JPH0157546B2 - - Google Patents

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JPH0157546B2
JPH0157546B2 JP9261083A JP9261083A JPH0157546B2 JP H0157546 B2 JPH0157546 B2 JP H0157546B2 JP 9261083 A JP9261083 A JP 9261083A JP 9261083 A JP9261083 A JP 9261083A JP H0157546 B2 JPH0157546 B2 JP H0157546B2
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JP
Japan
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scanning
signal
light
image signal
original
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JP9261083A
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Yurugenzen Hainritsuhi
Tsuerenka Toomasu
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DOKUTORU INGU RUDORUFU HERU GmbH
Original Assignee
DOKUTORU INGU RUDORUFU HERU GmbH
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Publication date
Application filed by DOKUTORU INGU RUDORUFU HERU GmbH filed Critical DOKUTORU INGU RUDORUFU HERU GmbH
Publication of JPS592484A publication Critical patent/JPS592484A/ja
Publication of JPH0157546B2 publication Critical patent/JPH0157546B2/ja
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  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
  • Vehicle Body Suspensions (AREA)
  • Container Filling Or Packaging Operations (AREA)
  • Supplying Of Containers To The Packaging Station (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 関連する技術分野 本発明は、透光性の原画支持体上に配置されて
いる原画の光電走査方法並びに平面形または円筒
形検出器に対する走査装置に関する。
半円形または円筒形検出器は例えば、フアクシ
ミリ伝送技術において使用される。光線は複製す
べき原画を走査線において点状に走査する。原画
から到来する走査光は、光電検出器に入射しかつ
そこで画像信号に変換される。画像信号は、伝送
チヤネルを介してフアクシミリ記録装置に伝達さ
れ、記録装置において原画の複製が記録される。
組立てられた原画、所謂貼り合わせモンタージ
ユとは、原画支持体上において１頁全体に組立て
られる、文字および写真などから成る複数の個別
原画のことである。個別原画は、反射式原画であ
つても透過式原画であつてもよく、また貼り合わ
せモンタージユは、相応に反射式または透過式に
走査される。
個別原画の、シヤドウ縁とも称される組立て縁
の走査の際、また原画中の疵においても、走査光
は非対称な強度分布で散乱反射ないし透過され
る。このために、走査機器によつてほぼ点状に光
測定される場合、誤測定が生じ、従つて画信号に
振幅歪が生じる。この種の振幅歪に基いて、組立
て縁またはシヤドウ縁は、貼り合わせモンタージ
ユの記録の際目障りな黒い縁取りとして再現され
る。
貼り合わせモンタージユを、走査線の左右に配
置されている２つの光源によつて照射するかまた
は走査光を走査線の左右に配置された光電変換器
によつて検出することが公知である。このように
して振幅歪を低減できるが、排除することはでき
ない。
更に、非対称な走査光を出来るだけ大きな空間
角度において集光しかつ光電変換器に供給する光
検出器を有する走査装置を使用することは公知で
ある。しかしこの形式の光検出器によつても、振
幅歪は低減されるにすぎず、完全には取除かれな
い。
