JPH0498580A - パターン認識方法及びその装置 - Google Patents
パターン認識方法及びその装置Info
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- JPH0498580A JPH0498580A JP2216559A JP21655990A JPH0498580A JP H0498580 A JPH0498580 A JP H0498580A JP 2216559 A JP2216559 A JP 2216559A JP 21655990 A JP21655990 A JP 21655990A JP H0498580 A JPH0498580 A JP H0498580A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
」目Ｌｂ久性肚止肚
この発明は撮像装置から得られる２値化した被検査画像
を非接触で自動的に検出処理するパターンマツチング方
法とその装置に関し、特に撮像された対象ワークの位置
検出を行なうために被検査画像をテンプレートを用いて
パターン照合する基準画像パターンマツチングによるパ
ターン認識装置に関する。
を非接触で自動的に検出処理するパターンマツチング方
法とその装置に関し、特に撮像された対象ワークの位置
検出を行なうために被検査画像をテンプレートを用いて
パターン照合する基準画像パターンマツチングによるパ
ターン認識装置に関する。
従来盆１籠
被検査画像内の部分画像と予め設定され比較対象となる
標準パターンの対応する画素の一致を計数する事によっ
て近似度を計算し最もよく似た部分画像を捜す処理をテ
ンプレートマツチングあるいはパターンマツチング処理
という。第１２図はこのパターンマツチング処理の概要
を説明するための原理図であり、本発明の前提となるも
のであグる。以下、これについて説明する。
標準パターンの対応する画素の一致を計数する事によっ
て近似度を計算し最もよく似た部分画像を捜す処理をテ
ンプレートマツチングあるいはパターンマツチング処理
という。第１２図はこのパターンマツチング処理の概要
を説明するための原理図であり、本発明の前提となるも
のであグる。以下、これについて説明する。
Ｍ行×Ｎ列の被検査画像５内のｍ行×ｎ列（ｍ５Ｍ、ｎ
≦Ｎ）の部分画像６と同一画素サイズのパターン照合の
ための基準画像７の対応する位置の画素を比較し一致し
た画素数を計数する。ある１座標での部分画像６と基準
画像７との比較計数個数はｍＸｎであり入力データ数は
２Ｘ （ｍＸｎ）個となる。例として、被検査画像５の
サイズをＭ＝３２０画素、Ｎ＝２４０画素、基準画像７
のサイズをｍ＝ｎ＝６４画素とした場合入力データ数は
８１９２、ｍ＝ｎ＝１２８画素とした場合入力データ数
は３２８５４となり、これだけの処理量を１座標におけ
る類似度として演算しなければならない。被検査画像５
内で部分画像６はＣＭ−ｍ＋１）Ｘ （Ｎ−ｎ＋１）個
だけ存在し、その各々についてｍＸｎ回の比較を行なわ
なければならないので総計量Ｘｎ （Ｍ−ｍ＋１）Ｘ
（Ｎ−ｎ＋１）回の比較演算を必要とする。すなわち、
被検査画像５のサイズをＭ＝３２０画素、Ｎ＝２４０画
素、基準画像７のサイズをｍ＝ｎ＝６４画素とした場合
、１８６，３２２，９４４回の比較演算を要すという膨
大な計算量となる。
≦Ｎ）の部分画像６と同一画素サイズのパターン照合の
ための基準画像７の対応する位置の画素を比較し一致し
た画素数を計数する。ある１座標での部分画像６と基準
画像７との比較計数個数はｍＸｎであり入力データ数は
２Ｘ （ｍＸｎ）個となる。例として、被検査画像５の
サイズをＭ＝３２０画素、Ｎ＝２４０画素、基準画像７
のサイズをｍ＝ｎ＝６４画素とした場合入力データ数は
８１９２、ｍ＝ｎ＝１２８画素とした場合入力データ数
は３２８５４となり、これだけの処理量を１座標におけ
る類似度として演算しなければならない。被検査画像５
内で部分画像６はＣＭ−ｍ＋１）Ｘ （Ｎ−ｎ＋１）個
だけ存在し、その各々についてｍＸｎ回の比較を行なわ
なければならないので総計量Ｘｎ （Ｍ−ｍ＋１）Ｘ
（Ｎ−ｎ＋１）回の比較演算を必要とする。すなわち、
被検査画像５のサイズをＭ＝３２０画素、Ｎ＝２４０画
素、基準画像７のサイズをｍ＝ｎ＝６４画素とした場合
、１８６，３２２，９４４回の比較演算を要すという膨
大な計算量となる。
このような２次元の被検査画像のパターンを非接触で自
動的に高速検出処理するパターンマツチング処理に対し
ては、例えば特公昭６０−１７１５２号および特開昭６
２−２１０５９６号公報に有効なパターンマツチング処
理を行なう装置が記されている。特公昭８０−１７１５
２号公報によるパターンマツチング方式は一般には複合
形部分パターンマツチング方式と呼ばれその原理は、被
検査画像の複数の特徴的な特定部分の２次元パターンを
それぞれ基準画像７して登録しておき、撮像された被検
査画像５の２次元パターンから部分画像６を逐次切り出
し、前記切り出された部分画像６と上記基準画像７を比
較し最もよく一致する座標位置を検出するとしたもので
ある。部分画像６の大きさは１２Ｘ１２画素とすること
で行なっている。そのパターンマツチング方式の特徴に
よりリアルタイムにて認識をするには１座標における類
似度としての演算処理を１画素クロック期間内に終了さ
せなければならないので１２Ｘ１２＝１４４画素同時に
行なわなければならない。そのために１２Ｘ１２＝１４
４画素の基準画像データは同時出力が可能な構成でなけ
ればならないし、被検査画像データも同様に１４４画素
の同時出力が可能な構成でなければならない。また、類
似度を比較する比較回路も１画像走査期間内で処理を終
えるには１座標における類似度の演算処理は１画素クロ
ック期間内に終了させなければならないので１’２Ｘ１
２＝１４４個の排他的論理和回路が必要となる。これら
の入出力データは１座標における類似度であるので同時
に演算処理するには、排他的論理和回路において２８８
個の入力配線と１４４個の出力配線が必要となっている
。
動的に高速検出処理するパターンマツチング処理に対し
ては、例えば特公昭６０−１７１５２号および特開昭６
２−２１０５９６号公報に有効なパターンマツチング処
理を行なう装置が記されている。特公昭８０−１７１５
２号公報によるパターンマツチング方式は一般には複合
形部分パターンマツチング方式と呼ばれその原理は、被
検査画像の複数の特徴的な特定部分の２次元パターンを
それぞれ基準画像７して登録しておき、撮像された被検
査画像５の２次元パターンから部分画像６を逐次切り出
し、前記切り出された部分画像６と上記基準画像７を比
較し最もよく一致する座標位置を検出するとしたもので
ある。部分画像６の大きさは１２Ｘ１２画素とすること
で行なっている。そのパターンマツチング方式の特徴に
よりリアルタイムにて認識をするには１座標における類
似度としての演算処理を１画素クロック期間内に終了さ
せなければならないので１２Ｘ１２＝１４４画素同時に
行なわなければならない。そのために１２Ｘ１２＝１４
４画素の基準画像データは同時出力が可能な構成でなけ
ればならないし、被検査画像データも同様に１４４画素
の同時出力が可能な構成でなければならない。また、類
似度を比較する比較回路も１画像走査期間内で処理を終
えるには１座標における類似度の演算処理は１画素クロ
ック期間内に終了させなければならないので１’２Ｘ１
２＝１４４個の排他的論理和回路が必要となる。これら
の入出力データは１座標における類似度であるので同時
に演算処理するには、排他的論理和回路において２８８
個の入力配線と１４４個の出力配線が必要となっている
。
また）文献ｒ Ｃｏａｒｓｅイｉｎｅ ｔｅｍｐｌａｔ
ｅ ｍａｔｃｈｉｎｇ ＪｒＥＥＥ Ｔｒａｎｓ、、Ｓ
ＭＣ−７１０４−１０７頁（１９７７）及びｒＳｅｑｕ
ｅｎｔｉａｌ ｈｉｅｒａｒｃ旧ａｔ ５ｃｅｎｅ ｍ
ａｔｃｈｉｎｇ Ｊ ＩＥＥＥＴｒａｎｓ、 、Ｃ−２
７，４，３５９−３ＧＧ頁（１９ＶＳ）によれば、最も
画像分解能の高い画像（原画像）上でパターン照合を行
わす、予め分解能の粗い画像を用意して順次、画像分解
能を上げて行くことで検出の効率を上げるという階層型
パターンマツチング方法が知られている。従来、画像分
解能の粗いパターン照合と画像分解能の高い画像上での
パターン照合を行う認識方法である階層型パターンマツ
チング方法あるいは粗精検出方法において、粗い分解能
における１画素は複数の画素の輝度データを合計した値
を基に粗い画素としての画素データとし処理する濃淡画
像処理について記されており、この階層型パターンマツ
チング方法による検出処理はソフトウェアにより行われ
ており、リアルタイムな位置検出を行なうには到ってい
ない。
ｅ ｍａｔｃｈｉｎｇ ＪｒＥＥＥ Ｔｒａｎｓ、、Ｓ
ＭＣ−７１０４−１０７頁（１９７７）及びｒＳｅｑｕ
ｅｎｔｉａｌ ｈｉｅｒａｒｃ旧ａｔ ５ｃｅｎｅ ｍ
ａｔｃｈｉｎｇ Ｊ ＩＥＥＥＴｒａｎｓ、 、Ｃ−２
７，４，３５９−３ＧＧ頁（１９ＶＳ）によれば、最も
画像分解能の高い画像（原画像）上でパターン照合を行
わす、予め分解能の粗い画像を用意して順次、画像分解
能を上げて行くことで検出の効率を上げるという階層型
パターンマツチング方法が知られている。従来、画像分
解能の粗いパターン照合と画像分解能の高い画像上での
パターン照合を行う認識方法である階層型パターンマツ
チング方法あるいは粗精検出方法において、粗い分解能
における１画素は複数の画素の輝度データを合計した値
を基に粗い画素としての画素データとし処理する濃淡画
像処理について記されており、この階層型パターンマツ
チング方法による検出処理はソフトウェアにより行われ
ており、リアルタイムな位置検出を行なうには到ってい
ない。
階層型パターンマツチング方法を用いた別の方法として
、特開昭６２−５５ＶＳ１号公報では、パターン照合を
粗い画素間隔で行うききには画像分解能はそのままにし
ておくが照合の基準パターンの全エリアでは行わず、部
分領域に対してのみパターン照合を行うことによって、
処理の高速化を図っている。階層型パターンマツチング
方法を用いた上記のいずれの方法とも粗い画素は原画像
において登録された基準画像データそのものではなく、
原画像を圧縮あるいは限定することで基準となる画像デ
ータ量を比較処理時に減らし処理の冨速化を計っている
。
、特開昭６２−５５ＶＳ１号公報では、パターン照合を
粗い画素間隔で行うききには画像分解能はそのままにし
ておくが照合の基準パターンの全エリアでは行わず、部
分領域に対してのみパターン照合を行うことによって、
処理の高速化を図っている。階層型パターンマツチング
方法を用いた上記のいずれの方法とも粗い画素は原画像
において登録された基準画像データそのものではなく、
原画像を圧縮あるいは限定することで基準となる画像デ
ータ量を比較処理時に減らし処理の冨速化を計っている
。
任意の形状・大きさの基準パターンを用いてパターンマ
ツチングを行なうものとして従来の装置は、特開昭６２
−２１０５９Ｅ３号公報による方法がある。この方法に
よれば、基準パターン（８Ｘ１２）を任意の位置に配置
して、任意の大きさ及び任意の形状のｎＸｍサイズの基
準パターンを構ｉｆる。ｎＸｍ内の各々の基準パターン
について、パターンマツチングを実行させ、その結果を
ｎ×ｍの基準パターンの対象画素座標までシフトする。
ツチングを行なうものとして従来の装置は、特開昭６２
−２１０５９Ｅ３号公報による方法がある。この方法に
よれば、基準パターン（８Ｘ１２）を任意の位置に配置
して、任意の大きさ及び任意の形状のｎＸｍサイズの基
準パターンを構ｉｆる。ｎＸｍ内の各々の基準パターン
について、パターンマツチングを実行させ、その結果を
ｎ×ｍの基準パターンの対象画素座標までシフトする。
この様にして得られる濃淡画像を毎回シフト後に加算し
て行くことにより目的を達成するというものである。
て行くことにより目的を達成するというものである。
が よ゛
小さな部分パターンを多数設けることによる複合形部分
パターンマツチング方式は基準画像７のサイズが小さい
ために３点ないし４点の部分パターンを一つの被検査画
像５範囲に対して登録している、そのために以下の問題
点があった。
パターンマツチング方式は基準画像７のサイズが小さい
ために３点ないし４点の部分パターンを一つの被検査画
像５範囲に対して登録している、そのために以下の問題
点があった。
■）パターン登録においては基準画像７のサイズが小さ
いために登録を行なうに当たっては特徴的な部分パター
ンを組み合わせて登録すると言う作業か必要となり、作
業者の質を選び登録作業の容易性に問題があった。
いために登録を行なうに当たっては特徴的な部分パター
ンを組み合わせて登録すると言う作業か必要となり、作
業者の質を選び登録作業の容易性に問題があった。
２）部分によるパターンマツチングは基準画像７のサイ
ズが小さいために１点のみの認識では認識率が低いため
に３点ないし４点の部分パターンを１被検査画像範囲に
対して登録している。このために、相関値の大小のみで
パターンの位置検出が可能な本来の方法に加え各部分パ
ターン間の相対位置関係（距離、角度）をチエツクしな
ければならないため、それだけ処理時間が増し、高速な
位置検出が出来ない。
ズが小さいために１点のみの認識では認識率が低いため
に３点ないし４点の部分パターンを１被検査画像範囲に
対して登録している。このために、相関値の大小のみで
パターンの位置検出が可能な本来の方法に加え各部分パ
ターン間の相対位置関係（距離、角度）をチエツクしな
ければならないため、それだけ処理時間が増し、高速な
位置検出が出来ない。
３）部分パターンのサイズが小さいために被検査画像５
のパターン検出範囲に部分パターンのサイズよりも大き
な同一のパターンが複数存在する場合、パターン位置の
検出が不可能である。例えば、パターン検出範囲に３つ
の同一パターンが存在する場合、部分パターンとして登
録し最もよく一致する部分パターンの位置はパターン照
合を繰り返し行なうと３つの座標位置のいずれかが候補
点となるか一義的には決まらない。
のパターン検出範囲に部分パターンのサイズよりも大き
な同一のパターンが複数存在する場合、パターン位置の
検出が不可能である。例えば、パターン検出範囲に３つ
の同一パターンが存在する場合、部分パターンとして登
録し最もよく一致する部分パターンの位置はパターン照
合を繰り返し行なうと３つの座標位置のいずれかが候補
点となるか一義的には決まらない。
４）部分パターンの大きさを大きくすれば、上記の問題
点は解決するが、ハードウェア規模が著しく増大してし
まうというパターンマツチング本来の問題が発生してし
まう。
点は解決するが、ハードウェア規模が著しく増大してし
まうというパターンマツチング本来の問題が発生してし
まう。
５）部分パターンのサイズが１２Ｘ１２画素程度の大き
さであるためノイズの影響を受は易く、それたけ位置の
検出精度が良くない。
さであるためノイズの影響を受は易く、それたけ位置の
検出精度が良くない。
ノイズとは本来ランダム的なものであるため、部分パタ
ーンのサイズが小さい場合であろうが大きい場合であろ
うが画素当りのノイズの発生確率は一般的に一様である
。この点からは部分パターンのサイズとは直接的に関係
無いのであるが、実際の対象ワークパターンの濃淡レベ
ルは２値化が行ない易いようなコントラストのはっきり
したパターンばかりではない。この場合に言うノイズと
は２値化スレツシユレベルと隔たった部分にはそのスレ
ッシュレベルを横切る映像信号が発生しにくいのでノイ
ズが乗りにくいが、２値化スレツシユレベルとほとんど
同じような映像信号レベルを他の場所と比べて比較的に
多く持つパターン部では２値化画像上ではノイズが発生
し易くなる。従って、対象ワークパターン上にはコント
ラストがはっきりした部分もあれば、そうでない部分も
あり、コントラストがはっきりしていて２値化したとき
にノイズが乗りにくいパターン部とパターン形状より特
徴的であるパターン部とは独立したものであるので、コ
ントラストのはっきりしないパターン部ではあるがパタ
ーン形状より特徴的であるパターン部を部分パターンと
して登録した場合にはノイズの影響を受は易くなり、そ
れだけ位置検出の精度が悪くなる。部分パターンの個数
を増すことでその影響を少なくする事が出来るがそれだ
け処理時間が増すことになる。
ーンのサイズが小さい場合であろうが大きい場合であろ
うが画素当りのノイズの発生確率は一般的に一様である
。この点からは部分パターンのサイズとは直接的に関係
無いのであるが、実際の対象ワークパターンの濃淡レベ
ルは２値化が行ない易いようなコントラストのはっきり
したパターンばかりではない。この場合に言うノイズと
は２値化スレツシユレベルと隔たった部分にはそのスレ
ッシュレベルを横切る映像信号が発生しにくいのでノイ
ズが乗りにくいが、２値化スレツシユレベルとほとんど
同じような映像信号レベルを他の場所と比べて比較的に
多く持つパターン部では２値化画像上ではノイズが発生
し易くなる。従って、対象ワークパターン上にはコント
ラストがはっきりした部分もあれば、そうでない部分も
あり、コントラストがはっきりしていて２値化したとき
にノイズが乗りにくいパターン部とパターン形状より特
徴的であるパターン部とは独立したものであるので、コ
ントラストのはっきりしないパターン部ではあるがパタ
ーン形状より特徴的であるパターン部を部分パターンと
して登録した場合にはノイズの影響を受は易くなり、そ
れだけ位置検出の精度が悪くなる。部分パターンの個数
を増すことでその影響を少なくする事が出来るがそれだ
け処理時間が増すことになる。
階層型パターンマツチング方法である特開昭６２−５５
ＶＳ１号は粗検出時においては基準画像７を間引いて限
定した原画像の一部分を用いた粗い基準パターンを作成
しある粗い画素間隔にてパターン照合を行なっているた
め、基準画像７によって認識の可否が左右されることと
なる。また、基準画像７の登録に当たっては作業者の質
を選び登録作業の容易性に問題があった。
ＶＳ１号は粗検出時においては基準画像７を間引いて限
定した原画像の一部分を用いた粗い基準パターンを作成
しある粗い画素間隔にてパターン照合を行なっているた
め、基準画像７によって認識の可否が左右されることと
なる。また、基準画像７の登録に当たっては作業者の質
を選び登録作業の容易性に問題があった。
特開昭６２−２１０５９６号の方法のおｌ、Ｓで６ま基
準画像７のサイズとしては小領域の８×１２画素のもの
を基本としており、大きなサイズの工１ノアのパターン
照合を求めることは可能であるが、そのためには多数の
部分７寸ターンを用０処理を行なわなければならず、そ
れだけ処理時間を要すこととなり、検出するパターンに
より登録する部分パターンの個数が変化するため、対象
ワークゐこより認識時間が異なり認識装置を搭載した装
置の時間管理を煩雑なものとしていた。また、それらの
多数の部分パターンを登録するには作業者の操作及び判
断を複雑なものとし、登録作業が容易なものではなかっ
た。
準画像７のサイズとしては小領域の８×１２画素のもの
を基本としており、大きなサイズの工１ノアのパターン
照合を求めることは可能であるが、そのためには多数の
部分７寸ターンを用０処理を行なわなければならず、そ
れだけ処理時間を要すこととなり、検出するパターンに
より登録する部分パターンの個数が変化するため、対象
ワークゐこより認識時間が異なり認識装置を搭載した装
置の時間管理を煩雑なものとしていた。また、それらの
多数の部分パターンを登録するには作業者の操作及び判
断を複雑なものとし、登録作業が容易なものではなかっ
た。
従って、本発明は上記欠点に鑑み提案されたものであり
、新規且つ改良されたパターン認識装置の提供を目的と
するものである。
、新規且つ改良されたパターン認識装置の提供を目的と
するものである。
。 −の
上記の問題点を解決するために、どのような技術的な手
段を採用したかを以下に記載する。
段を採用したかを以下に記載する。
２次元画像の中からある特定パターンを自動抽出するパ
ターン認識方法において、 撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、被検査
画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し基準画
像として予め２値化画像を原画像としてそのまま記憶し
任意の２次元座標位置に記憶した画像データを出力可能
な基準画像記憶手段と、 ２次元被検査画像データの任意のｄｙ水平走査ラインを
マイクロコンピュータから設定された水平走査ライン分
だけ保持可能な（ＶＳ−１）個の水平走査ライン保持手
段をｋ（１≦ｋ≦ｄｙ）水平走査ライン間隔（＝に画素
間隔）で均等に開いているＶＳ行の個々の検査座標位置
に対応した被検査画像データが同時に出力されるように
した垂直画像データ抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの被検査画像データの
■Ｓ個の同時出力を水平方向の任意のｄＸ画素までをマ
イクロコンピュータから設定された画素分だけ保持可能
な画素シフト手段を（ＨＳ−１）個直列につなぐことで
、１水平方向の被検査画像データか同時にある設定され
た１画素（１≦ｊ≦ｄｘ）間隔で均等に開いているＨＳ
力所から同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽
出手段からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力さ
れた被検査画像データを入力として、前記（ＨＳ−１）
個直列の画素シフト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検
査画像データの総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位
置に対応した被検査画像データを同時に出力されるよう
にした水平画像データ抽出手段と、 前記基準画像記憶手段からの基準画像データと前記水平
画像データ抽出手段からの個々の検査座標位置に対応し
た被検査画像データを同時にＶＳ×ＨＳ個の地点でパタ
ーン比較し、ＶＳ×ＨＳの地点側々の検査座標位置に対
応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳＳ×ＨＳ合同時−
タとして個々の検査座標位置に対応した部分それぞれよ
り同時にシリアル出力することからなる論理演算手段と
、前記論理演算手段からの個々の検査座標位置に対応し
た各合致データ出力を個々に同時カウントすることによ
りＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１画像走査で完了し個
々の検査座標位置に対応した部分で独立に相関値として
算出保持する相関値積算手段により構成され、 第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂直画像
データ抽出手段をそれぞれの第１回目のパターン照合の
画素間隔でＨＳ×ＶＳ個の被検査画像データが同時に出
力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の中心位置
にＨ５行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように
配置して第１回目の粗検出を行ない、第１回目のパター
ン照合を行ったＨＳ×ＶＳ個の候補点の相関データの中
で最大相関値を保持する部分を検索し、所定の粗検出ス
レッシュ値よりも大きい値であれば前記最大相関値を保
持した部分に対応したパターン照合座標位置をもって、
次回のパターン照合の中心座標位置と決定し、前記第１
回目の粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心に
ＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように配
置し、第２回目の粗検出を水平方向は（第１の画素間隔
−第２の画素間隔Ｘ （ＨＳ−１）／２）≦０を、垂直
方向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔×（ＶＳ−１
）／２｝≦０を、満たし最小の整数値となる第２の画素
間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部が対応するように配置
してパターン照合を行い第２回目のＨＳ×ＶＳ個の候補
点の相関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第
２回目の粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心
にＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以降のパ
ターン照合を水平・垂直方向の設定画素間隔が１画素間
隔となるまで水平方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画
素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔Ｘ （
ＨＳ−１）／２）≦０を、垂直方向は（第Ｐ回目のパタ
ーン照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画
素間隔Ｘ（ＶＳ−１）／２）≦０を、満たし最小の整数
値となる第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔にてＨ
５行×ＶＳ列の中心部を第Ｐ回目の最高相関値の座標位
置を配置して行い、１画素間隔にて行なったパターン照
合のＨＳ×ＶＳ個の候補点の相関データの最大値か所定
の検出スレッシュ値よりも大きい値であれば前記最大相
関値を保持した部分に対応した座標位置を検出位置とす
ることを特徴とするパターン認識方法により達成される
。
ターン認識方法において、 撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、被検査
画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し基準画
像として予め２値化画像を原画像としてそのまま記憶し
任意の２次元座標位置に記憶した画像データを出力可能
な基準画像記憶手段と、 ２次元被検査画像データの任意のｄｙ水平走査ラインを
マイクロコンピュータから設定された水平走査ライン分
だけ保持可能な（ＶＳ−１）個の水平走査ライン保持手
段をｋ（１≦ｋ≦ｄｙ）水平走査ライン間隔（＝に画素
間隔）で均等に開いているＶＳ行の個々の検査座標位置
に対応した被検査画像データが同時に出力されるように
した垂直画像データ抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの被検査画像データの
■Ｓ個の同時出力を水平方向の任意のｄＸ画素までをマ
イクロコンピュータから設定された画素分だけ保持可能
な画素シフト手段を（ＨＳ−１）個直列につなぐことで
、１水平方向の被検査画像データか同時にある設定され
た１画素（１≦ｊ≦ｄｘ）間隔で均等に開いているＨＳ
力所から同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽
出手段からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力さ
れた被検査画像データを入力として、前記（ＨＳ−１）
個直列の画素シフト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検
査画像データの総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位
置に対応した被検査画像データを同時に出力されるよう
にした水平画像データ抽出手段と、 前記基準画像記憶手段からの基準画像データと前記水平
画像データ抽出手段からの個々の検査座標位置に対応し
た被検査画像データを同時にＶＳ×ＨＳ個の地点でパタ
ーン比較し、ＶＳ×ＨＳの地点側々の検査座標位置に対
応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳＳ×ＨＳ合同時−
タとして個々の検査座標位置に対応した部分それぞれよ
り同時にシリアル出力することからなる論理演算手段と
、前記論理演算手段からの個々の検査座標位置に対応し
た各合致データ出力を個々に同時カウントすることによ
りＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１画像走査で完了し個
々の検査座標位置に対応した部分で独立に相関値として
算出保持する相関値積算手段により構成され、 第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂直画像
データ抽出手段をそれぞれの第１回目のパターン照合の
画素間隔でＨＳ×ＶＳ個の被検査画像データが同時に出
力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の中心位置
