JPH0145023B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0145023B2 JPH0145023B2 JP58101684A JP10168483A JPH0145023B2 JP H0145023 B2 JPH0145023 B2 JP H0145023B2 JP 58101684 A JP58101684 A JP 58101684A JP 10168483 A JP10168483 A JP 10168483A JP H0145023 B2 JPH0145023 B2 JP H0145023B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output
- capsule
- seam
- article
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/10—Sorting according to size measured by light-responsive means
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は、薬剤カプセルの如き略円筒状の物
品を光学センサにより走査して得られるセンサ出
力にもとづいて物品の検査を行なう外観検査装置
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical field to which the invention pertains] This invention relates to an appearance inspection device that inspects a substantially cylindrical article such as a drug capsule based on sensor output obtained by scanning the article with an optical sensor. .
かかる物品の検査は、一般的に次のように行な
われる。
Inspection of such articles is generally carried out as follows.
第1図Aは物品の走査方法を説明する概略図、
第1図Bはカプセルの外観を示す外観図、第1図
C〜Fはカプセルを走査したときのセンサ出力を
示す波形図である。 FIG. 1A is a schematic diagram illustrating a method of scanning an article;
FIG. 1B is an external view showing the appearance of the capsule, and FIGS. 1C to 1F are waveform diagrams showing the sensor output when the capsule is scanned.
すなわち、円筒状物品1は、照明器21,22に
よつて照明され、該物品1からの、例えば反射光
が光学センサ3によつて検出される。物品1は、
所定の手段によりその長手方向軸を回転軸として
回転されながら、図示されない搬送装置に載せら
れて示矢の方向に搬送されるので、物品1はセン
サ3にてらせん状に走査されることになる(ヘリ
カルスキヤン)。ここで、第1図Bに示される如
き薬剤カプセル1をヘリカルスキヤンする場合に
ついて考えてみる。ところで、カプセル1は、図
示の如くキヤツプ11とボデー12とから構成さ
れ、さらにキヤツプ11にはこれとボデー12と
を相互にロツクするためのロツク孔(ノツチ)1
3が設けられている。なお、同図に示されるカプ
セル1は薬剤を充てんする前の、いわゆる空カプ
セルであつて、このときキヤツプ11とボデー1
2の結合力は小さく、ノツチ13によつていわば
仮結合された状態にある。このように構成される
カプセル1をヘリカルスキヤンすると、光学セン
サ3からは、第1図Cの如き形状の出力が得られ
る。つまり、キヤツプ11の部分はボデー12の
部分よりも反射率が高いので、同図イ,ロで示さ
れる如く、その出力波形に段差が生じることにな
る。したがつて、同図Dのニに示す如く、例えば
ボデー部に穴等の傷があると、この部分では光の
反射率が低くなる、つまり同図Fの如く凹部が生
じるので、これによつて傷を検出することができ
る。なお、同図E,FはDにおけるハ,ニの部分
を拡大して示す拡大波形図である。ところで、同
図Dのハで示されるカプセルにおけるキヤツプと
ボデーの境界部(段差部)においても、同図Eの
如く波形に凹部が生じるが、これはカプセルの異
常を示すものではないので、これは傷としては検
出しないようにすることが必要である。そこで、
かかる段差部を検出する位置センサを設け、この
位置センサ信号に同期して、この部分では傷信号
を出さないようにするためのマスク信号を発生す
ることが行なわれている。 That is, the cylindrical article 1 is illuminated by the illuminators 2 1 and 2 2 , and the optical sensor 3 detects, for example, reflected light from the article 1 . Article 1 is
While being rotated by a predetermined means with its longitudinal axis as the rotation axis, the article 1 is placed on a conveying device (not shown) and conveyed in the direction of the arrow, so that the article 1 is scanned by the sensor 3 in a spiral shape. (Helical Skyan). Now, let us consider the case where a drug capsule 1 as shown in FIG. 1B is helically scanned. By the way, the capsule 1 is composed of a cap 11 and a body 12 as shown in the figure, and the cap 11 is further provided with a lock hole (notch) 1 for mutually locking the cap and the body 12.
