JPH0194221A - 対象物状態検出器 - Google Patents

対象物状態検出器

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JPH0194221A
JPH0194221A JP62252203A JP25220387A JPH0194221A JP H0194221 A JPH0194221 A JP H0194221A JP 62252203 A JP62252203 A JP 62252203A JP 25220387 A JP25220387 A JP 25220387A JP H0194221 A JPH0194221 A JP H0194221A
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JP
Japan
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light
distance
intensity
liquid
voltage value
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JP62252203A
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Chiyoharu Horiguchi
千代春 堀口
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Hamamatsu Photonics KK
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/30Hydrogen technology
    • Y02E60/50Fuel cells

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、対象物、例えは燃料タンク内におけるカッリ
ン、灯油等の状態、例えば残置を検出する対象物状態検
出器に関する。
〔従来の技術〕
従来、タンク内におけるカッリン、灯油等の液体の7A
量を検出するのに、液面にフロー1〜球を浮かベフロー
ト球が液面とともに上下に移動することを利用して機械
的に検出する対象物状態検出器(上記例の場合は液面検
出器)が一般的に用いられている。
〔発明か解決しようとする問題点〕
しかしながら、−■−述したような従来の対象物状態検
出器では、フロー1〜球が上下に移動するので可動部を
必要としこのために検出器自体を小型化するには限度が
あり、さらに、機械的に検出を行なうため、構成部材の
錆びつき等による故障が起き易いという問題点があった
また液体の残量判定を必要とする場合に、タンクの機種
か異なる□ときには一般に検出器から所定の桟板となっ
た液体の液面までの基準「1階が異なるのでフロート珠
を用いる検出の仕方ではタンクの機種ごとにそれぞれ専
用の検出器を作らなければならないという問題があった
本発明は、信頼性か高くかつ小型化することが可能であ
るとともに、対象物の表面、例えば液面までの基準距離
か変った場合にも調整の容易な対象物状態検出器を提供
することを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、電磁波または超音波を対象物に入射させる入
射手段と、対象物から出射した電磁波または超音波の強
度により対象物の状態を検出する検出手段とを側え、対
象物に入射する電磁波または超音波の拡がり角は、可変
となっていることを特徴とする対象物状態検出器によっ
て、」−記従来技術の問題点を改善するものである。
〔作用〕 本発明では、電磁波または超音波を対象1吻、例えば液
体の液面に入射させ対象1勿から出射した電磁波または
超音波の強度により対象物の状態、例えは液体の残量を
検出する。対象物の状態は電磁波または超音波により非
接触て検出されるので、検出器自体を小型にし信頼性を
高めることがてきる。ところで本発明ではさらに対象物
に入射する電磁波または超音波の拡がり角を例えは入射
手段の光源、投光レンズ間の間隔を変化させることによ
り調整できるので、対象物を収容する容器、例えはタン
クの種fiか箕なり対象物人血までの基?V−110雛
か箕なるような場合にも対象物の残量を同じ精疫で判定
できる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明に係る対象物状態検出器の一実施例の栢
成図である。
本実施例の対象物状態検出器1は、電磁波を出力する光
源2と、光源2の発光光束の拡がり角を任意に設定でき
る投光レンズ3と、対象物4からの出射光すなわち反射
光を集光するための受光レンズ5と、反射光を光電変換
するための受光素子6とを備えている。
対象Th4は、例えばガソリン等の液体である。
光源2.投光レンズ3.受光しンス5および受光素子6
は同一光軸上に配置され、電磁波は対象物4としての液
体の液面に垂直に入射し、反射されるようになっている
。すなわち第1図の対象物状態検出器1は、その中心軸
線が光学系の光軸と一致するようタンク(図示せず)に
回動自在に取付けられている。
さらに、本実施例では、光源2と投光レンズ3との間隔
を調整することにより発光光束の拡がり角θを調節でき
るようになっている。
第2図(a) 、 (b)はそれぞれ光源2と投光レン
ズ3との間隔の調節機構の側断面図、正面図である。
第2図において、光源2は例えば発光ダイオー−ロ  
  − ドであり、この光源2の発光点20がら投光レンズ3の
前主点位置までの間隔をaとする。光源2は、取付具2
1に固定され、投光レンズ3は、レンズボルタ22に取
付?−Jられている。取付具2]とレンズホルダ22と
は螺合しており、レンズホルタ22を回ずと、光源2と
投光レンズ3との間隔aか変わるようになっている。ま