にＨ５行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように
配置して第１回目の粗検出を行ない、第１回目のパター
ン照合を行ったＨＳ×ＶＳ個の候補点の相関データの中
で最大相関値を保持する部分を検索し、所定の粗検出ス
レッシュ値よりも大きい値であれば前記最大相関値を保
持した部分に対応したパターン照合座標位置をもって、
次回のパターン照合の中心座標位置と決定し、前記第１
回目の粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心に
ＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように配
置し、第２回目の粗検出を水平方向は（第１の画素間隔
−第２の画素間隔Ｘ （ＨＳ−１）／２）≦０を、垂直
方向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔×（ＶＳ−１
）／２｝≦０を、満たし最小の整数値となる第２の画素
間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部が対応するように配置
してパターン照合を行い第２回目のＨＳ×ＶＳ個の候補
点の相関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第
２回目の粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心
にＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以降のパ
ターン照合を水平・垂直方向の設定画素間隔が１画素間
隔となるまで水平方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画
素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔Ｘ （
ＨＳ−１）／２）≦０を、垂直方向は（第Ｐ回目のパタ
ーン照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画
素間隔Ｘ（ＶＳ−１）／２）≦０を、満たし最小の整数
値となる第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔にてＨ
５行×ＶＳ列の中心部を第Ｐ回目の最高相関値の座標位
置を配置して行い、１画素間隔にて行なったパターン照
合のＨＳ×ＶＳ個の候補点の相関データの最大値か所定
の検出スレッシュ値よりも大きい値であれば前記最大相
関値を保持した部分に対応した座標位置を検出位置とす
ることを特徴とするパターン認識方法により達成される
。
他の解決手段は、２次元画像中の特定パターンを自動抽
出するパターン認識方法において、前記定数をｄｘ＝３
２．ｃＮ’＝３２．ＨＳ＝７．ＶＳ＝７とし、その検出
手段は第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂
直画像データ抽出手段ともに８画素間隔で被検査画像デ
ータが出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の
中心位置に７行７列の検査位置の中心部（４行４列目）
が対応するように配置して第１回目の粗検出を行ない、
第１回目の４９個の候補点の座標位置の相関値の中から
最大相関値が所定の粗検出スレッシュ値よりも大きい値
であれば前記最大相関値を保持した部分に対応した座標
位置を求め、前記最大相関値を保持した部分に対応した
前記第１回目の粗検出にて求めた座標位置を中心に第２
回目の粗検出を３画素間隔にて行い第２回目の４９個の
候補点の座標位置の相関値の中から最大相関値が所定の
粗検出スレッシュ値よりも大きい値であれば前記最大相
関値を保持した部分に対応した座標位置を求め、前記第
２回目の粗検出にて求めた最大相関値を持つ座標位置を
中心に第３回目の検出を１画素間隔にて行い第３回目の
４９個の候補点の座標位置の相関値の中から最大相関値
が所定の検出スレノンユ値よりも大きい値であれば前記
最大相関値を保持した部分に対応した座標位置を持って
検出位置とすることを特徴とするパターン認識方法によ
り達成される。
出するパターン認識方法において、前記定数をｄｘ＝３
２．ｃＮ’＝３２．ＨＳ＝７．ＶＳ＝７とし、その検出
手段は第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂
直画像データ抽出手段ともに８画素間隔で被検査画像デ
ータが出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の
中心位置に７行７列の検査位置の中心部（４行４列目）
が対応するように配置して第１回目の粗検出を行ない、
第１回目の４９個の候補点の座標位置の相関値の中から
最大相関値が所定の粗検出スレッシュ値よりも大きい値
であれば前記最大相関値を保持した部分に対応した座標
位置を求め、前記最大相関値を保持した部分に対応した
前記第１回目の粗検出にて求めた座標位置を中心に第２
回目の粗検出を３画素間隔にて行い第２回目の４９個の
候補点の座標位置の相関値の中から最大相関値が所定の
粗検出スレッシュ値よりも大きい値であれば前記最大相
関値を保持した部分に対応した座標位置を求め、前記第
２回目の粗検出にて求めた最大相関値を持つ座標位置を
中心に第３回目の検出を１画素間隔にて行い第３回目の
４９個の候補点の座標位置の相関値の中から最大相関値
が所定の検出スレノンユ値よりも大きい値であれば前記
最大相関値を保持した部分に対応した座標位置を持って
検出位置とすることを特徴とするパターン認識方法によ
り達成される。
更に他の解決手段は第１項記載の解決手段において、ｄ
ｘ＝３２．ｄｙ＝３２．ＨＳ＝７．ＶＳ＝７とし、その
検出手段は第１回目を１６画素間隔で第１回目のパター
ン照合の画素間隔で７×７＝４９個の被検査画像データ
が同時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲
の中心位置に７行×７列の検査位置の中心部（４行４列
目）が対応するように配置して第１回目の粗検出を行な
い、もし粗検出スレッシュ値より高い相関値となるパタ
ーン照合位置か獲得できなかった場合は第２回目は同じ
く１６画素間隔でパターン照合を行なうが基準画像パタ
ーンの画像データ発生位置を８画素ずらした位置で認識
を行なうことにより照合位置を算出することとし、第２
回目の粗検出スレッシュ値は第１回目の粗検出スレッシ
ュ値と同一値とし第２回目用の粗検出スレッシュ値より
大きくなった候補点が見つかった場合、マイクロコンピ
ュータより事前に設定された第２回目用の粗検出スレッ
シュ値より太き（なった第２回目の４９個の候補点の相
関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第２回目
の粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心に第３
回目の粗検出を３画素間隔にて行いマイクロコンピュー
タより第２回目の粗検出の後に設定された第３回目用の
粗検出スレッシュ値より大きくなった第３回目の４９個
の候補点の相関データの最高相関値の座標位置を求め、
前記第３回目の粗検出にて求めた最高値位置座標を中心
に第４回目以降のパターン照合を１画素間隔にて行い、
第４回目の４９個の候補点の相関データの最大値が所定
の検出スレッシュ値−よりも大きい値であれば前記最大
相関値を保持した部分に対応した座標位置を検出位置と
することを特徴とするパターン認識方法により達成され
る。
ｘ＝３２．ｄｙ＝３２．ＨＳ＝７．ＶＳ＝７とし、その
検出手段は第１回目を１６画素間隔で第１回目のパター
ン照合の画素間隔で７×７＝４９個の被検査画像データ
が同時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲
の中心位置に７行×７列の検査位置の中心部（４行４列
目）が対応するように配置して第１回目の粗検出を行な
い、もし粗検出スレッシュ値より高い相関値となるパタ
ーン照合位置か獲得できなかった場合は第２回目は同じ
く１６画素間隔でパターン照合を行なうが基準画像パタ
ーンの画像データ発生位置を８画素ずらした位置で認識
を行なうことにより照合位置を算出することとし、第２
回目の粗検出スレッシュ値は第１回目の粗検出スレッシ
ュ値と同一値とし第２回目用の粗検出スレッシュ値より
大きくなった候補点が見つかった場合、マイクロコンピ
ュータより事前に設定された第２回目用の粗検出スレッ
シュ値より太き（なった第２回目の４９個の候補点の相
関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第２回目
の粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心に第３
回目の粗検出を３画素間隔にて行いマイクロコンピュー
タより第２回目の粗検出の後に設定された第３回目用の
粗検出スレッシュ値より大きくなった第３回目の４９個
の候補点の相関データの最高相関値の座標位置を求め、
前記第３回目の粗検出にて求めた最高値位置座標を中心
に第４回目以降のパターン照合を１画素間隔にて行い、
第４回目の４９個の候補点の相関データの最大値が所定
の検出スレッシュ値−よりも大きい値であれば前記最大
相関値を保持した部分に対応した座標位置を検出位置と
することを特徴とするパターン認識方法により達成され
る。
また、別の解決手段は第１項記載の解決手段において、
ｄｘ＝３２．ｄＶ＝３２．ＨＳ＝７．ＶＳ＝７とし、そ
の検出手段は第１回目を３２画素間隔で第１回目のパタ
ーン照合の画素間隔で７×７＝４９個の被検査画像デー
タが同時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範
囲の中心位置に７行×７列の検査位置の中心部（４行４
列目）が対応するように配置して第１回目の粗検出を行
ない、第２回目のパターン照合においても粗検出スレッ
シュ値より高い相関値となるパターン照合位置が獲得で
きなかった場合は第２回目は同じ（３２画素間隔で第１
回目の粗検出スレッシュ値でパターン照合を行なうが基
準画像の画像データ発生位置を１６画素ずらした位置で
認識を行なうことにより照合位置を算出することとし、
もし粗検出スレッシュ値より高い相関値となるパターン
照合位置が獲得できなかった場合は第３回目は同じく３
２画素間隔でパターン照合を行なうが基準画像の画像デ
ータ発生位置を第２回目より更に８画素ずらした位置で
認識を行なうことにより照合位置を算出することとし、
第３回目の粗検出スレッシュ値は第１回目の粗検出スレ
ッシュ値と同一値とし第１回目用の粗検出スレッシュ値
より大きくなった第３回目の４９個の候補点の座標位置
の相関値の中から最大の相関値を持つ座標位置を求め、
前記第３回目の粗検出にて求めた座標位置を中心に第４
回目の粗検出を３画素間隔にて行い第４回目の４９個の
候補点の座標位置の相関値の中から最大の相関値を持つ
座標位置を求め、前記第４回目の粗検出にて求めた座標
位置を中心に第５回目の検出を１画素間隔にて行い第５
回目の４９個の候補点の座標位置の相関値の中から最大
の相関値が所定の検出スレッシュ値よりも大きい値であ
れば前記最大相関値を保持した部分に対応した座標位置
を持って検出位置とすることを特徴とするパターン認識
方法により達成される。
ｄｘ＝３２．ｄＶ＝３２．ＨＳ＝７．ＶＳ＝７とし、そ
の検出手段は第１回目を３２画素間隔で第１回目のパタ
ーン照合の画素間隔で７×７＝４９個の被検査画像デー
タが同時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範
囲の中心位置に７行×７列の検査位置の中心部（４行４
列目）が対応するように配置して第１回目の粗検出を行
ない、第２回目のパターン照合においても粗検出スレッ
シュ値より高い相関値となるパターン照合位置が獲得で
きなかった場合は第２回目は同じ（３２画素間隔で第１
回目の粗検出スレッシュ値でパターン照合を行なうが基
準画像の画像データ発生位置を１６画素ずらした位置で
認識を行なうことにより照合位置を算出することとし、
もし粗検出スレッシュ値より高い相関値となるパターン
照合位置が獲得できなかった場合は第３回目は同じく３
２画素間隔でパターン照合を行なうが基準画像の画像デ
ータ発生位置を第２回目より更に８画素ずらした位置で
認識を行なうことにより照合位置を算出することとし、
第３回目の粗検出スレッシュ値は第１回目の粗検出スレ
ッシュ値と同一値とし第１回目用の粗検出スレッシュ値
より大きくなった第３回目の４９個の候補点の座標位置
の相関値の中から最大の相関値を持つ座標位置を求め、
前記第３回目の粗検出にて求めた座標位置を中心に第４
回目の粗検出を３画素間隔にて行い第４回目の４９個の
候補点の座標位置の相関値の中から最大の相関値を持つ
座標位置を求め、前記第４回目の粗検出にて求めた座標
位置を中心に第５回目の検出を１画素間隔にて行い第５
回目の４９個の候補点の座標位置の相関値の中から最大
の相関値が所定の検出スレッシュ値よりも大きい値であ
れば前記最大相関値を保持した部分に対応した座標位置
を持って検出位置とすることを特徴とするパターン認識
方法により達成される。
更に別の解決手段は第１項記載の解決手段において、１
画素間隔にて行ったＨＳ×ＶＳ個のノくターン照合の相
関データと検査座標位置を用いた補間演算処理により水
平・垂直方向ともに１画素以下の照合座標位置を算出し
検出位置とすることを特徴とするパターン認識方法によ
り、また、１画素間隔にて行ったパターン照合の相関デ
ータを用いてそのパターン照合位置を水平方向は最高相
関値を持つ座標位置を含む左右両隣の座標の相関データ
の計３データを、垂直方向は最高相関値を持つ座標位置
を含む上下両隣の座標の相関データのそれぞれ計３デー
タを用いたスプライン補間演算より水平・垂直方向とも
に１画素以下の照合座標位置を算出し検出位置とするこ
とを特徴とする。＜ターン認識方法によりそれぞれ達成
される。
画素間隔にて行ったＨＳ×ＶＳ個のノくターン照合の相
関データと検査座標位置を用いた補間演算処理により水
平・垂直方向ともに１画素以下の照合座標位置を算出し
検出位置とすることを特徴とするパターン認識方法によ
り、また、１画素間隔にて行ったパターン照合の相関デ
ータを用いてそのパターン照合位置を水平方向は最高相
関値を持つ座標位置を含む左右両隣の座標の相関データ
の計３データを、垂直方向は最高相関値を持つ座標位置
を含む上下両隣の座標の相関データのそれぞれ計３デー
タを用いたスプライン補間演算より水平・垂直方向とも
に１画素以下の照合座標位置を算出し検出位置とするこ
とを特徴とする。＜ターン認識方法によりそれぞれ達成
される。
上述する認識方法は更に前記相関値積算手段の相関値デ
ータをマイクロコンピュータより事前ζこ設定されたパ
ターン検出スレ・ンシュ値との大小を同時に比較判定す
ることで候補点における。Ｎ１１ターン照合状態を高速
に検出できるように、前記相関値積算手段のデータ出力
と、保持した検出スレ、ソシュ値と比較し、個々の検査
座標位置に対応した座標位置との間で大小を同時に比較
判定し、その結果を保持する個々の検査座標位置に対応
した保持手段をＶＳ×ＨＳ個の個々の検査座標位置に対
応した分だけ設けることとし、マイクロコンピュータに
は１水平走査ラインＨＳ力所の比較結果を一まとめにし
マイクロコンピュータの１回の読み込みで１水平走査ラ
インの各パターン照合位置の状態の概略を高速に把握で
きるように状態を保持した手段を垂直パターン照合のＶ
Ｓ本だけ設けることで、各１水平走査ラインの各パター
ン照合位置の状態の概略を高速に把握しその演算対応位
置の特定を容易に行えるようにした水平候補点検出手段
を付置ａして構成され、第１回目の粗検出は水平画像デ
ータ抽出手段・垂直画像データ抽出手段をそれぞれの第
１回目のパターン照合の画素間隔でＨＳ×ＶＳ個の被検
査画像データが同時に出力されるよう設定し、被検査画
像の検出範囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の
中心部が対応するように配置して第１回目の粗検出を行
なし）、前記水平候補点検出手段により第１回目の粗検
出の後マイクロコンピュータより事前に設定された第１
回目の粗検出スレ、ソシュ値を越える検出位置の候補点
が存在するかを調べ、存在していた場合に存在を示して
いる水平比較ラインの前記水平候補点検出手段の情報を
読み込み、前記情報に対応するパターン照合座標位置に
おける相関値を保持している手段より、第１回目の、ｚ
ａターン照合を行った複数の候補点の相関カウント値の
中で最大相関値を保持する部分に対応した。Ｎ６タ一ン
照合座標位置をもって、次回のパターン照合の中心座標
位置と決定し、前記第１回目の粗検出にて求めた最高相
関値の座標位置を中心にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中
心部が対応するように配置し、第２回目の粗検出を水平
方向はε第１の画素間隔−第２の画素間隔Ｘ （ＨＳ−
１）／２）≦０を、垂直方向は（第１の画素間隔−第２
の画素間隔Ｘ（ＶＳ−１）／２）≦０を、満たす第２の
画素間隔にてＨ５行×ＶＳ列の中心部が対応するように
配置して行い前記水平候補点検出手段からマイクロコン
ピュータより第１回目の粗検出の後に設定された第２回
目用の粗検出スレンンユ値より大きくなった第２回目の
複数の候補点の相関データの最高相関値の座標位置を求
め、前記第２回目の粗検出にて求めた最高値位置座標を
中心にＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以降
のパターン照合を１画素間隔にて行うまで水平方向は（
第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパ
ターン照合の画素間隔Ｘ （ＨＳ−１）／２）≦０を、
垂直方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第ｐ
十を回目のパターン照合の画素間隔Ｘ（ＶＳ−１）／２
’｝≦０を、満たす第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素
間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して行い、前記
水平候補点検出手段からマイクロコンピュータよりパタ
ーン照合を１画素間隔にて行った第Ｐ＋１回目用の検出
スレッンユ値より大きくなった第Ｐ千１回目の単一ある
いは複数の候補点の相関データの最大値を持つ座標位置
を検出位置とすることを特徴とするパターン認識方法に
より達成される。
ータをマイクロコンピュータより事前ζこ設定されたパ
ターン検出スレ・ンシュ値との大小を同時に比較判定す
ることで候補点における。Ｎ１１ターン照合状態を高速
に検出できるように、前記相関値積算手段のデータ出力
と、保持した検出スレ、ソシュ値と比較し、個々の検査
座標位置に対応した座標位置との間で大小を同時に比較
判定し、その結果を保持する個々の検査座標位置に対応
した保持手段をＶＳ×ＨＳ個の個々の検査座標位置に対
応した分だけ設けることとし、マイクロコンピュータに
は１水平走査ラインＨＳ力所の比較結果を一まとめにし
マイクロコンピュータの１回の読み込みで１水平走査ラ
インの各パターン照合位置の状態の概略を高速に把握で
きるように状態を保持した手段を垂直パターン照合のＶ
Ｓ本だけ設けることで、各１水平走査ラインの各パター
ン照合位置の状態の概略を高速に把握しその演算対応位
置の特定を容易に行えるようにした水平候補点検出手段
を付置ａして構成され、第１回目の粗検出は水平画像デ
ータ抽出手段・垂直画像データ抽出手段をそれぞれの第
１回目のパターン照合の画素間隔でＨＳ×ＶＳ個の被検
査画像データが同時に出力されるよう設定し、被検査画
像の検出範囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の
中心部が対応するように配置して第１回目の粗検出を行
なし）、前記水平候補点検出手段により第１回目の粗検
出の後マイクロコンピュータより事前に設定された第１
回目の粗検出スレ、ソシュ値を越える検出位置の候補点
が存在するかを調べ、存在していた場合に存在を示して
いる水平比較ラインの前記水平候補点検出手段の情報を
読み込み、前記情報に対応するパターン照合座標位置に
おける相関値を保持している手段より、第１回目の、ｚ
ａターン照合を行った複数の候補点の相関カウント値の
中で最大相関値を保持する部分に対応した。Ｎ６タ一ン
照合座標位置をもって、次回のパターン照合の中心座標
位置と決定し、前記第１回目の粗検出にて求めた最高相
関値の座標位置を中心にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中
心部が対応するように配置し、第２回目の粗検出を水平
方向はε第１の画素間隔−第２の画素間隔Ｘ （ＨＳ−
１）／２）≦０を、垂直方向は（第１の画素間隔−第２
の画素間隔Ｘ（ＶＳ−１）／２）≦０を、満たす第２の
画素間隔にてＨ５行×ＶＳ列の中心部が対応するように
配置して行い前記水平候補点検出手段からマイクロコン
ピュータより第１回目の粗検出の後に設定された第２回
目用の粗検出スレンンユ値より大きくなった第２回目の
複数の候補点の相関データの最高相関値の座標位置を求
め、前記第２回目の粗検出にて求めた最高値位置座標を
中心にＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以降
のパターン照合を１画素間隔にて行うまで水平方向は（
第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパ
ターン照合の画素間隔Ｘ （ＨＳ−１）／２）≦０を、
垂直方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第ｐ
十を回目のパターン照合の画素間隔Ｘ（ＶＳ−１）／２
’｝≦０を、満たす第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素
間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して行い、前記
水平候補点検出手段からマイクロコンピュータよりパタ
ーン照合を１画素間隔にて行った第Ｐ＋１回目用の検出
スレッンユ値より大きくなった第Ｐ千１回目の単一ある
いは複数の候補点の相関データの最大値を持つ座標位置
を検出位置とすることを特徴とするパターン認識方法に
より達成される。
更に別の第２の解決手段は、２次元画像の中からある特
定パターンを自動抽出するパターン認識方法において、 撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、被検査
画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し基準画
像として予め記憶し任意の２次元座標位置に記憶した画
像データを出力可能な基準画像パターン記憶手段と、 ２次元被検査画像データの任意の水平走査ｄｙラインを
マイクロコンピュータから設定された分たけ保持可能な
（ＶＳ−１）個の水平走査ライン保持手段を（１≦ｋ≦
ｄｙ）水平走査ライン間隔（ｋ画素間隔）で均等に開い
ているＶＳ行の個々の検査座標位置に対応した被検査画
像データが同時に出力されるようにした垂直画像データ
抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの画像データのＶＳ個
の同時出力を水平方向の任意の画素ｄｘまてをマイクロ
コンピュータから設定された画素分たけ保持可能な画素
シフト手段をＨＳ個直列につなくことで、１水平方向の
被検査画像データが同時にある烏定された画素（１≦ｊ
≦ｄｘ）間隔（５画素間隔）で均等に開いているＨＳカ
所から同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽出
手段からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力され
た被検査画像データを入力として、前記ＨＳ個直列の画
素シフト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検査画像デー
タの総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位置に対応し
た被検査画像データを同時に出力されるようにした水平
画像データ抽出手段と、 前記基準画像記憶手段からの画像データと前記水平画像
データ抽出手段からの個々の検査座標位置に対応した被
検査画像データを同時にパターン比較するＶＳ×ＨＳ個
の排他的論理和からなる個々の検査座標位置に対応した
パターン照合出力をＶＳ×ＨＳ個同時に合同時ルスとし
て個々の検査座標位置に対応した排他的論理和手段より
出力することからなる論理演算手段と、 前記論理演算手段からの個々の検査座標位置に対応した
各合致パルス出力を個々に同時カウントすることにより
ＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１画像走査で完了し個々
の検査座標位置に対応した部分て独立に算出保持する相
関値積算手段と、前記相関値積算手段の相関値データを
マイクロコンピュータより事前に設定されたパターン検
出スレッシュ値との大小を同時に比較判定することで候
補点におけるパターン照合状態を高速に検出できるよう
に、前記相関値積算手段のデータ出力と、保持した検出
スレッシュ値と比較し、個々の検査座標位置に対応した
座標位置との間で大小を同時に比較判定し、その結果を
保持する個々の検査座標位置に対応した保持手段をＶＳ
×ＨＳ個の個々の検査座標位置に対応した分だけ設ける
こととし、マイクロコンピュータには１垂直走査ライン
ＶＳカ所の比較結果を一まとめにしマイクロコンピュー
タの１回の読み込みで１垂直走査ラインの各パターン照
合位置の状態の概略を高速に把握できるように状態を保
持した手段を水平方向においてパターン照合を行うＨＳ
本だけ設けることで、各１垂直走査ラインの状態の概略
を高速に把握しその演算対応位置の特定を容易に行える
ようにした垂直候補点検出手段により構成され、第１回
目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂直画像データ
抽出手段ともに第１の画素間隔て被検査画像データが同
時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の中
心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応する
ように配置して第１回目の粗検出を行ない、前記垂直候
補点検出手段により第１回目の粗検出の後マイクロコン
ピュータより事前に設定された第１回目の粗検出スレッ
シュ値を越える検出位置の候補点が存在するかを調べ、
存在していた場合に存在を示している垂直比較ラインの
前記垂直候補点検出手段の情報を読み込み、前記情報に
対応するパターン照合座標位置における相関値を保持し
ている手段より、第１回目のパターン照合を行った複数
の候補点の相関カウント値の中で最大相関値を保持する
部分に対応したパターン照合座標位置をもって、次回の
パター多照合の中心座標位置と決定し、前記第１回目の
粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心にＨＳ行
×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように配置し、
第２回目の粗検出を水平方向は（第１の画素間隔−第２
の画素間隔×（ＨＳ−１）／２）≦０を、垂直方向は（
第１の画素間隔−第２の画素間隔ｘ （ＶＳ−１）／２
｝≦０を、満たす第２の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の
中心部が対応するように配置して行い前記垂直候補点検
出手段からマイクロコンピュータより第１回目の粗検出
の後に設定された第２回目用の粗検出スレッンユ値より
大きくなった第２回目の複数の候補点の相関データの最
高相関値の座標位置を求め、前記第２回目の粗検出にて
求めた最高値位置座標を中心にＨＳ行×ＶＳ列の中心部
を配置して第３回目以降のパターン照合を１画素間隔に
て行うまで水平方向は（第２回目のパターン照合の画素
間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔×（ＨＳ
−１）／２｝≦０を、垂直方向は（第２回目のパターン
照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間
隔Ｘ （ＶＳ−１）／２）≦０を、満たす第Ｐ＋１回目
