JPH0154783B2 - - Google Patents
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- JPH0154783B2 JPH0154783B2 JP58111391A JP11139183A JPH0154783B2 JP H0154783 B2 JPH0154783 B2 JP H0154783B2 JP 58111391 A JP58111391 A JP 58111391A JP 11139183 A JP11139183 A JP 11139183A JP H0154783 B2 JPH0154783 B2 JP H0154783B2
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、光学式デイジタルオーデイオデイ
スク再生装置、又は光学式ビデオデイスク再生装
置のような光学式デイスク再生装置に関するもの
で、特にそれのトラツキング装置及びフオーカシ
ング装置に関するものである。
スク再生装置、又は光学式ビデオデイスク再生装
置のような光学式デイスク再生装置に関するもの
で、特にそれのトラツキング装置及びフオーカシ
ング装置に関するものである。
従来の光学式デイジタルオーデイオデイスク再
生装置のトラツキング装置及びフオーカシング装
置として第１図に示すようなものがあつた。図に
おいて、１はレーザ光源、２はこれから出された
レーザ光ビーム、３はこのレーザ光ビームを３本
のレーザ光ビームに分ける回折格子、４はビーム
スプリツタ、５は1/4波長板、６は対物レンズ系、
７は円板状記録媒体であるデイスク、８はこのデ
イスクに設けられた情報が記録されている情報ト
ラツク、９ａ，９ｂ，９ｃは光検知器、１０ａ，
１０a′，１０ｂ，１０ｃはこの検知器の出力微少
電流を増幅し電圧に変換する前置増幅器、１１は
再生高周波信号HFを取出す加算増幅器、１２は
トラツキングエラー信号TEを取出す差動増幅器、
１３はトラツキングエラー信号用の位相補償回
路、１４はトラツキングエラー信号用電力増幅
器、１５はトラツキングアクチエータ、１６はフ
オーカスエラー信号FEを取出す差動増幅器、１
７はフオーカスエラー信号用の位相補償回路、１
８はフオーカスエラー信号用電力増幅器、１９は
フオーカシングアクチエータである。
生装置のトラツキング装置及びフオーカシング装
置として第１図に示すようなものがあつた。図に
おいて、１はレーザ光源、２はこれから出された
レーザ光ビーム、３はこのレーザ光ビームを３本
のレーザ光ビームに分ける回折格子、４はビーム
スプリツタ、５は1/4波長板、６は対物レンズ系、
７は円板状記録媒体であるデイスク、８はこのデ
イスクに設けられた情報が記録されている情報ト
ラツク、９ａ，９ｂ，９ｃは光検知器、１０ａ，
１０a′，１０ｂ，１０ｃはこの検知器の出力微少
電流を増幅し電圧に変換する前置増幅器、１１は
再生高周波信号HFを取出す加算増幅器、１２は
トラツキングエラー信号TEを取出す差動増幅器、
１３はトラツキングエラー信号用の位相補償回
路、１４はトラツキングエラー信号用電力増幅
器、１５はトラツキングアクチエータ、１６はフ
オーカスエラー信号FEを取出す差動増幅器、１
７はフオーカスエラー信号用の位相補償回路、１
８はフオーカスエラー信号用電力増幅器、１９は
フオーカシングアクチエータである。
そのトラツキング動作は次の通りである。レー
ザ光源１より出力されたレーザ光ビーム２は回折
格子で第１、第２、第３の３本のレーザ光ビーム
に分けられ、ビームスプリツタ４、1/4波長板５
を通り、対物レンズで集光されてデイスク７上の
情報トラツク８に焦点が合わされる。この時正し
い位置でトラツク追跡が行なわれていれば、第２
図ｍに示すように、第１の光ビームによる光スポ
ツト２０ａはトラツク８上に第２、第３の光ビー
ムによるスポツト２０ｂ，２０ｃはそれぞれ左右
方向にずれて位置している。第２図Ｋは光ビーム
が右に、同図ｎは左にずれた場合を示している。
上記光スポツト位置から反射された３本の反射レ