3 is provided. Note that the capsule 1 shown in the figure is a so-called empty capsule before being filled with a drug, and at this time, the cap 11 and the body 1 are
The bonding force between the two is small, and they are in a so-called temporary bonded state by the notch 13. When the capsule 1 constructed in this manner is subjected to a helical scan, an output having a shape as shown in FIG. 1C is obtained from the optical sensor 3. In other words, since the reflectance of the cap 11 is higher than that of the body 12, there will be a step in the output waveform, as shown in A and B in the figure. Therefore, if there is a hole or other flaw on the body, as shown in D of the same figure, for example, the reflectance of light will be low in this part, or in other words, a concave part will be formed as shown in F of the same figure. scratches can be detected. Note that E and F in the same figure are enlarged waveform diagrams showing the portions C and D in D enlarged. Incidentally, at the boundary (step) between the cap and the body of the capsule, indicated by C in Figure D, there is a concave part in the waveform as shown in Figure E, but this does not indicate an abnormality in the capsule. It is necessary to prevent it from being detected as a flaw. Therefore,
A position sensor is provided to detect such a stepped portion, and a mask signal is generated in synchronization with the position sensor signal to prevent a flaw signal from being generated in this portion.
第2図はマスク信号の発生タイミングを説明す
る波形図である。同図において、イが上記の位置
センサ信号であり、ロがマスク信号である。ま
た、ハ,ニはセンサ出力信号であり、ハはキヤツ
プの部分を先にして搬送する場合、ニはボデーの
部分を先にして搬送する場合をそれぞれ示すもの
である。 FIG. 2 is a waveform diagram illustrating the timing of generation of the mask signal. In the same figure, A is the above-mentioned position sensor signal, and B is a mask signal. Further, C and D are sensor output signals, C indicates the case where the cap portion is transported first, and D indicates the case where the body portion is transported first.
つまり、カプセルの搬送方向は必ずしも決まつ
ておらず、キヤツプを先にして搬送されるもの
と、ボデーを先にして搬送されるものとがある。
この場合に、上記の段差部がカプセルの長さ方向
の略中心部にあれば特に問題はないが、同図ハ,
ニの如くその中心位置に差があると、マスク信号
の幅を同図ホの如く広くしなければならないとい
う問題があつた。また、同図イに示される位置セ
ンサ信号に点線の如きタイミングのずれが生じ
て、ハの信号に対してはヘ、またニの信号に対し
てはトの如く各マスク信号がずれると、全体のマ
スク信号の幅を同図チの如く更に広げなければな
らなくなる。マスク信号は、その幅で決まる時間
または間隔内にある信号の凹部を見ないという信
号であり、したがつて、この信号幅が広いという
ことは、本来検出しなければならない信号をも見
過してしまうことであり、検出の精度がそれだけ
低下するということになる。 In other words, the direction in which the capsules are conveyed is not necessarily determined; some are conveyed with the cap first, while others are conveyed with the body first.
In this case, there is no particular problem if the step part is located approximately at the center of the capsule in the longitudinal direction, but as shown in Fig.
If there is a difference in the center position as shown in d, there is a problem in that the width of the mask signal must be widened as shown in fig. In addition, if a timing shift occurs in the position sensor signal shown in A of the same figure, as shown by the dotted line, and each mask signal shifts as shown in F for the signal C, and G for the signal D, the overall It becomes necessary to further widen the width of the mask signal as shown in FIG. A mask signal is a signal that does not see the concave part of the signal within the time or interval determined by its width. Therefore, a wide signal width means that the signal that should be detected is also overlooked. This results in a corresponding decrease in detection accuracy.
