JPH0145023B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0145023B2 JPH0145023B2 JP58101684A JP10168483A JPH0145023B2 JP H0145023 B2 JPH0145023 B2 JP H0145023B2 JP 58101684 A JP58101684 A JP 58101684A JP 10168483 A JP10168483 A JP 10168483A JP H0145023 B2 JPH0145023 B2 JP H0145023B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output
- capsule
- seam
- article
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/10—Sorting according to size measured by light-responsive means
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は、薬剤カプセルの如き略円筒状の物
品を光学センサにより走査して得られるセンサ出
力にもとづいて物品の検査を行なう外観検査装置
に関する。
品を光学センサにより走査して得られるセンサ出
力にもとづいて物品の検査を行なう外観検査装置
に関する。
かかる物品の検査は、一般的に次のように行な
われる。
われる。
第１図Ａは物品の走査方法を説明する概略図、
第１図Ｂはカプセルの外観を示す外観図、第１図
Ｃ〜Ｆはカプセルを走査したときのセンサ出力を
示す波形図である。
第１図Ｂはカプセルの外観を示す外観図、第１図
Ｃ〜Ｆはカプセルを走査したときのセンサ出力を
示す波形図である。
すなわち、円筒状物品１は、照明器２1，２2に
よつて照明され、該物品１からの、例えば反射光
が光学センサ３によつて検出される。物品１は、
所定の手段によりその長手方向軸を回転軸として
回転されながら、図示されない搬送装置に載せら
れて示矢の方向に搬送されるので、物品１はセン
サ３にてらせん状に走査されることになる（ヘリ
カルスキヤン）。ここで、第１図Ｂに示される如
き薬剤カプセル１をヘリカルスキヤンする場合に
ついて考えてみる。ところで、カプセル１は、図
示の如くキヤツプ１１とボデー１２とから構成さ
れ、さらにキヤツプ１１にはこれとボデー１２と
を相互にロツクするためのロツク孔（ノツチ）１
３が設けられている。なお、同図に示されるカプ
セル１は薬剤を充てんする前の、いわゆる空カプ
セルであつて、このときキヤツプ１１とボデー１
２の結合力は小さく、ノツチ１３によつていわば
仮結合された状態にある。このように構成される
カプセル１をヘリカルスキヤンすると、光学セン
サ３からは、第１図Ｃの如き形状の出力が得られ
る。つまり、キヤツプ１１の部分はボデー１２の
部分よりも反射率が高いので、同図イ，ロで示さ
れる如く、その出力波形に段差が生じることにな
る。したがつて、同図Ｄのニに示す如く、例えば
ボデー部に穴等の傷があると、この部分では光の
反射率が低くなる、つまり同図Ｆの如く凹部が生
じるので、これによつて傷を検出することができ
る。なお、同図Ｅ，ＦはＤにおけるハ，ニの部分
を拡大して示す拡大波形図である。ところで、同
図Ｄのハで示されるカプセルにおけるキヤツプと
ボデーの境界部（段差部）においても、同図Ｅの
如く波形に凹部が生じるが、これはカプセルの異
常を示すものではないので、これは傷としては検
出しないようにすることが必要である。そこで、
かかる段差部を検出する位置センサを設け、この
位置センサ信号に同期して、この部分では傷信号
を出さないようにするためのマスク信号を発生す
ることが行なわれている。
よつて照明され、該物品１からの、例えば反射光
が光学センサ３によつて検出される。物品１は、
所定の手段によりその長手方向軸を回転軸として