ーザ光ビームは上記と逆のコースをたどり、ビー
ムスプリツタ４で90゜方向が変えられて、光検知
器９ａ，９ｂ，９ｃに入射する。第１の反射レー
ザ光ビームを受光する中央の光検知器９ａは情報
トラツク８に記録されている高周波信号HFの読
取りと、光スポツトの焦点合わせを行なうフオー
カスサーボ用に使用される。即ち光検知器９ａは
２つの出力を有し、焦点が正しく合つていれば両
出力は等しく、焦点がずれていればずれる方向に
よつて何れかの出力が大となるよう構成されてお
り、これらの出力を加算増幅器１１で加算増幅す
れば再生高周波信号HFが得られ、差動増幅器１
６で差を取ればフオーカスエラー信号FEが得ら
れる。一方外側の２個の光検知器９ｂ，９ｃは第
２、第３の反射レーザ光ビームを受光し、トラツ
キングサーボ用に使用される。即ち第２図ｍのよ
うに３つの光スポツト２０ａ〜２０ｃが位置して
いれば、光検知器９ｂと９ｃに入射する光量は等
しくなるから、この時の差動増幅器１２の出力信
号であるトラツキングエラー信号TEは零電位と
なる。又第２図のｈ，ｎに示すように３つの光ス
ポツト２０ａ〜２０ｃが位置している場合には、
光検知器９ｂと９ｃに入射する光量が異なつてく
るので差動増幅器１２の出力であるトラツキング
エラー信号TEは正又は負の電位となる。
ザ光源１より出力されたレーザ光ビーム２は回折
格子で第１、第２、第３の３本のレーザ光ビーム
に分けられ、ビームスプリツタ４、1/4波長板５
を通り、対物レンズで集光されてデイスク７上の
情報トラツク８に焦点が合わされる。この時正し
い位置でトラツク追跡が行なわれていれば、第２
図ｍに示すように、第１の光ビームによる光スポ
ツト２０ａはトラツク８上に第２、第３の光ビー
ムによるスポツト２０ｂ，２０ｃはそれぞれ左右
方向にずれて位置している。第２図Ｋは光ビーム
が右に、同図ｎは左にずれた場合を示している。
上記光スポツト位置から反射された３本の反射レ
ーザ光ビームは上記と逆のコースをたどり、ビー
ムスプリツタ４で90゜方向が変えられて、光検知
器９ａ，９ｂ，９ｃに入射する。第１の反射レー
ザ光ビームを受光する中央の光検知器９ａは情報
トラツク８に記録されている高周波信号HFの読
取りと、光スポツトの焦点合わせを行なうフオー
カスサーボ用に使用される。即ち光検知器９ａは
２つの出力を有し、焦点が正しく合つていれば両
出力は等しく、焦点がずれていればずれる方向に
よつて何れかの出力が大となるよう構成されてお
り、これらの出力を加算増幅器１１で加算増幅す
れば再生高周波信号HFが得られ、差動増幅器１
６で差を取ればフオーカスエラー信号FEが得ら
れる。一方外側の２個の光検知器９ｂ，９ｃは第
２、第３の反射レーザ光ビームを受光し、トラツ
キングサーボ用に使用される。即ち第２図ｍのよ
うに３つの光スポツト２０ａ〜２０ｃが位置して
いれば、光検知器９ｂと９ｃに入射する光量は等
しくなるから、この時の差動増幅器１２の出力信
号であるトラツキングエラー信号TEは零電位と
なる。又第２図のｈ，ｎに示すように３つの光ス
ポツト２０ａ〜２０ｃが位置している場合には、
光検知器９ｂと９ｃに入射する光量が異なつてく
るので差動増幅器１２の出力であるトラツキング
エラー信号TEは正又は負の電位となる。
第３図は、光スポツト２０ａがトラツクと直交
する方向、即ちデイスクの径方向に移動した時の
差動増幅器１２の出力であるトラツキングエラー
信号TE（第３図Ｑ）及び加算増幅器１１の出力で
ある再生高周波信号HF（第３図Ｒ）を示してい
る。実際のデイスクでは情報トラツク８は非常に
密に並んでいるので、第３図Ｑに示すような形で
トラツキングエラー信号TEは出力され、ある一
本のトラツクが選択されそれを追跡するようにト
ラツキングサーボがかゝる。また再生高周波信号
HFは、光スポツト２０ａが情報トラツクの中央
に位置した時、その包絡線（エンベロープ）EV
の振幅が最大となる。以上のような原理でトラツ
ク中央からのずれが検知され、トラツキングエラ
ー信号TEが位相補償回路１３を通じ電力増幅器
