JPH0726806B2 - 距離測定装置 - Google Patents
距離測定装置Info
- Publication number
- JPH0726806B2 JPH0726806B2 JP60127158A JP12715885A JPH0726806B2 JP H0726806 B2 JPH0726806 B2 JP H0726806B2 JP 60127158 A JP60127158 A JP 60127158A JP 12715885 A JP12715885 A JP 12715885A JP H0726806 B2 JPH0726806 B2 JP H0726806B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical fiber
- signal
- intensity
- face
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光の反射を利用して物体の微小変位を検出する
装置にかかわり、さらに具体的には、光ファイバを用い
て光の反射強度から物体の微小変位を検出する検出器の
改良に関するものである。
装置にかかわり、さらに具体的には、光ファイバを用い
て光の反射強度から物体の微小変位を検出する検出器の
改良に関するものである。
ミクロン・オーダの微小な変位を非接触で検出できる装
置として、光ファイバを利用するものが知られている。
これに関する参考文献として、アー オー クック（R.
O.Cook）、シー ダブリュー ハム（C.W.Hamm）による
“ファイバ オプチックレバー ディスプレスメント
トランスデューサ（Fiber optic lever displacement t
ransducer）”、アプライド オプティックス、第18巻
第19号、1979年（Applied Optics,Vol.18,No.19,1979）
がある。以下、その検出原理を第10図を用いて説明す
る。図において、２本の光ファイバが、素線の端面をそ
ろえ互いに隣接して設けられている。２本の光ファイバ
のうち、発光側光ファイバ１の一端に光源２からの光を
入射せしめ、他端から円すい状に広がる照明光３を出射
させる。発光側光ファイバ１の出射端面４から距離ｄだ
け離れた場所に反射面５を置くと、照明光束３は反射さ
れ、その光の一部が受光側光ファイバ６の端面に入射す
る。ここで、反射面５上に照明される領域７は、図示の
ごとく円形状となり、一方、受光側光ファイバ６が受光
できる領域８も同じ円形状となるため、結局、照明光の
領域７のうち反射して受光側光ファイバ６に入射する領
域は斜線部９のみとなる。この斜線部９の照度と面積の
大きさは距離ｄに対応して変化するため、受光側光ファ
イバ６に入射した光量を該光ファイバの他端側に設けた
ホトディテクタ10を用いて検出することにより、距離ｄ
を知ることができる。この距離ｄと受光信号の光強度Ip
との特性例を第11図に示す。図において、光強度Ipは、
距離ｄの増加に伴いほぼ直線的に増大するが、ある点で
飽和し、その後は逆に減少する。光強度Ipが最大となる
距離dmは、光ファイバの半径および開口数に依存する
が、およそ光ファイバ半径の1.5倍程度の値である。光
ファイバとして直径が50μｍ程度のものを用いることに
より、距離ｄが０〜30μｍ程度の微小変位を0.1μｍ以
上の分解能でほぼリニヤに検出することができる。
置として、光ファイバを利用するものが知られている。
これに関する参考文献として、アー オー クック（R.
O.Cook）、シー ダブリュー ハム（C.W.Hamm）による
“ファイバ オプチックレバー ディスプレスメント
トランスデューサ（Fiber optic lever displacement t
ransducer）”、アプライド オプティックス、第18巻
第19号、1979年（Applied Optics,Vol.18,No.19,1979）
がある。以下、その検出原理を第10図を用いて説明す
る。図において、２本の光ファイバが、素線の端面をそ
ろえ互いに隣接して設けられている。２本の光ファイバ
のうち、発光側光ファイバ１の一端に光源２からの光を
入射せしめ、他端から円すい状に広がる照明光３を出射
させる。発光側光ファイバ１の出射端面４から距離ｄだ
け離れた場所に反射面５を置くと、照明光束３は反射さ
れ、その光の一部が受光側光ファイバ６の端面に入射す
る。ここで、反射面５上に照明される領域７は、図示の
ごとく円形状となり、一方、受光側光ファイバ６が受光
できる領域８も同じ円形状となるため、結局、照明光の
領域７のうち反射して受光側光ファイバ６に入射する領
域は斜線部９のみとなる。この斜線部９の照度と面積の
大きさは距離ｄに対応して変化するため、受光側光ファ
イバ６に入射した光量を該光ファイバの他端側に設けた
ホトディテクタ10を用いて検出することにより、距離ｄ
を知ることができる。この距離ｄと受光信号の光強度Ip
との特性例を第11図に示す。図において、光強度Ipは、
距離ｄの増加に伴いほぼ直線的に増大するが、ある点で
飽和し、その後は逆に減少する。光強度Ipが最大となる
距離dmは、光ファイバの半径および開口数に依存する
が、およそ光ファイバ半径の1.5倍程度の値である。光
ファイバとして直径が50μｍ程度のものを用いることに
より、距離ｄが０〜30μｍ程度の微小変位を0.1μｍ以
上の分解能でほぼリニヤに検出することができる。
しかしながら、上記の方法では、その検出原理から明ら