回転されながら、図示されない搬送装置に載せら
れて示矢の方向に搬送されるので、物品１はセン
サ３にてらせん状に走査されることになる（ヘリ
カルスキヤン）。ここで、第１図Ｂに示される如
き薬剤カプセル１をヘリカルスキヤンする場合に
ついて考えてみる。ところで、カプセル１は、図
示の如くキヤツプ１１とボデー１２とから構成さ
れ、さらにキヤツプ１１にはこれとボデー１２と
を相互にロツクするためのロツク孔（ノツチ）１
３が設けられている。なお、同図に示されるカプ
セル１は薬剤を充てんする前の、いわゆる空カプ
セルであつて、このときキヤツプ１１とボデー１
２の結合力は小さく、ノツチ１３によつていわば
仮結合された状態にある。このように構成される
カプセル１をヘリカルスキヤンすると、光学セン
サ３からは、第１図Ｃの如き形状の出力が得られ
る。つまり、キヤツプ１１の部分はボデー１２の
部分よりも反射率が高いので、同図イ，ロで示さ
れる如く、その出力波形に段差が生じることにな
る。したがつて、同図Ｄのニに示す如く、例えば
ボデー部に穴等の傷があると、この部分では光の
反射率が低くなる、つまり同図Ｆの如く凹部が生
じるので、これによつて傷を検出することができ
る。なお、同図Ｅ，ＦはＤにおけるハ，ニの部分
を拡大して示す拡大波形図である。ところで、同
図Ｄのハで示されるカプセルにおけるキヤツプと
ボデーの境界部（段差部）においても、同図Ｅの
如く波形に凹部が生じるが、これはカプセルの異
常を示すものではないので、これは傷としては検
出しないようにすることが必要である。そこで、
かかる段差部を検出する位置センサを設け、この
位置センサ信号に同期して、この部分では傷信号
を出さないようにするためのマスク信号を発生す
ることが行なわれている。
第２図はマスク信号の発生タイミングを説明す
る波形図である。同図において、イが上記の位置
センサ信号であり、ロがマスク信号である。ま
た、ハ，ニはセンサ出力信号であり、ハはキヤツ
プの部分を先にして搬送する場合、ニはボデーの
部分を先にして搬送する場合をそれぞれ示すもの
である。
る波形図である。同図において、イが上記の位置
センサ信号であり、ロがマスク信号である。ま
た、ハ，ニはセンサ出力信号であり、ハはキヤツ
プの部分を先にして搬送する場合、ニはボデーの
部分を先にして搬送する場合をそれぞれ示すもの
である。
つまり、カプセルの搬送方向は必ずしも決まつ
ておらず、キヤツプを先にして搬送されるもの
と、ボデーを先にして搬送されるものとがある。
この場合に、上記の段差部がカプセルの長さ方向
の略中心部にあれば特に問題はないが、同図ハ，
ニの如くその中心位置に差があると、マスク信号
の幅を同図ホの如く広くしなければならないとい
う問題があつた。また、同図イに示される位置セ
ンサ信号に点線の如きタイミングのずれが生じ
て、ハの信号に対してはヘ、またニの信号に対し
てはトの如く各マスク信号がずれると、全体のマ
スク信号の幅を同図チの如く更に広げなければな
らなくなる。マスク信号は、その幅で決まる時間
または間隔内にある信号の凹部を見ないという信
号であり、したがつて、この信号幅が広いという
ことは、本来検出しなければならない信号をも見
過してしまうことであり、検出の精度がそれだけ
低下するということになる。
ておらず、キヤツプを先にして搬送されるもの
と、ボデーを先にして搬送されるものとがある。
この場合に、上記の段差部がカプセルの長さ方向
の略中心部にあれば特に問題はないが、同図ハ，
ニの如くその中心位置に差があると、マスク信号
の幅を同図ホの如く広くしなければならないとい
う問題があつた。また、同図イに示される位置セ
ンサ信号に点線の如きタイミングのずれが生じ
て、ハの信号に対してはヘ、またニの信号に対し
てはトの如く各マスク信号がずれると、全体のマ
スク信号の幅を同図チの如く更に広げなければな
らなくなる。マスク信号は、その幅で決まる時間
または間隔内にある信号の凹部を見ないという信
号であり、したがつて、この信号幅が広いという