１４を介してトラツキングアクチエータ１５に印
加され、これを附勢してこの信号TEが零となる
よう対物レンズ系６をデイスク７の半径Ｘ方向に
動かし、トラツキングサーボ動作が行なわれる。
する方向、即ちデイスクの径方向に移動した時の
差動増幅器１２の出力であるトラツキングエラー
信号TE（第３図Ｑ）及び加算増幅器１１の出力で
ある再生高周波信号HF（第３図Ｒ）を示してい
る。実際のデイスクでは情報トラツク８は非常に
密に並んでいるので、第３図Ｑに示すような形で
トラツキングエラー信号TEは出力され、ある一
本のトラツクが選択されそれを追跡するようにト
ラツキングサーボがかゝる。また再生高周波信号
HFは、光スポツト２０ａが情報トラツクの中央
に位置した時、その包絡線（エンベロープ）EV
の振幅が最大となる。以上のような原理でトラツ
ク中央からのずれが検知され、トラツキングエラ
ー信号TEが位相補償回路１３を通じ電力増幅器
１４を介してトラツキングアクチエータ１５に印
加され、これを附勢してこの信号TEが零となる
よう対物レンズ系６をデイスク７の半径Ｘ方向に
動かし、トラツキングサーボ動作が行なわれる。
一方差動増幅器１６の出力であるフオーカスエ
ラー信号FEは、上述のように対物レンズ系６が
第１レーザ光ビームをデイスク７のトラツク８上
に正しく焦点を結ばせれば、零電位となる。この
フオーカスエラー信号FEが位相補償回路１７を
通じ電力増幅器１８を介してフオーカシングアク
チエータ１９に印加され、これを附勢してこの信
号FEが零となるよう対物レンズ系６を光軸Ｙ方
向に動かし、フオーカスサーボ動作が行なわれ
る。
ラー信号FEは、上述のように対物レンズ系６が
第１レーザ光ビームをデイスク７のトラツク８上
に正しく焦点を結ばせれば、零電位となる。この
フオーカスエラー信号FEが位相補償回路１７を
通じ電力増幅器１８を介してフオーカシングアク
チエータ１９に印加され、これを附勢してこの信
号FEが零となるよう対物レンズ系６を光軸Ｙ方
向に動かし、フオーカスサーボ動作が行なわれ
る。
以上説明したような従来のトラツキング装置、
フオーカシング装置では、デイスク７上の情報ト
ラツク８が正確に記録されていて、かつ記録面を
保護するデイスク保護膜に傷や汚れがついていな
いことを前提としている。デイスクの記録面や保
護膜に傷があつたり、又表面上に汚れが付着して
いたりすると、デイスクからの反射光が、光検知
器９ａ〜９ｃに正常に入射しなくなるので、第３
図Ｑに示すようなトラツキングエラー信号TEが
得られなくなり、その結果、トラツク追跡ができ
なくなつて、最悪の場合にはトラツク飛びを起こ
し、いつまでも同じトラツクを追随するポーズ状
態に陥つたり、あるいは早送り、逆送り状態にな
つたりしてしまう欠点があつた。又上記デイスク
の記録面や保護膜の傷や汚れはフオーカスサーボ
動作にも悪影響を及ぼし、焦点外れなどの不都合
を生じさせていた。
フオーカシング装置では、デイスク７上の情報ト
ラツク８が正確に記録されていて、かつ記録面を
保護するデイスク保護膜に傷や汚れがついていな
いことを前提としている。デイスクの記録面や保
護膜に傷があつたり、又表面上に汚れが付着して
いたりすると、デイスクからの反射光が、光検知
器９ａ〜９ｃに正常に入射しなくなるので、第３
図Ｑに示すようなトラツキングエラー信号TEが
得られなくなり、その結果、トラツク追跡ができ
なくなつて、最悪の場合にはトラツク飛びを起こ
し、いつまでも同じトラツクを追随するポーズ状
態に陥つたり、あるいは早送り、逆送り状態にな
つたりしてしまう欠点があつた。又上記デイスク
の記録面や保護膜の傷や汚れはフオーカスサーボ
動作にも悪影響を及ぼし、焦点外れなどの不都合
を生じさせていた。
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、デ
イスク上の傷や汚れの部分に光スポツトが突入し
てトラツキングエラー信号が乱れてもトラツク飛
びなどの誤動作を行なわないトラツキング装置を
持つた光学式デイスク再生装置を提供するもので
ある。