のパターン照合の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部
を配置して行い、前記垂直候補点検出手段からマイクロ
コンピュータよりパターン照合を１画素間隔にて行った
第Ｐ＋１回目用の検出スレッシュ値より大きくなった第
Ｐ十１回目の単一あるいは複数の候補点の相関データの
最大値を持つ座標位置を検出位置とすることを特徴とす
るパターン認識方法により達成される。
定パターンを自動抽出するパターン認識方法において、 撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、被検査
画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し基準画
像として予め記憶し任意の２次元座標位置に記憶した画
像データを出力可能な基準画像パターン記憶手段と、 ２次元被検査画像データの任意の水平走査ｄｙラインを
マイクロコンピュータから設定された分たけ保持可能な
（ＶＳ−１）個の水平走査ライン保持手段を（１≦ｋ≦
ｄｙ）水平走査ライン間隔（ｋ画素間隔）で均等に開い
ているＶＳ行の個々の検査座標位置に対応した被検査画
像データが同時に出力されるようにした垂直画像データ
抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの画像データのＶＳ個
の同時出力を水平方向の任意の画素ｄｘまてをマイクロ
コンピュータから設定された画素分たけ保持可能な画素
シフト手段をＨＳ個直列につなくことで、１水平方向の
被検査画像データが同時にある烏定された画素（１≦ｊ
≦ｄｘ）間隔（５画素間隔）で均等に開いているＨＳカ
所から同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽出
手段からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力され
た被検査画像データを入力として、前記ＨＳ個直列の画
素シフト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検査画像デー
タの総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位置に対応し
た被検査画像データを同時に出力されるようにした水平
画像データ抽出手段と、 前記基準画像記憶手段からの画像データと前記水平画像
データ抽出手段からの個々の検査座標位置に対応した被
検査画像データを同時にパターン比較するＶＳ×ＨＳ個
の排他的論理和からなる個々の検査座標位置に対応した
パターン照合出力をＶＳ×ＨＳ個同時に合同時ルスとし
て個々の検査座標位置に対応した排他的論理和手段より
出力することからなる論理演算手段と、 前記論理演算手段からの個々の検査座標位置に対応した
各合致パルス出力を個々に同時カウントすることにより
ＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１画像走査で完了し個々
の検査座標位置に対応した部分て独立に算出保持する相
関値積算手段と、前記相関値積算手段の相関値データを
マイクロコンピュータより事前に設定されたパターン検
出スレッシュ値との大小を同時に比較判定することで候
補点におけるパターン照合状態を高速に検出できるよう
に、前記相関値積算手段のデータ出力と、保持した検出
スレッシュ値と比較し、個々の検査座標位置に対応した
座標位置との間で大小を同時に比較判定し、その結果を
保持する個々の検査座標位置に対応した保持手段をＶＳ
×ＨＳ個の個々の検査座標位置に対応した分だけ設ける
こととし、マイクロコンピュータには１垂直走査ライン
ＶＳカ所の比較結果を一まとめにしマイクロコンピュー
タの１回の読み込みで１垂直走査ラインの各パターン照
合位置の状態の概略を高速に把握できるように状態を保
持した手段を水平方向においてパターン照合を行うＨＳ
本だけ設けることで、各１垂直走査ラインの状態の概略
を高速に把握しその演算対応位置の特定を容易に行える
ようにした垂直候補点検出手段により構成され、第１回
目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂直画像データ
抽出手段ともに第１の画素間隔て被検査画像データが同
時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の中
心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応する
ように配置して第１回目の粗検出を行ない、前記垂直候
補点検出手段により第１回目の粗検出の後マイクロコン
ピュータより事前に設定された第１回目の粗検出スレッ
シュ値を越える検出位置の候補点が存在するかを調べ、
存在していた場合に存在を示している垂直比較ラインの
前記垂直候補点検出手段の情報を読み込み、前記情報に
対応するパターン照合座標位置における相関値を保持し
ている手段より、第１回目のパターン照合を行った複数
の候補点の相関カウント値の中で最大相関値を保持する
部分に対応したパターン照合座標位置をもって、次回の
パター多照合の中心座標位置と決定し、前記第１回目の
粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心にＨＳ行
×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように配置し、
第２回目の粗検出を水平方向は（第１の画素間隔−第２
の画素間隔×（ＨＳ−１）／２）≦０を、垂直方向は（
第１の画素間隔−第２の画素間隔ｘ （ＶＳ−１）／２
｝≦０を、満たす第２の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の
中心部が対応するように配置して行い前記垂直候補点検
出手段からマイクロコンピュータより第１回目の粗検出
の後に設定された第２回目用の粗検出スレッンユ値より
大きくなった第２回目の複数の候補点の相関データの最
高相関値の座標位置を求め、前記第２回目の粗検出にて
求めた最高値位置座標を中心にＨＳ行×ＶＳ列の中心部
を配置して第３回目以降のパターン照合を１画素間隔に
て行うまで水平方向は（第２回目のパターン照合の画素
間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔×（ＨＳ
−１）／２｝≦０を、垂直方向は（第２回目のパターン
照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間
隔Ｘ （ＶＳ−１）／２）≦０を、満たす第Ｐ＋１回目
のパターン照合の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部
を配置して行い、前記垂直候補点検出手段からマイクロ
コンピュータよりパターン照合を１画素間隔にて行った
第Ｐ＋１回目用の検出スレッシュ値より大きくなった第
Ｐ十１回目の単一あるいは複数の候補点の相関データの
最大値を持つ座標位置を検出位置とすることを特徴とす
るパターン認識方法により達成される。
更に別の解決手段は、２次元画像の中からある特定パタ
ーンを自動抽出するパターン認識方法において、 撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、被検査
画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し基準画
像として予め記憶し任意の２次元座標位置に記憶した画
像データを出力可能な基準画像記憶手段と、 ２次元被検査画像データの任意のｄｙ水平走査（ｋ画素
間隔）で均等に開いているＶＳ行の個々の検査座標位置
に対応した被検査画像データが同時に出力されるように
した垂直画像データ抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの被検査画像データの
ＶＳ個の同時出力を水平方向の任意のｄＸ画素までをマ
イクロコンピュータから設定された画素分たけ保持可能
な画素シフト手段をＨＳ個直列につなぐことで、１水平
方向の被検査画像データが同時にある設定された１画素
（１≦Ｊ≦５ｄＸ）間隔で均等に開いているＨＳ力所か
ら同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽出手段
からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力された被
検査画像データを入力として、前記ＨＳ個直列の画素シ
フト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検査画像データの
総計ＶＳＸＨＳ地点の個々の検査座標位置に対応した被
検査画像データを同時に出力されるようにした水平画像
データ抽出手段と、前記基準画像パターン記憶手段から
の画像データと前記水平画像データ抽出手段からの個々
の検査座標位置に対応した被検査画像パターンデータを
同時にパターン比較するＶＳ×ＨＳ個の排他的論理和か
らなる個々の検査座標位置に対応したパターン照合出力
をＶＳ×ＨＳＳ×ＨＳ合同時ルスとして個々の検査座標
位置に対応した排他的論理和手段より出力することから
なる論理演算手段と、前記論理演算手段からの個々の検
査座標位置に対応した各合致パルス出力を個々に同時カ
ウントすることによりＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１
画像走査で完了し個々の検査座標位置に対応した部分て
独立に相関値を算出保持する相関値積算手段と、 前記相関値積算手段の相関値データをマイクロコンピュ
ータより事前に設定されたパターン検出スレッシュ値と
の大小を同時に比較判定することで候補点におけるパタ
ーン照合状態を高速に検出てきるように、前記相関値積
算手段のデータ出力と、保持した検出スレッシュ値と比
較し、個々の検査座標位置に対応した座標位置との間で
大小を同時に比較判定し、その結果を保持する個々の検
査座標位置に対応した保持手段をＶＳ×ＨＳ個の個々の
検査座標位置に対応した分だけ設けることとし、マイク
ロコンピュータには１水平走査ラインＨＳカ所の比較結
果を一まとめにしマイクロコンピュータの１回の読み込
みで１水平走査ラインの各パターン照合位置の状態の概
略を高速に把握できるように状態を保持した手段を垂直
パターン照合のＶＳ本だけ設けることで、各１水平走査
ラインの各パターン照合位置の状態の概略を高速に把握
しその演算対応位置の特定を容易に行えるようにした水
平候補点検出手段と、 前記水平候補点検出手段のＶＳ本の水平相関ラインの各
パターン照合位置の状態の概略を高速に把握できるよう
にするためにマイクロコンピュータによる１回のデータ
入力にて把握できるよう前記水平候補点検出手段のＶＳ
本の個々の検査座標位置に対応した各状態保持手段の出
力を個々の検査座標位置に対応した各状態保持手段にお
いて前記粗検出スレッシュ値よりも大きかった状態保持
が１つでもあればその水平相関ラインの状態を保持する
こと〜でマイクロコンピュータに粗検出スレッシュ値を
越える前記水平相関ラインがあったことを知らせる候補
点検出手段により構成され、第１回目の粗検出は水平画
像データ抽出手段・垂直画像データ抽出手段をそれぞれ
の第１回目のパターン照合の画素間隔でＨＳ×ＶＳ個の
被検査画像データが同時に出力されるよう設定し、被検
査画像の検出範囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位
置の中心部が対応するように配置して第１回目の粗検出
を行ない、前記候補点検出手段により第１回目の粗検出
の後マイクロコンピュータより事前に設定された第１回
目の粗検出スレッシュ値を越える検出位置の候補点が存
在するかを調べ、存在していた場合に存在を示している
水平比較ラインの前記水平候補点検出手段の情報を読み
込み、前記情報に対応するパターン照合座標位置におけ
る相関値を保持している手段より、第１回目のパターン
照合を行った複数の候補点の相関カウント値の中で最大
相関値を保持する部分に対応したパターン照合座標位置
をもって、次回のパターン照合の中心座標位置と決定し
、前記第１回目の粗検出にて求めた最高相関値の座標位
置を中心にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応す
るように配置し、第２回目の粗検出を水平方向は（第１
の画素間隔−第２の画素間隔ｘ （Ｈ５−１）／２）≦
０を、垂直方向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔Ｘ
（ＶＳ−１）／２）≦０を、満たす第２の画素間隔に
てＨＳ行×ＶＳ列の中心部が対応するように配置して行
い前記候補点検出手段からマイクロコンピュータより第
１回目の粗検出の後に設定された第２回目用の粗検出ス
レッシュ値より大きくなった第２回目の複数の候補点の
相関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第２回
目の粗検出にて求めた最高値位置座標を中心にＨＳ行×
ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以降のパターン照合
を１画素間隔にて行うまで水平方向は（第Ｐ回目のパタ
ーン照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画
素間隔×（ＨＳ〜１）／２｝≦０を、垂直方向は（第１
回目のパターン照＋１回目のパターン照合の画素間隔に
てＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して行い、前記水平候
補点検出手段からマイクロコンピュータよりパターン照
合を１画素間隔にて行った第Ｐ＋１回目用の検出スレッ
シュ値より大きくなった第Ｐ＋１回目の単一あるいは複
数の候補点の相関データの最大値を持つ座標位置を検出
位置とすることを特徴とするパターン認識方法により達
成される。
ーンを自動抽出するパターン認識方法において、 撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、被検査
画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し基準画
像として予め記憶し任意の２次元座標位置に記憶した画
像データを出力可能な基準画像記憶手段と、 ２次元被検査画像データの任意のｄｙ水平走査（ｋ画素
間隔）で均等に開いているＶＳ行の個々の検査座標位置
に対応した被検査画像データが同時に出力されるように
した垂直画像データ抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの被検査画像データの
ＶＳ個の同時出力を水平方向の任意のｄＸ画素までをマ
イクロコンピュータから設定された画素分たけ保持可能
な画素シフト手段をＨＳ個直列につなぐことで、１水平
方向の被検査画像データが同時にある設定された１画素
（１≦Ｊ≦５ｄＸ）間隔で均等に開いているＨＳ力所か
ら同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽出手段
からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力された被
検査画像データを入力として、前記ＨＳ個直列の画素シ
フト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検査画像データの
総計ＶＳＸＨＳ地点の個々の検査座標位置に対応した被
検査画像データを同時に出力されるようにした水平画像
データ抽出手段と、前記基準画像パターン記憶手段から
の画像データと前記水平画像データ抽出手段からの個々
の検査座標位置に対応した被検査画像パターンデータを
同時にパターン比較するＶＳ×ＨＳ個の排他的論理和か
らなる個々の検査座標位置に対応したパターン照合出力
をＶＳ×ＨＳＳ×ＨＳ合同時ルスとして個々の検査座標
位置に対応した排他的論理和手段より出力することから
なる論理演算手段と、前記論理演算手段からの個々の検
査座標位置に対応した各合致パルス出力を個々に同時カ
ウントすることによりＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１
画像走査で完了し個々の検査座標位置に対応した部分て
独立に相関値を算出保持する相関値積算手段と、 前記相関値積算手段の相関値データをマイクロコンピュ
ータより事前に設定されたパターン検出スレッシュ値と
の大小を同時に比較判定することで候補点におけるパタ
ーン照合状態を高速に検出てきるように、前記相関値積
算手段のデータ出力と、保持した検出スレッシュ値と比
較し、個々の検査座標位置に対応した座標位置との間で
大小を同時に比較判定し、その結果を保持する個々の検
査座標位置に対応した保持手段をＶＳ×ＨＳ個の個々の
検査座標位置に対応した分だけ設けることとし、マイク
ロコンピュータには１水平走査ラインＨＳカ所の比較結
果を一まとめにしマイクロコンピュータの１回の読み込
みで１水平走査ラインの各パターン照合位置の状態の概
略を高速に把握できるように状態を保持した手段を垂直
パターン照合のＶＳ本だけ設けることで、各１水平走査
ラインの各パターン照合位置の状態の概略を高速に把握
しその演算対応位置の特定を容易に行えるようにした水
平候補点検出手段と、 前記水平候補点検出手段のＶＳ本の水平相関ラインの各
パターン照合位置の状態の概略を高速に把握できるよう
にするためにマイクロコンピュータによる１回のデータ
入力にて把握できるよう前記水平候補点検出手段のＶＳ
本の個々の検査座標位置に対応した各状態保持手段の出
力を個々の検査座標位置に対応した各状態保持手段にお
いて前記粗検出スレッシュ値よりも大きかった状態保持
が１つでもあればその水平相関ラインの状態を保持する
こと〜でマイクロコンピュータに粗検出スレッシュ値を
越える前記水平相関ラインがあったことを知らせる候補
点検出手段により構成され、第１回目の粗検出は水平画
像データ抽出手段・垂直画像データ抽出手段をそれぞれ
の第１回目のパターン照合の画素間隔でＨＳ×ＶＳ個の
被検査画像データが同時に出力されるよう設定し、被検
査画像の検出範囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位
置の中心部が対応するように配置して第１回目の粗検出
を行ない、前記候補点検出手段により第１回目の粗検出
の後マイクロコンピュータより事前に設定された第１回
目の粗検出スレッシュ値を越える検出位置の候補点が存
在するかを調べ、存在していた場合に存在を示している
水平比較ラインの前記水平候補点検出手段の情報を読み
込み、前記情報に対応するパターン照合座標位置におけ
る相関値を保持している手段より、第１回目のパターン
照合を行った複数の候補点の相関カウント値の中で最大
相関値を保持する部分に対応したパターン照合座標位置
をもって、次回のパターン照合の中心座標位置と決定し
、前記第１回目の粗検出にて求めた最高相関値の座標位
置を中心にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応す
るように配置し、第２回目の粗検出を水平方向は（第１
の画素間隔−第２の画素間隔ｘ （Ｈ５−１）／２）≦
０を、垂直方向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔Ｘ
（ＶＳ−１）／２）≦０を、満たす第２の画素間隔に
てＨＳ行×ＶＳ列の中心部が対応するように配置して行
い前記候補点検出手段からマイクロコンピュータより第
１回目の粗検出の後に設定された第２回目用の粗検出ス
レッシュ値より大きくなった第２回目の複数の候補点の
相関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第２回
目の粗検出にて求めた最高値位置座標を中心にＨＳ行×
ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以降のパターン照合
を１画素間隔にて行うまで水平方向は（第Ｐ回目のパタ
ーン照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画
素間隔×（ＨＳ〜１）／２｝≦０を、垂直方向は（第１
回目のパターン照＋１回目のパターン照合の画素間隔に
てＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して行い、前記水平候
補点検出手段からマイクロコンピュータよりパターン照
合を１画素間隔にて行った第Ｐ＋１回目用の検出スレッ
シュ値より大きくなった第Ｐ＋１回目の単一あるいは複
数の候補点の相関データの最大値を持つ座標位置を検出
位置とすることを特徴とするパターン認識方法により達
成される。
更に別の第４の解決手段は、 ２次元画像の中からある
特定パターンを自動抽出するパターン認識方法において
、 撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、被検査
画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し基準画
像パターンとして予め記憶し任意の２次元座標位置に記
憶した画像データを出力可能な基準画像パターン記憶手
段と、 −２次元被検査画像データの任意の水平走査ラインｄｙ
をマイクロコンピュータから設定された分たけ保持可能
な（ＶＳ−１）個の水平走査ライン保持手段を（１≦ｋ
≦ｄｙ）水平走査ライン間隔（ｋ画素間隔）で均等に開
いているＶＳ行の個々の検査座標位置に対応した被検査
画像データか同時に出力されるようにした垂直画像デー
タ抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの被検査画像データの
ＶＳ個の同時出力を水平方向の任意のｄＸ画素までをマ
イクロコンピュータから設定された画素分たけ保持可能
な画素シフト手段をＨＳ個直列につなぐことで、１水平
方向の被検査画像データか同時にある設定された画素（
１≦Ｊ≦ｄｘ）間隔（３画素間隔）で均等に開いている
ＨＳ力所から同時に出力されるようにしたものを前記垂
直抽出手段からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出
力された被検査画像データを入力として、前記ＨＳ個直
列の画素シフト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検査画
像データの総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位置に
対応した被検査画像データを同時に出力されるようにし
た水平画像データ抽出手段と、 前記基準画像パターン記憶手段からの画像データと前記
水平画像データ抽出手段からの個々の検査座標位置に対
応した被検査画像パターンデータを同時にパターン比較
するＶＳ×ＨＳ個の排他的論理和からなる個々の検査座
標位置に対応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳＳ×Ｈ
Ｓ合同時ルスとして個々の検査座標位置に対応した排他
的論理和手段より出力することからなる論理演算手段と
、前記論理演算手段からの個々の検査座標位置に対応し
た各合致パルス出力を個々に同時カウントすることによ
りＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１画像走査で完了し個
々の検査座標位置に対応した部分で独立に算出保持する
相関値積算手段と、 前記相関値積算手段の相関値データをマイクロコンピュ
ータより事前に設定されたパターン検出スレッシュ値と
の大小を同時に比較判定することて候補点におけるパタ
ーン照合状態を高速に検出できるように、前記相関値積
算手段のデータ出力と、保持した検出スレッンユ値と比
較し、個々の検査座標位置に対応した座標位置との間で
大小を同時に比較判定し、その結果を保持する個々の検
査座標位置に対応した保持手段をＶＳＸＨＳ個の個々の
検査座標位置に対応した分だけ設けることとし、マイク
ロコンピュータには１垂直走査ラインＶＳカ所の比較結
果を一まとめにしマイクロコンピュータの１回の読み込
みで１垂直走査ラインの各パターン照合位置の状態の概
略を高速に把握できるように状態を保持した手段を水平
方向においてパターン照合を行うＨＳ本だけ設けること
で、各１垂直走査ラインの状態の概略を高速に把握しそ
の演算対応位置の特定を容易に行えるようにした垂直候
補点検出手段と、 前記垂直候補点検出手段のＨＳ本の垂直相関ラインの各
パターン照合位置の状態の概略を高速に把握できるよう
にするためにマイクロコンピュータによる１回のデータ
入力にて把握できるよう前記垂直候補点検出手段のＨＳ
本の個々の検査座標位置に対応した各状態保持手段の出
力を個々の検査座標位置に対応した各状態保持手段にお
いて前４′詰粗検出スレツシユ値よりも大きかった状態
保持か１つでもあればその垂直相関ラインの状態を保持
することでマイクロコンピュータに粗検出スレッシュ値
を越える前記垂直相関ラインがあったことを知らせる候
補点検出手段により構成され、第１回目の粗検出は水平
画像データ抽出手段・垂直画像データ抽出手段をそれぞ
れの第１回目のパターン照合の画素間隔でＨＳ×ＶＳ個
の被検査画像データか同時に出力されるよう設定し、被
検査画像の検出範囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査
位置の中心部が対応するように配置して第１回目の粗検
出を行ない、前記垂直候補点検出手段により第１回目の
粗検出の後マイクロコンピュータより事前に設定された
第１回目の粗検出スレッシュ値を越える検出位置の候補
点が存在するかを調べ、存在していた場合に存在を示し
ている垂直比較ラインの前記垂直候補点検出手段の情報
を読、４−置における相関値を保持している手段より、
第１回目のパターン照合を行った複数の候補点の相関カ
ウント値の中で最大相関値を保持する部分に対応したパ
ターン照合座標位置をもって、次回のパターン照合の中
心座標位置と決定し、前記第１回目の粗検出にて求めた
最高相関値の座標位置を中心にＨＳ行×ＶＳ列の検査位
置の中心部が対応するように配置し、第２回目の粗検出
を水平方向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔ｘ（Ｈ
Ｓ−１）／２）≦０を、垂直方向は（第１の画素間隔−
第２の画素間隔Ｘ （ＶＳ−１）／２）≦０を、満たす
第２の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部が対応する
ように配置して行い前記候補点検出手段からマイクロコ
ンピュータより第１回目の粗検出の後に設定された第２
回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった第２回目
の複数の候補点の相関データの最高相関値の座標位置を
求め、前記第２回目の粗検出にて求めた最高値位置座標
を中心にＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以
降のパターン照合を１画素間隔にて行うまで水平方向は
（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ ＋ Ｉ訓
目のパターン照合の画素間隔×（ＨＳ−１）、、’＆２
｝≦０を、垂直方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素
間隔−第ｐ＋を回目のパターン照合の画素間隔ｘ （Ｖ
Ｓ−１）／２｝≦０を、満たす第Ｐ＋１回目のパターン
照合の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して
行い、前記垂直候補点検出手段からマイクロコンピュー
タよりパターン照合を１画素間隔にて行った第Ｐ＋１回
目用の検出スレッシュ値より大きくなった第Ｐ＋１回目
の単一あるいは複数の候補点の相関データの最大値を持
つ座標位置を検出位置とすることを特徴とするパターン
認識方法により達成される。
特定パターンを自動抽出するパターン認識方法において
、 撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、被検査
画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し基準画
像パターンとして予め記憶し任意の２次元座標位置に記
憶した画像データを出力可能な基準画像パターン記憶手
段と、 −２次元被検査画像データの任意の水平走査ラインｄｙ
をマイクロコンピュータから設定された分たけ保持可能
な（ＶＳ−１）個の水平走査ライン保持手段を（１≦ｋ
≦ｄｙ）水平走査ライン間隔（ｋ画素間隔）で均等に開
いているＶＳ行の個々の検査座標位置に対応した被検査
画像データか同時に出力されるようにした垂直画像デー