この発明はかかる事情のもとになされたもの
で、検査対象物品の形状を考慮した最適なマスク
信号を発生させることにより、傷等の欠陥を精度
よく検出しうる外観検査装置を提供することを目
的とするものである。
The present invention was made under these circumstances, and aims to provide an appearance inspection device that can accurately detect defects such as scratches by generating an optimal mask signal that takes into consideration the shape of the object to be inspected. This is the purpose.
その要点は、長さ方向軸を回転軸として回転せ
しめられながら軸方向に搬送される略円筒形状の
物品を走査する光学センサと、該光学センサ出力
を微分した第1の微分信号に基づいて前記物品の
継ぎ目信号を含む欠陥信号を検出する欠陥検出手
段と、前記光学センサ出力を微分した第2の微分
信号に基づいて前記物品の継ぎ目信号を検出する
継ぎ目検出手段と、該継ぎ目検出手段により検出
された継ぎ目信号に基づいてマスク信号を発生さ
せ、該マスク信号により前記欠陥検出手段から出
力される欠陥信号より継ぎ目信号を除外するマス
ク手段とを設けて検査を行なうようにした点にあ
る。
The key point is that an optical sensor scans a substantially cylindrical article that is conveyed in the axial direction while being rotated about a longitudinal axis, and a first differential signal obtained by differentiating the output of the optical sensor. defect detection means for detecting a defect signal including a seam signal of an article; seam detection means for detecting a seam signal of the article based on a second differential signal obtained by differentiating the output of the optical sensor; and detection by the seam detection means. Inspection is performed by providing a masking means for generating a mask signal based on the seam signal generated and excluding the seam signal from the defect signal output from the defect detection means using the mask signal.
第3図はこの発明の実施例を示す構成図、第4
〜6図は第3図の動作を説明するための各部波形
図である。第3図において、4は位置センサ、1
1はアンプ、121,122は微分回路、131〜
134はコンパレータ、14はタイマ、151〜1
54はアンドゲート、161,162はマスク信号
発生回路、17は搬送方向判別回路、18は記憶
回路で、その他は第1図と同様である。
FIG. 3 is a configuration diagram showing an embodiment of this invention, and FIG.
6 are waveform diagrams of various parts for explaining the operation of FIG. 3. In Fig. 3, 4 is a position sensor;
1 is an amplifier, 12 1 and 12 2 are differentiating circuits, 13 1 ~
13 4 is a comparator, 14 is a timer, 15 1 to 1
5 4 is an AND gate, 16 1 and 16 2 are mask signal generation circuits, 17 is a transport direction discrimination circuit, 18 is a storage circuit, and the other parts are the same as in FIG.
まず、第3図および第4図を参照して、その動
作を説明する。なお、円筒状物品は、第1図Bの
如きカプセルとし、以下、同様とする。 First, its operation will be explained with reference to FIGS. 3 and 4. The cylindrical article is a capsule as shown in FIG. 1B, and the same applies hereinafter.