発明の課題 従つて本発明の課題は、上記の欠点を回避する
ために、組立て縁、疵などに基づく画信号中の振
幅歪を回避し、それにより一層高い複製品質が得
られるようにする、例えば貼り合わせモンタージ
ユの反射式または透過式走査に対する走査方法お
よび走査装置を提供することである。走査装置
は、平面形検出器に対しても、円筒形検出器に対
しても使用可能であるべきである。
発明の開示 この課題は本発明によれば、特許請求の範囲第
１項および第５項の要旨に記載の特徴によつて解
決される。
本発明の有利な実施例は、特許請求の範囲の実
施態様項に記載されている。
実施例の説明 次に本発明を図示の実施例に基いて詳細に説明
する。
第１図は、平面形検出器における例えば貼り合
わせモンタージユに対する走査装置の有利な実施
例を示す。
可動の、透明に形成された走査台１に、複製す
べき貼り合わせモンタージユ２が配置されてい
る。貼り合わせモンタージユ２とは、例えば硬化
ろうを用いて、透光性の原画支持体５上に１頁全
体に組立てられた文字および写真などから成る個
別原画３および４である。原画支持体５は、高い
透過度を有する透明シートであるが、比較的僅か
な透過度を有する薄い紙であつてもよい。個別原
画３および４は、反射式原画でもよいし、透過式
原画でもよい。
光源６、例えばレーザは、回転多面鏡８に入射
する光線７を発生する。回転多面鏡８の回転軸９
は、光線の光軸に対して垂直に配向されている。
モータ１０は、回転多面鏡８を、一定の角速度で
矢印１１の方向に駆動する。回転多面鏡８の回転
によつて、光源６から射出される光線７が個々の
鏡面によつて反射されかつレンズ１２を介して連
続的に走査線方向１３において貼り合わせモンタ
ージユ２上へ偏向される。同時に走査台１は走査
線方向１３に対して直角に、歩進的または連続的
な送り運動を行ない、これにより貼り合わせモン
タージユ２は順次並んだ走査線において点状に走
査される。
走査台１の、光源６の方の側には、第１の光電
検出器１４が配置されており、かつそれとは反対
の側には、第２の光電検出器１５が配置されてい
る。第１の検出器１４は、貼り合わせモンタージ
ユ２によつて反射された走査光を検出しかつ第１
の走査信号を導線１６に発生し、第２の検出器１
５は透過された走査光を受信しかつ第２の走査信
号を導線１７に発生する。
第１および第２の走査信号は、導線１６および
１７を介して、組立て縁またはシヤドウ縁並びに
疵に基いて画信号中に生じる振幅歪に対する補償
回路１８に達する。補償回路１８に達する。補償
回路１８は、図示されていないフアクシミリ記録
装置に伝送するために修正された画像信号U* Bを
発生する。
検出器１４および１５は、走査線の長さにわた
つて延在するホトダイオード列であるが、光線と
ともに走査線方向において一緒に案内される個別
ホトダイオードまたはホトマルチプライアであつ
てもよい。
実施例において、検出器１４および１５は有利
には、定置の受光装置として例えば、走査線の方
向において延在するスリツト状の開口部を有する
中空シリンダの形式において構成されている。
上方の検出器１４の受光装置１４′は、走査光
線７′に対する光入射用開口部１９および走査台
１の方を向いている、走査光線７′および原画か
ら反射される走査光に対する光通過および入射用
開口部２０を有する。これに対して下方の検出器
１５の受光装置１５′は、貼り合わせモンタージ
ユ２を透過した走査光に対する、走査台１の方を
向いている光入射用開口部２１しか有していな
い。２つの受光装置１４′および１５′は更に、光
検出面２２および２３を有する。これらの面は、
光学的断面積変換器２４および２５の最大の拡が
り幅を有する面によつて形成される。光学的断面
積変換器２４および２５は、複数の光フアイバか
ら形成されている。光学的断面積変換器２４およ
び２５の、比較的小さな拡がり幅を有する面２６
および２７は、光電変換器２８および２９、例え
ばホトマルチプライアに結合されており、これら
が走査検出信号を導線１６および１７に発生す
る。
受光装置１４′および１５′の光検出面２２およ
び２３に相対する内面はそれぞれ、散乱リフレク
タ３０および３１として形成されている。ただし
断面積変換器２４および２５を成す光フアイバの
開口角βによつて決められる範囲においてであ
る。
その際開口角βに基いて光フアイバの端面に到
来する光のみが、光フアイバを介して光電変換器
２８および２９に伝送される。
受光装置１４′および１５′の残りの内面は、鏡
３２および３３として形成されている。選択的
に、受光装置１４′および１５′の内面全体を散乱
反射するようにすることもできる。
リフレクタ３０および３１の形状および間隔
は、これらによつて散乱反射される光の出来るだ
け沢山の部分が開口角β内で光検出面２２および
２３に入射するように、選択されている。リフレ
クタ３０および３１から到来するが、光検出面２
２および２３に直接には当たらない散乱光は、鏡
３２および３３によつて殆んど損失なくリフレク
