JPH0145020B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はルミノメータ構造に関するものであ
る。ルミノメータは、生発光効果または化学発光
効果によつて発生される時に低準位の光量子を測
定する装置である。本発明に関するルミノメータ
構造は化学反応またはその他の反応の結果として
生じる発光を検出し測定するように設計され、測
定結果は、実施されるそれぞれのテストに対応す
る形の信号に変換される。

［従来技術と問題点］ ルミノメータを使用する事のできる代表的なケ
ースは、種々のフアクタの測定のための液体サン
プルのテストであつて、この装置は医療、食品お
よび飲み物工業、製薬工業、水処理工業またはそ
の他の工業に使用する事ができる。またこの装置
は種々の分野での研究に使用する事ができる。

ルミノメータはサンプルを通常は液体または懸
濁液として光電子増倍管装置に提出する手段を有
し、この光電子増倍管によつて実際の測定が実施
される。

サンプルの性質と実施されるテストの要件に応
じてサンプルを光電子増倍管に提出する前にこれ
を種々の方法で準備する必要がある。この準備
は、ATP分子（アデノシン−5′−三リン酸）の
抽出、適当な試薬の添加、または光電子増倍管に
よつて検出−測定可能の強さの光を発生させるそ
の他の処理工程を含む。またサンプルが光電子増
倍管に提出されている間に若干の機能を実施する
事ができる。

光電子増倍管に対してサンプルを提出する多数
の方法が考案されているが、光電子増倍管は極め
て高感度であつて外部作用に対して遮蔽されなけ
ればならない。多数のサンプルを順次に検査する
必要から、サンプルをコンベア構造の中で装置に
送り、各サンプルが順次に検査のために提出され
次にコンベア構造に戻されるようにした種々のシ
ステムが開発されている。このようなシステムに
おいては、サンプルはそれぞれの透明キユベツト
中に収容され、これらのキユベツトが順次に検査
室に配置され、この検査室が少なくとも適当時
間、光電子増倍管に対して開かれまたは連通す
る。光電子増倍管に連通した検査室にキユベツト
を出し入れする際に、解決すべき若干の問題があ
る。特に、迷走外部光線またはその他の放射線を
テスト期間中、検査室から排除しなければならな
い。これは、光電子増倍管による光量子の検出精
度に悪影響を与えるからである。しかも、好まし
くは精密な遮蔽手段を使用する必要なく、キユベ
ツトを容易また急速に検査室の中にに導入しまた
除去しなければならない。正確な測定の最良条件
を成すため、検査室内部において集光を最大限に
しなければならない。

［発明の目的および効果］ 本発明の目的は、サンプルを順次に容易に検査
する事ができ、検査結果の精度の高いルミノメー
タ構造を提供するにある。

［発明の概要］ 本発明によれば、順次に検査されるためそれぞ
れのキユベツト中に収容されたサンプルをキヤリ
アに送つて、順次に光電子増倍管に提出させる手
段を含み、前記のキヤリアは、検査室を画成する
回転構造と、キユベツトのサンプル収容部分が検
査室の内部にある位置にキユベツトを保持するキ
ユベツトグリツパとを含み、また前記キヤリア
は、キユベツトをグリツパの中に挿入する事ので
きる装入位置と、検査室が光電子増倍管に隣接配
置されるテスト位置との間を回転する事ができ
る。好ましくはキヤリアは軸線回りに回転自在に
取り付けられ、キユベツトグリツパはキユベツト
を前記軸線に対して実質的に平行に挿入するよう
に配置され、前記検査室は、その外側面縁が前記
軸線に対して傾斜した面の中にあるようにキヤリ
アの側面に形成され、また光電子増倍管は、それ
自体の光学軸線が検査室の縁の面に対して垂直と
なるように配置される。

従つて望ましくは、検査室はキヤリアの側面の
凹形くぼみまたはキヤビテイの形状を成し、この
キヤビテイの縁が光電子増倍管の作動部分の隣接
端部の形状に大体一致する。

検査室はキユベツトを挿通する単一の孔を有
し、テスト位置におけるキユベツトの中心線が、
検査室の縁の前記面に近接する位置において光電
子増倍管の光学軸線と交差する。