照明器21,22により照射されるカプセル1か
らの反射光は、光学センサ3によつて電気信号に
変換される。前述の如く、カプセル1は長さ方向
軸を回転軸として回転せしめられながら軸方向に
搬送されるので、センサ3からは第4図イのaで
示される如き出力が得られる。なお、第4図ロは
第1図E,Fと同様の部分拡大波形図である。セ
ンサ3からの出力信号aは、アンプ11にて増幅
され、傷の検知を目的とする微分回路121で微
分されるので、その出力からは第4図ハのbで示
される如き波形が得られる。微分信号bの正の部
分はコンパレータ132により、また負の部分は
コンパレータ131により、それぞれ所定のレベ
ルTH1,TH2と比較され、第4図ホ,ニの如き
出力d,cが得られる。さらに、この信号cは、
単安定マルチバイブレータの如きタイマ回路14
へ与えられるので、該タイマ14からは第4図ヘ
で示される出力eが得られる。この信号eと、コ
ンパレータ132から得られる信号dとは、アン
ドゲート151にて論理積がとられ、その出力か
らは第4図トのhで示される信号が出力される。
なお、この信号hは、クロツクパルスに同期して
記憶回路18に記憶される。 The reflected light from the capsule 1 irradiated by the illuminators 2 1 and 2 2 is converted into an electrical signal by the optical sensor 3 . As mentioned above, since the capsule 1 is conveyed in the axial direction while being rotated about the longitudinal axis as the rotation axis, the output from the sensor 3 is obtained as shown by a in FIG. 4A. Note that FIG. 4B is a partially enlarged waveform diagram similar to FIGS. 1E and F. The output signal a from the sensor 3 is amplified by the amplifier 11 and differentiated by the differentiating circuit 121 for the purpose of detecting flaws, so that a waveform as shown in b in Fig. 4 is obtained from the output. It will be done. The positive part of the differential signal b is compared with the predetermined levels TH 1 and TH 2 by the comparator 13 2 and the negative part by the comparator 13 1 , respectively, and outputs d and c as shown in FIG. 4 E and D are obtained. It will be done. Furthermore, this signal c is
Timer circuit 14 like a monostable multivibrator
Therefore, the output e shown in FIG. 4 is obtained from the timer 14. This signal e and the signal d obtained from the comparator 13 2 are ANDed by an AND gate 15 1 , and the signal indicated by h in FIG. 4G is output from the AND gate 15 1 .
Note that this signal h is stored in the storage circuit 18 in synchronization with the clock pulse.
次に、第3図と第5図とを参照して、動作説明
を続ける。 Next, the explanation of the operation will be continued with reference to FIGS. 3 and 5.
一方、アンプ11にて増幅された信号は、カプ
セルの搬送方向の判別を目的とする微分回路12
2により微分され、その出力からは第5図ニで示
される如き信号iが得られるので、その正の部分
をコンパレータ134により、また、負の部分を
コンパレータ133によりそれぞれ所定のレベル
TH3,TH4と比較すると、第5図ヘ,ホの如き
信号k,jが得られる。このとき、位置センサ4
は、カプセルの有無に応じて第5図イの如き位置
センサ信号fを既に出力しているので、マスク信
号発生回路161は、この信号fにもとづいて第
5図ロの如きマスク信号nを発生している。した
がつて、上述の如くして得られた信号k,jは、
それぞれアンドゲート153,152に与えられ、
その出力からは、第5図チ,トの如き信号m,l
が得られる。なお、これは、カプセルがそのキヤ
ツプ側を先にして走査された場合であるが、ボデ
ー側を先にして走査される場合も上記と同様にし
て考えることができる。すなわち、この場合のセ
ンサ3の出力aは第5図ハ′の如くなり、これを
微分回路122で微分して得た出力iは同図ニ′の
如くなるので、これをコンパレータ133,134
にて所定のレベルと比較して得られる信号j,k
は、それぞれ同図ホ′,ヘ′の如くなる。したがつ
て、信号j,kと信号nの論理積をとることによ
り、同図ト′,チ′の如き信号l,mを得ることが
できる。つまり、カプセルがキヤツプを先にして
搬送された場合は同図チの如く信号mのみが
“1”となり、ボデーを先にして搬送された場合
は同図ト′の如く信号lのみが“1”となるので、
このことからカプセルの搬送方向を知ることがで
きる。 On the other hand, the signal amplified by the amplifier 11 is sent to a differentiating circuit 12 for the purpose of determining the transport direction of the capsule.
2 , and the signal i as shown in FIG .