た取付具21にはI−字形部材23が突設されている。
L字形部材23は、孔24を有し、この孔24内には、
L字形部材23の先端部に位置決めされるボール25を
レンズホルタ22の側壁に向がって付勢するなめのバネ
26が収容されている。一方、レンズボルダ22の側壁
には7字形溝27か形成されており、取イ」具21に対
してレンズボルダ22を所定星回ずとポール25か7字
形溝27に嵌まり、レンズホルタ22はより力を加えな
ければ回らないようになっている。これにより投光レン
ズ3の繰出し量ずな、わち間隔aの変化量は、取付具2
1とレンズホルタ22とを螺合さぜるネジのピッチと、
レンズホルタ22」二の7字形溝27の位置とによって
定められ、間隔a、を変化さぜることによって後述のよ
うに拡がり角θを調節できる。
このような構成では、光源2からの電磁波の強度を■。
、その拡がり角をθ、液面の反射率をR1投光レンズ3
から液面までの距離をI7.投光レンズ3の口径をd 
、受光レンズ5の有効径をdrρ とすると、受光素子6に入射する反射光の強度Iは、 [:16−R2・tan”  (θ/ 2 ) :] 
・−−−−−(1)として与えられる。なお、反射光の
強度■は、液体の液面によって主に鏡面反射された反射
光の強度である。
(1)式において、I  、R,d  、d  は一定
Orp である。また拡がり角θは、対象物状態検出器]を1つ
の種類のタンクで動作させている間、一定であるとする
と、反射光の強度■は、液面までのf?Ii II I
−の2乗に反比例して変化する。これにより、受光索子
6に入射した反射光を光電流として取出しこれを受光素
子6の後段の処理回路において信号電圧に変換して、液
面までの距離I−を電圧値として求めこの電圧値が所定
の参照電圧値と一致したときに距離りが所定の基準圧H
1,、oになったと判定し、タンク内の液体は所定の残
量となったと判定することができる。このようにして、
本実施例の対象物状態検出器1では、フロー1〜球のよ
うな機構的な部材を用いずに電磁波により非接触で液面
の高さ並ひに残量を検出できるので、検出器自体を小型
にしかつ信顆性を高めることができる。
ところで、液体を収容するタンクの種類、形状ごとに残
量判定の基準となる基準「ト離I、。が異なる場合があ
る。このような場合にタンクの種類が変わって基準距離
り。が変化したときにも、後段の処理回路において参照
電圧値をタンクの種類ごとに調節することにより、同じ
残量の液面レベルを検出できる。しかしながら反射光強
度■は、「[l@Lの自乗に反比例するため、基準距離
1−oが2倍あるいはそれ以上相違するような場合には
、信号電圧が著しく小さくなり、残量の検出誤差か大き
くなる恐れがある。ずなわちタンクの種類ごとに残量判
定精度が異なるようになる。
このため本実11例では、参照電圧値を調節するのでは
なく、液面までの距離しか基準圧M L oとなったと
きに受光素子6に入射する反射光の強度■がタンクの種
類が変っても一定となるよう、タンクの種類が変わるご
とに拡がり角θを調節するようにする。すなわち、受光
素子6に入射する反射光の強度■がタンクの種類によら
ずに常に一定であるようにするためには、(1)式にお
いて、拡かり角θをタンクの種類ごとに変えて、この拡
がり角θと基準圧ilL。どの間に jan  (θ/ 2 ) −1,、o= C1=−−
−−・(2)の関係をもたぜる必要かある。なおC1は
〔■。
・R・ (d   −d   )/(16・I)〕1/
2rp の一定値をもつ。
また、投光レンズ3の焦点距離をfとし、光源2の発光
点20の大きさが無視できる程度に小さいとすると、拡
かり角θと、投光レンズ3の焦点距離f1発光点20と
投光レンズ3の前主点位置との間隔aとの間には、 tan (θ/ 2) =C(f  a ) ・d p
/ (2・ a−f))             ・
・・・・・(3)の関係が成り立ち、(3)式から拡が
り角θを調節するには、間隔aを変化させれば良いこと
かわがる。
そこで拡がり角θと基準距離Loとの関係のかわりに間
隔aと基準距離り。どの関係を得るため(2)式および
(3)式から、拡がり角θを消去すると、次式を得るこ
とができる。
a= (f−d  −Lo ) / (2、c  −t’+a  −r、o、    −
−−−−−(4)rp (4)式かられかるように基準距離Loがタンクの種類
ごとに変わっても、投光レンズ3を光源2に対し移動さ
せて、これらの間隔aを調節することにより、液体が所
定の残量となったときに受光素子6に入射する反射光の
強度Iをタンクの種類によらずに同じにすることかでき
て、後段の処理回路において参照電圧値を何ら調節する
ことなく、電圧値か所定の参照電圧値になったときに所
定の残量であるとの判定を行なうことかできる。
なお、光源2の発光点20と投光レンズ3との間隔aは
、前述したように投光レンズ3を取付げているレンズホ
ルタ22を取イ」具21に対して回すことによって調節
される。
第3図(a)乃至(C)はそれぞれ、本実施例の対象物
状態検出器1を大きさの異なる3種類のタンク30,3
1.32に取付けた状態を示す図であり、第4図(a)
乃至(C)はそれぞれ、基準距離Loか各々相違してい
る第3図(a)乃至(C)の各場合に間隔aを調節する
ことによって得られる反射光強度■を示す図である。な
お第3図(a)乃至(C)において対象物状態検出器1
−は、投光レンズ3の焦点距離fが10mm、投光レン
ズ3の口径d が6 mm 、受光レンズ5の有効径d
、が]、 8 mm 。
光源2からの電磁波の強度IoがlQmwに設定された
。また液面での反射率Rを0.02.I/■oを0.0
01に設定しな。以上の数値により、定数C1は]、8
.97となる。さらに第3図(a)乃至(C)において
液面までの基準距離Loをそれぞれ200mm、 50
0+nm、  1000mmとした。