イスク上の傷や汚れの部分に光スポツトが突入し
てトラツキングエラー信号が乱れてもトラツク飛
びなどの誤動作を行なわないトラツキング装置を
持つた光学式デイスク再生装置を提供するもので
ある。
また、この発明はデイスク上の傷や汚れの部分
に光スポツトが突入して生ずるフオーカスエラー
信号の乱れによつて生ずる焦点外れなどの不都合
を除いたフオーカシング装置を持つた光学式デイ
スク再生装置をも提供するものである。
に光スポツトが突入して生ずるフオーカスエラー
信号の乱れによつて生ずる焦点外れなどの不都合
を除いたフオーカシング装置を持つた光学式デイ
スク再生装置をも提供するものである。
以下この発明の実施例について図面を使用して
説明する。第４図は、この発明をトラツキング装
置に適用した場合の１実施例を示すブロツクダイ
ヤグラムで、第５図は、各部の動作波形を示して
いる。第４図において１〜１５は第１図の従来の
ものと同等のものであつて、その動作については
従来例で説明した通りである。なお、フオーカシ
ング回路については後述するので省略している。
２１はエンベロープ検波器、２２は電圧比較器、
２３は低域フイルタ、２４はスライサ、２５はア
ナログスイツチ回路である。
説明する。第４図は、この発明をトラツキング装
置に適用した場合の１実施例を示すブロツクダイ
ヤグラムで、第５図は、各部の動作波形を示して
いる。第４図において１〜１５は第１図の従来の
ものと同等のものであつて、その動作については
従来例で説明した通りである。なお、フオーカシ
ング回路については後述するので省略している。
２１はエンベロープ検波器、２２は電圧比較器、
２３は低域フイルタ、２４はスライサ、２５はア
ナログスイツチ回路である。
デイスク７の情報トラツク８より読み出される
再生高周波信号HFは、第３図Ｒに示すようにス
ポツト２０ａが情報トラツク８の中心からずれて
いくと、そのエンベロープEVは低下する。これ
と同様にデイスク表面や記録面に傷や汚れが付着
していると反射光が正常に光検知器９ａ〜９ｃに
入射されなくなるので、高周波信号HFのエンベ
ロープEVは低下し、かつ正確なトラツキングエ
ラー信号TE及びフオーカスエラー信号FEが得ら
れなくなる。そこで、この発明ではこの点に着目
してエンベロープEVの低下を検出してそのエン
ベロープEVの低下期間中、トラツキングエラー
信号TE中の、傷、汚れ等により乱された大きな
レベル変動分をスライスして振幅を制限し、後段
の位相補償回路１３へ入力せしめるようにしてト
ラツキングアクチエータ１５の動きを小さくし
て、トラツク飛びのような不具合を起らなくして
いる。以上のことを第４図、第５図に沿つて説明
する。３個の光検知器の中央のもの９ａによつて
検知された再生高周波信号HF（第５図Ａ）は前
置増幅器１０ａ、加算増幅器１１で増幅され、情
報読み取り回路へ入力される一方、エンベロープ
検波器２１に入力され、エンベロープ信号EVが
検出される。このエンベロープ信号EVは電圧比
較器２２へ入力し、そこで基準電圧Vrefと比較
される（第５図Ｂ）。エンベロープ信号EVが基準
電圧Vrefより低下した時に電圧比較器２２の出
力CPはローレベルからハイレベルに状態が変わ
る（第５図ｃ）。電圧比較器２２の出力状態によ
りアナログスイツチ回路２５のオン・オフが制御
され、電圧比較器２２の出力CPがハイレベルの
時オン即ち導通状態になる。一方差動増幅器１２
の出力信号であるトラツキングエラー信号TEは、
スライサ２４と低域フイルタ２１へ入力される
（第５図Ｄ）。低域フイルタ２３はトラツキングエ
ラー信号TE中に含まれる高域周波数成分を取り
除き、デイスクの回転周波数成分以下を通過さ
せ、その出力信号TLはアナログスイツチ回路２
５の一方の入力端子に印加される（第５図Ｅ）。
この信号TLはアナログスイツチ回路２５の導通
によりスライサ２４のバイヤス電圧となる。スラ
イサ２４は、エンベロープ信号EVの低下がない
場合はアナログスイツチ回路２５がオフ、即ち非
導通状態にあるので動作せず、差動増幅器１２か
