JPS62209340A - ルミノメータおよびルミノメータによるサンプルテスト方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はルミノメータ構造に関するものである。

ルミノメータは、主発光効果または化学発光効果によっ
て発生される特に低準位の光量子を測定する装置である
。本発明に関するルミノメータ構造は化学反応またはそ
の他の反応の結果として生じる発光を検出し測定するよ
うに設計され、測定結果は、実施されるそれぞれのテス
トに対応する形の信号に変換される。

［従来技術と問題点］ ルミノメータを使用する事のできる代表的なケースは１
種々のファクタの測定のための液体サンプルのテストで
あって、この装置は医療、食品および飲み物工業、製薬
工業、水処理工業またはその他の工業に使用する事がで
きる。またこの装置は菰々の分野での研究に使用する事
ができる。

ルミノメータはサンプルを通常は液体または懸濁液とし
て光電子増倍管装置に提出する手段を有し、この光電子
増倍管によって実際の測定が実施される。

サンプルの性質と実施されるテストの要件に応じてサン
プルを光電子増倍管に提出する前にこれを種々の方法で
準備する必要がある。この準備は、ＡＴＰ分子（アデノ
シン−５′−三リン酸）の抽出、適当な試薬の添加、ま
たは光電子増倍管によって検出−測定可能の強さの光を
発生させるその他の処理工程を含む。またサンプルが光
電子増倍管に提出されている間に若干の機能を実施する
事ができる。

光電子増倍管に対してサンプルを提出する多数の方法が
考案されているが、光電子増倍管は極めて高感度であっ
て外部作用に対して遮蔽されなければならない。多数の
サンプルを順次に検査する必要から、サンプルをコンベ
ア構造の中で装置に送り、各サンプルが順次に検査のた
めに提出され次にコンベア構造に戻されるようにした種
々のシステムが開発されている。このようなシステムに
おいては、サンプルはそれぞれの透明キュベツト中に収
容され、これらのキュベツトが順次に検査室に配置され
、この検査室が少なくとも適当時間。

光電子増倍管に対して開かれまたは連通ずる。

光電子増倍管に連通した検査室にキュベツトを出し入れ
する際に、解決すべき若干の問題がある。

特に、迷走外部光線またはその他の放射線をテスト期間
中、検査室から排除しなければならない。

これは、光電子増倍管による光量子の検出精度に悪影響
を与えるからである。しかも、好ましくは精密な遮蔽手
段を使用する必要なく、キュベツトを容易また急速に検
査室の中にに導入しまた除去しなければならない。正確
な測定の最良条件を成すため、検査室内部において集光
を最大限にしなければならない。

［発明の目的および効果］ 本発明の目的は、サンプルを順次に容易に検査する事が
でき、検査結果の精度の高いルミノメータ構造を提供す
るにある。

［発明の概要］ 本発明によれば、順次に検査されるためそれぞれのキュ
ベツト中に収容されたサンプルをキャリアに送って、順
次に光電子増倍管に提出させる手段を含み、前記のキャ
リアは、検査室を画成する回転構造と、キュベツトのサ
ンプル収容部分が検査室の内部にある位置にキュベツト
を保持するキュベツトグリッパとを含み、また前記キャ
リアは。

キュベツトをグリッパの中に挿入する事のできる装入位
置と、検査室が光電子増倍管に隣接配置されるテスト位
置との間を回転する事ができる。

好ましくはキャリアは軸線回りに回転自在に取り付けら
れ、キュベツトグリッパはキュベツトを前記＃線に対し
て実質的に平行に挿、入するように配置され、前記検査
室は、その外側面縁が前記軸線に対して傾斜した面の中
にあるようにキャリアの側面に形成され、また光電子増
倍管は、それ自体の光学軸線が検査室の縁の面に対して
垂直となるように配置される。

従って望ましくは、検査室はキャリアの側面の凹形くぼ
みまたはキャビティの形状を成し、このキャビティの縁
が光電子増倍管の作動部分の隣接端部の形状に大体一致
する。

検査室はキュベツトを挿通する単一の孔を有し、テスト
位置におけるキュベツトの中心線が、検査室の縁の前記
面に近接する位置において光電子増倍管の光学軸線と交
差する。