かなように、光源２の強度が変動したり、あるいは反射
面５の反射率が変化すると、変位（距離ｄ）に対する光
強度Ipの関係は、例えば第２図中の破線のように変化す
るので、検出の都度、変位量の検出感度を較正しなけれ
ばならない。すなわち、従来の装置では、使用直前に光
源２の強度および反射面５の反射率に関して較正を行う
ことは不可欠であり、操作がきわめて煩雑であるという
欠点があった。
かなように、光源２の強度が変動したり、あるいは反射
面５の反射率が変化すると、変位（距離ｄ）に対する光
強度Ipの関係は、例えば第２図中の破線のように変化す
るので、検出の都度、変位量の検出感度を較正しなけれ
ばならない。すなわち、従来の装置では、使用直前に光
源２の強度および反射面５の反射率に関して較正を行う
ことは不可欠であり、操作がきわめて煩雑であるという
欠点があった。
また、従来の装置では、反射面の反射率が未知である場
合は、あらかじめ変位に対する光強度Ipの関係を調べ
て、反射率を既知化してから、上記の操作を行う必要が
あった。
合は、あらかじめ変位に対する光強度Ipの関係を調べ
て、反射率を既知化してから、上記の操作を行う必要が
あった。
さらに、従来の装置では、被検反射面が検出方向以外の
方向に移動し、かつ被検反射面の反射率が一様でなく少
しずつ変化する場合は、検出結果は変位量の変化と反射
率の変化の２つの要因を含んだものとなり、検出結果か
らそのまま変位量を求めると検出誤差を生じる、という
欠点もあった。
方向に移動し、かつ被検反射面の反射率が一様でなく少
しずつ変化する場合は、検出結果は変位量の変化と反射
率の変化の２つの要因を含んだものとなり、検出結果か
らそのまま変位量を求めると検出誤差を生じる、という
欠点もあった。
本発明の目的は、反射面の反射率の変動および光源の光
強度の影響による距離の測定誤差を低減することのでき
る距離測定装置を提供することにある。
強度の影響による距離の測定誤差を低減することのでき
る距離測定装置を提供することにある。
本発明の要旨は、その各々が第一および第二の端面をも
つ第一および第二の光ファイバを有し、 前記第一および第二の光ファイバの前記第一の端面はそ
の各々が光の反射面に対向するように配置され、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面に光を供給する
ための光源を有し、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から入射し前記
第一の光ファイバの前記第一の端面から出射した前記光
は前記反射面で反射して第一の反射光を形成し、 前記第二の光ファイバの前記第一の端面から入射し前記
第二の光ファイバの前記第二の端面から出射した前記第
一の反射光の強度を検出するための第一の検出手段と、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から出射する前
記第一の反射光の強度を検出するための第二の検出手段
と、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から入射した前
記光の一部が前記第一の光ファイバの前記第二の端面で
反射して形成される第二の反射光の強度を検出するため
の第三の検出手段と、 前記第一の検出手段により検出した光強度に基づいて、
前記第一および第二の光ファイバのうちの少なくとも一
つの前記第一の端面と前記反射面との距離を求める手段
と、 前記第一、第二および第三の検出手段によって検出され
る光強度に基づいて、前記反射面の反射係数の変動およ
び前記光源の光強度の変動によって生じる前記距離の検
出誤差を修正するための手段を有することを特徴とする
距離測定装置にある。
つ第一および第二の光ファイバを有し、 前記第一および第二の光ファイバの前記第一の端面はそ
の各々が光の反射面に対向するように配置され、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面に光を供給する
ための光源を有し、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から入射し前記
第一の光ファイバの前記第一の端面から出射した前記光
は前記反射面で反射して第一の反射光を形成し、 前記第二の光ファイバの前記第一の端面から入射し前記
第二の光ファイバの前記第二の端面から出射した前記第
一の反射光の強度を検出するための第一の検出手段と、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から出射する前
記第一の反射光の強度を検出するための第二の検出手段
と、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から入射した前
記光の一部が前記第一の光ファイバの前記第二の端面で
反射して形成される第二の反射光の強度を検出するため
の第三の検出手段と、 前記第一の検出手段により検出した光強度に基づいて、
前記第一および第二の光ファイバのうちの少なくとも一
つの前記第一の端面と前記反射面との距離を求める手段
と、 前記第一、第二および第三の検出手段によって検出され
る光強度に基づいて、前記反射面の反射係数の変動およ
び前記光源の光強度の変動によって生じる前記距離の検
出誤差を修正するための手段を有することを特徴とする
距離測定装置にある。
