JPH0145104B2 - - Google Patents

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JPH0145104B2
JPH0145104B2 JP57077242A JP7724282A JPH0145104B2 JP H0145104 B2 JPH0145104 B2 JP H0145104B2 JP 57077242 A JP57077242 A JP 57077242A JP 7724282 A JP7724282 A JP 7724282A JP H0145104 B2 JPH0145104 B2 JP H0145104B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
memory
matching
counter
input pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP57077242A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58195276A (ja
Inventor
Kikuo Mita
Moritoshi Ando
Giichi Kakigi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57077242A priority Critical patent/JPS58195276A/ja
Publication of JPS58195276A publication Critical patent/JPS58195276A/ja
Publication of JPH0145104B2 publication Critical patent/JPH0145104B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/70Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
    • G06V10/74Image or video pattern matching; Proximity measures in feature spaces
    • G06V10/75Organisation of the matching processes, e.g. simultaneous or sequential comparisons of image or video features; Coarse-fine approaches, e.g. multi-scale approaches; using context analysis; Selection of dictionaries
    • G06V10/751Comparing pixel values or logical combinations thereof, or feature values having positional relevance, e.g. template matching
    • G06V10/7515Shifting the patterns to accommodate for positional errors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Character Discrimination (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明は入力パターンとマスクパターンとのマ
ツチングを施行するに際しそのマツチング確率の
高い位置からマツチング処理を開始するようにし
たパターンマツチング方式に関する。
(2) 発明の背景 入力パターンと予め記憶されているマスクパタ
ーンとの一致が得られるかどうかを調べる方式に
は、各種の方式が開発されているが、それらの方
式は夫々固有の欠点を包蔵しており、上記両パタ
ーンのマツチングを得る方式としては、更に改良
発展の余地があるのが実情である。
(3) 従来技術と問題点 従来のパターンマツチング方式の1つには、入
力パターンのXY投影処理をなしそのヒストグラ
ムからパターン中心を求めてパターン間のマツチ
ングを施行する方式がある。この方式によると、
入力パターン内に生ずる小さな汚れにより求めん
とする中心がずれミスマツチングの原因となる。
又、マスクパターンを入力パターンの端から順次
に移動させてマツチングをとる方式があるが、こ
の方式は処理時間が長くかゝるという欠点を有す
る。
(4) 発明の目的 本発明は上述のような従来方式の有する欠点に
鑑みて創案されたもので、その目的は高速で誤動
作の少ないパターンマツチング方式を提供するこ
とにある。
(5) 発明の構成 そして、この目的は入力パターンメモリに記憶
された入力パターンに対しマスクパターンメモリ
に記憶されたマスクパターンを順次に移動させな
がら入力パターンとマスクパターンとのマツチン
グの有無を調べるに際し、パターンマツチング確
率の高いパターン仮中心を求め、その中心からマ
スクパターンを入力パターン周辺に向つて順次に
移動させて入力パターンとマスクパターンとのマ
ツチングをとることによつて達成される。
(6) 発明の実施例 以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施
例を説明する。
添付図面は本発明の実施例を示す。1は入力パ
ターン2を有する被認識物で、その入力パターン
2はTVカメラ3にて読取られ、二値化回路4に
て二値化された入力パターン信号はTVカメラ3
の走査と同期して入力パターンメモリ5に順次に
記憶されるように構成されている。
6,7は夫々、仮中心記憶レジスタで、レジス
タ6には仮中心のX成分が、そしてレジスタ7に
は仮中心のY成分が置かれる。この仮中心は統計
的手法、例えば入力パターンについて順次の移動
を生ぜしめながら、パターンマツチング度を最大
にする入力パターン点が最も集まる点を仮中心と
することによつて求められる。8はオフセツトメ
モリ9のX成分オフセツト量出力で、10はX成
分用マツチング走査カウンタである。レジスタ6
の出力、X成分オフセツト量出力8、及びカウン
タ10の出力は和算回路11を経てメモリ5のX
アドレツシング回路へ接続されている。
12はオフセツトメモリ9のY成分オフセツト
量出力で、13はY成分用マツチング走査カウン
タである。レジスタ7の出力、Y成分オフセツト
量出力12、カウンタ13の出力は和算回路14
を経てメモリ5のYアドレツシング回路へ接続さ
れている。そして、カウンタ13はカウンタ10
のキヤリー出力へ接続され、カウンタ10からキ
ヤリーがある度毎に1だけカウントアツプされ
る。又、カウンタ13のキヤリー出力はオフセツ
トメモリ読出しカウンタ15へ接続され、カウン
タ13からキヤリーがある度毎にカウンタ13の
値は1だけ進められる。カウンタ15の出力はメ
モリ9のアドレツシング回路へ接続されている。
カウンタ10及び13は夫々、マスクパターン
メモリ16のXアドレツシング回路及びYアドレ
ツシング回路へ接続されている。
そして、メモリ5,16の出力は一致度計数回
路17へ接続されている。
次に、上記構成を有する本発明装置例について