When compared with TH 3 and TH 4 , signals k and j as shown in F and E in FIG. 5 are obtained. At this time, position sensor 4
has already output the position sensor signal f as shown in FIG. 5A depending on the presence or absence of the capsule, so the mask signal generation circuit 161 generates the mask signal n as shown in FIG. 5B based on this signal f. It has occurred. Therefore, the signals k and j obtained as described above are
given to AND gates 15 3 and 15 2 respectively,
From the output, signals m and l as shown in Fig. 5
is obtained. Note that this is a case where the capsule is scanned with its cap side first, but the case where the capsule side is scanned first can also be considered in the same manner as above. That is, the output a of the sensor 3 in this case is as shown in FIG . 13 4
The signal j, k obtained by comparing with a predetermined level at
are as shown in E' and F' in the figure, respectively. Therefore, by taking the AND of the signals j, k and the signal n, signals l, m such as G' and H' in the figure can be obtained. In other words, if the capsule is transported with the cap first, only the signal m will be "1" as shown in Figure 1, and if the capsule is transported with the body first, only the signal l will be "1" as shown in Figure 7'. ”, so
From this, the direction of transport of the capsule can be determined.
次に、第3図および第6図を参照して、傷の判
定動作について説明する。 Next, the flaw determination operation will be described with reference to FIGS. 3 and 6.
上述の如くして、アンドゲート152または1
53から得られる出力、すなわち、信号lまたは
mのいずれか一方が“1”になると、搬送方向判
別回路17ではこれを検出し、マスク信号発生回
路162にその旨の信号を与えるので、マスク信
号発生回路162は、カプセルの搬送方向に応じ
て、第6図ロまたはロ′の如き信号pを発生する。
つまり、同図イの如くカプセルがキヤツプを先に
して搬送された場合は同図ロの如き信号を、ま
た、同図イ′の如くボデーを先にして搬送された
場合は同図ロ′の如き信号をそれぞれ出力する。
このとき、記憶回路18には同図ハ,ハ′に示さ
れるような段差部にて生じる信号Q1と、傷F(第
6図イ,イ′参照)によつて生じる信号Q2とが記
憶されているが、段差部にて生じる信号Q1はマ
スク信号pにてマスクされるので、アンドゲート
154からは、同図ニ,ニ′の如く傷Fによる信号
Rのみが取り出されることになる。 As described above, AND gate 15 2 or 1
When the output obtained from 53 , that is, either the signal l or m becomes "1", the transport direction discrimination circuit 17 detects this and gives a signal to that effect to the mask signal generation circuit 162 . The mask signal generating circuit 162 generates a signal p as shown in FIG.
In other words, if the capsule is transported with the cap first as shown in Figure A, then the signal shown in Figure B is sent, and if the capsule is transported with the body first as shown in Figure A', then the signal shown in Figure B' is sent. These signals are output respectively.
At this time, the memory circuit 18 contains a signal Q 1 generated at the stepped portion as shown in FIG. It is remembered that the signal Q1 generated at the stepped portion is masked by the mask signal p, so only the signal R due to the flaw F is taken out from the AND gate 154 as shown in D and D' in the same figure. become.
以上のように、この発明によれば、円筒状物品
の搬送方向を判別することにより、正確なマスク
信号を発生させることができるため、傷を検出す
る領域が拡大され、したがつて、精度の高い検査
をすることが可能になる利点を有するものであ
る。また、搬送方向の判別が可能であることか
ら、それに応じた傷検査領域を設定することがで
きるとともに、該検査領域に応じて傷検出感度を
変えることができるので、より精度の高い検出が
可能となる。
As described above, according to the present invention, an accurate mask signal can be generated by determining the conveyance direction of a cylindrical article, so the area in which flaws are detected is expanded, and therefore accuracy can be improved. This has the advantage of making it possible to perform high quality inspections. In addition, since it is possible to determine the conveyance direction, it is possible to set the flaw inspection area accordingly, and the flaw detection sensitivity can be changed depending on the inspection area, allowing for more accurate detection. becomes.
なお、この発明は上述の如き薬剤カプセルと同
様の物品の外観検査を行なう検査装置一般に適用
することができる。 Note that the present invention can be applied to general inspection apparatuses for inspecting the appearance of articles similar to drug capsules as described above.
