JPH0139082B2 - - Google Patents

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JPH0139082B2
JPH0139082B2 JP53039073A JP3907378A JPH0139082B2 JP H0139082 B2 JPH0139082 B2 JP H0139082B2 JP 53039073 A JP53039073 A JP 53039073A JP 3907378 A JP3907378 A JP 3907378A JP H0139082 B2 JPH0139082 B2 JP H0139082B2
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JP
Japan
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diaphragm
aperture
image
reflector
measuring
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JP53039073A
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English (en)
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Kurafuto Uinfuriito
Rainhaimaa Gyuntaa
Raitaa Heruberuto
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/361—Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、顕徴鏡写真装置において対象物の明
るさを測定して撮影露出時間を決定するための装
置に関する。
この様な種類の装置において、対物レンズから
フイルムに至る撮影光線路から光線の一部が、目
視観察のため反射して取り出されることは公知で
ある。更に、別の光線の一部が露出測定に使用す
るため反射して取り出されることも公知となつて
いる。
上記の露出測定は、二三の方法によつて行われ
る。例えば、1つの中間レンズを用いて対物レン
ズの射出瞳を、1つの光線分割器を介して1つの
補助平面上に結像させ、該平面には、光電検知器
が配置され、対象物の明るさに対応する光電検知
器の出力信号が表示装置に導かれるか、或いはま
た自動的な制御のためシヤツター制御装置に直接
導かれる。或いはまた、対象物自体が光線分割器
を介して1つの像面上に結像され、該像面に光電
検知器が配置されることも可能である。
特に上記において最後に述べた配置において
は、像面全体の測定(積分値測定)と像面の一部
のみの測定(細部測定)とが、異なる絞りを挿入
することによつて切換え可能になる。しかし、像
の重要な細部が対象物又はそれの像の中央に位置
することはまれであるから、像の重要な細部の位
置決めする絞りの位置を可変にし、かくして絞り
の小さな孔が実際上像のあらゆる位置に移動可能
となり、その結果、該重要な細部からの光のみが
光電検知器に到達し、一方、対象物又は対象物の
像の残りの部分の光線は遮断されるようにするこ
とがすでに提案されている。上記の代りにまた、
絞りをも固定配置しそして絞り対象物を移動さ
せ、所望の重要な細部が孔の所に現われる様にす
ることも当然可能である。このことは従来公知の
実施形態においてすでに公知であるが、測定視野
絞りを変位可能としたものに比べ煩雑であり不利
である。
しかし、変位可能な測定視野絞りは次の様な欠
点をも有している。即ち、絞りの変位のためには
比較的大なる空間が用意されなければならない
し、絞りを移動させるための費用は光学的にも機
械的にも大きい。
上記した様な技術水準から出発して、本発明の
目的とする所は、次の様なものである。即ち、上
記した様な大なる空間の必要や絞り空間における
光学的・機械的の大なる費用が発生しないで、し
かも像の細部測定が、厄介な対象物の移動を行う
ことなく可能となる様な顕徴鏡写真用測光装置を
創成することである。
本発明により、上記の目的は次の様にして達成
される。即ち、露出測定のため分けられた光束の
一部分が、少くとも1箇の反射鏡により測定視野
絞りに向つて反射させられ、該反射鏡がカルダン
懸架されていること、およびカルダン懸架された
反射鏡を変位させる装置と絞り孔に出現する対象
物の細部を観察する装置が設けられていることに
