JPH0142039Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0142039Y2 JPH0142039Y2 JP1981077629U JP7762981U JPH0142039Y2 JP H0142039 Y2 JPH0142039 Y2 JP H0142039Y2 JP 1981077629 U JP1981077629 U JP 1981077629U JP 7762981 U JP7762981 U JP 7762981U JP H0142039 Y2 JPH0142039 Y2 JP H0142039Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- marking
- circuit
- measured
- detector
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は異常個所マーキング装置に係る。一
方方向より連続して送られてくる棒状部品の表面
の状態を検査しその表面に異常が認められた時、
その異常個所にマーキング装置によりマークを施
す場合異常検出位置とマーキング位置が離れてい
るとき被検査物の異常位置に正しくマーキングす
ることがむづかしい。このような点を考慮して、
被検査物が検査台に挿入された位置より被検査物
の移動量を常に測定し検出位置にある検査装置に
より異常が認められた時その移動量をラツチし、
このラツチされた移動量と検出位置からマーキン
グ位置までの固定距離とを加算し、被検査物の挿
入位置からの移動量とこの加算値が等しくなつた
時のマーキング信号である一致信号を送出し、検
出位置で検出された異常個所にマーキングするこ
とができる。かくてこの考案によれば被測定物の
異常位置がある距離を経過後正確にマーキング位
置にきておればよく、被測定物の位置検出開始点
からの実際の長さの正確性は必要としない。
方方向より連続して送られてくる棒状部品の表面
の状態を検査しその表面に異常が認められた時、
その異常個所にマーキング装置によりマークを施
す場合異常検出位置とマーキング位置が離れてい
るとき被検査物の異常位置に正しくマーキングす
ることがむづかしい。このような点を考慮して、
被検査物が検査台に挿入された位置より被検査物
の移動量を常に測定し検出位置にある検査装置に
より異常が認められた時その移動量をラツチし、
このラツチされた移動量と検出位置からマーキン
グ位置までの固定距離とを加算し、被検査物の挿
入位置からの移動量とこの加算値が等しくなつた
時のマーキング信号である一致信号を送出し、検
出位置で検出された異常個所にマーキングするこ
とができる。かくてこの考案によれば被測定物の
異常位置がある距離を経過後正確にマーキング位
置にきておればよく、被測定物の位置検出開始点
からの実際の長さの正確性は必要としない。
又、この考案では被測定物の異常個所が複数個
所あるときはラツチ回路、加算回路及び比較回路
を複数個用意すれば対応できる。第1図はこの考
案の構成の概略を説明する線図、第2図はこの考
案の実施例ブロツク図である。先づ第1図でイは
位置検出開始点、ロは検出器位置、ハはマーキン
グ位置、ニ,ホは被測定物すなわち移動物体の先
端位置であり、又点イとニ間が移動量A、検出器
位置ロとマーキング位置ハ間は定数Bであり、イ
とホ間は移動距離Aと検出器位置からマーキング
位置までの距離Bとを加算したC値でハホ間とロ
ニ間と距離が等しくなる。又第2図で1はカウン
タ回路、2はラツチ回路、3は加算回路、4は比
較回路、5はマーキング装置、6は設定器、7は
検出器である。インクレメンタルパルスがカウン
タ回路1に加えられてセツトされ位置検出開始点
信号が加えられてリセツトされる。一方ラツチ回
路2は検出器7よりの異常検出信号によりラツチ
され位置検出開始点信号でラツチ解除される。又
カウンタ回路1の出力は設定器6の設定出力Bと
加算された上、この加算出力とカウンタ回路1の
出力とが比較され比較回路4の出力はマーキング
装置に与えられマーキング指令信号をだす。
所あるときはラツチ回路、加算回路及び比較回路
を複数個用意すれば対応できる。第1図はこの考
案の構成の概略を説明する線図、第2図はこの考
案の実施例ブロツク図である。先づ第1図でイは
位置検出開始点、ロは検出器位置、ハはマーキン
グ位置、ニ,ホは被測定物すなわち移動物体の先
端位置であり、又点イとニ間が移動量A、検出器
位置ロとマーキング位置ハ間は定数Bであり、イ
とホ間は移動距離Aと検出器位置からマーキング
位置までの距離Bとを加算したC値でハホ間とロ
ニ間と距離が等しくなる。又第2図で1はカウン
タ回路、2はラツチ回路、3は加算回路、4は比
較回路、5はマーキング装置、6は設定器、7は