第1図Aは検査物品の走査方式を示す概略図、
第1図Bは薬剤カプセルを示す外観図、第1図C
〜Fはセンサ出力を示す波形図、第2図はマスク
信号の発生タイミングを説明する波形図、第3図
はこの発明の実施例を示す構成図、第4図ないし
第6図は第3図の動作を説明するための各部波形
図である。
符号説明、1……円筒状物品(薬剤カプセル)、
21,22……照明器、3……光学センサ、4……
位置センサ、11……アンプ、121,122……
微分回路、131〜134……コンパレータ、14
……タイマ回路、151〜154……アンドゲー
ト、161,162……マスク信号発生回路、17
……搬送方向判別回路、18……記憶回路。
FIG. 1A is a schematic diagram showing the scanning method of the inspection article;
Figure 1B is an external view showing the drug capsule, Figure 1C
~F is a waveform diagram showing the sensor output, FIG. 2 is a waveform diagram explaining the generation timing of the mask signal, FIG. 3 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention, and FIGS. 4 to 6 are FIG. FIG. 3 is a waveform diagram of each part for explaining the operation of the FIG. Code explanation, 1...Cylindrical article (drug capsule),
2 1 , 2 2 ... illuminator, 3 ... optical sensor, 4 ...
Position sensor, 11...Amplifier, 12 1 , 12 2 ...
Differential circuit, 13 1 to 13 4 ... Comparator, 14
...Timer circuit, 15 1 to 15 4 ...And gate, 16 1 , 16 2 ...Mask signal generation circuit, 17
. . . Conveyance direction determination circuit, 18 . . . Memory circuit.
Claims (1)
がら軸方向に搬送される略円筒形状の物品を走査
する光学センサと、該光学センサ出力を微分した
第1の微分信号に基づいて前記物品の継ぎ目信号
を含む欠陥信号を検出する欠陥検出手段と、前記
光学センサ出力を微分した第2の微分信号に基づ
いて前記物品の継ぎ目信号を検出する継ぎ目検出
手段と、該継ぎ目検出手段により検出された継ぎ
目信号に基づいてマスク信号を発生させ、該マス
ク信号により前記欠陥検出手段から出力される欠
陥信号より継ぎ目信号を除外するマスク手段とを
備えたことを特徴とする外観検査装置。1. An optical sensor that scans a substantially cylindrical article that is conveyed in the axial direction while being rotated about a longitudinal axis, and a seam of the article based on a first differential signal obtained by differentiating the output of the optical sensor. defect detection means for detecting a defect signal including a signal; seam detection means for detecting a seam signal of the article based on a second differential signal obtained by differentiating the output of the optical sensor; and a seam detected by the seam detection means. 1. A visual inspection apparatus comprising: a masking means for generating a masking signal based on the signal, and using the masking signal to exclude a seam signal from the defective signal output from the defect detection means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10168483A JPS59227621A (en) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | Appearance inspecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10168483A JPS59227621A (en) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | Appearance inspecting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59227621A JPS59227621A (en) | 1984-12-20 |
| JPH0145023B2 true JPH0145023B2 (en) | 1989-10-02 |
Family
ID=14307166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10168483A Granted JPS59227621A (en) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | Appearance inspecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59227621A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62202289A (en) * | 1986-02-04 | 1987-09-05 | Fujitsu Ltd | Inspection method for display pattern |
| JP4893160B2 (en) * | 2006-08-25 | 2012-03-07 | 大日本印刷株式会社 | Cylindrical body inspection apparatus and cylindrical body inspection method |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5941990A (en) * | 1982-09-02 | 1984-03-08 | Fuji Electric Co Ltd | Processing circuit of picture signal |
| JPS6248438A (en) * | 1985-08-29 | 1987-03-03 | Toshiba Corp | Tool storage device |
-
1983
- 1983-06-09 JP JP10168483A patent/JPS59227621A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59227621A (en) | 1984-12-20 |
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