ことは、本来検出しなければならない信号をも見
過してしまうことであり、検出の精度がそれだけ
低下するということになる。
この発明はかかる事情のもとになされたもの
で、検査対象物品の形状を考慮した最適なマスク
信号を発生させることにより、傷等の欠陥を精度
よく検出しうる外観検査装置を提供することを目
的とするものである。
で、検査対象物品の形状を考慮した最適なマスク
信号を発生させることにより、傷等の欠陥を精度
よく検出しうる外観検査装置を提供することを目
的とするものである。
その要点は、長さ方向軸を回転軸として回転せ
しめられながら軸方向に搬送される略円筒形状の
物品を走査する光学センサと、該光学センサ出力
を微分した第１の微分信号に基づいて前記物品の
継ぎ目信号を含む欠陥信号を検出する欠陥検出手
段と、前記光学センサ出力を微分した第２の微分
信号に基づいて前記物品の継ぎ目信号を検出する
継ぎ目検出手段と、該継ぎ目検出手段により検出
された継ぎ目信号に基づいてマスク信号を発生さ
せ、該マスク信号により前記欠陥検出手段から出
力される欠陥信号より継ぎ目信号を除外するマス
ク手段とを設けて検査を行なうようにした点にあ
る。
しめられながら軸方向に搬送される略円筒形状の
物品を走査する光学センサと、該光学センサ出力
を微分した第１の微分信号に基づいて前記物品の
継ぎ目信号を含む欠陥信号を検出する欠陥検出手
段と、前記光学センサ出力を微分した第２の微分
信号に基づいて前記物品の継ぎ目信号を検出する
継ぎ目検出手段と、該継ぎ目検出手段により検出
された継ぎ目信号に基づいてマスク信号を発生さ
せ、該マスク信号により前記欠陥検出手段から出
力される欠陥信号より継ぎ目信号を除外するマス
ク手段とを設けて検査を行なうようにした点にあ
る。
第３図はこの発明の実施例を示す構成図、第４
〜６図は第３図の動作を説明するための各部波形
図である。第３図において、４は位置センサ、１
１はアンプ、１２1，１２2は微分回路、１３1〜
１３4はコンパレータ、１４はタイマ、１５1〜１
５4はアンドゲート、１６1，１６2はマスク信号
発生回路、１７は搬送方向判別回路、１８は記憶
回路で、その他は第１図と同様である。
〜６図は第３図の動作を説明するための各部波形
図である。第３図において、４は位置センサ、１
１はアンプ、１２1，１２2は微分回路、１３1〜
１３4はコンパレータ、１４はタイマ、１５1〜１
５4はアンドゲート、１６1，１６2はマスク信号
発生回路、１７は搬送方向判別回路、１８は記憶
回路で、その他は第１図と同様である。
まず、第３図および第４図を参照して、その動
作を説明する。なお、円筒状物品は、第１図Ｂの
如きカプセルとし、以下、同様とする。
作を説明する。なお、円筒状物品は、第１図Ｂの
如きカプセルとし、以下、同様とする。
照明器２1，２2により照射されるカプセル１か
らの反射光は、光学センサ３によつて電気信号に
変換される。前述の如く、カプセル１は長さ方向
軸を回転軸として回転せしめられながら軸方向に
搬送されるので、センサ３からは第４図イのａで
示される如き出力が得られる。なお、第４図ロは
第１図Ｅ，Ｆと同様の部分拡大波形図である。セ
ンサ３からの出力信号ａは、アンプ１１にて増幅
され、傷の検知を目的とする微分回路１２1で微
分されるので、その出力からは第４図ハのｂで示
される如き波形が得られる。微分信号ｂの正の部
分はコンパレータ１３2により、また負の部分は
コンパレータ１３1により、それぞれ所定のレベ
ルTH1，TH2と比較され、第４図ホ，ニの如き
出力ｄ，ｃが得られる。さらに、この信号ｃは、
単安定マルチバイブレータの如きタイマ回路１４
へ与えられるので、該タイマ１４からは第４図ヘ
で示される出力ｅが得られる。この信号ｅと、コ
ンパレータ１３2から得られる信号ｄとは、アン
ドゲート１５1にて論理積がとられ、その出力か
らは第４図トのｈで示される信号が出力される。
なお、この信号ｈは、クロツクパルスに同期して
記憶回路１８に記憶される。