タ抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの被検査画像データの
ＶＳ個の同時出力を水平方向の任意のｄＸ画素までをマ
イクロコンピュータから設定された画素分たけ保持可能
な画素シフト手段をＨＳ個直列につなぐことで、１水平
方向の被検査画像データか同時にある設定された画素（
１≦Ｊ≦ｄｘ）間隔（３画素間隔）で均等に開いている
ＨＳ力所から同時に出力されるようにしたものを前記垂
直抽出手段からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出
力された被検査画像データを入力として、前記ＨＳ個直
列の画素シフト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検査画
像データの総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位置に
対応した被検査画像データを同時に出力されるようにし
た水平画像データ抽出手段と、 前記基準画像パターン記憶手段からの画像データと前記
水平画像データ抽出手段からの個々の検査座標位置に対
応した被検査画像パターンデータを同時にパターン比較
するＶＳ×ＨＳ個の排他的論理和からなる個々の検査座
標位置に対応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳＳ×Ｈ
Ｓ合同時ルスとして個々の検査座標位置に対応した排他
的論理和手段より出力することからなる論理演算手段と
、前記論理演算手段からの個々の検査座標位置に対応し
た各合致パルス出力を個々に同時カウントすることによ
りＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１画像走査で完了し個
々の検査座標位置に対応した部分で独立に算出保持する
相関値積算手段と、 前記相関値積算手段の相関値データをマイクロコンピュ
ータより事前に設定されたパターン検出スレッシュ値と
の大小を同時に比較判定することて候補点におけるパタ
ーン照合状態を高速に検出できるように、前記相関値積
算手段のデータ出力と、保持した検出スレッンユ値と比
較し、個々の検査座標位置に対応した座標位置との間で
大小を同時に比較判定し、その結果を保持する個々の検
査座標位置に対応した保持手段をＶＳＸＨＳ個の個々の
検査座標位置に対応した分だけ設けることとし、マイク
ロコンピュータには１垂直走査ラインＶＳカ所の比較結
果を一まとめにしマイクロコンピュータの１回の読み込
みで１垂直走査ラインの各パターン照合位置の状態の概
略を高速に把握できるように状態を保持した手段を水平
方向においてパターン照合を行うＨＳ本だけ設けること
で、各１垂直走査ラインの状態の概略を高速に把握しそ
の演算対応位置の特定を容易に行えるようにした垂直候
補点検出手段と、 前記垂直候補点検出手段のＨＳ本の垂直相関ラインの各
パターン照合位置の状態の概略を高速に把握できるよう
にするためにマイクロコンピュータによる１回のデータ
入力にて把握できるよう前記垂直候補点検出手段のＨＳ
本の個々の検査座標位置に対応した各状態保持手段の出
力を個々の検査座標位置に対応した各状態保持手段にお
いて前４′詰粗検出スレツシユ値よりも大きかった状態
保持か１つでもあればその垂直相関ラインの状態を保持
することでマイクロコンピュータに粗検出スレッシュ値
を越える前記垂直相関ラインがあったことを知らせる候
補点検出手段により構成され、第１回目の粗検出は水平
画像データ抽出手段・垂直画像データ抽出手段をそれぞ
れの第１回目のパターン照合の画素間隔でＨＳ×ＶＳ個
の被検査画像データか同時に出力されるよう設定し、被
検査画像の検出範囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査
位置の中心部が対応するように配置して第１回目の粗検
出を行ない、前記垂直候補点検出手段により第１回目の
粗検出の後マイクロコンピュータより事前に設定された
第１回目の粗検出スレッシュ値を越える検出位置の候補
点が存在するかを調べ、存在していた場合に存在を示し
ている垂直比較ラインの前記垂直候補点検出手段の情報
を読、４−置における相関値を保持している手段より、
第１回目のパターン照合を行った複数の候補点の相関カ
ウント値の中で最大相関値を保持する部分に対応したパ
ターン照合座標位置をもって、次回のパターン照合の中
心座標位置と決定し、前記第１回目の粗検出にて求めた
最高相関値の座標位置を中心にＨＳ行×ＶＳ列の検査位
置の中心部が対応するように配置し、第２回目の粗検出
を水平方向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔ｘ（Ｈ
Ｓ−１）／２）≦０を、垂直方向は（第１の画素間隔−
第２の画素間隔Ｘ （ＶＳ−１）／２）≦０を、満たす
第２の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部が対応する
ように配置して行い前記候補点検出手段からマイクロコ
ンピュータより第１回目の粗検出の後に設定された第２
回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった第２回目
の複数の候補点の相関データの最高相関値の座標位置を
求め、前記第２回目の粗検出にて求めた最高値位置座標
を中心にＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以
降のパターン照合を１画素間隔にて行うまで水平方向は
（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ ＋ Ｉ訓
目のパターン照合の画素間隔×（ＨＳ−１）、、’＆２
｝≦０を、垂直方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素
間隔−第ｐ＋を回目のパターン照合の画素間隔ｘ （Ｖ
Ｓ−１）／２｝≦０を、満たす第Ｐ＋１回目のパターン
照合の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して
行い、前記垂直候補点検出手段からマイクロコンピュー
タよりパターン照合を１画素間隔にて行った第Ｐ＋１回
目用の検出スレッシュ値より大きくなった第Ｐ＋１回目
の単一あるいは複数の候補点の相関データの最大値を持
つ座標位置を検出位置とすることを特徴とするパターン
認識方法により達成される。
更に、上述のの第１の解決手段を持つパターン認識方法
において、第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段
・垂直画像データ抽出手段ともに第１の画素間隔で被検
査画像データが出力されるよう設定し、被検査画像の検
出範囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部
が対応するよう二一夕より事前に設定された第１回目用
の粗検出スレッシュ値より大きくなった候補点が見つか
った場合、前記水平候補点検出手段からマイクロコンピ
ュータより事前に設定された第１回目用の粗検出スレッ
シュ値より大きくなった第１回目の単一あるいは複数の
パターン照合候補点の宵無を示すＸＹ座標位置データよ
り重心位置を求め、前記第１回目の粗検出にて求めた重
心位置を中心に第２回目の粗検出を（第１の画素間隔−
第２の画素間隔Ｘ （ＨＳ−１）／２）≦０を満たす第
２の画素間隔にて行い前記候補点検出手段からマイクロ
コンピュータより第１回目の粗検出の後に設定された第
２回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった第２回
目の単一あるいは複数の候補点の位置データの重心位置
を求め、前記第２回目の粗検出にて求めた重心位置を中
心に第３回目以降のパターン照合を１画素間隔にて行う
まで（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第ｐ＋を回
目のパタ−ン照合の画素間隔ｘ （ＨＳ−１）／２｝≦
０を満たす第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔にて
行い、前記候補点検出手段からマイクロコンピュータよ
り第２回目の粗検出の後に設定された第Ｐ＋１回目用の
検出スレッシュ値より大きくなった第Ｐ＋１回目の単一
あるいは複数の候補点の位置データの最大値を持って検
出位置とすることを特徴とするパターン認識方法により
達成される。
において、第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段
・垂直画像データ抽出手段ともに第１の画素間隔で被検
査画像データが出力されるよう設定し、被検査画像の検
出範囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部
が対応するよう二一夕より事前に設定された第１回目用
の粗検出スレッシュ値より大きくなった候補点が見つか
った場合、前記水平候補点検出手段からマイクロコンピ
ュータより事前に設定された第１回目用の粗検出スレッ
シュ値より大きくなった第１回目の単一あるいは複数の
パターン照合候補点の宵無を示すＸＹ座標位置データよ
り重心位置を求め、前記第１回目の粗検出にて求めた重
心位置を中心に第２回目の粗検出を（第１の画素間隔−
第２の画素間隔Ｘ （ＨＳ−１）／２）≦０を満たす第
２の画素間隔にて行い前記候補点検出手段からマイクロ
コンピュータより第１回目の粗検出の後に設定された第
２回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった第２回
目の単一あるいは複数の候補点の位置データの重心位置
を求め、前記第２回目の粗検出にて求めた重心位置を中
心に第３回目以降のパターン照合を１画素間隔にて行う
まで（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第ｐ＋を回
目のパタ−ン照合の画素間隔ｘ （ＨＳ−１）／２｝≦
０を満たす第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔にて
行い、前記候補点検出手段からマイクロコンピュータよ
り第２回目の粗検出の後に設定された第Ｐ＋１回目用の
検出スレッシュ値より大きくなった第Ｐ＋１回目の単一
あるいは複数の候補点の位置データの最大値を持って検
出位置とすることを特徴とするパターン認識方法により
達成される。
また、上記第２の解決手段を持つパターン認識方法にお
いて、第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂
直画像データ抽出手段ともに第１の画素間隔で被検査画
像データが出力されるよう設定し、被検査画像の検出範
囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対
応するように配置して第１回目の粗検出を行ない、前記
垂直候補点高速検出手段からの出力がマイクロコンピュ
ータより事前に設定された第１回目用の粗検出スレッシ
ュ値より大きくなった候補点が見つかった場合、前記垂
直候補点検出手段からマイクロコンピュータより事前に
設定された第１回目用の粗検出スレッシュ値より大きく
なった第１回目の単一あるいは複数のパターン照合候補
点の有無を示すＸＹ座標位置データより重心位置を求め
、前記第１回目の粗検出にて求めた重心位置を中心に第
２回目の粗検出を（第１の画素間隔−第２の画素間隔Ｘ
（ＨＳ−１）／２）≦０を満たす第２の画素間隔にて
行い前記候補点検出手段からマイクロコンピュータより
第１回目の粗検出の後に設定された第２回目用の粗検出
スレッシュ値より大きくなった第２回目の単一あるいは
複数の候補点の位置データの重心位置を求め、前記第２
回目の粗検出にて求めた重心位置を中心に第３回目以降
のパターン照合を１画素間隔にて行うまで（第Ｐ回目の
パターン照合の画素間隔−第ｐ＋を回目のパターン照合
の画素間隔ｘ （ＭＳ−１）／２）≦０を満たす第Ｐ＋
１回目のパターン照合の画素間隔にて行い、前記候補点
検出手段からマイクロコンピュータより第２回目の粗検
出の後に設定された第Ｐ千１回目用の検出スレッシュ値
より大きくなった第Ｐ＋１回目の単一あるいは複数の候
補点の位置データの最大値を持って検出位置とすること
を特徴とするパターン認識方法により達成される。
いて、第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂
直画像データ抽出手段ともに第１の画素間隔で被検査画
像データが出力されるよう設定し、被検査画像の検出範
囲の中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対
応するように配置して第１回目の粗検出を行ない、前記
垂直候補点高速検出手段からの出力がマイクロコンピュ
ータより事前に設定された第１回目用の粗検出スレッシ
ュ値より大きくなった候補点が見つかった場合、前記垂
直候補点検出手段からマイクロコンピュータより事前に
設定された第１回目用の粗検出スレッシュ値より大きく
なった第１回目の単一あるいは複数のパターン照合候補
点の有無を示すＸＹ座標位置データより重心位置を求め
、前記第１回目の粗検出にて求めた重心位置を中心に第
２回目の粗検出を（第１の画素間隔−第２の画素間隔Ｘ
（ＨＳ−１）／２）≦０を満たす第２の画素間隔にて
行い前記候補点検出手段からマイクロコンピュータより
第１回目の粗検出の後に設定された第２回目用の粗検出
スレッシュ値より大きくなった第２回目の単一あるいは
複数の候補点の位置データの重心位置を求め、前記第２
回目の粗検出にて求めた重心位置を中心に第３回目以降
のパターン照合を１画素間隔にて行うまで（第Ｐ回目の
パターン照合の画素間隔−第ｐ＋を回目のパターン照合
の画素間隔ｘ （ＭＳ−１）／２）≦０を満たす第Ｐ＋
１回目のパターン照合の画素間隔にて行い、前記候補点
検出手段からマイクロコンピュータより第２回目の粗検
出の後に設定された第Ｐ千１回目用の検出スレッシュ値
より大きくなった第Ｐ＋１回目の単一あるいは複数の候
補点の位置データの最大値を持って検出位置とすること
を特徴とするパターン認識方法により達成される。
ここで第１の解決手段において、ｄｘ＝３２．ｄｙ＝３
２．ＨＳ＝７．ＶＳ＝７とし、ソノ検出手段は第１回目
の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂直画像データ抽
出手段ともに８画素間隔で被検査画像データが出力され
るよう設定し、被検査画像の検出範囲の中心位置に７行
７列の検査位置の中心部が対応するように配置して第１
回目の粗検出を行ない、前記水平候補点高速検出手段か
らの出力がマイクロコンピュータより事前に設定された
第１回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった候補
点が見つかった場合、前記水平候補点高速検出手段から
マイクロコンピュータより事前に設定された第１回目用
の粗検出スレッシュ値より大きくなった第１回目の単一
あるいは複数の候補点の位置データの相関値をもとに重
心位置を求め、前記第１回目の粗検出にて求めた重心位
置を中心に第２回目の粗検出を３画素間隔にて行い前記
候補点高速検出手段からマイクロコンピュータより第１
回目の粗検出の後に設定された第２回目用の粗検出スレ
ッシュ値より大きくなった第２回目の単一あるいは複数
の候補点の位置データの重心位置を求め、前記第２回目
の粗検出にて求めた重心位置を中心に第３回目の検出を
１画素間隔にて行い前記候補点高速検出手段からマイク
ロコンピュータより第２回目の粗検出の後に設定された
第３回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった第３
回目の単一あるいは複数の候補点の位置データの最大値
を持って検出位置とすることを特徴とするパターン認識
方法により達成される。
２．ＨＳ＝７．ＶＳ＝７とし、ソノ検出手段は第１回目
の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂直画像データ抽
出手段ともに８画素間隔で被検査画像データが出力され
るよう設定し、被検査画像の検出範囲の中心位置に７行
７列の検査位置の中心部が対応するように配置して第１
回目の粗検出を行ない、前記水平候補点高速検出手段か
らの出力がマイクロコンピュータより事前に設定された
第１回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった候補
点が見つかった場合、前記水平候補点高速検出手段から
マイクロコンピュータより事前に設定された第１回目用
の粗検出スレッシュ値より大きくなった第１回目の単一
あるいは複数の候補点の位置データの相関値をもとに重
心位置を求め、前記第１回目の粗検出にて求めた重心位
置を中心に第２回目の粗検出を３画素間隔にて行い前記
候補点高速検出手段からマイクロコンピュータより第１
回目の粗検出の後に設定された第２回目用の粗検出スレ
ッシュ値より大きくなった第２回目の単一あるいは複数
の候補点の位置データの重心位置を求め、前記第２回目
の粗検出にて求めた重心位置を中心に第３回目の検出を
１画素間隔にて行い前記候補点高速検出手段からマイク
ロコンピュータより第２回目の粗検出の後に設定された
第３回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった第３
回目の単一あるいは複数の候補点の位置データの最大値
を持って検出位置とすることを特徴とするパターン認識
方法により達成される。
加えて被検査画像範囲内に、所定のパターン照合の相関
値に達する座標位置が無いときには、対象の位置検出を
不可とすることを特徴とするパターン認識方法により達
成される。
値に達する座標位置が無いときには、対象の位置検出を
不可とすることを特徴とするパターン認識方法により達
成される。
更に別の解決手段は、撮像装置からの２次元映像信号を
デジタル化する２値化回路と、被検査画像の特徴的なパ
ターンをメモリの記憶容量範囲内の任意サイズとして切
り出し基準画像として予め記憶し任意の２次元座標位置
に記憶した画像デー夕を出力可能な基準画像記憶回路と
、 前記２値化回路からの２値化された被検査画像データを
１水平走査ラインからｄｘ水平走査ラインまでをマイク
ロコンピュータからの指示で任意に設定された分だけ保
持可能な水平走査ライン・シフトレジスタ（ＶＳ−１）
個で構成され前記（ＶＳ−１）個の水平走査ライン・シ
フトレジスタと前記２値化回路とからで２値化画像の垂
直方向に設定されたに水平走査ライン（１≦ｋ≦ｄｘ）
間隔（＝に画素間隔）で均等に開いているＶＳ行の個々
の検査座標位置に対応した被検査画像データが同時に出
力されるようにした垂直画像データ抽出回路と、 前記垂直画像データ抽出回路からの２値化された被検査
画像データのＶＳ個の同時出力を水平方向の１画素から
６画素までをマイクロコンピュータからの指示で任意に
設定された画素分だけ保持可能な可変長画素・シフトレ
ジスタをＨ５個直列につなぐことで１水平方向の２値化
された被検査画像データが同時にある設定された３画素
（１≦ｊ≦ｄｙ）間隔で均等に開いているＨＳ力所から
同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽出回路か
らのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力された２値
化被検査画像データを入力として前記ＨＳ個直列の可変
長画素・シフトレジスタをＶＳ段設ける事で前記２値化
画像の総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位置に対応
した２値化被検査画像データを同時に出力されるように
した水平画像データ抽出回路と、 前記基準画像記憶回路からの基準画像データと前記水平
画像データ抽出回路からの個々の検査座標位置に対応し
た被検査画像データを同時にパターン比較するＶＳ×Ｈ
Ｓ個の排他的論理和回路からなる個々の検査座標位置に
対応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳＳ×ＨＳ合同時
ルスとして個々の検査座標位置に対応した排他的論理和
部より出力することからなる論理演算回路と、前記論理
演算回路からの個々の検査座標位置に対応した各合致パ
ルス出力を個々に同時カウントすることによりＶＳ×Ｈ
Ｓ個のパターン照合を１画像走査期間で完了し個々の検
査座標位置に対応した部分で独立に算出保持する相関値
積算回路を具備し、 第１回目の粗検出は水平画像データ抽出部・垂直画像デ
ータ抽出部ともに第１の画素間隔で被検査画像データが
同時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の
中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応す
るように配置して第１回目の粗検出を行ない、第１回目
のＶＳ×ＨＳ個の候補点の相関データの最高相関値の座
標位置を求め、前記第１回目の粗検出にて求めた最高相
関値の座標位置を中心に第２回目の粗検出を水平方向は
（第１の画素間隔−第２の画素間隔×（ＨＳ−１）／２
）≦０を、垂直方向は（第１の画素間隔−第２の画素間
隔Ｘ （ＶＳ−１）／２）≦０を、満たし最小の整数値
となる第２の画素間隔にて行い第２回目のＶＳＸＨ５個
の候補点の相関データの最高相関値の座標位置を求め、
前記第２回目の粗検出にて求めた最高相関値を持つ位置
座標を中心に第３回目以降のパターン照合を水平・垂直
方向の設定画素間隔が１画素間隔となるまで水平方向は
（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目の
パターン照合の画素間隔×（ＨＳ−１）／２）≦０を、
垂直方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ
＋１回目のパターン照合の画素間隔ｘ （ＶＳ−１）／
２｝≦０を、満たし最小の整数値となる第Ｐ＋１回目の
パターン照合の画素間隔にて行い、１画素間隔にて行な
ったパターン照合のＨＳ×ＶＳ個の候補点の相関データ
の最大値が所定の検出スレッシュ値よりも大きい値であ
れば前記最大相関値を保持した部分に対応した座標位置
を検出位置とすることを特徴とするパターン認識装置に
より達成される。
デジタル化する２値化回路と、被検査画像の特徴的なパ
ターンをメモリの記憶容量範囲内の任意サイズとして切
り出し基準画像として予め記憶し任意の２次元座標位置
に記憶した画像デー夕を出力可能な基準画像記憶回路と
、 前記２値化回路からの２値化された被検査画像データを
１水平走査ラインからｄｘ水平走査ラインまでをマイク
ロコンピュータからの指示で任意に設定された分だけ保
持可能な水平走査ライン・シフトレジスタ（ＶＳ−１）
個で構成され前記（ＶＳ−１）個の水平走査ライン・シ
フトレジスタと前記２値化回路とからで２値化画像の垂
直方向に設定されたに水平走査ライン（１≦ｋ≦ｄｘ）
間隔（＝に画素間隔）で均等に開いているＶＳ行の個々
の検査座標位置に対応した被検査画像データが同時に出
力されるようにした垂直画像データ抽出回路と、 前記垂直画像データ抽出回路からの２値化された被検査
画像データのＶＳ個の同時出力を水平方向の１画素から
６画素までをマイクロコンピュータからの指示で任意に
設定された画素分だけ保持可能な可変長画素・シフトレ
ジスタをＨ５個直列につなぐことで１水平方向の２値化
された被検査画像データが同時にある設定された３画素
（１≦ｊ≦ｄｙ）間隔で均等に開いているＨＳ力所から
同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽出回路か
らのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力された２値
化被検査画像データを入力として前記ＨＳ個直列の可変
長画素・シフトレジスタをＶＳ段設ける事で前記２値化
画像の総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位置に対応
した２値化被検査画像データを同時に出力されるように
した水平画像データ抽出回路と、 前記基準画像記憶回路からの基準画像データと前記水平
画像データ抽出回路からの個々の検査座標位置に対応し
た被検査画像データを同時にパターン比較するＶＳ×Ｈ
Ｓ個の排他的論理和回路からなる個々の検査座標位置に
対応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳＳ×ＨＳ合同時
ルスとして個々の検査座標位置に対応した排他的論理和
部より出力することからなる論理演算回路と、前記論理
演算回路からの個々の検査座標位置に対応した各合致パ
ルス出力を個々に同時カウントすることによりＶＳ×Ｈ
Ｓ個のパターン照合を１画像走査期間で完了し個々の検
査座標位置に対応した部分で独立に算出保持する相関値
積算回路を具備し、 第１回目の粗検出は水平画像データ抽出部・垂直画像デ
ータ抽出部ともに第１の画素間隔で被検査画像データが
同時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の
中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応す
るように配置して第１回目の粗検出を行ない、第１回目
のＶＳ×ＨＳ個の候補点の相関データの最高相関値の座
標位置を求め、前記第１回目の粗検出にて求めた最高相
関値の座標位置を中心に第２回目の粗検出を水平方向は
（第１の画素間隔−第２の画素間隔×（ＨＳ−１）／２
）≦０を、垂直方向は（第１の画素間隔−第２の画素間
隔Ｘ （ＶＳ−１）／２）≦０を、満たし最小の整数値
となる第２の画素間隔にて行い第２回目のＶＳＸＨ５個
の候補点の相関データの最高相関値の座標位置を求め、
前記第２回目の粗検出にて求めた最高相関値を持つ位置
座標を中心に第３回目以降のパターン照合を水平・垂直
方向の設定画素間隔が１画素間隔となるまで水平方向は
（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目の
パターン照合の画素間隔×（ＨＳ−１）／２）≦０を、
垂直方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ
＋１回目のパターン照合の画素間隔ｘ （ＶＳ−１）／
２｝≦０を、満たし最小の整数値となる第Ｐ＋１回目の
パターン照合の画素間隔にて行い、１画素間隔にて行な
ったパターン照合のＨＳ×ＶＳ個の候補点の相関データ
の最大値が所定の検出スレッシュ値よりも大きい値であ
れば前記最大相関値を保持した部分に対応した座標位置
を検出位置とすることを特徴とするパターン認識装置に
より達成される。
一方、２次元画像の中からある特定パターンを自動抽出
するパターン認識装置において、撮像装置からの２次元
映像信号をデジタル化する２値化回路と、 被検査画像の特徴的なパターンをメモリの記憶容量範囲
内の任意サイズとして切り出し基準画像として予め記憶
し任意の２次元座標位置に記憶した画像データを出力可
能な基準画像記憶回路と、前記２値化回路からの２値化
された被検査画像データを１水平走査ラインからｄｘ水
平走査ラインまでをマイクロコンピュータからの指示で
任意に設定された分たけ保持可能な水平走査ライン・シ
フトレジスタ（ＶＳ−１）個で構成され前記（ＶＳ−１
）個の水平走査ライン・シフトレジスタと前記２値化回
路とからで２値化画像の垂直方向に設定されたに水平走
査ライン（１≦ｋ≦ｄｘ）間隔（＝に画素間隔）で均等
に開いているＶＳ行の個々の検査座標位置に対応した被
検査画像データが同時に出力されるようにした垂直画像
データ抽出回路と、 前記垂直画像データ抽出回路からの２値化された被検査
画像データのＶＳ個の同時出力を水平方向の１画素から
４画素までをマイクロコンピュータからの指示で任意に
設定された画素分だけ保持可能な可変長画素・シフトレ
ジスタをＨＳ個直列につなぐことで１水平方向の２値化
された被検査画像データが同時にある設定された画素（
１≦ｊ≦ｄＶ）間隔（１画素間隔）で均等に開いている
ＨＳ力所から同時に出力されるようにしたものを前記垂
直抽出回路からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出
力された２値化被検査画像データを入力として前記ＨＳ
個直列の可変長画素ＯシフトレジスタをＶＳ段設ける事
で前記２値化画像の総計ＶＳｘＨＳ地点の個々の検査座
標位置に対応した２値化被検査画像データを同時に出力
されるようにした水平画像データ抽出回路と、 前記基準画像パターン記憶回路からの画像データと前記
水平画像データ抽出回路からの個々の検査座標位置に対
応した被検査画像パターンデータを同時にパターン比較
するＶＳ×ＨＳ個の排他的論理和回路からなる個々の検