タ３０および３１に２次反射されかつ新たに光検
出面２２および２３の方向に散乱反射される。一
方における光検出面２２および光通過および入射
開口部２０、他方における光検出面２３および光
入射開口部２１は、貼り合わせモンタージユ２か
ら到来する走査光が光検出面２２ないし２３に直
接達せず、少なくとも１度リフレクタ３０および
３１で散乱反射されるように、互いに位置してい
る。受光装置１４′の光入射開口部１９は有利に
は、光沢のある原画表面から反射された、変調さ
れない走査光が光入射開口部１９から直接再び射
出するように選択されている。
第１Ａ図に図示の、受光装置１４′の断面図を
用いて不透明原画の反射式走査についての光検出
状態を詳しく説明する。
第１Ａ図には、光の入射開口部１９、光透過お
よび入射開口部２０、光学的断面積変換器２４の
光フアイバ２４′ならびにその被覆部２４″が図示
されている。光検出面２２は、光軸２４*と開口
角βとを有する光フアイバ２４′の端面から形成
されており、その際この端面に開口角β内で入射
した光だけが更に伝送される。
光検出面２２に対向する側の受光装置１４′の
内壁面は、少なくとも光フアイバ２４′の開口角
βにより限定される領域が拡散反射面（散乱リフ
レクタ）３０として形成されており、受光装置の
その他の内壁面は正反射面（鏡）３２，３２′か
ら成る。しかし内壁面全体を拡散反射面に形成し
てもよい。
拡散反射面３０の形状および間隔は、反射面３
０により拡散反射された光の出来るだけ多くの部
分が、開口角β内で光検出面２２に入射するよう
に選定されている。反射面３０からの散乱光は、
直接には光検出面２２には入射せず、鏡３２およ
び３２′によつてほぼ損失なく反射面３０に戻さ
れ、また新たに拡散反射される。
光検出面２２と光透過開口部２０とは、原画２
からの走査光が直接には光検出面２２に達するこ
となく、少なくとも反射面３０で１度拡散反射さ
れるように、相互の位置を定められている。
第１Ａ図には詳しい説明のためにいくつかの特
性を示す光路が示されている。
走査用ビーム７′は光入射開口部１９と光透過
開口部２０とを通つて、原画支持体１に載置され
た原画２上に達する。光線７′は原画２上で瞬時
走査点２′の画像内容によつて変調され、走査点
２′から開口γ1で発散される走査光束ａとして光
通過開口部２０を通過して再び受光装置１４′内
に拡散反射される。走査光束ａのエツジの光線ｂ
は拡散反射面３０に直接入射し、図示の輝度分布
（輝度＝矢印の長さ）を有する散乱光Ｋに分解さ
れ、この散乱光から角度αで発散される散乱光束
ｃが光検出面２２に入射する。走査光束ａの別の
エツジの光線ｄは光検出面２２には達しないで、
鏡３２から反射面３０に導びかれ、やはり散乱光
ｃに分解され、そこから発散される散乱光束ｆが
光検出面２２に直接反射される。光検出面２２に
達しない散乱光は、直接または鏡３２および３
２′を介して再び反射面３０に達する。例えば散
乱ビームｇは直接反射面３０に達し、散乱ビーム
ｈは鏡３２を介して反射面３０に達し、そこで改
めて散乱光ｉに分解され、そこから散乱光束ｊが
光検出面２２に入射する。
走査光束ａのうち、原画２上での正反射により
生ずる部分は、小さな開口角γ2で反射されるの
で、光入射開口部１９を通つて受光装置１４′外
へ放出されて無効となる。
光検出面２２に達した散乱光束が散乱光の主方
向（最高輝度の散乱光の方向）と一致したとき、
受光装置１４′が最大効率を示す。これは、拡散
反射面３０と鏡３２′とが、光検出面２２の面法
線２４*（光軸）の基点を中心とする円の部分で
あり且つ鏡３２が光軸２４*と反射面３０の交点
を中心とする第２の等しい大きさの円の部分であ
るときに成立する。図示の実施例では、簡単化し
て単に円環状断面で示した。
なお、透過式受光装置１５′の詳しい実施例は、
原理的には受光装置１４′と同じであるのでここ
での説明を省略するが、この種の受光装置は特願
昭57−74646号明細書（特許第1464004号）から公
知のものである。
このような受光装置１４′もしくは１５′の使用
は次のような利点がある。
拡散反射面、即ち散乱リフレクタ３０および３
１並びに鏡３２および３３の既述の配置によつ
て、貼り合わせモンタージユ２から到来する走査
光の大部分が、光検出面２２ないし２３に達しか
つ断面積変換器２４および２５を介して光電変換
器２８および２９に達する。従つて受光装置１
４′および１５′は高い効率を有し、その結果走査
光線７を発生する光源６は、比較的僅かな出力の
ものを使用することができる。
光電変換器２８および２９に達する走査光の大
部分およびリフレクタ３０および３１における散
乱反射によつて、既に光フアイバの開口角βが完
全に利用されかつ貼り合わせモンタージユにおけ
る疵およびシヤドウ縁による障害となる影響が低
減される。リフレクタ３０および３１によつて反
射される散乱光は、光検出面２２および２３の長
手方向にも伝播されるので、光電変換器２８およ
