JPH0160778B2 - - Google Patents
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- JPH0160778B2 JPH0160778B2 JP58002469A JP246983A JPH0160778B2 JP H0160778 B2 JPH0160778 B2 JP H0160778B2 JP 58002469 A JP58002469 A JP 58002469A JP 246983 A JP246983 A JP 246983A JP H0160778 B2 JPH0160778 B2 JP H0160778B2
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- circuit
- distance
- axle
- probe
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、車両用車軸の傷、ひび割れ等の有
無、及びその位置等を調べるための超音波車軸探
傷装置に関するものである。
無、及びその位置等を調べるための超音波車軸探
傷装置に関するものである。
従来技術
従来の超音波車軸探傷装置は、第１図に示すよ
うに送信回路１、送受波兼用探触子２、受信回路
３、アナログ−デジタル変換器４、半導体メモリ
５、デジタル−アナログ変換器６、Ｙ軸の増幅器
７、同期回路８、掃引回路９、Ｘ軸の増幅器１
０、陰極線管即ちCRT１１、及び制御回路１２
から成り、探触子２で発生させた超音波を車軸１
４に送り込み、車軸１４から得られる反射波を一
度半導体メモリに記憶させた後に、CRT１１に
描いて車軸１４の内部の傷を非破壊で検査するよ
うに構成されている。
うに送信回路１、送受波兼用探触子２、受信回路
３、アナログ−デジタル変換器４、半導体メモリ
５、デジタル−アナログ変換器６、Ｙ軸の増幅器
７、同期回路８、掃引回路９、Ｘ軸の増幅器１
０、陰極線管即ちCRT１１、及び制御回路１２
から成り、探触子２で発生させた超音波を車軸１
４に送り込み、車軸１４から得られる反射波を一
度半導体メモリに記憶させた後に、CRT１１に
描いて車軸１４の内部の傷を非破壊で検査するよ
うに構成されている。
各部の構成及び検査方法を更に詳しく説明する
と、送信回路１は超音波パルスを発生させるため
の電気パルスを発生するパルス発生器であつて、
パルスを探触子２に供給する。送受波兼用の探触
子２は、超音波を発生するための振動子を含み、
電気パルスに応答して超音波パルスを発生すると
共に、車軸１４の中を伝搬した超音波の反射波を
受けてこれを電気信号に変換する。この電気信号
は、受信回路３によつて検波・増幅される。アナ
ログ−デジタル変換器即ちＡ／Ｄ変換器４は、受
信回路３の出力信号であるアナログの受信波を一
定のクロツクで順次にサンプリングし、デジタル
信号に変換するものである。Ａ／Ｄ変換器４の次
に設けられたメモリ５は波形に対応した検査デー
タを記憶しておくものである。６はデジタル−ア
ナログ変換器即ちＤ／Ａ変換器であつてメモリ５
から得られる検査データをCRT１１で表示する
ためのアナログ信号に変換するものである。７は
Ｄ／Ａ変換器６の出力をCRT１１に表示するよ
うに増幅するＹ軸増幅器である。制御回路１２は
点線で囲んで示す信号処理回路１３をシーケンス
制御するものである。同期回路８は送信回路１か
ら発生するパルスに応答してトリガ信号を発生す
る。このトリガ信号に応答して掃引回路９はトリ
ガ信号に同期した鋸歯状波を発生し、これが増幅
器１０で増幅されてCRT１１の水平偏向板に加
えられる。CRTの垂直偏向板には前記Ｄ／Ａ変
換器６の出力が加えられ、この結果CRT１１に
は、第３図に示すように送信波の一部と反射波と
が表示され、傷の有無及び傷の位置を判断するこ
とが可能になる。
と、送信回路１は超音波パルスを発生させるため
の電気パルスを発生するパルス発生器であつて、
パルスを探触子２に供給する。送受波兼用の探触
子２は、超音波を発生するための振動子を含み、