らのトラツキングエラー信号TEを、そのまま位
相補償回路１３へ通過させる。エンベロープ信号
EVの低下が起きた時に、アナログスイツチ回路
２５が導通状態となるのでスライサ２４は動作状
態となり、低域フイルタ２３の出力信号TLのレ
ベルをバイヤス点として、トラツキングエラー信
号TEの振幅と制限する。従つてトラツキングエ
ラー信号TEの乱れを第５図Ｄの破線から実線へ
と最小にして、位相補償回路１３、電力増幅器１
４へと伝えるので、トラツキングアクチエータ１
５の振れは小さくなり、トラツク飛び等の不具合
を起こさなくなる。
再生高周波信号HFは、第３図Ｒに示すようにス
ポツト２０ａが情報トラツク８の中心からずれて
いくと、そのエンベロープEVは低下する。これ
と同様にデイスク表面や記録面に傷や汚れが付着
していると反射光が正常に光検知器９ａ〜９ｃに
入射されなくなるので、高周波信号HFのエンベ
ロープEVは低下し、かつ正確なトラツキングエ
ラー信号TE及びフオーカスエラー信号FEが得ら
れなくなる。そこで、この発明ではこの点に着目
してエンベロープEVの低下を検出してそのエン
ベロープEVの低下期間中、トラツキングエラー
信号TE中の、傷、汚れ等により乱された大きな
レベル変動分をスライスして振幅を制限し、後段
の位相補償回路１３へ入力せしめるようにしてト
ラツキングアクチエータ１５の動きを小さくし
て、トラツク飛びのような不具合を起らなくして
いる。以上のことを第４図、第５図に沿つて説明
する。３個の光検知器の中央のもの９ａによつて
検知された再生高周波信号HF（第５図Ａ）は前
置増幅器１０ａ、加算増幅器１１で増幅され、情
報読み取り回路へ入力される一方、エンベロープ
検波器２１に入力され、エンベロープ信号EVが
検出される。このエンベロープ信号EVは電圧比
較器２２へ入力し、そこで基準電圧Vrefと比較
される（第５図Ｂ）。エンベロープ信号EVが基準
電圧Vrefより低下した時に電圧比較器２２の出
力CPはローレベルからハイレベルに状態が変わ
る（第５図ｃ）。電圧比較器２２の出力状態によ
りアナログスイツチ回路２５のオン・オフが制御
され、電圧比較器２２の出力CPがハイレベルの
時オン即ち導通状態になる。一方差動増幅器１２
の出力信号であるトラツキングエラー信号TEは、
スライサ２４と低域フイルタ２１へ入力される
（第５図Ｄ）。低域フイルタ２３はトラツキングエ
ラー信号TE中に含まれる高域周波数成分を取り
除き、デイスクの回転周波数成分以下を通過さ
せ、その出力信号TLはアナログスイツチ回路２
５の一方の入力端子に印加される（第５図Ｅ）。
この信号TLはアナログスイツチ回路２５の導通
によりスライサ２４のバイヤス電圧となる。スラ
イサ２４は、エンベロープ信号EVの低下がない
場合はアナログスイツチ回路２５がオフ、即ち非
導通状態にあるので動作せず、差動増幅器１２か
らのトラツキングエラー信号TEを、そのまま位
相補償回路１３へ通過させる。エンベロープ信号
EVの低下が起きた時に、アナログスイツチ回路
２５が導通状態となるのでスライサ２４は動作状
態となり、低域フイルタ２３の出力信号TLのレ
ベルをバイヤス点として、トラツキングエラー信
号TEの振幅と制限する。従つてトラツキングエ
ラー信号TEの乱れを第５図Ｄの破線から実線へ
と最小にして、位相補償回路１３、電力増幅器１
４へと伝えるので、トラツキングアクチエータ１
５の振れは小さくなり、トラツク飛び等の不具合
を起こさなくなる。
第６図は、この発明をフオカシング装置に適用
した場合の１実施例を示すブロツクダイヤグラム
で、図中１〜１１，１６〜１９は第１図の従来の
ものと同等のものであつて、その動作は従来例で
説明した通りである。なおトラツキング装置につ
いては上述したので省略している。２１，２２は
上記第４図の実施例と同じエンベロープ検波器及
び電圧比較器、２６は低域フイルタで、第４図の
２３と同様差動増幅器１６の出力信号であるフオ
ーカスエラー信号FE中に含まれる高域周波数成
分を取り除き、デイスクの回転周波数成分以下を
通過させ出力信号FLを得る。２８は、第４図の