検出器である。インクレメンタルパルスがカウン
タ回路1に加えられてセツトされ位置検出開始点
信号が加えられてリセツトされる。一方ラツチ回
路2は検出器7よりの異常検出信号によりラツチ
され位置検出開始点信号でラツチ解除される。又
カウンタ回路1の出力は設定器6の設定出力Bと
加算された上、この加算出力とカウンタ回路1の
出力とが比較され比較回路4の出力はマーキング
装置に与えられマーキング指令信号をだす。
次にこの考案による動作説明を図に従つて行な
うと、今位置検出開始点イに被測定物が挿入され
ると、これによりカウンタ回路1がリセツトされ
出力信号を一たんゼロとしラツチ回路2のラツチ
を解除しておく。ついで被測定物の移動が始まる
とこの位置より被測定物の移動量をカウンタ回路
2が計測していく。被測定物に異常があればこれ
は検出器7によりその位置ロで検出して検出信号
をだしてラツチ回路2に加えてラツチせしめると
ラツチ回路2は現在の移動距離をラツチする。つ
いでこのラツチされた移動距離Aは設定器6で設
定しておいた検出器位置ロからマーキング位置ハ
までの距離Bとともに加算回路3で加算され、
イ,ホ間の距離Cをうる。かくてえられた値Cが
カウンタ回路1の検出信号である位置検出開始点
イから現在の位置ホまでの移動量に一致するまで
比較回路4で比較が行われ両方の値が一致すれば
マーキング装置5に出力をだし、マーキング装置
5でマーキングが行われる。こゝでロ,ニ間の距
離はハ,ホ間の距離と等しくなつているのでマー
キング位置ハは検出器位置ロに対応した位置とな
るからマーキング位置が当然検出器7で検出した
異常位置を示すこととなり位置決めができるわけ
である。尚かゝる回路を用いると連続して流れる
棒状部品の外観検査及び不良個所の識別がオンラ
インでできる。
うと、今位置検出開始点イに被測定物が挿入され
ると、これによりカウンタ回路1がリセツトされ
出力信号を一たんゼロとしラツチ回路2のラツチ
を解除しておく。ついで被測定物の移動が始まる
とこの位置より被測定物の移動量をカウンタ回路
2が計測していく。被測定物に異常があればこれ
は検出器7によりその位置ロで検出して検出信号
をだしてラツチ回路2に加えてラツチせしめると
ラツチ回路2は現在の移動距離をラツチする。つ
いでこのラツチされた移動距離Aは設定器6で設
定しておいた検出器位置ロからマーキング位置ハ
までの距離Bとともに加算回路3で加算され、
イ,ホ間の距離Cをうる。かくてえられた値Cが
カウンタ回路1の検出信号である位置検出開始点
イから現在の位置ホまでの移動量に一致するまで
比較回路4で比較が行われ両方の値が一致すれば
マーキング装置5に出力をだし、マーキング装置
5でマーキングが行われる。こゝでロ,ニ間の距
離はハ,ホ間の距離と等しくなつているのでマー
キング位置ハは検出器位置ロに対応した位置とな
るからマーキング位置が当然検出器7で検出した
異常位置を示すこととなり位置決めができるわけ
である。尚かゝる回路を用いると連続して流れる
棒状部品の外観検査及び不良個所の識別がオンラ
インでできる。
第1図はこの考案の動作説明用線図、第2図は
一実施例回路ブロツク図である。図で1はカウン
タ回路、2はラツチ回路、3は加算回路、4は比
較回路、5はマーキング装置、6は設定器、7は
検出器。
一実施例回路ブロツク図である。図で1はカウン
タ回路、2はラツチ回路、3は加算回路、4は比
較回路、5はマーキング装置、6は設定器、7は
検出器。
Claims (1)
- 位置検出開始点信号によりリセツトされて出力
信号0とし、被測定物の移動量を計測するカウン
タ回路1と、前記被測定物の異常を認めると異常
検出信号を取り出すため検出器位置ロに設けられ
た検出器7と、前記異常検出信号により位置検出
開始点イから被測定物の先端位置ニ迄の移動量A
をラツチするラツチ回路2と、前記被測定物の異
常個所にマークを施すマーキング装置5と、前記
検出器位置ロからマーキング位置ハまでの定まつ
た距離Bを設定する設定器6と、前記設定器6で
設定された前記定まつた距離Bと前記移動量Aと
を加算するための加算回路3と、前記加算回路3
と前記マーキング装置5との間に設けられ、前記
カウンタ回路1及び加算回路3からの値を比較
し、一致した時に前記マーキング装置5に出力を
与えマーキング指令信号を出す比較回路4とを備
え、前記検出器位置ロ及び被測定物の先端位置ニ
間の距離と前記マーキング位置ハ及び被測定物の
先端位置ホ間の距離とは等しく構成されているこ
とを特徴とする異常個所マーキング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981077629U JPH0142039Y2 (ja) | 1981-05-29 | 1981-05-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981077629U JPH0142039Y2 (ja) | 1981-05-29 | 1981-05-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57190461U JPS57190461U (ja) | 1982-12-02 |
