JPH0142004B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0142004B2 JPH0142004B2 JP59247035A JP24703584A JPH0142004B2 JP H0142004 B2 JPH0142004 B2 JP H0142004B2 JP 59247035 A JP59247035 A JP 59247035A JP 24703584 A JP24703584 A JP 24703584A JP H0142004 B2 JPH0142004 B2 JP H0142004B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- tablet
- switch
- origin
- pressure
- Prior art date
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- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
＜発明の対象＞
本発明は、感圧式タブレツト入力装置の入力位
置座標の自動補正方法に関するものである。
置座標の自動補正方法に関するものである。
＜従来技術とその問題点＞
従来の感圧形描画入力パツドは例えば研究実用
化報告（電気通信研究所）、32、No.３、735〜744、
1983、３、佐藤他に示されている。
化報告（電気通信研究所）、32、No.３、735〜744、
1983、３、佐藤他に示されている。
従来、定電流検出型タブレツトのアナログ検出
回路部では、入力面の検出抵抗体の仕上がり誤差
等を吸収する為に増幅器の利得調整用、原点調整
用として可変抵抗器を用いた上、実際に入力面上
の原点位置、フルスケール位置に、定点入力しな
がら電圧調整を行なう必要があつた。この為、タ
ブレツトによつて、微妙な位置座標信号の誤差を
生じたり、又、検出抵抗体の経時変化やタブレツ
トが使用される環境の変化による影響が位置座標
信号の誤差となつて現われる為、直接制御系にお
ける画像表示等の処理に影響を及ぼしていた。
又、上記の欠点に対処するため、特開昭59−
41090で開示されている様にタブレツト入力面上
に、基準点マークを設け、実際に上記基準点をペ
ン等で押えて初期データを発生させ、補正式を得
る方法があるが、操作性、初期データの確度に問
題があつた。
回路部では、入力面の検出抵抗体の仕上がり誤差
等を吸収する為に増幅器の利得調整用、原点調整
用として可変抵抗器を用いた上、実際に入力面上
の原点位置、フルスケール位置に、定点入力しな
がら電圧調整を行なう必要があつた。この為、タ
ブレツトによつて、微妙な位置座標信号の誤差を
生じたり、又、検出抵抗体の経時変化やタブレツ
トが使用される環境の変化による影響が位置座標
信号の誤差となつて現われる為、直接制御系にお
ける画像表示等の処理に影響を及ぼしていた。
又、上記の欠点に対処するため、特開昭59−
41090で開示されている様にタブレツト入力面上
に、基準点マークを設け、実際に上記基準点をペ
ン等で押えて初期データを発生させ、補正式を得
る方法があるが、操作性、初期データの確度に問
題があつた。
＜発明の目的＞
本発明はこれらの従来技術の欠点を解決し、タ
ブレツト毎の位置座標信号の誤差を無くし、又、
経時変化、環境変化の影響を軽減することが出来
る位置座標信号処理方法の提供を目的としてなさ
れたもので、その要旨とするところは、感圧式タ
ブレツト入力装置において、入力位置検出回路に
タブレツト面の原点入力及びフルスケール点入力
に相当する座標信号を発生するスイツチを設ける
ことにより、自動的に入力位置座標を補正する方
法である。
ブレツト毎の位置座標信号の誤差を無くし、又、
経時変化、環境変化の影響を軽減することが出来
る位置座標信号処理方法の提供を目的としてなさ
れたもので、その要旨とするところは、感圧式タ
ブレツト入力装置において、入力位置検出回路に
タブレツト面の原点入力及びフルスケール点入力
に相当する座標信号を発生するスイツチを設ける