この構造により、サンプルを収容するキユベツ
ト底部は光電子増倍管に近接して配置されるの
で、光量子の捕集が最適化される。

キユベツトグリツパは好ましくはキユベツトを
検査室を通して前記の単一の孔の中に導入する事
のできる位置に配置され、またキユベツトは反対
方向に引き出され、検査室は、キユベツトを通す
ための他の孔または切りだし部分を必要とする事
なくキユベツトを導入しまた引き出す事のできる
形状と配置とを有する。

キユベツトを容易に導入しまた引き出す事がで
きるように、キヤリアの回転軸線に対する検査室
の縁の面の角度は、好ましくは35゜とする。

キユベツトはコンベア構造によつてルミノメー
タに送られ、また取り出される。このコンベア構
造は複数のホルダーを含み、これらのホルダーが
順次にキユベツト装入位置に送られ、このホルダ
ーからキユベツトが引き出されて、キユベツトグ
リツパの中に転送される。そこでキヤリアが回転
されてキユベツトをテスト位置にもたらし、テス
ト後にキヤリアが再び装入位置まで回転されて、
この位置でキユベツトがそのホルダーに戻され
る。

ホルダーは連続帯を成すように相互に連結さ
れ、この連続帯が段階的に駆動されて、キユベツ
トを順次に検査機器に提出する。

キヤリアの回転運動およびキユベツトをそのホ
ルダーからキユベツトグリツパの中に転送しまた
ホルダーの中に戻す手段の運動と同期的にキユベ
ツトホルダーを駆動する駆動機構が配備される。

提供されたサンプルの認識、特定のテストのた
めの準備としてのルミノメータの設定または調
整、サンプル準備操作の制御、サンプル操作機器
の作動、光電子増倍管の通電、所要形態の出力を
発生するための光電子増倍管のデータの処理を含
めて、ルミノメータまたはルミノメータ関連機器
の機能を制御する事のできる制御装置が配備され
る。

好ましくは、制御装置は、実施されるテスト専
用の、望ましくはテスト結果を得るために必要な
すべての機能を実施するソフトウエアを含む。

また好ましくは、制御装置は光電子増倍管のモ
ニタ手段を含む。この手段により、測定精度を高
レベルに保持する事ができる。

制御装置の機能は、ルミノメータ構造の内部ま
たは外部の装置によつて実施する事ができる。

［実施例］ 以下、本発明を図面に示す実施例について詳細
に説明する。

第１図は、液体または液体懸濁液のテスト用の
ルミノメータ構造を示し、この計器において被検
物質がそれぞれの透明キユベツトの中に収容さ
れ、これらのキユベツトが順次に計器中に導入さ
れる。被検物質は生発光処理または化学発光処理
を受けて光量子を発生し、これらの光量子が計器
中の光電子増倍管によつて検出される。

この図には、垂直軸線１１回りに回転するよう
に搭載されたボウル状の回転自在キヤリア１０が
図示されている。ボウルは、固定構造１３上に担
持された短軸１２上に取り付けられている。この
固定構造は外側ボウルを成し、そのフタ１４は軸
１５を担持し、この軸の中心も軸線１１上にあ
る。この軸１５は歯車１６を担持し、この歯車は
フタ１４の下方にあるので、ボウル１０を収容し
たスペースの中にある。歯車１６は歯車１７とか
み合い、この歯車１７は、ボウル１０の上部に固
着された中空軸１８によつて軸支されている。中
空軸１８の中に、キユベツト２０を把持するため
のキユベツトグリツパ１９がある。これについて
は後述する。

ボウル１０は、短軸１２に連結された狭い端部
を下方にした全体として切頭円錐形を有する。従
つてボウルの円形側面は下方に傾斜し、この実施
例におけるその傾斜角度は垂直軸線１１に対して
35゜である。ボウルの側面の一点において、第１
ａ図にも示す検査室２１が画成されている。この
検査室は凹形であつて、全体として楕円面の輪郭
を有する。その内側面２２は反射面である。従つ
て検査室２１の縁は全体として円形であつて、実
質的に垂直軸線１１に対して35゜に傾斜した面の
中にある。