び２９への光伝播には多数の光フアイバが関与
し、これにより個々の光フアイバの不均一な伝送
特性は有利にも低減されかつ走査の高度な一様性
が得られる。
第２図は、補償回路の１実施例を示す。補償回
路１８は、画像信号UBの信号路における加算段
３４、遅延段３５および、例えばサンプル・アン
ド・ホールド回路の形式の記憶段３６、並びに散
乱光および／または陰影に基いて画像信号UB中
に振幅歪が生じるその原画個所を識別する信号
（以下単に識別信号と称する）UZの信号路におけ
るパルス成形回路（パルス成形段３７および単安
定マルチバイブレータ３８）から成る。更に、走
査の形式（反射／透過）に応じて、画像信号UB
が加算段３４に切換えられかつ識別信号UZがパ
ルス成形器３７に切換えられるように作用する切
換スイツチ３９が設けられている。
反射式走査 貼り合わせモンタージユ２の反射式走査では、
切換スイツチ３９は図示の位置にある。上の方の
検出器１４は、本来の画像情報を発生し、かつ第
１の走査信号は画像信号UBであり、一方下の方
の検出器１５は付加情報を発生しかつ第２の走査
信号は識別信号UZである。画像信号UBおよび識
別信号UZは、加算段３４において加算され、そ
の際得られた変形された画像信号UB′は、遅延段
３５において時間τ1だけ遅延されかつ画像信号
UB″として記憶段３６に供給される。パルス成形
段３７において識別信号UZの跳躍的変化がその
都度、単安定マルチバイブレータ３８をトリガす
るトリガパルスUZ′に変換される。単安定マルチ
バイブレータ３８は、トリガパルスUZ′の印加に
始まつてその都度、持続時間τ2の間、記憶段３６
に対する制御パルスである電圧パルスUZ″を発生
する。後述するように、記憶段３６は、シヤドウ
縁を抑圧するために、トリガパルスUZ′の発生時
点において記憶段３６に生じる画像信号値UB″を
持続時間τ2の間、記憶段３６に加わる画像信号値
がその間に変化しようとも維持しかつ修正された
画像信号UB *として転送するために用いられる。
貼り合わモンタージユの反射式走査において、
原画支持体が透明であるとき、画像信号UBと識
別信号UZとを加算すると特別有利である。原画
支持体が透明でない場合信号加算は行なわれな
い。反射式走査における補償回路１８の動作を、
第３ａ図および第３ｂ図に基いて説明する。
第３ａ図は、透明な走査台１および走査台の上
に載かれた、図示の例では透明な原画支持体５
（透明シート）とその原画支持体５に組立てられ
た反射式原画３とから成つている貼り合わせモン
タージユの走査線方向１３における断面図であ
る。しかし原画支持体５は、例えば白い紙の場合
のように、単に僅かな透光性（散乱透過性）のも
のであつてもよい。反射式原画３の情報を支持す
る部分４１を、白い縁４２によつて取囲むと有利
である。反射式原画３は、組立て縁またはシヤド
ウ縁４３を有する。更に、上方の検出器１４およ
び下方の検出器１５並びに走査線方向１３におい
て貼り合わせモンタージユ上を移動することがで
きる走査光線７′が図示されている。
第３ｂ図には、貼り合わせモンタージユの走査
の際走査線方向１３において生じる信号経過がダ
イヤグラムＡ）ないしＧ）で図示されている。
ダイヤグラムＡ）には、上方の検出器１４によ
つて得られる、反射式走査の際本来の画像情報を
発生する画像信号UBが図示されている。ダイヤ
グラムＢ）には、下方の検出器１５によつて発生
される識別信号UZが示されている。
ダイヤグラムＣ）は、変形された画像信号
UB′を得るために、補償回路１８の加算段３４に
おける画像信号UBと識別信号UZとの加算を示す。
加算によりまず有利にも、反射式原画３の外部に
ある、原画支持体５の領域４４および４５が、
“白”として再現されるようにできる。しかし、
再生記録の際“黒”またはシヤドウとして再現さ
れる信号落込み部４６はまだ存在する。
ダイヤグラムＤ）において、パルス成形段３７
において生じるトリガパルスUZ′が図示されてい
る。このトリガパルスは、反射から透過またはそ
の反対の変換の際その都度生じる。またこのパル
スは場合に応じた、シヤドウ縁の存在を信号とし
て知らせる。ダイヤグラムＥ）は、単安定マルチ
バイブレータにおいて得られる、持続時間τ2の電
圧パルス、即ち制御パルスUZ″を示す。
ダイヤグラムＦ）は、遅延段３５において持続
時間τ1だけ遅延された画像信号UB″を示し、この
信号は記憶段３６に供給される。
ダイヤグラムＧ）には、シヤドウ縁を抑圧する
ために、記憶段３６において形成される画像信号
UB *が図示されている。この画像信号は最終的に
記憶部に達する。記憶段３６は、シヤドウ縁の発
生の際時点t1およびt2において得られる画像信号
値“白”を、制御パルスUZ″の持続時間τ2の間そ
の都度固定し、これにより有利にも画像信号UB
における信号落込み部４６が低減され、従つてシ
ヤドウ縁が抑圧される。
透過式走査 透過式走査では、切換スイツチ３９は破線で示
す位置にある。上方の検出器１４は、付加情報を