２５と同様、電圧比較器２２の出力CPがハイレ
ベルの時導通状態となるアナログスイツチ、２７
は、アナログスイツチ２８の導通状態の時動作状
態となり、低域フイルタ２６の出力信号FLのレ
ベルをバイヤス点として、フオーカスエラー信号
FEの振幅を制限するスライサーである。
した場合の１実施例を示すブロツクダイヤグラム
で、図中１〜１１，１６〜１９は第１図の従来の
ものと同等のものであつて、その動作は従来例で
説明した通りである。なおトラツキング装置につ
いては上述したので省略している。２１，２２は
上記第４図の実施例と同じエンベロープ検波器及
び電圧比較器、２６は低域フイルタで、第４図の
２３と同様差動増幅器１６の出力信号であるフオ
ーカスエラー信号FE中に含まれる高域周波数成
分を取り除き、デイスクの回転周波数成分以下を
通過させ出力信号FLを得る。２８は、第４図の
２５と同様、電圧比較器２２の出力CPがハイレ
ベルの時導通状態となるアナログスイツチ、２７
は、アナログスイツチ２８の導通状態の時動作状
態となり、低域フイルタ２６の出力信号FLのレ
ベルをバイヤス点として、フオーカスエラー信号
FEの振幅を制限するスライサーである。
このフオーカシング装置も、第４図のトラツキ
ング装置と同様に動作し、デイスク表面や記録面
の傷や汚れによる反射光の低下をエンベロープ信
号EVの低下として、電圧比較器２２で検出し、
その出力CPでアナログスイツチ回路２８をオ
ン・オフする。即ちエンベロープ信号EVの低下
がない場合は、アナログスイツチ回路はオフでス
ライサ２７は動作せずフオーカスエラー信号FE
はそのまま位相補償回路１７へ通過し、電力増幅
器１８により増幅されてフオーカシングアクチエ
ータ１９を駆動して通常の焦点合せが行なわれ
る。エンベロープ信号EVの低下が起きた時は、
アナログスイツチ２８は導通し、スライサ２７
は、フオーカスエラー信号FEの傷、汚れ等によ
り乱された振幅変化を制限し、フオーカシングア
クチエータ１９の振れを抑え、焦点外れなどの不
都合の動作を除いている。
ング装置と同様に動作し、デイスク表面や記録面
の傷や汚れによる反射光の低下をエンベロープ信
号EVの低下として、電圧比較器２２で検出し、
その出力CPでアナログスイツチ回路２８をオ
ン・オフする。即ちエンベロープ信号EVの低下
がない場合は、アナログスイツチ回路はオフでス
ライサ２７は動作せずフオーカスエラー信号FE
はそのまま位相補償回路１７へ通過し、電力増幅
器１８により増幅されてフオーカシングアクチエ
ータ１９を駆動して通常の焦点合せが行なわれ
る。エンベロープ信号EVの低下が起きた時は、
アナログスイツチ２８は導通し、スライサ２７
は、フオーカスエラー信号FEの傷、汚れ等によ
り乱された振幅変化を制限し、フオーカシングア
クチエータ１９の振れを抑え、焦点外れなどの不
都合の動作を除いている。
以上のように、この発明によれば、デイスクの
記録面、保護膜の傷やデイスク表面に付着してい
る汚れ等によつて反射光が正常に戻らなくなり、
トラツキングエラー信号やフオーカスエラー信号
が大きく乱れても、これらの乱れを充分に制限
し、その為のアクチエータの大きな振れを抑え、
トラツク飛びや焦点ずれ等の不具合を起こさずに
正常なトラツク追跡を行い得ることができる。
記録面、保護膜の傷やデイスク表面に付着してい
る汚れ等によつて反射光が正常に戻らなくなり、
トラツキングエラー信号やフオーカスエラー信号
が大きく乱れても、これらの乱れを充分に制限
し、その為のアクチエータの大きな振れを抑え、
トラツク飛びや焦点ずれ等の不具合を起こさずに
正常なトラツク追跡を行い得ることができる。
上記実施例で説明したトラツキング装置或はフ
オーカシング装置は単なる１例を示したに過ぎず
他の手段によつてトラツキングエラー信号或はフ
オーカスエラー信号を得るものにも、この発明が
適用し得ることは勿論である。
オーカシング装置は単なる１例を示したに過ぎず
他の手段によつてトラツキングエラー信号或はフ
オーカスエラー信号を得るものにも、この発明が