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
実施例１ 本実施例は、発光側光ファイバで反射光を受光する検出
系を具備する例である。
系を具備する例である。
第１図において、照明用の光源２の光は平行光とされ、
発光側光ファイバ１の入射端面12に対して斜めに入射す
る。この入射光の傾き角は、発光側光ファイバ１の開口
角よりも小さい範囲に設定する必要がある。発光側光フ
ァイバ１から出射される光束３は反射面５で反射され、
その反射光の一部は、第10図に示した従来装置と同様
に、受光側光ファイバ６に入射し、ホトディテクタ10に
よって距離ｄに対応した信号S1に変換される。
発光側光ファイバ１の入射端面12に対して斜めに入射す
る。この入射光の傾き角は、発光側光ファイバ１の開口
角よりも小さい範囲に設定する必要がある。発光側光フ
ァイバ１から出射される光束３は反射面５で反射され、
その反射光の一部は、第10図に示した従来装置と同様
に、受光側光ファイバ６に入射し、ホトディテクタ10に
よって距離ｄに対応した信号S1に変換される。
他方、光束３の反射光のうち、一部は発光側光ファイバ
１に再び入射し、入射端面12側に設けたホトディテクタ
11によって信号S2に変換される。また、光源２からの平
行光のうち、発光側光ファイバ１の入射端面で反射され
たわずかな光は、ホトディテクタ13により信号S3に変換
される。なお、この信号S3は、光源２の光強度に比例し
た信号である。
１に再び入射し、入射端面12側に設けたホトディテクタ
11によって信号S2に変換される。また、光源２からの平
行光のうち、発光側光ファイバ１の入射端面で反射され
たわずかな光は、ホトディテクタ13により信号S3に変換
される。なお、この信号S3は、光源２の光強度に比例し
た信号である。
第２図に、これらの信号S1,S2,S3の強度Ipと検出距離ｄ
との関係を示す。信号S1は、従来装置のものと同様に、
検出距離ｄが小さいうちはIpがｄにほぼ比例した信号で
ある。信号S2は、検出距離ｄが０のときに最大値を示
し、ｄの増加とともにほぼ直線的に小さくなる。しかし
ながら、検出距離ｄが無限大となっても、一般的には０
とはならず、発光側光ファイバ１の出射端面で反射して
戻ってくる光に相当する強度分の信号が残留する。信号
S3は、光源２の強度にのみ依存する信号で、検出距離ｄ
によらず一定である。
との関係を示す。信号S1は、従来装置のものと同様に、
検出距離ｄが小さいうちはIpがｄにほぼ比例した信号で
ある。信号S2は、検出距離ｄが０のときに最大値を示
し、ｄの増加とともにほぼ直線的に小さくなる。しかし
ながら、検出距離ｄが無限大となっても、一般的には０
とはならず、発光側光ファイバ１の出射端面で反射して
戻ってくる光に相当する強度分の信号が残留する。信号
S3は、光源２の強度にのみ依存する信号で、検出距離ｄ
によらず一定である。
光源２の強度をＩ、反射面５の反射率をｒとすれば、検
出距離ｄが十分小さい範囲では、上記３つの信号S1,S2,
S3は、下記のように表わすことができる。
出距離ｄが十分小さい範囲では、上記３つの信号S1,S2,
S3は、下記のように表わすことができる。
S1＝C1・Ｉ・ｒ・ｄ ……（１） S2＝C2・Ｉ・ｒ（ｄ′２−ｄ）＋Ｃ′２・Ｉ……（２） S3＝C3・Ｉ ……（３） ここで、C1,C2,C′２およびC3は定数であり、また信号S
2中のC2・Ｉ・ｒ・ｄ′２項は検出距離ｄが０のときの
強度を表わす。
2中のC2・Ｉ・ｒ・ｄ′２項は検出距離ｄが０のときの
強度を表わす。
上式（２）の信号S2には、前記残留信号成分Ｃ′２・Ｉ
が含まれているが、信号S3に係数k3＝Ｃ′2/C3を掛けた
ものを差し引くことにより、反射率に比例した信号 Ｓ′２＝C2・Ｉ・ｒ（ｄ′２−ｄ） ……（４） を作り出すことができる。
が含まれているが、信号S3に係数k3＝Ｃ′2/C3を掛けた
ものを差し引くことにより、反射率に比例した信号 Ｓ′２＝C2・Ｉ・ｒ（ｄ′２−ｄ） ……（４） を作り出すことができる。
この信号Ｓ′２に係数k2＝C1/C2を掛け、これに信号S1
を加えた信号Srを作り出せば、これは Sr＝S1＋k2S′２ ＝C1・Ｉ・ｒ・ｄ′２ ……（５） となり、第３図に示すごとく検出距離ｄに依存せず、光
源２の強度Ｉと反射率ｒにのみ比例した信号となる。こ
こで、光源２の強度Ｉは信号S3から得られるから、信号
Srを信号S3で除算するか、あるいは光源２の強度Ｉの大
きさを知れば、反射率ｒの値を求めることができる。
を加えた信号Srを作り出せば、これは Sr＝S1＋k2S′２ ＝C1・Ｉ・ｒ・ｄ′２ ……（５） となり、第３図に示すごとく検出距離ｄに依存せず、光
源２の強度Ｉと反射率ｒにのみ比例した信号となる。こ
こで、光源２の強度Ｉは信号S3から得られるから、信号
Srを信号S3で除算するか、あるいは光源２の強度Ｉの大
きさを知れば、反射率ｒの値を求めることができる。
上記のように、本実施例においては、特別な反射率検出
用の光ファイバを用いることなく、距離検出用の光ファ
イバを用いながら、検出距離とは無関係に被検反射面の
反射率を検出することが可能であり、きわめて容易に検
出感度を補正することができる。また、自動調整回路を
付属させることにより、反射率の変化を自動的に補正
し、常に一定な距離検出感度が得られるようにすること
もできる。
用の光ファイバを用いることなく、距離検出用の光ファ
イバを用いながら、検出距離とは無関係に被検反射面の
反射率を検出することが可能であり、きわめて容易に検