より達成される。
現在の技術水準による測定方法においては、絞
りが位置固定して配置され、そして対象物を所望
の対象物細部が絞り孔の所に出現するまで動かす
か、又は対象物が位置固定されそして絞りがその
孔と共に対象物の像の重要な細部に向つて移動さ
せられるのであるが、本発明による装置において
は、対象物も測定視野絞りも位置固定して配置さ
れている。カルダン懸架された反射鏡によつての
み、対象物の像が移動させられ、しかも対象物の
像の重要な細部が、該細部の測光のために設けら
れた光電検知器のための測定視野絞りの開口を通
して見ることができるように移動させられる。
カルダン懸架された反射鏡の旋回と、それによ
る対象物の像の測定視野絞り上の移動の態様は、
それ自体重要なことではない。このことは、例え
ば手動により作動可能な機構により行われる。し
かし特に、このことを電気的な変位装置(モータ
ー)で実施し、該変位装置は一方マイクロプロセ
ツサーによつて制御可能とすることが提案され
る。
像の細部の測光のための絞り孔の中に、重要な
像の部分が確実に捕えられるため、調節過程を観
察することが当然必要である。従つて、測定視野
絞りの後に反射鏡を配置し、光電検知器が光線路
から除外された時、該反射鏡を介して絞り孔が観
察可能にすることが提案される。
特に優れた実施例として、反射鏡と光電検知器
とは特別な移動部材上に相互に結合されて配置さ
れ、移動位置に従つてそれぞれ反射鏡又は光電検
知器が光線路内に位置する如くなつている。移動
部材は2つの確定した位置「観察」および「測
定」を有し、これらの間で該移動部材は移動可能
となつている。
特に、カルダン懸架されている反射鏡の電気的
な変位を制御するためにマイクロプロセツサーが
用いられる時には、絞り孔の中に現われる対象物
細部を目に見える様にするため光指示を用いるこ
とも可能となり、該光指示は明るい点として元来
使用者によつて観察されている視野内を移動す
る。カルダン懸架された反射鏡の運動および上記
の視野内の明るい点の運動とは、マイクロプロセ
ツサーによつて比例する如く制御されなければな
らない。
それ自体公知の如く、測定視野絞り自体を移動
部材として形成し、この移動部材に像の細部の測
光のための絞り孔に追加して、積分値測定のため
大なる開口を有する第2の絞り孔を設けることも
可能である。その場合測定視野絞りは、前同様に
2つの確定した位置の間を推移させられ、かくし
て1つの位置では像の細部の測光が、そして別の
位置では積分値測定が実施され、この時は、方向
変換反射鏡は中央位置を占める。
測定視野絞りが、上記の如く、移動部材として
形成されているとき、対象物の細部の測光を始め
る前に観察すれば、常に絞りの孔を通して見える
小さな場所のみが見え、対象全体の中での小さな
場所というものが観察されないことは確かに不便
なことである。よつて更に、絞り移動部材に透明
な担持体を固定し、該担持体が絞り孔の大きさの
記号を持つているようにすることを提案する。こ
の場合、観察を行つている時には、該担持体が光
線路に挿入され、かくして対象物に関する全体の
展望が得られる。
上記の如き対象物に関する全体の展望は、更に
提案される実施例においても得られる。即ちこの
実施例では、測定視野絞りの上方、該絞りと光電
検知器との間に、約45゜に傾いた側方から照明さ
れる反射鏡が配置され、この反射鏡は観察過程の
間45゜に旋回させられ、絞り孔の像を双眼鏡筒の
中に反射して戻している。このためには、後述の
如く更にコーナーキユーブが必要である。
像の細部の測光のための絞り孔の形を、その都
度の像の重要な細部に合致させるようにするた
め、更に絞り孔の形と大きさを可変にすることが
提案される。この様な絞り孔又は開口は常に円形
であるとは限らず、四角形、楕円、長楕円その他
適当な形と大きさに変えられる。
特別な実施例では、絞り孔の大きさは、可変焦
点距離レンズを測光光線路の中に挿入することに
よつて可変にしている。この場合には、絞りは移
動部材として形成される必要がなく、位置固定の
ままにして置かれる。
絞り孔の大きさは、露出測定の際、当然較正因
子により考慮されなければならない。これらの因
子は、手働又は自動的に挿入される。
添附図面において、本発明を実施例により説明
する。
第1図には顕徴鏡々台1が示され、該鏡台は公
知の態様で対物レンズ3を具備する鏡筒2と載置
台4とを有している。
顕徴鏡々台1は水平な担持部材1aを有してお
り、該担持部材上には、観察者側に斜めに突出す
る接眼鏡部材5が取付けられている。上記担持部