査座標位置に対応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳＳ
×ＨＳ合同時ルスとして個々の検査座標位置に対応した
排他的論理和部より出力することからなる論理演算回路
と、 前記論理演算回路からの個々の検査座標位置に対応した
各合致パルス出力を個々に同時カウントすることにより
ＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１フィールドで完了し個
々の検査座標位置に対応した部分て独立に算出保持する
相関値積算回路と、前記相関値積算回路の相関値データ
をマイクロコンピュータより事前に設定されたパターン
検出スレッシュ値との大小を同時に比較判定することで
候補点におけるパターン照合状態を高速に検出できるよ
うに前記相関値積算回路の出力を個々の検査座標位置に
対応したコンパレータを設け検出スレッシュ値を保持し
個々の検査座標位置に対応したラッチとの間で大小を同
時に比較判定しその結果を保持する個々の検査座標位置
に対応したラッチをＶＳ×ＨＳ個の個々の検査座標位置
に対応した分たけ設けることとしマイクロコンピュータ
には１水平走査ラインＨＳカ所の比較結果を一まとめに
しマイクロコンピュータの１回の読み込みで１水平走査
ラインの各パターン照合位置の状態の概略を高速に把握
できるようにしたラッチ部を垂直パターン照合のＶＳ本
だけ設けることで各１水平走査ラインの各パターン照合
位置の状態の概略を高速に把握しその演算対応位置の特
定を容易に行えるようにした水平候補点検出回路と、前
記水平候補点検出回路のＶＳ本の水平走査ラインの各パ
ターン照合位置の状態の概略を高速に把握できるように
するためにマイクロコンピュータによる１回のデータ入
力にて把握できるよう前記水平候補点検出回路のＶＳ本
の個々の検査座標位置に対応した各ラッチ部の出力を個
々の検査座標位置に対応した各ラッチ部においてスレ・
ソシュ値よりも大きかったランチが１つでもあればその
水平走査ラインの状態を保持することでマイクロコンピ
ュータに相関スレッシュ値を越える水平相関ラインがあ
ったことを知らせる候補点検出回路を具備し、 第１回目の粗検出は水平画像データ抽出部・垂直画像デ
ータ抽出部ともに第１の画素間隔で被検査画像データが
同時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の
中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応す
るように配置して第１回目の粗検出を行ない、前記候補
点検出回路からの出力かマイクロコンピュータより事前
に設定された第１回目用の粗検出スレッシュ値より大き
くなった候補点か見つかった場合、前記水平候補点検出
回路からマイクロコンピュータより事前に設定された第
１回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった第１回
目の複数の候補点の相関データの最高相関値の座標位置
を求め、前記第１回目の粗検出にて求めた最高相関値の
座標位置を中心に第２回目の粗検出を水平方向は（第１
の画素間隔−第２の画素間隔Ｘ （ＨＳ−１）／２）≦
０を、垂直方向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔×
（ＶＳ−１）／２｝≦０を、満たす第２の画素間隔にて
行い前記候補点検出回路からマイクロコンピュータより
第１回目の粗検出の後に設定された第２回目用の粗検出
スレッシュ値より大きくなった第２回目の複数の候補点
の相関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第２
回目の粗検出にて求めた最高値位置座標を中心に第３回
目以降のパターン照合を１画素間隔にて行うまで水平方
向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ十１回
目のパターン照合の画素間隔ｘ（ＨＳ−１）／２｝≦０
を、垂直方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−
第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔Ｘ （ＶＳ−１
）／２）≦０を、満たす第Ｐ＋１回目のパターン照合の
画素間隔にて行い、前記水平候補点検出回路からマイク
ロコンピュータよりパターン照合を１画素間隔にて行っ
たされた第Ｐ＋１回目用の検出スレッシュ値より大きく
なった第Ｐ＋１回目の単一あるいは複数の候補点の相関
データの最大値を持つ座標位置を検出位置とすることを
特徴とするパターン認識装置により達成される。
するパターン認識装置において、撮像装置からの２次元
映像信号をデジタル化する２値化回路と、 被検査画像の特徴的なパターンをメモリの記憶容量範囲
内の任意サイズとして切り出し基準画像として予め記憶
し任意の２次元座標位置に記憶した画像データを出力可
能な基準画像記憶回路と、前記２値化回路からの２値化
された被検査画像データを１水平走査ラインからｄｘ水
平走査ラインまでをマイクロコンピュータからの指示で
任意に設定された分たけ保持可能な水平走査ライン・シ
フトレジスタ（ＶＳ−１）個で構成され前記（ＶＳ−１
）個の水平走査ライン・シフトレジスタと前記２値化回
路とからで２値化画像の垂直方向に設定されたに水平走
査ライン（１≦ｋ≦ｄｘ）間隔（＝に画素間隔）で均等
に開いているＶＳ行の個々の検査座標位置に対応した被
検査画像データが同時に出力されるようにした垂直画像
データ抽出回路と、 前記垂直画像データ抽出回路からの２値化された被検査
画像データのＶＳ個の同時出力を水平方向の１画素から
４画素までをマイクロコンピュータからの指示で任意に
設定された画素分だけ保持可能な可変長画素・シフトレ
ジスタをＨＳ個直列につなぐことで１水平方向の２値化
された被検査画像データが同時にある設定された画素（
１≦ｊ≦ｄＶ）間隔（１画素間隔）で均等に開いている
ＨＳ力所から同時に出力されるようにしたものを前記垂
直抽出回路からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出
力された２値化被検査画像データを入力として前記ＨＳ
個直列の可変長画素ＯシフトレジスタをＶＳ段設ける事
で前記２値化画像の総計ＶＳｘＨＳ地点の個々の検査座
標位置に対応した２値化被検査画像データを同時に出力
されるようにした水平画像データ抽出回路と、 前記基準画像パターン記憶回路からの画像データと前記
水平画像データ抽出回路からの個々の検査座標位置に対
応した被検査画像パターンデータを同時にパターン比較
するＶＳ×ＨＳ個の排他的論理和回路からなる個々の検
査座標位置に対応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳＳ
×ＨＳ合同時ルスとして個々の検査座標位置に対応した
排他的論理和部より出力することからなる論理演算回路
と、 前記論理演算回路からの個々の検査座標位置に対応した
各合致パルス出力を個々に同時カウントすることにより
ＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１フィールドで完了し個
々の検査座標位置に対応した部分て独立に算出保持する
相関値積算回路と、前記相関値積算回路の相関値データ
をマイクロコンピュータより事前に設定されたパターン
検出スレッシュ値との大小を同時に比較判定することで
候補点におけるパターン照合状態を高速に検出できるよ
うに前記相関値積算回路の出力を個々の検査座標位置に
対応したコンパレータを設け検出スレッシュ値を保持し
個々の検査座標位置に対応したラッチとの間で大小を同
時に比較判定しその結果を保持する個々の検査座標位置
に対応したラッチをＶＳ×ＨＳ個の個々の検査座標位置
に対応した分たけ設けることとしマイクロコンピュータ
には１水平走査ラインＨＳカ所の比較結果を一まとめに
しマイクロコンピュータの１回の読み込みで１水平走査
ラインの各パターン照合位置の状態の概略を高速に把握
できるようにしたラッチ部を垂直パターン照合のＶＳ本
だけ設けることで各１水平走査ラインの各パターン照合
位置の状態の概略を高速に把握しその演算対応位置の特
定を容易に行えるようにした水平候補点検出回路と、前
記水平候補点検出回路のＶＳ本の水平走査ラインの各パ
ターン照合位置の状態の概略を高速に把握できるように
するためにマイクロコンピュータによる１回のデータ入
力にて把握できるよう前記水平候補点検出回路のＶＳ本
の個々の検査座標位置に対応した各ラッチ部の出力を個
々の検査座標位置に対応した各ラッチ部においてスレ・
ソシュ値よりも大きかったランチが１つでもあればその
水平走査ラインの状態を保持することでマイクロコンピ
ュータに相関スレッシュ値を越える水平相関ラインがあ
ったことを知らせる候補点検出回路を具備し、 第１回目の粗検出は水平画像データ抽出部・垂直画像デ
ータ抽出部ともに第１の画素間隔で被検査画像データが
同時に出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の
中心位置にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応す
るように配置して第１回目の粗検出を行ない、前記候補
点検出回路からの出力かマイクロコンピュータより事前
に設定された第１回目用の粗検出スレッシュ値より大き
くなった候補点か見つかった場合、前記水平候補点検出
回路からマイクロコンピュータより事前に設定された第
１回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなった第１回
目の複数の候補点の相関データの最高相関値の座標位置
を求め、前記第１回目の粗検出にて求めた最高相関値の
座標位置を中心に第２回目の粗検出を水平方向は（第１
の画素間隔−第２の画素間隔Ｘ （ＨＳ−１）／２）≦
０を、垂直方向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔×
（ＶＳ−１）／２｝≦０を、満たす第２の画素間隔にて
行い前記候補点検出回路からマイクロコンピュータより
第１回目の粗検出の後に設定された第２回目用の粗検出
スレッシュ値より大きくなった第２回目の複数の候補点
の相関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第２
回目の粗検出にて求めた最高値位置座標を中心に第３回
目以降のパターン照合を１画素間隔にて行うまで水平方
向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ十１回
目のパターン照合の画素間隔ｘ（ＨＳ−１）／２｝≦０
を、垂直方向は（第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−
第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔Ｘ （ＶＳ−１
）／２）≦０を、満たす第Ｐ＋１回目のパターン照合の
画素間隔にて行い、前記水平候補点検出回路からマイク
ロコンピュータよりパターン照合を１画素間隔にて行っ
たされた第Ｐ＋１回目用の検出スレッシュ値より大きく
なった第Ｐ＋１回目の単一あるいは複数の候補点の相関
データの最大値を持つ座標位置を検出位置とすることを
特徴とするパターン認識装置により達成される。
作旦
本発明によれば、被検査画像における画像のパターン形
状が単調で同じ様なパターンが繰り返し続くような場合
でも撮像装置からの２次元被検査画像データは連続した
シリアルデータとして出力されていることを利用してい
るため、２次元画像の基準画像エリアを大きく取らなけ
れば位置検出による位置の特定が困難であるため多量の
画素を同時に処理しなければある座標位置における相関
値か算出されない場合も、１座標位置に注目すればその
位置における相関値は基準となるシリアルデータ（＝基
準画像データ）とともに比較されるシリアルデータ（＝
被検査画像データ）を１走査期間内に同時に出力させ、
それぞれの対応する位置の被検査画像データを映像信号
の走査期間と同期させて１画素ずつ相関演算処理するこ
とで、２次元エリアデータであっても時間的にシリアル
データとして処理を行い、２次元データの相関演算を１
次元相関演算による処理のごとくそれぞれの座標位置に
おける相関値の算出の簡素化を計っているのである。す
なわち、各座標位置における相関値を１画素クロック期
間内に完了させるのではなく、１走査期間内にシリアル
データとして演算しその結果をシリアルデータとして積
算する部分を水平垂直方向に多数設けることで多数の座
標位置における相関処理を同時に行なうというものであ
る。そのため、基準画像のサイズの大小は処理手段の物
理的な規模には影響しないので原画像を圧縮あるいは限
定することで基準となる画像データ量を比較処理時に減
らし処理する必要がなく基準画像のサイズを大きく出来
るために、単純で特徴的なパターン形状の登録が困難な
場合でも原画像の画像データをそのまま処理することに
より登録にともなうノウハウの蓄積なくパターンの位置
検出か可能となる。
状が単調で同じ様なパターンが繰り返し続くような場合
でも撮像装置からの２次元被検査画像データは連続した
シリアルデータとして出力されていることを利用してい
るため、２次元画像の基準画像エリアを大きく取らなけ
れば位置検出による位置の特定が困難であるため多量の
画素を同時に処理しなければある座標位置における相関
値か算出されない場合も、１座標位置に注目すればその
位置における相関値は基準となるシリアルデータ（＝基
準画像データ）とともに比較されるシリアルデータ（＝
被検査画像データ）を１走査期間内に同時に出力させ、
それぞれの対応する位置の被検査画像データを映像信号
の走査期間と同期させて１画素ずつ相関演算処理するこ
とで、２次元エリアデータであっても時間的にシリアル
データとして処理を行い、２次元データの相関演算を１
次元相関演算による処理のごとくそれぞれの座標位置に
おける相関値の算出の簡素化を計っているのである。す
なわち、各座標位置における相関値を１画素クロック期
間内に完了させるのではなく、１走査期間内にシリアル
データとして演算しその結果をシリアルデータとして積
算する部分を水平垂直方向に多数設けることで多数の座
標位置における相関処理を同時に行なうというものであ
る。そのため、基準画像のサイズの大小は処理手段の物
理的な規模には影響しないので原画像を圧縮あるいは限
定することで基準となる画像データ量を比較処理時に減
らし処理する必要がなく基準画像のサイズを大きく出来
るために、単純で特徴的なパターン形状の登録が困難な
場合でも原画像の画像データをそのまま処理することに
より登録にともなうノウハウの蓄積なくパターンの位置
検出か可能となる。
尖胤桝
以下、本発明に係るパターン認識装置の実施例について
図面を参照しながら説明する。第１図はパターン認識装
置のブロック回路を示すブロック図である。図示するよ
うに、パターン認識装置は撮像装置１１からの映像信号
をデジタル化する２値化回路１２と、２値化回路１２か
らの２値化被検査画像のを予め記憶させた特徴的なパタ
ーンの基準画像とパターン照合するための基準画像記憶
回路１６と、２値化被検査画像データを水平方向の１行
から１６行までをマイクロコンピュータ１３からの指示
で任意に設定された分だけ保持可能な可変長水平走査ラ
イン・シフトレジスタを有し２値化回路１２とからで２
値化画像の垂直方向にある設定された間隔で均等に開い
ている７行の被検査画像データが同時に出力されるよう
にした垂直画像データ抽出回路１４と、２値化被検査画
像データを水平方向の１画素から１６６画素でをマイク
ロコンピュータ１３からの指示で任意に設定された分だ
け保持可能な可変長画素・シフトレジスタを７個直列に
つなぐことで１水平方向の２値化画像が同時にある設定
された間隔で均等に開いている７カ所から出力されるよ
うにして垂直画像データ抽出回路１４からの７行出力の
２値化被検査画像データをつなぎ２値化画像の４９ （
７Ｘ７）の地点のデータを同時出力するようにした水平
画像データ抽出回路１５と、基準画像記憶回路１Ｂから
の画像データと水平画像データ抽出回路１５からの被検
査画像データをパターン比較する４９個の排他的論理和
手段のパターン照合出力と画素周波数のクロックパルス
を論理積しパターン照合の結果パターンが合致していれ
ば合致していることを各画素それぞれに対応したパルス
を発生することで検知し画素周波数の合致パルスを出力
することからなる論理演算回路１７と、 論理演算回路１７からの各合致パルス出力を個々にカウ
ントすることにより４９個それぞれのパターン照合を行
なって各座標位置での相関値を個々に積算保持する相関
値積算回路１８とにより構成される。
図面を参照しながら説明する。第１図はパターン認識装
置のブロック回路を示すブロック図である。図示するよ
うに、パターン認識装置は撮像装置１１からの映像信号
をデジタル化する２値化回路１２と、２値化回路１２か
らの２値化被検査画像のを予め記憶させた特徴的なパタ
ーンの基準画像とパターン照合するための基準画像記憶
回路１６と、２値化被検査画像データを水平方向の１行
から１６行までをマイクロコンピュータ１３からの指示
で任意に設定された分だけ保持可能な可変長水平走査ラ
イン・シフトレジスタを有し２値化回路１２とからで２
値化画像の垂直方向にある設定された間隔で均等に開い
ている７行の被検査画像データが同時に出力されるよう
にした垂直画像データ抽出回路１４と、２値化被検査画
像データを水平方向の１画素から１６６画素でをマイク
ロコンピュータ１３からの指示で任意に設定された分だ
け保持可能な可変長画素・シフトレジスタを７個直列に
つなぐことで１水平方向の２値化画像が同時にある設定
された間隔で均等に開いている７カ所から出力されるよ
うにして垂直画像データ抽出回路１４からの７行出力の
２値化被検査画像データをつなぎ２値化画像の４９ （
７Ｘ７）の地点のデータを同時出力するようにした水平
画像データ抽出回路１５と、基準画像記憶回路１Ｂから
の画像データと水平画像データ抽出回路１５からの被検
査画像データをパターン比較する４９個の排他的論理和
手段のパターン照合出力と画素周波数のクロックパルス
を論理積しパターン照合の結果パターンが合致していれ
ば合致していることを各画素それぞれに対応したパルス
を発生することで検知し画素周波数の合致パルスを出力
することからなる論理演算回路１７と、 論理演算回路１７からの各合致パルス出力を個々にカウ
ントすることにより４９個それぞれのパターン照合を行
なって各座標位置での相関値を個々に積算保持する相関
値積算回路１８とにより構成される。
次に、各構成回路部についてその動作を詳しく説明する
。実際の設計例では撮像装置１１の視野を横３２０画素
、縦２４０画素の格子状に量子化するものとし、基準画
像の大きさを１２８Ｘ１２８画素以内の任意の長方形範
囲が可能なものとする。基準画像記憶回路１６の構成は
動作開始および完了のタイミングを発生させるカウンタ
を水平・垂直方向それぞれの計４つのカウンタを設け、
基準画像の読み出しあるいは書き込み用タイミング信号
を作り、読み出しタイミング信号により基準画像の読み
出しあるいは書き込みを有効とする期間に画素に対応し
たクロンクをカウントするカウンタを動作させ記憶回路
内の画像データを入出力させるものである。これにより
、基準画像パターン記憶回路１６の動作開始および完了
のタイミング信号の発生をそれぞれ行なうカウンタへの
設定値を変えることによって基準画像のパターンサイズ
を任意に変更させることが可能となる。
。実際の設計例では撮像装置１１の視野を横３２０画素
、縦２４０画素の格子状に量子化するものとし、基準画
像の大きさを１２８Ｘ１２８画素以内の任意の長方形範
囲が可能なものとする。基準画像記憶回路１６の構成は
動作開始および完了のタイミングを発生させるカウンタ
を水平・垂直方向それぞれの計４つのカウンタを設け、
基準画像の読み出しあるいは書き込み用タイミング信号
を作り、読み出しタイミング信号により基準画像の読み
出しあるいは書き込みを有効とする期間に画素に対応し
たクロンクをカウントするカウンタを動作させ記憶回路
内の画像データを入出力させるものである。これにより
、基準画像パターン記憶回路１６の動作開始および完了
のタイミング信号の発生をそれぞれ行なうカウンタへの
設定値を変えることによって基準画像のパターンサイズ
を任意に変更させることが可能となる。
本実施例においては、基準画像の大きさを１２８Ｘ１２
８画素以内の長方形範囲としたが、メモリの記憶容量が
許す範囲内であれば、より大きな基準画像をもってパタ
ーン照合を行うことも可能であるのはもちろんであり、
任意に設計できる。
８画素以内の長方形範囲としたが、メモリの記憶容量が
許す範囲内であれば、より大きな基準画像をもってパタ
ーン照合を行うことも可能であるのはもちろんであり、
任意に設計できる。
しかも、記憶容量の大きなメモリさえ用いれば、回路規
模は増すことなく一つの基準画像当りの登録可能サイズ
を変更することも可能であるし、メモリを多数用いるよ
うな設計を行ったとしても回路規模の増加は大幅に増す
ものではない。
模は増すことなく一つの基準画像当りの登録可能サイズ
を変更することも可能であるし、メモリを多数用いるよ
うな設計を行ったとしても回路規模の増加は大幅に増す
ものではない。
基準画像記憶回路１６のメモリを２５８ｋＪｌ’ｂｉｔ
等の１画素１アドレスとなるＲＡＭを使用した場合、パ
ターン照合を行なう長方形範囲の大きさは１画素単位で
パターンの水平書垂直方向サイズを設定することが出来
る。更に、１パターン当りの記憶容量を１６ｋｂｉｔと
しているので、基準画像のパターン設定は１２８Ｘ１２
３画素以内のパターン範囲としててはなく、■パターン
当りの記憶容量の１６ｋｂｉｔ容量以内としての使用か
可能である。例えば、２００×８０画素や、１００Ｘ１
５０画素のパターン範囲など、水平・垂直方向のいずれ
かが１２８画素の長さを越えるような長方形の基準画像
記憶容量が許す範囲内で必要に応じて可能である。
等の１画素１アドレスとなるＲＡＭを使用した場合、パ
ターン照合を行なう長方形範囲の大きさは１画素単位で
パターンの水平書垂直方向サイズを設定することが出来
る。更に、１パターン当りの記憶容量を１６ｋｂｉｔと
しているので、基準画像のパターン設定は１２８Ｘ１２
３画素以内のパターン範囲としててはなく、■パターン
当りの記憶容量の１６ｋｂｉｔ容量以内としての使用か
可能である。例えば、２００×８０画素や、１００Ｘ１
５０画素のパターン範囲など、水平・垂直方向のいずれ
かが１２８画素の長さを越えるような長方形の基準画像
記憶容量が許す範囲内で必要に応じて可能である。
基準画像記憶回路１６のメモリを１画素１アドレスでは
ないＸ４ｂ ｉ ｔやＸ８ｂｉｔのＲＡＭにより構成し
た場合、例えば、３２ｋＸ８ｂ ｉ ｔのＲＡＭとする
と８画素の並列入出力となり、水平方向のパターン設定
は８画素単位となる。水平・垂直方向のいずれかが１２
８画素の長さを越えるような長方形の基準画像の設定も
必要に応じて可能であるのは２５６ｋＸ１ｂｉｔ等の１
画素１アドレスとなるＲＡＭを用いて設計して場合と同
様である。
ないＸ４ｂ ｉ ｔやＸ８ｂｉｔのＲＡＭにより構成し
た場合、例えば、３２ｋＸ８ｂ ｉ ｔのＲＡＭとする
と８画素の並列入出力となり、水平方向のパターン設定
は８画素単位となる。水平・垂直方向のいずれかが１２
８画素の長さを越えるような長方形の基準画像の設定も
必要に応じて可能であるのは２５６ｋＸ１ｂｉｔ等の１
画素１アドレスとなるＲＡＭを用いて設計して場合と同
様である。
また、基準画像記憶回路１６の動作開始および完了のタ
イミング信号の発生をそれぞれ行なうカウンタへの設定
値を変えることによって基準画像のパターン発生を任意
の座標位置に移動させることか可能となる。これは、パ
ターンを記憶した座標位置を水平方向の１００画素目か
ら２００画素目までとすると、開始カウンター１００．
完了カウンター２００を設定し画像データをメモリに書
き込めばよい。そして、開始カウンタ値と完了カウンタ
値の差をそのままにして設定する値を変更し読み出して
やればよい。すなわち、開始カウンタ＝５０、完了カウ
ンタ＝１５０を設定すれば水平方向の左側に５００画素
れた位置に画像データが出力され、開始カウンタ＝１６
０、完了カウンタ＝２６０を設定すれば水平方向の右側
に６００画素れた位置に基準画像データが出力され任意
の座標位置に記憶した基準画像データが出力される。
イミング信号の発生をそれぞれ行なうカウンタへの設定
値を変えることによって基準画像のパターン発生を任意
の座標位置に移動させることか可能となる。これは、パ
ターンを記憶した座標位置を水平方向の１００画素目か
ら２００画素目までとすると、開始カウンター１００．
完了カウンター２００を設定し画像データをメモリに書
き込めばよい。そして、開始カウンタ値と完了カウンタ
値の差をそのままにして設定する値を変更し読み出して
やればよい。すなわち、開始カウンタ＝５０、完了カウ
ンタ＝１５０を設定すれば水平方向の左側に５００画素
れた位置に画像データが出力され、開始カウンタ＝１６
０、完了カウンタ＝２６０を設定すれば水平方向の右側
に６００画素れた位置に基準画像データが出力され任意
の座標位置に記憶した基準画像データが出力される。
これにより、被検査画像データの入力はリアルタイムな
入力とすることができ、このリアルタイム入力に基準画
像データの出力タイミングの方を合わせてパターン照合
を行うものである。以上のように、基準画像のパターン
発生を任意の座標位置に移動させる機能は、被検査画像
の任意の検査画像範囲においてパターン照合を行うとい
う目的を達成するために使用されるものである。
入力とすることができ、このリアルタイム入力に基準画
像データの出力タイミングの方を合わせてパターン照合
を行うものである。以上のように、基準画像のパターン
発生を任意の座標位置に移動させる機能は、被検査画像
の任意の検査画像範囲においてパターン照合を行うとい
う目的を達成するために使用されるものである。
次に、本発明に係る別の実施例について図面を参照しな
から説明する。第２図は本発明の第２の実施例としての
パターン認識装置のブロック回路を示すブロック図であ
る。このブロック図は第１図のように、撮像装置１１か
らの映像信号をデジタル化する２値化回路１２と、２値
化回路１２からの２値化画像の特徴的なパターンを基準
画像として予め記憶し被検査画像とパターン照合するた
めの基準画像記憶回路１６と、２値化回路１２からの２
値化被検査画像データを水平方向の１行から１６行まで
をマイクロコンピュータ１３からの指示で任意に設定さ
れた分だけ保持可能な可変長水平走査ライン・シフトレ
ジスタ６個で構成され６個の可変長水平走査ライン・シ
フトレジスタ２０と２値化回路１２とからで２値化画像
の垂直方向にある設定された間隔で均等に開いている７
行の被検査画像データか同時に出力されるようをこした
垂直画像データ抽出回路１４と、２値化回路１２からの
２値化被検査画像データを水平方向の１画素から１６６
画素でをマイクロインピユータ１３からの指示で任意に
設定された分だけ保持可能な可変長画素シフトレジスタ
を７個直列につなぐことで１水平方向の２値化画像が同
時にある設定された間隔て均等に開いている７カ所から
出力されるようにしたものを垂直画像データ抽出回路１
４からのＩ打出力の２値化被検査画像データをつなぐた
めに７段設ける事で前記２値化画像の総計７Ｘ７ （＝
４９）地点の２値化被検査画像データを同時に出力され
るようにした水平画像データ抽出回路１５と、基準画像
記憶回路１６からの画像データと水平画像データ抽出蚊
路１５からの被検査画像パターンデータをパターン比較
する４９個の排他的論理和手段からのパターン照合出力
と画素と同一周波数のクロックパルスを論理積しパター
ン照合の結果パターンが合致していれば合致しているこ
とを各画素それぞれに対応したパルスを発生することで
知らせることとし画素と同一周波数の合致パルスを出力
することからなる論理演算回路１７と、論理演算回路１
７からの各合致パルス出力を個々にカウントする事によ
り４９個それぞれのパターン照合を行なった各座標位置
での相関値を個々に積算保持する相関値積算回路１８と
、更に相関値積算回路１８の相関値データをマイクロコ
ンピュータ１３より事前に設定された検出スレッシュ値
との大小を比較判定することで候補点を高速に検出でき
るように相関値積算回路１８の出力を個々に対応したコ
ンパレータを設け検出スレッンユ値を保持するラッチと
の間で大小を比較判定しその結果を保持するラッチを４
９個の個々に対応した分たけ設けることとしマイクロコ
ンピュータ１３には１水平走査ラインの比較結果を一ま
とめにしマイクロコンピュータ１３の１回の読み込みで
把握できるようにしたラッチ部を垂直パターン照合の７
本だけ設けることでその演算対応位置の特定を行いや好
くする水平候補点検出回路１９より構成される。
から説明する。第２図は本発明の第２の実施例としての