送出し、かつ第１の走査信号は識別信号UZであ
る。下の方の検出器１５は、本来の画像情報を発
生し、かつ第２の走査信号は、画像信号UBであ
る。透過式走査の際の補償回路１８の動作を、第
４ａ図および第４ｂ図に基いて説明する。
第４ａ図も、透明な走査台１およびその上に配
置された貼り合わせモンタージユの走査線方向１
３における断面を示す。第３ａ図との差異は、こ
こでは透過式原画３が透光性の原画支持体５上に
載置されている点にある。透過式原画はその他に
更に、疵４８を有しているものとする。
第４ｂ図は、貼り合わせモンタージユの透過式
走査の際走査線方向１３において生じる信号経過
を、ダイヤグラムＡ）ないしＥ）において示す。
ダイヤグラムＡ）には、下の方の検出器１５に
おいて発生された画像信号UBが図示されており、
ダイヤグラムＢ）には、上方の検出器１４におい
て得られた識別信号UZが図示されている。
貼り合わせモンタージユの領域４４および４５
の走査の際、すべての走査光は透明な原画支持体
５を介して直接下方の検出器１５に達しかつ走査
光線は、上方の検出器１４の方向に反射されな
い。画像信号UBは白レベルにありかつ識別信号
UZは黒レベルにある。透過式原画３の情報担体
部分４１の走査の際、単に走査光のみが下方の検
出器１５に達する。シヤドウ縁４３および疵４８
の走査の際、走査光が散乱され、僅かな部分しか
下方の検出器１５に達しず、かつここでも画像信
号UBにおける信号落込み部分４６が生じる。し
かし同時にシヤドウ縁４３および疵４８において
も走査光が上方の検出器１４の方向において反射
され、上方の検出器は受信された走査光を識別信
号UZの電圧パルス４９に変換する。
ダイヤグラムＣ）は、画像信号UB′を得るため
に、補償回路１８の加算段３４における画像信号
UBと識別信号UZとの加算を示す。
画像信号UBにおいて生じた大きな信号落込み
部分４６が信号加算によつて画像信号UB′では既
に著しく低減されていることがわかる。識別信号
UZの電圧パルス４９の振幅が、信号落込み部分
４６の高さのほぼ半分であるようにすれば、信号
落込み部分はほぼ完全に低減される。この場合、
加算段３４の出力信号UB′を既に、第２図に図示
されているように、修正された画像信号UB *とし
て使用することもできる。
完全なシヤドウ縁抑圧をできるように、原画支
持体５のうち、原画は被覆されていない領域４４
および４５を白いシートによつて被覆することが
できる。この場合、ダイヤグラムＤ）およびＥ）
において図示されておりかつ反射式走査に対する
第３ｂ図のダイヤグラムＡ）およびＢ）に相応す
る、変形された画像信号Bおよび変形された識
別信号Zが生じる。第３ｂ図に図示されている
ように、これらの信号から出発して、透過式走査
においても、記憶段３６を用いてシヤドウ縁抑圧
を行なうことができる。
貼り合わせモンタージユが、線原画（文字、線
画等）並びに連続階調原画（写真）から組合わさ
れているとき、線原画から到来する画像信号を連
続階調原画の画像信号と区別する必要があること
が多い。というのは例えば線原画は線―記録とし
て、これに対して連続階調原画は網目化されて記
録されるべきであるからである。この場合識別信
号UZを発生する検出器１４（反射式走査の場合）
または検出器１５（透過式走査の場合）を有利に
も、“線”に対する識別信号または“連続階調”
に対する識別信号を発生するために使用すること
ができる。このために例えば特徴付けるべき原画
の前に走査線方向において原画支持体５上にマー
クが付けられる。マークは相応の識別信号を得る
ために、相応の検出器によつて走査される。
貼り合わせモンタージユの種々異なつた原画の
画像情報が別個のメモリまたはメモリの別個の領
域に格納されるべき場合、各原画に対して有利に
は、マークに検出器によつて読取られかつ評価さ
れるバーコードを設けることによつて識別信号が
発生される。バーコードは同様に記憶されかつ
個々の原画の画像情報の、メモリからの検索を容
易にする。
第５図は、検出器１４および検出器１５が第１
図とは異なつた変形された受光装置１４″および
１５″を有する走査装置の別の実施例を示す。
受光装置は、光用空間５０および５１それぞれ
が走査台１の方を向いている中空シリンダのほぼ
半分の形状を有する。受光装置１４″はその他に
更に、走査光線７′に対する光入射用開口部５２
を有する。受光装置１４″および１５″の内面全体
は、この場合も複数の部分面５３から成る光検出
面として形成されている。部分面は実施例におい
ては、第５図には詳しくかつ全長にわたつて図示
されていない、光フアイバ５４の端面５３であ
る。光フアイバ５４は、端面５３が中空シリンダ
半体のほぼ正接面を形成するように配置されてい
る。各受光装置においてそれぞれ、“Ａ”および
“Ｂ”によつて示されている光フアイバ全体５４
は、光フアイバ束５５（Ａ＋Ｂ）ないし５６
（A′＋B′）にまとめられており、その際光フアイ
バ５４の他方の端面ともそれぞれ、走査光線に対