材の上方には別の鏡筒6が立ち上がり、該鏡筒
は、中間にシヤツター8を挾んで取外し可能なカ
メラ7を担持している。
接眼部材5の上方には、鏡筒6の部分に測定装
置9が取り付けられ、該装置は観察用接眼鏡10
を備えている。
鏡筒6の内部には光線分割器11が配置されて
おり、該分割器は、対物レンズ3を通過して来る
光線の一部を測定装置9の方に向ける。測定装置
の機能的に重要な部材は、第2図に最も良く示さ
れている。即ち該装置は、カルダン懸架された方
向変換反射鏡12、測定視野絞り板13、光電検
知器14、反射鏡15および前述した観察用接眼
鏡10を有する。これらに、更に付加的にレンズ
系16が含まれ、該レンズは対象物0の像を測定
視野絞り板13に投影するものである。
測定視野絞り板13は移動部材として形成され
ており、この移動部材は、像の細部の測光のため
の小さな絞り孔13aおよび積分値測定のための
大なる絞り孔13bを有する。測定面隔板移動部
材は二重矢印Aの方向向に把手13cにより移動
せしめられ、絞り孔13aまたは絞り孔13bが
測定光束の光軸17上に到達するようになつてい
る。
上記と同様に、光電検知器14と反射鏡15と
が、共通な移動部材18上において一つの構成単
位としてまとめられている。移動部材18は、前
同様2つの孔18aおよび18bを有し、そして
把手18cにより矢印Bの方向に移動させられ
る。その際、孔18a又は18bが光軸17に合
致することになる。
測定視野絞り板13のその都度挿入されている
絞り孔よりの光線は、孔18aを通過して反射鏡
15に入射し、そしてそこから観察接眼鏡10に
入射する。若し移動部材18が別の端位置に移動
させられたとすれば、上記光線は孔18bを通つ
てその背後に配置されている光電検知器14に入
射する。
上記した装置の作動態様は、次の様になる。
積分値測定を実施しようとする時には、測定装
置9における観察は不要である。何故ならば、全
対象物視野の明るさが測定されるからである。こ
の場合には、測定視野絞り板13を、それの大な
る絞り孔13bが光線路に位置する如く、移動さ
せ、そして移動部材18を、光電検知器14が前
同様に光線路に位置する如く移動させ、そして方
向変換反射鏡12を中央位置に置くことが必要と
なる。この時、対象物の観察は接眼鏡部材5によ
つてのみ行われる。
しかし露出時間を決定する上で、対象物の特定
の細部の明るさが重要な要素である場合には、細
部測光が実施されなければならない。このために
は、先づ移動部材18が、それの孔18aおよび
反射鏡15が光線路に位置する如く移動させられ
る。更に測定視野絞り板13が、それの小さな絞
り孔13aが光軸17上に位置する如く移動させ
られる。この小さな絞り孔13aは、すでに前述
した如く、その形状および大きさが可変であり、
そして選び出された像細部に対し適合可能となつ
ている。
次に方向変換反射鏡12を傾け、その際彎曲し
た中間像面19に沿う対象物0の像を測定視野絞
り板上に導き、所望の対象物細部が絞り孔13a
の中に現われるまで傾ける。この様な調節過程
は、接眼鏡10と反射鏡15を介して観察可能で
ある。
方向変換反射鏡12を傾けるための把手12a
としては、図示の実施例では、反射鏡に固定され
球状の頭部を有する棒が示されている。しかし棒
と球状の頭部は、反射鏡の制御された傾斜運動を
実現するのに適合した夫々の任意の機構を象徴的
に示すものである。
すでに述べた如く、反射鏡を傾斜させるために
電気的変位装置、例えばマイクロプロセツサーに
よつて制御可能な変位装置が使用されてもよい。
上記マイクロプロセツサーによつて光指示装置も
操作可能であり、該指示装置は接眼部材5の視野
5aの中で、方向変換反射鏡12の現在位置で絞
り孔13aの中に結像される細部をその都度指示
している。
上記した如き変位兼観察機構は、本発明の本来
の思想に属するものではない。本来の発明思想
は、対象物も測定視野絞りも位置固定し、その代
りに、対象物の像を測定視野絞り板上で移動させ
ることである。
上記の観察により、対象物の像の重要な細部が
絞り孔13aを通して見えることを確認した後、
移動部材18が移動させられ、光電検知器14が
光軸17上に位置する様になされる。その後で露
出測定が実施され、そしてこの様にして得られた
露出時間はシヤツター8に設定される。光電検知
器14から与えられる露出量は、またシヤツター
8の自動制御装置において直接利用する様にする
ことも当然可能である。
第3図以降に示した実施例では、第2図におい
てすでに示されたものと同じ構成部材は、第2図
