JPH0141940B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0141940B2 JPH0141940B2 JP56045534A JP4553481A JPH0141940B2 JP H0141940 B2 JPH0141940 B2 JP H0141940B2 JP 56045534 A JP56045534 A JP 56045534A JP 4553481 A JP4553481 A JP 4553481A JP H0141940 B2 JPH0141940 B2 JP H0141940B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- correction
- data
- flaw detection
- distance
- amplitude correction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/4463—Signal correction, e.g. distance amplitude correction [DAC], distance gain size [DGS], noise filtering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
Landscapes
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
距離振幅補正方法は、接触子から被検査体に存
在する欠陥までの距離が長くなるに従つて超音波
の拡散等による超音波反射エコーの減衰を距離に
関係なく一定のエコー高さに補正し、同一形状で
同じ大きさの欠陥をその存在する位置（距離）に
関係なく同一の欠陥として評価可能にするもので
あり、また距離とその点におけるエコー減衰量に
対する補正量の関係を示す連続曲線を距離振幅補
正曲線と称する。
在する欠陥までの距離が長くなるに従つて超音波
の拡散等による超音波反射エコーの減衰を距離に
関係なく一定のエコー高さに補正し、同一形状で
同じ大きさの欠陥をその存在する位置（距離）に
関係なく同一の欠陥として評価可能にするもので
あり、また距離とその点におけるエコー減衰量に
対する補正量の関係を示す連続曲線を距離振幅補
正曲線と称する。
一般に距離振幅補正曲線は、実際の探傷に用い
る探触子等を使用し較正試験片によりその感度等
を調整して作成する。この曲線の精度が実際の探
傷における精度に直接影響するため、精度良く作
成するには熟練を要し、試行錯誤を繰返さなけれ
ばならず長時間を要していた。
る探触子等を使用し較正試験片によりその感度等
を調整して作成する。この曲線の精度が実際の探
傷における精度に直接影響するため、精度良く作
成するには熟練を要し、試行錯誤を繰返さなけれ
ばならず長時間を要していた。
従来の距離振幅補正方法は、動作モードが二分
されており、まず較正モードにおいて必要とする
各路程（例えば、1/4、3/4、5/4スキツプ等の路
程）長毎の補正値（即ち、各路程におけるエコー
信号の振幅をCRT上例えば80％一定にするに要
する増幅率制御データ）を全て取込んだ後に距離
振幅補正曲線を作成し実探傷モードに切換えてい
た。この方法では、作成した距離振幅補正曲線を
確認するためには、再度補正値を取込んだ各位置
に探触子を移動させて、そのエコー高さを確認し
なければならず、さらにそのエコー高さが基準レ
ベルに合わない点が１点でもあると始めからやり
直さなければならないため長時間を要するという
欠点があつた。
されており、まず較正モードにおいて必要とする
各路程（例えば、1/4、3/4、5/4スキツプ等の路
程）長毎の補正値（即ち、各路程におけるエコー
信号の振幅をCRT上例えば80％一定にするに要
する増幅率制御データ）を全て取込んだ後に距離
振幅補正曲線を作成し実探傷モードに切換えてい
た。この方法では、作成した距離振幅補正曲線を
確認するためには、再度補正値を取込んだ各位置
に探触子を移動させて、そのエコー高さを確認し
なければならず、さらにそのエコー高さが基準レ
ベルに合わない点が１点でもあると始めからやり
直さなければならないため長時間を要するという
欠点があつた。
本発明の目的は、作成した距離振幅補正曲線の
修正が短時間に行え且つ探傷時間が少なくて済む
超音波探傷における距離振幅補正方法を提供する