ことにより、自動的に入力位置座標を補正する方
法である。
＜実施例の構成＞
次に本発明方法の実施例を添付図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第１図に従来の抵抗値変化検出による感圧形入
力装置の代表的な原理構造図を示す。この入力装
置では、一様な線密度抵抗値を持ち、解像度に対
応する数の平行電極である垂直電極群１および水
平電極群２を接続したＸ座標検出抵抗体３および
Ｙ座標検出抵抗体４が、感圧シート５をはさんで
互いに直角に配置されている。さらに定電流源６
が図の様に接続されるとともに、電流検出回路
７，８が設けられている。ここでLxは有効入力
面のｘ方向（水平方向）長さ、Lyはｙ方向（垂
直方向）長さである。
力装置の代表的な原理構造図を示す。この入力装
置では、一様な線密度抵抗値を持ち、解像度に対
応する数の平行電極である垂直電極群１および水
平電極群２を接続したＸ座標検出抵抗体３および
Ｙ座標検出抵抗体４が、感圧シート５をはさんで
互いに直角に配置されている。さらに定電流源６
が図の様に接続されるとともに、電流検出回路
７，８が設けられている。ここでLxは有効入力
面のｘ方向（水平方向）長さ、Lyはｙ方向（垂
直方向）長さである。
次に動作を説明する。いま第１図に示す様に有
効入力面の原点からＸ軸方向ｘ、Ｙ軸方向ｙの位
置の点Ｐに入力があつたとする。感圧シート５は
圧力が加えられた点Ｐにおいて厚さ方向の抵抗値
が下がり、この位置で垂直電極群１の電極と水平
電極群２の電極が接触抵抗rcを通して接続され
る。このときの等価回路を第２図に示す。ここで
r1，r2，r3，r4は電流検出回路に付随してあるい
は製造過程で生じる抵抗であり、具体的な実現時
は避けることができない。
効入力面の原点からＸ軸方向ｘ、Ｙ軸方向ｙの位
置の点Ｐに入力があつたとする。感圧シート５は
圧力が加えられた点Ｐにおいて厚さ方向の抵抗値
が下がり、この位置で垂直電極群１の電極と水平
電極群２の電極が接触抵抗rcを通して接続され
る。このときの等価回路を第２図に示す。ここで
r1，r2，r3，r4は電流検出回路に付随してあるい
は製造過程で生じる抵抗であり、具体的な実現時
は避けることができない。
第２図の等価回路よりＸ座標検出抵抗体にのみ
注目すると、次の式が成立する。
注目すると、次の式が成立する。
（r1＋Rx／Lx）i1＝（Rx−Rx／Lx＋r2）i2 (1)
i1＋i2＝IO (2)
一般に入力位置の検出は入力面の相対位置とし
て求めることが要求されるため、ｘ／Lxを求めるこ とにすると、(1)、(2)式より ｘ／Lx＝（i2／IO−r1／Rx＋r1＋r2）Rx＋r1＋r2／Rx(3
) となる。
て求めることが要求されるため、ｘ／Lxを求めるこ とにすると、(1)、(2)式より ｘ／Lx＝（i2／IO−r1／Rx＋r1＋r2）Rx＋r1＋r2／Rx(3
) となる。
第１図と第２図から判るように実際に測定でき
るのは電流値i2の値である。ここでパラメータIO，
Rx，r1，r2が判れば、i2の値を測定し、式(3)によ
りｘ／Lxの値を求めれば良い。しかし、一般にこれ らのパラメータは製品によるバラツキを持ち、ま
たi2の絶対値を求めるのも容易ではない。従来は
これらのバラツキを吸収し、またi2の絶対値を測
定するために電流検出回路で可変抵抗器などを用
いて調整していた。
るのは電流値i2の値である。ここでパラメータIO，
Rx，r1，r2が判れば、i2の値を測定し、式(3)によ
りｘ／Lxの値を求めれば良い。しかし、一般にこれ らのパラメータは製品によるバラツキを持ち、ま
たi2の絶対値を求めるのも容易ではない。従来は
これらのバラツキを吸収し、またi2の絶対値を測
定するために電流検出回路で可変抵抗器などを用
いて調整していた。
本発明の目的はこの調整を自動的に行わせるこ
とである。このために第３図に示すように原点入
力およびフルスケール点入力に対応する様にそれ
ぞれ原点位置信号発生用スイツチSOとフルスケー
ル点位置信号発生用スイツチSFを設ける。スイツ
チSOのみONの時およびスイツチSFのみONの時i2