と同じ記号で示されている。第3図は、測定視野
絞り孔33aを有する測定視野絞り板33が装置
39に位置固定して配置され、そして細部測光か
ら積分値測光への切り換えは焦点距離が変化する
対物レンズ36により無階段的に実施可能であ
り、該対物レンズは光線分割器11と方向変換プ
リズム12との間に配置され、そして第2図のレ
ンズ系16の位置に置かれている。
第4図は、細部測光が行われる前の観察におい
て、対象物全体の展望が得られる測定装置49を
備えた実施例を示している。このため測定視野絞
り板43は、ほぼ等しい大きさの透明な担持板4
3dと固く結合され、該担持板上には細部測光の
絞り孔43aおよび積分値測光の絞り孔43bの
大きさを示す記号が付けられている。観察と測定
のため測定視野絞り板43は、固着している担持
板43dと共に二重矢印Aの方向に移動可能であ
ると同時に、また矢印Bの方向にも移動可能であ
り、かくして、観察の間透明な担持板が光線路に
位置する。
「観察」および「測定」過程に入る前に、測定
視野絞り板43および担持板43dは矢印Bの方
向に、移動部材18と同様に共に移動させられな
ければならない。従つて、移動部材18と測定視
野絞り用の並に絞り記号用の組合せ板43,43
dは相互に結合されている。この結合は案内縁4
6を介して行われ、該案内縁内では組合せ43,
43dが移動部材18に対して矢印Aの方向にも
移動可能となつている。
同様に第5図は、細部測光の前に観察が行われ
るとき、対象物全体の展望が得られる別の実施例
を示している。そしてこの実施例では、上記のこ
とが、絞り53aの像が双眼鏡筒に、従つて接眼
鏡部材5に反射されるということによつて実施さ
れる。この目的のため、測定視野絞り板53は背
後から特別な光源51によつて照明され、この照
明は実際には、絞り板53と光電検知器54との
間にあつて、光軸に対し45゜又は平行になる如く
旋回可能に配置されている反射鏡57を介して行
われる。この照明によつて、絞り孔53a又は5
3bは、方向変換反射鏡12および光線分割器1
1を介し双眼鏡筒のプリズムに向つて反射させら
れ、そこからコーナーキユーブ56で反射した
後、接眼鏡部材5の視野5aに戻る。
この場合、接眼鏡の視野には対象物0の全体が
見えているから、その中で測定されている細部
は、付加的な照明によつて特に際立たせられ、容
易に識別し得る様になる。所望の細部の選択は、
この場合にも方向変換反射鏡を傾けることにより
行われる。
露出測定のためには、反射鏡57を旋回して光
線路から除外することが必要である。この時、光
線分割器11から分割された測定光線路は妨げる
ものなく光電検知器54に到達し、そして露出時
間を定める。露出過程においては、光源51が移
動部材58によつて覆われ、該光源から如何なる
光も光電検知器54に到達しないようにするのが
合目的である。
最後に第6図においては、カルダン懸架された
反射鏡が光線分割器61それ自体となつている実
施例が示されている。該分割器は、当然撮影光線
の光路の中に配置されている。その際、方向変換
反射鏡62は固定配置されている。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による装置を備えた顕徴鏡の1
部を断面にて示す図式図、第2図は位置固定した
光線分割器とカルダン懸架された方向変換反射鏡
を有する本発明の装置の詳細を示す斜視図、第3
図は測定光線路内に焦点距離が変化する対物レン
ズを有する本発明の装置の詳細を示す斜視図、第
4図は透明な担持板と結合した測定視野絞り板を
有する本発明の装置の詳細を示す斜視図、第5図
は全対象物の中の細部の位置が測定視野絞りを逆
方向に双眼鏡筒の中に反射することにより識別可
能にした本発明による1つの実施例を示す図、第
6図は第5図の実施例の中で、撮影光線路の中の
光線分割器自体がカルダン懸架されている実施例
を示す図である。 5……接眼部材、5a……接眼鏡視野、11…
…光線分割器、12……方向変換反射鏡、12a
……把手、13……測定視野絞り板、13a……
小さな絞り孔、13b……大きな絞り孔、14…
…光電検知器、15……反射鏡、18……移動部
材、33……測定視野絞り板、36……焦点距離
の変化するレンズ、43……測定視野絞り板、4
3a,43b……記号、43d……担持板、51
……光源、53……測定視野絞り板、56……反
射体(コーナーキユーブ)、61……反射鏡。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 撮影光路から光線分割器により光線束の一部