ことにあり、その目的を達成する本発明の要件
は、較正モードにより超音波の路程長の異なる点
における超音波反射エコーの減衰量に対する補正
値を基準エコーを用いて求めて距離振幅補正曲線
のデータを作り、そのデータを記憶手段に記憶さ
せ、次に実探傷モードにより前記記憶データをも
とに実探傷における距離振幅補正を成す距離振幅
補正方法において、前記実探傷モードにおいて前
記補正値の変更を要する場合に、モードを較正モ
ードに切換え、次に基準エコーを用いて反射エコ
ーの補正値を新たに求め、次に新たに求めた補正
値のみをその補正点の取り込み済データと入れ替
え、前記補正点の新たな補正値とその補正点の前
後の点の取り込み済データとを用いて補間計算を
行つて新たな距離振幅補正曲線のデータを作り、
この新たな距離振幅補正曲線のデータを記憶手段
に記憶させて、その後に前記実探傷モードにモー
ドを再切換えすることを特徴とした距離振幅補正
方法であり、この方法だと、ある点のエコー高さ
が基準レベルに合わない場合でもその点だけを修
正し、他の点は再度取込まなくても良いので当該
作業に関する時間を大幅に短縮することができ
る。
修正が短時間に行え且つ探傷時間が少なくて済む
超音波探傷における距離振幅補正方法を提供する
ことにあり、その目的を達成する本発明の要件
は、較正モードにより超音波の路程長の異なる点
における超音波反射エコーの減衰量に対する補正
値を基準エコーを用いて求めて距離振幅補正曲線
のデータを作り、そのデータを記憶手段に記憶さ
せ、次に実探傷モードにより前記記憶データをも
とに実探傷における距離振幅補正を成す距離振幅
補正方法において、前記実探傷モードにおいて前
記補正値の変更を要する場合に、モードを較正モ
ードに切換え、次に基準エコーを用いて反射エコ
ーの補正値を新たに求め、次に新たに求めた補正
値のみをその補正点の取り込み済データと入れ替
え、前記補正点の新たな補正値とその補正点の前
後の点の取り込み済データとを用いて補間計算を
行つて新たな距離振幅補正曲線のデータを作り、
この新たな距離振幅補正曲線のデータを記憶手段
に記憶させて、その後に前記実探傷モードにモー
ドを再切換えすることを特徴とした距離振幅補正
方法であり、この方法だと、ある点のエコー高さ
が基準レベルに合わない場合でもその点だけを修
正し、他の点は再度取込まなくても良いので当該
作業に関する時間を大幅に短縮することができ
る。
以下本発明の一実施例を図面によつて説明す
る。第１図は距離振幅補正装置の構成図、第２図
はマイクロコンピユータの動作フローを示す。
る。第１図は距離振幅補正装置の構成図、第２図
はマイクロコンピユータの動作フローを示す。
較正モードでは、探触子１を較正試験片２に置
き、人工欠陥３のエコーを例えば、1/4、3/4、5/
４………スキツプと路程を変えて各々の路程につ
いてＡスコープ６に表示させる。ただし、第１図
は1/4スキツプの場合を示し、第３図は3/4、5/4
スキツプの場合を示す。そして、Ａスコープ６上
で必要とするエコー高さのレベルを基準レベルに
決め、欠陥エコーをそのレベルになるように増幅
器５の増幅率を調整する。この増幅率の調整は、
操作パネル１２上の増幅率を増減するスイツチを
Ａスコープ６を見ながら操作して調整する。つま
り、マイクロコンピユータ１１が操作パネル１２
上の増幅率を増減するスイツチの状態を読みと
り、その状態に応じてＤ−Ａ変換回路７に送るデ
ータを増減して増幅器５の増幅率を制御する。基
準レベルに欠陥エコーのレベルが一致した時点で
レベル調整が終了したことを操作パネル１２上の
スイツチを操作してマイクロコンピユータ１１に
知らせる。そこでマイクロコンピユータ１１は、
路程カウンタ９から路程を、またＤ−Ａ変換回路
７に加えている補正値をそれぞれ取込む。そし
て、取込んだ路程値と補正値を前回までのデータ
に追加し、これらのデータを用いて補間計算し
て、例えば1/4、3/4、5/4等の各路程間の補正値
を求め、距離振幅補正曲線を表示する。次に実探
傷モードに移り、その動作を説明する。送信パル
ス回路４から送信パルスが発生すると探触子１で
超音波に変換される。被検査体中の欠陥等で反射
されたエコーは、探触子１で再び電気信号に変換
され増幅器５に入力される。増幅器５を通つたエ
コーはＡスコープ６上に表示される。また、送信
パルス回路４から送信パルスが発生すると同時に
同期パルスが同期回路１０に送られる。同期パル