この構造により、サンプルを収容するキュベツト底部は
光電子増倍管に近接して配置されるので、光量子の捕集
が最適化される。

キュベツトグリッパは好ましくはキュベツトを検査室を
通して前記の単一の孔の中に導入する事のできる位置に
配置され、またキュベツトは反対方向に引き出され、検
査室は、キュベツトを通すための他の孔または切りだし
部分を必要とする事なくキュベツトを導入しまた引き出
す事のできる形状と配置とを有する。

キュベツトを容易に導入しまた引き出す事ができるよう
に、キャリアの回転軸線に対する検査室の縁の面の角度
は、好ましくは３５″とする。

キュベツトはコンベア構造によってルミノメータに送ら
れ、また取り出される。このコンベア構造は複数のホル
ダーを含み、これらのホルダーが順次にキュベツト装入
位置に送られ、このホルダーからキュベツトが引き出さ
れて、キュベツトグリッパの中に転送される。そこでキ
ャリアが回転されてキュベツトをテスト位置にもたらし
、テスト後にキャリアが再び装入位置まで回転されて、
この位置でキュベツトがそのホルダーに戻される。

ホルダーは連続帯を成すように相互に連結され。

この連続帯が段階的に駆動されて、キュベツトを順次に
検査機器に提出する。

キャリアの回転運動およびキュベツトをそのホルダーか
らキュベツトグリッパの中に転送しまたホルダーの中に
戻す手段の運動と同期的にキュベツトホルダーを駆動す
る駆動機構が配備される。

提供されたサンプルの認識、特定のテストのための準備
としてのルミノメータの設定または調整。

サンプル準位操作の制御、サンプル操作機器の作動、光
電子増倍管の通電、所要形態の出力を発生するための光
電子増倍管のデータの処理を含めて、ルミノメータまた
はルミノメータ関連機器の機能を制御する事のできる制
御装置が配備される。

好ましくは、制御装置は、実施されるテスト専用の、望
ましくはテスト結果を得るために必要なすべての機能を
実施するソフトウェアを含む。

また好ましくは、制御装置は光電子増倍管のモニタ手段
を含む、この手段により、測定精度を高レベルに保持す
る事ができる。

制御装置の機能は、ルミノメータ構造の内部または外部
の装置によって実施する事ができる。

［実施例］ 以下、本発明を図面に示す実施例について詳細に説明す
る。

第１図は、液体または液体懸濁液のテスト用のルミノメ
ータ構造を示し、この計器において被検物質がそれぞれ
の透明キュベツトの中に収容され、これらのキュベツト
が順次に計器中に導入される。

被検物質は主発光処理または化学発光処理を受けて光量
子を発生し、これらの光量子が計器中の光電子増倍管に
よって検出される。

この図には、垂直軸１ｉ１ｉ１１回りに回転するように
搭載されたボウル状の回転自在キャリア１０が図示され
ている。ボウルは、固定構造１３上に担持された短軸１
２上に取り付けられている。この固定構造は外側ボウル
を成し、そのフタ１４は軸１５を担持し、この軸の中心
も軸線１１上にある。

この軸１５は歯車１６を担持し、この歯車はフタ１４の
下方にあるので、ボウル１０を収容したスペースの中に
ある。歯車１６は歯車１７とがみ合い、この歯車１７は
、ボウル１０の上部に固着された中空軸１８によって軸
支されている。中空軸１８の中に、キュベツト２０を把
持するためのキュベツトグリッパ１９がある。これにつ
いては後述する。

ボウル１０は、短軸１２に連結された狭い端部を下方に
した全体として切頭円錐形を有する。従ってボウルの円
形側面は下方に傾斜し、この実施例におけるその傾斜角
度は垂直軸１１Ａ１１に対して３５°である。ボウルの
側面の一点において、第１ａ図にも示す検査室２１が画
成されている。この検査室は凹形であって、全体として
楕円面の輪郭を有する。その内側面２２は反射面である
。従って検査室２１の縁は全体として円形であって、実
質的に垂直軸線１１に対して３５＠に傾斜した面の中に
ある。