適用し得ることは勿論である。
第１図は、従来の光学式デイスク再生装置のト
ラツキング装置及びフオーカシング装置を示すブ
ロツクダイヤグラム、第２図は、デイスクのトラ
ツクを照射する３個の光スポツトの位置関係を示
す図、第３図は光スポツトがデイスクの径方向に
横断した時得られるトラツキングエラー信号TE
及び再生高周波信号を示す波形図、第４図はこの
発明をトラツキング装置に適用した場合の１実施
例を示すブロツクダイヤフラム、第５図は、第４
図に示すブロツクダイヤグラムの各部の信号波形
のタイムチヤート、第６図はこの発明をフオーカ
シング装置に適用した場合の１実施例を示すブロ
ツクダイヤグラムである。 図において、１，３，４，５は光ビーム２を発
生させるためのレーザ光源、回折格子、ビームス
プリツタ、1/4波長板である。６は対物レンズ系、
７は円板状記録媒体であるデイスク、８は情報ト
ラツク、９ａ，９ｂ，９ｃは光検知器、１１は再
生高周波信号HFを取出す加算増幅器、１２はト
ラツキングエラー信号TEを取出す差動増幅器、
１５はトラツキングアクチエータ、１６はフオー
カスエラー信号FEを取出す差動増幅器、１９は
フオーカシングアクチエータ、２１はエンベロー
プ検波器、２２は電圧比較器、２３，２６は低域
フイルタ、２４，２７はスライサ、２５，２８は
アナログスイツチ回路である。
ラツキング装置及びフオーカシング装置を示すブ
ロツクダイヤグラム、第２図は、デイスクのトラ
ツクを照射する３個の光スポツトの位置関係を示
す図、第３図は光スポツトがデイスクの径方向に
横断した時得られるトラツキングエラー信号TE
及び再生高周波信号を示す波形図、第４図はこの
発明をトラツキング装置に適用した場合の１実施
例を示すブロツクダイヤフラム、第５図は、第４
図に示すブロツクダイヤグラムの各部の信号波形
のタイムチヤート、第６図はこの発明をフオーカ
シング装置に適用した場合の１実施例を示すブロ
ツクダイヤグラムである。 図において、１，３，４，５は光ビーム２を発
生させるためのレーザ光源、回折格子、ビームス
プリツタ、1/4波長板である。６は対物レンズ系、
７は円板状記録媒体であるデイスク、８は情報ト
ラツク、９ａ，９ｂ，９ｃは光検知器、１１は再
生高周波信号HFを取出す加算増幅器、１２はト
ラツキングエラー信号TEを取出す差動増幅器、
１５はトラツキングアクチエータ、１６はフオー
カスエラー信号FEを取出す差動増幅器、１９は
フオーカシングアクチエータ、２１はエンベロー
プ検波器、２２は電圧比較器、２３，２６は低域
フイルタ、２４，２７はスライサ、２５，２８は
アナログスイツチ回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 情報を記録したトラツクを有する円板状記録
媒体，光ビームを発生する装置、この装置からの
光ビームを上記記録媒体のトラツク上に集束させ
る対物レンズ系、このトラツクからの反射光ビー
ムを検知して、そのトラツクに記録された情報を
読出し再生高周波信号を取出す装置、上記反射光
ビームを検知して上記トラツク上への光ビームの
上記トラツクからのずれに応じたトラツキングエ
ラー信号を取出す装置、このトラツキングエラー
信号により附勢され上記対物レンズ系を、上記光
ビームが常にトラツク上に正しく位置するよう駆
動するトラツキングアクチエータを備えた光学式
デイスク再生装置において、上記再生高周波信号
のエンベロープを検出するエンベロープ検波器、
この検波器の出力電圧を基準電圧と比較する電圧
比較器、上記トラツキングエラー信号中の高周波
分を除去し記録媒体回転周波数成分以下を通過さ
せる低域フイルタ、上記トラツキングエラー信号
の振幅を制限するスライサ、このスライサと上記
低域フイルタ間に接続され、上記エンベロープ検
出器出力電圧が基準電圧以下の時生ずる上記電圧
比較器出力電圧の印加時に導通となるスイツチ回
路、および上記スライサを経たトラツキングエラ
ー信号電圧を位相補償し、増幅して上記トラツキ
ングアクチエータに印加する回路とを設け、上記
スイツチ回路の導通時に上記スライサを動作状態