する光射出面５７ないし５８を形成する。光射出
面５７ないし５８にそれぞれ、例えば高速ホトマ
ルチプライアの形式の光電変換器２８ないし２９
が光結合されており、これらが線１６または１７
に画像信号UBないし識別信号UZを発生する。選
択的に部分面５３は、ホトダイオードの光入射面
とすることもできる。
第５ａ図には、光検出面５３が複数の光フアイ
バ５４の一方の端面によつて形成され、その際該
端面の平面法線が到来する走査光の方向に配向さ
れており、かつ光フアイバ５４の他方の端面５７
が、光電変換器２８に結合されている、本発明の
実施例が一方の走査装置の側についてのみ略示さ
れている。
第５図の実施例は、特願昭57−74647号明細書
に記載された公知の走査装置に基いている。詳し
くは同明細書を参照されたい。
これまで説明してきた、走査装置の実施例は、
平面形走査装置に設計されておりかつ受光装置
が、第１図および第５図から明らかなように、少
なくとも走査台１の長さにわたつて延在するよう
に構成されている。
しかし走査装置は、円筒形走査装置にも有利に
使用される。円筒形走査装置に対する中空球の形
をした光検出装置の実施例は、上述の特許第
1464004号明細書、第５図に示されている。この
ような円筒形走査装置および対応の光検出装置に
本発明の走査装置を使用した場合の実施例が第８
図に略示されている。図示のようにこの実施例で
は円筒形走査装置に対して２つの光検出器１４，
１５を備えている。円筒形走査装置において走査
ドラムは回転し、かつ走査装置は光源６および光
検出器１４とともに矢印の方向に軸線方向に走査
ドラムに沿つて移動する。第２の光検出器１５は
走査ドラムの内部にありかつ走査ドラムないし第
１の光検出器１４と同期して走査ドラムに適当に
機械的な連結部材を介して移動する。そのために
例えばＵ字形の支持部材が設けられており、そこ
から脚部が走査ドラムの中空の短軸を介して内部
に案内されている。この脚部に光検出器１５が固
定されており、一方他方の脚部は走査装置のケー
シングに装着されている。
走査装置は勿論、カラーの貼り合わせモンター
ジユの走査に対しても使用することができる。こ
の場合第１図に図示の受光装置１４′および１
５′の実施例においてそれぞれ、３つの断面積変
換器２４および２５が設けられており、これら変
換器の光入射面は全部で、光検出装置の光検出面
２２および２３を形成する。これに対して断面積
変換器の光射出面は、走査光の色分離のために別
個に３つの色分解器を介して３つの別個の光電変
換器に結合され、これら変換器が３つの色測定値
信号を発生する。
第５図に図示の、検出器１４および１５の実施
例では、光電変換器に導かれる光フアイバ束は少
なくとも３つの個別束に分割され、その際別束の
光フアイバ端面はそれぞれ、別個の光射出面を形
成する。光フアイバ束の分割は、次のように行な
われる。即ち光検出面において端面が密に隣接す
る３本の光フアイバが選択されかつこの３本の組
の各光フアイバが１つの個別束を成すようにであ
る。３つの光射出面は、走査光の色分離の目的の
ために同様、３つの色分解器を介して、３つの色
測定値信号を発生するために、３つの別個の光電
変換器に結合されている。
第６図は、線画貼り合わせモンタージユにおい
て使用することができる補償回路１８′の別の実
施例を示す。画像信号UBおよび識別信号UZは、
レベル段として形成されている変換器６１および
６２を用いて、最大振幅が白レベルに相応し、最
小振幅が黒レベルに相応する２レベル信号UB′お
よびUZ′に変換される。２レベル信号UZ′は、パ
ルス成形段３７において単安定マルチバイブレー
タ３８に対するトリガパルスに変換される。単安
定マルチバイブレータは、パルス持続時間τ2の電
圧パルスUZ″を発生する。２レベル信号UB′およ
びUZ′並びに電圧パルスUZ″は、ORゲート６３に
達し、ORゲートの出力信号は、修正された画像
信号UB *である。
第７図は、反射式走査における補償回路１８′
の動作を説明するための波形図を示す。ダイヤグ
ラムＡ）にはここでも、シヤドウ縁に基く信号落
込み部分４６を有する画像信号UBである。ダイ
ヤグラムＢ）は、２レベル画像信号UB′を示し、
ダイヤグラムＣ）は、レベル段６２の出力側にお
ける２レベル識別信号UZ′である。ダイヤグラム
Ｄ）において、パルス持続時間τ2の電圧パルス
UZ″が示されている。ダイヤグラムＥ）は、OR
ゲート６３の出力側における修正された画像信号
UB *を示す。信号の論理OR結合によつて、画像
信号UBにおける電圧落込み部分４６が低減され
たことがわかる。
【図面の簡単な説明】
第１図は平面形走査装置の１実施例の概略を示
す斜視図、第１Ａ図は第１図の受光装置１４′の
横断面図、第２図は本発明の、振幅歪に対する補
償回路の１実施例のブロツク回路図、第３ａ図は
走査台および原画を走査線方向において切断した
断面図、第３ｂ図は反射式走査における補償回路
の動作を説明するための信号波形図、第４ａ図は