キュベツト２０は第１図に示すように、検査室２１の中
まで延在する事ができる。第２図に図示のように、キュ
ベツトは小型の透明な試験管であって、その一端が閉鎖
されて全体として半球形の端部２３を成す、キュベット
はポリスチレンで成形する事ができる。図示の実施例に
おいては、この端部に、内容物の攪拌作用を助長するリ
ブ２４が成形されている。これらのリブは必要がなけれ
ば省略する事ができる。

第１図に図示のように、キュベツトはその半球形端部２
３の中心が検査室２１の楕円形の尖点と一致するように
配置される２この尖点は、検査室の縁の成す面から、キ
ュベツトの半球形端部の外側半径に近似する距離をもっ
て離間されている。

検査室２１が第１図のテスト位置にあるとき、この検ｒ
ｆ室に隣接して光電子増倍管装置２５が配置される。こ
の光電子増倍管は、高感度型のものであって、外部の光
源またはその他の放射源から遮蔽される必要がある。従
って、この光電子増倍管は外部構造１３の中に、外部放
射光から密封されるように配置される。

光電子増倍管の光学軸線２６は検査室の縁の面に対して
垂直であり、従って検査室２１の形成する楕円の中心軸
線と一致する。第１図から明らかなように、図示のよう
なキュベツト２０がテスト位置にあるとき、キュベツト
の半球形゛端部は光電子増倍管の作動端部に非常に近く
、キュベツトの軸線と光電子増倍管の軸線は交差してい
る。

ボウル１０は固定構造１３の内部で回転自在であり、こ
の回転を成すためにモータ２７が配備されている。この
モータは滑車２８と、伝動ベルト２９とを担持し、この
ベルトが他の滑車３０に掛は回され、この滑車３０がボ
ウル１０の垂直短軸上に担持されている。

ボウル１０は、キュベツト装入位置と第１図のテスト位
置の間において１８０′回転されるように配置されてい
る。第６図はボウル中に装入されようとしているキュベ
ツト２０を示す。装入のためキュベツトは垂直に持ち上
げられて固定構造１３の中の孔３１を通過させられる。

検査室２１が装入位置にあるとき、すなわち孔３１と整
合しているときにのみ、キュベツトを装入する事ができ
る。検査室２１の縁面の角度は、キュベツトがこの縁の
下端を小間隙をもって通過できるように定められている
、キュベットは、その上端が検査室２１の上部の孔３２
と整合するように持ち上げられ、この孔３２はグリッパ
１９と整合している。

図示されてはいないが、孔３２と整合して検査室２１の
中に少し突入した短いフレア延長部がある。

これはキュベツトの導入部材を成す、しかしこのフレア
延長部はレフレクタの特性を著しく損なわない。従って
キュベツトは垂直に持ち上げられて検査室２１の中に入
り、つぎに孔３２を通ってグリッパ１９の中に入る。こ
のようにして、ボウルがテスト位置まで割り出され、す
なわち回転させられたときに、キュベツトが前述のよう
に第１図の位置を占める。

キュベツトを持ち上げるために、特に第６＠に示す持ち
上げ機構がある８この機構は、固定構造１３の一部を成
す固定フレームの軸受は中に両端を取り付けられた垂直
回転軸３３を含む。軸３３はネジ山を備え、この軸上に
ボール・ナツト組立体３４が係合しているので、軸が回
転されるときに、ボール・ナツト組立体３４が持ち上げ
られる。

このボール・ナツト組立体のアームが垂直ブツシュロッ
ド３５を担持し、このロンドの先端にブツシャパッド３
６が固着され、このパッドがキュベラ１−２０の下側面
に係合してこれを垂直に装入位置まで持ち上げる事がで
きる。軸３３を回転させ。

これによりボールナツト、ブツシャロッド、およびブツ
シャパッド組立体を持ち上げるため、滑車３７が軸の下
端に固着されている。この滑車３７が、第１図のベルト
３８によって駆動される。

