JPH0150865B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0150865B2 JPH0150865B2 JP55091986A JP9198680A JPH0150865B2 JP H0150865 B2 JPH0150865 B2 JP H0150865B2 JP 55091986 A JP55091986 A JP 55091986A JP 9198680 A JP9198680 A JP 9198680A JP H0150865 B2 JPH0150865 B2 JP H0150865B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrator
- peak
- pulse
- output
- input signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/04—Measuring peak values or amplitude or envelope of AC or of pulses
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、経時的に電圧値、電流値等が変化す
る被測定入力信号のボトム−ピーク間の幅を測定
する装置に関する。
る被測定入力信号のボトム−ピーク間の幅を測定
する装置に関する。
この種ボトム−ピーク幅測定装置においては、
被測定入力信号の変化に追従する信号を作る必要
がある。従来、このような信号を作る構成とし
て、第1図に示すように比較器1、アツプダウン
カウンタ2、D/Aコンバータ3を、閉ループを
構成するよう接続すると共に、アツプダウンカウ
ンタ2にクロツクパルスPの発生器4を接続した
状態が採用されている。この構成において、被測
定入力信号Viの変化に対して追従性の良い信号
Vfを作ることは測定精度を向上させる上で重要
であり、そのためには、クロツクパルスPの周波
数を上げると共に、カウンタ2の計数容量を大き
くしなければならない。ところが、カウンタ2の
計数容量を増大すると、それに伴つてD/Aコン
バータ3も大容量で高価なものが必要となり、そ
の結果、装置の大幅なコストアツプが避けられな
いものである。
被測定入力信号の変化に追従する信号を作る必要
がある。従来、このような信号を作る構成とし
て、第1図に示すように比較器1、アツプダウン
カウンタ2、D/Aコンバータ3を、閉ループを
構成するよう接続すると共に、アツプダウンカウ
ンタ2にクロツクパルスPの発生器4を接続した
状態が採用されている。この構成において、被測
定入力信号Viの変化に対して追従性の良い信号
Vfを作ることは測定精度を向上させる上で重要
であり、そのためには、クロツクパルスPの周波
数を上げると共に、カウンタ2の計数容量を大き
くしなければならない。ところが、カウンタ2の
計数容量を増大すると、それに伴つてD/Aコン
バータ3も大容量で高価なものが必要となり、そ
の結果、装置の大幅なコストアツプが避けられな
いものである。
また、この従来装置においては、ボトム−ピー
ク幅を求めるのに、先ず或る設定区間で最小値を
測定し、次に他の設定区間で最大値を測定し、こ
の両者を減算処理して求めるという間接的な方法
を採つており、そのため第1図に示した構成の他
に別途最小値、最大値を求め、演算処理する回路
を設けている。しかるにこの場合最大値回路の特
性と最小値回路の特性とが一致していれば問題は
ないが、一致していないことが多く、そのために
測定誤差を生じ高精度な測定が行なえないという
欠点をもつものである。
ク幅を求めるのに、先ず或る設定区間で最小値を
測定し、次に他の設定区間で最大値を測定し、こ
の両者を減算処理して求めるという間接的な方法
を採つており、そのため第1図に示した構成の他
に別途最小値、最大値を求め、演算処理する回路
を設けている。しかるにこの場合最大値回路の特
性と最小値回路の特性とが一致していれば問題は
ないが、一致していないことが多く、そのために
測定誤差を生じ高精度な測定が行なえないという
欠点をもつものである。
そこで本発明は、D/Aコンバータを用いない
安価な、それでいて被測定入力信号に対する追従
性が良好であり、かつ誤差少なく高精度にボトム
−ピーク幅を測定することのできる新規有用なボ
トム−ピーク幅測定装置を提供しようとするもの
である。
安価な、それでいて被測定入力信号に対する追従
性が良好であり、かつ誤差少なく高精度にボトム
−ピーク幅を測定することのできる新規有用なボ
トム−ピーク幅測定装置を提供しようとするもの