走査台および原画を走査線方向において切断した
別の断面図、第４ｂ図は透過式走査における補償
回路の動作を説明するための信号波形図、第５図
は別の平面形走査装置に対する実施例の概略を示
す斜視図、第５ａ図は第５図において光検出面、
光フアイバおよび光電変換器の相互関係を説明す
る概略図、第６図は補償回路の別の実施例のブロ
ツク回路図、第７図は第６図の補償回路の動作を
説明するための信号波形図、第８図は本発明を円
筒形走査装置に使用した実施例の概略を示す断面
略図である。 ５…原画支持体、１４，１５…検出器、１４′，
１４″；１５′，１５″…受光装置、１８，１８′…
補償回路、１９，２０，２１…光入射用開口部、
２２，２３，５３…光検出面、２４，２５…断面
積変換器、２８，２９…光電変換器、３４…加算
段、３５…遅延段、３６…記憶段、３７，３８…
パルス成形器、５０，５１…光入射用空間、６３
…ORゲート、UB…画像信号、UZ…識別信号。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 透光性の原画支持体上に配置されている原画
    を走査線方向に点状に光電走査するための方法に
    おいて、 ａ） 反射および透過式走査を同時に行なうこと
    によつて、同一の原画個所から２つの走査信号
    を取出し、その際一方の走査信号は原画の本来
    の画像信号UBであり、他方の走査信号は、散
    乱光および／または陰影に基いて画像信号中に
    振幅歪が現われる原画個所に対する識別信号
    UZであり、かつ ｂ） 画像信号UB中の振幅歪を前記識別信号UZ
    によつて除去することを特徴とする走査方法。 ２ 振幅歪の除去のために、画像信号UBおよび
    識別信号UZを加算する特許請求の範囲第１項記
    載の走査方法。 ３ ａ） 和信号U′Bを得るために画像信号UBお
    よび識別信号UZを加算し、かつ ｂ） 画像信号中の振幅歪のそれぞれの始めをマ
    ークする前記識別信号UZの跳躍的変化から、
    該信号の跳躍的変化によつて始まりかつその持
    続時間τ2が短くとも振幅歪の生じる最大持続時
    間に相応する電圧パルスU″Zを導出し、 ｃ） 該電圧パルスU″Zを用いてその都度、該電
    圧パルスU″Zの開始の際の前記和信号U′Bの振
    幅値を前記電圧パルスU″Zの持続時間の間保持
    し、振幅歪によつて障害を受けた、前記和信号
    U′Bの振幅の代わりに修正された画像信号U* B
    として出力する特許請求の範囲第１項記載の走
    査方法。 ４ ａ） 画像信号UBおよび識別信号UZを２値
    の形に変換し、 ｂ） 前記画像信号UB中の振幅歪のそれぞれの
    始めをマークする識別信号U′Zの跳躍的変化か
    ら、該信号の跳躍的変化によつて始まりかつそ
    の持続時間τ2が短くとも振幅歪の生じる最大持
    続時間に相応する電圧パルスU″Zを導出し、か
    つ ｃ） 前記２値化された画像信号U′B、２値化さ
    れた識別信号U′Zおよび２値化された電圧パル
    スU″Zに対して振幅歪を除去するために論理
    OR結合を行なう特許請求の範囲第１項記載の
    線原画の走査方法。 ５ 透光性の原画支持体上に配置されている原画
    を走査線方向に点状に光電走査するための走査装
    置において、 ａ） 走査光線を用いて反射式走査による第１の
    走査信号を発生するための第１の光電検出器１
    ４が設けられており、該検出器は原画支持体５
    の、走査光線の方の側に配置されており、 ｂ） 前記走査光線を用いて透過式走査による第
    ２の走査信号を発生するための第２の光電検出
    器１５が設けられており、該検出器は原画支持
    体５の、走査光線とは反対の側に配置されてお
    り、その際一方の走査信号は原画の本来の画像
    信号であり、また他方の走査信号は散乱光およ
    び／または陰影に基いて画像信号に振幅歪が現
    われる原画個所に対する識別信号であり、かつ ｃ） 前記光電検出器１４；１５から画像信号お
    よび識別信号が供給されて、画像信号中の振幅
    歪を識別信号によつて除去する補償回路１８が
    設けられていることを特徴とする走査装置。 ６ 補償回路１８は、画像信号および識別信号に
    対する加算段３４を有する特許請求の範囲第５項
    記載の走査装置。 ７ 補償回路１８は更に、 ａ） 前記加算段で得られた和信号の遅延のため
    に、加算段３４に接続されている遅延段３５を
    有し、 ｂ） 画像信号中の振幅歪の、それぞれの始めを
    マークする識別信号が供給されて、該識別信号
    の跳躍的変化から電圧パルスを発生するパルス
    成形回路３７；３８を有し、その際前記電圧パ
    ルスは前記跳躍的変化によつて始まりかつ該電
    圧パルスそれぞれの持続時間は短くとも振幅歪