キュベツトはルミノメータに対してコンベア装置によっ
てもたらされ、このコンベア装置は複数の相互連結され
たキュベツトホルダーから成り。

このホルダーの１つを第３図に示す。ホルダー３９は、
４本の一体的脚を備えた小型の管状成形物である。一対
の出張４０．４１はソケットを成し。

他の２本の出張４２．４３は隣接のキュベツトホルダー
のソケットの中に係合する担持ピンを成す。

出張４０は中空アイであり、出張４１はフック状を成す
。出張４２は小型の円形スピゴットを有し、出張４３は
平坦なスピゴットを有する。これらの出張を係合させる
事により、隣接のキュベツトホルダーを相互に連結する
事ができる。出張４０゜４２はピンをソケットの中に落
とす事によって係合され、また出張４３のビンはフック
状出張４上の中に側面から係合される。この手段により
、キュベツトホルダーの所望長さの連続帯を構成する事
ができる。各キュベツトはそれぞれのホルダーの中に摩
擦作用で係合させられ、ホルダー３９の側面に弾性デテ
ント４４が信えられ、この弾性デテントは、キュベツト
がホルダーの中に挿入されるときに側方に押され、ホル
ダーからのキュベツトの脱出に対して摩擦抵抗を成す。

しかし、ブツシャ組立体がキュベツトの底部に係合して
押し上げるとき、キュベツトは容易にホルダー外部に滑
り出る。

他方、キュベツトホルダー３９は第４図、第５図および
第６図に図示の機構によって駆動される。

２個の垂直星形車４、４６がそれぞれの垂直軸４７．４
８上に担持されている。各軸の下端に、かさ歯車４９．
５０が固着され、これらのがさ歯車４９．５０は、共通
軸５３上の対応のかさ歯車５１．５２と係合している。

軸５３は、ベルト５５によって係合された滑車５４を担
持し、このベルトはモータ５８のモータ軸５７−上の滑
車５６上にも掛は回されている。

星形車４、４６は相互に比較的近接し、また連続帯中の
キュベツトホルダー３９の間に係合する事のできるロー
ブを有する。この構造の輪郭を第４図に図示しである。

これらのキュベツトはそれぞれのホルダーの中に格納さ
れて順次に、隣接星形車４、４６間の中心にある装入位
置までもたらされ、この位置において前述のようにブツ
シャ組立体がキュベツトを持ち上げる。

ルミノメータの頂部に液体噴射系が配置されている。こ
の装置は、キュベツトが光電子増倍管装置に対してまた
はその他の位置に提出されたときに、そのキュベツトの
中に必要に応じて、所定量の試薬および／または他の物
質のサンプルを直接に噴射するために使用される。この
液体噴、射系は付図において全体として５９で示されて
いる。

フタ１４の上側面の中心にある軸１５は攪拌装置６０を
担持し、この装５２６０は、前記のキュベツトグリッパ
を担持した歯車１６．１７を介して作動する。この装置
６０はサンプルを攪拌して、その十分な混合と光量子の
発生の均一性を保証するものである。

テストが終了したときにボウルからキュベツトを引き出
すための装置６１が配備されている。この装置は、キュ
ベツトを下方に押してそれぞれのホルダーと係合させる
ためのブツシャを含む。

この構造は、サンプル操作装置を所要の順序で作動させ
る適当な電気回路を含む。

３主要サブアセンブリ、すなわちボウルとそのハウジン
グおよびその対応部材、キュベツト持ち上げ機構、並び
にキュベツト連続帯システムは、すべて共通のベース上
に搭載され、操作の正確性と結果の信頼度を保証するた
め、これらの組立体間の運動を防止するように相互に連
結されている。

第７図はシステムレイアウトのブロックダイヤグラムで
あって、ルミノメータ構造とそのキュベツト送り系とを
含む主サンプル処理袋ｃｕｒｂ＜制御装置に接続され、
この制御装置はこの場合マイクロコンピュータ６１を含
み、これに対してディスクドライブ６２と、ディスプレ
ーニーニット（ＶＤＵ）６３と、プリンター６４が接続
されている。

第８図は他のレイアウトを示し、この場合主サンプルユ
ニット６５はオンボード・マイクロコンピュータ６６を
具備し、このマイクロコンピュータは電気的プログラム
可能ＲＯＭによって制御される。