である。
次に本発明の一実施例を第2,3図に基づいて
説明する。第2図において、11はオペアンプを
主体とする積分器、12はこの積分器出力Vaと
被測定入力信号Viとが加えられる比較器、13
は正極性の一定電荷パルス+Pと負極性の一定電
荷パルス−Pを発するパルス発生器、14,15
は前記積分器出力Vaを被測定入力信号Viに追従
させるため、比較器出力Vbに基づいて所定の極
性のパルス+P又は−Pを前記積分器11に加え
る手段で、この実施例ではアンドゲート14a,
15aとダイオード14b,15bとを用いてい
る。一方のダイオード14bは比較器出力Vbが
正(Vi>Va)のとき導通し、その出力をアンド
ゲート14aに加えてゲートを開く動作をし、他
方のダイオード15bは比較器出力Vbが負(Vi
<Va)のとき導通し、その出力をアンドゲート
15aに加えてゲートを開く動作をする。ここ
で、負極性の電荷パルス−Pはそれが積分器11
に加えられることにより積分器出力Vaを高める
し、逆に正極性の電荷パルス+Pは積分器出力
Vaを低めるものであるから、前記ダイオード1
4b,15bの導通動作、及びそれに伴なうアン
ドゲート14a,15aの開閉動作によつて、積
分器出力Vaは被測定入力信号Viに追従するので
ある。そして、この追従性は電荷パルス±Pの周
波数を高め、かつ1パルスの電荷量(1パルスの
面積に相当する)を小さくすれば、いくらでも向
上させることができる。
説明する。第2図において、11はオペアンプを
主体とする積分器、12はこの積分器出力Vaと
被測定入力信号Viとが加えられる比較器、13
は正極性の一定電荷パルス+Pと負極性の一定電
荷パルス−Pを発するパルス発生器、14,15
は前記積分器出力Vaを被測定入力信号Viに追従
させるため、比較器出力Vbに基づいて所定の極
性のパルス+P又は−Pを前記積分器11に加え
る手段で、この実施例ではアンドゲート14a,
15aとダイオード14b,15bとを用いてい
る。一方のダイオード14bは比較器出力Vbが
正(Vi>Va)のとき導通し、その出力をアンド
ゲート14aに加えてゲートを開く動作をし、他
方のダイオード15bは比較器出力Vbが負(Vi
<Va)のとき導通し、その出力をアンドゲート
15aに加えてゲートを開く動作をする。ここ
で、負極性の電荷パルス−Pはそれが積分器11
に加えられることにより積分器出力Vaを高める
し、逆に正極性の電荷パルス+Pは積分器出力
Vaを低めるものであるから、前記ダイオード1
4b,15bの導通動作、及びそれに伴なうアン
ドゲート14a,15aの開閉動作によつて、積
分器出力Vaは被測定入力信号Viに追従するので
ある。そして、この追従性は電荷パルス±Pの周
波数を高め、かつ1パルスの電荷量(1パルスの
面積に相当する)を小さくすれば、いくらでも向
上させることができる。
次に16,17はゲート手段で、ゲート信号と
して外部からボトム検出区間を指定する信号、ピ
ーク検出区間を指定する信号が加えられると共
に、前者の信号にて指定されたボトム検出区間に
おいては、積分器出力Vaを高める負極性電荷パ
ルス−Pの供給を停止し、他方後者の信号にて指
定されたピーク検出区間においては積分器出力
Vaを低める正極性電荷パルス+Pの供給を停止
するという動作を行なう。この実施例では、ゲー
ト手段としてアンドゲートを用い、それを前記手
段のダイオード14b,15bとアンドゲート1
4a,14bの間に挿入し、ボトム−ピーク検出
区間に応じてアンドゲート14a,15aを開閉
することによつて間接的に電荷パルス+P又は−
Pの供給を停止するようにしている。18はボト
ム検出後ピーク検出区間において積分器11に加
えられる電荷パルス数を計数するカウンタで、こ
の実施例ではカウンタ18の入力側にスイツチ
SW1を挿入し、このスイツチSW1を前記ゲート手
段17に加えられるピーク検出区間指定用信号と
同期してオンするように構成している。また、図
中SW2は積分器11をクリヤーするスイツチ、
SW3はアンドゲート14aを強制的にゲート開す
るスイツチで、前記ピーク検出区間終了後、積分
器11がSW2のオンによつてクリヤーされて後に
オンするように構成されている。SW4は前記スイ
ツチSW3より若干遅れてオンするスイツチで、前
記スイツチSW3のオンにより積分器11に積分さ
れた最終値をホールド回路19に転送する。
して外部からボトム検出区間を指定する信号、ピ
ーク検出区間を指定する信号が加えられると共
に、前者の信号にて指定されたボトム検出区間に
おいては、積分器出力Vaを高める負極性電荷パ
ルス−Pの供給を停止し、他方後者の信号にて指