電気パルスに応答して超音波パルスを発生すると
共に、車軸１４の中を伝搬した超音波の反射波を
受けてこれを電気信号に変換する。この電気信号
は、受信回路３によつて検波・増幅される。アナ
ログ−デジタル変換器即ちＡ／Ｄ変換器４は、受
信回路３の出力信号であるアナログの受信波を一
定のクロツクで順次にサンプリングし、デジタル
信号に変換するものである。Ａ／Ｄ変換器４の次
に設けられたメモリ５は波形に対応した検査デー
タを記憶しておくものである。６はデジタル−ア
ナログ変換器即ちＤ／Ａ変換器であつてメモリ５
から得られる検査データをCRT１１で表示する
ためのアナログ信号に変換するものである。７は
Ｄ／Ａ変換器６の出力をCRT１１に表示するよ
うに増幅するＹ軸増幅器である。制御回路１２は
点線で囲んで示す信号処理回路１３をシーケンス
制御するものである。同期回路８は送信回路１か
ら発生するパルスに応答してトリガ信号を発生す
る。このトリガ信号に応答して掃引回路９はトリ
ガ信号に同期した鋸歯状波を発生し、これが増幅
器１０で増幅されてCRT１１の水平偏向板に加
えられる。CRTの垂直偏向板には前記Ｄ／Ａ変
換器６の出力が加えられ、この結果CRT１１に
は、第３図に示すように送信波の一部と反射波と
が表示され、傷の有無及び傷の位置を判断するこ
とが可能になる。
ところが、車両用車軸のように形状が複雑なう
え、側面に種々の部品が装着されているような場
合には、傷の無い通常の反射エコーが複雑な形を
しており、傷エコーを発見することは非常に困難
であり、高度の熟練度を要する。その上、探触子
と車軸との接触状態の微妙な変化は反射エコーに
も影響を及ぼす。
え、側面に種々の部品が装着されているような場
合には、傷の無い通常の反射エコーが複雑な形を
しており、傷エコーを発見することは非常に困難
であり、高度の熟練度を要する。その上、探触子
と車軸との接触状態の微妙な変化は反射エコーに
も影響を及ぼす。
従来、検査データのレベル較正は、標準試験片
という較正器を使用し底面エコーを観測し、何番
目かの底面エコーが一定レベルになるように探傷
装置の感度を調整する方法で行われていた。しか
し、前記の感度較正の方法では、実際に車軸を検
査する時に探触子と車軸端面との接触状態の微妙
な変化によるエコー波形の変化を較正することが
できなかつた。作業者は、実際の車軸エコーの波
形レベルを適切な値にする時には、過去の車軸エ
コーの管面波形写真又はスケツチなどを参照し、
探触子の車軸との接触具合を変えて、目測によ
り、車軸エコーのレベル合せをしていた。そのた
め、作業者の技量により、エコーの現われかたが
大きく変化し、安定した波形を得ることは困難で
あつた。
という較正器を使用し底面エコーを観測し、何番
目かの底面エコーが一定レベルになるように探傷
装置の感度を調整する方法で行われていた。しか
し、前記の感度較正の方法では、実際に車軸を検
査する時に探触子と車軸端面との接触状態の微妙
な変化によるエコー波形の変化を較正することが
できなかつた。作業者は、実際の車軸エコーの波
形レベルを適切な値にする時には、過去の車軸エ
コーの管面波形写真又はスケツチなどを参照し、
探触子の車軸との接触具合を変えて、目測によ
り、車軸エコーのレベル合せをしていた。そのた
め、作業者の技量により、エコーの現われかたが
大きく変化し、安定した波形を得ることは困難で
あつた。
発明の目的
そこで、本発明の目的は車軸と探触子との関係
の調整を容易に行つて正確に傷を探知することが
可能な超音波車軸探傷装置を提供することにあ
る。
の調整を容易に行つて正確に傷を探知することが
可能な超音波車軸探傷装置を提供することにあ
る。
発明の構成
上記目的を達成するための本発明は、送受波兼
用又は送波と受波とに分離されている探触子を使
用して車軸に超音波パルスを供給し、該超音波パ
ルスに対応した受信波を得る送信及び受信回路
と、前記受信波をデジタル化された検査データに
順次に変換するアナログ−デジタル変換器と、前
記アナログ−デジタル変換器から得られる前記検
査データが順次に書き込まれるメモリと、前記メ