操作に際してサンプルを含むキュベツトが前記の連続帯
系によって装置に送られる。ルミノメータ中での測定の
前に、これらのサンプルに前処理を行う。培養、試薬噴
射および数可能位置での混合などの前処理は、プロトコ
ル・ソフトウェアの制御によって実施される。

適当な準備段階として、ＡＴＰ規格の系列溶液を含有す
る最初の５前後のサンプルのテストによって校正を実施
する。このＡＴＰ濃度は基準曲線から内挿する事によっ
て決定される。またサンプル濃度を既知のＡＴＰＩ：１
度とスパイキングによって比較する事もできる。

基準を設定したのちにサンプルの分析を続行し。

その後データの収集を開始する。

前記のようにして連続帯系によってキュベツトをルミノ
メータに送り、各キュベツトが一時的に、第４図に示す
ように２個の星形車４、４６の間の位置を占める、キュ
ベットがこの位置にあるとき、持ち上げ機構を作動し、
ブツシャパッド３６がキュベツトをボウル１０の中に持
ち上げ、この時点においてはボウルの検査室２１がキュ
ベツトと整列配置されている、キュベットが装入され。

グリッパ装置１９の中に把持されたとき、ボウル１０を
１８０°回転させて、検査室２１を光電子増倍管装置２
５と整列させる。必要ならば、噴射装置５９を作動して
、適当量の試薬またはその他の物質を噴射し、振動器６
０を作動してキュベツトの内容物を攪拌する。サンプル
から発生した光量子が光電子増倍管装置２５によって検
出される。

また一つの構造として、バッチ中のすべてのサンプルが
テストされたときに、マイクロコンピュータプログラム
が、ＶＤＵ上のグラフおよび印刷など種々の形でのデー
タ分析を要求する事のできるメニューに戻る。またこの
装置−中において自己診断プログラムを連続的に作動す
る事ができ、またすべての制御は適当なソフトウェアに
よって実施する事ができる。

前述の検査室２１の形状並びに光電子増倍管装置に対す
るキュベツトの位置は、光量子の最小限の損失をもって
その収集を可能とするものである。

一つのサンプルについてのテストが実施されたとき、ボ
ウル１０を再び１８０’回転させる事によってキュベツ
トを装入位置に戻す０次にキュベツト押し出し装置６１
を作動してキュベツトを再び連続帯中のキュベツトホル
ダーの中に下降させる。そこで駆動機構がキュベツト連
続体を１間隔だけ前進させる。

望ましくは一部または全部の機能についてステップモー
タを使用する事ができる。

テスト位置にあるキュベツト内部の物質の温度を高める
事が可能であり、そのために、検査室２１に隣接してボ
ウル１０の中に加熱手段６２を備える。必要ならば、光
電子増倍管装置２５を冷却するために冷却系を使用する
事ができる。圧電型またはその他のシステムが適当であ
る。これは。

光電子増倍管装置２５の作動部の正確な温度制御を保証
し、従って精度を保証するものである。

制御装置は前述のようにマイクロコンピュータまたは同
等のデバイスを含む事ができるが、これはルミノメータ
構造そのものと、もし必要ならその他の関連の機器とを
制御するために配備する事ができる。

ＡＴＰ抽出、試薬添加、温度調整、混合、またはその他
の実施されるテストに適した機能を含めて、サンプルの
準備のための手段が含まれる。若干の場合には、サンプ
ルをテスト位置番こ提出する前に光量子発生を成す事も
できる。また光量子発生の開始に対して正確な時点にサ
ンプルをテスト位置にもたらすため、調時デバイスを作
動させる事もできる。これらの機能は機器の内部またＩ
士外部で実施する事ができる。

また好ましくは制御装置ソフトウェアは、サンプルの導
入と抽出のためのサンプル操作装置、並びに光電子増倍
管通電装置およびその他の装置を含めて１機器の作動手
段を含む。

