JPH0151136B2 - - Google Patents
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- JPH0151136B2 JPH0151136B2 JP57190091A JP19009182A JPH0151136B2 JP H0151136 B2 JPH0151136 B2 JP H0151136B2 JP 57190091 A JP57190091 A JP 57190091A JP 19009182 A JP19009182 A JP 19009182A JP H0151136 B2 JPH0151136 B2 JP H0151136B2
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- JP
- Japan
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- light
- optical fiber
- cladding layer
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- optical
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- Expired
Links
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 43
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims description 28
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 239000011253 protective coating Substances 0.000 description 2
- 238000001356 surgical procedure Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光フアイバの破断を光入射側から検
出する光フアイバの断線検出方法に関する。
出する光フアイバの断線検出方法に関する。
一般に、光伝送系に使用される光フアイバは、
光入射側及び受光側間に介装されており、光フア
イバの使用中に破断等の障害が発生した場合には
光の伝播が遮断若しくは大幅に減衰されて受光側
の出力に異常を来たすので、これにより光フアイ
バの破断を検知することが可能であるが、これを
光入射側で検知することはできず、したがつて、
従来は別途回線を利用して光入射側に断線発生の
信号を伝達する以外に方法がなかつた。
光入射側及び受光側間に介装されており、光フア
イバの使用中に破断等の障害が発生した場合には
光の伝播が遮断若しくは大幅に減衰されて受光側
の出力に異常を来たすので、これにより光フアイ
バの破断を検知することが可能であるが、これを
光入射側で検知することはできず、したがつて、
従来は別途回線を利用して光入射側に断線発生の
信号を伝達する以外に方法がなかつた。
ところで、光フアイバの断線が検出されてから
その破断点を検出する方法としては、光入射側の
光フアイバ端をレーザパルス発振器等の光パルス
発生回路に接続し、光フアイバ内に光パルス信号
を入射し、これが破断点で反射されて反射パルス
が得られる迄の遅延時間を計測することによつて
その破断位置を検出するパルス反射法、また同様
に光フアイバ内に光パルス信号を入射し、光フア
イバの長手方向の各点より反射される後方散乱光
を時間軸上で観測してその減衰曲線から破断点を
検出する後方散乱損失測定法等が種々提案されて
いる。
その破断点を検出する方法としては、光入射側の
光フアイバ端をレーザパルス発振器等の光パルス
発生回路に接続し、光フアイバ内に光パルス信号
を入射し、これが破断点で反射されて反射パルス
が得られる迄の遅延時間を計測することによつて
その破断位置を検出するパルス反射法、また同様
に光フアイバ内に光パルス信号を入射し、光フア
イバの長手方向の各点より反射される後方散乱光
を時間軸上で観測してその減衰曲線から破断点を
検出する後方散乱損失測定法等が種々提案されて
いる。
しかし、これらの検出方法はあくまで光フアイ
バに破断が生じたことが判明した後にその破断点
の位置を検出するものであり、断線の発生自体を
検出するものではない。
バに破断が生じたことが判明した後にその破断点
の位置を検出するものであり、断線の発生自体を
検出するものではない。
したがつて、上述の如き従来技術によつては、