らの反射光は、光学センサ３によつて電気信号に
変換される。前述の如く、カプセル１は長さ方向
軸を回転軸として回転せしめられながら軸方向に
搬送されるので、センサ３からは第４図イのａで
示される如き出力が得られる。なお、第４図ロは
第１図Ｅ，Ｆと同様の部分拡大波形図である。セ
ンサ３からの出力信号ａは、アンプ１１にて増幅
され、傷の検知を目的とする微分回路１２1で微
分されるので、その出力からは第４図ハのｂで示
される如き波形が得られる。微分信号ｂの正の部
分はコンパレータ１３2により、また負の部分は
コンパレータ１３1により、それぞれ所定のレベ
ルTH1，TH2と比較され、第４図ホ，ニの如き
出力ｄ，ｃが得られる。さらに、この信号ｃは、
単安定マルチバイブレータの如きタイマ回路１４
へ与えられるので、該タイマ１４からは第４図ヘ
で示される出力ｅが得られる。この信号ｅと、コ
ンパレータ１３2から得られる信号ｄとは、アン
ドゲート１５1にて論理積がとられ、その出力か
らは第４図トのｈで示される信号が出力される。
なお、この信号ｈは、クロツクパルスに同期して
記憶回路１８に記憶される。
次に、第３図と第５図とを参照して、動作説明
を続ける。
を続ける。
一方、アンプ１１にて増幅された信号は、カプ
セルの搬送方向の判別を目的とする微分回路１２
２により微分され、その出力からは第５図ニで示
される如き信号ｉが得られるので、その正の部分
をコンパレータ１３4により、また、負の部分を
コンパレータ１３3によりそれぞれ所定のレベル
TH3，TH4と比較すると、第５図ヘ，ホの如き
信号ｋ，ｊが得られる。このとき、位置センサ４
は、カプセルの有無に応じて第５図イの如き位置
センサ信号ｆを既に出力しているので、マスク信
号発生回路１６1は、この信号ｆにもとづいて第
５図ロの如きマスク信号ｎを発生している。した
がつて、上述の如くして得られた信号ｋ，ｊは、
それぞれアンドゲート１５3，１５2に与えられ、
その出力からは、第５図チ，トの如き信号ｍ，ｌ
が得られる。なお、これは、カプセルがそのキヤ
ツプ側を先にして走査された場合であるが、ボデ
ー側を先にして走査される場合も上記と同様にし
て考えることができる。すなわち、この場合のセ
ンサ３の出力ａは第５図ハ′の如くなり、これを
微分回路１２2で微分して得た出力ｉは同図ニ′の
如くなるので、これをコンパレータ１３3，１３4
にて所定のレベルと比較して得られる信号ｊ，ｋ
は、それぞれ同図ホ′，ヘ′の如くなる。したがつ
て、信号ｊ，ｋと信号ｎの論理積をとることによ
り、同図ト′，チ′の如き信号ｌ，ｍを得ることが
できる。つまり、カプセルがキヤツプを先にして
搬送された場合は同図チの如く信号ｍのみが
“１”となり、ボデーを先にして搬送された場合
は同図ト′の如く信号ｌのみが“１”となるので、
このことからカプセルの搬送方向を知ることがで
きる。
セルの搬送方向の判別を目的とする微分回路１２
２により微分され、その出力からは第５図ニで示
される如き信号ｉが得られるので、その正の部分
をコンパレータ１３4により、また、負の部分を
コンパレータ１３3によりそれぞれ所定のレベル
TH3，TH4と比較すると、第５図ヘ，ホの如き
信号ｋ，ｊが得られる。このとき、位置センサ４
は、カプセルの有無に応じて第５図イの如き位置
センサ信号ｆを既に出力しているので、マスク信
号発生回路１６1は、この信号ｆにもとづいて第
５図ロの如きマスク信号ｎを発生している。した
がつて、上述の如くして得られた信号ｋ，ｊは、
それぞれアンドゲート１５3，１５2に与えられ、
その出力からは、第５図チ，トの如き信号ｍ，ｌ
が得られる。なお、これは、カプセルがそのキヤ
ツプ側を先にして走査された場合であるが、ボデ
ー側を先にして走査される場合も上記と同様にし
て考えることができる。すなわち、この場合のセ
ンサ３の出力ａは第５図ハ′の如くなり、これを
微分回路１２2で微分して得た出力ｉは同図ニ′の
如くなるので、これをコンパレータ１３3，１３4
にて所定のレベルと比較して得られる信号ｊ，ｋ