モリから順次に読み出された前記検査データをア
ナログ信号に変換するデジタル−アナログ変換器
と、前記車軸の傷を探知するために前記アナログ
信号を表示する表示装置と、前記車軸の一端から
第１の距離d1と第２の距離d2との間の領域の検査
データを前記メモリから抽出するデータ抽出回路
と、前記第１の距離d1と前記第２の距離d2との間
の領域に対応して得られる基準エコーの高さより
も低い第１の高さh1に対応する第１の基準データ
D1を記憶している第１の記憶回路と、前記第１
の距離d1と前記第２の距離d2との間の領域に対応
して得られる前記基準エコーの高さよりも高い第
２の高さh2に対応する第２の基準データD2を記
憶している第２の記憶回路と、前記データ抽出回
路で抽出した検査データの平均値DAを求め、前
記平均値DAと前記第１及び第２の記憶回路から
得られた前記第１及び第２の基準データD1，D2
とを比較し、前記平均値DAが前記第１の基準デ
ータD1と前記第２の基準データD2との間にある
時に前記探触子が前記車軸に対して適切な接触状
態であることを示す出力を発生する演算及び比較
回路と、を備えていることを特徴とする超音波車
軸探傷装置に係わるものである。
用又は送波と受波とに分離されている探触子を使
用して車軸に超音波パルスを供給し、該超音波パ
ルスに対応した受信波を得る送信及び受信回路
と、前記受信波をデジタル化された検査データに
順次に変換するアナログ−デジタル変換器と、前
記アナログ−デジタル変換器から得られる前記検
査データが順次に書き込まれるメモリと、前記メ
モリから順次に読み出された前記検査データをア
ナログ信号に変換するデジタル−アナログ変換器
と、前記車軸の傷を探知するために前記アナログ
信号を表示する表示装置と、前記車軸の一端から
第１の距離d1と第２の距離d2との間の領域の検査
データを前記メモリから抽出するデータ抽出回路
と、前記第１の距離d1と前記第２の距離d2との間
の領域に対応して得られる基準エコーの高さより
も低い第１の高さh1に対応する第１の基準データ
D1を記憶している第１の記憶回路と、前記第１
の距離d1と前記第２の距離d2との間の領域に対応
して得られる前記基準エコーの高さよりも高い第
２の高さh2に対応する第２の基準データD2を記
憶している第２の記憶回路と、前記データ抽出回
路で抽出した検査データの平均値DAを求め、前
記平均値DAと前記第１及び第２の記憶回路から
得られた前記第１及び第２の基準データD1，D2
とを比較し、前記平均値DAが前記第１の基準デ
ータD1と前記第２の基準データD2との間にある
時に前記探触子が前記車軸に対して適切な接触状
態であることを示す出力を発生する演算及び比較
回路と、を備えていることを特徴とする超音波車
軸探傷装置に係わるものである。
作用効果
上記発明によれば、第１の距離d1と第２の距離
d2との間の領域の検査データを抽出してその平均
値DAを求め、更にこの平均値DAが第１の高さh1
に対応する第１の基準データD1と第２の高さh2
に対応する第２の基準データD2との間にあるか
否かを判定するので、特定エコーパルスの幅とレ
ベルとの両方を考慮して探触子の接触状態を正確
に判断することができる。
d2との間の領域の検査データを抽出してその平均
値DAを求め、更にこの平均値DAが第１の高さh1
に対応する第１の基準データD1と第２の高さh2
に対応する第２の基準データD2との間にあるか
否かを判定するので、特定エコーパルスの幅とレ
ベルとの両方を考慮して探触子の接触状態を正確
に判断することができる。
実施例
次に、第２図及び第３図を参照して本発明の実
施例に係わる超音波車軸探傷装置及び探傷方法に
ついて述べる。但し、第２図で符号１〜１４で示
すものは第１図で同一符号で示すものと実質的に
同一であるので、その説明を省略する。
施例に係わる超音波車軸探傷装置及び探傷方法に
ついて述べる。但し、第２図で符号１〜１４で示
すものは第１図で同一符号で示すものと実質的に
同一であるので、その説明を省略する。
第２図に示す超音波車軸探傷装置は、新たに、
受信波（入力信号）のレベルを判定するための演