の測定値をそれぞれi2O，i2Fとすると３式より ０＝i2O／IO−r1／Rx＋r1＋r2 (4) １＝（i2F／IO−r1／Rx＋r1＋r2）Rx＋r1＋r2／Rx (5) となる。従つて r1／Rx＋r1＋r2＝i2O／IO (6) Rx＋r1＋r2／Rx＝IO／i2F−i2O (7) これを(3)に代入すると ｘ／Lx＝i2−i2O／i2F−i2O (8) となる。
とである。このために第３図に示すように原点入
力およびフルスケール点入力に対応する様にそれ
ぞれ原点位置信号発生用スイツチSOとフルスケー
ル点位置信号発生用スイツチSFを設ける。スイツ
チSOのみONの時およびスイツチSFのみONの時i2
の測定値をそれぞれi2O，i2Fとすると３式より ０＝i2O／IO−r1／Rx＋r1＋r2 (4) １＝（i2F／IO−r1／Rx＋r1＋r2）Rx＋r1＋r2／Rx (5) となる。従つて r1／Rx＋r1＋r2＝i2O／IO (6) Rx＋r1＋r2／Rx＝IO／i2F−i2O (7) これを(3)に代入すると ｘ／Lx＝i2−i2O／i2F−i2O (8) となる。
本補正式(8)は製品によりバラツキを持つパラメ
ータをもはや含まず、しかも電流値の比で求めら
れるため、電流検出回路は絶対値を測定する必要
はなく、相対値で良い。
ータをもはや含まず、しかも電流値の比で求めら
れるため、電流検出回路は絶対値を測定する必要
はなく、相対値で良い。
この様にスイツチSOとSFを設け、マイクロコン
ピユータなどで自動的に御御し、i2F，ｉ2Oの相
対値を測定蓄積しておけば実際に入力があつたと
きにi2を測定し、これらのi2F，i2Oを用いて(8)の補
正式によりｘ／Lxを自動的に計算することができ る。従つてこの感圧式入力タブレツトの製品化に
おいては、従来の調整工程を省き、また経年変化
などの特性劣化を吸収することが出来る。
ピユータなどで自動的に御御し、i2F，ｉ2Oの相
対値を測定蓄積しておけば実際に入力があつたと
きにi2を測定し、これらのi2F，i2Oを用いて(8)の補
正式によりｘ／Lxを自動的に計算することができ る。従つてこの感圧式入力タブレツトの製品化に
おいては、従来の調整工程を省き、また経年変化
などの特性劣化を吸収することが出来る。
＜その他の変形例＞
以上感圧式タブレツトを例にとり説明して来た
が、本発明による方法を感圧式タブレツト入力装
置に限らず電子黒板、透明入力装置、項目入力装
置にも適用出来る。
が、本発明による方法を感圧式タブレツト入力装
置に限らず電子黒板、透明入力装置、項目入力装
置にも適用出来る。
又、タブレツト入力面の構成として感圧センサ
ーを上下電極でサンドイツチした形ばかりでな
く、上下電極又は上部電極、下部電極のいずれか
に絶縁体による突起構造を設け、感圧センサーを
用いない入力面構造や検出抵抗体を用いない場合
にも適用出来る事は言うまでも無く、幅広い応用
が可能である。
ーを上下電極でサンドイツチした形ばかりでな
く、上下電極又は上部電極、下部電極のいずれか
に絶縁体による突起構造を設け、感圧センサーを
用いない入力面構造や検出抵抗体を用いない場合
にも適用出来る事は言うまでも無く、幅広い応用
が可能である。
＜発明の効果＞
以上の説明の様に本発明によれば、
入力面の検出抵抗体の仕上がり誤差を吸収す
る為の可変抵抗器を用いる必要が無く、制御系
からのスイツチ操作により取り込まれた補正値
による入力位置座標信号補正が行われる為、タ
ブレツト毎の微妙な誤差が解消する。
る為の可変抵抗器を用いる必要が無く、制御系
からのスイツチ操作により取り込まれた補正値
による入力位置座標信号補正が行われる為、タ
ブレツト毎の微妙な誤差が解消する。
タブレツトを使用する毎に補正値が取り込ま
れる為、常に使用される環境下における最適な
補正が行われ、又検出抵抗体等の経時変化によ
る入力位置座標信号への影響も解消する。
れる為、常に使用される環境下における最適な
補正が行われ、又検出抵抗体等の経時変化によ
る入力位置座標信号への影響も解消する。
タブレツト入力面を傷つける等の障害が発生
して保守の必要が生じた場合、従来の方法では
その都度新しい入力面に応じた調整を必要とす