これらの値を(4)式に代入して、光′a2の発光点2
0から投光レンズ3の前主点位置までの間隔aを求める
と、間隔aは第3図(a)の例では7.60mm、第3
図(b)の例では8.881m、第3図(C)の例では
9.41.mmとなり、各場合の拡がり角θはそれぞれ
10.84°、4.357°。
2.1.75°になる。これらの数値を(1)式に代入
すると、判定すべき液体の残量の基準圧1ftL。
の前後における反射光の強度■は、各場合について第4
図(a)乃至(C)のように求まる。
第4図(a)乃至(C)の各々において設定された残量
判定の基準距離■−8に対し、許容誤差εを±5%に設
定すると、反射光の強度■は、異なる3種類のタンク3
0,31.32のいずれにおいても、9.1乃至11,
1μWの範囲に入る。
一方、受光素子6Fに集光される反射光の強度■は、受
光素子6において線形的に光電流値に変換され、この光
電流値は図示しないか後段の処理回路において線形的に
電圧値に変換され増幅されるので、増幅された結果の信
号電圧は、反射光の強度Iと比例しタンクの種類か異な
っても同じ誤差範囲をとる。従って、信号電圧を常に一
定な参照電圧値と比較することにより、いずれの種類の
タンクであっても、同じ判定精度を得ることかできる。
このように本実施例では、間隔aを変化させて拡がり角
θを調整しタンクの種類によらずに液体の残量判定の精
度を同じにすることができるか、間隔aを変化させるか
わりに、投光レンズ3自体の光学定数を変化させて拡が
り角θを調節することも可能である。
また上述の実施例では、対象物状態検出器1の光学系を
同一光軸となるよう配置し入射光を液面に垂直に入射さ
せ入射光と反射光の光路を一致させていたが、入射光を
垂直でない所定の角度で入射させ、入射光と反射光の光
路が対象物状態検出器の中心軸線に対し対称となるよう
光源2.投光レンズ3と受光レンズ5.受光素子6とを
異なる光軸」−に配置してら艮い。たたしこの場合にも
対象物状態検出器の中心軸線が常に液面と垂直に保−1
,2− 持されるようにする必要がある。しかしなから、入射光
と反射光の光路を相違させた場合には、光路が同一の場
合に比べて小型化には適さずまた検出感度か低下するの
で、燃料タンク等の′Wi造上、光学系を同一光軸上に
配置することのできない特別な用途等に限って用いるの
か良い。
さらに上述の実施例では液面からの反射光の強度を検出
するとしたか、液体を透過した透過光の強度を検出する
ことにより、液■1の高さすなわち液体の残量を検出す
るようにしても良い。たたし、透過光強度を検出する場
合には、入射光の光学系と透過光の光学系を解れた位置
に別々に設けねばならず、簡乍な構造で入射光の光路と
透過光の光路とを正確に一致させるのは難しい。
また、対象物4を燃料タンク内のカッリン、灯油等の液
体としたが、液体に限らず、例えば米櫃内の米粒などの
粒状物あるいは使用中摩耗するような固体としても良い
。対象物4が粒状物、固体の場合でもそれに見合った波
長の電磁波を用いることにより同様の仕方で残量等の状
態を検出することかできる。
さらには、電磁波に限らず、超音波によって対象物4の
状態を検出するようにしても良い。
〔発明の効果〕
以」二に説明したように、本発明では、電磁波または超
音波を対象物に入射させ対象物から出射した電磁波また
は超音波の強度により対象物の状態を検出するようにし
ているので、従来の機械的な検出器に比べて小型にする
ことかできるとともに故障等を減少させることができる
。さらに対象物に入射する電磁波または超音波の拡がり
角は可変となっているので、対象物を収容するタンク等
の容器の種類か界なり基準距離が変わる場合にも容器の
種類によらずに残量判定精度が同じとなるよう容易に調
節できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る対象物状態検出器の一実施例の構
成図、第2図(a) 、 (b)はそれぞれ光源と投光
レンズとの間隔の調節機構の側断面図、正面図、第3図
(a)乃至(C)はそれぞれ大きさの異なる3種類のタ
ンクへの対象物状態検出器の取付状態を示す図、第4図
(a)乃至(c)はそれぞれ第3図(a)乃至(C)の
取付状態のときに算出された液面までの距離と反射光強
度との関係を示す図である。 1・・・対象物状態検出器、2・・・光源、3・・・投
光レンズ、4・・・対象物、5・・・受光レンズ、6・
・・受光素子、a・・・光源、投光レンズ間の間隔、θ
・・・拡がり角、Lo・・・基準距離特許出願人   
浜松ホトニクス株式会社代理人  弁理士  植  本
 雅 泊−1,6− (a) 距離L (mm) 第4図 (b)       (C)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)電磁波または超音波を対象物に入射させる入射手段
    と、対象物から出射した電磁波または超音波の強度によ
    り対象物の状態を検出する検出手段とを備え、対象物に
    入射する電磁波または超音波の拡がり角は、可変となっ
    ていることを特徴とする対象物状態検出器。 2)前記拡がり角は、対象物までの基準距離が変わる場
    合にも前記検出手段への電磁波または超音波の強度か同
    じとなるように変えられることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項に記載の対象物状態検出器。 3)前記拡がり角は、前記入射手段の光源と投光レンズ
    間の間隔を変化させることにより調節されることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項に記載の対象物状態検出器
JP62252203A 1987-10-06 1987-10-06 対象物状態検出器 Granted JPH0194221A (ja)