パターン認識装置のブロック回路を示すブロック図であ
る。このブロック図は第１図のように、撮像装置１１か
らの映像信号をデジタル化する２値化回路１２と、２値
化回路１２からの２値化画像の特徴的なパターンを基準
画像として予め記憶し被検査画像とパターン照合するた
めの基準画像記憶回路１６と、２値化回路１２からの２
値化被検査画像データを水平方向の１行から１６行まで
をマイクロコンピュータ１３からの指示で任意に設定さ
れた分だけ保持可能な可変長水平走査ライン・シフトレ
ジスタ６個で構成され６個の可変長水平走査ライン・シ
フトレジスタ２０と２値化回路１２とからで２値化画像
の垂直方向にある設定された間隔で均等に開いている７
行の被検査画像データか同時に出力されるようをこした
垂直画像データ抽出回路１４と、２値化回路１２からの
２値化被検査画像データを水平方向の１画素から１６６
画素でをマイクロインピユータ１３からの指示で任意に
設定された分だけ保持可能な可変長画素シフトレジスタ
を７個直列につなぐことで１水平方向の２値化画像が同
時にある設定された間隔て均等に開いている７カ所から
出力されるようにしたものを垂直画像データ抽出回路１
４からのＩ打出力の２値化被検査画像データをつなぐた
めに７段設ける事で前記２値化画像の総計７Ｘ７ （＝
４９）地点の２値化被検査画像データを同時に出力され
るようにした水平画像データ抽出回路１５と、基準画像
記憶回路１６からの画像データと水平画像データ抽出蚊
路１５からの被検査画像パターンデータをパターン比較
する４９個の排他的論理和手段からのパターン照合出力
と画素と同一周波数のクロックパルスを論理積しパター
ン照合の結果パターンが合致していれば合致しているこ
とを各画素それぞれに対応したパルスを発生することで
知らせることとし画素と同一周波数の合致パルスを出力
することからなる論理演算回路１７と、論理演算回路１
７からの各合致パルス出力を個々にカウントする事によ
り４９個それぞれのパターン照合を行なった各座標位置
での相関値を個々に積算保持する相関値積算回路１８と
、更に相関値積算回路１８の相関値データをマイクロコ
ンピュータ１３より事前に設定された検出スレッシュ値
との大小を比較判定することで候補点を高速に検出でき
るように相関値積算回路１８の出力を個々に対応したコ
ンパレータを設け検出スレッンユ値を保持するラッチと
の間で大小を比較判定しその結果を保持するラッチを４
９個の個々に対応した分たけ設けることとしマイクロコ
ンピュータ１３には１水平走査ラインの比較結果を一ま
とめにしマイクロコンピュータ１３の１回の読み込みで
把握できるようにしたラッチ部を垂直パターン照合の７
本だけ設けることでその演算対応位置の特定を行いや好
くする水平候補点検出回路１９より構成される。
このように構成された各回路部についてその動作を詳し
く説明する。実際の設計例では撮像装置１１の視野を横
３２０画素、縦２４０画素の格子状に量子化するものと
し、基準画像の大きさを１２８Ｘ１２８画素以内の任意
の長方形範囲が可能なものとする。基準画像記憶回路１
６の構成は動作開始および完了のタイミングを発生させ
るカウンタを水平・垂直方向それぞれの計４つのカウン
タを設け、基準画像の読み出しあるいは書き込み用タイ
ミング信号を作り、前記読み出しタイミング信号により
基準画像の読み出しあるいは書き込みを佇効とする期間
に画素に対応したクロックをカウントするカウンタを動
作させることで、基準画像記憶回路内の画像データを入
出力させるものである。これにより、基準画像記憶回路
１６の動作開始および完了のタイミング信号の発生をそ
れぞれ行なうカウンタへの設定値を変えることによって
基準画像のパターンサイズを任意に変更させることが可
能となる。
く説明する。実際の設計例では撮像装置１１の視野を横
３２０画素、縦２４０画素の格子状に量子化するものと
し、基準画像の大きさを１２８Ｘ１２８画素以内の任意
の長方形範囲が可能なものとする。基準画像記憶回路１
６の構成は動作開始および完了のタイミングを発生させ
るカウンタを水平・垂直方向それぞれの計４つのカウン
タを設け、基準画像の読み出しあるいは書き込み用タイ
ミング信号を作り、前記読み出しタイミング信号により
基準画像の読み出しあるいは書き込みを佇効とする期間
に画素に対応したクロックをカウントするカウンタを動
作させることで、基準画像記憶回路内の画像データを入
出力させるものである。これにより、基準画像記憶回路
１６の動作開始および完了のタイミング信号の発生をそ
れぞれ行なうカウンタへの設定値を変えることによって
基準画像のパターンサイズを任意に変更させることが可
能となる。
この実施例においても基準画像の大きさは１２８Ｘ１２
８画素以内の長方形範囲としたが、任意に設計できる。
８画素以内の長方形範囲としたが、任意に設計できる。
二こて、垂直画像データ抽出回路１４は被検査画像を撮
像装置１１より映像信号きして出力されたものを２値化
回路１２により２値化された複数走査ラインの被検査画
像データを同時に出力するための部分である。この垂直
画像データ抽出回路１４の説明を第３図に示すブロック
回路図で行う。
像装置１１より映像信号きして出力されたものを２値化
回路１２により２値化された複数走査ラインの被検査画
像データを同時に出力するための部分である。この垂直
画像データ抽出回路１４の説明を第３図に示すブロック
回路図で行う。
１走査期間にパターン照合を行なう座標を水平方向７ポ
イント、垂直７ポイントとすると１水平走査ライン単位
で設定可能とした１６水平走査ラインまでの被検査画像
データ保持が可能な可変長水平走査ライン・シフトレジ
スタ２０は６本が必要となる。６本の可変長水平走査ラ
イン・シフトレジスタ２０は第３図に示すように直列に
接続され、各可変長水平走査ライン拳シフトレジスタ２
０からはそれぞれ被検査画像データが出力される。１水
平走査ラインから１６水平走査ラインまでの任意長の画
像データをマイクロコンピュータ １３からの指示で任
意に設定された水平走査ライン分だけ保持可能な１本の
シフトレジスタとして構成するにはその記憶容量は１水
平走査ラインにおいて３２０画素の場合、３２０ｘ１６
＝５１２０画素（＝５ｋｂ ｉ ｔ）必要となるので、
一般には８ｋｂｉｔ容量以上のＲＡＭを用いればよい。
イント、垂直７ポイントとすると１水平走査ライン単位
で設定可能とした１６水平走査ラインまでの被検査画像
データ保持が可能な可変長水平走査ライン・シフトレジ
スタ２０は６本が必要となる。６本の可変長水平走査ラ
イン・シフトレジスタ２０は第３図に示すように直列に
接続され、各可変長水平走査ライン拳シフトレジスタ２
０からはそれぞれ被検査画像データが出力される。１水
平走査ラインから１６水平走査ラインまでの任意長の画
像データをマイクロコンピュータ １３からの指示で任
意に設定された水平走査ライン分だけ保持可能な１本の
シフトレジスタとして構成するにはその記憶容量は１水
平走査ラインにおいて３２０画素の場合、３２０ｘ１６
＝５１２０画素（＝５ｋｂ ｉ ｔ）必要となるので、
一般には８ｋｂｉｔ容量以上のＲＡＭを用いればよい。
任意長の水平走査ラインの被検査画像データ保持を行な
うにはＲＡＭアドレスの下位９ｂｉｔは画素の基本クロ
ックを単にカウントするカウンタを直接ＲＡＭに接続し
、残りの上位アドレスは垂直走査ラインをカウントする
カウンタに、任意の設定回数（１≦ｋ≦１６）にてカウ
ント値をクリアし最初からカウントをやり直す巡回カウ
ンタとすればよい。この様にして２次元被検査画像デー
タの７つの地点ＶＩＤＴ、Ｖ２ＤＴ、Ｖ３ＤＴ、Ｖ４Ｄ
Ｔ、Ｖ５ＤＴ、ＶＥ３ＤＴ、Ｖ７ＤＴより被検査画像デ
ータが同時に出力されるようになる。
うにはＲＡＭアドレスの下位９ｂｉｔは画素の基本クロ
ックを単にカウントするカウンタを直接ＲＡＭに接続し
、残りの上位アドレスは垂直走査ラインをカウントする
カウンタに、任意の設定回数（１≦ｋ≦１６）にてカウ
ント値をクリアし最初からカウントをやり直す巡回カウ
ンタとすればよい。この様にして２次元被検査画像デー
タの７つの地点ＶＩＤＴ、Ｖ２ＤＴ、Ｖ３ＤＴ、Ｖ４Ｄ
Ｔ、Ｖ５ＤＴ、ＶＥ３ＤＴ、Ｖ７ＤＴより被検査画像デ
ータが同時に出力されるようになる。
次に、７地点ＶＩＤＴ、Ｖ２ＤＴ、Ｖ３ＤＴ。
Ｖ４ＤＴ、Ｖ５ＤＴ、Ｖ８ＤＴ、Ｖ７ＤＴからの被検査
画像データは水平画像データ抽出回路１５へ入力される
。第４図は水平画像データ抽出回路１５の構成を示した
ブロック図である。水平走査ラインの１６画素までの任
意長の被検査画素データをマイクロコンピュータ１３か
らの指示で任意に設定された画素データ分（１≦ｊ≦１
６）だけ保持可能な可変長画素・シフトレジスタ２１を
１水平方向の被検査画像データの入力に対して直列に６
本接続する。可変長画素・シフトレジスタ２１は６本で
あるためその出力は６本であるが、入力の画像データＶ
ＩＤＴ−Ｖ７ＤＴも出力として使うことが出来るのでこ
の画像データも合わせて、１水平ラインからの出力は７
出力ＶＩＤＴ、ＶＩＨｌ、ＶＩＨ２，ＶＩＨＳ，ＶＩＨ
４，ＶＩＨ５゜ＶＩＨ６となる。被検査画像データの垂
直方向の７地点ＶＩＤＴ、Ｖ２ＤＴ、Ｖ３ＤＴ、Ｖ４Ｄ
Ｔ。
画像データは水平画像データ抽出回路１５へ入力される
。第４図は水平画像データ抽出回路１５の構成を示した
ブロック図である。水平走査ラインの１６画素までの任
意長の被検査画素データをマイクロコンピュータ１３か
らの指示で任意に設定された画素データ分（１≦ｊ≦１
６）だけ保持可能な可変長画素・シフトレジスタ２１を
１水平方向の被検査画像データの入力に対して直列に６
本接続する。可変長画素・シフトレジスタ２１は６本で
あるためその出力は６本であるが、入力の画像データＶ
ＩＤＴ−Ｖ７ＤＴも出力として使うことが出来るのでこ
の画像データも合わせて、１水平ラインからの出力は７
出力ＶＩＤＴ、ＶＩＨｌ、ＶＩＨ２，ＶＩＨＳ，ＶＩＨ
４，ＶＩＨ５゜ＶＩＨ６となる。被検査画像データの垂
直方向の７地点ＶＩＤＴ、Ｖ２ＤＴ、Ｖ３ＤＴ、Ｖ４Ｄ
Ｔ。
Ｖ５ＤＴ、Ｖ８ＤＴ、Ｖ７ＤＴ１７）入力ソレソれに対
してこの６本の可変長画素・シフトレジスタ２１が７本
それぞれ独立に必要となるため、合計４２個の可変長画
素自シフトレジスタ２１を用いる。
してこの６本の可変長画素・シフトレジスタ２１が７本
それぞれ独立に必要となるため、合計４２個の可変長画
素自シフトレジスタ２１を用いる。
可変長画素・シフトレジスタ２１としてはＮＰＣ社の８
Ｍ５８２８を用いる。このＩＣにより８本までの垂直画
像データ抽出回路１４からの被検査画像データの入力か
可能となるため、７個を直列接続した８Ｍ５８２８から
の出力を外部に出すことで、水平方向に１画素ずつずれ
、垂直方向にに画素ずつずれた４９点の被検査画像デー
タが同時に出力されることとなる。
Ｍ５８２８を用いる。このＩＣにより８本までの垂直画
像データ抽出回路１４からの被検査画像データの入力か
可能となるため、７個を直列接続した８Ｍ５８２８から
の出力を外部に出すことで、水平方向に１画素ずつずれ
、垂直方向にに画素ずつずれた４９点の被検査画像デー
タが同時に出力されることとなる。
論理演算回路１７は基準画像記憶回路１６内の基準画像
データと水平画像データ抽出回路１５からの各座標位置
における４９個の被検査画像データＶＩＤＴ、ＶＩＨＩ
、ＶＩＨ２，ＶＩＨＳ−−ＶＩＨ６，Ｖ２ＤＴ、Ｖ２Ｈ
１−＠−−Ｖ７Ｈ６の１データづつの２人力を同時に排
他的論理和演算を行ないその結果を合致パルスとしてパ
ルス出力する部分である。第５図に示す構成ブロック図
のような論理演算回路 １７ は排他的論理和演算を同
時に独立して４９種類のシリアル入力される個々０画像
データＶＩＤＴ、ＶＩＨＩ、ＶＩＨ２、ＶＩＨＳ・・Ｖ
ＩＨ６，Ｖ２ＤＴ、Ｖ２Ｈ１・・・・Ｖ７Ｈ６と基準画
像データの比較演算を行ない、更にその比較の結果をそ
れぞれの２人力画像データか一致していればそれをパル
ス出力として外部に出力する合致パルスｐＨ，Ｐｌ２．
Ｐｌ ３ ・ ・ Ｐｌ７． Ｐ２１． Ｐ２２
・ ・ Ｐ２７ 拳 ・Ｐ３７・・Ｐ７７をシリア
ル入力される画像データごとに演算しシリアル出力する
４９個の論理演算ユニット２２より構成される。
データと水平画像データ抽出回路１５からの各座標位置
における４９個の被検査画像データＶＩＤＴ、ＶＩＨＩ
、ＶＩＨ２，ＶＩＨＳ−−ＶＩＨ６，Ｖ２ＤＴ、Ｖ２Ｈ
１−＠−−Ｖ７Ｈ６の１データづつの２人力を同時に排
他的論理和演算を行ないその結果を合致パルスとしてパ
ルス出力する部分である。第５図に示す構成ブロック図
のような論理演算回路 １７ は排他的論理和演算を同
時に独立して４９種類のシリアル入力される個々０画像
データＶＩＤＴ、ＶＩＨＩ、ＶＩＨ２、ＶＩＨＳ・・Ｖ
ＩＨ６，Ｖ２ＤＴ、Ｖ２Ｈ１・・・・Ｖ７Ｈ６と基準画
像データの比較演算を行ない、更にその比較の結果をそ
れぞれの２人力画像データか一致していればそれをパル
ス出力として外部に出力する合致パルスｐＨ，Ｐｌ２．
Ｐｌ ３ ・ ・ Ｐｌ７． Ｐ２１． Ｐ２２
・ ・ Ｐ２７ 拳 ・Ｐ３７・・Ｐ７７をシリア
ル入力される画像データごとに演算しシリアル出力する
４９個の論理演算ユニット２２より構成される。
個々の論理演算ユニット２２の構成を第６図のブロック
図を用いて説明する。論理演算ユニット２２は被検査画
像データと基準画像データの２人力の排他的論理和演算
を行なう排他的論理和ユニット２３と排他的論理和ユニ
ット２３からの一致不一致出力を画像データの１画素工
画素に対応した画素クロックを論理積し入力画像データ
が一致していた場合に合致パルスとしてシリアル信号出
力することで外部に知らせる論理積ユニット２４より構
成されている。
図を用いて説明する。論理演算ユニット２２は被検査画
像データと基準画像データの２人力の排他的論理和演算
を行なう排他的論理和ユニット２３と排他的論理和ユニ
ット２３からの一致不一致出力を画像データの１画素工
画素に対応した画素クロックを論理積し入力画像データ
が一致していた場合に合致パルスとしてシリアル信号出
力することで外部に知らせる論理積ユニット２４より構
成されている。
本発明の実施例においては論理演算ユニット２２の動作
を２人力画像データが一致していればそれをパルス出力
として外部に出力する合致パルスを出力するような構成
としたが、不一致であるときにパルス出力として外部に
出力する不一致パルスを出力するような構成としパルス
数が少ない位置を検索することによるパターン照合を行
なうことも可能であるのはもちろんである。
を２人力画像データが一致していればそれをパルス出力
として外部に出力する合致パルスを出力するような構成
としたが、不一致であるときにパルス出力として外部に
出力する不一致パルスを出力するような構成としパルス
数が少ない位置を検索することによるパターン照合を行
なうことも可能であるのはもちろんである。
相関値積算回路１８は、第７図に示すブロック図により
構成され、論理演算回路１７からの各座標位置における
パターン照合の結果である４９カ所の個々の検査座標位
置に対応した４９本の独立した／リアル信号出力である
合致パルスＰ１１゜Ｐｌ２．Ｐｌ３・・Ｐｌ７．Ｐ２１
．Ｐ２２・・Ｐ２７・・Ｐ３７・・Ｐ７７を相関値とし
て積算する部分で４９個の独立したカウンタ２５を具備
する。基準画像のサイズは１２８Ｘ１２８画素以内とし
ているので、この場合、相関値の最大値は１６３８４と
なるため１４ｂｉｔ以上のバイナリカウンタを４９本用
いればよい。
構成され、論理演算回路１７からの各座標位置における
パターン照合の結果である４９カ所の個々の検査座標位
置に対応した４９本の独立した／リアル信号出力である
合致パルスＰ１１゜Ｐｌ２．Ｐｌ３・・Ｐｌ７．Ｐ２１
．Ｐ２２・・Ｐ２７・・Ｐ３７・・Ｐ７７を相関値とし
て積算する部分で４９個の独立したカウンタ２５を具備
する。基準画像のサイズは１２８Ｘ１２８画素以内とし
ているので、この場合、相関値の最大値は１６３８４と
なるため１４ｂｉｔ以上のバイナリカウンタを４９本用
いればよい。
また、第２の実施例における水平候補点検出回路１９は
相関値積算回路１８の個々の相関値がマイクロコンピュ
ータにて事前に設定された検出スレッシュ値との大小を
同時に比較判定することで１水平走査ラインの７座標位
置における相関値の状態を１回のマイクロコンピュータ
１３による状態の読み込みで完了させるために設けられ
たものである。水平候補点検出回路１９の構成を示した
のか第９図のブロック図である。以下、第９図を用いて
水平候補点検出回路１９について説明する。
相関値積算回路１８の個々の相関値がマイクロコンピュ
ータにて事前に設定された検出スレッシュ値との大小を
同時に比較判定することで１水平走査ラインの７座標位
置における相関値の状態を１回のマイクロコンピュータ
１３による状態の読み込みで完了させるために設けられ
たものである。水平候補点検出回路１９の構成を示した
のか第９図のブロック図である。以下、第９図を用いて
水平候補点検出回路１９について説明する。
水平候補点検出回路１９は相関値積算回路１８の個々の
相関値を保持しその相関値をデータ出力する各カウンタ
２５．．２５の値がある相関値よりも大きいのかどうか
基準となる比較値をマイクロコンピュータ１３からのデ
ータ書き込みにより比較値を保持する検出スレッシュ保
持ラッチ２６と、相関値積算回路１８の４９個の相関値
の出力Ｄ１１、Ｄ１２．Ｄ１３・・Ｄ１７．Ｄ２１．Ｄ
２２・・Ｄ２７・・Ｄ３７・・Ｄ７７が検出スレッシュ
保持ランチ２６に保持されている検出スレッシュ値との
大小をそれぞれ独立して比較し、その結果を保持しマイ
クロコンピュータ１３にてその状態を把握することが可
能な４９個の検出回路２７より構成される。４９個の検
出回路２７は７本の水平比較ラインごとにまとめると、
１本の比較ライン内には７地点のパターン照合の結果の
状態を保持していることとなる。この７地点の結果の１
つ１つは検出スレッシュ値との大小を比べた結果である
ので、それぞれの結果を１ｂｉｔの情報と見なし１水平
比較ラインで７ｂｉｔの情報量とすることが出来る。こ
の７ｂｉｔ情報を１つのＩ１０アドレスとして割り付け
ることにより１回のマイクロコンピュータ１３のＩｌｏ
の読み込みで７地点におけるパターン照合の状態を把握
することか可能となる。個々の検出回路２７の構成を第
１０図のブロック図を用いて説明する。検出回路２７は
検出スレッシュ値と相関値の２人力のデータ比較を行な
うデジタルコンパレータ２８と、デジタルコンパレータ
２８から出力される大小比較の結果を保持する結果保持
ラッチ２９より構成される。
相関値を保持しその相関値をデータ出力する各カウンタ
２５．．２５の値がある相関値よりも大きいのかどうか
基準となる比較値をマイクロコンピュータ１３からのデ
ータ書き込みにより比較値を保持する検出スレッシュ保
持ラッチ２６と、相関値積算回路１８の４９個の相関値
の出力Ｄ１１、Ｄ１２．Ｄ１３・・Ｄ１７．Ｄ２１．Ｄ
２２・・Ｄ２７・・Ｄ３７・・Ｄ７７が検出スレッシュ
保持ランチ２６に保持されている検出スレッシュ値との
大小をそれぞれ独立して比較し、その結果を保持しマイ
クロコンピュータ１３にてその状態を把握することが可
能な４９個の検出回路２７より構成される。４９個の検
出回路２７は７本の水平比較ラインごとにまとめると、
１本の比較ライン内には７地点のパターン照合の結果の
状態を保持していることとなる。この７地点の結果の１
つ１つは検出スレッシュ値との大小を比べた結果である
ので、それぞれの結果を１ｂｉｔの情報と見なし１水平
比較ラインで７ｂｉｔの情報量とすることが出来る。こ
の７ｂｉｔ情報を１つのＩ１０アドレスとして割り付け
ることにより１回のマイクロコンピュータ１３のＩｌｏ
の読み込みで７地点におけるパターン照合の状態を把握
することか可能となる。個々の検出回路２７の構成を第
１０図のブロック図を用いて説明する。検出回路２７は
検出スレッシュ値と相関値の２人力のデータ比較を行な
うデジタルコンパレータ２８と、デジタルコンパレータ
２８から出力される大小比較の結果を保持する結果保持
ラッチ２９より構成される。
水平候補点検出回路１９を内蔵していない場合には７座
標位置の相関値の状態の把握に７回の相関値データの読
み込みと、７回９マイクロコンピユータ１３による粗検
出スレツンユ値との大小比較を行わなければならないか
、水平候補点検出回路１９を内蔵することにより１回の
Ｉ１０データの読み込みて、上記の処理内容を行なった
ことに相当するためその分処理時間を短縮することが出
来る。７つの水平走査ラインのそれぞれにこの水平候補
点検出の手段を設けるため、７回の水平候補点検出回路
１９の状態の読み込みで４９回の相関値データの読み込
みと、４９回のマイクロコンピュータ１３による粗検出
スレッシュ値との大小比較を代行することとなり、検出
スレッシュ値との大小比較を行うことによるパターン照
合位置の特定はそれだけ高速に処理を行うことが可能と
なる。
標位置の相関値の状態の把握に７回の相関値データの読
み込みと、７回９マイクロコンピユータ１３による粗検
出スレツンユ値との大小比較を行わなければならないか
、水平候補点検出回路１９を内蔵することにより１回の
Ｉ１０データの読み込みて、上記の処理内容を行なった
ことに相当するためその分処理時間を短縮することが出
来る。７つの水平走査ラインのそれぞれにこの水平候補
点検出の手段を設けるため、７回の水平候補点検出回路
１９の状態の読み込みで４９回の相関値データの読み込
みと、４９回のマイクロコンピュータ１３による粗検出
スレッシュ値との大小比較を代行することとなり、検出
スレッシュ値との大小比較を行うことによるパターン照
合位置の特定はそれだけ高速に処理を行うことが可能と
なる。
マイクロコンピュータ１３による状態の読み込みは１回
の読み込みで１水平走査ラインの７座標位置における相
関値の状態を行うことが可能であると、先に述へたが、
１６ｂｉｔのマイクロコンピュータ１３を用いた場合は
１回のデータ読み込みで２水平走査ラインの７座標位置
における相関値の状態の把握か、３２ｂｉｔのマイクロ
コンピュータ１３を用いた場合は１回のデータ読み込み
で４水平走査ラインの７座標位置における相関値の状態
の把握が可能である。この様に制御に使用するマイクロ
コンピュータ１３及びその接続構成の設計方法により、
１回のデータ読み込みで行える相関値の状態の把握数が
複数の水平走査ラインとなるのはもちろんである。また
、１水平走査ラインのパターン照合ポイントの個数を増
やしたとした場合、１６ｂｉｔのマイクロコンピュータ
１３を用いた場合は１回のデータ読み込みで１６座標位
置までの相関値の状態の把握が、３２ｂｉｔのマイクロ
コンピュータ１３を用いた場合は１回のデータ読み込み
で３２座標位置までの相関値の状態の把握が可能である
。そして、１６ｂｉｔや３２ｂｉｔのマイクロコンピュ
ータ１３を用いた場合は、パターン照合のポイント総数
より水平・垂直方向のパターン照合の個数を上記の点も
考慮した設計を目的とする認識対象の認識精度φ検査範
囲等の諸条件に合わせて行うことも可能である。
の読み込みで１水平走査ラインの７座標位置における相
関値の状態を行うことが可能であると、先に述へたが、
１６ｂｉｔのマイクロコンピュータ１３を用いた場合は
１回のデータ読み込みで２水平走査ラインの７座標位置
における相関値の状態の把握か、３２ｂｉｔのマイクロ
コンピュータ１３を用いた場合は１回のデータ読み込み
で４水平走査ラインの７座標位置における相関値の状態
の把握が可能である。この様に制御に使用するマイクロ
コンピュータ１３及びその接続構成の設計方法により、
１回のデータ読み込みで行える相関値の状態の把握数が
複数の水平走査ラインとなるのはもちろんである。また
、１水平走査ラインのパターン照合ポイントの個数を増
やしたとした場合、１６ｂｉｔのマイクロコンピュータ
１３を用いた場合は１回のデータ読み込みで１６座標位
置までの相関値の状態の把握が、３２ｂｉｔのマイクロ
コンピュータ１３を用いた場合は１回のデータ読み込み
で３２座標位置までの相関値の状態の把握が可能である
。そして、１６ｂｉｔや３２ｂｉｔのマイクロコンピュ
ータ１３を用いた場合は、パターン照合のポイント総数
より水平・垂直方向のパターン照合の個数を上記の点も
考慮した設計を目的とする認識対象の認識精度φ検査範
囲等の諸条件に合わせて行うことも可能である。
これら本実施例による装置においては、水平・垂直のパ
ターン照合の総数を７Ｘ７＝４９ポイントとしたか、５
ｘ５．９ｘ９＋ １１ｘ７，５ｘ１５等の任意の設計
値とすることが可能であるのはもちろんであり、１回の
画像走査期間内でより高速に被検査画像５内のパターン
照合処理を完了させるにはより多数のパターン照合ポイ
ントを設ケれば良いのは明かである。パターン照合ポイ
ントを増すことは、照合の画素間隔を狭くすることが可
能となりより少ないパターン照合回数でパターンの照合
を完了する確率が増すために有利となる。
ターン照合の総数を７Ｘ７＝４９ポイントとしたか、５
ｘ５．９ｘ９＋ １１ｘ７，５ｘ１５等の任意の設計
値とすることが可能であるのはもちろんであり、１回の
画像走査期間内でより高速に被検査画像５内のパターン
照合処理を完了させるにはより多数のパターン照合ポイ
ントを設ケれば良いのは明かである。パターン照合ポイ
ントを増すことは、照合の画素間隔を狭くすることが可
能となりより少ないパターン照合回数でパターンの照合
を完了する確率が増すために有利となる。
本発明の認識装置は粗精検出方法の一つであり、以下ど
のようにして粗い検出より精密な検出に移行して行くの
か粗い検出を行なうときの画素間隔の決定の方法につい
て説明する。第１回目の粗検出は水平画像データ抽出回
路１５・垂直画像データ抽出回路１４ともに８画素間隔
で被検査画像データＶＩＤＴ、ＶＩＨＩ、ＶＩＨ２，Ｖ
ＩＨＳ・・ＶＩＨ６，Ｖ２ＤＴ、Ｖ２Ｈ１・拳・・Ｖ７
ＨＳが出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の
中心位置に７行７列の各検査位置の中心位置（４行４列
目の位置）が対応するように配置して第１回目の粗検出
を行ない、第１回目の４９個の候補点の位置データの相
関値をもとに相関カウント値の中で最大相関値を保持す
る部分に対応する座標位置をもって第２回目の検出を行
う座標位置とする。第２回目以降のパターン照合を行う
ための照合画素間隔は、水平・垂直方向ともに先に行う
粗検出の画素間隔を次回の検査画像範囲が含むように次
回の検出画素間隔を選択すると、パターン照合の検査範
囲を徐々に狭くしていく仮定で、相関値の最大となる座
標位置を検査画像範囲に含んでいたにもかかわらずに見
逃してしまうことはない。
のようにして粗い検出より精密な検出に移行して行くの
か粗い検出を行なうときの画素間隔の決定の方法につい
て説明する。第１回目の粗検出は水平画像データ抽出回
路１５・垂直画像データ抽出回路１４ともに８画素間隔
で被検査画像データＶＩＤＴ、ＶＩＨＩ、ＶＩＨ２，Ｖ
ＩＨＳ・・ＶＩＨ６，Ｖ２ＤＴ、Ｖ２Ｈ１・拳・・Ｖ７
ＨＳが出力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の
中心位置に７行７列の各検査位置の中心位置（４行４列
目の位置）が対応するように配置して第１回目の粗検出
を行ない、第１回目の４９個の候補点の位置データの相
関値をもとに相関カウント値の中で最大相関値を保持す
る部分に対応する座標位置をもって第２回目の検出を行
う座標位置とする。第２回目以降のパターン照合を行う
ための照合画素間隔は、水平・垂直方向ともに先に行う
粗検出の画素間隔を次回の検査画像範囲が含むように次
回の検出画素間隔を選択すると、パターン照合の検査範
囲を徐々に狭くしていく仮定で、相関値の最大となる座
標位置を検査画像範囲に含んでいたにもかかわらずに見
逃してしまうことはない。
従って、一般には水平方向におけるｐ回目のパターン照
合の画素間隔をｄｋｐ、ｐ＋１回目のパターン照合の画
素間隔をｄｋ （１）＋１） 、１水平走査ラインにお
けるパターン照合のポイント数を奇数の値ＨＳとすると
、ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔ｄｋ （ｐ＋１
）は、 ｄＫｐ−ｄｋ（ｐ＋Ｉ）Ｘ（Ｈ５−１）／２≦Ｏ・・・
・・・（１）を満たすような値の中で、最も小さな値を
選ぶことが粗検出の処理回数をより少ない回数にて、検
査画像範囲を収束するため効率的な選択の方法である。
合の画素間隔をｄｋｐ、ｐ＋１回目のパターン照合の画
素間隔をｄｋ （１）＋１） 、１水平走査ラインにお
けるパターン照合のポイント数を奇数の値ＨＳとすると
、ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔ｄｋ （ｐ＋１
）は、 ｄＫｐ−ｄｋ（ｐ＋Ｉ）Ｘ（Ｈ５−１）／２≦Ｏ・・・
・・・（１）を満たすような値の中で、最も小さな値を
選ぶことが粗検出の処理回数をより少ない回数にて、検
査画像範囲を収束するため効率的な選択の方法である。
垂直方向のパターン照合の画素間隔の効率的な選択の仕
方も同様である。
方も同様である。
よって、本実施例の場合は、ｄｋｌ＝８．ＨＳ＝７であ
るので、第２回目のパターン照合を行うための照合画素
間隔ｄｋ２は式（１）より、８−ｄｋ２Ｘ（７−１）／
２≦０・・・・・・（２）これをｄｋ２について変形し
、 ｄｋ２ ≧８Ｘ２／（７−１）＝１６／２：２．７・−