出感度を補正することができる。また、自動調整回路を
付属させることにより、反射率の変化を自動的に補正
し、常に一定な距離検出感度が得られるようにすること
もできる。
第４図に、上記自動調整回路の一例を示す。この回路
は、前述の手法により３つの信号S1,S2,S3から反射率に
比例した信号Srを作り出し、これを基準となる信号Sref
と比較演算し、演算結果を積分器14で積分し、積分値に
応じて光源２の強度を制御するように構成したものであ
る。この構成は閉ループ制御系となるため、信号Srの値
が信号Srefの値と常に一致するように作動する。すなわ
ち、反射面の反射率の変化に応じて強度が変化し、常に
一定の反射光強度が得られることになり、その結果、信
号S1として得られる距離検出信号は、常に一定な感度を
有することになる。
は、前述の手法により３つの信号S1,S2,S3から反射率に
比例した信号Srを作り出し、これを基準となる信号Sref
と比較演算し、演算結果を積分器14で積分し、積分値に
応じて光源２の強度を制御するように構成したものであ
る。この構成は閉ループ制御系となるため、信号Srの値
が信号Srefの値と常に一致するように作動する。すなわ
ち、反射面の反射率の変化に応じて強度が変化し、常に
一定の反射光強度が得られることになり、その結果、信
号S1として得られる距離検出信号は、常に一定な感度を
有することになる。
自動調整回路としては、上述のように光源の強度を制御
する代りに、第５図に示すごとく、２つの掛算器を用い
て検出回路のゲインを調整してもよい。すなわち、第４
図に示した例と同じく、信号Srを基準信号Srefと比較演
算し、その差を積分器14を用いて積分する。この積分値
kcは２つの掛算器15,16に与えられ、信号Srと信号S1を
それぞれkc倍する。積分器14は、掛算器15の出力kc・Sr
が基準信号Srefに一致するように積分動作を言う。上記
積分値kcは反射率ｒに関係する値であり、kc・ｒは常に
一定となる。そこで、掛算器16から信号S1をkc倍した信
号S0を取り出せば、これは反射率の変化が補正された距
離検出信号となる。
する代りに、第５図に示すごとく、２つの掛算器を用い
て検出回路のゲインを調整してもよい。すなわち、第４
図に示した例と同じく、信号Srを基準信号Srefと比較演
算し、その差を積分器14を用いて積分する。この積分値
kcは２つの掛算器15,16に与えられ、信号Srと信号S1を
それぞれkc倍する。積分器14は、掛算器15の出力kc・Sr
が基準信号Srefに一致するように積分動作を言う。上記
積分値kcは反射率ｒに関係する値であり、kc・ｒは常に
一定となる。そこで、掛算器16から信号S1をkc倍した信
号S0を取り出せば、これは反射率の変化が補正された距
離検出信号となる。
これまで述べた説明では、光源２の強度が変動するもの
として、信号S3を含めて反射率信号Srを算出している
が、光源２の強度が安定している場合は、信号S3を適当
な一定値に固定してもよい。
として、信号S3を含めて反射率信号Srを算出している
が、光源２の強度が安定している場合は、信号S3を適当
な一定値に固定してもよい。
実施例２ 本実施例は、第10示した従来装置に加えて第２の受光側
光ファイバを設け、この光ファイバで反射光を受光する
検出系を具備する例である。
光ファイバを設け、この光ファイバで反射光を受光する
検出系を具備する例である。
第６図において、第２の受光側光ファイバ21は、その端
面22が第１の受光側光ファイバ６の端面４から距離d0だ
け上方または下方にずれた位置にあるように設けられて
いる。そのため、例えば上方にずれている場合には、変
位量ｄに対するホトディテクタ23の信号は、第７図に示
すS4のような特性となる。また、図中のS1は第１の受光
ファイバ６からの検出信号である。すなわち、信号S4の
特性は信号S1の特性を距離d0分だけ平行移動したものと
なっている。そこで、検出距離ｄに対して受光強度Ipが
直線的な関係を有している微小な検出範囲（ｄ≪dm,dm
はS1の受光強度Ipが最大となる距離）においては、次式
の関係が成立する。
面22が第１の受光側光ファイバ６の端面４から距離d0だ
け上方または下方にずれた位置にあるように設けられて
いる。そのため、例えば上方にずれている場合には、変
位量ｄに対するホトディテクタ23の信号は、第７図に示
すS4のような特性となる。また、図中のS1は第１の受光
ファイバ６からの検出信号である。すなわち、信号S4の
特性は信号S1の特性を距離d0分だけ平行移動したものと
なっている。そこで、検出距離ｄに対して受光強度Ipが
直線的な関係を有している微小な検出範囲（ｄ≪dm,dm
はS1の受光強度Ipが最大となる距離）においては、次式
の関係が成立する。
ここで、dxは未知の距離であり、式（６）から、dxは， で与えられることになる。ここで、信号S1とS4の大きさ
は、光源２の強度の変動および反射面５の反射率の変化
に対して、それぞれ同一の係数をもって変化するから、
信号S1とS4の大きさによらず式（７）の関係は成立す
る。
は、光源２の強度の変動および反射面５の反射率の変化
に対して、それぞれ同一の係数をもって変化するから、
信号S1とS4の大きさによらず式（７）の関係は成立す
る。
上記関係式に基づいて距離dxを検出するための信号処理
回路の一例を第８図に示す。図において、まず減算器24
を用いて信号Ip2−Ip1を作り出し、さらに割算器25を用
