、間に試験片を挟持する対に
なつた挟持フインガーを試験片の両端部に対応し
て一対設けるとともに、フインガー部に試験片を
把持する際、前記挟持フインガーが開いている間
に試験片の中間部の側端面が当接して姿勢調整さ
れる基準ゲージを設けたことを特徴とする試験片
供給装置とし、フインガー部がまた試験片を把持
しないうちに試験片を基準ゲージに当接させて姿
勢を調整してから該フインガー部に試験片を把持
するようにしたものである。
以下、図面に基づき本考案の一実施例を説明す
る。
第3図〜第7図は本考案の一実施例を示してお
り、試験片供給装置3は、固定ベース31に回動
ベース32が垂直軸33を介して回動可能に支持
され、回動ベース32には、アーム保持部34が
上下動可能に支持され、アーム保持部34には略
水平方向に進退可能なアーム部35が支持され、
アーム部35の先端にはフインガー部4が設けら
れている。
試験片供給装置3の周囲には、第4図に示すよ
うに、材料試験装置2と試験片供給台5とが試験
片供給装置3を中心とした略扇状に配置され、試
験片供給台5と試験片供給装置3との間には残材
パレツト6が置かれている。
材料試験装置2は前記従来例のように固定側チ
ヤツク21と可動側チヤツク22とを有してお
り、試験片Aを上下方向にしてセツトする形式の
ものである。
試験片供給台5は、ベース51に磁力を用いた
周知の板分離装置52が設けられ、試験片Aは略
水平に積み上げられたうえで板分離装置52によ
り上から一枚づつ分離した状態で置かれている。
ベース51の傍らには補充用の試験片Aが略水平
に積んで置かれている。
第5図および第6図に示すように、フインガー
部4は、アーム部35に中心軸41により全体が
回動可能に支持されており、フインガー部4の先
端部には、間に試験片Aを挟持する対になつた挟
持フインガー7,7が試験片Aの両端に対応して
一側の組7aと他側の組7bとの一対設けられて
いる。
一つの挟持フインガー7は、中間部が枢支ピン
71を介してフインガー部本体42の先端部に枢
支され、先端部に挟持子72が設けられ、後端部
には駆動連結ピン73を介して駆動アーム部材7
4の一端が連結されており、挟持子72には試験
片Aを挟持したとき試験片Aを傷つけないように
緩衝パツド72aが設けられている。また、駆動
アーム部材74の他端は駆動ピン75を介して駆
動シリンダ76の進退ロツド77に連結されてい
る。
そして、一つの組の挟持フインガー7,7の挟
持子72,72は対向しており、開閉して緩衝パ
ツド72a,72aの間に試験片Aを挟持可能に
なつている。
挟持フインガー7,7の各組は試験片Aの両端
部把持部A1に対応して配設され、組と組との間
に、基準ゲージ8がフインガー部本体42に固設
されている。基準ゲージ8には、第7図に示すよ
うに、フインガー部4に試験片Aを把持する際、
挟持フインガー7,7が開いている間に試験片A
の中間部A2の側端面A3が当接して位置調整さ
れる位置に基準面81が形成されている。試験片
Aの中間部A2は試験片Aの材料試験をすべく精
度よく成形されており伸びを測定するための標点
区間を含んでいる。
次に作用を説明する。試験片供給台5上の試験
片Aを把持するところから説明を始める。
試験片供給装置3のアーム保持部34は第4図
の位置Aにあり、アーム部35は引込んでおり、
フインガー部4では第5図の一点鎖線に示すよう
に挟持フインガー7,7が開いている。この状態
からアーム部35が前進し、挟持フインガー7,
7は試験片供給台5のベース51上の試験片Aを
把持する位置に至る。
ベース51上では板分離装置52により試験片
Aが一枚づつ分離されているので試験片Aの一枚
が挟持フインガー7,7の間に丁度入る。このと
き、挟持フインガー7,7がまだ開いているうち
に試験片Aの中間部A2の側端面A3が基準ゲー
ジ8の基準面81に当接し試験片Aは所定の姿勢
に調整される。
そこで、駆動シリンダ76を作動させ、進退ロ
ツド77を後退させれば駆動アーム部材74によ
り挟持フインガー7の後端部が押され、組になつ
ている挟持フインガー7,7の後端部が相互に拡
巾されるので挟持フインガー7,7の先端部は逆
に狭くなり、挟持子72,72の間に試験片Aの
把持部A1が把持され、組7a,7bとにより試
験片aの両端が把持される。
このようにして位置調整されて試験片Aがフイ
ンガー部4に挟持された後は、アーム部35が後
退してからアーム保持部34が垂直軸33を中心
にして回動して第4図のB位置になり、そこでア
ーム部35が前進するとともにフインガー部4が
中心軸41を中心に回動してC位置になり、試験
片Aはフインガー部4に運ばれて水平な姿勢から
垂直な姿勢になり、材料試験装置2の固定側チヤ