キユベツト２０は第１図に示すように、検査室
２１の中まで延在する事ができる。第２図に図示
のように、キユベツトは小型の透明な試験管であ
つて、その一端が閉鎖されて全体として半球形の
端部２３を示す。キユベツトはポリスチレンで成
形する事ができる。図示の実施例においては、こ
の端部に、内容物の撹拌作用を助長するリブ２４
が成形されている。これらのリブは必要がなけれ
ば省略する事ができる。

第１図に図示のように、キユベツトはその半球
形端部２３の中心が検査室２１の楕円形の尖点と
一致するように配置される。この尖点は、検査室
の縁の成す面から、キユベツトの半球形端部の外
側半径に近似する距離をもつて離間されている。

検査室２１が第１図のテスト位置にあるとき、
この検査室に隣接して光電子増倍管装置２５が配
置される。この光電子増倍管は、高感度型のもの
であつて、外部の光源またはその他の放射源から
遮蔽される必要がある。従つて、この光電子増倍
管は外部構造１３の中に、外部放射光から密封さ
れるように配置される。

光電子増倍管の光学軸線２６は検査室の縁の面
に対して垂直であり、従つて検査室２１の形成す
る楕円の中心軸線と一致する。第１図から明らか
なように、図示のようなキユベツト２０がテスト
位置にあるとき、キユベツトの半球形端部は光電
子増倍管の作動端部に非常に近く、キユベツトの
軸線と光電子増倍管の軸線は交差している。

ボウル１０は固定構造１３の内部で回転自在で
あり、この回転を成すためにモータ２７が配備さ
れている。このモータは滑車２８と、伝動ベルト
２９とを担持し、このベルトが他の滑車３０に掛
け回され、この滑車３０がボウル１０の垂直短軸
上に担持されている。

ボウル１０は、キユベツト装入位置と第１図の
テスト位置の間において180゜回転されるように配
置されている。第６図はボウル中に装入されよう
としているキユベツト２０を示す。装入のためキ
ユベツトは垂直に持ち上げられて固定構造１３の
中の孔３１を通過させられる。検査室２１が装入
位置にあるとき、すなわち孔３１と整合している
ときにのみ、キユベツトを装入する事ができる。
検査室２１の縁面の角度は、キユベツトがこの縁
の下端を小間隙をもつて通過できるように定めら
れている。キユベツトは、その上端が検査室２１
の上部の孔３２と整合するように持ち上げられ、
この孔３２はグリツパ１９と整合している。図示
されてはいないが、孔３２と整合して検査室２１
の中に少し突入した短いフレア延長部がある。こ
れはキユベツトの導入部材を成す。しかしこのフ
レア延長部はレフレクタの特性を著しく損なわな
い。従つてキユベツトは垂直に持ち上げられて検
査室２１の中に入り、つぎに孔３２を通つてグリ
ツパ１９の中に入る。このようにして、ボウルが
テスト位置まで割り出され、すなわち回転させら
れたときに、キユベツトが前述のように第１図の
位置を占める。

キユベツトを持ち上げるために、特に第６図に
示す持ち上げ機構がある。この機構は、固定構造
１３の一部を成す固定フレームの軸受け中に両端
を取り付けられた垂直回転軸３３を含む。軸３３
はネジ山を備え、この軸上にボール・ナツト組立
体３４が係合しているので、軸が回転されるとき
に、ボール・ナツト組立体３４が持ち上げられ
る。このボール・ナツト組立体のアームが垂直プ
ツシユロツド３５を担持し、このロツドの先端に
プツシヤパツド３６が固着され、このパツドがキ
ユベツト２０の下側面に係合してこれを垂直に装
入位置まで持ち上げる事ができる。軸３３を回転
させ、これによりボールナツト、プツシヤロツ
ド、およびプツシヤパツド組立体を持ち上げるた
め、滑車３７が軸の下端に固着されている。この
滑車３７が、第１図のベルト３８によつて駆動さ
れる。