スが送られると同期回路１０は、適当な時間間隔
でデイジタルメモリ８に書込まれている補正値を
逐次読み出しＤ−Ａ変換回路７に送る。Ｄ−Ａ変
換回路７は、デイジタルメモリ８に書込まれてい
る補正値つまりデイジタル値をアナログの制御信
号に変換して増幅器５の増幅率を制御する。この
動作を送信パルスが発生する毎に繰返すことによ
り距離振幅補正を行なう。以上説明した操作を探
傷に必要な補正範囲の各路程の点に対して繰返す
ことにより目的の距離振幅補正曲線を作成し、ま
たこの曲線に従つて距離振幅補正を行なう。次に
修正機能について説明する。実探傷モードにおい
て、欠陥エコーのレベルが基準レベルに一致しな
かつた場合、探触子１の位置はそのままで操作パ
ネル１２上のスイツチを操作して較正モードに切
換える。そして、再度前記基準レベルに合わせる
操作を行ない、操作パネル１２上の修正点を指示
するスイツチとレベル調整終了スイツチを操作す
る。この操作によりマイクロコンピユータ１１
は、取込んだデータと修正点のデータを入れ替
え、以降は全く同様にして距離振幅補正曲線を作
成し実探傷モードに切換える。本実施例によれ
ば、距離振幅補正曲線が容易に作成でき、また確
認や修正も少ない操作量で短時間に且つ確実に行
なえる。
き、人工欠陥３のエコーを例えば、1/4、3/4、5/
４………スキツプと路程を変えて各々の路程につ
いてＡスコープ６に表示させる。ただし、第１図
は1/4スキツプの場合を示し、第３図は3/4、5/4
スキツプの場合を示す。そして、Ａスコープ６上
で必要とするエコー高さのレベルを基準レベルに
決め、欠陥エコーをそのレベルになるように増幅
器５の増幅率を調整する。この増幅率の調整は、
操作パネル１２上の増幅率を増減するスイツチを
Ａスコープ６を見ながら操作して調整する。つま
り、マイクロコンピユータ１１が操作パネル１２
上の増幅率を増減するスイツチの状態を読みと
り、その状態に応じてＤ−Ａ変換回路７に送るデ
ータを増減して増幅器５の増幅率を制御する。基
準レベルに欠陥エコーのレベルが一致した時点で
レベル調整が終了したことを操作パネル１２上の
スイツチを操作してマイクロコンピユータ１１に
知らせる。そこでマイクロコンピユータ１１は、
路程カウンタ９から路程を、またＤ−Ａ変換回路
７に加えている補正値をそれぞれ取込む。そし
て、取込んだ路程値と補正値を前回までのデータ
に追加し、これらのデータを用いて補間計算し
て、例えば1/4、3/4、5/4等の各路程間の補正値
を求め、距離振幅補正曲線を表示する。次に実探
傷モードに移り、その動作を説明する。送信パル
ス回路４から送信パルスが発生すると探触子１で
超音波に変換される。被検査体中の欠陥等で反射
されたエコーは、探触子１で再び電気信号に変換
され増幅器５に入力される。増幅器５を通つたエ
コーはＡスコープ６上に表示される。また、送信
パルス回路４から送信パルスが発生すると同時に
同期パルスが同期回路１０に送られる。同期パル
スが送られると同期回路１０は、適当な時間間隔
でデイジタルメモリ８に書込まれている補正値を
逐次読み出しＤ−Ａ変換回路７に送る。Ｄ−Ａ変
換回路７は、デイジタルメモリ８に書込まれてい
る補正値つまりデイジタル値をアナログの制御信
号に変換して増幅器５の増幅率を制御する。この
動作を送信パルスが発生する毎に繰返すことによ
り距離振幅補正を行なう。以上説明した操作を探
傷に必要な補正範囲の各路程の点に対して繰返す
ことにより目的の距離振幅補正曲線を作成し、ま
たこの曲線に従つて距離振幅補正を行なう。次に
修正機能について説明する。実探傷モードにおい
て、欠陥エコーのレベルが基準レベルに一致しな
かつた場合、探触子１の位置はそのままで操作パ
ネル１２上のスイツチを操作して較正モードに切
換える。そして、再度前記基準レベルに合わせる
操作を行ない、操作パネル１２上の修正点を指示
するスイツチとレベル調整終了スイツチを操作す
る。この操作によりマイクロコンピユータ１１
は、取込んだデータと修正点のデータを入れ替
え、以降は全く同様にして距離振幅補正曲線を作
成し実探傷モードに切換える。本実施例によれ
ば、距離振幅補正曲線が容易に作成でき、また確
認や修正も少ない操作量で短時間に且つ確実に行
なえる。
以上詳述したように、本発明によれば、作成し
た距離振幅補正曲線の修正が短時間で行えるとと
もに、その修正が短時間であるが故に全体の超音
波探傷作業も短時間で終了し得る効果が得られ
る。