ツク21と可動側チヤツク22との間に位置す
る。すると、固定側チヤツク21および可動側チ
ヤツク22が試験片Aの把持部A1,A1を挟持
するので試験片Aが材料試験装置2にセツトさ
れ、挟持フインガー7,7が開いて試験片Aから
外れアーム部35が後退してフインガー部4は材
料試験装置2から離れB位置に待機し、試験片A
の材料試験が材料試験装置2によりおこなわれ
る。
材料試験が終るとアーム部35は前進し、挟持
フインガー7,7は開いたままなので丁度試験片
Aの把持部A1を挟持可能になり、挟持フインガ
ー7,7を閉じれば挟持子72,72間に試験片
Aが挟持される。その際、試験片Aは破断してい
るが挟持フインガー7,7は二組あるので破断し
て二片になつた試験片Aが共に挟持される。
そこでアーム部35は後退しつつ回動しA位置
に至る。そこで、フインガー部4が残材パレツト
6の上にあるので挟持フインガー7,7を開けば
試験片Aは残材パレツト6内に落ちる。かくして
一連の試験片供給動作が1サイクルだけ完了し、
試験片供給装置3のアーム部35は再び前進して
前記の動作を繰り返し、試験片Aを材料試験装置
2に次々に供給する。
本考案に係る試験片供給装置によれば、フイン
ガー部に基準ゲージを備え、挟持フインガーが試
験片を挟持する前に試験片の姿勢調整をするよう
にしたから、材料試験装置あるいは試験片に余計
な力が作用することがなく、試験片が変形したり
材料試験装置に無理な力が加わつて精度を落すこ
とがなく、試験片の材料試験装置への装着位置精
度も良くなる。また、フインガー部と試験片とが
摩れることがなく挟持子や緩衝パツドが摩耗する
ことがないので耐久性が向上する。さらに、挟持
フインガーを緩める必要がないので、把持ミスも
なくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は従来の試験片の姿勢調整
の仕方を示し、第1図は姿勢調整前の正面図、第
2図は姿勢調整後の正面図、第3図〜第7図は本
考案の一実施例を示し、第3図は試験片供給装置
の正面図、第4図は配置を示す平面図、第5図お
よび第6図はフインガー部近傍を第3図に対して
拡大して示したもので、第5図は試験片を水平に
支持した状態の正面図、第6図は垂直に支持した
状態の正面図であつて一部を破断して示したも
の、第7図は試験片が基準ゲージに当接している
状態を示す部分斜視図である。 A…試験片、2…材料試験装置、3…試験片供
給装置、4…フインガー部、7…挟持フインガ
ー、8…基準ゲージ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. マニピユレータにより試験片供給台上の試験片
    を材料試験装置に装着する試験片供給装置におい
    て、マニピユレータのフインガー部に、試験片の
    両端部を把持すべく、間に試験片を挟持する対に
    なつた挟持フインガーを試験片の両端部に対応し
    て一対設けるとともに、前記挟持フインガーが開
    いている間に試験片の中間部の側端面が当接して
    姿勢調整される基準ゲージを設けたことを特徴と
    する試験片供給装置。
JP13245183U 1983-08-26 1983-08-26 試験片供給装置 Granted JPS6039954U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13245183U JPS6039954U (ja) 1983-08-26 1983-08-26 試験片供給装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13245183U JPS6039954U (ja) 1983-08-26 1983-08-26 試験片供給装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6039954U JPS6039954U (ja) 1985-03-20
JPH0138516Y2 true JPH0138516Y2 (ja) 1989-11-17

Family

ID=30299099

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JP13245183U Granted JPS6039954U (ja) 1983-08-26 1983-08-26 試験片供給装置

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JPS6039954U (ja) 1985-03-20

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