定されたピーク検出区間においては積分器出力
Vaを低める正極性電荷パルス+Pの供給を停止
するという動作を行なう。この実施例では、ゲー
ト手段としてアンドゲートを用い、それを前記手
段のダイオード14b,15bとアンドゲート1
4a,14bの間に挿入し、ボトム−ピーク検出
区間に応じてアンドゲート14a,15aを開閉
することによつて間接的に電荷パルス+P又は−
Pの供給を停止するようにしている。18はボト
ム検出後ピーク検出区間において積分器11に加
えられる電荷パルス数を計数するカウンタで、こ
の実施例ではカウンタ18の入力側にスイツチ
SW1を挿入し、このスイツチSW1を前記ゲート手
段17に加えられるピーク検出区間指定用信号と
同期してオンするように構成している。また、図
中SW2は積分器11をクリヤーするスイツチ、
SW3はアンドゲート14aを強制的にゲート開す
るスイツチで、前記ピーク検出区間終了後、積分
器11がSW2のオンによつてクリヤーされて後に
オンするように構成されている。SW4は前記スイ
ツチSW3より若干遅れてオンするスイツチで、前
記スイツチSW3のオンにより積分器11に積分さ
れた最終値をホールド回路19に転送する。
この構成において、被測定入力信号Viのボト
ム−ピーク幅を測定する動作を説明する。今、ボ
トム検出区間を指定する信号がゲート手段16に
加えられると、積分器11への負極性の電荷パル
ス−Pの供給が停止される。すると、第3図中の
A区間(ボトム検出区間)に示されるように積分
器出力Vaは被測定入力信号Viが低下する方向に
変化する場合は追従するものの、被測定入力信号
Viが増大する方向に変化する場合は追従しない。
このため、この区間Aの終了時における積分器出
力Vaは、この区間Aにおける被測定入力信号Vi
の最小値VLを保持する。
ム−ピーク幅を測定する動作を説明する。今、ボ
トム検出区間を指定する信号がゲート手段16に
加えられると、積分器11への負極性の電荷パル
ス−Pの供給が停止される。すると、第3図中の
A区間(ボトム検出区間)に示されるように積分
器出力Vaは被測定入力信号Viが低下する方向に
変化する場合は追従するものの、被測定入力信号
Viが増大する方向に変化する場合は追従しない。
このため、この区間Aの終了時における積分器出
力Vaは、この区間Aにおける被測定入力信号Vi
の最小値VLを保持する。
一方、ピーク検出区間を指定する信号がゲート
手段17に加えられると、正極性電荷パルス+P
の供給が停止される。すると、前記とは逆に第3
図中のB区間(ピーク検出区間)に示されるよう
に積分器出力Vaは被測定入力信号Viが増大する
方向に変化する場合のみ追従する。従つて、その
区間B終了直前の積分器出力Vaは、その区間B
における被測定入力信号Viの最大値VHを保持す
る。また、このピーク検出区間Bにおいてはゲー
ト手段17に加えられる区間指定信号に同期して
スイツチSW1がオンしているので、カウンタ18
がこの区間Bにおいて積分器に加えられる電荷パ
ルス−Pの数を計数している。
手段17に加えられると、正極性電荷パルス+P
の供給が停止される。すると、前記とは逆に第3
図中のB区間(ピーク検出区間)に示されるよう
に積分器出力Vaは被測定入力信号Viが増大する
方向に変化する場合のみ追従する。従つて、その
区間B終了直前の積分器出力Vaは、その区間B
における被測定入力信号Viの最大値VHを保持す
る。また、このピーク検出区間Bにおいてはゲー
ト手段17に加えられる区間指定信号に同期して
スイツチSW1がオンしているので、カウンタ18
がこの区間Bにおいて積分器に加えられる電荷パ
ルス−Pの数を計数している。
次にピーク検出区間Bを終了するとSW2がオン
して積分器11をクリヤーし、続いてSW3がオン
して、アンドゲート15aを強制的に開くため、
ピーク検出区間Bで使用された負極性の電荷パル
ス−Pがカウンタ18に計数された数だけ積分器
11に送られ、積分される。ところで、この積分
器11にて積分された最終積分値が意味するもの
は、ピーク検出区間Bにおいて、カウンタ18に
カウントされたパルス数の負極性電荷パルス−P
の積分値であり、この値はボトム検出区間Aにお
いて積分器11に保持されて最小値VLとピーク
検出区間Bにおいて積分器11に保持された最大
値VAの差つまり求めようとする被測定入力信号
Viのボトム−ピーク幅に該当する。従つて、ス
イツチSW4をオンし、この最終積分値をホールド
回路19に転送することにより、被測定入力信号
Viのボトム−ピーク幅をホールドさせ、また出
力として取出すことができるのである。