例えばレーザメス等に使用される医療用光フアイ
バのように受光系を有さざる光伝送系に於ける使
用中の断線発生を自動的に検出することができ
ず、検出するためには光伝送回路を測定用光パル
ス発生回路に切換えなければならないという面倒
があり、光フアイバの断線発生を常時監視するこ
とは不可能であつた。
例えばレーザメス等に使用される医療用光フアイ
バのように受光系を有さざる光伝送系に於ける使
用中の断線発生を自動的に検出することができ
ず、検出するためには光伝送回路を測定用光パル
ス発生回路に切換えなければならないという面倒
があり、光フアイバの断線発生を常時監視するこ
とは不可能であつた。
そこで本発明は、光フアイバ使用中に於ける断
線発生を常時監視し、例え受光系を有さざる光伝
送系にあつても、断線の発生を光入射側で即座に
検知し得る新規な光フアイバの断線検出方法を提
供することを目的とする。
線発生を常時監視し、例え受光系を有さざる光伝
送系にあつても、断線の発生を光入射側で即座に
検知し得る新規な光フアイバの断線検出方法を提
供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明は、コアにこ
れよりも屈折率の低い第1クラツド層を被覆し、
該第1クラツド層にこれよりも更に屈折率の低い
第2クラツド層を被覆してなる光フアイバを光伝
送路として使用し、該光フアイバの破断時にその
破断点で反射される散乱光を前記第1クラツド層
と第2クラツド層との境界面で反射させながら光
入射側に伝播させ、その伝播された光を光入射側
から検知することにより、光フアイバの断線発生
を検出するようにしたものである。
れよりも屈折率の低い第1クラツド層を被覆し、
該第1クラツド層にこれよりも更に屈折率の低い
第2クラツド層を被覆してなる光フアイバを光伝
送路として使用し、該光フアイバの破断時にその
破断点で反射される散乱光を前記第1クラツド層
と第2クラツド層との境界面で反射させながら光
入射側に伝播させ、その伝播された光を光入射側
から検知することにより、光フアイバの断線発生
を検出するようにしたものである。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて説
明する。
明する。
第1図Aは本発明方法に適用し得る光フアイバ
1の一例を示す正面図、同図Bはその断面図であ
る。
1の一例を示す正面図、同図Bはその断面図であ
る。
図中、2は屈折率η1の中心コア、3は中心コア
の外周に同心的に被覆された屈折率η2の第1クラ
ツド層、4は第1クラツド層の外周に同心的に被
覆された屈折率η3の第2クラツド層、5は更にそ
の第2クラツド層の外周に同心的に被覆された合
成樹脂材等からなる保護被覆層であつて、これら
中心コア2、第1クラツド層3及び第2クラツド
層4のそれぞれの屈折率η1,η2及びη3は、η1>η2
>η3に選定され、第1クラツド層は光フアイバ1
の破断時に発生する後方散乱光に対して第2のコ
アとなる。
の外周に同心的に被覆された屈折率η2の第1クラ
ツド層、4は第1クラツド層の外周に同心的に被
覆された屈折率η3の第2クラツド層、5は更にそ
の第2クラツド層の外周に同心的に被覆された合
成樹脂材等からなる保護被覆層であつて、これら
中心コア2、第1クラツド層3及び第2クラツド
層4のそれぞれの屈折率η1,η2及びη3は、η1>η2
>η3に選定され、第1クラツド層は光フアイバ1
の破断時に発生する後方散乱光に対して第2のコ
アとなる。
次に、上記光フアイバ1を使用した光伝送系の
一例を第2図により説明する。
一例を第2図により説明する。
6はレーザ発振器等の発光源、7は集光レンズ
であつて、発光源6からの光信号が集光レンズ7
によつて集光されて光フアイバ1の中心コア2内
に入射される。
であつて、発光源6からの光信号が集光レンズ7
によつて集光されて光フアイバ1の中心コア2内
に入射される。
8は光フアイバ1の光入射端面近傍に於ける第
2クラツド層4及び保護被覆層5を一部除去して
形成された切欠部9に配設されたフオトダイオー
ド等の光検出器であつて、この光検出器8からの
検出出力が例えば発光源6に供給されて発光源6
からの光信号発生を停止させる。
2クラツド層4及び保護被覆層5を一部除去して
形成された切欠部9に配設されたフオトダイオー
ド等の光検出器であつて、この光検出器8からの
検出出力が例えば発光源6に供給されて発光源6
からの光信号発生を停止させる。
以上のように構成された光伝送系に於いて、常
時は発光源6からの光信号が光フアイバ1の中心
コア2内に入射され、該コア内を破線図示のよう