は、それぞれ同図ホ′，ヘ′の如くなる。したがつ
て、信号ｊ，ｋと信号ｎの論理積をとることによ
り、同図ト′，チ′の如き信号ｌ，ｍを得ることが
できる。つまり、カプセルがキヤツプを先にして
搬送された場合は同図チの如く信号ｍのみが
“１”となり、ボデーを先にして搬送された場合
は同図ト′の如く信号ｌのみが“１”となるので、
このことからカプセルの搬送方向を知ることがで
きる。
次に、第３図および第６図を参照して、傷の判
定動作について説明する。
定動作について説明する。
上述の如くして、アンドゲート１５2または１
５3から得られる出力、すなわち、信号ｌまたは
ｍのいずれか一方が“１”になると、搬送方向判
別回路１７ではこれを検出し、マスク信号発生回
路１６2にその旨の信号を与えるので、マスク信
号発生回路１６2は、カプセルの搬送方向に応じ
て、第６図ロまたはロ′の如き信号ｐを発生する。
つまり、同図イの如くカプセルがキヤツプを先に
して搬送された場合は同図ロの如き信号を、ま
た、同図イ′の如くボデーを先にして搬送された
場合は同図ロ′の如き信号をそれぞれ出力する。
このとき、記憶回路１８には同図ハ，ハ′に示さ
れるような段差部にて生じる信号Q1と、傷Ｆ（第
６図イ，イ′参照）によつて生じる信号Q2とが記
憶されているが、段差部にて生じる信号Q1はマ
スク信号ｐにてマスクされるので、アンドゲート
１５4からは、同図ニ，ニ′の如く傷Ｆによる信号
Ｒのみが取り出されることになる。
５3から得られる出力、すなわち、信号ｌまたは
ｍのいずれか一方が“１”になると、搬送方向判
別回路１７ではこれを検出し、マスク信号発生回
路１６2にその旨の信号を与えるので、マスク信
号発生回路１６2は、カプセルの搬送方向に応じ
て、第６図ロまたはロ′の如き信号ｐを発生する。
つまり、同図イの如くカプセルがキヤツプを先に
して搬送された場合は同図ロの如き信号を、ま
た、同図イ′の如くボデーを先にして搬送された
場合は同図ロ′の如き信号をそれぞれ出力する。
このとき、記憶回路１８には同図ハ，ハ′に示さ
れるような段差部にて生じる信号Q1と、傷Ｆ（第
６図イ，イ′参照）によつて生じる信号Q2とが記
憶されているが、段差部にて生じる信号Q1はマ
スク信号ｐにてマスクされるので、アンドゲート
１５4からは、同図ニ，ニ′の如く傷Ｆによる信号
Ｒのみが取り出されることになる。
以上のように、この発明によれば、円筒状物品
の搬送方向を判別することにより、正確なマスク
信号を発生させることができるため、傷を検出す
る領域が拡大され、したがつて、精度の高い検査
をすることが可能になる利点を有するものであ
る。また、搬送方向の判別が可能であることか
ら、それに応じた傷検査領域を設定することがで
きるとともに、該検査領域に応じて傷検出感度を
変えることができるので、より精度の高い検出が
可能となる。
の搬送方向を判別することにより、正確なマスク
信号を発生させることができるため、傷を検出す
る領域が拡大され、したがつて、精度の高い検査
をすることが可能になる利点を有するものであ
る。また、搬送方向の判別が可能であることか
ら、それに応じた傷検査領域を設定することがで
きるとともに、該検査領域に応じて傷検出感度を
変えることができるので、より精度の高い検出が
可能となる。
なお、この発明は上述の如き薬剤カプセルと同
様の物品の外観検査を行なう検査装置一般に適用
することができる。
様の物品の外観検査を行なう検査装置一般に適用
することができる。
第１図Ａは検査物品の走査方式を示す概略図、
第１図Ｂは薬剤カプセルを示す外観図、第１図Ｃ
〜Ｆはセンサ出力を示す波形図、第２図はマスク
信号の発生タイミングを説明する波形図、第３図
はこの発明の実施例を示す構成図、第４図ないし
第６図は第３図の動作を説明するための各部波形
図である。 符号説明、１……円筒状物品（薬剤カプセル）、
２1，２2……照明器、３……光学センサ、４……
位置センサ、１１……アンプ、１２1，１２2……
微分回路、１３1〜１３4……コンパレータ、１４