また、出力を任意所望の形状でうるため、光電子増倍管
の発生する信号を処理する。

制御装置ソフトウェアは好ましくは、実施される特定の
テスト専用とするが、最初のサンプル認識から出力読み
たしまでのすべての機能またはその他の出力を制御する
事ができる。第８図に見られるように、比較的困難な環
境の中においても外部作用から適当に保護されたユニッ
トの中に装置全体を収容する事ができる。例えば、牛乳
などテストされる液体物質を導入し、デジタルまたはそ
の他の形で結果を表示する信号、またはさらに簡単な形
の受理または廃棄の表示信号を出す事ができる。このよ
うにして、本発明の装置は未熟練作業員によっても使用
する事が可能となる。

食品処理工場または活性化スラッジ処理プラントなど、
装置を連続工程で使用する場合、出力信号を制御ユニッ
トに伝送するために処理する事ができ、特定の方法でサ
ンプルのテストが満足に行われない場合、全工程を停止
する。オンラインの他のフィードバックを採用する事も
できる。

また他方、種々の分野での研究のためにこの装置を使用
する事ができ、その場合、操作員は、サンプル準備段階
、光電子増倍管の性能またはこれに続く出力信号のデー
タ処理を含めて種々の変数を制御する事ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるルミノメータ構造の部分破断全体
図、第１Ａ図は、ルミノメータのキャリアの一部を成す
検査室の拡大断面図、第２図はキュベツトの拡大断面図
、第３図はキュベツトホルダーの同様の拡大断面図、第
４図はキュベツト連続帯の駆動機構の一部の平面図、第
５図は第４図の駆動機構の側面図、第６図は前記駆動機
構の他の側面図、第７図は本発明によるルミノメータシ
ステムのブロックダイヤグラム、また第８図は本発明に
よるルミノメータシステムの他の実施態様のブロックダ
イヤグラムである。 １０、、、キャリア、１９．　、　、＋グリッパ、２０
゜、キュベツト、２１．、、検査室、２、、。 光電子増倍管、３９．、、キュベツトホルダー、州頼人
代理人　　佐　　蕗　−漁 １０゜ Ｉ３　２ ＦＩＧ　　５ ＦＩＧ　　６ ＦＩＧ　　Ｂ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、それぞれのキュベット（２０）の中に収容された被
   検サンプルを順次にキャリア（１０）に送り、順次に光
   電子増倍管装置（２５）に提出する手段を含むルミノメ
   ータ構造において、キャリア（１０）は、検査室（２１
   ）を画成する部分を有する回転構造と、キュベット（２
   ０）のサンプル収容部分が検査室（２１）の内部にある
   位置にキュベット（２０）を保持するキュベットグリッ
   パ（１９）とを含み、前記キャリア（１０）は、キュベ
   ット（２０）をグリッパ（１９）の中に挿入する事ので
   きる装入位置と、検査室（２１）が光電子増倍管（２５
   ）に隣接配置されるテスト位置との間を回転自在である
   事を特徴とするルミノメータ構造。 ２、キャリア（１０）は軸線（１１）回りに回転自在性
   に取り付けられ、キュベットグリッパ（１９）はキュベ
   ット（２０）を軸線（１１）に対して実質的に平行方向
   に挿入するように配置され、検査室は、その外側縁が前
   記軸線（１１）に対して傾斜した面の中にあるようにキ
   ャリア（１０）の側面に形成され、また光電子増倍管（
   ２５）はその光学軸線（２６）が前記検査室の縁の面に
   対して垂直となるように配置される事を特徴とする特許
   請求の範囲第１項によるルミノメータ構造。 ３、検査室（２１）は、キャリア（１０）の側面の凹形
   キャビティの形を成し、光電子増倍管（２５）の作動部
   分の隣接端部の形状に対応する縁部を有する事を特徴と
   する特許請求の範囲第２項によるルミノメータ構造。 ４、検査室（１０）は単一の孔（３２）を有し、この孔
   を通してキュベット（２０）が挿入され、テスト位置に
   おいて、キュベット（２０）の軸線が光電子増倍管（２
   ５）の光学軸線（２６）と、前記検査室（２１）の縁の
   面に隣接する位置において交差する事を特徴とする特許
   請求の範囲第１項乃至第３項のいずれかによるルミノメ