いて演算信号Ip1/Ip2−Ip1を作り出す。この信号に定距
離d0に相当する信号レベルを与える係数kdを掛けること
により、未知の距離dxに相当する検出信号26を得ること
ができる。
回路の一例を第８図に示す。図において、まず減算器24
を用いて信号Ip2−Ip1を作り出し、さらに割算器25を用
いて演算信号Ip1/Ip2−Ip1を作り出す。この信号に定距
離d0に相当する信号レベルを与える係数kdを掛けること
により、未知の距離dxに相当する検出信号26を得ること
ができる。
また、信号処理回路の他の例として、第９図に示すよう
に、定距離d0に相当する信号Ip2−Ip1を減算器27を用い
て作り出し、この信号の大きさを基準となる値Id0と比
較し、その結果を積分器28を用いて積分する。積分器28
の出力は、係数ｋとして掛算器38,39に入力され、検出
信号Ip1,Ip2の大きさをそれぞれｋ倍する。この回路は
閉ループとなっているため、信号29すなわちｋ（Ip2−I
p1）がId0と一致するまで作動して定常状態となる。こ
れは、光源２の強度の変動分や反射面５の反射率の変化
分を補正して、定距離d0に相当する信号強度が常に一定
となるように検出器の感度を自動調整していることにな
る。そこで、未知の距離dxの相当する信号30すなわちｋ
・Ip1をとり出せば、上記のような光源の強度変動や反
射面の反射率変化に影響されることなく、常に正しい値
を検出することができる。
に、定距離d0に相当する信号Ip2−Ip1を減算器27を用い
て作り出し、この信号の大きさを基準となる値Id0と比
較し、その結果を積分器28を用いて積分する。積分器28
の出力は、係数ｋとして掛算器38,39に入力され、検出
信号Ip1,Ip2の大きさをそれぞれｋ倍する。この回路は
閉ループとなっているため、信号29すなわちｋ（Ip2−I
p1）がId0と一致するまで作動して定常状態となる。こ
れは、光源２の強度の変動分や反射面５の反射率の変化
分を補正して、定距離d0に相当する信号強度が常に一定
となるように検出器の感度を自動調整していることにな
る。そこで、未知の距離dxの相当する信号30すなわちｋ
・Ip1をとり出せば、上記のような光源の強度変動や反
射面の反射率変化に影響されることなく、常に正しい値
を検出することができる。
なお、第９図に示した補正方法においては、上記のよう
に掛算器38,39を用いて検出系の感度を調整する代り
に、光源２の発光強度を調整しても同じ効果が得られ
る。
に掛算器38,39を用いて検出系の感度を調整する代り
に、光源２の発光強度を調整しても同じ効果が得られ
る。
以上述べた実施例1,2の説明では、発光側光ファイバ、
第１および第２の受光側光ファイバとも１本ずつの素線
として説明したが、公知のごとく複数本ずつ束ねて用い
ても、なんら支障なく本発明を実施することができる。
第１および第２の受光側光ファイバとも１本ずつの素線
として説明したが、公知のごとく複数本ずつ束ねて用い
ても、なんら支障なく本発明を実施することができる。
以上説明したように、本発明の実施例によれば、発明の
反射率変化や照明光源の強度変動の影響を低減した高精
度の微小変位を検出することができる。また、本発明の
実施例による検出器は、上記のように反射面の反射率の
影響を受けることを低減できるから、反射面の反射率が
未知の場合、および被検反射面が検出方向以外に移動
し、かつ、被検反射面の反射率が少しずつ変化する場合
も、作業性よく、かつ、高い信頼性を保持して微小変位
を検出することができる。
反射率変化や照明光源の強度変動の影響を低減した高精
度の微小変位を検出することができる。また、本発明の
実施例による検出器は、上記のように反射面の反射率の
影響を受けることを低減できるから、反射面の反射率が
未知の場合、および被検反射面が検出方向以外に移動
し、かつ、被検反射面の反射率が少しずつ変化する場合
も、作業性よく、かつ、高い信頼性を保持して微小変位
を検出することができる。
本発明によれば、反射面の反射率の変動および光源の光
強度の影響による距離の測定誤差を低減することができ
る。
強度の影響による距離の測定誤差を低減することができ
る。
第１図は本発明による距離測定装置の一実施例の検出原
理説明図、第２図は該実施例での３つの検出信号の特性
を示す特性図、第３図は該実施例における反射率信号の
特性を示す特性図、第４図および第５図はそれぞれ該実
施例で自動的に反射率調整を行う回路例を示す回路図、
第６図は本発明による距離測定装置の他の実施例の検出
原理説明図、第７図は該実施例での検出特性を示す特性
図、第８図および第９図はそれぞれ該実施例に用いる信
号処理回路の例を示す回路図、第10図は従来の微小変位
検出器の検出原理説明図、第11図は該検出器の変位検出
特性を示す特性図である。 符号の説明 １……発光側光ファイバ ２……光源 ５……反射面 ６……受光側光ファイバ 21……受光側光ファイバ 10,11,13,23……ホトデイテクタ
理説明図、第２図は該実施例での３つの検出信号の特性
を示す特性図、第３図は該実施例における反射率信号の
特性を示す特性図、第４図および第５図はそれぞれ該実
施例で自動的に反射率調整を行う回路例を示す回路図、
第６図は本発明による距離測定装置の他の実施例の検出
原理説明図、第７図は該実施例での検出特性を示す特性
図、第８図および第９図はそれぞれ該実施例に用いる信
号処理回路の例を示す回路図、第10図は従来の微小変位
検出器の検出原理説明図、第11図は該検出器の変位検出