・・−（３）よって、上記の式（３）を満たす最小の整
数値より、ｄｋ２＝３を得る。第３回目のパターン照合
を行うための照合画素間隔ｄｋ３は、ｄｋ２＝３゜ＨＳ
＝７であるので、式（１）に代入することより同様にｄ
ｋ３＝１を得る。垂直方向の第２回目のパターン照合画
素間隔ｄｊ２は、ｄｊｌ＝８゜ＶＳ＝７で水平方向の場
合と同様なのでｄｊ２＝３を、第３回目のパターン照合
を行うための照合画素間隔ｄｊ３は、ｄｊ２＝３．ＶＳ
＝７であるので、式（１）より同様にｄｊ３＝１を得る
以下、検出の動作について説明する。
るので、第２回目のパターン照合を行うための照合画素
間隔ｄｋ２は式（１）より、８−ｄｋ２Ｘ（７−１）／
２≦０・・・・・・（２）これをｄｋ２について変形し
、 ｄｋ２ ≧８Ｘ２／（７−１）＝１６／２：２．７・−
・・−（３）よって、上記の式（３）を満たす最小の整
数値より、ｄｋ２＝３を得る。第３回目のパターン照合
を行うための照合画素間隔ｄｋ３は、ｄｋ２＝３゜ＨＳ
＝７であるので、式（１）に代入することより同様にｄ
ｋ３＝１を得る。垂直方向の第２回目のパターン照合画
素間隔ｄｊ２は、ｄｊｌ＝８゜ＶＳ＝７で水平方向の場
合と同様なのでｄｊ２＝３を、第３回目のパターン照合
を行うための照合画素間隔ｄｊ３は、ｄｊ２＝３．ＶＳ
＝７であるので、式（１）より同様にｄｊ３＝１を得る
以下、検出の動作について説明する。
第１回目の粗検出のために水平画像データ抽出回路１５
及び垂直画像データ抽出回路１４ヘマイクロコンピユー
タ１３より水平・垂直方向ともに８画素間隔にて被検査
画像データが出力されるようにデータ設定する。また、
被検査画像の検査範囲の中心位置に７行７列のパターン
照合の各検査位置の中心位置（４行４列目）が配置され
るように基準画像データの出力位置をマイクロコンピュ
ータ１３により制御する。パターン照合の各検査位置の
中心位置（４行４列目）が配置されるように基準画像デ
ータの出力位置を制御するとは、具体的には第３図に示
す４行４列目の可変長画素・シフトレジスタ２１から出
力される被検査画像データにおいて、第７図に示した部
分画像６を検査したい中心位置に配置したとして、その
配置したｍ行ｎ列の部分画像６の第１行第１列目の画像
データが出力される走査タイミングに合わせて基準画像
７の第１行第１列目の画像データを出力するということ
である。従って、配置した部分画像６の上下左右には同
じｍ行ｎ列の部分画像６がそれぞれ８画素間隔て配置さ
れていることになる。
及び垂直画像データ抽出回路１４ヘマイクロコンピユー
タ１３より水平・垂直方向ともに８画素間隔にて被検査
画像データが出力されるようにデータ設定する。また、
被検査画像の検査範囲の中心位置に７行７列のパターン
照合の各検査位置の中心位置（４行４列目）が配置され
るように基準画像データの出力位置をマイクロコンピュ
ータ１３により制御する。パターン照合の各検査位置の
中心位置（４行４列目）が配置されるように基準画像デ
ータの出力位置を制御するとは、具体的には第３図に示
す４行４列目の可変長画素・シフトレジスタ２１から出
力される被検査画像データにおいて、第７図に示した部
分画像６を検査したい中心位置に配置したとして、その
配置したｍ行ｎ列の部分画像６の第１行第１列目の画像
データが出力される走査タイミングに合わせて基準画像
７の第１行第１列目の画像データを出力するということ
である。従って、配置した部分画像６の上下左右には同
じｍ行ｎ列の部分画像６がそれぞれ８画素間隔て配置さ
れていることになる。
次に、４９個の相関値積算回路１８のカウント値をすべ
てクリアしパターン照合を開始する。第１回目のパター
ン照合の後、相関値積算回路１８内の各カウンタ２５の
相関データを読み込みその中で最大値となる相関データ
を検索すると共にその最大相関値を保持していたパター
ン照合座標位置を算出し、８画素間隔での粗検出スレッ
シュ値よりも大きい値であれば前記最大相関値を保持し
ていたパターン照合座標位置を第２回目の検出を行なう
座標位置とする。次に、第２回目のパターン照合の準備
として、水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像デー
タ抽出回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より水平・
垂直方向ともに３画素間隔にて被検査画像データが出力
されるようにデータ設定し、第１回目のパターン照合処
理にて算出された座標位置を中心にパターン照合が行わ
れるように、基準画像データの出力位置を各検査位置の
中心位置（４行４列目）が配置されるように制御し、検
出スレンシュ値を設定し、４９個の相関値積算回路１８
のカウント値をすべてクリアし第２回目のパターン照合
を開始する。
てクリアしパターン照合を開始する。第１回目のパター
ン照合の後、相関値積算回路１８内の各カウンタ２５の
相関データを読み込みその中で最大値となる相関データ
を検索すると共にその最大相関値を保持していたパター
ン照合座標位置を算出し、８画素間隔での粗検出スレッ
シュ値よりも大きい値であれば前記最大相関値を保持し
ていたパターン照合座標位置を第２回目の検出を行なう
座標位置とする。次に、第２回目のパターン照合の準備
として、水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像デー
タ抽出回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より水平・
垂直方向ともに３画素間隔にて被検査画像データが出力
されるようにデータ設定し、第１回目のパターン照合処
理にて算出された座標位置を中心にパターン照合が行わ
れるように、基準画像データの出力位置を各検査位置の
中心位置（４行４列目）が配置されるように制御し、検
出スレンシュ値を設定し、４９個の相関値積算回路１８
のカウント値をすべてクリアし第２回目のパターン照合
を開始する。
第２回目のパターン照合の後、相関データを読み込みそ
の中で最大値となるデータを検索すると共にその最大相
関値を保持していたパターン照合座標位置を算出する。
の中で最大値となるデータを検索すると共にその最大相
関値を保持していたパターン照合座標位置を算出する。
次に、第３回目のパターン照合の準備として、水平画像
データ抽出回路１５及び垂直画像データ抽出回路１４ヘ
マイクロコンピユータ１３より水平・垂直方向ともに１
画素間隔にて被検査画像データが出力されるようにデー
タ設定し、第２回目のパターン照合処理にて算出された
座標位置を中心にパターン照合が行われるように、基準
画像データの出力位置を各検査位置の中心位置（４行４
列目）が配置されるように制御し、検出スレッシュ値を
設定し、４９個の相関値積算回路１８のカウント値をす
べてクリアし第３回目のパターン照合を開始する。
データ抽出回路１５及び垂直画像データ抽出回路１４ヘ
マイクロコンピユータ１３より水平・垂直方向ともに１
画素間隔にて被検査画像データが出力されるようにデー
タ設定し、第２回目のパターン照合処理にて算出された
座標位置を中心にパターン照合が行われるように、基準
画像データの出力位置を各検査位置の中心位置（４行４
列目）が配置されるように制御し、検出スレッシュ値を
設定し、４９個の相関値積算回路１８のカウント値をす
べてクリアし第３回目のパターン照合を開始する。
第３回目のパターン照合の後、相関値積算回路１８内の
データをマイクロコンピュータ１３により読み込み、デ
ータの中で最大値となるデータを検索すると共にその最
大相関値が所定の検出スレンツユ値よりも大きい値であ
れば前記最大相関値を保持した部分に対応したパターン
照合座標位置を算出し、その座標位置を検出位置とする
。
データをマイクロコンピュータ１３により読み込み、デ
ータの中で最大値となるデータを検索すると共にその最
大相関値が所定の検出スレンツユ値よりも大きい値であ
れば前記最大相関値を保持した部分に対応したパターン
照合座標位置を算出し、その座標位置を検出位置とする
。
また、第２の実施例において４９個の相関値積算回路１
８のカウント値をすべてクリアして水平候補点検出回路
１９の検出スレッシュ保持ラッチ２６に８画素間隔での
粗検出用スレッシュ値をセゾトし４９個全ての結果保持
ランチ２９をクリアして、パターン照合を開始する。
８のカウント値をすべてクリアして水平候補点検出回路
１９の検出スレッシュ保持ラッチ２６に８画素間隔での
粗検出用スレッシュ値をセゾトし４９個全ての結果保持
ランチ２９をクリアして、パターン照合を開始する。
第１回目のパターン照合の後、水平候補点検出回路１９
の７本の結果保持ラッチ２９の内容を読み込み８画素間
隔での粗検出用スレッシュ値よりも大きな相関値を保持
している相関値積算回路１８内のカウンタ２５を特定し
複数存在すればそれらのカウンタ２５の相関データを読
み込みその中で最大値となる相関データを検索すると共
にその最大相関値を保持していたパターン照合座標位置
に対応する座標位置を算出し、第２回目の検出を行なう
座標位置とする。次に、第２回目のパターン照合の準備
として、水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像デー
タ抽出回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より前記画
素間隔の決定方法に従い水平−垂直方向ともに３画素間
隔にて被検査画像データが出力されるようにデータ設定
し、第１回目のパターン照合処理にて算出された座標位
置を中心に７行７列のパターン照合が行われるように、
基準画像データの出力位置を各検査位置の中心位置（４
行４列目）が配置されるように制御し、４９個の相関値
積算回路１８のカウント値をすべてクリアして水平候補
点検出回路１９の検出スレッシュ保持ラッチ２６に３画
素間隔での粗検出用スレッンユ値をセットし４９個全て
の結果保持ラッチ２９をクリアして、第２回目のパター
ン照合を開始する。
の７本の結果保持ラッチ２９の内容を読み込み８画素間
隔での粗検出用スレッシュ値よりも大きな相関値を保持
している相関値積算回路１８内のカウンタ２５を特定し
複数存在すればそれらのカウンタ２５の相関データを読
み込みその中で最大値となる相関データを検索すると共
にその最大相関値を保持していたパターン照合座標位置
に対応する座標位置を算出し、第２回目の検出を行なう
座標位置とする。次に、第２回目のパターン照合の準備
として、水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像デー
タ抽出回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より前記画
素間隔の決定方法に従い水平−垂直方向ともに３画素間
隔にて被検査画像データが出力されるようにデータ設定
し、第１回目のパターン照合処理にて算出された座標位
置を中心に７行７列のパターン照合が行われるように、
基準画像データの出力位置を各検査位置の中心位置（４
行４列目）が配置されるように制御し、４９個の相関値
積算回路１８のカウント値をすべてクリアして水平候補
点検出回路１９の検出スレッシュ保持ラッチ２６に３画
素間隔での粗検出用スレッンユ値をセットし４９個全て
の結果保持ラッチ２９をクリアして、第２回目のパター
ン照合を開始する。
第２回目のパターン照合の後、水平候補点検出回路１９
の７本の結果保持ラッチ２９の内容を読み込み３画素間
隔での粗検出用スレッシュ値よりも大きな相関値を保持
している相関値積算回路１８内のカウンタ２５を特定し
複数存在すればそれらのカウンタ２５の相関データを読
み込みその中で最大値となるデータを検索すると共にそ
の最大相関値を保持していたパターン照合座標位置に対
応する座標位置を算出し、第３回目の検出を行なう座標
位置とする。次に、第３回目のパターン照合の準備とし
て、水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像データ抽
出回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より水平０垂直
方向ともに１画素間隔にて被検査画像データが出力され
るようにデータ設定し、第２回目のパターン照合処理に
て算出された座標位置を中心に７行７列のパターン照合
が行われるように、基準画像データの出力位置を各検査
位置の中心位置（４行４列目）が配置されるように制御
し、水平候補点検出回路１９の検出スレッシュ保持ラッ
チ２６に３画素間隔での検出スレッシュ値を設定し、４
９個の相関値積算回路１８のカウント値をすべてクリア
し第３回目のパターン照合を開始する。
の７本の結果保持ラッチ２９の内容を読み込み３画素間
隔での粗検出用スレッシュ値よりも大きな相関値を保持
している相関値積算回路１８内のカウンタ２５を特定し
複数存在すればそれらのカウンタ２５の相関データを読
み込みその中で最大値となるデータを検索すると共にそ
の最大相関値を保持していたパターン照合座標位置に対
応する座標位置を算出し、第３回目の検出を行なう座標
位置とする。次に、第３回目のパターン照合の準備とし
て、水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像データ抽
出回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より水平０垂直
方向ともに１画素間隔にて被検査画像データが出力され
るようにデータ設定し、第２回目のパターン照合処理に
て算出された座標位置を中心に７行７列のパターン照合
が行われるように、基準画像データの出力位置を各検査
位置の中心位置（４行４列目）が配置されるように制御
し、水平候補点検出回路１９の検出スレッシュ保持ラッ
チ２６に３画素間隔での検出スレッシュ値を設定し、４
９個の相関値積算回路１８のカウント値をすべてクリア
し第３回目のパターン照合を開始する。
第３回目のパターン照合の後、水平候補点検出回路１９
の７本の結果保持ラッチ２θの内容を読み込み３画素間
隔での粗検出用スレッシュ値よりも大きな相関値を保持
している相関値積算回路１８内のカウンタ２５を特定し
複数存在すればそれらのカウンタ２５の相関データを読
み込みその中で最大値となるデータを検索すると共にそ
の最大相関値を保持していたパターン照合座標位置に対
応する座標位置を算出し、その座標位置を検出位置とす
る。
の７本の結果保持ラッチ２θの内容を読み込み３画素間
隔での粗検出用スレッシュ値よりも大きな相関値を保持
している相関値積算回路１８内のカウンタ２５を特定し
複数存在すればそれらのカウンタ２５の相関データを読
み込みその中で最大値となるデータを検索すると共にそ
の最大相関値を保持していたパターン照合座標位置に対
応する座標位置を算出し、その座標位置を検出位置とす
る。
次に本発明の第３の実施例については第８図を用いて説
明する。
明する。
第１の実施例では水平候補点検出回路１９のデータをマ
イクロコンピュータ１３にて読み込むことによりパター
ン照合位置における状態を把握し相関値の最大値を検索
した。第８図には本実施例における認識装置のブロック
図が示されている。
イクロコンピュータ１３にて読み込むことによりパター
ン照合位置における状態を把握し相関値の最大値を検索
した。第８図には本実施例における認識装置のブロック
図が示されている。
第２の実施例においては第１の実施例の第１図の装置と
比べて、候補点検出回路１０が更に加えられたことが異
なっているのみで、他の構成部については同一である。
比べて、候補点検出回路１０が更に加えられたことが異
なっているのみで、他の構成部については同一である。
よって、本実施例の装置を構成する２値化回路１２．垂
直画像データ抽出回路１４、水平画像データ抽出回路１
５．基準画像パターン記憶回路１６．論理演算回路１７
．相関値積算回路１８についての説明は第１の実施例に
おいての説明と重複するので省略する。
直画像データ抽出回路１４、水平画像データ抽出回路１
５．基準画像パターン記憶回路１６．論理演算回路１７
．相関値積算回路１８についての説明は第１の実施例に
おいての説明と重複するので省略する。
候補点検出回路１０は水平候補点検出回路１９の複数位
置に於ける相関値データの状態を１回のデータ入力にて
把握できるよう水平候補点検出回路１９の７本の各水平
比較ラインごとにまとめた結果保持ラッチ２９の出力に
おいて検出スレッシュ保持ラッチ２６に設定した値より
も大きかった値を持つ結果保持ラッチ２９が７本の各水
平比較ラインの中で１つでもあればその状態を各水平比
較ラインにおける情報として保持することでマイクロコ
ンピュータ１３に検出スレッシュ値を越えるパターン照
合座標位置が４９地点の中にあったことをより少ないマ
イクロコンピュータ１３によるデータ読み込み動作にて
パターン照合を行なった座標位置全体の状態をより集約
された情報として把握するために設けたものである。候
補点検出回路１０の構成を示したのが第１１図のブロッ
ク図である。７本の各水平比較ラインからの結果保持ラ
ッチ２９の出力Ｑｌｌ、Ｑ１２．Ｑ１３・・Ｑ１７．Ｑ
２１．Ｑ２２・・Ｑ２７・・Ｑ３７・・Ｑ７７は各水平
比較ライン内の７ｂｉｔを１まとまりとして論理和する
ことで各水平比較ライン内に検出スレッシュ値を越える
相関値を保持したものがあるのか無いのか、その存在の
有無を１水平比較ラインにおける情報を１ｂｉｔの情報
として７水平比較ラインの状態を７つのライン検出回路
３０に保持させる。すなわち、第１１図に示すように（
Ｑｌｌ、Ｑ１２．Ｑ１３．、Ｑ１７）、 （Ｑ２１．
Ｑ２２．Ｑ２３．、Ｑ２７）、（Ｑ３１゜Ｑ３２．Ｑ３
３．、Ｑ３７）、、、（Ｑ７１．Ｑ７２、Ｑ７３．、Ｑ
７７）の各７ｂｉｔ入力をそれぞれに論理和し、更にそ
の結果を７つのライン検出回路３０で１水平比較ライン
の情報を１ｂｉｔの情報として保持させる。本実施例に
おいては７水平比較ライン設けているので各水平比較ラ
インの情報を７ｂｉｔとすることができ、１回のマイク
ロコンピュータ１３によるＩｌｏのデータ読み込みにて
全パターン照合位置においての検出スレッシュ値を越え
る座標位置の有無を把握することか可能となる。
置に於ける相関値データの状態を１回のデータ入力にて
把握できるよう水平候補点検出回路１９の７本の各水平
比較ラインごとにまとめた結果保持ラッチ２９の出力に
おいて検出スレッシュ保持ラッチ２６に設定した値より
も大きかった値を持つ結果保持ラッチ２９が７本の各水
平比較ラインの中で１つでもあればその状態を各水平比
較ラインにおける情報として保持することでマイクロコ
ンピュータ１３に検出スレッシュ値を越えるパターン照
合座標位置が４９地点の中にあったことをより少ないマ
イクロコンピュータ１３によるデータ読み込み動作にて
パターン照合を行なった座標位置全体の状態をより集約
された情報として把握するために設けたものである。候
補点検出回路１０の構成を示したのが第１１図のブロッ
ク図である。７本の各水平比較ラインからの結果保持ラ
ッチ２９の出力Ｑｌｌ、Ｑ１２．Ｑ１３・・Ｑ１７．Ｑ
２１．Ｑ２２・・Ｑ２７・・Ｑ３７・・Ｑ７７は各水平
比較ライン内の７ｂｉｔを１まとまりとして論理和する
ことで各水平比較ライン内に検出スレッシュ値を越える
相関値を保持したものがあるのか無いのか、その存在の
有無を１水平比較ラインにおける情報を１ｂｉｔの情報
として７水平比較ラインの状態を７つのライン検出回路
３０に保持させる。すなわち、第１１図に示すように（
Ｑｌｌ、Ｑ１２．Ｑ１３．、Ｑ１７）、 （Ｑ２１．
Ｑ２２．Ｑ２３．、Ｑ２７）、（Ｑ３１゜Ｑ３２．Ｑ３
３．、Ｑ３７）、、、（Ｑ７１．Ｑ７２、Ｑ７３．、Ｑ
７７）の各７ｂｉｔ入力をそれぞれに論理和し、更にそ
の結果を７つのライン検出回路３０で１水平比較ライン
の情報を１ｂｉｔの情報として保持させる。本実施例に
おいては７水平比較ライン設けているので各水平比較ラ
インの情報を７ｂｉｔとすることができ、１回のマイク
ロコンピュータ１３によるＩｌｏのデータ読み込みにて
全パターン照合位置においての検出スレッシュ値を越え
る座標位置の有無を把握することか可能となる。
候補点検出回路１０は水平候補点検出回路１９からの４
９ポイントの座標位置における相関値の状態の把握を更
に集約して、パターン照合を行っている検査範囲の４９
個全体の相関値の状態を１回のマイクロコンピュータ１
３によるデータ読み込みで把握し、マイクロコンピュー
タ１３によるソフトウェアで行っても差し支えない比較
判定処理を高速に処理するために設けたものである。に
述べたが、１６ｂｉｔのマイクロコンピュータ１３を用
いた場合は１回のデータ読み込みで２水平走査ラインの
７座標位置における相関値の状態の把握が、３２ｂｉｔ
のマイクロコンピュータ１３を用いた場合は１回のデー
タ読み込みで４水平走査ラインの７座標位置における相
関値の状態の把握が可能である。この様に制御に使用す
るマイクロコンピュータ１３及びその接続構成の設計に
より、１回のデータ読み込みで行える相関値の状態の把
握数が複数の水平走査ラインとなるのはもちろんである
。
９ポイントの座標位置における相関値の状態の把握を更
に集約して、パターン照合を行っている検査範囲の４９
個全体の相関値の状態を１回のマイクロコンピュータ１
３によるデータ読み込みで把握し、マイクロコンピュー
タ１３によるソフトウェアで行っても差し支えない比較
判定処理を高速に処理するために設けたものである。に
述べたが、１６ｂｉｔのマイクロコンピュータ１３を用
いた場合は１回のデータ読み込みで２水平走査ラインの
７座標位置における相関値の状態の把握が、３２ｂｉｔ
のマイクロコンピュータ１３を用いた場合は１回のデー
タ読み込みで４水平走査ラインの７座標位置における相
関値の状態の把握が可能である。この様に制御に使用す
るマイクロコンピュータ１３及びその接続構成の設計に
より、１回のデータ読み込みで行える相関値の状態の把
握数が複数の水平走査ラインとなるのはもちろんである
。
本実施例による装置においては水平・垂直のパターン照
合の総数を７Ｘ７＝４９ポイントとしたが、９Ｘ９，１
１Ｘ７．５Ｘ１５等の任意の設計値とすることが可能で
あるのはもちろんであり、１回の画像走査期間内でより
高速に被検査画像内のパターン照合処理を完了させるに
はより多数のパターン照合ポイントを設ければ良いのは
明かである。パターン照合ポイントを増すことは、より
少ないパターン照合回数でパターンの照合を完了する確
率が増すためにを利となる。
合の総数を７Ｘ７＝４９ポイントとしたが、９Ｘ９，１
１Ｘ７．５Ｘ１５等の任意の設計値とすることが可能で
あるのはもちろんであり、１回の画像走査期間内でより
高速に被検査画像内のパターン照合処理を完了させるに
はより多数のパターン照合ポイントを設ければ良いのは
明かである。パターン照合ポイントを増すことは、より
少ないパターン照合回数でパターンの照合を完了する確
率が増すためにを利となる。
本発明において、どのようにして粗い検出より精密な検
出に移行して行くのか、粗い検出を行なうときの画素間
隔の決定方法は第１の実施例と同様であるので本件につ
いての説明は省略する。
出に移行して行くのか、粗い検出を行なうときの画素間
隔の決定方法は第１の実施例と同様であるので本件につ
いての説明は省略する。
以下、検出の動作について説明する。第１回目の粗検出
のために水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像デー
タ抽出回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より水平・
垂直方向ともに８画素間隔にて被検査画像データが出力
されるようにデータ設定する。また、被検査画像５の検
査範囲の中心位置に７行７列のパターン照合の各検査位
置の中心位置（４行４列目）が配置されるように基準画
像データの出力位置をマイクロコンピュータ１３により
制御する。パターン照合の各検査位置の中心位置（４行
４列目）が配置されるように基準画像データの出力位置
を制御するとは、具体的には第４図に示す４行４列目の
可変長画素シフトレジスタ２１から出力される被検査画
像データにおいて、第２図の部分画像６を検査したい中
心位置に配置したとして、その配置した１２８行×１２
８列の部分画像６の第１行第１列目の画像データが出力
される走査タイミングに合わせて基準画像データ７の第
１行第１列目の画像データを出力するということである
。従って、配置した部分画像６の上下左右には同じ１２
８行×１２８列の部分画像６がそれぞれ８画素間隔で配
置されていることになる。次に、４９個の相関値積算回
路１８のカウント値をすへてクリアして水平候補点検出
回路１９の検出スレッシュ保持ラッチ２６に８画素間隔
での粗検出用スレッシュ値をセットし４９個全ての結果
保持ラッチ２９をクリアし候補点検出回路１０の７ｂｉ
ｔ全てのライン検出回路３０をクリアして、パターン照
合を開始する。
のために水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像デー
タ抽出回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より水平・
垂直方向ともに８画素間隔にて被検査画像データが出力
されるようにデータ設定する。また、被検査画像５の検
査範囲の中心位置に７行７列のパターン照合の各検査位
置の中心位置（４行４列目）が配置されるように基準画
像データの出力位置をマイクロコンピュータ１３により
制御する。パターン照合の各検査位置の中心位置（４行
４列目）が配置されるように基準画像データの出力位置
を制御するとは、具体的には第４図に示す４行４列目の
可変長画素シフトレジスタ２１から出力される被検査画
像データにおいて、第２図の部分画像６を検査したい中
心位置に配置したとして、その配置した１２８行×１２
８列の部分画像６の第１行第１列目の画像データが出力
される走査タイミングに合わせて基準画像データ７の第
１行第１列目の画像データを出力するということである
。従って、配置した部分画像６の上下左右には同じ１２
８行×１２８列の部分画像６がそれぞれ８画素間隔で配
置されていることになる。次に、４９個の相関値積算回
路１８のカウント値をすへてクリアして水平候補点検出
回路１９の検出スレッシュ保持ラッチ２６に８画素間隔
での粗検出用スレッシュ値をセットし４９個全ての結果
保持ラッチ２９をクリアし候補点検出回路１０の７ｂｉ
ｔ全てのライン検出回路３０をクリアして、パターン照
合を開始する。
第１回目のパターン照合の後、候補点検出回路１０内の
ライン検出回路３０の内容をマイクロコンピュータ１３
が読み込み事前に設定された第１回目の粗検出スレッシ
ュ値を越える検出位置の候補点が存在するかを調べ、存
在していた場合に存在を示している水平比較ラインの水
平候補点検出回路１９内の対応する結果保持ラッチ２９
の情報を読み込み、その情報に対応するパターン照合座
標位置における相関値を保持しているカウンタ２５より
、第１回目のパターン照合を行なった複数の候補点の相
関値の中で粗検出スレッシュ値よりも大きな相関値を保
持している相関値カウンタ２５の中で最大相関値を保持
する部分に対応したパターン照合座標位置をもって、次
回のパターン照合の中心位置とする。次に、第２回目の
パターン照合の準備として水平画像データ抽出回路１５
及び垂直画像データ抽出回路１４ヘマイクロコンピユー
タ１３より水平・垂直方向ともに３画素間隔にて被検査
画像データが出力されるようにデータ設定し、第１回目
のパターン照合処理にて算出された座標位置を中心にパ
ターン照合が行なわれるように、基準画像データの出力
位置を各検査位置の中心位置（４行４列目）が配置され
るように制御し、検出スレッシュ値を設定し４９個の相
関値積算回路１８のカウント値をすべてクリアして水平
候補点検出回路１９の検出スレッシュ保持ラッチ２６に
３画素間隔での粗検出用スレッシュ値をセットし４９個
全ての結果保持ラッチ２９をクリアし候補点検出回路１
００７ｂｉｔ全てのライン検出回路３０をクリアして、
第２回目のパターン照合を開始する。
ライン検出回路３０の内容をマイクロコンピュータ１３
が読み込み事前に設定された第１回目の粗検出スレッシ
ュ値を越える検出位置の候補点が存在するかを調べ、存
在していた場合に存在を示している水平比較ラインの水
平候補点検出回路１９内の対応する結果保持ラッチ２９
の情報を読み込み、その情報に対応するパターン照合座
標位置における相関値を保持しているカウンタ２５より
、第１回目のパターン照合を行なった複数の候補点の相
関値の中で粗検出スレッシュ値よりも大きな相関値を保
持している相関値カウンタ２５の中で最大相関値を保持
する部分に対応したパターン照合座標位置をもって、次
回のパターン照合の中心位置とする。次に、第２回目の
パターン照合の準備として水平画像データ抽出回路１５
及び垂直画像データ抽出回路１４ヘマイクロコンピユー
タ１３より水平・垂直方向ともに３画素間隔にて被検査
画像データが出力されるようにデータ設定し、第１回目
のパターン照合処理にて算出された座標位置を中心にパ
ターン照合が行なわれるように、基準画像データの出力
位置を各検査位置の中心位置（４行４列目）が配置され