して積分器11をクリヤーし、続いてSW3がオン
して、アンドゲート15aを強制的に開くため、
ピーク検出区間Bで使用された負極性の電荷パル
ス−Pがカウンタ18に計数された数だけ積分器
11に送られ、積分される。ところで、この積分
器11にて積分された最終積分値が意味するもの
は、ピーク検出区間Bにおいて、カウンタ18に
カウントされたパルス数の負極性電荷パルス−P
の積分値であり、この値はボトム検出区間Aにお
いて積分器11に保持されて最小値VLとピーク
検出区間Bにおいて積分器11に保持された最大
値VAの差つまり求めようとする被測定入力信号
Viのボトム−ピーク幅に該当する。従つて、ス
イツチSW4をオンし、この最終積分値をホールド
回路19に転送することにより、被測定入力信号
Viのボトム−ピーク幅をホールドさせ、また出
力として取出すことができるのである。
尚、上記構成では、先ずボトム検出を行ない、
次いでピーク検出を行なうという順序でボトム−
ピーク幅を測定しているが、それとは逆の順序、
即ちピーク検出を行なつて後、ボトム検出を行な
うという順序で測定することができる。その場
合、カウントされるパルスが正極性電荷パルス+
Pであるから、カウンタ18の計数値に基いてパ
ルスを積分器に加える場合も、同じ正極性電荷パ
ルス+Pを用いる必要がある。また、積分器11
をクリヤーするのに、コンデンサCに並列にスイ
ツチSW2を設けたが、この構成の他に例えば、比
較器12の被測定入力信号の加えられる端子とア
ース間にスイツチを設けた構成を採用することが
できる。
次いでピーク検出を行なうという順序でボトム−
ピーク幅を測定しているが、それとは逆の順序、
即ちピーク検出を行なつて後、ボトム検出を行な
うという順序で測定することができる。その場
合、カウントされるパルスが正極性電荷パルス+
Pであるから、カウンタ18の計数値に基いてパ
ルスを積分器に加える場合も、同じ正極性電荷パ
ルス+Pを用いる必要がある。また、積分器11
をクリヤーするのに、コンデンサCに並列にスイ
ツチSW2を設けたが、この構成の他に例えば、比
較器12の被測定入力信号の加えられる端子とア
ース間にスイツチを設けた構成を採用することが
できる。
本発明に係るボトム−ピーク幅測定装置は以上
説明した如く構成したため、次のような諸効果を
奏する。
説明した如く構成したため、次のような諸効果を
奏する。
積分器出力を被測定入力信号に追随させるの
に、比較器と正負両極性の一定電荷パルスを発
生するパルス発生器と積分器を閉ループに接続
するという回路構成を採つているので、D/A
コンバータが不要となり、装置価格の低廉化が
図れる。また、追従性も1パルスの電荷量を少
なくして、パルス周波数を上げることによつて
良好なものとすることができる。
に、比較器と正負両極性の一定電荷パルスを発
生するパルス発生器と積分器を閉ループに接続
するという回路構成を採つているので、D/A
コンバータが不要となり、装置価格の低廉化が
図れる。また、追従性も1パルスの電荷量を少
なくして、パルス周波数を上げることによつて
良好なものとすることができる。
ボトム−ピーク幅を求めるのに、最小値、最
大値を個別的に求め両者の差をとるという従来
の間接的な方法とは異なり、最小値と最大値の
差を測定するという直接的方法を採り、しか
も、その方法をカウンタで最小値と最大値の差
に相当するパルス数をカウントしておき、その
数だけカウント時に用いたと同じ電荷パルスを
同一の積分器に加えるという構成で実現してい
るので、測定精度が高い。即ち、換言すれば、
電荷パルス、積分器はいずれもカウンタに計数
する際及びカウンタの内容に基づいて積分する
際を通じて同一のものを使用するので、回路特
性、特に積分時定数、パルスのもつ電荷が同じ
であり、従つてそれによる誤差がなく、高精度
な測定が可能となるのである。
大値を個別的に求め両者の差をとるという従来
の間接的な方法とは異なり、最小値と最大値の
差を測定するという直接的方法を採り、しか
も、その方法をカウンタで最小値と最大値の差
に相当するパルス数をカウントしておき、その
数だけカウント時に用いたと同じ電荷パルスを
同一の積分器に加えるという構成で実現してい
るので、測定精度が高い。即ち、換言すれば、
電荷パルス、積分器はいずれもカウンタに計数
する際及びカウンタの内容に基づいて積分する
際を通じて同一のものを使用するので、回路特
性、特に積分時定数、パルスのもつ電荷が同じ
であり、従つてそれによる誤差がなく、高精度
な測定が可能となるのである。
第1図は従来のボトム−ピーク幅測定装置を示
すブロツク図、第2図は本発明のボトム−ピーク