特性を示す特性図である。 符号の説明 １……発光側光ファイバ ２……光源 ５……反射面 ６……受光側光ファイバ 21……受光側光ファイバ 10,11,13,23……ホトデイテクタ
Claims (1)
- 【請求項１】その各々が第一および第二の端面をもつ第
一および第二の光ファイバを有し、 前記第一および第二の光ファイバの前記第一の端面はそ
の各々が光の反射面に対向するように配置され、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面に光を供給する
ための光源を有し、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から入射し前記
第一の光ファイバの前記第一端面から出射した前記光は
前記反射面で反射して第一の反射光を形成し、 前記第二の光ファイバの前記第一の端面から入射し前記
第二の光ファイバの前記第二の端面から出射した前記第
一の反射光の強度を検出するための第一の検出手段と、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から出射する前
記第一の反射光の強度を検出するための第二の検出手段
と、 前記第一の光ファイバの前記第二の端面から入射した前
記光の一部が前記第一の光ファイバの前記第二の端面で
反射して形成される第二の反射光の強度を検出するため
の第三の検出手段と、 前記第一の検出手段により検出した光強度に基づいて、
前記第一および第二の光ファイバのうちの少なくとも一
つの前記第一の端面と前記反射面との距離を求める手段
と、 前記第一、第二および第三の検出手段によって検出され
る光強度に基づいて、前記反射面の反射係数の変動およ
び前記光源の光強度の変動によって生じる前記距離の検
出誤差を修正するための手段を有することを特徴とする
距離測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60127158A JPH0726806B2 (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 距離測定装置 |
| US06/870,814 US4739161A (en) | 1985-06-13 | 1986-06-05 | Fine displacement transducer employing plural optical fibers |
| DE19863619923 DE3619923A1 (de) | 1985-06-13 | 1986-06-13 | Feinverschiebungsaufnehmer und verfahren zur erfassung von feinverschiebungen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60127158A JPH0726806B2 (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 距離測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61286703A JPS61286703A (ja) | 1986-12-17 |
| JPH0726806B2 true JPH0726806B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=14953069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60127158A Expired - Lifetime JPH0726806B2 (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 距離測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4739161A (ja) |
| JP (1) | JPH0726806B2 (ja) |
| DE (1) | DE3619923A1 (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4928006A (en) * | 1987-03-13 | 1990-05-22 | Kershaw Charles H | Fluid coupled fiber optic sensor |
| FR2615279B1 (fr) * | 1987-05-11 | 1990-11-02 | Commissariat Energie Atomique | Capteur de deplacement a fibres optiques decalees |
| DE3729743A1 (de) * | 1987-09-04 | 1989-03-16 | Metzeler Gmbh | Verfahren zur kontinuierlichen ermittlung der wandstaerke von hohlprofil-extrudaten |
| US4801799A (en) * | 1987-11-27 | 1989-01-31 | Honeywell Inc. | Fiber optic system for detecting vibrations of a reflecting surface |