るが、本発明によれば入力面を差し替えるだけ
で良い。
して保守の必要が生じた場合、従来の方法では
その都度新しい入力面に応じた調整を必要とす
るが、本発明によれば入力面を差し替えるだけ
で良い。
可変抵抗器を使用しないで済む為、信頼性は
向上するばかりで無く安価に製造出来る。
向上するばかりで無く安価に製造出来る。
という優れた効果を奏することが出来るので、そ
の工業的価値は大なるものがある。
の工業的価値は大なるものがある。
第１図は従来の感圧形入力装置の原理構造図、
第２図は点Ｐへの入力押圧時の等価回路図、第３
図は本発明の基本構成図である。 １：垂直電極群、２：水平電極群、３：Ｘ座標
検出抵抗体、４：Ｙ座標検出抵抗体、５：感圧シ
ート、６：定電流源、７：電流検出回路、８：電
流検出回路、Lx：有効入力面のｘ方向の長さ、
Ly：有効入力面のｙ方向の長さ、Ｐ：入力押圧
点、Ｒ，ｒ：抵抗、Ｉ，ｉ：電流、SO：原点位置
信号発生用スイツチ、SF：フルスケール点位置信
号発生用スイツチ。
第２図は点Ｐへの入力押圧時の等価回路図、第３
図は本発明の基本構成図である。 １：垂直電極群、２：水平電極群、３：Ｘ座標
検出抵抗体、４：Ｙ座標検出抵抗体、５：感圧シ
ート、６：定電流源、７：電流検出回路、８：電
流検出回路、Lx：有効入力面のｘ方向の長さ、
Ly：有効入力面のｙ方向の長さ、Ｐ：入力押圧
点、Ｒ，ｒ：抵抗、Ｉ，ｉ：電流、SO：原点位置
信号発生用スイツチ、SF：フルスケール点位置信
号発生用スイツチ。
Claims (1)
- １ 感圧式タブレツト入力装置において、入力位
置検出回路にタブレツト面の原点入力及びフルス
ケール点入力に相当する座標信号を発生するスイ
ツチを設け、前記スイツチを駆動することにより
タブレツト面の原点入力及びフルスケール点入力
に対応する信号を検出し、補正式を得、実際の入
力に際してこの補正式により真の入力座標値を算
出することを特徴とする入力位置座標自動補正方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59247035A JPS61125639A (ja) | 1984-11-24 | 1984-11-24 | 入力位置座標の自動補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59247035A JPS61125639A (ja) | 1984-11-24 | 1984-11-24 | 入力位置座標の自動補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61125639A JPS61125639A (ja) | 1986-06-13 |
| JPH0142004B2 true JPH0142004B2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=17157439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59247035A Granted JPS61125639A (ja) | 1984-11-24 | 1984-11-24 | 入力位置座標の自動補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61125639A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63266519A (ja) * | 1987-04-23 | 1988-11-02 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 座標入力装置の誤差検出回路 |
-
1984
- 1984-11-24 JP JP59247035A patent/JPS61125639A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61125639A (ja) | 1986-06-13 |
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