幅測定装置の一実施例を示すブロツク図、第3図
は第2図の動作を説明する図である。 11……積分器、12……比較器、13……パ
ルス発生器、16,17……ゲート手段、18…
…カウンタ、Va……積分器出力、Vb……比較器
出力、Vi……被測定入力信号、A……ボトム検
出区間、B……ピーク検出区間。
すブロツク図、第2図は本発明のボトム−ピーク
幅測定装置の一実施例を示すブロツク図、第3図
は第2図の動作を説明する図である。 11……積分器、12……比較器、13……パ
ルス発生器、16,17……ゲート手段、18…
…カウンタ、Va……積分器出力、Vb……比較器
出力、Vi……被測定入力信号、A……ボトム検
出区間、B……ピーク検出区間。
Claims (1)
- 1 積分器と、被測定入力信号と前記積分器の出
力とを比較する比較器と、正極性の一定電荷パル
ス及び負極性の一定電荷パルスを発生するパルス
発生器と、前記積分器出力を被測定入力信号に追
従させるべく前記比較器の出力に基づき所定の極
性の一定電荷パルスを積分器に供給する手段と、
ボトム検出区間においては積分器出力を高める極
性の電荷パルスの供給を停止し、ピーク検出区間
においては積分器出力を低める電荷パルスの供給
を停止するゲート手段と、ボトム検出後のピーク
検出区間又はピーク検出後のボトム検出区間にお
いて積分器に加わる電荷パルス数をカウントする
カウンタとを備え、前記ボトム検出とピーク検出
とを終了した後、積分器の内容をクリヤーして、
カウンタに計数されたパルス数だけ、カウント時
に使用した電荷パルスを積分器に加え、その最終
積分値から、被測定入力信号のボトム−ピーク幅
を測定するように構成してなるボトム−ピーク幅
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9198680A JPS5717867A (en) | 1980-07-05 | 1980-07-05 | Bottom-peak width measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9198680A JPS5717867A (en) | 1980-07-05 | 1980-07-05 | Bottom-peak width measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5717867A JPS5717867A (en) | 1982-01-29 |
| JPH0150865B2 true JPH0150865B2 (ja) | 1989-10-31 |
Family
ID=14041789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9198680A Granted JPS5717867A (en) | 1980-07-05 | 1980-07-05 | Bottom-peak width measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5717867A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2552630B2 (ja) * | 1994-05-09 | 1996-11-13 | 秩父小野田株式会社 | セメント製造方法 |
| JP4135953B2 (ja) | 2005-12-05 | 2008-08-20 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 波形測定装置及びその測定方法 |
| JP4719190B2 (ja) * | 2006-07-06 | 2011-07-06 | 株式会社豊田中央研究所 | 2値化回路 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5114371A (ja) * | 1974-07-26 | 1976-02-04 | Shinko Tsushin Kogyo Kk | Namigatanosaidaisaishochikenshutsuhoshiki |
-
1980
- 1980-07-05 JP JP9198680A patent/JPS5717867A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5717867A (en) | 1982-01-29 |
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