| US5144833A (en) * | 1990-09-27 | 1992-09-08 | International Business Machines Corporation | Atomic force microscopy |
| DE4039318A1 (de) * | 1990-12-10 | 1992-06-11 | Krupp Gmbh | Einrichtung zur erfassung der hoehenlage einer laserbearbeitungsvorrichtung bezueglich eines werkstuecks |
| DE4102152A1 (de) * | 1991-01-25 | 1992-07-30 | Lamarche Jean Luc | Optoelektronischer sensor |
| US5217906A (en) * | 1991-12-03 | 1993-06-08 | At&T Bell Laboratories | Method of manufacturing an article comprising an opto-electronic device |
| DE4209701A1 (de) * | 1992-03-25 | 1993-09-30 | Asea Brown Boveri | Optischer Entfernungssensor |
| GB9307484D0 (en) * | 1993-04-08 | 1993-06-02 | Lucas Ind Plc | Optical displacement sensor |
| DE4312186C2 (de) * | 1993-04-14 | 1995-04-06 | Sick Optik Elektronik Erwin | Verfahren und Vorrichtungen zur Feststellung von in einem Überwachungsbereich vorhandenen Gegenständen und/oder zur Feststellung deren Position |
| FR2722566B1 (fr) | 1994-07-13 | 1996-08-23 | Europ Gas Turbines Sa | Capteur dynamique de deplacement, utilisations d'un tel capteur et procede de mesure du deplacement d'une surface |
| DE19614895A1 (de) * | 1996-04-16 | 1997-10-23 | Laser Sorter Gmbh | Profil-Prüfvorrichtung |
| DE19722607A1 (de) * | 1997-05-30 | 1998-12-03 | Michael F Braun | Selbsttätiges Verfahren sowie Einrichtung zum Bestimmen der Eigenschaften einer Probe |
| US6281488B1 (en) | 1998-12-09 | 2001-08-28 | Sandia Corporation | Fiber optic coupled optical sensor |
| KR20030096777A (ko) * | 2002-06-17 | 2003-12-31 | 박승환 | 양면 반사 측정방식을 이용한 광섬유 변위센서 |
| JP5054931B2 (ja) * | 2006-05-11 | 2012-10-24 | 株式会社フジクラ | 光学式センサ |
| US7326917B2 (en) * | 2006-06-22 | 2008-02-05 | Siemens Power Generation, Inc. | Wear monitor for turbo-machine |
| US20080246957A1 (en) * | 2007-04-05 | 2008-10-09 | Department Of The Navy | Hybrid fiber optic transceiver optical subassembly |
| US7525670B1 (en) | 2008-04-02 | 2009-04-28 | Eastman Kodak Company | Distance and orientation measurement of an object |
| GB2465372B (en) * | 2008-11-14 | 2013-10-30 | Nicholas James Adkins | Optical displacement transducer |
| DE102015000447B4 (de) | 2015-01-13 | 2018-08-30 | Emz-Hanauer Gmbh & Co. Kgaa | Optischer Sensor für ein Wäschebehandlungsgerät |
| US11719818B2 (en) * | 2017-03-16 | 2023-08-08 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3327584A (en) * | 1963-09-09 | 1967-06-27 | Mechanical Tech Inc | Fiber optic proximity probe |