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JP62252203A JPH0194221A (ja) 1987-10-06 1987-10-06 対象物状態検出器

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JPH0525288B2 JPH0525288B2 (ja) 1993-04-12

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006013653A1 (ja) * 2004-08-04 2006-02-09 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 超音波送受放射センサ及び位置検出装置並びに除湿器
CN105759072A (zh) * 2014-12-02 2016-07-13 财团法人工业技术研究院 光学式测风系统
WO2022255342A1 (ja) * 2021-06-03 2022-12-08 ローム株式会社 液面高さ検出装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5425794A (en) * 1977-07-28 1979-02-26 Oki Kaiyo Electronics Kk Sounddwave depthhmeasuring system for suspension liquid
JPS55166215U (ja) * 1979-05-17 1980-11-29
JPS6125011A (ja) * 1984-07-13 1986-02-03 Genichiro Kinoshita 光学式距離測定装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5425794A (en) * 1977-07-28 1979-02-26 Oki Kaiyo Electronics Kk Sounddwave depthhmeasuring system for suspension liquid
JPS55166215U (ja) * 1979-05-17 1980-11-29
JPS6125011A (ja) * 1984-07-13 1986-02-03 Genichiro Kinoshita 光学式距離測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006013653A1 (ja) * 2004-08-04 2006-02-09 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 超音波送受放射センサ及び位置検出装置並びに除湿器
CN105759072A (zh) * 2014-12-02 2016-07-13 财团法人工业技术研究院 光学式测风系统
WO2022255342A1 (ja) * 2021-06-03 2022-12-08 ローム株式会社 液面高さ検出装置

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