| JPH0142039Y2 true JPH0142039Y2 (ja) | 1989-12-11 |
Family
ID=29873279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1981077629U Expired JPH0142039Y2 (ja) | 1981-05-29 | 1981-05-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0142039Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2806330B2 (ja) * | 1995-11-13 | 1998-09-30 | セイコーエプソン株式会社 | ドットマトリックス表示素子基板の検査方法及び検査装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5334755B2 (ja) * | 1973-09-10 | 1978-09-22 |
-
1981
- 1981-05-29 JP JP1981077629U patent/JPH0142039Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57190461U (ja) | 1982-12-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4384407A (en) | Three dimensional coordinate measuring apparatus | |
| CN109269424B (zh) | 一种试件标记点位置精度检测装置及方法 | |
| JPS57119259A (en) | Testing method for a/d converter | |
| CN112050710B (zh) | 坐标测定机和计算机可读存储介质 | |
| JPH0142039Y2 (ja) | ||
| US6286227B1 (en) | Micrometer system and process of use therefor | |
| TWM538181U (zh) | 用於cnc加工之監控設備 | |
| DE2234146C2 (de) | Elektrische Längenmeßeinrichtung | |
| CN222528516U (zh) | 一种支距尺检定器 | |
| JPH0419443Y2 (ja) | ||
| JPS6227607A (ja) | ねじ精度測定方法 | |
| SU152164A1 (ru) | Способ автоматической проверки качества монтажа след щих копировальных систем | |
| CN121340030A (zh) | 数控铣设备精度的检测方法 | |
| JPH0148485B2 (ja) | ||
| JPS6148705A (ja) | 位置検出装置 | |
| JPS60146652A (ja) | 工具長測定方法 | |
| JPS5692407A (en) | Radiation thickness measuring device | |
| KR950007417B1 (ko) | 레이져 센서를 이용한 전자부품 리드 휨 검사방법 | |
| RU2037986C1 (ru) | Способ контроля анодного тока рентгеновского излучателя и устройство для его осуществления | |
| JPH0345768B2 (ja) | ||
| SU994916A2 (ru) | Устройство дл регистрации дистанционных дискретных перемещений | |
| JPS63137446A (ja) | レチクル検査装置 | |
| JP2000329551A (ja) | トンネル覆工表面曲率半径測定による変状調査方法 | |
| JPS61234395A (ja) | 原子炉の制御棒価値測定データ処理装置 | |
| Lin | Dynamic measurement accuracy evaluation of coordinate measuring machines |