算回路１５と、判定結果を表示するための表示器
１６とを具備する。演算回路１５は、車軸１４の
一端からの第１の距離d1と第２の距離d2との間の
範囲に対応する検査データを抽出するデータ抽出
回路１７と、このデータ抽出回路１７で抽出した
データの平均値を求める平均値演算回路１８と、
d1〜d2の範囲に於ける受信波の第１の高さh1に対
応する第１の基準データを予め記憶している第１
の記憶回路１９と、d1〜d2の範囲に於ける受信波
の第２の高さh2に対応する第２の基準データを予
め記憶している第２の記憶回路２０と、平均値演
算回路１８から得られる検査データ平均値と第１
の基準データとを比較し、検査データ平均値が第
１の基準データよりも大きい時に高レベルの比較
出力を送出し、小さい時に低レベルの比較出力を
送出する第１の比較回路２１と、前記検査データ
平均値と第２の基準データとを比較し、検査デー
タ平均値が第２の基準データよりも大きい時に高
レベルの比較出力を送出し、小さい時に低レベル
の比較出力を発生する第２の比較回路２２と、２
つの比較回路２１，２２のインヒビツトAND出
力を発生するインヒビツトAND回路２３とから
成る。
受信波（入力信号）のレベルを判定するための演
算回路１５と、判定結果を表示するための表示器
１６とを具備する。演算回路１５は、車軸１４の
一端からの第１の距離d1と第２の距離d2との間の
範囲に対応する検査データを抽出するデータ抽出
回路１７と、このデータ抽出回路１７で抽出した
データの平均値を求める平均値演算回路１８と、
d1〜d2の範囲に於ける受信波の第１の高さh1に対
応する第１の基準データを予め記憶している第１
の記憶回路１９と、d1〜d2の範囲に於ける受信波
の第２の高さh2に対応する第２の基準データを予
め記憶している第２の記憶回路２０と、平均値演
算回路１８から得られる検査データ平均値と第１
の基準データとを比較し、検査データ平均値が第
１の基準データよりも大きい時に高レベルの比較
出力を送出し、小さい時に低レベルの比較出力を
送出する第１の比較回路２１と、前記検査データ
平均値と第２の基準データとを比較し、検査デー
タ平均値が第２の基準データよりも大きい時に高
レベルの比較出力を送出し、小さい時に低レベル
の比較出力を発生する第２の比較回路２２と、２
つの比較回路２１，２２のインヒビツトAND出
力を発生するインヒビツトAND回路２３とから
成る。
演算回路１５及び演算方法を第３図を参照して
更に詳しく説明する。車両の車軸１４には一般に
種々の部品が取付けられ且つ複雑な形状になつて
いるので、正常な車軸であつても種々のエコーが
現われる。そこで、正常な被検査車軸又は標準車
軸の一端d0から距離ｄの点に現われる正常エコー
を基準エコーとし、車軸１４に探触子２を最適状
態に接触させた場合の上記基準エコーのパルスＷ
の高さｈを予め測定し、接触状態の変化によつて
高さが変化しても差支えない許容幅△ｈを決定
し、ｈ−△ｈ／２＝h1を第１の基準高さとし、ｈ
＋△ｈ／２＝h2を第２の基準高さとする。そし
て、第１の基準高さh1に対応する第１の基準デー
タD1を第１の記憶回路１９に予め書き込み、第
２の基準高さh2に対応する第２の基準データD2
を第２の記憶回路２０に予め書き込む。また、距
離ｄの許容幅△ｄを決定し、ｄ−△ｄ／２＝d1を
第１の距離とし、ｄ＋△ｄ／２＝d2を第２の距離
とし、データ抽出回路１７が距離d1からd2までの
区間の検査データのみを抽出するように予め設定
する。即ち、メモリ５のd1〜d2に対応するアドレ
スの検査データのみを抽出するように設定する。
更に詳しく説明する。車両の車軸１４には一般に
種々の部品が取付けられ且つ複雑な形状になつて
いるので、正常な車軸であつても種々のエコーが
現われる。そこで、正常な被検査車軸又は標準車
軸の一端d0から距離ｄの点に現われる正常エコー
を基準エコーとし、車軸１４に探触子２を最適状
態に接触させた場合の上記基準エコーのパルスＷ
の高さｈを予め測定し、接触状態の変化によつて
高さが変化しても差支えない許容幅△ｈを決定