    の生じる最大持続時間に相応し、かつ ｃ） 前記電圧パルスによつて制御可能な記憶段
    ３６を有し、該記憶段の入力側は前記遅延段３
    ５に接続されておりかつ同記憶段の制御入力側
    は前記パルス成形回路３７；３８に接続されて
    おりかつ同記憶段を用いてその都度、前記電圧
    パルスの開始の際の前記和信号の振幅値を前記
    電圧パルスの持続時間の間保持し、振幅歪によ
    つて障害を受けた、前記和信号の振幅の代わり
    に修正された画像信号として出力する特許請求
    の範囲第６項記載の走査装置。 ８ 記憶段３６は、サンプル・アンド・ホールド
    回路として構成されている特許請求の範囲第７項
    記載の走査装置。 ９ 補償回路１８は、 ａ） 画像信号および識別信号を２値の形に変換
    する変換器６１；６２を有し、 ｂ） 該変換器の一方に接続されていて、画像信
    号中の振幅歪のそれぞれの始めをマークする識
    別信号の跳躍的変化から調整設定可能な持続時
    間の電圧パルスを発生するパルス成形回路３
    ７；３８を有し、その際前記電圧パルスは前記
    識別信号の跳躍的変化によつて始まりかつ同電
    圧パルスのそれぞれの持続時間は短くとも振幅
    歪の生じる最大持続時間に相応し、かつ ｃ） 前記変換器６１；６２およびパルス成形回
    路３７；３８に接続されている、前記振幅歪を
    除去するためのORゲート６３を有している特
    許請求の範囲第５項記載の線原画に対する走査
    装置。 １０ 走査光に対する集光装置としての検出器１
    ４；１５は、走査検出信号を発生するための光電
    変換器２８；２９を有する反射する中空体の形に
    構成されている特許請求の範囲第５項から第９項
    までのいずれか１項記載の走査装置。 １１ ａ） 中空体は、光検出面２２ないし２３
    および原画から到来する走査光に対する光入射
    用開口部２０ないし２１を有し、 ｂ） 中空体の、光検出面２２ないし２３に相対
    する内面のうちの少なくとも、光検出面２２な
    いし２３の受光角度と一致する領域が、散乱反
    射する第１のリフレクタ３０ないし３１として
    形成されておりかつ光検出面２２ないし２３に
    接する内面が第２のリフレクタ３２ないし３３
    として形成されており、その際 ｃ） 両リフレクタは、到来した光がそれぞれ、
    相対するリフレクタに案内されるように互いに
    配置されており、 ｄ） 第１のリフレクタ３０ないし３１は、該第
    １のリフレクタによつて散乱反射される光の大
    部分が光検出面２２ないし２３に達するように
    形成されかつ光検出面２２ないし２３に対して
    配向されており、かつ ｅ） 光入射用開口部２０ないし２１は、走査光
    が前記光検出面に直接ではなく、少なくとも１
    度は第１のリフレクタ３０ないし３１によつて
    散乱反射されるように形成されている特許請求
    の範囲第１０項記載の走査装置。 １２ 一方の検出器１４の中空体は付加的に、走
    査光線７′に対する光入射用開口部１９を有する
    特許請求の範囲第１１項記載の走査装置。 １３ 第２のリフレクタ３２ないし３３も、散乱
    リフレクタとして形成されている特許請求の範囲
    第１１項記載の走査装置。 １４ 第２のリフレクタ３２ないし３３は、鏡と
    して形成されている特許請求の範囲第１１項記載
    の走査装置。 １５ 光検出面２２ないし２３は、光学的な断面
    積変換部２４ないし２５の一方の端面によつて形
    成され、該断面積変換器の他方の端面には、光電
    変換器２８ないし２９が結合されている特許請求
    の範囲第１０項記載の走査装置。 １６ ａ） 中空体は、原画から到来する走査光
    に対する光入射用空間５０ないし５２を有し、
    かつ ｂ） 中空体の内面は、光検出面５３として形成
    されている特許請求の範囲第１０項記載の走査
    装置。 １７ ａ） 光検出面５３は、複数の光フアイバ
    ５４の一方の端面によつて形成され、その際該
    端面の平面法線は、到来する走査光の方向に配
    向されており、かつ ｂ） 光フアイバ５４の他方の端面５７は、光電
    変換器２８に結合されている特許請求の範囲第
    １６項記載の走査装置。 １８ 扁平な原画支持体の走査のための中空体
    は、中空シリンダないし中空シリンダの部分とし
    て構成されている特許請求の範囲第１０項記載の
    走査装置。 １９ 円筒状の原画支持体の走査のための中空体
    は、中空球ないし中空球の部分として構成されて
    いる特許請求の範囲第１０項記載の走査装置。
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