……タイマ回路、１５1〜１５4……アンドゲー
ト、１６1，１６2……マスク信号発生回路、１７
……搬送方向判別回路、１８……記憶回路。
第１図Ｂは薬剤カプセルを示す外観図、第１図Ｃ
〜Ｆはセンサ出力を示す波形図、第２図はマスク
信号の発生タイミングを説明する波形図、第３図
はこの発明の実施例を示す構成図、第４図ないし
第６図は第３図の動作を説明するための各部波形
図である。 符号説明、１……円筒状物品（薬剤カプセル）、
２1，２2……照明器、３……光学センサ、４……
位置センサ、１１……アンプ、１２1，１２2……
微分回路、１３1〜１３4……コンパレータ、１４
……タイマ回路、１５1〜１５4……アンドゲー
ト、１６1，１６2……マスク信号発生回路、１７
……搬送方向判別回路、１８……記憶回路。
Claims (1)
- １ 長さ方向軸を回転軸として回転せしめられな
がら軸方向に搬送される略円筒形状の物品を走査
する光学センサと、該光学センサ出力を微分した
第１の微分信号に基づいて前記物品の継ぎ目信号
を含む欠陥信号を検出する欠陥検出手段と、前記
光学センサ出力を微分した第２の微分信号に基づ
いて前記物品の継ぎ目信号を検出する継ぎ目検出
手段と、該継ぎ目検出手段により検出された継ぎ
目信号に基づいてマスク信号を発生させ、該マス
ク信号により前記欠陥検出手段から出力される欠
陥信号より継ぎ目信号を除外するマスク手段とを
備えたことを特徴とする外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10168483A JPS59227621A (ja) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10168483A JPS59227621A (ja) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | 外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59227621A JPS59227621A (ja) | 1984-12-20 |
| JPH0145023B2 true JPH0145023B2 (ja) | 1989-10-02 |
Family
ID=14307166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10168483A Granted JPS59227621A (ja) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59227621A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62202289A (ja) * | 1986-02-04 | 1987-09-05 | Fujitsu Ltd | 表示パタ−ンの検査方法 |
| JP4893160B2 (ja) * | 2006-08-25 | 2012-03-07 | 大日本印刷株式会社 | 円筒体検査装置及び円筒体検査方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5941990A (ja) * | 1982-09-02 | 1984-03-08 | Fuji Electric Co Ltd | 画像信号の処理回路 |
| JPS6248438A (ja) * | 1985-08-29 | 1987-03-03 | Toshiba Corp | 工具保管装置 |
-
1983
- 1983-06-09 JP JP10168483A patent/JPS59227621A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59227621A (ja) | 1984-12-20 |
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