にコアと第1クラツド層3との境界面で全反射さ
れながら光出射側に伝播され、したがつて光検出
器8には光が照射されず、検出出力は得られな
い。
時は発光源6からの光信号が光フアイバ1の中心
コア2内に入射され、該コア内を破線図示のよう
にコアと第1クラツド層3との境界面で全反射さ
れながら光出射側に伝播され、したがつて光検出
器8には光が照射されず、検出出力は得られな
い。
ところが、送信中に第2図に示すように光フア
イバ1が途中で破断すると、中心コア2内を光出
射側に伝播していた光がその破断点10でフレネ
ル反射され、散乱光となつて通常の光信号より高
次のモードの光となる。
イバ1が途中で破断すると、中心コア2内を光出
射側に伝播していた光がその破断点10でフレネ
ル反射され、散乱光となつて通常の光信号より高
次のモードの光となる。
これにより、屈折率η2の第1クラツド層3が前
記散乱光に対して第2のコアとなり、散乱光は第
2図及び第3図に示すように第1クラツド層3内
を該クラツド層と第2クラツド層4との境界面で
反射されながら光入射側に伝播される。そして、
その伝播された光が光入射端面近傍に達すると、
切欠部9位置に於いて第2クラツド層4が除去さ
れているから、その切欠部9から外部に放射さ
れ、これが光検出器8によつて検知されて光フア
イバ1の断線発生が検出されることとなり、更に
光検出器8の検出出力によつて発光源6の光信号
発生が停止される。
記散乱光に対して第2のコアとなり、散乱光は第
2図及び第3図に示すように第1クラツド層3内
を該クラツド層と第2クラツド層4との境界面で
反射されながら光入射側に伝播される。そして、
その伝播された光が光入射端面近傍に達すると、
切欠部9位置に於いて第2クラツド層4が除去さ
れているから、その切欠部9から外部に放射さ
れ、これが光検出器8によつて検知されて光フア
イバ1の断線発生が検出されることとなり、更に
光検出器8の検出出力によつて発光源6の光信号
発生が停止される。
なお、本例では光検出器8の出力によつて発光
源6の発光を停止させる場合について説明した
が、これに代えて警報を発生させるようにしても
良い。
源6の発光を停止させる場合について説明した
が、これに代えて警報を発生させるようにしても
良い。
以上のように本発明によれば、光フアイバの破
断点で生じる後方散乱光をクラツド層を通じて光
入射側に伝播させ、これを光検出器で検知するこ
とにより光フアイバの破断発生を検出することが
できるから、光フアイバ内に信号光を伝播させな
がらしかもその信号光に何ら障害を与えることな
く、使用中の光フアイバの断線発生を光入射側か
ら常時監視することができるという優れた効果を
有する。
断点で生じる後方散乱光をクラツド層を通じて光
入射側に伝播させ、これを光検出器で検知するこ
とにより光フアイバの破断発生を検出することが
できるから、光フアイバ内に信号光を伝播させな
がらしかもその信号光に何ら障害を与えることな
く、使用中の光フアイバの断線発生を光入射側か
ら常時監視することができるという優れた効果を
有する。
また、光検出器の検出出力によつて発光源の発
光を即座に停止させることが可能となり、したが
つて殊に医療用器具として使用されるレーザメス
の如く手術中に光フアイバが破断してその破断点
から散乱するレーザ光によつて健康な生体に損傷
を与えるという危惧も解消され、手術を安全に行
なうことができる。
光を即座に停止させることが可能となり、したが
つて殊に医療用器具として使用されるレーザメス
の如く手術中に光フアイバが破断してその破断点
から散乱するレーザ光によつて健康な生体に損傷
を与えるという危惧も解消され、手術を安全に行
なうことができる。
更に、本発明の場合には光フアイバ内又はその
コネクタ等に光漏洩検知用の特殊な部材を配設す
る必要もないので光フアイバ径を極めて細くする
ことができ、しかも受光系を有さざる光伝送系に
あつても断線検出ができるから、特に手術に使用
する医療用レーザメスを始めとする各種の医療用
光フアイバ製品に適用して大変有用性の高いもの
である。
コネクタ等に光漏洩検知用の特殊な部材を配設す
る必要もないので光フアイバ径を極めて細くする
ことができ、しかも受光系を有さざる光伝送系に
あつても断線検出ができるから、特に手術に使用
する医療用レーザメスを始めとする各種の医療用
光フアイバ製品に適用して大変有用性の高いもの
である。
勿論、本発明方法は上記に限らず、他の任意の
光伝送系に適用し得ることは云うまでもない。
光伝送系に適用し得ることは云うまでもない。
第1図A及びBは本発明方法に適用し得る光フ
アイバの一例を示す正面図及び断面図、第2図は