し、ｈ−△ｈ／２＝h1を第１の基準高さとし、ｈ
＋△ｈ／２＝h2を第２の基準高さとする。そし
て、第１の基準高さh1に対応する第１の基準デー
タD1を第１の記憶回路１９に予め書き込み、第
２の基準高さh2に対応する第２の基準データD2
を第２の記憶回路２０に予め書き込む。また、距
離ｄの許容幅△ｄを決定し、ｄ−△ｄ／２＝d1を
第１の距離とし、ｄ＋△ｄ／２＝d2を第２の距離
とし、データ抽出回路１７が距離d1からd2までの
区間の検査データのみを抽出するように予め設定
する。即ち、メモリ５のd1〜d2に対応するアドレ
スの検査データのみを抽出するように設定する。
被検査車軸１４の検査を行う際には、車軸１４
に探触子２を当てて超音波パルスを発生させ、こ
の時の受信波をＡ／Ｄ変換してメモリ５に書き込
み、しかる後、メモリ５から順次に読み出し、
Ｄ／Ａ変換した後にCRT１１に表示する。これ
により、CRT１１の管面上に第３図に示すよう
な波形が表示される。ところが、作業に熟練して
いないと、この波形より探触子２の接触状態を判
定することは極めて困難である。しかし、本方式
では演算回路１５と表示器１６を有するので、接
触状態を容易に確認することが出来る。
に探触子２を当てて超音波パルスを発生させ、こ
の時の受信波をＡ／Ｄ変換してメモリ５に書き込
み、しかる後、メモリ５から順次に読み出し、
Ｄ／Ａ変換した後にCRT１１に表示する。これ
により、CRT１１の管面上に第３図に示すよう
な波形が表示される。ところが、作業に熟練して
いないと、この波形より探触子２の接触状態を判
定することは極めて困難である。しかし、本方式
では演算回路１５と表示器１６を有するので、接
触状態を容易に確認することが出来る。
第２図のメモリ５から読み出されたデータの
内、距離d1からd2までの区間のデータが抽出回路
１７で抽出される。次に、この抽出データが平均
値演算回路１８に送られ、ここで、d1〜d2の検査
データの平均値DAが求められる。即ちd1〜d2の
サンプリング時点のデータを加算し、これをサン
プル数で除算することにより、平均値DAを求め
る。平均値DAは第１及び第２の比較回路２１，
２２に夫々送られ、第１の比較回路２１では高さ
h1に対応する第１の基準データD1と平均値DAと
がデジタル比較され、第２の比較回路２２では高
さh2に対応する第２の基準データD2と平均値DA
とがデジタル比較される。そして、両比較出力が
インヒビツトAND回路２３に送られる。
内、距離d1からd2までの区間のデータが抽出回路
１７で抽出される。次に、この抽出データが平均
値演算回路１８に送られ、ここで、d1〜d2の検査
データの平均値DAが求められる。即ちd1〜d2の
サンプリング時点のデータを加算し、これをサン
プル数で除算することにより、平均値DAを求め
る。平均値DAは第１及び第２の比較回路２１，
２２に夫々送られ、第１の比較回路２１では高さ
h1に対応する第１の基準データD1と平均値DAと
がデジタル比較され、第２の比較回路２２では高
さh2に対応する第２の基準データD2と平均値DA
とがデジタル比較される。そして、両比較出力が
インヒビツトAND回路２３に送られる。
今、測定受信波の特定パルスＷの高さｈがh1に
達しない場合には、平均値DAが第１の基準デー
タD1及び第２の基準データD2より小であるので、
第１及び第２の比較回路２１，２２の出力はいず
れも低レベルであり、従つて、インヒビツト
AND回路２３の出力も低レベルとなり、表示器
１６の表示素子が消灯状態になり、探触子２が不
適当な接触状態であることが判る。
達しない場合には、平均値DAが第１の基準デー
タD1及び第２の基準データD2より小であるので、
第１及び第２の比較回路２１，２２の出力はいず
れも低レベルであり、従つて、インヒビツト
AND回路２３の出力も低レベルとなり、表示器
１６の表示素子が消灯状態になり、探触子２が不
適当な接触状態であることが判る。
一方、測定受信波の特定パルスＷの高さｈがh1
〜h2の範囲にある場合には、平均値DAが第１の
基準データD1以上になるので、第１の比較回路