| FR2112717A5 (ja) * | 1970-11-06 | 1972-06-23 | Compteurs Comp D | |
| US3792928A (en) * | 1972-02-28 | 1974-02-19 | Schlumberger Compteurs | Fiber optics distance converting technique |
| US4358960A (en) * | 1979-05-04 | 1982-11-16 | Ladd Research Industries, Inc. | Differential fiber optic proximity sensor |
| JPS5946808A (ja) * | 1982-09-10 | 1984-03-16 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光フアイバによる物体の変位測定方法 |
| JPS59206802A (ja) * | 1983-04-13 | 1984-11-22 | Alps Electric Co Ltd | 光フアイバセンサ |
| JPS6038606A (ja) * | 1983-08-11 | 1985-02-28 | Olympus Optical Co Ltd | 光学式寸度測定装置 |
| US4599711A (en) * | 1984-10-29 | 1986-07-08 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Multi-lever miniature fiber optic transducer |
-
1985
- 1985-06-13 JP JP60127158A patent/JPH0726806B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-06-05 US US06/870,814 patent/US4739161A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-06-13 DE DE19863619923 patent/DE3619923A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4739161A (en) | 1988-04-19 |
| DE3619923C2 (ja) | 1992-04-30 |
| DE3619923A1 (de) | 1987-01-08 |
| JPS61286703A (ja) | 1986-12-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4739161A (en) | Fine displacement transducer employing plural optical fibers | |
| US4514083A (en) | Distance measuring apparatus | |
| US10451738B2 (en) | Laser processing device and laser processing system | |
| JPH02140604A (ja) | 薄い絶縁性フイルムの厚さ測定方法及びその装置 | |
| US4728196A (en) | Arrangement for determining a surface structure, especially for roughness | |
| US6353216B1 (en) | Confocal measurement and diagnostic system | |
| US6624403B2 (en) | Autofocus system | |
| JPS59762B2 (ja) | 変位測定装置 | |
| US7423758B1 (en) | Gloss sensor for a paper machine | |
| JPH068724B2 (ja) | 光学的検出装置 | |
| JPH08128806A (ja) | 光学式変位センサ | |
| KR100280259B1 (ko) | 레이저를 이용한 합금화도 측정방법 | |
| JPH0968462A (ja) | 反射率測定装置 | |
| JPS6136884Y2 (ja) | ||
| JPS61223604A (ja) | ギヤツプ測定装置 | |
| JPH0560557A (ja) | 光学式微小変位測定方法及び装置 | |
| JP3204726B2 (ja) | エッジセンサ | |
| JPS62156515A (ja) | 変位測定装置 | |
| JPH0534437A (ja) | レーザ測距装置 | |
| JPH01253629A (ja) | 鏡面反射率測定方法 | |
| JPH06258436A (ja) | 光波距離計 | |
| SU1078289A1 (ru) | Цифровой регистратор углового смещени света в атмосфере | |
| JPS6283612A (ja) | 変位変換器 | |
| JPH03269311A (ja) | 光ビーム位置検出装置 | |
| JPH0682083B2 (ja) | ポリゴンスキャナ面倒れ測定装置 |