た距離振幅補正曲線の修正が短時間で行えるとと
もに、その修正が短時間であるが故に全体の超音
波探傷作業も短時間で終了し得る効果が得られ
る。
第１図ないし第３図は、本発明の一実施例を示
すもので、第１図は距離振幅補正装置の構成図、
第２図はマイクロコンピユータの動作図、第３図
は路程例説明図である。 １……探触子、２……較正試験片、３……人工
欠陥、４……送信パルス回路、５……増幅器、６
……Ａスコープ、７……Ｄ−Ａ変換回路、８……
デイジタルメモリ、９……程路カウンタ、１０…
…同期回路、１１……マイクロコンピユータ、１
２……操作パネル、１３……超音波探傷器、１４
……距離振幅補正装置。
すもので、第１図は距離振幅補正装置の構成図、
第２図はマイクロコンピユータの動作図、第３図
は路程例説明図である。 １……探触子、２……較正試験片、３……人工
欠陥、４……送信パルス回路、５……増幅器、６
……Ａスコープ、７……Ｄ−Ａ変換回路、８……
デイジタルメモリ、９……程路カウンタ、１０…
…同期回路、１１……マイクロコンピユータ、１
２……操作パネル、１３……超音波探傷器、１４
……距離振幅補正装置。
Claims (1)
- １ 較正モードにより超音波の路程長さの異なる
点における超音波反射エコーの減衰量に対する補
正値を基準エコーを用いて求めて距離振幅補正曲
線のデータを作り、そのデータを記憶手段に記憶
させ、次に実探傷モードにより前記記憶データを
もとに実探傷における距離振幅補正を成す距離振
幅補正方法において、前記実探傷モードにおいて
前記補正値の変更を要する場合に、モードを較正
モードに切換え、次に基準エコーを用いて反射エ
コーの補正値を新たに求め、次に新たに求めた補
正値のみをその補正点の取り込み済データと入れ
替え、前記補正点の新たな補正値とその補正点の
前後の点の取り込み済データとを用いて補間計算
を行つて新たな距離振幅補正曲線のデータを作
り、この新たな距離振幅補正曲線のデータを記憶
手段に記憶させて、その後に前記実探傷モードに
モードを最切換えすることを特徴とした距離振幅
補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56045534A JPS57160059A (en) | 1981-03-30 | 1981-03-30 | Correction of distance/amplitude curve |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56045534A JPS57160059A (en) | 1981-03-30 | 1981-03-30 | Correction of distance/amplitude curve |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57160059A JPS57160059A (en) | 1982-10-02 |
| JPH0141940B2 true JPH0141940B2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=12722050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56045534A Granted JPS57160059A (en) | 1981-03-30 | 1981-03-30 | Correction of distance/amplitude curve |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57160059A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5298582A (en) * | 1976-02-14 | 1977-08-18 | Mitsubishi Electric Corp | Ultrasonic flaw detector |
-
1981
- 1981-03-30 JP JP56045534A patent/JPS57160059A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57160059A (en) | 1982-10-02 |
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