２１の出力が高レベルとなり、平均値DAが第２
の基準データD2よりも小さいので第２の比較回
路２２の出力は低レベルとなる。このため、イン
ヒビツトAND回路２３の出力が高レベルとなり、
表示器１６の表示素子が点灯し、探触子２が適切
な接触状態であることが判る。
〜h2の範囲にある場合には、平均値DAが第１の
基準データD1以上になるので、第１の比較回路
２１の出力が高レベルとなり、平均値DAが第２
の基準データD2よりも小さいので第２の比較回
路２２の出力は低レベルとなる。このため、イン
ヒビツトAND回路２３の出力が高レベルとなり、
表示器１６の表示素子が点灯し、探触子２が適切
な接触状態であることが判る。
また、高さｈがh2以上になつた場合には、平均
値DAが第１及び第２の基準データD1、D2以上に
なるので、第１及び第２の比較回路２１，２２の
出力が共に高レベルとなり、インヒビツトAND
回路２３の出力は低レベルとなり、表示器１６の
表示素子が消灯するので、探触子２が不適当な接
触状態であることが判る。
値DAが第１及び第２の基準データD1、D2以上に
なるので、第１及び第２の比較回路２１，２２の
出力が共に高レベルとなり、インヒビツトAND
回路２３の出力は低レベルとなり、表示器１６の
表示素子が消灯するので、探触子２が不適当な接
触状態であることが判る。
上述の測定に於いて探触子２の接触状態が適切
であることを示す表示であれば、このままCRT
１１の波形で探傷する。一方、接触状態が不適切
であることを示す表示であれば、探触子２の接触
状態を調整し、接触状態が適切であることを示す
表示状態となつた段階で探傷する。尚複数回の測
定を行う場合には、接触状態の確認を各測定毎に
行つてもよいし、間欠的に行つてもよい。
であることを示す表示であれば、このままCRT
１１の波形で探傷する。一方、接触状態が不適切
であることを示す表示であれば、探触子２の接触
状態を調整し、接触状態が適切であることを示す
表示状態となつた段階で探傷する。尚複数回の測
定を行う場合には、接触状態の確認を各測定毎に
行つてもよいし、間欠的に行つてもよい。
上述から明らかなように、本実施例によれば、
探触子２の接触状態を調べる際の特定エコーパル
スの幅及びレベルが予め決められた幅及びレベル
以内か否かを表示器１６で知ることが可能にな
り、探触子２の接触状態の良否を直ちに判定する
ことが可能になる。従つて、作業に熟練していな
い者でも、適切な接触状態を容易に設定し、正確
な探傷を行うことが可能になる。
探触子２の接触状態を調べる際の特定エコーパル
スの幅及びレベルが予め決められた幅及びレベル
以内か否かを表示器１６で知ることが可能にな
り、探触子２の接触状態の良否を直ちに判定する
ことが可能になる。従つて、作業に熟練していな
い者でも、適切な接触状態を容易に設定し、正確
な探傷を行うことが可能になる。
変形例
以上、本発明の実施例について述べたが、本発
明はこれに限定されるものでなく、例えば次のよ
うな変形例も含むものである。
明はこれに限定されるものでなく、例えば次のよ
うな変形例も含むものである。
(1) 第４図に示す如く表示器１６を第１、第２、
及び第３の表示素子１６ａ，１６ｂ，１６ｃに
て構成し、第２図と同一の２つの比較回路２
２，２１と各表示素子１６ａ〜１６ｃとの間に
NOR回路２３ａ、インヒビツトAND回路２３
ｂ、AND回路２３ｃを夫々設け、第２図の平
均値演算回路１８から得られる平均値DAが第
１及び第２の基準データD1，D2よりも小さい
時には第１の表示素子１６ａが点灯し、平均値
DAがD1〜D2の間の時には第２の表示素子１６
ｂが点灯し、平均値DAがD1及びD2のいずれよ
りも大きい時には第３の表示素子１６ｃが点灯
するようにしてもよい。
及び第３の表示素子１６ａ，１６ｂ，１６ｃに
て構成し、第２図と同一の２つの比較回路２
２，２１と各表示素子１６ａ〜１６ｃとの間に
NOR回路２３ａ、インヒビツトAND回路２３
ｂ、AND回路２３ｃを夫々設け、第２図の平
均値演算回路１８から得られる平均値DAが第
１及び第２の基準データD1，D2よりも小さい