キユベツトはルミノメータに対してコンベア装
置によつてもたらされ、このコンベア装置は複数
の相互連結されたキユベツトホルダーから成り、
このホルダーの１つを第３図に示す。ホルダー３
９は、４本の一体的脚を備えた小型の管状成形物
である。一対の出張４０，４１はソケツトを成
し、他の２本の出張４２，４３は隣接のキユベツ
トホルダーのソケツトの中に係合する担持ピンを
成す。出張４０は中空アイであり、出張４１はフ
ツク状を成す。出張４２は小型の円形スピゴツト
を有し、出張４３は平坦なスピゴツトを有する。
これらの出張を係合させる事により、隣接のキユ
ベツトホルダーを相互に連結する事ができる。出
張４０，４２はピンをソケツトの中に落とす事に
よつて係合され、また出張４３のピンはフツク状
出張４１の中に側面から係合される。この手段に
より、キユベツトホルダーの所望長さの連続帯を
構成する事ができる。各キユベツトはそれぞれの
ホルダーの中に摩擦作用で係合させられ、ホルダ
ー３９の側面に弾性デテント４４が備えられ、こ
の弾性デテントは、キユベツトがホルダーの中に
挿入されるときに側方に押され、ホルダーからの
キユベツトの脱出に対して摩擦抵抗を成す。しか
し、プツシヤ組立体がキユベツトの底部に係合し
て押し上げるとき、キユベツトは容易にホルダー
外部に滑り出る。

他方、キユベツトホルダー３９は第４図、第５
図および第６図に図示の機構によつて駆動され
る。２個の垂直星形車４５，４６がそれぞれの垂
直軸４７，４８上に担持されている。各軸の下端
に、かさ歯車４９，５０が固着され、これらのか
さ歯車４９，５０は、共通軸５３上の対応のかさ
歯車５１，５２と係合している。軸５３は、ベル
ト５５によつて係合された滑車５４を担持し、こ
のベルトはモータ５８のモータ軸５７上の滑車５
６上にも掛け回されている。

星形車４５，４６は相互に比較的近接し、また
連続帯中のキユベツトホルダー３９の間に係合す
る事のできるローブを有する。この構造の輪郭を
第４図に図示してある。これらのキユベツトはそ
れぞれのホルダーの中に格納されて順次に、隣接
星形車４５，４６間の中心にある装入位置までも
たらされ、この位置において前述のようにプツシ
ヤ組立体がキユベツトを持ち上げる。

ルミノメータの頂部に液体噴射系が配置されて
いる。この装置は、キユベツトが光電子増倍管装
置に対してまたはその他の位置に提出されたとき
に、そのキユベツトの中に必要に応じて、所定量
の試薬および／または他の物質のサンプルを直接
に噴射するために使用される。この液体噴射系は
付図において全体として５９で示されている。

フタ１４の上側面の中心にある軸１５は撹拌装
置６０を担持し、この装置６０は、前記のキユベ
ツトグリツパを担持した歯車１６，１７を介して
作動する。この装置６０はサンプルを撹拌して、
その十分な混合と光量子の発生の均一性を保証す
るものである。

テストが終了したときにボウルからキユベツト
を引き出すための装置６１が配備されている。こ
の装置は、キユベツトを下方に押してそれぞれの
ホルダーと係合させるためのプツシヤを含む。

この構造は、サンプル操作装置を所要の順序で
作動させる適当な電気回路を含む。

３主要サブアセンブリ、すなわちボウルとその
ハウジングおよびその対応部材、キユベツト持ち
上げ機構、並びにキユベツト連続帯システムは、
すべて共通のベース上に搭載され、操作の正確性
と結果の信頼度を保証するため、これらの組立体
間の運動を防止するように相互に連結されてい
る。

第７図はシステムレイアウトのブロツクダイヤ
グラムであつて、ルミノメータ構造とそのキユベ
ツト送り系とを含む主サンプル処理装置６０が制
御装置に接続され、この制御装置はこの場合マイ
クロコンピユータ６１を含み、これに対してデイ
スクドライブ６２と、デイスプレーユニツト
（VDU）６３と、プリンター６４が接続されてい
る。