   ータ構造。 ５、キャリア（１０）の回転軸線（１１）に対する検査
   室（２１）の縁の面の角度は３５°であり、キュベット
   を導入する前記の孔は、キュベットをキャリア（１０）
   の回転軸線（１１）に対して平行方向に導入しまたは引
   き出す事ができるように配置される事を特徴とする特許
   請求の範囲第２項によるルミノメータ構造。 ６、キュベット（２０）を装置に送りまた装置から出す
   ためのコンベア構造を有する事を特徴とする特許請求の
   範囲第１項乃至第５項のいずれかによるルミノメータ構
   造。 ７、コンベア構造は、順次にキュベット装入位置にもた
   らされる複数のキュベットホルダー（３９）を含み、こ
   のホルダー（３９）からキュベット（２０）が押し出さ
   れてキュベットグリッパ（１９）に転送され、次にキャ
   リア（１０）が回転されてキュベット（２０）をテスト
   位置にもたらし、テスト終了後にキャリア（１０）が再
   び装入位置まで回転されて、この位置においてキュベッ
   ト（２０）がそのホルダー（３９）に戻される事を特徴
   とする特許請求の範囲第６項によるルミノメータ構造。 ８、ホルダー（３９）は相互に連結されて連続帯を成し
   、この連続帯が各キュベット（２０）を順次に検査機器
   に提出するために段階的に駆動される事を特徴とする特
   許請求の範囲第７項によるルミノメータ構造。 ９、キャリア（１０）の回転運動およびキュベット（２
   ０）をそのホルダー（３９）からキュベットグリッパ（
   １９）の中に転送しまたホルダー（３９）の中に戻す手
   段の運動と同期的に、キュベットホルダー（３９）を駆
   動する駆動機構が配備される事を特徴とする特許請求の
   範囲７項または第８項のいずれかによるルミノメータ構
   造。 １０、特定のサンプルの認識と、特定のテストの準備と
   してのルミノメータの設定または調整と、サンプル準備
   操作の制御、サンプル操作機器の作動、光電子増倍管（
   ２５）の通電、および光電子増倍管（２５）から発生さ
   れたデータの処理と所要形状の出力の発生を含めて、ル
   ミノメータおよびその付属機器の機能を制御する事ので
   きる制御装置を含む事を特徴とする特許請求の範囲第１
   項乃至第９項のいずれかによるルミノメータ構造。 １１、制御装置は、特定のテスト専用の、また望ましく
   はテスト結果をうるに必要なすべての機能を実施するソ
   フトウェアを含む事を特徴とする特許請求の範囲第１０
   項によるルミノメータ構造。 １２、制御装置は光電子増倍管（２５）のモニタ手段を
   含む事を特徴とする特許請求の範囲第１０項または第１
   １項によるルミノメータ構造。 １３、テスト位置おいてキュベットの中に保持されたサ
   ンプルの中に物質を噴射するための噴射装置（５９）を
   有する事を特徴とする特許請求の範囲第１項乃至第１２
   項のいずれかによるルミノメータ構造。 １４、キュベット（２０）の内容物を攪拌するための攪
   拌装置を含む事を特徴とする特許請求の範囲第１項乃至
   第１３項のいずれかによるルミノメータ構造。 １５、それぞれのキュベット（２０）の中に収容された
   サンプルを順次にキャリア（１０）に送るようにしたル
   ミノメータ構造におけるサンプルテスト法において、キ
   ャリア（１０）をキュベット装入位置からテスト位置ま
   で回転させてキュベットをキャリア（１０）の中の検査
   室（２１）の内部に配置する段階と、光電子増倍管（２
   ５）を作動し、検査室（２１）内部においてキュベット
   （２０）のサンプル収容部分を前記光電子増倍管に露出
   する段階と、光電子増倍管（２５）から受けた信号を分
   析する段階と、キュベット（２０）を装入位置まで戻す
   段階と、次のキュベットの装入のために前記のキュベッ
   ト（２０）を除去する段階とを含む方法。 １６、サンプルに対して前処理を実施する段階を含む事
   を特徴とする特許請求の範囲第１５項によるテスト法。 １７、サンプル分析は規格との比較によって実施する事
   を特徴とする特許請求の範囲第１５項または第１６項の
   いずれかによるテスト法。