時には第１の表示素子１６ａが点灯し、平均値
DAがD1〜D2の間の時には第２の表示素子１６
ｂが点灯し、平均値DAがD1及びD2のいずれよ
りも大きい時には第３の表示素子１６ｃが点灯
するようにしてもよい。
(2) 演算回路１５を所定のプログラムに従つて演
算を実行するマイクロプロセツサで構成しても
よい。
算を実行するマイクロプロセツサで構成しても
よい。
(3) デジタル記憶回路１９，２０及びデジタル比
較回路２１，２２でデジタル的に信号を処理し
て表示する代りに、平均値演算回路１８の後に
デジタル−アナログ変換器を設け、且つ記憶回
路１９，２０及び比較回路２１，２２をアナロ
グ回路とし、探触子２の接触状態の良否をアナ
ログ的に求め、この結果を表示器１６に表示す
るようにしてもよい。
較回路２１，２２でデジタル的に信号を処理し
て表示する代りに、平均値演算回路１８の後に
デジタル−アナログ変換器を設け、且つ記憶回
路１９，２０及び比較回路２１，２２をアナロ
グ回路とし、探触子２の接触状態の良否をアナ
ログ的に求め、この結果を表示器１６に表示す
るようにしてもよい。
(4) 基準エコーパルスを１つに限定せずに、異な
る距離に於ける複数個とし、複数の基準エコー
パルスとこれに対応する検査データとの夫々の
比較、又は平均化しての比較により、探触子２
の接触状態を判定してもよい。
る距離に於ける複数個とし、複数の基準エコー
パルスとこれに対応する検査データとの夫々の
比較、又は平均化しての比較により、探触子２
の接触状態を判定してもよい。
(5) 同一状態で複数回の測定を行い、複数回の測
定の平均値を求め、これと基準データと比較し
てもよい。
定の平均値を求め、これと基準データと比較し
てもよい。
(6) CRT１１に測定波形を表示する動作と、探
触子２の接触状態を判断する動作とを独立に行
うようにしてもよい。そして独立に動作させる
場合にはメモリ５の特定アドレス即ち距離d1〜
d2の区間に対応するアドレスのデータのみを読
み出すことによつてd1〜d2区間の検査データの
抽出を行うように構成し、抽出回路１７を省い
てもよい。
触子２の接触状態を判断する動作とを独立に行
うようにしてもよい。そして独立に動作させる
場合にはメモリ５の特定アドレス即ち距離d1〜
d2の区間に対応するアドレスのデータのみを読
み出すことによつてd1〜d2区間の検査データの
抽出を行うように構成し、抽出回路１７を省い
てもよい。
(7) 記憶回路１９，２０に予め書き込む基準デー
タを被検査車軸の初期の測定データとし、この
被検査車軸の経時変化を調べる時に上記基準デ
ータを使用してもよい。
タを被検査車軸の初期の測定データとし、この
被検査車軸の経時変化を調べる時に上記基準デ
ータを使用してもよい。
(8) 表示器１６をブザー等の報知器としてもよ
い。
い。
(9) 探触子２をスペーサを介して車軸１４に接触
させてもよい。
させてもよい。
第１図は従来の超音波車軸探傷装置を示すブロ
ツク図、第２図は本発明の実施例に係わる超音波
車軸探傷装置を示すブロツク図、第３図は第１図
及び第２図の装置に於けるCRT上の波形を示す
波形図、第４図は演算回路及び表示器の変形例を
示すブロツク図である。 １……送信回路、２……探触子、３……受信回
路、４……Ａ／Ｄ変換器、５……メモリ、６……
Ｄ／Ａ変換器、７……増幅器、１１……CRT、
１４……車軸、１５……演算回路、１６……表示
器、１７……d1〜d2データ抽出回路、１８……平
均値演算回路、１９，２０……記憶回路、２１，
２２……比較回路、２３……インヒビツトAND
回路。
ツク図、第２図は本発明の実施例に係わる超音波
車軸探傷装置を示すブロツク図、第３図は第１図
及び第２図の装置に於けるCRT上の波形を示す
波形図、第４図は演算回路及び表示器の変形例を
示すブロツク図である。 １……送信回路、２……探触子、３……受信回
路、４……Ａ／Ｄ変換器、５……メモリ、６……
Ｄ／Ａ変換器、７……増幅器、１１……CRT、
１４……車軸、１５……演算回路、１６……表示
器、１７……d1〜d2データ抽出回路、１８……平