るように制御し、検出スレッシュ値を設定し４９個の相
関値積算回路１８のカウント値をすべてクリアして水平
候補点検出回路１９の検出スレッシュ保持ラッチ２６に
３画素間隔での粗検出用スレッシュ値をセットし４９個
全ての結果保持ラッチ２９をクリアし候補点検出回路１
００７ｂｉｔ全てのライン検出回路３０をクリアして、
第２回目のパターン照合を開始する。
第２回目のパターン照合の後、候補点検出回路１０の内
容をマイクロコンピュータ１３が読み込み事前に設定さ
れた第１回目の粗検出スレッシュ値を越える検出位置の
候補点が存在するかを調べ、存在していた場合に存在を
示している水平比較ラインの水平候補点検出回路１９内
の対応する結果保持ラッチ２９の情報を読み込み、その
情報に対応するパターン照合座標位置における相関値を
保持しているカウンタ２５より、第２回目のパターン照
合を行なった複数の候補点の相関値の中で粗検出スレッ
シュ値よりも大きな相関値を保持している相関値カウン
タ２５の中で最大相関値を保持する部分に対応したパタ
ーン照合座標位置をもって、次回のパターン照合の中心
位置とする。次に、第３回目のパターン照合の準備とし
て水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像データ抽出
回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より水平・垂直方
向ともに３画素間隔にて被検査画像データが出力される
ようにデータ設定し、第１回目のパターン照合処理にて
算出された座標位置を中心にパターン照合が行なわれる
ように、基準画像データの出力位置を各検査位置の中心
位置（４行４列目）が配置されるように制御し、検出ス
レッシュ値を設定し４９個の相関値積算回路１８のカウ
ント値をすへてクリアして水平候補点検出回路１９の検
出スレッシュ保持ラッチ２６に１画素間隔での粗検出用
スレソンユ値をセントし４９個全ての結果保持ラッチ２
９をクリアし候補点検出回路１０の７ｂｉｔ全てのライ
ン検出回路３０をクリアして、第３回目のパターン照合
を開始する。
容をマイクロコンピュータ１３が読み込み事前に設定さ
れた第１回目の粗検出スレッシュ値を越える検出位置の
候補点が存在するかを調べ、存在していた場合に存在を
示している水平比較ラインの水平候補点検出回路１９内
の対応する結果保持ラッチ２９の情報を読み込み、その
情報に対応するパターン照合座標位置における相関値を
保持しているカウンタ２５より、第２回目のパターン照
合を行なった複数の候補点の相関値の中で粗検出スレッ
シュ値よりも大きな相関値を保持している相関値カウン
タ２５の中で最大相関値を保持する部分に対応したパタ
ーン照合座標位置をもって、次回のパターン照合の中心
位置とする。次に、第３回目のパターン照合の準備とし
て水平画像データ抽出回路１５及び垂直画像データ抽出
回路１４ヘマイクロコンピユータ１３より水平・垂直方
向ともに３画素間隔にて被検査画像データが出力される
ようにデータ設定し、第１回目のパターン照合処理にて
算出された座標位置を中心にパターン照合が行なわれる
ように、基準画像データの出力位置を各検査位置の中心
位置（４行４列目）が配置されるように制御し、検出ス
レッシュ値を設定し４９個の相関値積算回路１８のカウ
ント値をすへてクリアして水平候補点検出回路１９の検
出スレッシュ保持ラッチ２６に１画素間隔での粗検出用
スレソンユ値をセントし４９個全ての結果保持ラッチ２
９をクリアし候補点検出回路１０の７ｂｉｔ全てのライ
ン検出回路３０をクリアして、第３回目のパターン照合
を開始する。
第３回目のパターン照合の後、候補点検出回路１０の内
容をマイクロコンピュータ１３が読み込み事前に設定さ
れた第１回目の粗検出スレッシュ値を越える検出位置の
候補点が存在するかを調べ、存在していた場合に存在を
示している水平比較ラインの水平候補点検出回路１９内
の対応する結果保持ラッチ２９の情報を読み込み、その
情報に対応するパターン照合座標位置における相関値を
保持しているカウンタ２５より、第３回目のパターン照
合を行なった複数の候補点の相関値の中で粗検出スレソ
ンユ値よりも大きな相関値を保持している相関値カウン
タ２５の中で最大相関値を保持していたパターン照合座
標位置に対応する座標位置を算出し、その座標位置を検
出位置とする。
容をマイクロコンピュータ１３が読み込み事前に設定さ
れた第１回目の粗検出スレッシュ値を越える検出位置の
候補点が存在するかを調べ、存在していた場合に存在を
示している水平比較ラインの水平候補点検出回路１９内
の対応する結果保持ラッチ２９の情報を読み込み、その
情報に対応するパターン照合座標位置における相関値を
保持しているカウンタ２５より、第３回目のパターン照
合を行なった複数の候補点の相関値の中で粗検出スレソ
ンユ値よりも大きな相関値を保持している相関値カウン
タ２５の中で最大相関値を保持していたパターン照合座
標位置に対応する座標位置を算出し、その座標位置を検
出位置とする。
金脈立塾果
以上、説明したように本発明のパターン認識方法あるい
はその装置によれば、基準画像パターンのサイズを任意
に設定が可能となり従来不可能に近かった認識対象の位
置検出が可能となった。更に、任意サイズの基準画像パ
ターンを設定することが可能となったために、登録にお
ける作業を容易とするとともに、大きな被検査画像エリ
アにおいてパターンマツチングを行なっても処理時間を
増すことなく高速に位置検出が可能となった。
はその装置によれば、基準画像パターンのサイズを任意
に設定が可能となり従来不可能に近かった認識対象の位
置検出が可能となった。更に、任意サイズの基準画像パ
ターンを設定することが可能となったために、登録にお
ける作業を容易とするとともに、大きな被検査画像エリ
アにおいてパターンマツチングを行なっても処理時間を
増すことなく高速に位置検出が可能となった。
第１図は本発明に係るパターン認識装置の第１の実施例
の構成を示したブロック図、第２図は同じく第２の実施
例の構成を示したブロック図、第３図は本発明の実施例
における垂直画像データ抽出回路の構成を説明したブロ
ック図、第４図は同じく水平画像データ抽出回路の構成
を説明したブロック図、第５図は同じく論理演算回路の
構成を説明したブロック図、第６図は同じく論理演算回
路の各論理演算ユニットの構成を説明したブロック図、
第７図は同じく相関値積算回路の構成を説明したブロッ
ク図、第８図は本発明の第３の実施例の構成を示したブ
ロック図、第９図は第８図の実施例における水平候補点
検出回路の構成を説明したブロック図、第１０図は同じ
く水平候補点検出回路の各検出回路の構成を説明したブ
ロック図、第１１図は同じく候補点検出回路の構成を説
明したブロック図、及び、第１２図は本発明の前提とな
るパターンマツチング処理の概略図である。 １０・・・・・・候補点検出回路、 １１・・・・・・撮像装置、 １２・・・・・・２値化回路、 １３・・・・・・マイクロコンピュータ、１４・・・・
・・垂直画像データ抽出回路、１５・・・・・・水平画
像データ抽出回路、１６・・・・・・基準画像パターン
記憶回路、１７・・・・・・論理演算回路、 １８・・・・・・相関値積算回路、 １９・・・・・・水平候補点検出回路。 第３ 図 躯 へ ｌＥｈ 計 ）ト １ 。 ＄ 鉛 ｍ 褐 第 図 第１２ 図 被検査画像 第 図
の構成を示したブロック図、第２図は同じく第２の実施
例の構成を示したブロック図、第３図は本発明の実施例
における垂直画像データ抽出回路の構成を説明したブロ
ック図、第４図は同じく水平画像データ抽出回路の構成
を説明したブロック図、第５図は同じく論理演算回路の
構成を説明したブロック図、第６図は同じく論理演算回
路の各論理演算ユニットの構成を説明したブロック図、
第７図は同じく相関値積算回路の構成を説明したブロッ
ク図、第８図は本発明の第３の実施例の構成を示したブ
ロック図、第９図は第８図の実施例における水平候補点
検出回路の構成を説明したブロック図、第１０図は同じ
く水平候補点検出回路の各検出回路の構成を説明したブ
ロック図、第１１図は同じく候補点検出回路の構成を説
明したブロック図、及び、第１２図は本発明の前提とな
るパターンマツチング処理の概略図である。 １０・・・・・・候補点検出回路、 １１・・・・・・撮像装置、 １２・・・・・・２値化回路、 １３・・・・・・マイクロコンピュータ、１４・・・・
・・垂直画像データ抽出回路、１５・・・・・・水平画
像データ抽出回路、１６・・・・・・基準画像パターン
記憶回路、１７・・・・・・論理演算回路、 １８・・・・・・相関値積算回路、 １９・・・・・・水平候補点検出回路。 第３ 図 躯 へ ｌＥｈ 計 ）ト １ 。 ＄ 鉛 ｍ 褐 第 図 第１２ 図 被検査画像 第 図
Claims (4)
- （１）被検査画像を撮像する撮像手段の映像信号をデジ
タル化し、 特徴的パターンを任意サイズで切り出し基準画像として
予め２値化画像とし任意の２次元座標位置に記憶した画
像データを出力できるようにした基準画像記憶手段と、 ２次元被検査画像データの任意数ｄｙの水平走査ライン
をマイクロコンピュータから設定された水平走査ライン
分だけ保持可能な個数（ＶＳ−１）の水平走査ライン保
持手段を水平走作ライン間隔ｋ（１≦ｋ≦ｄｙ）で均等
に開いている複数行ｖｓの検査座標位置に対応した被検
査画像データが同時に出力されるようにした垂直画像デ
ータ抽出手段と、 前記垂直画像データ抽出手段からの被検査画像データの
同時出力を水平方向の任意の画素ｄｘまでをマイクロコ
ンピュータから設定された画素分だけ保持可能な画素シ
フト手段を（ＨＳ−１）個直列につなぐことで、１水平
方向の被検査画像データが同時にある設定された画素ｊ
（１≦ｊ≦ｄｘ）間隔で均等に開いているＨＳヵ所から
同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽出手段か
らのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力された被検
査画像データを入力として、前記（ＨＳ−１）個直列の
画素シフト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検査画像デ
ータの総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位置に対応
した被検査画像データを同時に出力されるようにした水
平画像データ抽出手段と、 前記基準画像記憶手段からの基準画像 データと前記水平画像データ抽出手段からの個々の検査
座標位置に対応した被検査画像データを同時にＶＳ×Ｈ
Ｓ個の地点でパターン比較し、ＶＳ×ＨＳの地点個々の
検査座標位置に対応したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳ
個同時に合致データとして個々の検査座標位置に対応し
た部分それぞれより同時にシリアル出力することからな
る論理演算手段と、 前記論理演算手段からの個々の検査座標位置に対応した
各合致データ出力を個々に同時カウントすることにより
ＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１画像走査で完了し個々
の検査座標位置に対応した部分で独立に相関値として算
出保持する相関値積算手段により構成され、 第１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂直画像
データ抽出手段をそれぞれの第１回目のパターン照合の
画素間隔でＨＳ×ＶＳ個の被検査画像データが同時に出
力されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の中心位置
にＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように
配置して第１回目の粗検出を行ない、第１回目のパター
ン照合を行ったＨＳ×ＶＳ個の候補点の相関データの中
で最大相関値を保持する部分を検索し、所定の粗検出ス
レッシュ値よりも大きい値であれば前記最大相関値を保
持した部分に対応したパターン照合座標位置をもって、
次回のパターン照合の中心座標位置と決定し、前記第１
回目の粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心に
ＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように配
置し、第２回目の粗検出を水平方向は｛第１の画素間隔
−第２の画素間隔×（ＨＳ−１／２）｝≦０を、垂直方
向は（第１の画素間隔−第２の画素間隔×（ＶＳ−１）
／２｝≦０を、満たし最小の整数値となる第２の画素間
隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部が対応するように配置し
てパターン照合を行い第２回目のＨＳ×ＶＳ個の候補点
の相関データの最高相関値の座標位置を求め、前記第２
回目の粗検出にて求めた最高相関値の座標位置を中心に
ＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して第３回目以降のパタ
ーン照合を水平・垂直方向の設定画素間隔が１画素間隔
となるまで水平方向は｛第Ｐ回目のパターン照合の画素
間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔×（ＨＳ
−１）／２｝≦０を、垂直方向は（第Ｐ回目のパターン
照合の画素間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間
隔×（ＶＳ−１）／２｝≦０を、満たし最小の整数値と
なる第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔にてＨＳ行
×ＶＳ列の中心部を第Ｐ回目の最高相関値の座標位置を
配置して行い、１画素間隔にて行なったパターン照合の
ＨＳ×ＶＳ個の候補点の相関データの最大値が所定の検
出スレッシュ値よりも大きい値であれば前記最大相関値
を保持した部分に対応した座標位置を検出位置とするこ
とを特徴とするパターン認識方法。 - （２）撮像手段からの２次元映像信号をデジタル化し、
被検査画像の特徴的なパターンの任意サイズを切り出し
基準画像として予め記憶し任意の２次元座標位置に記憶
した画像データを出力可能な基準画像記憶手段と、 ２次元被検査画像データの任意ｄｙの水平走査ラインを
マイクロコンピュータから設定された分だけ保持可能な
（ＶＳ−１）個数の水平走査ライン保持手段を水平走査
ライン間隔ｋ（１≦ｋ≦ｄｙ）で均等に開いているＶＳ
行の個々の検査座標位置に対応した被検査画像データが
同時に出力されるようにした垂直画像データ抽出手段と
、前記垂直画像データ抽出手段からの被検査画像データ
のＶＳ個の同時出力を水平方向の任意の画素ｄｘまでを
マイクロコンピュータから設定された画素分だけ保持可
能な画素シフト手段をＨＳ個直列につなぐことで、１水
平方向の被検査画像データが同時にある設定された画素
ｊ（１≦ｊ≦ｄｘ）間隔で均等に開いているＨＳカ所か
ら同時に出力されるようにしたものを前記垂直抽出手段
からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出力された被
検査画像データを入力として、前記ＨＳ個直列の画素シ
フト手段をＶＳ段設ける事で２次元被検査画像データの
総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標位置に対応した被
検査画像データを同時に出力されるようにした水平画像
データ抽出手段と、前記基準画像パターン記憶手段から
の画像データと前記水平画像データ抽出手段からの個々
の検査座標位置に対応した被検査画像パターンデータを
同時にパターン比較するＶＳ×ＨＳ個の排他的論理和か
らなる個々の検査座標位置に対応したパターン照合出力
をＶＳ×ＨＳ個同時に合致パルスとして個々の検査座標
位置に対応した排他的論理和手段より出力することから
なる論理演算手段と、 前記論理演算手段からの個々の検査座標位置に対応した
各合致パルス出力を個々に同時カウントすることにより
ＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１画像走査で完了し個々
の検査座標位置に対応した部分で独立に算出保持する相
関値積算手段と、前記相関値積算手段の相関値データを
マイクロコンピュータより事前に設定されたパターン検
出スレッシュ値との大小を同時に比較判定することで候
補点におけるパターン照合状態を高速に検出できるよう
に、前記相関値積算手段のデータ出力と、保持した検出
スレッシュ値と比較し、個々の検査座標位置に対応した
座標位置との間で大小を同時に比較判定し、その結果を
保持する個々の検査座標位置に対応した保持手段をＶＳ
×ＨＳ個の個々の検査座標位置に対応した分だけ設ける
こととし、マイクロコンピュータには１水平走査ライン
ＨＳカ所の比較結果を一まとめにしマイクロコンピュー
タの１回の読み込みで１水平走査ラインの各パターン照
合位置の状態の概略を高速に把握できるように状態を保
持した手段を垂直パターン照合のＶＳ本だけ設けること
で、各１水平走査ラインの各パターン照合位置の状態の
概略を高速に把握しその演算対応位置の特定を容易に行
えるようにした水平候補点検出手段により構成され、第
１回目の粗検出は水平画像データ抽出手段・垂直画像デ
ータ抽出手段をそれぞれの第１回目のパターン照合の画
素間隔でＨＳ×ＶＳ個の被検査画像データが同時に出力
されるよう設定し、被検査画像の検出範囲の中心位置に
ＨＳ行×ＶＳ列の検査位置の中心部が対応するように配
置して第１回目の粗検出を行ない、前記水平候補点検出
手段により第１回目の粗検出の後マイクロコンピュータ
より事前に設定された第１回目の粗検出スレッシュ値を
越える検出位置の候補点が存在するかを調べ、存在して
いた場合に存在を示している水平比較ラインの前記水平
候補点検出手段の情報を読み込み、前記情報に対応する
パターン照合座標位置における相関値を保持している手
段より、第１回目のパターン照合を行った複数の候補点
の相関カウント値の中で最大相関値を保持する部分に対
応したパターン照合座標位置をもって、次回のパターン
照合の中心座標位置と決定し、前記第１回目の粗検出に
て求めた最高相関値の座標位置を中心にＨＳ行×ＶＳ列
の検査位置の中心部が対応するように配置し、第２回目
の粗検出を水平方向は（第１の画素間隔−第２の画素間
隔×（ＨＳ−１）／２）≦０を、垂直方向は｛第１の画
素間隔−第２の画素間隔×（ＶＳ−１）／２｝≦０を、
満たす第２の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部が対
応するように配置して行い前記水平候補点検出手段から
マイクロコンピュータより第１回目の粗検出の後に設定
された第２回目用の粗検出スレッシュ値より大きくなっ
た第２回目の複数の候補点の相関データの最高相関値の
座標位置を求め、前記第２回目の粗検出にて求めた最高
値位置座標を中心にＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して
第３回目以降のパターン照合を１画素間隔にて行うまで
水平方向は｛第Ｐ回目のパターン照合の画素間隔−第Ｐ
＋１回目のパターン照合の画素間隔×（ＨＳ−１）／２
｝≦０を、垂直方向は｛第Ｐ回目のパターン照合の画素
間隔−第Ｐ＋１回目のパターン照合の画素間隔×（ＶＳ
−１）／２｝≦０を、満たす第Ｐ＋１回目のパターン照
合の画素間隔にてＨＳ行×ＶＳ列の中心部を配置して行
い、前記水平候補点検出手段からマイクロコンピュータ
よりパターン照合を１画素間隔にて行った第Ｐ＋１回目
用の検出スレッシュ値より大きくなった第Ｐ＋１回目の
単一あるいは複数の候補点の相関データの最大値を持つ
座標位置を検出位置とすることを特徴とするパターン認
識方法。 - （３）被検査画像を撮像する撮像装置の２次元映像信号
をデジタル化する２値化回路と、 特徴的パターンをメモリ記憶容量範囲内の任意サイズで
切り出し基準画像として予め任意の２次元座標位置に記
憶した画像データを出力する基準画像記憶回路と、 前記２値化回路からの２値化被検査画像データを任意の
水平走査ラインをマイクロコンピュータからの指示で任
意に設定された分だけ保持可能な水平走査ライン・シフ
トレジスタで構成され前記２値化回路とで２値化画像の
垂直方向に設定された任意の水平走査ライン間隔で均等
に開いている検査座標位置に対応した被検査画像データ
を同時に出力する垂直画像データ抽出回路と、 前記垂直画像データ抽出回路からの２値化被検査画像デ
ータの出力を水平方向の任意画素をマイクロコンピュー
タからの指示で任意に設定された画素分だけ保持可能な
可変長画素・シフトレジスタを複数個直列につなぐこと
で１水平方向の２値化被検査画像データが同時にある設
定された画素間隔で均等に開いている複数カ所から同時
に出力されるように前記垂直抽出回路からの水平走査ラ
インから同時に出力された２値化被検査画像データを入
力として前記直列の可変長画素・シフトレジスタを設け
前記２値化画像の各地点の検査座標位置に対応した２値
化被検査画像データを同時に出力されるようにした水平
画像データ抽出回路と、 前記基準画像記憶回路からの基準画像データと前記水平
画像データ抽出回路からの個々の検査座標位置に対応し
た被検査画像パターンデータを同時にパターン比較する
排他的論理和回路からなる個々の検査座標位置に対応し
たパターン照合出力を同時に合致パルスとして各検査座
標位置に対応した排他的論理和部より出力することから
なる論理演算回路と、及び前記論理演算回路からの個々
の検査座標位置に対応した各合致パルス出力を個々に同
時カウントすることにより複数個のパターン照合を１フ
ィールドで完了し個々の検査座標位置に対応した部分で
独立に算出保持する相関値積算回路を具備し、２次元画
像中の特定パターンを自動抽出して座標位置を検出位置
とすることを特徴とするパターン認識装置。 - （４）撮像装置からの２次元映像信号をデジタル化する
２値化回路と、 被検査画像の特徴的なパターンをメモリの記憶容量範囲
内の任意サイズとして切り出し基準画像として予め記憶
し任意の２次元座標位置に記憶した画像データを出力可
能な基準画像記憶回路と、前記２値化回路からの２値化
された被検査画像データを任意の水平走査ラインまでを
マイクロコンピュータからの指示で任意に設定された分
だけ保持可能な水平走査ライン・シフトレジスタ（ＶＳ
−１）個で構成され前記（ＶＳ−１）個の水平走査ライ
ン・シフトレジスタと前記２値化回路とからで２値化画
像の垂直方向に設定された水平走査ライン（１≦ｋ≦ｄ
ｘ）間隔（但しｋは画素間隔）で均等に開いているＶＳ
行の個々の検査座標位置に対応した被検査画像データが
同時に出力されるようにした垂直画像データ抽出回路と
、前記垂直画像データ抽出回路からの２値化された被検
査画像データのＶＳ個の同時出力を水平方向の任意の画
素までをマイクロコンピュータからの指示で任意に設定
された画素分だけ保持可能な可変長画素シフトレジスタ
をＨＳ個直列につなぐことで１水平方向の２値化された
被検査画像データが同時にある設定された画素（１≦ｊ
≦ｄｙ）間隔（但しｊは画素間隔）で均等に開いている
ＨＳカ所から同時に出力されるようにしたものを前記垂
直抽出回路からのＶＳ個の水平走査ラインから同時に出
力された２値化被検査画像データを入力として前記ＨＳ
個直列の可変長画素シフトレジスタをＶＳ段設ける事で
前記２値化画像の総計ＶＳ×ＨＳ地点の個々の検査座標
位置に対応した２値化被検査画像データを同時に出力さ
れるようにした水平画像データ抽出回路と、 前記基準画像記憶回路からの画像データと前記水平画像
データ抽出回路からの個々の検査座標位置に対応した被
検査画像データを同時にパターン比較するＶＳ×ＨＳ個
の排他的論理和回路からなる個々の検査座標位置に対応
したパターン照合出力をＶＳ×ＨＳ個同時に合致パルス
として個々の検査座標位置に対応した排他的論理和部よ
り出力することからなる論理演算回路と、 前記論理演算回路からの個々の検査座標位置に対応した
各合致パルス出力を個々に同時カウントすることにより
ＶＳ×ＨＳ個のパターン照合を１フィールドで完了し個
々の検査座標位置に対応した部分で独立に算出保持する
相関値積算回路と、前記相関値積算回路の相関値データ
をマイクロコンピュータより事前に設定されたパターン
検出スレッシュ値との大小を同時に比較判定することで
候補点におけるパターン照合状態を高速に検出できるよ
うに前記相関値積算回路の出力を個々の検査座標位置に
対応したコンパレータを設け検出スレッシュ値を保持し
個々の検査座標位置に対応したラッチとの間で大小を同
時に比較判定しその結果を保持する個々の検査座標位置
に対応したラッチをＶＳ×ＨＳ個の個々の検査座標位置
に対応した分だけ設けることとしマイクロコンピュータ
には１水平走査ラインＨＳカ所の比較結果を一まとめに
しマイクロコンピュータの１回の読み込みで１水平走査
ラインの各パターン照合位置の状態の概略を高速に把握
できるようにしたラッチ部を垂直パターン照合のＶＳ本
だけ設けることで各１水平走査ラインの各パターン照合
位置の状態の概略を高速に把握しその演算対応位置の特
定を容易に行えるようにした水平候補点検出回路と、前
記水平候補点検出回路のＶＳ本の水平走査ラインの各パ
ターン照合位置の状態の概略を高速に把握できるように
するためにマイクロコンピュータによる１回のデータ入
力にて把握できるよう前記水平候補点検出回路のＶＳ本
の個々の検査座標位置に対応した各ラッチ部の出力を個
々の検査座標位置に対応した各ラッチ部においてスレッ
シュ値よりも大きかったラッチが１つでもあればその水
平走査ラインの状態を保持することでマイクロコンピュ
ータに相関スレッシュ値を越える水平相関ラインがあっ
たことを知らせる候補点検出回路を具備し、単一あるい
は複数の候補点の相関データの最大値を持つ座標位置を
検出位置とすることを特徴とするパターン認識装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2216559A JP3007392B2 (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | パターン認識方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2216559A JP3007392B2 (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | パターン認識方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0498580A true JPH0498580A (ja) | 1992-03-31 |
| JP3007392B2 JP3007392B2 (ja) | 2000-02-07 |
Family
ID=16690333
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2216559A Expired - Lifetime JP3007392B2 (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | パターン認識方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3007392B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH064672A (ja) * | 1992-05-08 | 1994-01-14 | Sanyo Electric Co Ltd | パターンマッチング回路 |
| EP0584701A3 (en) * | 1992-08-21 | 1994-12-14 | Yozan Inc | Shape comparison circuit. |
| JP2013218476A (ja) * | 2012-04-06 | 2013-10-24 | Denso Corp | 画像認識装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4521858B2 (ja) | 2004-02-12 | 2010-08-11 | 株式会社キーエンス | 画像処理装置 |
-
1990
- 1990-08-16 JP JP2216559A patent/JP3007392B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH064672A (ja) * | 1992-05-08 | 1994-01-14 | Sanyo Electric Co Ltd | パターンマッチング回路 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3007392B2 (ja) | 2000-02-07 |
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