第８図は他のレイアウトを示し、この場合主サ
ンプルユニツト６５はオンボード・マイクロコン
ピユータ６６を具備し、このマイクロコンピユー
タは電気的プログラム可能ROMによつて制御さ
れる。

操作に際してサンプルを含むキユベツトが前記
の連続帯系によつて装置に送られる。ルミノメー
タ中での測定の前に、これらのサンプルに前処理
を行う。培養、試薬噴射および数可能位置での混
合などの前処理は、プロトコル・ソフトウエアの
制御によつて実施される。

適当な準備段階として、ATP規格の系列溶液
を含有する最初の５前後のサンプルのテストによ
つて校正を実施する。このATP濃度は基準曲線
から内挿する事によつて決定される。またサンプ
ル濃度を既知のATP濃度とスパイキングによつ
て比較する事もできる。

基準を設定したのちにサンプルの分析を続行
し、その後データの収集を開始する。

前記のようにして連続帯系によつてキユベツト
をルミノメータに送り、各キユベツトが一時的
に、第４図に示すように２個の星形車４５，４６
の間の位置を占める。キユベツトがこの位置にあ
るとき、持ち上げ機構を作動し、プツシヤパツド
３６がキユベツトをボウル１０の中に持ち上げ、
この時点においてはボウルの検査室２１がキユベ
ツトと整列配置されている。キユベツトが装入さ
れ、グリツパ装置１９の中に把持されたとき、ボ
ウル１０を180゜回転させて、検査室２１を光電子
増倍管装置２５と整列させる。必要ならば、噴射
装置５９を作動して、適当量の試薬またはその他
の物質を噴射し、振動器６０を作動してキユベツ
トの内容物を撹拌する。サンプルから発生した光
量子が光電子増倍管装置２５によつて検出され
る。

また一つの構造として、バツチ中のすべてのサ
ンプルがテストされたときに、マイクロコンピユ
ータプログラムが、VDU上のグラフおよび印刷
など種々の形でのデータ分析を要求する事のでき
るメニユーに戻る。またこの装置中において自己
診断プログラムを連続的に作動する事ができ、ま
たすべての制御は適当なソフトウエアによつて実
施する事ができる。

前述の検査室２１の形状並びに光電子増倍管装
置に対するキユベツトの位置は、光量子の最小限
の損失をもつてその収集を可能とするものであ
る。

一つのサンプルについてのテストが実施された
とき、ボウル１０を再び180゜回転させる事によつ
てキユベツトを装入位置に戻す。次にキユベツト
押し出し装置６１を作動してキユベツトを再び連
続帯中のキユベツトホルダーの中に下降させる。
そこで駆動機構がキユベツト連続体を１間隔だけ
前進させる。

望ましくは一部または全部の機能についてステ
ツプモーチを使用する事ができる。

テスト位置にあるキユベツト内部の物質の温度
を高める事が可能であり、そのために、検査室２
１に隣接してボウル１０の中に加熱手段６２を備
える。必要ならば、光電子増倍管装置２５を冷却
するために冷却系を使用する事ができる。圧電型
またはその他のシステムが適当である。これは、
光電子増倍管装置２５の作動部の正確な温度制御
を保証し、従つて精度を保証するものである。

制御装置は前述のようにマイクロコンピユータ
または同等のデバイスを含む事ができるが、これ
はルミノメータ構造そのものと、もし必要ならそ
の他の関連の機器とを制御するために配備する事
ができる。

ATP抽出、試薬添加、温度調整、混合、また
はその他の実施されるテストに適した機能を含め
て、サンプルの準備のための手段が含まれる。若
干の場合には、サンプルをテスト位置に提出する
前に光量子発生を成す事もできる。また光量子発
生の開始に対して正確な時点にサンプルをテスト
位置にもたらすため、調時デバイスを作動させる
事もできる。これらの機能は機器の内部または外
部で実施する事ができる。

また好ましくは制御装置ソフトウエアは、サン
プルの導入と抽出のためのサンプル操作装置、並
びに光電子増倍管通電装置およびその他の装置を
含めて、機器の作動手段を含む。