均値演算回路、１９，２０……記憶回路、２１，
２２……比較回路、２３……インヒビツトAND
回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 送受波兼用又は送波と受波とに分離されてい
る探触子を使用して車軸に超音波パルスを供給
し、該超音波パルスに対応した受信波を得る送信
及び受信回路と、 前記受信波をデジタル化された検査データに順
次に変換するアナログ−デジタル変換器と、 前記アナログ−デジタル変換器から得られる前
記検査データが順次に書き込まれるメモリと、 前記メモリから順次に読み出された前記検査デ
ータをアナログ信号に変換するデジタル−アナロ
グ変換器と、 前記車軸の傷を探知するために前記アナログ信
号を表示する表示装置と、 前記車軸の一端から第１の距離d1と第２の距離
d2との間の領域の検査データを前記メモリから抽
出するデータ抽出回路と、 前記第１の距離d1と前記第２の距離d2との間の
領域に対応して得られる基準エコーの高さよりも
低い第１の高さh1に対応する第１の基準データ
D1を記憶している第１の記憶回路と、 前記第１の距離d1と前記第２の距離d2との間の
領域に対応して得られる前記基準エコーの高さよ
りも高い第２の高さh2に対応する第２の基準デー
タD2を記憶している第２の記憶回路と、 前記データ抽出回路で抽出した検査データの平
均値DAを求め、前記平均値DAと前記第１及び第
２の記憶回路から得られた前記第１及び第２の基
準データD1，D2とを比較し、前記平均値DAが前
記第１の基準データD1と前記第２の基準データ
D2との間にある時に前記探触子が前記車軸に対
して適切な接触状態であることを示す出力を発生
する演算及び比較回路と、 を備えていることを特徴とする超音波車軸探傷装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58002469A JPS59126949A (ja) | 1983-01-11 | 1983-01-11 | 超音波車軸探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58002469A JPS59126949A (ja) | 1983-01-11 | 1983-01-11 | 超音波車軸探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59126949A JPS59126949A (ja) | 1984-07-21 |
| JPH0160778B2 true JPH0160778B2 (ja) | 1989-12-25 |
Family
ID=11530171
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58002469A Granted JPS59126949A (ja) | 1983-01-11 | 1983-01-11 | 超音波車軸探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59126949A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5323684A (en) * | 1976-08-18 | 1978-03-04 | Tokyo Keiki Kk | Ultrasonic flaw detector |
| JPS5726743A (en) * | 1980-07-25 | 1982-02-12 | Toshiba Corp | Ultrasonic flaw detection device |
-
1983
- 1983-01-11 JP JP58002469A patent/JPS59126949A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59126949A (ja) | 1984-07-21 |
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