    分が反射することにより取り出され、取り出され
    た光線束は対象物の像を像面に形成し、該像面に
    は像の細部の測光のための孔を有する測定視野絞
    りが配置され、該測定視野絞りの、光線進行方向
    の後側には移動可能な光電検知器が配置されてい
    る如き、顕微鏡に取り付けることが可能なカメラ
    のための顕微鏡写真用測光装置において、 光線分割器11と測定視野絞り(13;33;43)
    との間に、カルダン式に懸架された方向変換用反
    射鏡12を配置し、絞り開口に現出する対象物細
    部の観察のための装置15,18aを設けたこ
    と: この観察装置が測定視野絞りの背後に配置され
    る反射鏡を有し、この反射鏡を介して絞り13a
    が観察出来るようになつており; 上記反射鏡および上記光電検知器がこれら反射
    鏡と光電検知器に付設の孔18a,18bを具備
    する共通の移動部材18に設けられ、それによつ
    て上記観察装置および光電検知器が交互に交線路
    17内に持ち来たし得るようになつていること; を特徴とする測光装置。 2 反射鏡12の調整のための手動操作可能な機
    械的機構12aが設けられていることを特徴とす
    る、特許請求の範囲第1項に記載の測光装置。 3 反射鏡12の調整のための電気作動の調整手
    段が設けられていることを特徴とする、特許請求
    の範囲第1項に記載の測光装置。 4 電気作動の調整手段がマイクロプロセツサー
    によつて制御されることを特徴とする、特許請求
    の範囲第3項に記載の測光装置。 5 マイクロプロセツサーにより反射鏡12に比
    例して制御される光指示装置が設けられ、この光
    指示装置が目視により観察される対象物の像5a
    に1つの点を印加することを特徴とする、特許請
    求の範囲第4項に記載の測光装置。 6 細部測定のための絞り孔13aに加えて、積
    分値測定のための大きな絞り孔13bが2つの位
    置の間を移動可能な測定視野絞り移動部材13に
    設けられ、上記位置の1つでは細部測定用絞り孔
    13aが、そして他の位置では積分値測定用絞り
    孔13bが光線路にあることを特徴とする、特許
    請求の範囲第1項ないし第5項の1つに記載の測
    光装置。
JP3907378A 1977-04-18 1978-04-03 Light measuring device for microscopic photograph Granted JPS53129631A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19792908334 DE2908334A1 (de) 1978-04-03 1979-03-03 Mikrofotografische lichtmesseinrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2717033A DE2717033C2 (de) 1977-04-18 1977-04-18 Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS53129631A JPS53129631A (en) 1978-11-11
JPH0139082B2 true JPH0139082B2 (ja) 1989-08-18

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ID=6006523

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3907378A Granted JPS53129631A (en) 1977-04-18 1978-04-03 Light measuring device for microscopic photograph

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US (1) US4174159A (ja)
JP (1) JPS53129631A (ja)
CH (1) CH636207A5 (ja)
DE (1) DE2717033C2 (ja)
FR (1) FR2388289A1 (ja)
GB (1) GB1598659A (ja)

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