本発明方法の説明図、第3図は光フアイバ破断時
にその破断点で反射される散乱光の伝播状態を示
す光フアイバの縦断面図である。 符号の説明、1……光フアイバ、2……中心コ
ア、3……第1クラツド層、4……第2クラツド
層、6……発光源、7……集光レンズ、8……光
検出器、9……切欠部、10……破断点。
アイバの一例を示す正面図及び断面図、第2図は
本発明方法の説明図、第3図は光フアイバ破断時
にその破断点で反射される散乱光の伝播状態を示
す光フアイバの縦断面図である。 符号の説明、1……光フアイバ、2……中心コ
ア、3……第1クラツド層、4……第2クラツド
層、6……発光源、7……集光レンズ、8……光
検出器、9……切欠部、10……破断点。
Claims (1)
- 1 コアにこれよりも屈折率の低い第1クラツド
層を被覆し、該第1クラツド層にこれよりも更に
屈折率の低い第2クラツド層を被覆してなる光フ
アイバを光伝送路として使用し、該光フアイバの
破断時にその破断点で反射される散乱光を前記第
1クラツド層と第2クラツド層との境界面で反射
させながら光入射側に伝播させ、その伝播された
光を光入射側から検知することにより、光フアイ
バの断線発生を検出するようにしたことを特徴と
する光フアイバの断線検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57190091A JPS5979137A (ja) | 1982-10-28 | 1982-10-28 | 光フアイバの断線検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57190091A JPS5979137A (ja) | 1982-10-28 | 1982-10-28 | 光フアイバの断線検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5979137A JPS5979137A (ja) | 1984-05-08 |
| JPH0151136B2 true JPH0151136B2 (ja) | 1989-11-01 |
Family
ID=16252212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57190091A Granted JPS5979137A (ja) | 1982-10-28 | 1982-10-28 | 光フアイバの断線検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5979137A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050071967A (ko) * | 2004-01-05 | 2005-07-08 | 삼성전자주식회사 | 양방향 광통신 모듈의 광수신기 및 그 제조방법 |
| KR100616549B1 (ko) | 2004-01-16 | 2006-08-28 | 주식회사 골드텔 | 광신호검출용 광케이블과, 이를 제조하는 방법 |
| KR100576152B1 (ko) | 2004-01-16 | 2006-05-03 | 주식회사 골드텔 | 광신호검출장치 |
| KR100651238B1 (ko) | 2005-04-27 | 2006-11-30 | 주식회사 골드텔 | 광신호검출장치 |
| EP2555348A4 (en) | 2010-03-30 | 2017-12-20 | Fujikura Ltd. | Light intensity monitoring circuit and fiber laser system |
| DE102011009996B4 (de) * | 2011-02-01 | 2016-11-03 | Roland Berger | Faserbruchüberwachung für einen Lichtwellenleiter |
| JP7145630B2 (ja) * | 2018-03-28 | 2022-10-03 | 古河電気工業株式会社 | 光ファイバ折れ検知システムおよび光ファイバ折れ検知方法 |
-
1982
- 1982-10-28 JP JP57190091A patent/JPS5979137A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5979137A (ja) | 1984-05-08 |
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