また、出力を任意所望の形状でうるため、光電
子増倍管の発生する信号を処理する。

制御装置ソフトウエアは好ましくは、実施され
る特定のテスト専用とするが、最初のサンプル認
識から出力読みだしまでのすべての機能またはそ
の他の出力を制御する事ができる。第８図に見ら
れるように、比較的困難な環境の中においても外
部作用から適当に保護されたユニツトの中に装置
全体を収容する事ができる。例えば、牛乳などテ
ストされる液体物質を導入し、デジタルまたはそ
の他の形で結果を表示する信号、またはさらに簡
単な形の受理または廃棄の表示信号を出す事がで
きる。このようにして、本発明の装置は未熟練作
業員によつても使用する事が可能となる。

食品処理工場または活性化スラツジ処理プラン
トなど、装置を連続工程で使用する場合、出力信
号を制御ユニツトに伝送するために処理する事が
でき、特定の方法でサンプルのテストが満足に行
われない場合、全工程を停止する。オンラインの
他のフイードバツクを採用する事もできる。

また他方、種々の分野での研究のためにこの装
置を使用する事ができ、その場合、操作員は、サ
ンプル準備段階、光電子増倍管の性能またはこれ
に続く出力信号のデータ処理を含めて種々の変数
を制御する事ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるルミノメータ構造の部分
破断全体図、第１Ａ図は、ルミノメータのキヤリ
アの一部を成す検査室の拡大断面図、第２図はキ
ユベツトの拡大断面図、第３図はキユベツトホル
ダーの同様の拡大断面図、第４図はキユベツト連
続帯の駆動機構の一部の平面図、第５図は第４図
の駆動機構の側面図、第６図は前記駆動機構の他
の側面図、第７図は本発明によるルミノメータシ
ステムのブロツクダイヤグラム、また第８図は本
発明によるルミノメータシステムの他の実施態様
のブロツクダイヤグラムである。 １０……キヤリア、１９……グリツパ、２０…
…キユベツト、２１……検査室、２５……光電子
増倍管、３９……キユベツトホルダー。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ それぞれのキユベツト２０の中に収容された
   被検サンプルを順次にキヤリア１０に送り、順次
   に光電子増倍管装置２５に提出する手段を含むル
   ミノメータにおいて、キヤリア１０は、検査室２
   １を画成する部分を有する回転構造と、キユベツ
   ト２０のサンプル収容部分が検査室２１の内部に
   ある位置にキユベツト２０を保持するキユベツト
   グリツパ１９とを含み、前記キヤリア１０は、キ
   ユベツト２０をグリツパ１９の中に挿入する事の
   できる装入位置と、検査室２１が光電子増倍管２
   ５に隣接配置されるテスト位置との間を回転自在
   である事を特徴とするルミノメータ。 ２ キヤリア１０は軸線１１回りに回転自在性に
   取り付けられ、キユベツトグリツパ１９はキユベ
   ツト２０を軸線１１に対して実質的に平行方向に
   挿入するように配置され、検査室は、その外側縁
   が前記軸線１１に対して傾斜した面の中にあるよ
   うにキヤリア１０の側面に形成され、また光電子
   増倍管２５はその光学軸線２６が前記検査室の縁
   の面に対して垂直となるように配置される事を特
   徴とする特許請求の範囲第１項によるルミノメー
   タ。 ３ 検査室２１は、キヤリア１０の側面の凹形キ
   ヤビテイの形を成し、光電子増倍管２５の作動部
   分の隣接端部の形状に対応する縁部を有する事を
   特徴とする特許請求の範囲第２項によるルミノメ
   ータ。 ４ 検査室１０は単一の孔３２を有し、この孔を
   通してキユベツト２０が挿入され、テスト位置に
   おいて、キユベツト２０の軸線が光電子増倍管２
   ５の光学軸線２６の軸線と、前記検査室２１の縁
   の面に隣接する位置において交差する事を特徴と
   する特許請求の範囲第１項乃至第３項のいずれか
   によるルミノメータ。 ５ キヤリア１０の回転軸線１１に対する検査室