の動作を説明する。
入力パターン2がTVカメラ3で読み取られ、
その出力が二値化回路4で二値化されて入力パタ
ーンメモリ5へ記憶されるが、その際に統計的手
法によりパターンマツチング度を最大にする入力
パターン点が最も集まる点、即ちパターン仮中心
が求められ、そのX、Y座標が仮中心記憶レジス
タ6,7に記憶される。
次いで、入力パターンメモリ5の入力パターン
とマスクパターンメモリ16のマスクパターンと
の間にマツチングが得られるか否かのマツチング
走査が開始される。
即ち、レジスタ6,7の値によつて指定される
仮中心を基準にして、マスクパターンメモリ16
の記憶全域に相当する記憶領域が入力パターンメ
モリ5から切り出されてその記憶領域がビツト直
列に送出される一方、メモリ16の内容もビツト
直列に送出される。これを詳しく説明すると次の
ようになる。
マツチング走査の開始時には、メモリ9のいづ
れの出力8,12も零であり、そしてカウンタ1
0,13は零にリセツトされる。マツチング走査
の開始と共に、カウンタは所定時間毎に1だけカ
ウントアツプされていく。その値は和算回路11
でレジスタ6の値、X成分オフセツト量出力8の
値との和をとられてメモリ5のXアドレツシング
回路へ供給されると共に、レジスタ7の値、Y成
分オフセツト量出力12の値、及びカウンタ13
の値との和が和算回路14でとられ、その出力値
がメモリ5のYアドレツシング回路へ供給され
て、これら両和算出力によつて指定される入力パ
ターンのビツトが読出される。
一方、カウンタ10,13の値が夫々、メモリ
16のX、Yアドレツシング回路へ供給されてそ
れら値によつて指定されるメモリ16のビツトが
読出される。
これらビツトが一致度計数回路17で比較計数
される。
このようなビツトの比較計数はカウンタ10,
13の値によつて指定されるメモリ16のビツト
と、和算回路11,14の出力値によつて指定さ
れるビツトとの比較計数を、カウンタ10からキ
ヤリーが出る、即ちメモリ16のX方向一行分の
読出しが完了する度毎にカウンタ13の値を1だ
けカウントアツプさせつゝ施行し、カウンタ13
からキヤリーが出ることでメモリ16の記憶全域
のすべてのビツトと、レジスタ6,7の値とオフ
セツト量出力8,12の値とで指定される上記記
憶全域に相当する開始点から、カウンタ10,1
3の値によつて指定されるすべてのビツト(これ
らのビツトは上記記憶全域に相当し、メモリ5か
ら切り出された記憶領域内の各ビツトである)と
の比較計数が終了する。その時、一致度計数回路
17から一致度を示す出力信号が出力される。
上述のようなカウンタ13からのキヤリーが出
る度毎にオフセツト読出しカウンタ15が1だけ
カウントアツプされる。このカウントアツプ毎に
メモリ5の切り出し領域は入力パターンの周辺に
向つて順次に移動される。例えば、図示の如く渦
巻状に移動される。その移動の度毎に、メモリ1
6の記憶全域に相当する記憶領域がメモリ5から
切り出されてこれら記憶領域の全ビツトが上述し
た比較計数動作に供されて、その終了時に一致度
出力信号が一致度計数回路17から出力される。
そして、その一致度出力信号は、予め決められ
たレベルの範囲にあるか否かの判定に供されつゝ
パターンマツチングが遂行される。その判定が肯
定されることでその処理を終了する。
上述の如く、本発明によれば、パターンマツチ
ングの開始点を統計的に決められるパターン仮中
心(マツチング確率の高い点)に設定して入力パ
ターンとマスクパターンとのマツチングの有無を
調べていくから、マツチングの試行回数を減少さ
せてマツチングの高速化を達成すると共に、誤動
作を少なくし得る。
上記実施例においては、パターン仮中心からの
マスクパターンの入力パターン周辺方向への移動
を渦巻式に生じさせる例について説明したが、パ
ターン仮中心から放射状に生じさせてもよい。
(7) 発明の効果 以上要するに、本発明によれば、パターンマツ
チングの開始点をマツチング確率の高い点に設定
してマツチングを開始させているから、マツチン
グの高速化を実現出来るし、又誤動作の発生も減
少させる等の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
添付図面は本発明の一実施例を示す図である。 図において、5は入力パターンメモリ、6,7
は仮中心記憶レジスタ、9はオフセツトメモリ、
10はX成分用マツチング走査カウンタ、13は
Y成分用マツチング走査カウンタ、15はオフセ
ツトメモリ読出しカウンタ、11,14は和算回
路、16はマスクパターンメモリ、17は一致度
計数回路である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 入力パターンメモリに記憶された入力パター
    ンに対しマスクパターンメモリに記憶されたマス
    クパターンを順次に移動させながら入力パターン
    とマスクパターンとのマツチングをとるのに際
    し、パターンマツチング確率の高いパターン仮中
    心を求め、該パターン仮中心から上記マスクパタ
    ーンを上記入力パターン周辺に向つて順次に移動
    させて上記入力パターンと上記マスクパターンと
    のマツチングをとることを特徴とするパターンマ
    ツチング方式。
JP57077242A 1982-05-08 1982-05-08 パタ−ンマツチング方式 Granted JPS58195276A (ja)

Priority Applications (1)

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JP57077242A JPS58195276A (ja) 1982-05-08 1982-05-08 パタ−ンマツチング方式

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JP57077242A JPS58195276A (ja) 1982-05-08 1982-05-08 パタ−ンマツチング方式

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61188676A (ja) * 1985-02-15 1986-08-22 Fujitsu Ltd シンボル領域の切出し方式
JPS63229582A (ja) * 1987-03-19 1988-09-26 Fujitsu Ltd 指紋画像照合方法および装置
EP1437776B1 (en) 2001-10-12 2011-09-21 Nichia Corporation Light emitting device and method for manufacture thereof
KR101030068B1 (ko) 2002-07-08 2011-04-19 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 질화물 반도체 소자의 제조방법 및 질화물 반도체 소자

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JPS58195276A (ja) 1983-11-14

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