として上記低域フイルタ出力電圧をバイヤスとし
て上記トラツキングエラー信号の振幅を制限する
ようにしたことを特徴とする光学式デイスク装
置。 ２ 情報を記録したトラツクを有する円板状記録
媒体、光ビームを発生する装置、この装置からの
光ビームを上記記録媒体のトラツク上に集束させ
る対物レンズ系、このトラツクからの反射光ビー
ムを検知して、そのトラツクに記録された情報を
読出し再生高周波信号を取出す装置、上記反射光
ビームを検知して上記トラツク上への集束光の焦
点ずれに応じたフオーカスエラー信号を取出す装
置、このフオーカスエラー信号により附勢され上
記対物レンズ系を、上記光ビームが常にトラツク
上に正しく焦点を結ぶよう駆動するフオーカシン
グアクチエータを備えた光学式デイスク再生装置
において、上記再生高周波信号のエンベロープを
検出するエンベロープ検出器、この検出器の出力
電圧を基準電圧と比較する電圧比較器、上記フオ
ーカスエラー信号中の高周波分を除去し記録媒体
回転周波数成分以下を通過させる低域フイルタ、
上記フオーカスエラー信号の振幅を制限するスラ
イサ、このスライサと上記低域フイルタ間に接続
され、上記エンベロープ検出器出力電圧が基準電
圧以下の時生ずる上記電圧比較器出力電圧の印加
時に導通となるスイツチ回路、および上記スライ
サを経たフオーカスエラー信号電圧を位相補償
し、増幅して上記フオーカシングアクチエータに
印加する回路とを設け、上記スイツチ回路の導通
時に上記スライサを動作状態として上記低域フイ
ルタ出力電圧をバイヤスとして上記フオーカスエ
ラー信号の振幅を制限するようにしたことを特徴
とする光学式デイスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11139183A JPS605432A (ja) | 1983-06-21 | 1983-06-21 | 光学式デイスク再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11139183A JPS605432A (ja) | 1983-06-21 | 1983-06-21 | 光学式デイスク再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS605432A JPS605432A (ja) | 1985-01-12 |
| JPH0154783B2 true JPH0154783B2 (ja) | 1989-11-21 |
Family
ID=14559974
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11139183A Granted JPS605432A (ja) | 1983-06-21 | 1983-06-21 | 光学式デイスク再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS605432A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5746357A (en) * | 1980-09-04 | 1982-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Tracking servo circuit |
| JPS588054A (ja) * | 1981-07-06 | 1983-01-18 | Chisso Corp | トランス−４−（４′−置換フエニル）−シクロヘキサンカルボン酸４″ ′−シアノビフエニルエステル |
-
1983
- 1983-06-21 JP JP11139183A patent/JPS605432A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS605432A (ja) | 1985-01-12 |
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