   ２１の縁の面の角度は35゜であり、キユベツトを
   導入する前記の孔は、キユベツトをキヤリア１０
   の回転軸線１１に対して平行方向に導入しまたは
   引き出す事ができるように配置される事を特徴と
   する特許請求の範囲第２項によるルミノメータ。 ６ キユベツト２０を装置に送りまた装置から出
   すためのコンベア構造を有する事を特徴とする特
   許請求の範囲第１項乃至第５項のいずれかによる
   ルミノメータ。 ７ コンベア構造は、順次にキユベツト装入位置
   にもたらされる複数のキユベツトホルダー３９を
   含み、このホルダー３９からキユベツト２０が押
   し出されてキユベツトグリツパ１９に転送され、
   次にキヤリア１０が回転されてキユベツト２０を
   テスト位置にもたらし、テスト終了後にキヤリア
   １０が再び装入位置まで回転されて、この位置に
   おいてキユベツト２０がそのホルダー３９に戻さ
   れる事を特徴とする特許請求の範囲第６項による
   ルミノメータ。 ８ ホルダー３９は相互に連結されて連続帯を成
   し、この連続帯が各キユベツト２０を順次に検査
   機器に提出するために段階的に駆動されることを
   特徴とする特許請求の範囲第７項によるルミノメ
   ータ。 ９ キヤリア１０の回転運動およびキユベツト２
   ０をそのホルダー３９からキユベツトグリツパ１
   ９の中に転送し、またホルダー３９の中に戻す手
   段の運動と同期的に、キユベツトホルダー３９を
   駆動する駆動機構が配備される事を特徴とする特
   許請求の範囲第７項または第８項のいずれかによ
   るルミノメータ。 １０ 特定のサンプルの認識と、特定のテストの
   準備としてのルミノメータの設定または調整と、
   サンプル準備操作の制御、サンプル操作機器の作
   動、光電子増倍管２５の通電、および光電子増倍
   管２５から発生されたデータの処理と所要形状の
   出力の発生を含めて、ルミノメータおよびその付
   属機器の機能を制御する事のできる制御装置を含
   む事を特徴とする特許請求の範囲第１項乃至第９
   項のいずれかによるルミノメータ。 １１ 制御装置は、特定のテスト専用の、または
   望ましくは結果をうるに必要なすべての機能を実
   施するソフトウエアを含む事を特徴とする特許請
   求の範囲第１０項によるルミノメータ。 １２ 制御装置は光電子増倍管２５のモニタ手段
   を含む事を特徴とする特許請求の範囲第１０項ま
   たは第１１項によるルミノメータ。 １３ テスト位置においてキユベツトの中に保持
   されたサンプルの中に物質を噴射するための噴射
   装置５９を有する事を特徴とする特許請求の範囲
   第１項乃至第１２項のいずれかによるルミノメー
   タ。 １４ キユベツト２０の内容物を撹拌するための
   撹拌装置を含む事を特徴とする特許請求の範囲第
   １項乃至第１３項のいずれかによるルミノメー
   タ。 １５ それぞれのキユベツト２０の中に収容され
   たサンプルを順次にキヤリア１０に送るようにし
   たルミノメータにおけるサンプルテスト法におい
   て、キヤリア１０をキユベツト装入位置からテス
   ト位置まで回転させてキユベツトをキヤリア１０
   の中の検査室２１の内部に配置する段階と、光電
   子増倍管２５を作動し、検査室２１内部において
   キユベツト２０のサンプル収容部分を前記光電子
   増倍管に露出する段階と、光電子増倍管２５から
   受けた信号を分析する段階と、キユベツト２０を
   装入位置まで戻す段階と、次のキユベツトの装入
   のために前記キユベツト２０を除去する段階とを
   含む方法。 １６ サンプルに対して前処理を実施する段階を
   含む事を特徴とする特許請求の範囲第１５項によ
   るテスト法。 １７ サンプル分析は規格との比較によつて実施
   する事を特徴とする特許請求の範囲第１５項また
   は第１６項のいずれかによるテスト法。